KR20090121025A - In-line die cleaning apparatus and method using plasma - Google Patents
In-line die cleaning apparatus and method using plasma Download PDFInfo
- Publication number
- KR20090121025A KR20090121025A KR1020080047110A KR20080047110A KR20090121025A KR 20090121025 A KR20090121025 A KR 20090121025A KR 1020080047110 A KR1020080047110 A KR 1020080047110A KR 20080047110 A KR20080047110 A KR 20080047110A KR 20090121025 A KR20090121025 A KR 20090121025A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- mold
- cleaning
- cleaning module
- axis
- wall
- Prior art date
Links
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 160
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims abstract description 42
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 30
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000011109 contamination Methods 0.000 abstract description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 7
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 229920006336 epoxy molding compound Polymers 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011086 high cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32366—Localised processing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32532—Electrodes
- H01J37/32605—Removable or replaceable electrodes or electrode systems
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/565—Moulds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C33/00—Moulds or cores; Details thereof or accessories therefor
- B29C33/70—Maintenance
- B29C33/72—Cleaning
- B29C2033/725—Cleaning cleaning by plasma treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/32—Processing objects by plasma generation
- H01J2237/33—Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
- H01J2237/335—Cleaning
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Cleaning In General (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 반도체 몰딩 장비의 금형 세정 분야에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 반도체를 수지로 몰딩하는 공정에 이용되는 금형들을 몰딩 장비로부터 분리하지 않고서 상기 금형들을 세정하기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the field of mold cleaning of semiconductor molding equipment, and more particularly, to an apparatus and method for cleaning the molds without separating the molds used in the process of molding a semiconductor into a resin from the molding equipment.
전자부품, 특히, 반도체 제조공정에서는, 금형을 이용하여, 리드프레임 또는 기판 상에 위치한 복수의 반도체칩을, 예를 들면, EMC(Epoxy Molding Compound)와 같은 수지로 봉지하는 몰딩 공정이 수행된다. 이러한 몰딩 공정은, 반도체칩의 주변을 한정하는 복수의 캐비티를 갖춘 상하 금형을 이용하여 이루어진다. 몰딩 공정 후, 금형의 캐비티 내에는 수지의 찌꺼기가 부착된 상태로 남으며, 이는 후속하는 몰딩 공정을 저해하는 원인이 된다.In an electronic component, in particular, a semiconductor manufacturing process, a molding process of encapsulating a plurality of semiconductor chips located on a lead frame or a substrate with a resin such as EMC (Epoxy Molding Compound) is performed using a mold. This molding process is performed using a vertical mold having a plurality of cavities that define the periphery of the semiconductor chip. After the molding process, residues of resin remain in the cavity of the mold, which causes a subsequent molding process to be inhibited.
이에 따라, 금형의 캐비티 내부를 주기적으로 세정하는 작업이 요구된다. 금형의 세정 방법으로는, 금형을 몰딩 장비로부터 분리한 후, 화학약품을 이용하여, 수지 찌꺼기를 제거하는 수작업에 의한 습식 세정이 잘 알려져 있다. 그러나, 위와 같은 습식 세정 방법은, 세정 효율이 높지 않으면서도, 많은 수고와 시간의 낭비를 초래한다. 또한, 화학약품을 이용하므로 친환경적이지 못하다는 문제점 또한 있다.Accordingly, a work for periodically cleaning the inside of the cavity of the mold is required. As a method for cleaning a mold, wet cleaning by manual operation of removing resin residues using a chemical after separating the mold from the molding equipment is well known. However, such a wet cleaning method causes a lot of trouble and waste of time without high cleaning efficiency. In addition, there is also a problem that it is not environmentally friendly because it uses chemicals.
다른 금형 세정 방법으로는, 반도체 몰딩 장비로부터 금형을 분리하고, 그 분리된 금형을 별도로 설치된 플라즈마 세정설비 내에서 세정하는 기술이 있다. 그러나 이러한 기술은 금형의 분리 및 재장착에 드는 수고 및 시간의 낭비가 여전히 많으며, 이에 따라 경제성도 떨어진다. Another mold cleaning method is a technique of separating a mold from a semiconductor molding equipment and cleaning the separated mold in a plasma cleaning facility provided separately. However, this technique still requires a lot of labor and time for the removal and remounting of the mold, and thus economics.
이에 대하여, 금형을 반도체 몰딩 장비로부터 분리함 없이, 플라즈마 방전을 이용하여 금형을 세정하는 기술이 본 발명자들에 의해 개발되었는바, 이러한 기술은, 국제공개 제 WO2007029949호에 개시되어 있다. 개시된 기술은 박스형의 프레임(즉, 세정케이스)을 반도체 몰딩 장비에 장착되어 있는 금형에 맞대어, 그 사이에 플라즈마 챔버를 구획형성한 후, 플라즈마 챔버 내의 플라즈마 방전에 의해 금형 표면을 세정하는 기술이며, 금형을 반도체 몰딩 장비로부터 분리함 없이 세정할 수 있다는 점에서 경제성이 우수하다. 그러함에도 불구하고, 위 종래의 기술은 자동화된 인라인 방식으로 원하는 시점 또는 원하는 주기에 금형 표면을 세정하는 데에 있어서는 기술적 한계가 있었다.In contrast, a technique for cleaning a mold using plasma discharge has been developed by the present inventors without separating the mold from the semiconductor molding equipment, and this technique is disclosed in WO2007029949. The disclosed technique is a technique for cleaning a mold surface by plasma discharge in a plasma chamber after partitioning a plasma chamber between a box-shaped frame (i.e., a cleaning case) mounted on a semiconductor molding equipment. It is economical in that the mold can be cleaned without separating from the semiconductor molding equipment. Nevertheless, the above prior art has technical limitations in cleaning the mold surface at a desired time point or a desired period in an automated inline manner.
특히, 종래의 기술은 플라즈마 챔버가 단 하나의 금형 표면에 접하여 형성되므로, 상하 한 세트로 이루어진 두개의 금형을 한번의 공정으로 세정할 수 없는 문제점이 있다.In particular, the prior art has a problem that the plasma chamber is formed in contact with the surface of only one mold, it is not possible to clean the two molds consisting of one set up and down in one process.
따라서, 본 발명의 기술적 과제는, 종래기술을 기반으로 하여, 반도체 몰딩 장비 상에서 원하는 시점 또는 원하는 주기에 수지에 의해 오염된 금형 표면을 인라인 방식으로 플라즈마를 이용하여 자동 세정할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것이다. Accordingly, a technical object of the present invention is to provide an apparatus and method for automatically cleaning a mold surface contaminated by resin on a semiconductor molding equipment at a desired time point or at a desired period using plasma in an inline manner. To provide.
본 발명의 일 측면에 따라, 반도체 몰딩 장비에 설치된 상부 금형과 하부 금형 중 적어도 하나의 금형을 인라인 방식으로 플라즈마 세정하는 인라인 금형 세정 장치가 개시된다. 개시된 인라인 금형 세정장치는, 상부 금형과 하부 금형 중 적어도 하나의 금형과 합치될 때 챔버를 형성하고, 상기 챔버 내에 플라즈마를 발생시키도록 구성된 세정모듈과, 상기 세정모듈을 출발위치로부터 상기 상부 금형과 상기 하부 금형 사이의 세정 대기 위치로 이송시키는 이송유닛을 포함하되, 상기 세정모듈은, 상기 세정 대기 위치에서, 상기 하부 금형에 의해 들어올려져 상기 상부 금형과 합치된다.According to an aspect of the present invention, an inline mold cleaning apparatus for performing plasma cleaning of at least one of an upper mold and a lower mold installed in a semiconductor molding equipment in an inline manner. The disclosed in-line mold cleaning apparatus includes a cleaning module configured to form a chamber when it is matched with at least one of the upper mold and the lower mold, and to generate a plasma in the chamber; And a transfer unit for transferring to the cleaning standby position between the lower molds, wherein the cleaning module is lifted by the lower mold and coincides with the upper mold at the cleaning standby position.
상기 세정모듈은, 중공을 구비하며 양 단부가 상기 상부 금형 및 하부 금형에 접할 때 챔버가 형성되는 벽체와, 상기 벽체 내에 배치된 전극체를 포함하는 양방향 세정모듈일 수 있다. 또한, 상기 세정모듈은, 상기 벽체의 하단이 상기 상승되는 하부 금형과 먼저 합치되고, 상기 벽체의 상단은 상기 하부 금형에 의해 들어 올려져 상기 상부 금형과 나중에 합치되는 것일 수 있다. 대안적으로, 상기 세정모듈은, 상단이 개방되고 하단이 개방된 벽체와, 상기 벽체 내에 배치되는 전극체를 포함하는 일방향 세정모듈이며, 상기 세정모듈은 상기 하부 금형에 의해 상승되어 상기 벽체의 개방된 상단이 상기 상부 금형과 합치되는 것일 수 있다.The cleaning module may be a bidirectional cleaning module having a hollow and including a wall in which a chamber is formed when both ends contact the upper mold and the lower mold, and an electrode body disposed in the wall. In addition, the cleaning module, the lower end of the wall may be first mated with the rising lower mold, the upper end of the wall may be lifted by the lower mold to be later mated with the upper mold. Alternatively, the cleaning module is a one-way cleaning module including a wall having an open top and an open bottom, and an electrode body disposed in the wall, wherein the cleaning module is lifted by the lower mold to open the wall. The upper end may be in agreement with the upper mold.
한편, 상기 이송유닛은, 상기 상부 금형과 상기 하부 금형을 포함하는 하나의 금형 세트에 대해 상기 세정모듈을 상하로 멀리 또는 가깝게 이송시키기 위한 z축 이송부와, 상기 금형 세트에 대해 상기 세정모듈을 전후로 멀리 또는 가깝게 이송시키기 위한 y축 이송부를 포함할 수 있다. 상기 z축 이송부는, 상기 y축 이송부가 탑재된 z축 이송블록과, 상기 z축 이송블록을 승강시키도록 설치된 z축 구동기구를 포함하며, 상기 y축 이송부는, 상기 z축 이송블록에 고정 설치된 레일부재와, 상기 세정모듈을 탑재한 채 상기 레일 부재를 따라 전후 이동가능하게 설치된 활차 구조를 포함할 수 있다. 상기 활차 구조는 모터 동력에 의해 회전하는 피니언이 마련되고, 상기 레일부재에는 상기 피니언과 기어 맞물림 되는 래크 치형이 형성되며, 상기 피니언이 상기 래크 치형과 기어 맞물림된 채 회전하는 것에 의해, 상기 활차 구조가 전후로 이동되는 것일 수 있다. 상기 반도체 몰딩 장비는, 좌우로 배열된 복수의 금형 세트들을 포함하는 것이며, 상기 이송유닛은, 상기 복수의 금형 세트들 중 하나의 금형 세트의 세정을 위해, 상기 모듈을 좌우 방향으로 이송시키기 위한 x축 이송부를 더 포함할 수 있다.On the other hand, the transfer unit, the z-axis transfer unit for transferring the cleaning module up and down or close to the one mold set including the upper mold and the lower mold, and the cleaning module back and forth with respect to the mold set It may include a y-axis transfer for transferring far or close. The z-axis feeder includes a z-axis feed block on which the y-axis feeder is mounted, and a z-axis drive mechanism installed to lift the z-axis feed block, and the y-axis feeder is fixed to the z-axis feed block. It may include a rail member and a pulley structure that is installed to be moved back and forth along the rail member while the cleaning module is mounted. The pulley structure is provided with a pinion that rotates by motor power, and the rail member is formed with a rack tooth shape in gear engagement with the pinion, and the pulley structure is rotated while the pinion rotates in gear engagement with the rack tooth shape. May be moved back and forth. The semiconductor molding equipment may include a plurality of mold sets arranged left and right, and the transfer unit may include x for transferring the module to the left and right directions for cleaning of one of the plurality of mold sets. It may further include an axis feeder.
본 발명의 다른 측면에 따라, 양단부가 개방된 벽체 및 상기 벽체 내에 배치된 전극체를 포함하는 세정모듈을 이용하여 상부 금형과 하부 금형을 세정하는 방법이 제공되며, 상기 방법은, 상기 상부 금형과 상기 하부 금형 사이에 상기 세정모듈을 위치시키는 단계와; 상기 하부 금형을 상승시켜, 상기 벽체의 하단을 상기 하부 금형에 합치시키는 단계와; 상기 하부 금형을 더 상승시켜, 상기 벽체의 상단을 상기 상부 금형에 합치시키는 단계와; 상기 전극체에 전력을 인가하여, 상기 상부 금형, 상기 하부 금형, 그리고, 상기 벽체에 의해 한정된 챔버 내로 플라즈마를 발생시키는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method for cleaning an upper mold and a lower mold by using a cleaning module including a wall having both ends open and an electrode body disposed in the wall, wherein the method includes: Positioning the cleaning module between the lower molds; Raising the lower mold to conform a lower end of the wall to the lower mold; Raising the lower mold further to conform the top of the wall to the upper mold; Applying electric power to the electrode body to generate plasma into the chamber defined by the upper mold, the lower mold, and the wall.
대안적으로, 상단이 개방되고 하단이 막힌 벽체 및 상기 벽체 내에 배치된 전극체를 포함하는 세정모듈을 이용하여 상부 금형을 세정하는 방법이 제공되며, 상기 방법은, 상기 상부 금형과 상기 하부 금형 사이에 상기 세정모듈을 위치시키는 단계와; 상기 하부 금형을 상승시켜 상기 세정모듈을 들어올림으로써, 상기 벽 체의 상단을 상기 상부 금형과 합치시키는 단계와; 상기 전극체에 전력을 인가하여, 상기 상부 금형과 상기 벽체에 의해 한정된 챔버에 플라즈마를 발생시키는 단계를 포함한다.Alternatively, there is provided a method of cleaning an upper mold using a cleaning module comprising an open top and closed bottom wall and an electrode body disposed within the wall, the method comprising: between the upper mold and the lower mold; Positioning the cleaning module in the; Raising the lower mold to lift the cleaning module to mate the top of the wall with the upper mold; Applying electric power to the electrode body to generate a plasma in the chamber defined by the upper mold and the wall.
본 발명에 따르면, 금형들을 반도체 몰딩 장비로부터 분리하거나 재장착하는데 드는 많은 번거로움과 이에 따른 경제적 낭비를 덜어주며, 금형들을 원하는 시점 또는 원하는 주기에 인라인 방식으로 자동 세정함으로써, 종래의 기술에 비해, 보다 향상된 작업효율을 제공할 수 있다. 특히, 상하 두개의 금형에 대하여, 한번의 플라즈마 세정공정이 이루어지므로, 공정시간을 단축시켜 주며, 통상 상부 금형의 세정에만 그치던 세정 공정을 상하 금형들 모두에 대하여 행하므로, 상부 또는 하부 금형 중 어느 하나의 오염으로 야기되는 반도체 몰딩 제품의 불량률을 획기적으로 줄여줄 수 있다. According to the present invention, compared to the prior art, by automatically cleaning the molds in-line at a desired time or a desired period, eliminating a lot of trouble and the economical waste of removing and remounting the molds from the semiconductor molding equipment, It can provide more work efficiency. In particular, since the plasma cleaning process is performed once on the upper and lower molds, the process time is shortened, and the cleaning process, which is usually only the upper mold cleaning, is performed on both the upper and lower molds. It can dramatically reduce the defect rate of semiconductor molding products caused by one contamination.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 한다. 다음에 소개되는 실시예들은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 설명되는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 그리고, 도면들에 있어서, 구성요소의 폭, 길이, 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The following embodiments are provided as examples to ensure that the spirit of the present invention can be fully conveyed to those skilled in the art. Accordingly, the present invention is not limited to the embodiments described below and may be embodied in other forms. And, in the drawings, the width, length, thickness, etc. of the components may be exaggerated for convenience. Like numbers refer to like elements throughout.
도 1에는 양방향 세정모듈을 포함하는 인라인 금형 세정장치가 구비된 반도체 몰딩 장비가 도시되어 있다.1 shows a semiconductor molding apparatus with an in-line mold cleaning apparatus including a bidirectional cleaning module.
도 1을 참조하면, 반도체 몰딩 장비(1000)는, 반도체를 EMC 등의 수지 조성물로 몰딩하기 위한, 복수의 몰딩장치(1002)를 포함한다. 복수의 몰딩장치(1002) 각각은 서로 마주하는 상하 금형들로 이루어진 복수의 금형의 세트(1010)들을 포함한다.Referring to FIG. 1, the
복수의 금형 세트(1010)들은 반도체 몰딩 장비(1000) 상에서 좌우 방향, 즉, x축 방향으로 길게 배열된다. 보다 구체적으로, 상기 금형 세트(1010)의 상부 금형(1010a)들은 반도체 몰딩 장비(1000)의 상부 베드 (1001a) 하부에 설치된 채 좌우로 배열되고, 상기 금형 세트(1010)의 하부 금형(1010b)들은 하부 베드(101b)의 상부에 설치된 채 좌우로 배열된다. 이때, 상부 금형(1010a) 각각은 그에 대응되는 하부 금형(1010b) 각각에 마주하게 위치하며, 마주하는 하나의 상부 금형(1010a)과 하나의 하부 금형(1010b)이 하나의 금형 세트를 구성한다. 본 실시예에서, 상부 금형(1010a)이 고정된 상태로, 하부 금형(1010b)이 예를 들면 유압, 공압 또는 다른 기구에 의해 상승하여 상기 상부 금형(1010a)에 합치된다. 합치된 상부 금형(1010a)과 하부 금형(1010b) 사이의 공간에는 반도체가 위치하고 또한 액상의 수지가 충전되어, 상기 반도체의 몰딩 성형을 가능하게 한다.The plurality of
서로 이격된 상태의 상기 상부 금형(1010a)과 하부 금형(1010b) 사이에 몰딩될 반도체가 실장된 기판 등의 스트립을 공급하는 피더(미도시함)를 안내하기 위한 공지의 피더 가이드(1003)가 마련된다. 몰딩 공정이 이루어지지 않는 시점에서, 상 기 피더 가이드(1003)로부터 피더는 후퇴하여 외측으로 빠진다.A known feeder guide 1003 for guiding a feeder (not shown) for supplying a strip such as a substrate on which a semiconductor to be molded is to be molded between the
본 발명에 따라, 금형(1010a, 1010b)의 세정이 요구되는 시점에는, 이하 자세히 설명될 양방향 세정모듈(190)이 서로 마주하는 상부 금형(1010a)과 하부 금형(1010a)사이의 세정 대기 위치로 이동된다. 다음, 상기 세정모듈(190)이 상기 상부 금형(1010a) 및/또는 하부 금형(1010b)에 합치된 세정위치에서 상기 금형에 대한 세정이 이루어진다. 이하에서, 용어"세정 대기 위치"는 세정모듈(190)이 상부 금형(1010a)과 하부 금형(1010b) 사이에서 상하로 이동 가능한 위치를 의미하며, 용어 "세정 위치"는 세정모듈(190)의 벽체 양단이 금형들과 합치 또는 접촉되어 플라즈마가 발생되는 챔버를 형성하는 위치를 의미한다.According to the present invention, when the cleaning of the mold (1010a, 1010b) is required, the
본 실시예에서, 인라인 금형 세정장치는, 반도체 몰딩 장비(1000)의 하부 베드(101b) 상에 설치된 것으로, 세정모듈(190)과 상기 세정모듈(190)을 세정 대기 위치로 이송하기 위한 이송유닛(110)을 포함한다. 그리고, 상기 이송유닛(110)은 x축 이송부(120), z축 이송부(140), 그리고, y축 이송부(160)를 포함한다.In the present embodiment, the in-line mold cleaning apparatus, which is installed on the
상기 x축 이송부(120)는, 주 용도가 좌우로 배열된 복수의 금형 세트(1010) 중 어느 하나의 금형 세트(1010)를 선택하여 세정모듈(190)을 좌우 방향, 즉, x축 방향으로 이동시키기 위한 것이다. 따라서, 예를 들면, 하나의 금형 세트만을 세정해도 되는 몰딩 장비라면, 또는, 복수의 금형 세트 각각에 대하여 복수의 세정모듈을 이용하는 경우라면, 상기 x축 이송부(120)는 생략될 수도 있을 것이다. 그렇다고 하여, x축 이송부(120)의 용도가 반드시 복수의 금형 중 하나의 금형을 선택하여 세정하는 것으로 제한되어서는 아니 되며, 세정모듈(190)의 정밀한 3축 이송을 위한 용도로 이용될 수 있는 것이다.The
도 2는 반도체 몰딩장비의 일부로 설치되는 인라인 금형 세정장치의 측면도이고, 도 3은 도 2에 도시된 인라인 금형 세정장치의 정면도이다. 도 2와 도 3을 도시함에 있어서, 서로 중복되어 있으면서 도면의 간결함을 크게 해치는 요소들에 대해서는 도 2와 도 3으로부터 파악될 수 있는 범위 내에서 그 도시를 의도적으로 생략하였음에 유의한다.2 is a side view of the in-line mold cleaning apparatus installed as part of the semiconductor molding equipment, Figure 3 is a front view of the in-line mold cleaning apparatus shown in FIG. 2 and 3, it is noted that elements that overlap each other and greatly detract from the simplicity of the drawing are intentionally omitted in the range that can be understood from FIGS. 2 and 3.
도 1 내지 도 3, 특히, 도 2와 도 3을 참조하면, 인라인 금형 세정장치(100)는, 상하 양방향으로 개방된 중공형의 벽체와, 상기 벽체의 중공에 플라즈마 방전을 위한 전극체를 구비한 양방향 세정모듈(190)을 포함한다. 상기 양방향 세정모듈(190)의 구조에 대해서는 다음에 보다 구체적으로 설명하기로 한다.1 to 3, in particular, FIGS. 2 and 3, the in-line
상기 인라인 금형 세정장치(100)가 상기 세정모듈(190)을 3축 방향으로 이송시키는 이송유닛(110)을 포함한다는 것은 위에서 언급된 바 있다. 상기 이송유닛(110)은, 상기 반도체 몰딩 장비(1000; 도 1에 도시함) 상의 임의의 출발 위치로부터, 세정모듈(190)이 상기 반도체 몰딩 장비(1000)의 상하 금형들(1010a, 1010b; 도 1에 도시함)들 사이에 놓이는 세정 대기 위치로 상기 세정모듈(190)을 이송시키도록 구성된다. It has been mentioned above that the in-line
상기 이송유닛(110)은, 하나의 금형 세트(1010)에 대해 세정모듈(190)을 상하 방향으로(즉, z축 방향으로) 멀리 또는 가깝게 이송시키기 위한 z축 이송부(140)와, 상기 금형 세트(1010)에 대해 상기 세정모듈(190)을 전후 방향(즉, y축 방향으로) 멀리 또는 가깝게 이송시키기 위한 y축 이송부(160)를 포함한다. 또한, 상기 이송유닛(110)은 세정모듈(190)을 좌우 방향, 즉, x축 방향으로 이동시키기 위한 x축 이송부(120)를 포함한다. 상기 x축 이송부(120)는, 앞서 언급된 바와 같이, 좌우로 배열된 복수의 금형 세트(1010)들 중 어느 하나의 금형 세트(1010)를 선택하기 위한 용도로 이용된다. The
상기 z축 이송부(140)는, 상기 y축 이송부(160) 및 그 위의 세정모듈(190)이 탑재된 z축 이송블록(141)과, 상기 z축 이송블록(141)을 상하로 승강 이송시키도록 구성된 z축 구동기구를 포함한다. 상기 z축 구동기구는, 중간의 힌지(h)에 의해 X형으로 연결된 레버들(142)과, 모터(143)의 동력에 의해, 힌지(h)로 연결된 상기 레버들(142)의 사이를 넓히거나 좁히도록 구동하는 하는 레버 구동수단을 포함한다.The z-
상기 X형 레버들(142)은 그것의 상부와 하부 각각이 가이드 수단에 의해 z축 이송블록(141)과 이하 설명될 x축 이송블록(121) 상에서 직선 이동가능하게 연결된다. 또한, 상기 레버 구동수단은, 모터(143)와 상기 모터(143)의 동력을 전달받아 회전하는 스크류(144)와 상기 스크류(144)에 볼 스크류 방식으로 결합된 채 상기 스크류(144)의 회전에 의해 전진 또는 후퇴하는 스크류 블록(145)을 포함한다. 상기 스크류 블록(145)은 상기 전진 또는 후퇴에 의해 한 세트의 X형 레버(142)들 중 하나의 레버를 밀어, 상기 레버들(142)들을 좁히거나 넓히도록 작동한다. The
레버들(142) 사이가 힌지(h)를 중심으로 좁혀지면, z축 이송블록(141)은 상승하고, 레버들(142) 사이가 힌지(h)를 중심으로 넓혀지면, z축 이송블록(141)은 하강한다. 따라서, 상기 레버 구동수단에 의해, 상기 z축 이송부(140)의 이송블 록(141) 및 그 위에 탑재된 y축 이송부(160) 및 세정모듈(190)은 상하로 이송될 수 있게 된다. 이때, 상기 모터(143)의 동력 및/또는 RPM을 변화시키기 위한 동력전달수단이 더 채용될 수 있다.When the
또한, 상기 y축 이송부(160)는, 상기 z축 이송블록(141)에 고정 설치된 y축 방향으로의 한 쌍의 y축 레일부재(163)들을 포함한다. 이때, 상기 y축 레일부재(163)들의 저면에는 y축 방향으로 길게 래크 치형(163a)이 형성되어 있다. 그리고, 상기 y축 레일부재(163)들은 스페이서(147)들에 의해 상기 z축 이송블록(141)과 일정 높이로 이격되어 있다. 또한, 상기 y축 이송부(160)는 세정모듈(190)을 탑재한 채 상기 y축 레일부재(163)를 따라 y축 방향으로 직선 이동하도록 구성된 활차구조를 포함한다.In addition, the y-
도 3에 잘 도시된 바와 같이, 상기 활차구조는 서로 평행한 한 쌍의 활차벽(165)들을 구비하며, 상기 활차벽(165)들 사이에서 모터(166) 및 상기 모터(166)의 동력을 전달하는 동력전달부(167)들이 상기 활차벽(165)에 탑재된 상태로 고정 설치되며, 상기 동력전달부(167)를 경유하여 모터(166)의 회전력을 받아 회전하는 피니언(168)이 상기 활차벽(165)들의 외벽에 회전가능하게 설치된다. 상기 피니언(168)은 상기 y축 레일부재(163)의 래크 치형(163a)들과 기어 맞물림되도록 배치되며, 따라서, 상기 피니언(168)이 모터 동력(166)에 의해 회전하면, 상기 레일 부재(163)들을 따라 상기 활차 구조 및 그 활차 구조에 탑재된 세정모듈(190)이 y축 방향(즉, 전후 방향)으로 직선 이동한다. 이때, 상기 피니언(168)이 이동하는 경로를 확보하기 위한 용도로 전술한 스페이서(147)들에 의해 레일부재(163)가 상기 z 축 이송블록(141)으로부터 이격되는 것이다. 상기 세정모듈(190)은 상기 y축 이송부(160)에 의해 비로서 도 1에 도시된 것과 같은 상부 금형(1010a)과 하부 금형(1010b) 사이의 세정 대기 위치로 이동될 수 있다. As shown in FIG. 3, the pulley structure includes a pair of
한편, 상기 x축 이송부(120)는, 하부 베드 상에서 x축 방향으로 길게 설치된 한 쌍의 x축 레일부재(125, 126)를 포함한다. 그리고, 상기 한 쌍의 x축 레일부재 중 하나의 x축 레일부재(125)의 측면에는 x축 방향으로 래크 치형(124)이 형성되어 있다. 또한, 상기 x축 이송부(120)는, x축 레일부재(125)를 따라 x축 방향으로 직선 슬라이딩 이동 가능하게 설치되는 x축 이송블록(121)을 포함한다. 이때, 상기 x축 이송부(120)는, 상기 x축 이송블록(121)의 자동적인 전후 이송을 위해, x축 구동기구를 더 포함한다. 상기 x축 구동기구는, 모터(128)의 동력에 의해 회전하는 피니언기어(127)와, 하나의 x축 레일부재(125)에 형성된 전술한 래크 치형(124)을 포함한다. 상기 피니언기어(127)는, 상기 모터(128)의 동력에 의해, x축 방향, 즉, 좌우 방향으로 길게 형성된 래크 치형(124)과 기어 맞물림되면서 회전운동하고, 이에 의해, 피니언기어(127)를 갖춘 모터(128)가 설치된 상기 x축 이송블록(121)은, 한 쌍의 x축 레일부재(125, 126)를 따라 좌우 방향(즉, x축 방향)으로 이동할 수 있다.Meanwhile, the
전술한 이송유닛(110)의 작용을 설명하면 다음과 같다.The operation of the
먼저, x축 이송부(120)는, x축 구동기구의 랙-피니언 구동에 의해, x축 레일부재(125, 126)를 따라, x축 이송블록(121)을 좌우 방향(또는, x축 방향으로) 이송시킨다. 이 x축 이송부(120)의 작용은, 좌우로 배열된 복수의 금형 세트들 중 하나 의 금형 세트(1010) 앞쪽에 세정모듈(190)을 위치시키는데 기여한다.First, the
다음, z축 이송부(140)는, z축 구동기구의 구동에 의해 X형 레버들(142)을 힌지 구동시켜, 그 레버들(142) 사이를 좁히며, 이에 의해, 레버들(142) 상부에 연결된 Z축 이송블록(141)은 상승된다. Next, the z-
다음, y축 이송부(160)는, 래크와 피니언을 포함하는 활차 작용에 의해, 활차 구조 및 그곳에 탑재된 세정모듈을(190)를 y축 방향으로 전진 이송시키는 작용을 한다. 활차 구조의 전진에 의해, 세정모듈(190)은 도 1에 도시된 것과 같은 상부 금형(1010a)과 하부 금형(1010b) 사이의 세정 대기 위치에 놓이게 된다.Next, the y-
한편, 상기 세정 대기 위치에서, 상기 세정모듈(190)은 상부 금형(1010a) 및 하부 금형(1010b)에 합치(또는, 접촉)될 수 있도록 상하로 이동되어야 한다. 도 4는 활차 구조의 활차벽(165)들 사이에 위치한 세정모듈(190)을 도시한 평면도로서, 이를 참조하면, 상기 세정모듈(190)은, 활차벽(165)들의 내면에 설치된 LM 가이드(199)들에 의해 상하로 슬라이딩 가능하게 유지된다. 이때, 상기 세정모듈(190)의 직상, 직하에는 도 1에 도시된 것과 같은 상부 금형(1010a)과 하부 금형(1010b)이 각각 위치한다. 이때, 상기 세정모듈(190)은 상하 이동되는 하부 금형(1010b) 또는 별도로 마련된 정밀 이송수단에 의해 상하로 이동될 수 있다.On the other hand, in the cleaning standby position, the
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 양방향 세정모듈(190)을 도시한 부분 단면 사시도이다.5 is a partial cross-sectional perspective view showing a
도 5를 주로 참조하면, 상기 양방향 세정모듈(190)은 개방된 사각형의 중공을 내부에 한정하는 벽체(191)와, 상기 벽체(191)의 내벽멱 중간에 위치하여 상측 방향과 하측 방향으로 향해 있는 판상의 전극체(192)를 포함한다. 상기 벽체(191)는 몸체부(191a)와, 한 쌍의 어댑터부(191b, 191c)를 포함하는데, 상기 한 쌍의 어댑터부(191b, 191c)는 볼트에 의해 상기 몸체부(191a)의 상단과 하단에 분리가능하게 체결되는데, 상기 어댑터부(191b, 191c)는 본 실시예의 양방향 세정모듈(190)이 다양한 크기 다양한 규격의 금형에 대하여 호환성을 갖도록 부가된 것이다. 또한, 상기 벽체의 상단, 더 상세하게는, 상기 어댑터의 상단에는 금형과 세정모듈 사이의 밀착력을 좋게 하는 씰링(1913)이 설치될 수 있다.Referring mainly to FIG. 5, the
벽체(191)의 상단 및 하단이 상부 금형(1010a)과 하부 금형(1010b) 각각에 합치(또는, 접촉)된 상태에서, 상기 전극체(192)는 상기 상부 금형(1010a) 및 상기 하부 금형(1010b)과 마주하도록 설치된다. 본 실시예에서, 상기 전극체(192)는 상기 벽체(191) 내벽 일면에 형성된 단턱(1901)과, 그 단턱(1901)에 마주하도록 상기 벽체(191) 내벽 타면에 형성된 방열성 집게 부재(1902)에 의해 지지된다. 상기 금형들(1010a, 1010b)이 접지되고, 상기 전극체(192)에 고전압이 인가되면, 상기 전극체(192)를 기준으로 하여 상부 영역과 하부 영역에는 금형 세정용 플라즈마가 발생될 수 있다. 또한, 상기 전극체(192)는 SUS, 즉, 스테인레스 재질로 이루어지고, 상기 벽체(191)는 알루미늄 재질로 이루어지며, 전극체와 알루미늄 재질의 열 변형 차이에 기인하는 원치 않는 변형 등을 막기 위해, 상기 전극체(192)의 측면 모서리들은 상기 벽체(191)의 내벽면과 미세 간격으로 떨어져 있는 것이 바람직하다.In the state where the upper and lower ends of the
플라즈마 발생을 위한 부대적인 요소들로서, 상기 벽체(191)에는 진공포트(193)가 마련된다. 상기 진공포트(193)는 예를 들면 호스(미도시됨) 등에 의해 진공원(미도시됨)에 연결된다. 상기 벽체(191)의 상단과 하단이 상부 금형 및 하부 금형에 합치된 상태에서, 상기 벽체(191)와 상하 금형에 의해 한정된 챔버 안쪽은 상기 진공포트(193)와 연결된 진공원에 의해 진공으로 될 수 있다. 단면상으로, 상기 진공포트(193)의 구멍은, 상기 전극체(192)와 교차되게 배치된 채, 금형들(1010a, 1010b)들과 벽체(191)에 의해 한정된 챔버의 전극체(192) 상측 챔버 영역과 전극체(192) 하측 챔버 영역에 걸쳐져 있다. 이는 상기 진공포트(193)를 통해 벽체(191)와 금형들에 의해 한정된 챔버 내부를 보다 신속하고 용이하게 진공화시키는데 기여한다.As an additional element for plasma generation, the
또한, 상기 벽체(191)에는 반응 가스 공급을 위한 가스 공급포트(194, 194)가 마련된다. 상기 가스 공급포트(194, 194)는 가스 공급원(미도시됨)에 연결되어, 진공 상태의 챔버 안쪽으로 반응 가스를 공급한다. In addition, the
또한, 상기 벽체(191)에는, 상부 금형과 하부 금형 모두에 대한 세정 상황을 살피기 위한 용도로서, 전극판(192) 위쪽의 챔버 상부 영역과 전극판(192) 아래쪽의 챔버 하부 영역을 외부에서 관찰할 수 있도록 해주는 한 쌍의 시계창(195, 195)이 마련된다.In addition, the
도 6 및 도 7은 본 실시예에 따른 양방향 세정모듈 및 그 세정모듈을 이용한 상하 금형에 대한 플라즈마 세정공정을 설명하기 위한 개략적인 도면들이다.6 and 7 are schematic views for explaining a plasma cleaning process for the upper and lower molds using the bidirectional cleaning module and the cleaning module according to the present embodiment.
도 6은 양방향 세정모듈(190)이 상부 금형(1010a)과 하부 금형(1010b) 사이에 위치한 채 상기 금형들(1010a, 1010b) 각각으로부터 벽체(191)의 상단과 하단이 이격되어 있는 상태의 세정 대기 위치를 보여준다. 이때, 양방향 세정모듈(190)은 활차벽(165, 165; 도 2 내지 도4 참조)들의 내벽면에 설치된 LM 가이드(199)들에 의해 상하 슬라이딩 가능하게 지지되어 있다. 상기 양방향 세정모듈(190)의 저점은 미도시된 스토퍼에 의해 일정 높이로 제한된다. 또한, 벽체(191)의 중공 내부에서, 그 중공의 대략 중간에는 상기 상부 금형(1010a) 및 상기 하부 금형(1010b)과 평행하게 마주하는 판상의 전극체(192)가 설치되어 있다. 이때, 상기 전극체(192)를 기준으로 하여, 상기 벽체(90) 내 중공은 상부 영역(UA)과 하부 영역(LA)으로 분할된다.FIG. 6 illustrates that the upper and lower ends of the
도 6에서, 상부 금형(1010a)은 고정되어 있지만, 하부 금형(1010b)은 유압, 공압 또는 기타 다른 구동수단에 의해 상하로 이동되도록 구성된다. 하부 금형(1010b)은 화살표 방향으로 상승 이동하여, 가상선으로 나타낸 것과 같이 상기 양방향 세정모듈(190)과 합치되며, 그 상승 이동이 계속되면서, 상기 양방향 세정모듈(190)을 상방향으로 들어올린다. In FIG. 6, the
도 7은 양방향 세정모듈(190)이 상기 상부 금형(1010a)과 상기 하부 금형(1010b)을 동시에 세정할 수 있는 세정위치를 보여준다. 도 7을 참조하면, 상기 양방향 세정모듈(190)은 벽체(191)의 상단과 하단에서 상기 상부 금형(1010a) 및 상기 하부 금형(1010b) 각각에 합치되어 있고, 상기 전극체(192)를 기준으로, 상부 영역(UA)과 하부 영역(LA)은 금형들에 의해 상하가 막혀 플라즈마가 발생되는 챔버의 일부로 병합되어 있다. 7 illustrates a cleaning position at which the
이러한 세정 위치에서, 챔버가 진공으로 되고, 반응가스가 충전된 후, 상기 전극체(192)에는 고전압의 전력이 인가된다. 이때, 상기 전극체(192)의 상면 및 저 면과 마주하는 상기 상부 금형 및 하부 금형(1010a, 1010b)은 접지를 이루므로, 상기 전극체(192)와 상기 상부 금형(1010a)의 사이, 그리고, 상기 전극체(192)와 상기 하부 금형(1010b)의 사이에는 플라즈마가 발생된다. 상기 플라즈마에 의해, 상기 상부 금형(1010a)과 상기 하부 금형(1010b)의 표면에 존재하는 수지 찌꺼기들의 이물질은 세정될 수 있다.In this cleaning position, the chamber is vacuumed, and after the reaction gas is filled, high voltage power is applied to the
도 8의 (a) 및 (b)는 본 발명의 다른 실시예에 따른 인라인 금형 세정장치 및 세정방법을 설명하기 위한 도면이다.8A and 8B are views for explaining an inline mold cleaning apparatus and a cleaning method according to another embodiment of the present invention.
도 8도 (a) 및 (b)를 참조하면, 세정모듈(190)은, 하단이 막혀 있고 상단이 개방된 벽체(191)와, 상기 벽체(191) 내에 배치된 판상의 전극체(192)를 포함한다.Referring to FIGS. 8A and 8B, the
도 8의 (a)에 도시된 바와 같이, 상기 세정모듈(190)은 상부 금형(1010a)과 하부 금형(1010b) 사이의 세정 대기 위치에 있다. 이때, 상기 세정모듈(190)은 앞에서 설명된 이송유닛(110)에 의해 상기 세정 대기 위치로 이송된 것이다. 다음에, 앞선 실시예와 동일하게, 하부 금형(1010b)이 상승하여, 상기 세정모듈(190)을 들어올리며, 이에 의해, 상기 세정모듈(190)의 벽체(191) 상단은 상기 상부 금형(1010a)과 합치된다.As shown in FIG. 8A, the
상기 세정모듈(190)의 벽체(191)는 하단이 막혀 있으므로, 벽체(191)와 상부 금형(1010a)에 의해 챔버가 한정된다. 다음, 벽체(191) 내부에 배치된 전극체(192)에 고전압 전력이 인가되면, 상기 챔버 내에는 플라즈마가 생성된다. 이때, 상기 상부 금형(1010a)은 접지를 이루면서 접지 전극으로서의 역할을 한다. Since the lower end of the
도 1은 세정모듈이 구비된 인라인 금형 세정장치를 이용하는 반도체 몰딩 장비를 도시한 도면.1 is a view showing a semiconductor molding equipment using an in-line mold cleaning device equipped with a cleaning module.
도 2는 인라인 금형 세정장치의 이송유닛을 설명하기 위한 측면도.Figure 2 is a side view for explaining the transfer unit of the in-line mold cleaning device.
도 3은 인라인 금형 세정장치의 이송유닛을 설명하기 위한 정면도.3 is a front view for explaining a transfer unit of the in-line mold cleaning device.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 세정모듈을 설명하기 위한 평면도.4 is a plan view for explaining a cleaning module according to an embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 세정모듈을 설명하기 위한 부분 단면 사시도.5 is a partial cross-sectional perspective view for explaining a cleaning module according to an embodiment of the present invention.
도 6 및 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 양방향 금형 세정방법을 설명하기 위한 도면들.6 and 7 are views for explaining a bidirectional mold cleaning method according to an embodiment of the present invention.
도 8은 본 발명의 다른 실시에 따른 일방향 금형 세정방법을 설명하기 위한 도면.8 is a view for explaining a one-way mold cleaning method according to another embodiment of the present invention.
Claims (8)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20080047110A KR100980027B1 (en) | 2008-05-21 | 2008-05-21 | In-line die cleaning apparatus and method using plasma |
PCT/KR2009/002327 WO2009142400A2 (en) | 2008-05-21 | 2009-05-01 | In-line die cleaning device and cleaning method employing plasma |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20080047110A KR100980027B1 (en) | 2008-05-21 | 2008-05-21 | In-line die cleaning apparatus and method using plasma |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090121025A true KR20090121025A (en) | 2009-11-25 |
KR100980027B1 KR100980027B1 (en) | 2010-09-06 |
Family
ID=41340655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR20080047110A KR100980027B1 (en) | 2008-05-21 | 2008-05-21 | In-line die cleaning apparatus and method using plasma |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100980027B1 (en) |
WO (1) | WO2009142400A2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021058720A1 (en) * | 2019-09-27 | 2021-04-01 | Univerza V Ljubljani | A plasma device and a method for generating a plasma |
CN114888945A (en) * | 2022-05-11 | 2022-08-12 | 上海公路桥梁(集团)有限公司 | Cleaning equipment, cleaning device and mold cleaning process |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000117750A (en) * | 1998-10-12 | 2000-04-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Apparatus for cleaning mold for resin molding and method for cleaning it |
JP3674339B2 (en) * | 1998-10-12 | 2005-07-20 | 松下電器産業株式会社 | Cleaning device and cleaning method for resin mold |
JP2001322131A (en) * | 2000-05-17 | 2001-11-20 | Towa Corp | Method and apparatus for cleaning |
-
2008
- 2008-05-21 KR KR20080047110A patent/KR100980027B1/en active IP Right Grant
-
2009
- 2009-05-01 WO PCT/KR2009/002327 patent/WO2009142400A2/en active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2009142400A3 (en) | 2010-02-25 |
KR100980027B1 (en) | 2010-09-06 |
WO2009142400A2 (en) | 2009-11-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100980027B1 (en) | In-line die cleaning apparatus and method using plasma | |
KR19980018807A (en) | Resin molding machine | |
JP2007095803A (en) | Method and apparatus for resin sealing molding electronic component | |
KR100945895B1 (en) | In line die cleaning apparatus and method for semiconductor molding equipments | |
CN103035537A (en) | Resin encapsulating apparatus | |
KR100907700B1 (en) | Duplex cleaning module and die cleaning method using plasma | |
EP1768167A2 (en) | Method of resin-seal molding electronic component and apparatus therefor. | |
JP6423677B2 (en) | Mold, molding apparatus, and method for manufacturing molded product | |
EP1768166A2 (en) | Method of resin-seal molding electronic component and apparatus therefor | |
JP4017265B2 (en) | Resin sealing device | |
JP2013038369A (en) | Resin sealing device | |
JP2923733B2 (en) | Cleaning equipment | |
KR20060070141A (en) | Semiconductor chip package molding apparatus having cleaning pin | |
KR100945894B1 (en) | In-line die cleaning apparatus in resin molding equipment | |
JP4210678B2 (en) | Dispenser and resin molding device | |
JP3714765B2 (en) | Conveying mechanism of press machine | |
TW202214413A (en) | Resin sealing device and method for producing resin-sealed product Capable of suppressing the burden on a support portion by a loader robot and suppressing the occurrence of defective products | |
JP4044692B2 (en) | Semiconductor sealing mold cleaning apparatus and cleaning method | |
JP2005066949A (en) | Cleaning device for mold and cleaning method using it | |
KR100984842B1 (en) | Apparatus for auto molding and cleaning | |
JP3586543B2 (en) | Semiconductor mold equipment | |
KR102494911B1 (en) | Resin sealing apparatus and work transporting method | |
WO2024150378A1 (en) | Production device for thermosetting resin product | |
JP2004063851A (en) | Resin-sealing equipment | |
JP2013168688A (en) | Sheet type semiconductor molding apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130930 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140807 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160825 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180830 Year of fee payment: 9 |