KR20100078126A - 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템 및 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템 및 방법에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 엘시디 패널에 발생한 결함을 검사자가 목시 검사로 찾았을 때 해당 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템 및 방법에 관한 것이다.
본 발명인 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템은,
좌표획득 시스템에 있어서,
고유키 패턴이 인쇄된 기본기판에 편광필름을 부착하여 구성되는 편광판과;
상기 편광판을 지지하기 위한 프레임부와;
상기 편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하는 이미지획득수단과;
상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 검사 대상기판 촬상 이미지를 획득하여 결함을 분석하여 찾아내는 동시에 촬상된 고유키 촬상 이미지를 획득하여 고유키 값으로부터 결함의 위치좌표를 연산하는 중앙제어수단;을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
본 발명을 통해 엘시디 패널에 발생하는 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 효과를 제공하게 된다.
엘시디, PDP, 목시 검사, 좌표.

Description

엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템 및 방법{coordinate acquisition system possible acquisition of defect-coordinate and thereof.}
본 발명은 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템 및 방법에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 엘시디 패널에 발생한 결함을 검사자가 목시 검사로 찾았을 때 해당 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템 및 방법에 관한 것이다.
일반적인 디스플레이 패널에 나타날 수 있는 생산공정 중 일반적인 결함은 픽셀의 색이 불량하거나 픽셀 자체가 이상이 있을 때, 드물게 긁힘 등의 파손이 있을 때 발생된다.
따라서, 상기 문제가 발생한 픽셀을 검사하기 위하여 목시 검사장치를 사용하게 되는데 이는 결함 검출을 검사자의 시각에만 의존하는 문제점을 지니고 있어 서 픽셀의 정확한 위치를 확인할 수가 없었다.
결함 검출 방식을 구체적으로 설명하자면, 검사자가 패턴제너레이터(Pattern generator)를 이용하여 패턴을 변경시켜 가면서 불량을 눈으로 확인하게 되는데 눈으로 불량 확인시 다음과 같은 방법 중 하나를 택하여 불량위치를 확인하게 된다.
즉, 첫째, 펜으로 불량을 마킹하여 이후 공정시 이를 확인하도록 하는 것이지만 이는 불량 좌표를 데이터화하여 관리할 수 없는 문제점을 가질 수 밖에 없었다.
둘째, 상기 패턴제너레이터에 조이스틱을 연결시켜 결함이 있는 곳까지 십자형 패턴을 이동시켜 불량의 위치좌표를 확인하도록 하는 방법을 사용하게 되는데 이는 사람이 조이스틱을 조작해야 하므로 개별 불량 검사 시간이 무척 오래 걸리게 되어(검사 시간에 비해 결함 위치를 찾는 시간이 2~3배 정도가 소요됨.) 병목현상을 유발시키게 되어 생상선 향상이 떨어지는 문제점을 가질 수 밖에 없었다.
결론적으로 상기와 같이 어느 픽셀이 결함이 발생하였는지를 좌표로 인식함은 물론 병목 현상을 방지할 수 있는 기술을 통해 수리 공정에서 해당 좌표를 확인하여 신속히 처리할 수 있는 방식을 요구하고 있는 실정이다.
따라서 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 감안하여 제안된 것으로서, 본 발명의 목적은 엘시디 패널에 발생하는 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있도록 하는데 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제를 달성하기 위하여,
본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템은,
좌표획득 시스템에 있어서,
고유키 패턴이 인쇄된 기본기판에 편광필름을 부착하여 구성되는 편광판(100)과;
상기 편광판을 지지하기 위한 프레임부(200)와;
상기 편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하는 이미지획득수단(300)과;
상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 검사 대상기판 촬상 이미지를 획득하여 결함을 분석하여 찾아내는 동시에 촬상된 고유키 촬상 이미지를 획득하여 고유키 값으로부터 결함의 위치좌표를 연산하는 중앙제어수단(400);을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이상의 구성 및 작용을 지니는 본 발명에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템 및 방법은,
엘시디 패널에 발생하는 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 효과를 제공하게 된다.
상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템 및 방법는,
좌표획득 시스템에 있어서,
고유키 패턴이 인쇄된 기본기판에 편광필름을 부착하여 구성되는 편광판(100)과;
상기 편광판을 지지하기 위한 프레임부(200)와;
상기 편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하는 이미지획득수단(300)과;
상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 검사 대상기판 촬상 이미지를 획득하여 결함을 분석하여 찾아내는 동시에 촬상된 고유키 촬상 이미지를 획득하여 고유키 값으로부터 결함의 위치좌표를 연산하는 중앙제어수단(400);을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 고유키 패턴은,
고유ID를 가진 고유Key를 일정 간격으로 배치한 패턴인 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 이미지획득수단(300)은,
이미지 촬상을 지시하는 촬상버튼(310)과,
촬상대상인 편광판(100)과 검사대상기판(10)에 초점을 맞추고 촬상하는 렌즈부(320)와,
촬상된 이미지를 획득하는 카메라부(330)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 이미지 촬상은,
편광판에 대한 이미지 획득과 검사대상기판에 대한 이미지 획득을 위해 두 번의 촬상을 순차적으로 실행하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 중앙제어수단(400)은,
상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 검사 대상기판 촬상 이미지를 획득하여 결함을 분석하여 찾아내는 결함검사부(420)와,
상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 고유키 촬상 이미지를 획득하여 고유키 값으로부터 결함의 위치좌표를 연산하는 좌표산출부(430)와,
상기 이미지획득수단을 통해 획득된 편광판 촬상이미지와 검사 대상기판 촬상이미지를 입력받아 검사 대상기판 촬상이미지를 결함검사부로 보내며, 좌표산출부로부터 산출된 결함의 좌표값을 받아 출력시키는 입출력제어부(410)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
한편, 본 발명인 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득 방법은,
검사 대상기판의 촬상 이미지를 획득하기 위하여 촬상버튼을 누르는 촬상버튼누름단계(S100)와;
렌즈부를 통해 획득한 편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하는 이미지획득단계(S110)와;
획득된 검사 대상기판 촬상이미지를 결함검사부에 전송하는 촬상이미지전송단계(S120)와;
결함검사부에 의해 결함을 검사하는 결함검사단계(S130)와;
결함검사부에서 검사 대상기판 촬상이미지를 검사하여 결함을 찾아내게 되면 검사 대상기판 촬상이미지 상의 결함정보를 편광판 촬상이미지와 함께 좌표산출부로 전송하는 결함정보전송단계(S140)와;
좌표산출부에 의해 편광판 촬상이미지의 고유키 패턴 인쇄로부터 해당 편광판 촬상이미지의 좌표값을 산출하고, 검사 대상기판 촬상이미지 상의 결함과 고유키 패턴 간의 거리와 각도를 계산하여 결함위치의 좌표값을 산출하는 좌표값산출단계(S150)와;
최종적으로 산출된 결함의 좌표값을 입출력제어부로 전송하여 출력시키는 좌표값출력단계(S160);를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 촬상 이미지는,
편광판에 대한 이미지와 검사대상기판에 대한 이미지이며, 상기 두가지의 이미지 획득을 위하여 두 번의 촬상을 순차적으로 실행하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 촬상버튼누름단계이전에,
검사 대상기판을 촬상할 때, 해당 고유키 패턴이 이미지에 촬상되지 않도록 하기 위하여 편광판에 미세한 커팅 혹은 etching 기법을 사용하여 패턴을 인쇄하는 편광판패턴인쇄단계;를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 이미지획득단계에서,
편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하여 편광판 촬상이미지 및 검사 대상기판 촬상이미지를 획득하기 위하여 고정초점을 적용한 렌즈부를 이동시켜 촬상 대상과의 절대거리를 확보하는 방식 또는 렌즈부 자체의 초점 거리를 변환시키는 변동 초점 방식을 사용하는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 의한 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템 및 방법의 실시예를 통해 상세히 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템의 전체 구성도이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명인 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템은,
좌표획득 시스템에 있어서,
고유키 패턴이 인쇄된 기본기판에 편광필름을 부착하여 구성되는 편광판(100)과;
상기 편광판을 지지하기 위한 프레임부(200)와;
상기 편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하는 이미지획득수단(300)과;
상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 검사 대상기판 촬상 이미지를 획득하여 결함을 분석하여 찾아내는 동시에 촬상된 고유키 촬상 이미지를 획득하여 고유키 값으로부터 결함의 위치좌표를 연산하는 중앙제어수단(400);을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 고유키 패턴은,
고유ID를 가진 고유Key를 일정 간격으로 배치한 패턴인 것을 특징으로 한다.
일반적인 목시검사방법은 검사 대상체인 엘시디 패널(10)에 원하는 화상을 보내주거나, 온오프하는 특성 패턴을 표출하는 장치인 패턴제너레이터를 조작함으로써 사람이 결함을 눈으로 직업 확인하는 과정을 거쳐 손으로 검사대상 패널에 결함부분을 마킹하거나, 조이스틱을 이용하여 십자형 패턴을 결함부분까지 이동시켜 결함부분의 좌표를 전산 입력하게 된다.
그러나, 상기 본 발명은 조이스틱을 이용하여 십자형 패턴을 결함부분까지 이동시키기 위해 필요한 시간을 대폭 축소시킴으로써 빠른 시간안에 불량 위치의 좌표를 데이터화하여 해당 좌표값을 가지고 해당 불량의 위치를 수리 공정에서 쉽게 확인할 수 있게 되어 이에 따른 병목 현상을 줄이고 생산성을 향상시킬 수 있는 것이다.
이를 위하여 본 발명의 시스템은 편광판(100)과 프레임부(200)와 이미지획득수단(300)와 중앙제어수단(400)을 포함하여 구성된다.
상기 편광판(100)은 도 2에 도시한 바와 같이 기본기판(110)의 한쪽 면에 고유키 패턴이 인쇄되고, 반대편에 편광필름(120)이 부착된 형태로 구성된다.
이때 기본기판(110)은 유리나 아크릴 등의 투명 플라스틱 소재 등이 사용가 능하나, 미세한 고유키패턴 인쇄가 비교적 쉬운 강화유리 등이 바람직하다.
이때 고유키패턴을 인쇄하는 방법은 일상적인 가시광선 하에서 패턴의 유무를 파악하기 어렵고, 촬상부 초점이 맞지 않았을 때, 그 모습이 드러나지 않는 등의 조건을 만족시킬 수 있도록 함으로써, 이미지획득수단(300)에서 검사대상기판(10)을 촬상할 때, 해당 고유키패턴이 이미지에 촬상되지 않도록 하는 것이 바람직하다.
이는 가시광선이 아닌 특정 주파수 대역의 광선에만 촬상되는 용제를 이용하여 패턴을 그리거나, 도2에 도시한 것처럼 미세한 cutting 또는 etching기법을 사용하여 패턴을 그림으로써 가능하다.
도 3은 상기 편광판(100)을 정면에서 바라본 모습으로, 편광판의 상단에는 도시한 바와 같이 가시광선이 아닌 특정 주파수 대역의 광선에만 촬상되는 용제를 이용한 인쇄, cutting이나 etching을 통한 인쇄 등의 방법으로 고유키패턴을 인쇄한다.
이때 고유키패턴은 매우 미세하게 인쇄하여 일상적인 목시에서는 눈에 띄지 않도록 하여 검사자가 편광판 뒤쪽에 위치한 검사대상기판(10)을 검사함에 있어서 문제가 되지 않도록 해야 한다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템의 이미지획득수단 블록도이다.
도 4에 도시한 바와 같이, 상기 이미지획득수단(300)은,
이미지 촬상을 지시하는 촬상버튼(310)과,
촬상대상인 편광판(100)과 검사대상기판(10)에 초점을 맞추고 촬상하는 렌즈부(320)와,
촬상된 이미지를 획득하는 카메라부(330)를 포함하여 구성된다.
이때 이미지 촬상은 편광판(100)에 대한 이미지 획득과 검사대상기판(10)에 대한 이미지 획득 등 두 번의 과정을 순차적으로 거치게 된다.
도 5는 이미지획득수단(300)에서 편광판(100)과 검사대상기판(10)을 촬상하는 일실일예를 도시화한 것이다.
이때, 두 종류의 이미지를 획득하기 위한 방법으로는 고정초점을 채택한 렌즈부를 이동시킴으로써 촬상대상과의 절대거리를 확보하는 방법과 렌즈부 자체의 초점거리를 변화시키는 변동초점 방식 중 어느 것을 사용해도 무방하다.
도 6은 상기 이미지획득부에서 획득되는 두 종류의 이미지를 도시화한 일실일예이다.
검사자가 패턴을 변경해가면서 결함 위치를 파악한 경우, 검사자는 이미지획득수단(300)을 결함 위에 위치시키고, 촬상버튼을 누름으로써 두 종류의 이미지를 촬상하게 된다.
편광판 촬상이미지는 고유키패턴이 인쇄된 편광판(100)을 촬상한 이미지로 편광판(100) 후면에 위치한 검사 대상기판(10)의 모습은 초점이 달라 촬상되지 않게 된다.
이때 편광판에 인쇄된 고유키패턴은 고유ID를 가진 고유Key를 일정 간격으로 배치한 형태의 패턴으로 카메라부가 편광판(100)의 어느 영역에 있는지에 관계없이 이미지 촬상이 가능한 FOV(Field of View)내에서 최소한 1개 이상의 고유key값이 반드시 촬상되도록 하며, 바람직하게는 4개 이상의 key값이 촬상될 수 있도록 key를 배치하여야 한다.
예를 들어, 편광판(100)의 크기가 1203mm*752mm이고 FOV가 16mm*12mm인 경우, 편광판(100)의 면적은 FOV의 약 4712배에 해당한다.
따라서 FOV내에 최소한 1개 이상의 Key가 촬상되기 위해서는 편광판에 최소한 4712개 이상의 고유키패턴이 존재해야 하며, 바람직하게 4개 이상의 key를 FOV내에 담기 위해서는 최소한 18,847개 이상의 고유키패턴이 편광판에 일정간격으로 규칙적으로 배치되어야 한다.
이러한 고유키 패턴은 해당값이 다른 고유키패턴과 구별되는 형태이며, 해당 위치의 좌표가 정확하게 구현된다는 가정하에 다양한 방법으로 구현 가능하다.
한편, 검사 대상기판 촬상이미지는 검사대상기판(10)에 초점이 맞춰지므로, 편광판(100)은 촬상되지 않게 되어, 검사대상기판과 결함 부분만이 촬상되게 된다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템의 중앙제어수단 블록도이다.
즉, 상기 중앙제어수단(400)은,
상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 검사 대상기판 촬상 이미지를 획득하여 결함을 분석하여 찾아내는 결함검사부(420)와,
상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 고유키 촬상 이미지를 획득하여 고유키 값으로부터 결함의 위치좌표를 연산하는 좌표산출부(430)와,
상기 이미지획득수단을 통해 획득된 편광판 촬상이미지와 검사 대상기판 촬상이미지를 입력받아 검사 대상기판 촬상이미지를 결함검사부로 보내며, 좌표산출부로부터 산출된 결함의 좌표값을 받아 출력시키는 입출력제어부(410)를 포함하여 구성된다.
구체적으로 설명하자면, 먼저 획득된 편광판 촬상이미지와 검사 대상기판 촬상이미지는 입출력제어부(410)로 보내지며, 검사 대상기판 촬상이미지는 입출력제어부에 의해 결함검사부(420)로 보내져 결함을 검사하게 된다.
결함검사부(420)에서 검사 대상기판 촬상이미지를 검사하여 결함을 찾아내게 되면 검사 대상기판 촬상이미지 상의 결함정보는 편광판 촬상이미지와 함께 좌표산출부(430)로 보내진다.
상기 좌표산출부(430)에서는 편광판 촬상이미지의 고유키패턴인쇄로부터 해당 편광판 촬상이미지의 좌표값을 산출하고, 검사 대상기판 촬상이미지 상의 결함과 고유키패턴 간의 거리와 각도를 계산하여 결함위치의 좌표값을 산출한다.
상기와 같이 최종적으로 산출된 결함의 좌표값은 다시 입출력제어부(410)로 보내져 디스플레이부(미도시)를 통해 출력된다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득 방법의 흐름도이다.
도 8에 도시한 바와 같이, 본 발명인 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득 방법은,
검사 대상기판의 촬상 이미지를 획득하기 위하여 촬상버튼을 누르는 촬상버 튼누름단계(S100)와;
렌즈부를 통해 획득한 편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하는 이미지획득단계(S110)와;
획득된 검사 대상기판 촬상이미지를 결함검사부에 전송하는 촬상이미지전송단계(S120)와;
결함검사부에 의해 결함을 검사하는 결함검사단계(S130)와;
결함검사부에서 검사 대상기판 촬상이미지를 검사하여 결함을 찾아내게 되면 검사 대상기판 촬상이미지 상의 결함정보를 편광판 촬상이미지와 함께 좌표산출부로 전송하는 결함정보전송단계(S140)와;
좌표산출부에 의해 편광판 촬상이미지의 고유키 패턴 인쇄로부터 해당 편광판 촬상이미지의 좌표값을 산출하고, 검사 대상기판 촬상이미지 상의 결함과 고유키 패턴 간의 거리와 각도를 계산하여 결함위치의 좌표값을 산출하는 좌표값산출단계(S150)와;
최종적으로 산출된 결함의 좌표값을 입출력제어부로 전송하여 출력시키는 좌표값출력단계(S160);를 포함하여 이루어진다.
즉, 패턴제너레이터에 의해 구현된 패턴이미지를 이용하여 종래의 목시 검사 방법으로 불량을 확인하여 불량이 발견되면 해당 불량 위치에 이미지획득수단을 위치시키게 된다.
이후 촬상버튼을 누르게 되면(S100), 렌즈부를 통해 획득한 편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상(S110)하게 된다.
이때, 획득된 검사 대상기판 촬상이미지를 결함검사부에 전송(S120)하면, 결함검사부에 의해 결함을 검사(S130)하게 된다.
상기 결함검사부에서 검사 대상기판 촬상이미지를 검사하여 결함을 찾아내게 되면 검사 대상기판 촬상이미지 상의 결함정보를 편광판 촬상이미지와 함께 좌표산출부로 전송(S140)하게 되며, 상기 좌표산출부에 의해 편광판 촬상이미지의 고유키 패턴 인쇄로부터 해당 편광판 촬상이미지의 좌표값을 산출하고, 검사 대상기판 촬상이미지 상의 결함과 고유키 패턴 간의 거리와 각도를 계산하여 결함위치의 좌표값을 산출(S150)하게 된다.
이후 최종적으로 산출된 결함의 좌표값을 입출력제어부로 전송하여 디스플레이부(미도시)에 해당 좌표값을 출력(S160)시키게 된다.
또한, 상기 촬상 이미지는 편광판에 대한 이미지와 검사대상기판에 대한 이미지이며, 상기 두가지의 이미지 획득을 위하여 두 번의 촬상을 순차적으로 실행하는 것을 특징으로 하며, 상기 촬상버튼누름단계이전에 검사 대상기판을 촬상할 때, 해당 고유키 패턴이 이미지에 촬상되지 않도록 하기 위하여 편광판에 미세한 커팅 혹은 etching 기법을 사용하여 패턴을 인쇄하는 편광판패턴인쇄단계;를 더 포함하여 이루어질 수도 있다.
또한, 상기 이미지획득단계에서 편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하여 편광판 촬상이미지 및 검사 대상기판 촬상이미지를 획득하기 위하여 고정초점을 적용한 렌즈부를 이동시켜 촬상 대상과의 절대거리를 확보하는 방식 또는 렌즈부 자체의 초점 거리를 변환시키는 변동 초점 방식을 사용하는 것을 특징으로 한 다.
상기와 같은 구성 및 동작 방법을 통해 엘시디 패널에 발생하는 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 효과를 제공하게 된다.
이상에서와 같은 내용의 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시된 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다.
본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구 범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
본 발명인 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템 및 방법은,
엘시디 패널에 발생하는 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 효과를 제공하게 되어 디스플레이 패널 검사 분야에 널리 유용하게 활용될 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템의 전체 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템의 편광판 구성을 나타낸 예시도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템의 편광판의 정면도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템의 이미지획득수단 블록도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템의 이미지획득수단에서 편광판과 검사대상기판을 촬상하는 예를 나타낸 예시도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템의 이미지획득수단에서 획득되는 두 종류의 이미지를 도시화한 예시도이다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템의 중앙제어수단 블록도이다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득 방법의 흐름도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
10 : 검사대상 기판
100 : 편광판
200 : 프레임부
300 : 이미지획득수단
400 : 중앙제어수단

Claims (9)

  1. 좌표획득 시스템에 있어서,
    고유키 패턴이 인쇄된 기본기판에 편광필름을 부착하여 구성되는 편광판(100)과;
    상기 편광판을 지지하기 위한 프레임부(200)와;
    상기 편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하는 이미지획득수단(300)과;
    상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 검사 대상기판 촬상 이미지를 획득하여 결함을 분석하여 찾아내는 동시에 촬상된 고유키 촬상 이미지를 획득하여 고유키 값으로부터 결함의 위치좌표를 연산하는 중앙제어수단(400);을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 고유키 패턴은,
    고유ID를 가진 고유Key를 일정 간격으로 배치한 패턴인 것을 특징으로 하는 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 이미지획득수단(300)은,
    이미지 촬상을 지시하는 촬상버튼(310)과,
    촬상대상인 편광판(100)과 검사대상기판(10)에 초점을 맞추고 촬상하는 렌즈부(320)와,
    촬상된 이미지를 획득하는 카메라부(330)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 이미지 촬상은,
    편광판에 대한 이미지 획득과 검사대상기판에 대한 이미지 획득을 위해 두 번의 촬상을 순차적으로 실행하는 것을 특징으로 하는 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 중앙제어수단(400)은,
    상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 검사 대상기판 촬상 이미지를 획득하여 결함을 분석하여 찾아내는 결함검사부(420)와,
    상기 이미지획득수단을 통해 촬상된 고유키 촬상 이미지를 획득하여 고유키 값으로부터 결함의 위치좌표를 연산하는 좌표산출부(430)와,
    상기 이미지획득수단을 통해 획득된 편광판 촬상이미지와 검사 대상기판 촬상이미지를 입력받아 검사 대상기판 촬상이미지를 결함검사부로 보내며, 좌표산출부로부터 산출된 결함의 좌표값을 받아 출력시키는 입출력제어부(410)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 시스템.
  6. 검사 대상기판의 촬상 이미지를 획득하기 위하여 촬상버튼을 누르는 촬상버튼누름단계(S100)와;
    렌즈부를 통해 획득한 편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하는 이미지획득단계(S110)와;
    획득된 검사 대상기판 촬상이미지를 결함검사부에 전송하는 촬상이미지전송단계(S120)와;
    결함검사부에 의해 결함을 검사하는 결함검사단계(S130)와;
    결함검사부에서 검사 대상기판 촬상이미지를 검사하여 결함을 찾아내게 되면 검사 대상기판 촬상이미지 상의 결함정보를 편광판 촬상이미지와 함께 좌표산출부로 전송하는 결함정보전송단계(S140)와;
    좌표산출부에 의해 편광판 촬상이미지의 고유키 패턴 인쇄로부터 해당 편광 판 촬상이미지의 좌표값을 산출하고, 검사 대상기판 촬상이미지 상의 결함과 고유키 패턴 간의 거리와 각도를 계산하여 결함위치의 좌표값을 산출하는 좌표값산출단계(S150)와;
    최종적으로 산출된 결함의 좌표값을 입출력제어부로 전송하여 출력시키는 좌표값출력단계(S160);를 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득 방법.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 촬상 이미지는,
    편광판에 대한 이미지와 검사대상기판에 대한 이미지이며, 상기 두가지의 이미지 획득을 위하여 두 번의 촬상을 순차적으로 실행하는 것을 특징으로 하는 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득 방법.
  8. 제 6항에 있어서,
    상기 촬상버튼누름단계이전에,
    검사 대상기판을 촬상할 때, 해당 고유키 패턴이 이미지에 촬상되지 않도록 하기 위하여 편광판에 미세한 커팅 혹은 etching 기법을 사용하여 패턴을 인쇄하는 편광판패턴인쇄단계;를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득 방법.
  9. 제 6항에 있어서,
    상기 이미지획득단계에서,
    편광판의 고유키 및 검사 대상기판을 촬상하여 편광판 촬상이미지 및 검사 대상기판 촬상이미지를 획득하기 위하여 고정초점을 적용한 렌즈부를 이동시켜 촬상 대상과의 절대거리를 확보하는 방식 또는 렌즈부 자체의 초점 거리를 변환시키는 변동 초점 방식을 사용하는 것을 특징으로 하는 엘씨디 목시검사에서 발견한 결함좌표 획득 방법.
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JP2005156957A (ja) 2003-11-26 2005-06-16 Nec Saitama Ltd 液晶表示装置の表示検査装置とその表示検査方法
KR101166843B1 (ko) * 2005-08-30 2012-07-19 엘지디스플레이 주식회사 Lcd 검사 장비 및 lcd 검사 방법
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