KR20100071862A - 액정표시장치용 점등검사 장치 - Google Patents

액정표시장치용 점등검사 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20100071862A
KR20100071862A KR1020080130717A KR20080130717A KR20100071862A KR 20100071862 A KR20100071862 A KR 20100071862A KR 1020080130717 A KR1020080130717 A KR 1020080130717A KR 20080130717 A KR20080130717 A KR 20080130717A KR 20100071862 A KR20100071862 A KR 20100071862A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lighting
liquid crystal
contact
lighting test
crystal display
Prior art date
Application number
KR1020080130717A
Other languages
English (en)
Inventor
김성윤
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020080130717A priority Critical patent/KR20100071862A/ko
Publication of KR20100071862A publication Critical patent/KR20100071862A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G09G3/3258—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the voltage across the light-emitting element

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 검사공정을 줄이고, 비용을 줄일 수 있는 액정표시장치용 점등검사 장치가 개시된다.
개시된 본 발명의 액정표시장치용 점등검사 장치는 액정표시장치의 게이트 라인 및 데이터 라인으로부터 연장되어 게이트 라인 및 데이터 라인을 기수번째 및 우수번째로 구분되게 연결된 제1 및 제2 점등검사 패드 중 기수번째 게이트 라인 및 데이터 라인과 연결된 제1 점등검사 패드와 접촉되는 제1 컨택부와, 우수번째 게이트 라인 및 데이터 라인과 연결된 제2 점등검사 패드와 점촉되는 제2 컨택부와, 제1 및 제2 컨택부로 점등검사용 테스트 신호를 공급하는 전원공급부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

액정표시장치용 점등검사 장치{APPARATUS OF PROBING LIGHTING FOR LIQUID CRYSTALDISPLAY}
본 발명은 검사공정을 줄이고, 비용을 줄일 수 있는 액정표시장치용 점등검사 장치에 관한 것이다.
최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시장치들이 대두되고 있다. 이러한 평판 표시장치로는 크게 액정표시장치(Liquid Crystal Display), 전계방출 표시장치(Field Emission Display), 플라즈마 표시장치(Plasma Display Panel) 및 유기전계발광 표시장치(Organic electro luminescence Display device) 등이 있다.
이와 같은 평판 표시장치들은 TV, 컴퓨터 모니터 등의 영상표시기기에 구비되어 동영상을 비롯하여 각종 영상 및 문자를 디스플레이하는 역할을 한다.
평판 표시장치들 중 액정표시장치는 전자제품의 경박단소 추세에 만족할 수 있고, 양산성이 향상되고 있어 많은 응용분야에서 사용되고 있다.
특히, 박막 트랜지스터(TFT: thin film transistor)를 이용하여 액정셀을 구동하는 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치는 화질이 우수하고 소비전력이 낮은 장점이 있으며, 최근의 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화로 급속히 발전하고 있다.
액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치를 제조하기 위한 제조공정은 기판 세정, 기판 패터닝 공정, 배향막 형성/러빙 공정, 기판 합착/액정 주입 공정, 검사 공정, 리페어 공정, 실장 공정 등으로 나뉘어진다.
도 1은 일반적인 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 일반적인 액정표시장치는 다수의 게이트 라인(11)과 데이터 라인(13)이 교차하여 매트릭스 형태로 배치되어 영상이 디스플레이되는 표시 영역(10)과 상기 표시영역(10)의 가장자리에 배치되어 영상이 디스플레이되지 않는 비표시 영역(20)으로 구성된다.
표시 영역(10)에는 복수의 화소가 정의되고, 상기 게이트 라인(11) 및 데이터 라인(13)의 교차점에는 화소를 스위칭하기 위한 박막 트랜지스터(미도시)가 구비된다.
비표시 영역(20)에는 데이터 드라이버 IC가 실장되는 데이터 드라이버 영역이 포함된다. 상기 드라이버 영역에는 외부로부터 신호를 입력받아 표시 영역(10)의 데이터 라인(13)에 데이터신호를 공급하는 다수의 입/출력 패드(23, 21)가 배치된다.
비표시 영역(20)에는 기수번째 데이터 라인에 제1 테스트용 신호가 공급되는 제1 테스트용 패드(38)와, 우수번째 데이터 라인에 제2 테시트용 신호가 공급되는 제2 테스트용 패드(37) 및 인에이블 패드(35)가 형성된다.
또한, 비표시 영역(20)에는 입/출력 패드(23, 21) 사이에는 제1 및 제2 스위치군(31, 33)이 형성된다. 상기 제1 및 제2 스위치군(31, 33)은 복수의 트랜지스터를 포함한다. 상기 제1 및 제2 스위치군(31, 33)은 외부로부터 인에이블 패드(35)를 통해 입력되는 인에이블 신호에 채널을 형성하여 턴-오프 상태에서 턴-온 상태로 변화한다.
상기 인에이블 패드(35)로부터 공급되는 인에이블 신호에 의해 제2 스위치(33)군이 턴-온 상태로 변화하면, 제1 테스트용 패드(38)로부터 공급되는 제1 테스트용 신호에 의해 기수번째 데이터 라인의 단선 유무를 판별한다.
상기 기수번째 데이터 라인의 단선 유무를 판별한 후에 상기 제2 테스트용 패드(37)로부터 공급되는 제2 테스트용 신호에 의해 우수번째 데이터 라인의 단선 유무를 판별한다.
여기서, 상기 기수번째 데이터 라인과 우수번째 데이터 라인의 단선 유무는 동시에 진행하지 않으며, 제1 및 제2 테스트용 패드(38, 37)에 제1 및 제2 테스트용 신호를 순차적으로 공급하여 기수번째 데이터 라인들과 우수번째 데이터 라인들의 단선 유무를 판벌하게 된다.
이상에서와 같이, 제1 및 제2 스위치군(31, 33)을 이용한 데이터 라인들(13)의 단선유무를 판별하는 검사공정에 있어서, 제1 및 제2 스위치군(31, 33)에 포함된 트랜지스터가 불량(예를 들면, 정전기에 의한 손상)으로 데이터 라인의 패턴 불량으로 판별되는 단점이 있다.
일반적인 액정표시장치의 점등검사 공정에 있어서, 바 타입으로 이루어진 포 고 핀을 이용하여 상기 포고 핀이 입/출력 패드에 각각 접촉되어 전체 데이터 라인의 단선유무를 판별하는 별도의 점등검사 공정이 진행되고 있다.
일반적인 액정표시장치의 점등검사 공정은 제1 및 제2 스위치군(31, 33)을 이용한 기수번째 및 우수번째 데이터 라인의 단선유무 판별 후, 단선 발생시에 바 타입의 컨택바를 입/출력 패드(23, 21)의 접촉시켜 2차 점등검사를 실시함으로써, 점등검사를 위한 장비 사용으로 비용 및 점등검사 공정 시간이 늘어나는 문제가 있었다.
본 발명은 비용을 줄일 수 있을 뿐만 아니라 점등 검사공정 시간을 줄일 수 있는 액정표시장치용 점등검사 장치를 제공함에 그 목적이 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치용 점등검사 장치는,
액정표시장치의 게이트 라인 및 데이터 라인으로부터 연장되어 상기 게이트 라인 및 데이터 라인을 기수번째 및 우수번째로 구분되게 연결된 제1 및 제2 점등검사 패드 중 상기 기수번째 게이트 라인 및 데이터 라인과 연결된 상기 제1 점등검사 패드와 접촉되는 제1 컨택부; 상기 우수번째 게이트 라인 및 데이터 라인과 연결되는 상기 제2 점등검사 패드와 점촉되는 제2 컨택부; 및 상기 제1 및 제2 컨택부로 점등검사용 테스트 신호를 공급하는 전원공급부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은 게이트 및 데이터 라인의 단선유무를 판별하기 위한 것으로 기수번째 또는 우수번째로 구분하여 테스트 신호를 공급함으로써, 일반적인 액정표시장치의 점등검사를 위한 복수의 검사장비를 이용하지 않고 한번에 검사를 완료할 수 있는 장점을 가진다. 즉, 본 발명은 점등검사 장비의 감소로 비용을 줄일 수 있을 뿐만 아니라 점등검사 공정의 검사단계를 줄임으로써, 공정 수 및 공정 시간을 줄일 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 트랜지스터를 이용하지 않는 점등검사 장치로써, 일반적인 액정표시장치용 점등검사와 대비하여 신뢰도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시 예를 상세히 설명하도록 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치의 점등검사 장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 3은 액정표시장치를 도시한 평면도이고, 도 4는 도 3의 액정표시장치의 A영역을 도시한 도면이다.
도 2 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치의 점등검사 장치는 복수의 포고블럭(150)과, 상기 복수의 포고플럭(150)으로 테스트용 데이터 신호를 공급하는 전원공급부(130)를 포함함다.
복수의 포고블럭(150)은 바디부(151)와, 바디부(151) 내부에 구비되어 기수번째 데이터 라인들과 전기적으로 연결되어 테스트 신호가 공급되는 제1 콘택부(153)와, 우수번째 데이터 라인들과 전기적으로 연결되어 테스트 신호가 공급되는 제2 콘택부(155)와, 상기 제1 및 제2 콘택부(153, 155) 사이에 구비되어 제1 및 제2 콘택부(153, 155) 사이의 절연을 위한 절연부(157)를 포함한다.
액정표시장치(100)와 접촉되는 제1 및 제2 콘택부(153, 155) 일면의 폭(t1, t3)은 1 내지 1000㎛로 이루어지며, 절연부(157)의 폭(t2)은 1 내지 500㎛로 이루어지며, 절연부(157)와 제1 및 제2 콘택부(153, 157)의 길이(l)는 대략 100 내지 20000㎛로 이루어지는 것이 바람직하다.
이상에서의 절연부(157)와 제1 및 제2 콘택부(153, 155)의 폭(t1, t2, t3) 및 길이(l)는 액정표시장치(100)의 종류에 따라 얼마든지 가변될 수 있다.
액정표시장치(100)는 영상이 디스플레이되는 표시 영역(110)과, 상기 표시 영역(110)의 가장자리에 배치되는 비표시 영역(120)으로 구성된다.
표시영역(110)에는 다수의 게이트 라인들(111)과 데이터 라인들(113)이 교차 배열되고, 상기 게이트 라인(111)과 데이터 라인(113)의 교차되어 화소(미도시)를 정의하며, 상기 게이트 라인(111) 및 데이터 라인(113)의 교차영역에 형성되어 상기 화소를 스위칭하기 위한 박막 트랜지스터(TFT, 미도시)가 구비된다.
비표시 영역(120)에는 드라이버 IC가 실장되는 드라이버 영역(121)을 포함하고, 상기 드라이버 영역(121)에는 외부로부터 공급되는 신호를 데이터 라인들(113)으로부터 신호를 공급하는 다수의 입력 패드(Ｉ1 내지 I11) 및 출력 패드(Ｏ1 내지 Ｏ11)가 형성된다.
출력 패드(O1 내지 O11) 중 기수번째 출력 패드(Ｏ1, ＯO3, ...,, Ｏ11)는 기수번째 데이터 라인들과 각각 연결되며, 우수번째 출력 패드(Ｏ2, Ｏ4, ...,Ｏ10)는 우수번째 데이터 라인들과 각각 연결된다.
기수번째 출력 패드(Ｏ1, ＯO3, ...,, Ｏ11)는 일정한 간격을 두고 제1 배선(101)에 의해 제1 점등검사 패드(P1)와 각각 연결되며, 우수번째 출력 패드(Ｏ2, Ｏ4, ...,Ｏ10)는 일정한 간격을 두고 제2 배선(102)에 의해 제2 점등검사 패드(P2)와 각각 연결된다.
상기 기수번째 출력 패드(Ｏ1, ＯO3, ...,, Ｏ11)와 상기 제1 점등검사 패드(P1)는 동일 층에 형성되며, 제1 배선(101)은 상기 기수번째 출력 패드(Ｏ1, Ｏ O3, ...,, Ｏ11) 및 제1 점등검사 패드(P1) 보다 하부층에 형성된다. 도면에는 도시되지 않았지만, 제1 배선(101)은 기수번째 출력 패드(Ｏ1, ＯO3, ...,, Ｏ11) 및 제1 점등검사 패드(P1)와 콘택홀(미도시)에 의해 서로 전기적으로 연결된다.
상기 우수번째 출력 패드(Ｏ2, Ｏ4, ...,Ｏ10)와 상기 제2 점등검사 패드(P2)는 동일층에 형성되며, 제2 배선(102)은 상기 우수번째 출력 패드(Ｏ2, Ｏ4, ...,Ｏ10) 및 제2 점등검사 패드(P2) 보다 하부층에 형성된다. 도면에는 도시되지 않았지만, 제2 배선(102)은 우수번째 출력 패드(Ｏ2, Ｏ4, ...,Ｏ10) 및 제2 점등검사 패드(P2)와 콘택홀(미도시)에 의해 서로 전기적으로 연결된다.
제1 및 제2 점등검사 패드(P1, P2)는 서로 일정한 간격을 두고 형성되고, 상기 제1 점등검사 패드(P1)는 포고블럭(150)의 제1 컨택부(153)와 접촉되며, 상기 제2 점등검사 패드(P2)는 포고블럭(150)의 제2 컨택부(155)와 접촉된다.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치의 검사방법을 설명하면, 포고 블럭(150)의 제1 및 제2 컨택부(153, 155)를 제1 및 제2 점등검사 패드(P1, P2)에 각각 접촉시키고, 전원공급부(130)로부터 테스트용 데이터 신호를 각각 공급한다.
표시영역(110)에서는 상기 포고블럭(150)의 제1 및 제2 컨택부(153, 155)로부터 공급되는 테스트 신호에 의해 기수번째 데이터 라인과 연결된 화소들과, 우수번째 데이터 라인들과 연결된 화소들에 점등검사용 화상이 디스플레이된다. 여기서, 불량이 발생하는 경우, 표시영역(110)에는 데이터 라인 방향으로 화상이 디스플레이되지 않는 화소들이 발생하므로 데이터 라인의 단선유무를 판별할 수 있다.
검사 공정이 완료된 후 드라이버 IC를 실장하는 실장 공정이 진행된다. 여기 서, 검사 공정에서 불량으로 판별된 기판의 경우, 리페어 공정을 통해 기판의 복원을 실시하거나 기판 복원이 불가능한 기판을 폐기처분 한다.
이상에서 설명한 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치용 점등검사 장치는 데이터 라인들(113)을 검사하는 포고블럭(150)의 구조를 한정하여 설명하고 있지만, 이에 한정하지 않고, 게이트 라인(111)을 검사하는 포고블럭도 동일하게 적용될 수 있다. 즉, 게이트 라인(111)을 기수번째 및 우수번째로 구분하여 테스트 신호를 공급하여 게이트 라인(111)의 단선유무를 판별할 수도 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치용 점등검사 장치는 게이트 및 데이터 라인(111, 113)의 단선유무를 판별하기 위한 것으로 기수번째 또는 우수번째로 구분하여 테스트 신호를 공급함으로써, 일반적인 액정표시장치의 점등검사를 위한 복수의 검사장비를 이용하지 않고 한번에 검사를 완료할 수 있는 장점을 가진다. 즉, 본 발명은 점등검사 장비의 감소로 비용을 줄일 수 있을 뿐만 아니라 점등검사 공정의 검사단계를 줄임으로써, 공정 수 및 공정 시간을 줄일 수 있다.
또한, 본 발명은 트랜지스터를 이용하지 않는 점등검사 장치로써, 일반적인 액정표시장치용 점등검사와 대비하여 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
도 1은 일반적인 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치의 점등검사 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 액정표시장치를 도시한 평면도이다.
도 4는 도 3의 액정표시장치의 A영역을 도시한 도면이다.

Claims (7)

  1. 액정표시장치의 게이트 라인 및 데이터 라인으로부터 연장되어 상기 게이트 라인 및 데이터 라인을 기수번째 및 우수번째로 구분되게 연결된 제1 및 제2 점등검사 패드 중 상기 기수번째 게이트 라인 및 데이터 라인과 연결된 상기 제1 점등검사 패드와 접촉되는 제1 컨택부;
    상기 우수번째 게이트 라인 및 데이터 라인과 연결된 상기 제2 점등검사 패드와 점촉되는 제2 컨택부; 및
    상기 제1 및 제2 컨택부로 점등검사용 테스트 신호를 공급하는 전원공급부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 컨택부와 상기 제2 컨택부 사이에는 절연부가 구비된 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 컨택부는 상기 제1 및 제2 점등검사 패드와 점촉되는 접촉면의 폭이 1 내지 1000㎛인 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사 장치.
  4. 제2 항에 있어서,
    상기 절연부의 폭은 1 내지 500㎛인 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사 장치.
  5. 제2 항에 있어서,
    싱기 절연부, 상기 제1 및 제2 컨택부의 길이는 100 내지 20000㎛인 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사 장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 점등검사 패드는 상기 게이트 라인 및 데이터 라인의 출력 패드와 동일층에 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사 장치.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 점등검사 패드와 상기 게이트 라인 및 데이터 라인의 출력 패드는 별도의 배선으로 서로 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사 장치.
KR1020080130717A 2008-12-19 2008-12-19 액정표시장치용 점등검사 장치 KR20100071862A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080130717A KR20100071862A (ko) 2008-12-19 2008-12-19 액정표시장치용 점등검사 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080130717A KR20100071862A (ko) 2008-12-19 2008-12-19 액정표시장치용 점등검사 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20100071862A true KR20100071862A (ko) 2010-06-29

Family

ID=42369276

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080130717A KR20100071862A (ko) 2008-12-19 2008-12-19 액정표시장치용 점등검사 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20100071862A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20210202663A1 (en) * 2019-12-31 2021-07-01 Lg Display Co., Ltd. Display device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20210202663A1 (en) * 2019-12-31 2021-07-01 Lg Display Co., Ltd. Display device
CN113130557A (zh) * 2019-12-31 2021-07-16 乐金显示有限公司 显示装置
US11930672B2 (en) * 2019-12-31 2024-03-12 Lg Display Co., Ltd. Display device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10802358B2 (en) Display device with signal lines routed to decrease size of non-display area
US8975905B2 (en) Display apparatus with reduced number of test lines for array test process and method of testing the same
JP2016218216A (ja) 表示パネル
JP2007292750A (ja) 表示パネルの検査装置及び検査方法
US20050057273A1 (en) Built-in testing apparatus for testing displays and operation method thereof
JP2016218243A (ja) 表示装置
KR101107708B1 (ko) 액정 표시 장치의 박막 트랜지스터 어레이 기판
KR101008790B1 (ko) 테스트패드가 구비된 액정표시장치
KR20120075096A (ko) 액정표시장치 및 그의 검사 방법
KR101174156B1 (ko) 평판 표시장치
KR101649220B1 (ko) 액정표시장치의 검사장치
KR101472130B1 (ko) 액정표시장치
KR20100071862A (ko) 액정표시장치용 점등검사 장치
KR101621560B1 (ko) 액정표시장치 테스트 패턴
JP5138999B2 (ja) 表示装置
KR20150077778A (ko) 디스플레이 장치의 검사 방법
KR20070120385A (ko) 어레이 기판, 이를 이용한 액정표시장치 및 어레이 기판의제조방법
KR101186010B1 (ko) 액정표시장치 및 그 스위칭소자 리페어방법
KR100487433B1 (ko) 액정 표시 장치의 어레이 기판
KR101192050B1 (ko) 평판표시장치의 검사방법 및 장치
KR101165463B1 (ko) 액정표시장치 및 그 스위칭소자 리페어방법
JP2005049519A (ja) 表示装置
WO2023116106A1 (zh) 显示基板及其测试方法和显示装置
KR101074410B1 (ko) 평판 표시장치와 그의 검사방법
KR101222979B1 (ko) 박막 트랜지스터 기판

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination