KR20100047994A - The probe pin and the mathode - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A probe pin and a method for manufacturing the same are provided to stably transfer electrical signal by integrating a path for transferring the electrical signal between external connection terminals which are separated. CONSTITUTION: Both end of rod shape object(20) is pressurized in order to form an upper contact plate(21) and a lower contact plate(22). A contact part(23) is formed by cutting the upper contact plate and the lower contact plate. The upper contact plate and the lower contact plate are connected in order to form a pipe shape. An elastic part is formed by bending the object. A plane coil shape is formed by shaping the elastic part.

Description

프로브핀 및 그 제조방법{The Probe Pin and The Mathode}Probe Pin and The Manufacturing Method

본 발명은 프로브핀 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 소정거리로 분리된 외부연결단자들 사이의 전기신호를 연결하기 위한 프로브핀으로 전기신호의 전달경로를 동일 임피던스를 유지하면서 전달할 수 있도록 하여 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있도록 되어 있고, 외부연결단자와의 접촉시 탄성적으로 가압력을 흡수제거하여 손상을 받지 않고, 특히 생산이 간편하여 단시간 내에 다량으로 생산할 수 있도록 하여 생산성을 향상시킬 수 있도록 된 프로브핀 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a probe pin and a method of manufacturing the same, and more particularly, to a probe pin for connecting an electrical signal between external connection terminals separated by a predetermined distance, the transmission path of the electrical signal can be transmitted while maintaining the same impedance. It is designed to transmit stable electric signal, and it does not damage by elastically absorbing and removing the pressing force when it is in contact with the external connection terminal.In particular, it is easy to produce so that a large amount can be produced within a short time to improve productivity. It relates to a probe pin and a method of manufacturing the same.

일반적으로 프로브핀은 단독 또는 다른 종류의 핀과 함께 웨이퍼에 형성된 소자와 반도체칩패키지를 테스트하기 위한 테스트소켓 등에 널리 사용되고 있다.In general, probe pins are widely used in test sockets for testing devices and semiconductor chip packages formed on a wafer alone or in combination with other types of pins.

프로브핀이 테스트소켓에 사용되는 예는 1999년 특허출원 제68258호(고안의 명칭: 패키지용 소켓), 2001년 실용신안등록출원 제31810호(고안의 명칭: 칩 검사용 소켓장치)등에 개시되어 있다.Examples of the use of probe pins in test sockets are disclosed in 1999 Patent Application No. 68258 (designation name: package socket) and 2001 Utility Model Registration Application No. 3318 (designation name: chip inspection socket device). have.

상기와 같은 프로브핀은 도전재질로 제작되며, 도 8에서 도시된 바와 같이, 양단에 상부걸림턱(111)과 하부걸림턱(112)이 내측을 향해 형성되는 슬리브(110) 와, 영역의 일부위가 상기 슬리브(110)의 내부에 각각 장착되는 상부접촉부(120) 및 하부접촉부(130)와, 상부접촉부(120)와 하부접촉부(130)의 사이에 개재하도록 슬리브(110)에 장착되는 코일스프링(140)을 갖고 있다.As described above, the probe pin is made of a conductive material, and as shown in FIG. 8, the upper catching jaw 111 and the lower catching jaw 112 are formed at both ends of the sleeve 110, and part of the region. Coils mounted on the sleeve 110 to be interposed between the upper contact portion 120 and the lower contact portion 130 and the upper contact portion 120 and the lower contact portion 130 respectively installed inside the sleeve 110. It has a spring 140.

상기한 상부접촉부(120)는 슬리브(110)의 내부에 배치되는 상부바디부(121)와, 상부바디부(121)의 상면으로부터 수직으로 연장 형성되는 상부접촉핀(122)을 갖고 있다.The upper contact portion 120 has an upper body 121 disposed inside the sleeve 110 and an upper contact pin 122 extending vertically from an upper surface of the upper body 121.

상기 상부접촉부(130)는 상부바디부(121)가 상부걸림턱(111)에 의해 탈출이 저지되도록 슬리브(110)에 장착된다.The upper contact portion 130 is mounted on the sleeve 110 such that the upper body portion 121 is prevented from escaping by the upper locking jaw 111.

상기한 하부접촉부(130)는 슬리브(110)의 내부에 배치되는 하부바디부(131)와 하부바디부(131)의 저면으로부터 수직으로 연장형성되는 하부접촉핀(132)을 갖고 있다.The lower contact portion 130 has a lower body portion 131 disposed inside the sleeve 110 and a lower contact pin 132 extending vertically from the bottom of the lower body portion 131.

상기 하부접촉부(130)는 하부바디부(131)가 하부걸림턱(112)에 의해 탈출이 저지되도록 슬리부(110)에 장착된다.The lower contact portion 130 is mounted on the sleeve 110 so that the lower body portion 131 is prevented from escaping by the lower locking jaw 112.

상기한 상부접촉핀(122)과 하부접촉핀(132)의 종단은 외부연결단자의 형태에 항상 맞춤된다.The ends of the upper contact pin 122 and the lower contact pin 132 are always fitted to the shape of the external connection terminal.

예를들면, 테스트소켓에 장착하여 프로브핀을 사용하는 경우반도체칩패키지의 외부연결단자가 볼(Ball)타입이면 상부접촉핀(122)의 상단은 하향곡선을 갖도록 형성된다.For example, when the probe pin is used by mounting on a test socket, if the external connection terminal of the semiconductor chip package is a ball type, the upper end of the upper contact pin 122 is formed to have a downward curve.

상기와 같은 종래의 프로브핀은 상부접촉부(120) 및 하부접촉부(130)에 압력이 인가될 때 상부접촉부(120)와 하부접촉부(130)는 슬리브(110)의 내부에서 상대 방을 향해 슬라이딩 이동된다.In the conventional probe pin as described above, when pressure is applied to the upper contact portion 120 and the lower contact portion 130, the upper contact portion 120 and the lower contact portion 130 slide toward the counterpart in the sleeve 110. do.

상기와 같이 상부접촉부(120)와 하부접촉부(130)가 슬라이딩이동됨에 따라 코일스프링(140)은 수축하고, 이에 따라 상부접촉핀(122)과 하부접촉핀(132)은 각각 대향하는 한 쌍의 외부연결단자에 탄성 접촉된다.As described above, as the upper contact part 120 and the lower contact part 130 slide, the coil spring 140 contracts, and thus the upper contact pin 122 and the lower contact pin 132 are respectively opposed to each other. Elastic contact with external connection terminal.

상기와 같이 상부접촉핀(122) 및 하부접촉핀(132)이 각각 외부연결단자에 각각 탄성 접촉된 상태에서 전기신호는 하부접촉부(130), 슬리브(110) 및 상부접촉부(120)로 구성되는 도전경로를 따라 전달된다.In the state in which the upper contact pin 122 and the lower contact pin 132 are in elastic contact with the external connection terminals, respectively, as described above, the electrical signal includes a lower contact portion 130, a sleeve 110, and an upper contact portion 120. Pass along the path of challenge.

상기와 같은 종래의 프로브핀은 다음과 같은 공정을 통하여 제작이 된다.The conventional probe pin as described above is manufactured through the following process.

먼저 상부접촉부(120)와, 하부접촉부(130), 코일스프링(140) 및 슬리브(111)(양단이 절곡되지 않은 상태)를 각각 제작한다.First, the upper contact portion 120, the lower contact portion 130, the coil spring 140, and the sleeve 111 (the two ends are not bent) are manufactured, respectively.

상기에서 슬리브(111)는 관상의 관으로 일정한 폭을 갖는 봉상의 봉재를 드릴링하여 제작을 하도록 되어 있다.In the sleeve 111 is a tubular tube is made by drilling a rod-like rod having a constant width.

상기와 같이 각각의 상부접촉부(120)와, 하부접촉부(130), 코일스프링(140) 및 슬리브(111)가 제작되면, 상기 코일스프링(140)을 슬리브(111)의 내부에 삽입한 후, 상기 코일스프링(140)을 사이에 두고 서로 대향되도록 상기 상부바디부(121)와 하부바디부(131)를 슬리부(111)의 양단 내측으로 삽입한 후 슬리브(111)의 양단부를 내측으로 절곡시켜 상기 상부접촉부(120)와 하부접촉부(130)가 슬리브(111)의 내부에서 외부로 이탈되지 않도록 되어 있다.When the upper contact portion 120, the lower contact portion 130, the coil spring 140 and the sleeve 111 is manufactured as described above, after inserting the coil spring 140 into the sleeve 111, The upper body 121 and the lower body 131 are inserted into both ends of the sleeve 111 so as to face each other with the coil spring 140 therebetween, and then both ends of the sleeve 111 are bent inward. The upper contact portion 120 and the lower contact portion 130 are not separated from the inside of the sleeve 111 to the outside.

그러나, 상기와 같은 종래의 프로브핀은 구성되는 일부품인 슬리브의 제조가 봉재를 일일이 통상의 드릴머신으로 드릴링하여 제작하는 관계로 인하여 불량의 발 생이 높아 비경제적이며, 그 내경의 폭(대략 0.4㎜)이 대단히 작아 작업이 불편하며 자동화하기 어려워 생산성이 떨어져 생산단가가 상승하는 비효율적인 문제점이 있었으며, 상부접촉부와 하부접촉부와 슬리브 및 코일스프링 등으로 구성되어져 있어 각각의 구성품들의 임피던스값에 따른 편차에 의해 안정된 전기신호를 전달하지못하고 불안정하게 전달하므로서 검사의 신뢰성을 떨어뜨리는 문제점이 있었다.However, the conventional probe pin as described above is uneconomical due to the high occurrence of defects due to the manufacture of the sleeve, which is a part of the sleeve, by drilling the rod with a conventional drill machine, and the width of the inner diameter (approximately 0.4 ㎜) is very small, inconvenient to work and difficult to automate, resulting in inefficient productivity due to low productivity, and the upper contact part, lower contact part, sleeve, coil spring, etc. There was a problem in that the reliability of the test by dropping the unstable delivery of a stable electrical signal by the unstable.

본 원인은 상기와 같은 종래의 프로브핀의 문제점들을 해결하기 위하여 프로브핀을 구성하는 부품의 갯수를 줄임과 동시에 자동화 제작이 어려운 슬리브 제작의 자동화를 통해 단시간 내에 다량의 프로브핀을 제작할 수 있도록 하여 불량의 발생률을 줄이고 효율적으로 생산성를 향상시켜 생산단가를 줄여 경제적인 프로브핀 및 그 제조방법을 제안하였다.The main reason is to reduce the number of parts constituting the probe pin in order to solve the problems of the conventional probe pin as described above, and to produce a large number of probe pins in a short time through the automation of sleeve production difficult to automate We have proposed an economical probe pin and its manufacturing method by reducing the production cost by reducing the incidence rate of the product and efficiently improving the productivity.

상기와 같은 본 원인에 의해 제안된 프로브핀은 한국특허출원번호제2008-54433호(명칭: 프로브핀 및 그 제조방법)으로서, 상기의 본 원인에 의해 선제안된 한국특허출원번호제2008-54433호의 프로브핀은 출원된 명세서에서 개시된 바와 같이 외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부와 하부에 마련되는 하부접촉부가 탄성적으로 결합되는 통상의 프로브핀에 있어서; 상기한 상부접촉부와 하부접촉부의 사이에는 코일형상의 탄성부가 구비되며 상기 상부접촉부와 하부접촉부가 일체로 형성되어 있으며, 상기한 하부접촉부는 상하로 관통된 원통형의 관으로 이루어지며 상기 탄성부는 상기한 하부접촉부의 내부로 절곡되어 위치하며 상기 상부접촉부는 상기 하부접촉부의 상측으로 돌출되도록 되어 있고, 상기한 상부접촉부의 하부에 연결되어 형성되는 탄성부의 종단은 상기한 하부접촉부의 측면에 연결 되도록 형성되며 상기 하부접촉부의 내측으로 절곡되어 위치하며 상기 상부접촉부는 상기 하부접촉부의 상측으로 돌출되도록 되어 있다.The probe pin proposed by the present cause as described above is Korean Patent Application No. 2008-54433 (name: probe pin and its manufacturing method), and Korean Patent Application No. 2008-54433 proposed by the present cause above. The probe pin of the arc in the conventional probe pin is elastically coupled to the upper contact portion provided on the upper portion and the lower contact portion provided on the bottom so as to contact the external connection terminal as disclosed in the filed specification; A coil-shaped elastic portion is provided between the upper contact portion and the lower contact portion, and the upper contact portion and the lower contact portion are integrally formed. The lower contact portion is formed of a cylindrical tube penetrating up and down, and the elastic portion is The upper contact portion is bent and positioned inside the lower contact portion, and the upper contact portion protrudes above the lower contact portion, and the end of the elastic portion formed to be connected to the lower portion of the upper contact portion is formed to be connected to the side of the lower contact portion. The lower contact portion is bent inward and positioned so that the upper contact portion protrudes above the lower contact portion.

또한 상기한 본 원인에 의해 선 제안된 한국특허출원번호제2008-54433호의 프로브핀은 판상의 가공판을 상부접촉부 및 하부접촉부를 구성하는 한 쌍의 판상의 접촉편과 상기 한 쌍의 접촉편의 사이를 지그재그 형태로 연결하는 탄성편으로 재단하는 재단단계와; 상기 접촉편을 원통형으로 성형하고, 상기한 탄성편 중에 상측부위와 그 하측부위를 서로 대향하는 방향으로 당기어 펴지도록 하여 원형의 코일 형태로 성형하는 성형단계를 포함하며, 상기한 성형단계에서 상기한 탄성편을 상기 일 접촉편의 내측으로 절곡시킨 후 상기 접촉편을 원통형으로 성형하도록 되어 있는 공정을 통해 제조가 되도록 되어 있다.In addition, the probe pin of the Korean Patent Application No. 2008-54433 proposed by the above-mentioned cause is between the pair of plate-shaped contact pieces and the pair of contact pieces forming the plate-shaped processed plate to form the upper contact portion and the lower contact portion. Cutting step of cutting with an elastic piece connecting in a zigzag form; Forming the contact piece in a cylindrical shape, and forming a circular coil shape by pulling the upper portion and the lower portion of the elastic piece in a direction opposite to each other in the elastic piece, the molding step in the forming step After the elastic piece is bent into the inner side of the one contact piece, the contact piece is formed through a process of forming a cylindrical shape.

그러나 상기와 같은 본 원인의 한국특허출원번호제2008-54433호의 프로브핀 및 그 제조방법은 판상의 판체를 이용하여 제조를 제단 및 절단 한후 절곡하여 성형을 하도록 되어 있어, 공정에 복잡성에 따른 생산성의 향상을 기대하기 어려운 문제점이 있었다.However, as described above, the probe pin and the manufacturing method of Korean Patent Application No. 2008-54433 of the present cause are formed by cutting and cutting the plate by using a plate-shaped plate, thereby forming a product according to the complexity of the process. There was a problem that was difficult to expect improvement.

본 발명은 상기와 같은 본 원인의 한국특허출원번호제2008-54433호의 프로브핀 및 그 제조방법의 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로서, 본 발명의 목적은 소정거리로 분리된 외부연결단자들 사이의 전기신호를 연결하기 위한 프로브핀으로 전기신호의 전달경로를 동일 임피던스를 유지하면서 전달할 수 있도록 하여 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있도록 되어 있고, 외부연결단자와의 접촉시 탄성적으로 가압력을 흡수제거하여 손상을 받지 않고, 특히 생산이 간편하여 단시간 내에 다량으로 생산할 수 있도록 하여 생산성을 향상시킬 수 있도록 된 프로브핀 및 그 제조방법을 제공하는 것에 있다.The present invention has been proposed to solve the problems of the probe pin and the manufacturing method of the Korean Patent Application No. 2008-54433 of the present cause as described above, the object of the present invention is to separate between the external connection terminals separated by a predetermined distance It is a probe pin for connecting electrical signals, so that the transmission path of the electrical signals can be transmitted while maintaining the same impedance, so that stable electrical signals can be transmitted. In particular, the present invention provides a probe pin and a method for manufacturing the same, which are particularly easy to produce so that a large amount can be produced within a short time, thereby improving productivity.

상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 프로브핀의 제조방법은 봉상의 가공물의 양단을 가압하여 상부접촉판과 하부접촉판을 압착성형하는 제1단계와; 상기 제1단계에 의해 가공물의 양단에 형성된 상부접촉판과 하부접촉판의 종단부위를 재단하여 산과 골로 이루어지는 접촉편을 형성하는 제2단계와; 상기 제2단계를 통해 접촉편이 형성된 상부접촉판과 하부접촉판을 절곡하여 양단을 연결 하여 관상의 상부접촉부와 하부접촉부를 형성하는 제3단계와; 상기 제3단계를 통해 관상으로 형성된 상부접촉부와 하부접촉부의 사이에 위치하는 가공물부위를 지그재그로 절곡시켜 탄성편을 형성하는 제4단계와; 상기 제4단계를 통해 성형된 탄성편 중에 상측부위와 그 하측부위를 서로 대향하는 방향으로 당기어 펴지도록 하여 평면상 원형상의 코일 형태로 성형하는 제5단계로 이루어지는 것을 특징으로 하고 있다.Method for producing a probe pin of the present invention for achieving the object of the present invention as described above comprises the first step of pressing the upper contact plate and the lower contact plate by pressing both ends of the rod-shaped workpiece; A second step of cutting the end portions of the upper contact plate and the lower contact plate formed at both ends of the workpiece by the first step to form a contact piece made of a hill and a valley; A third step of forming a tubular upper contact portion and a lower contact portion by bending both the upper contact plate and the lower contact plate on which the contact pieces are formed through the second step and connecting both ends; A fourth step of zigzag bending the workpiece located between the upper contact portion and the lower contact portion formed in a tubular shape through the third step to form an elastic piece; The fifth step of forming a flat coil shape by pulling the upper portion and the lower portion in the direction opposite to each other in the elastic piece formed through the fourth step to extend.

상기한 제1단계에서 상기 상부접촉판과 하부접촉판 사이의 가공물을 압착성형하여 판상의 탄성판부를 형성하고, 상기한 제2단계에서 상기 탄성판부를 파형으로 재단하여 탄성편을 형성하도록 된 것을 특징으로 하고 있다.Press-molding the workpiece between the upper contact plate and the lower contact plate in the first step to form a plate-shaped elastic plate portion, and in the second step to cut the elastic plate portion in a wave form to form an elastic piece It features.

상기 4단계를 통해 탄성편이 형성된 가공물에 있어, 상기 탄성편의 양측단부위를 원호상으로 오므리어 양측단부위가 서로 근접되도록 하여 코일스프링 형상으로 성형하는 성형단계를 통해 프로브핀을 제조하는 것을 특징으로 하고 있다.In the workpiece in which the elastic piece is formed through the four steps, the probe pin is manufactured through a forming step of forming the coil spring shape by bringing both side ends of the elastic piece into an arc shape so that both side ends thereof are close to each other. Doing.

또한 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 프로브핀은 외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부와 하부에 마련되는 하부접촉부가 탄성적으로 결합되는 통상의 프로브핀에 있어서; 상기한 상부접촉부와 하부접촉부의 사이에는 봉상의 가공물이 지그재그로 절곡형성되어 탄성력을 가지는 탄성부가 상기 상부접촉부 및 하부접촉부와 일체로 형성되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.In addition, the probe pin of the present invention for achieving the object of the present invention as described above in the conventional probe pin is elastically coupled to the upper contact portion provided on the upper portion and the lower contact portion provided on the bottom so that the external connection terminal; A bar-shaped workpiece is bent in a zigzag form between the upper contact portion and the lower contact portion, and an elastic portion having elastic force is integrally formed with the upper contact portion and the lower contact portion.

상기한 상부접촉부와 하부접촉부의 사이에는 지그재그로 절곡된 탄성편의 양단부위가 평면상 원형상으로 구브러지도록 성형되어 코일스프링 형상으로 이루어지 는 탄성부가 일체로 형성되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.Between the upper contact portion and the lower contact portion is characterized in that both ends of the elastic piece bent in a zigzag shape is formed so as to be bent in a planar circular shape, the elastic portion formed in a coil spring shape integrally formed.

상기와 같이 이루어지는 본 발명의 프로브핀 및 그 제조방법은 소정거리로 분리된 외부연결단자들 사이의 전기신호의 전달경로를 일체로 형성되어 동일 임피던스를 가지는 상부접촉부와 하부접촉부 및 탄성부를 통해 전달할 수 있어 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있도록 되어 있으며, 외부연결단자와의 접촉시 탄성적으로 가압력을 흡수제거하여 손상을 받지 않고, 특히 생산공정이 간편하여 단시간 내에 다량으로 생산할 수 있도록 하여 생산성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.The probe pin of the present invention and the method of manufacturing the same as described above are integrally formed with the transmission path of the electrical signal between the external connection terminals separated by a predetermined distance can be transmitted through the upper contact portion and the lower contact portion and the elastic portion having the same impedance. It is designed to transmit stable electric signal, and it does not damage by elastically absorbing and removing the pressing force when it is in contact with external connection terminal, and in particular, the production process is simple, so that it can be produced in large quantities in a short time to improve productivity. It works.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 의한 프로브핀 및 그 제조방법을 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a probe pin and a method of manufacturing the same according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1 내지 도 3은 본 발명에 따른 일 실시예에 의한 프로브핀 및 그 제조방법을 보인 도면으로서, 본 실시예의 프로브핀 및 그 제조방법은 봉상의 가공물(20)의 양단을 가압하여 상부접촉판(21)과 하부접촉판(22)을 압착성형하는 제1단계와; 상기 제1단계에 의해 가공물(20)의 양단에 형성된 상부접촉판(21)과 하부접촉판(22)의 종단부위를 재단하여 산과 골로 이루어지는 접촉편(23)을 형성하는 제2단계와; 상기 제2단계를 통해 접촉편(23)이 형성된 상부접촉판(21)과 하부접촉판(22)을 절곡하여 양단을 연결하여 관상의 상부접촉부(2)와 하부접촉부(3)를 형성하는 제3단계와; 상기 제3단계를 통해 관상으로 형성된 상부접촉부(2)와 하부접촉부(3)의 사이에 위치하는 가공물(20)부위를 지그재그로 절곡시켜 탄성편(24)을 형성하는 제4단계와; 상기 제4단계를 통해 성형된 탄성편(24) 중에 상측부위와 그 하측부위를 서로 대향하는 방향으로 당기어 펴지도록 하여 평면상 원형상의 코일 형태로 성형하는 제5단계로 이루어져 있다.1 to 3 is a view showing a probe pin and a manufacturing method according to an embodiment according to the present invention, the probe pin and the manufacturing method of the present embodiment by pressing both ends of the rod-shaped workpiece 20, the upper contact plate A first step of crimping the 21 and the lower contact plate 22; A second step of cutting the end portions of the upper contact plate 21 and the lower contact plate 22 formed at both ends of the workpiece 20 by the first step to form a contact piece 23 formed of a hill and a valley; Through the second step, the upper contact plate 21 and the lower contact plate 22 formed with the contact piece 23 is bent to connect both ends to form a tubular upper contact portion 2 and the lower contact portion (3) Step 3; A fourth step of zigzag bending the work piece 20 positioned between the upper contact part 2 and the lower contact part 3 formed in the tubular shape through the third step to form an elastic piece 24; In the fourth step, the elastic part 24 formed through the fourth step is pulled and stretched in an opposite direction to the upper part and the lower part thereof, thereby forming a fifth step of forming a planar circular coil.

또한 상기와 같은 본 실시예의 프로브핀의 제조방법을 통해 제조되는 프로브핀(1)은 외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부(2)와 하부에 마련되는 하부접촉부(3)가 탄성적으로 결합되는 통상의 프로브핀에 있어서; 상기한 상부접촉부(2)와 하부접촉부(3)의 사이에는 봉상의 가공물(20)이 지그재그로 절곡형성되어 탄성력을 가지는 탄성부(4)가 상기 상부접촉부(2) 및 하부접촉부(3)와 일체로 형성되도록 제조된다.In addition, the probe pin (1) manufactured by the method of manufacturing a probe pin of the present embodiment as described above is the upper contact portion (2) provided on the upper side and the lower contact portion (3) provided on the lower side so that the external connection terminal contacts. In the conventional probe pin coupled to; Between the upper contact portion 2 and the lower contact portion 3, the rod-shaped workpiece 20 is bent in a zigzag shape and an elastic portion 4 having elastic force is provided with the upper contact portion 2 and the lower contact portion 3. It is manufactured to be integrally formed.

도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 다른 실시예에 의한 프로브핀 및 그 제조방법을 보인 도면으로서, 본 실시예의 프로브핀의 제조방법은 상기한 제4단계를 통해 탄성편(24)이 형성된 가공물(20)에 있어, 상기 탄성편(24)의 양측단부위를 원호상으로 오므리어 양측단부위가 서로 근접되도록 하여 코일스프링 형상으로 성형하는 성형단계를 더욱 가지고 있다.5 and 6 is a view showing a probe pin and a manufacturing method according to another embodiment according to the present invention, the manufacturing method of the probe pin of the present embodiment is a workpiece formed with the elastic piece 24 through the fourth step described above In (20), it has a molding step of forming the coil spring shape by bringing both side end portions of the elastic piece 24 into circular arcs so that both side end portions are close to each other.

또한 상기와 같은 본 실시예의 프로브핀의 제조방법을 통해 제조되는 프로브핀(1)은 상기한 상부접촉부(2)와 하부접촉부(3)의 사이에는 지그재그로 절곡된 탄성편(24)의 양단부위가 평면상 원형상으로 구브러지도록 성형되어 코일스프링 형상으로 이루어지는 탄성부(4)가 일체로 형성되도록 제조된다.In addition, the probe pin 1 manufactured by the method of manufacturing the probe pin of the present embodiment as described above, both end portions of the elastic piece 24 bent in a zigzag between the upper contact portion 2 and the lower contact portion (3). Is formed so as to be bent in a planar circular shape, and is manufactured so that the elastic portion 4 formed in a coil spring shape is integrally formed.

상기와 같이 이루어지는 본 실시예의 프로브핀(1)은 도 3 및 도 7에서 도시된 바와 같이 다수의 핀공(31)이 형성된 상부핀홀더(32) 및 하부핀홀더(33)를 가지 는 통상의 테스트소켓(30)에 설치되어 사용된다.Probe pin 1 of this embodiment made as described above is a conventional test having an upper pin holder 32 and a lower pin holder 33 is formed with a plurality of pin holes 31, as shown in Figs. It is installed and used in the socket 30.

즉 상기한 하부접촉부(3)가 하부핀홀더(33)에 접촉 지지되며, 상기 상부접촉부(2)는 상부핀홀더(32)에 지지되도록 각각의 핀공(31)에 각각 설치된다.That is, the lower contact portion 3 is supported by the lower pin holder 33, the upper contact portion 2 is installed in each pin hole 31 so as to be supported by the upper pin holder (32).

상기와 같이 프로브핀(1)이 설치된 테스트소켓(30)은 하부핀홀더(33)의 저면이 테스트보드(34)의 상면에 접촉하도록 장착된다.The test socket 30 in which the probe pin 1 is installed as described above is mounted such that the bottom surface of the lower pin holder 33 contacts the upper surface of the test board 34.

상기와 같이 테스트소켓(30)이 테스트보드(34)에 설치될 때, 프로브핀(1)은 상기 테스트보드(34)의 상면과 하부접촉부(3)와의 밀착에 따라 상기 하부핀홀더(33)를 가이드하여 상승하고 이로 인해 상부접촉부(2)가 외부로 돌출된다.When the test socket 30 is installed on the test board 34 as described above, the probe pin 1 is attached to the lower pin holder 33 in close contact with the upper surface of the test board 34 and the lower contact portion 3. It rises by guiding and this causes the upper contact part 2 to protrude outside.

상기와 같이 테스트보드(34)에 테스트소켓(30)이 설치되면 상기 테스트소켓(30)의 상부로 반도체칩치패키지(35)가 탑재되며, 이때 반도체칩패키지(35)의 외부연결단자(36)의 저면은 상기 상부접촉부(2)를 가압하면서 접촉하게 되고, 이에 따라 상부접촉부(2)는 탄성부(4)의 탄성에 따라 하강을 하게 되고, 탄성부(4)는 하방으로 가압되어 오므라지면서 탄성력이 증대되면서 가압력을 제거하면서 외부연결단자(36)와 접촉되도록 되어 있다.When the test socket 30 is installed on the test board 34 as described above, the semiconductor chip patch package 35 is mounted on the test socket 30, and the external connection terminal 36 of the semiconductor chip package 35 is mounted. The bottom surface of the contact is pressed while pressing the upper contact portion 2, accordingly the upper contact portion 2 is lowered according to the elasticity of the elastic portion 4, the elastic portion 4 is pressed downwards As the elastic force is increased, it is in contact with the external connection terminal 36 while removing the pressing force.

즉 상부접촉부(2)가 외부연결단자(36)와 접촉되어 하방으로 가압될 때 상기 가압력은 코일형상으로 이루어져 탄성력이 종래보다 증대된 탄성부(4)에 의해 흡수 제거되도록 되어 있다.That is, when the upper contact portion 2 is in contact with the external connection terminal 36 and pressed downward, the pressing force is in the shape of a coil so that the elastic force is absorbed and removed by the elastic portion 4 having an increased elastic force than before.

상기와 같이 반도체칩패키지(35)의 외부연결단자(36)와 테스트보드(34)의 외부연결단자가 프로브핀(1)에 의해 연결되면 테스트보드(34)로부터의 테스트신호 및 반도체칩패키지(35)로부터의 응답신호는 상부접촉부(2)와 탄성부(4) 및 하부접촉 부(3)를 통해 이루어지는 도전경로를 따라 전달되도록 되어 있다.As described above, when the external connection terminal 36 of the semiconductor chip package 35 and the external connection terminal of the test board 34 are connected by the probe pin 1, the test signal from the test board 34 and the semiconductor chip package ( The response signal from 35 is transmitted along the conductive path made through the upper contact portion 2, the elastic portion 4, and the lower contact portion 3.

상기와 같은 본 발명의 프로브핀은 반도체 패키지 테스트 소켓용 프로브핀, 마이크로 프로세스 테스트 소켓용 프로브핀, 전자기기 테스트 소켓용 프로브핀으로 사용이 되도록 되어 있다.The probe pin of the present invention as described above is to be used as a probe pin for a semiconductor package test socket, a probe pin for a micro process test socket, a probe pin for an electronic device test socket.

도 4는 본 발명에 따른 또 다른 실시예의 프로브핀의 제조방법을 보인 도면로서, 본 실시예의 프로브핀의 제조방법은 상기한 제1단계에서 상기 상부접촉판(21)과 하부접촉판(22) 사이의 가공물(20)을 압착성형하여 판상의 탄성판부(25)를 형성하고, 상기한 제2단계에서 상기 탄성판부(25)를 파형으로 재단하여 탄성편(24)을 형성되도록 되어 있다.4 is a view showing a method of manufacturing a probe pin according to another embodiment of the present invention, the method of manufacturing a probe pin of the present embodiment is the upper contact plate 21 and the lower contact plate 22 in the first step described above. Press-molding the workpiece 20 therebetween to form a plate-shaped elastic plate portion 25, and in the second step to cut the elastic plate portion 25 in a wave form to form an elastic piece 24.

즉 상기한 탄성부(4)와 상부접촉부(2) 및 하부접촉부(3)를 동시에 압착성형할 수 있어 더욱 빠르게 제조를 할 수 있어 생산성을 향상시킬 수 있도록 되어 있다.That is, the elastic part 4, the upper contact part 2 and the lower contact part 3 can be pressed at the same time, so that the manufacturing can be performed faster and the productivity can be improved.

도 1은 본 발명에 따른 일 실시예에 의한 프로브핀의 제조방법을 보인 개략 예시도,1 is a schematic illustration showing a method of manufacturing a probe pin according to an embodiment of the present invention,

도 2는 동 제조방법을 통해 제조되는 프로브핀을 보인 사시예시도,Figure 2 is a perspective view showing a probe pin manufactured by the same manufacturing method,

도 3은 동 사용상태 개략 예시도,Figure 3 is a schematic illustration of the use state,

도 4는 본 발명에 따른 다른 실시예에 의한 프로브핀의 제조방법을 보인 개략 예시도,Figure 4 is a schematic illustration showing a method of manufacturing a probe pin according to another embodiment according to the present invention,

도 5는 본 발명에 따른 다른 실시예에 의한 프로브핀의 제조방법을 보인 개략 예시도,5 is a schematic illustration showing a method for manufacturing a probe pin according to another embodiment according to the present invention;

도 6는 동 일부 확대 예시도Figure 6 is an enlarged view of the same part

도 7은 동 사용상태 개략 예시도,7 is a schematic illustration of the use state;

도 8은 종래의 프로브핀을 보인 개략 단면 예시도,8 is a schematic cross-sectional view showing a conventional probe pin,

[도면 중 중요한 부분에 대한 부호의 설명][Description of Signs for Important Parts of Drawing]

1 : 프로브핀, 2 : 상부접촉부,1: probe pin, 2: upper contact,

3 : 하부접촉부, 4 : 탄성부,3: lower contact portion, 4: elastic portion,

20 : 가공물, 21 : 상부접촉판,20: workpiece, 21: upper contact plate,

22 : 하부접촉판, 23 : 접촉편,22: lower contact plate, 23: contact piece,

24 : 탄성편, 25 : 탄성판부,24: elastic piece, 25: elastic plate portion,

30 : 테스트소켓, 31 : 핀공,30: test socket, 31: pin ball,

32 : 상부핀홀더, 33 : 하부핀홀더,32: upper pin holder, 33: lower pin holder,

34 : 테스트보드, 35 : 반도체칩패키지,34: test board, 35: semiconductor chip package,

36 : 외부연결단자.36: External connection terminal.

Claims (5)

봉상의 가공물의 양단을 가압하여 상부접촉판과 하부접촉판을 압착성형하는 제1단계와;A first step of pressing and molding the upper contact plate and the lower contact plate by pressing both ends of the rod-shaped workpiece; 상기 제1단계에 의해 가공물의 양단에 형성된 상부접촉판과 하부접촉판의 종단부위를 재단하여 산과 골로 이루어지는 접촉편을 형성하는 제2단계와;A second step of cutting the end portions of the upper contact plate and the lower contact plate formed at both ends of the workpiece by the first step to form a contact piece made of a hill and a valley; 상기 제2단계를 통해 접촉편이 형성된 상부접촉판과 하부접촉판을 절곡하여 양단을 연결하여 관상의 상부접촉부와 하부접촉부를 형성하는 제3단계와;A third step of bending the upper contact plate and the lower contact plate on which the contact pieces are formed through the second step to connect both ends to form a tubular upper contact part and a lower contact part; 상기 제3단계를 통해 관상으로 형성된 상부접촉부와 하부접촉부의 사이에 위치하는 가공물부위를 지그재그로 절곡시켜 탄성편을 형성하는 제4단계와;A fourth step of zigzag bending the workpiece located between the upper contact portion and the lower contact portion formed in a tubular shape through the third step to form an elastic piece; 상기 제4단계를 통해 성형된 탄성편 중에 상측부위와 그 하측부위를 서로 대향하는 방향으로 당기어 펴지도록 하여 평면상 원형상의 코일 형태로 성형하는 제5단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브핀의 제조방법Producing a probe pin, characterized in that the fourth step of forming a coil in the shape of a planar circular to the upper portion and the lower portion of the elastic piece formed through the fourth step to be stretched in a direction opposite to each other Way 제 1항에 있어서;The method of claim 1; 상기한 제1단계에서 상기 상부접촉판과 하부접촉판 사이의 가공물을 압착성형하여 판상의 탄성판부를 형성하고, 상기한 제2단계에서 상기 탄성판부를 파형으로 재단하여 탄성편을 형성하도록 된 것을 특징으로 하는 프로브핀의 제조방법Press-molding the workpiece between the upper contact plate and the lower contact plate in the first step to form a plate-shaped elastic plate portion, and in the second step to cut the elastic plate portion in a wave form to form an elastic piece Method for manufacturing a probe pin 제 1항에 있어서;The method of claim 1; 상기 4단계를 통해 탄성편이 형성된 가공물에 있어, 상기 탄성편의 양측단부위를 원호상으로 오므리어 양측단부위가 서로 근접되도록 하여 코일스프링 형상으로 성형하는 성형단계를 통해 프로브핀을 제조하는 것을 특징으로 하는 프로브핀의 제조방법In the workpiece in which the elastic piece is formed through the four steps, the probe pin is manufactured through a forming step of forming the coil spring shape by bringing both side ends of the elastic piece into an arc shape so that both side ends thereof are close to each other. Method of manufacturing a probe pin 외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부와 하부에 마련되는 하부접촉부가 탄성적으로 결합되는 통상의 프로브핀에 있어서;In the conventional probe pin is elastically coupled to the upper contact portion provided on the upper portion and the lower contact portion provided on the bottom so that the external connection terminal; 상기한 상부접촉부와 하부접촉부의 사이에는 봉상의 가공물이 지그재그로 절곡형성되어 탄성력을 가지는 탄성부가 상기 상부접촉부 및 하부접촉부와 일체로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀The probe pin is formed between the upper contact portion and the lower contact portion, the rod-shaped workpiece is bent in a zigzag form and the elastic portion having elastic force is integrally formed with the upper contact portion and the lower contact portion. 제 4항에 있어서;The method of claim 4; 상기한 상부접촉부와 하부접촉부의 사이에는 지그재그로 절곡된 탄성편의 양단부위가 평면상 원형상으로 구브러지도록 성형되어 코일스프링 형상으로 이루어지는 탄성부가 일체로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀Probe pin, characterized in that between the upper contact portion and the lower contact portion is formed so that both ends of the elastic piece bent in a zigzag bent in a planar circular shape, the elastic portion made of a coil spring shape integrally formed
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