KR20090110345A - 지불 카드에서 정전기 방전 실험을 수행하는 방법 - Google Patents

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Abstract

상거래 카드에 정전기 방전 시험을 수행하는 방법이 개시된다. 상거래 카드는 절연 표면에 위치할 수 있다. 접지 탐침은 상거래 카드의 제 1 위치에 위치할 수 있다. 방전 탐침은 주지된 전압 수위로 충전될 수 있다. 방전 탐침은 그리고 상거래 카드의 제 2 위치에서 방전될 수 있다. 방전 파형은 접지 탐침으로부터 기록될 수 있고, 통과 조건 및 실패 조건 중 하나는 기준 전압 수위에 비교된 주지된 전압 수위의 값에 적어도 기초하여 할당될 수 있다. 제 1 위치 및 제 2 위치는 각각 상거래 카드의 복수의 영역으로부터 선택될 수 있다.
카드, 정전기, 방전, 이상

Description

지불 카드에서 정전기 방전 실험을 수행하는 방법{Methods of Performing Electrostatic Discharge Testing on a Payment Card}
본 출원은 2007년 1월 19일 출원된 미국 가출원 제 60/885,764호의 우선권을 주장하고, 이의 전체 내용은 여기에 포함된다.
정전기 방전(ESD)은 전기적으로 절연되거나 절연되지 않은 물체에 저장된 과다한 전하가 접지와 같은 다른 전위의 물체로 흐를 때 발생하는 불시이고 일시적인 전류이다. ESD는 고체 상태 전자 공학에서 심각한 문제이고, 특히 일시적인 원하지 않는 전류가 전자 장치에 손상을 유발할 때 그러하다.
전하가 축적될 수 있는 물체의 한가지 종류는 신용 카드, 직불 카드, 스마트 카드, 비접촉 카드, 고객 우대 카드, 지불 카드 등과 같은 상거래 카드이다. 이러한 카드는 일반적으로 판매 지점 단말과 같은 전자 장치와 접촉하게 된다. 따라서, 전하가 상거래 카드에 누적된 경우, 카드로부터 전자 장치로의 정전기 방전은 장치를 손상시킬 수 있다. 어떤 경우에는, ESD는 전자 장치가 지불 상거래를 수행하지 못하게 할 수 있다.
이러한 장치는 또한 사용자의 신체와 지불 카드 판독기 장치와 같은 다른 전위를 갖는 물체 사이에서 도관으로 작용할 수 있다. 상거래 카드는 일반적으로 판 매 지점 단말과 같은 전자 장치와 접촉하게 되고, 전기적으로 충전된 사용자의 신체와 카드 판독기 장치 사이에서 도관을 제공한다. 이와 같이, 전하가 사용자의 신체 및/또는 다른 물체에 생성된 경우, 카드가 카드 판독 장치와 접촉하는 동안, 정전기 방전은 사용자로부터 전자 장치로 사용자의 피부, 카드, 카드의 전도성 소자를 통해 생성될 수 있다. 이러한 정전기 방전은 장치를 손상시킬 수 있다. 어떤 경우에는, 정전기 방전은 전자 장치가 일시적 또는 영구적으로 지불 상거래를 수행하지 못하게 할 수 있다.
이와 같이, 상거래 카드로부터 방출되는 ESD의 양을 결정하는 방법 및 방전된 전하의 양이 전자 장치를 손상시킬 수 있는지 여부를 결정하는 방법이 바람직할 것이다.
본 발명의 실시예, 방법, 및 물질이 기술되기 이전에, 본 개시는 다양할 수 있는 기술된 특정 실시예, 방법론, 및 물질로 제한되는 않는다는 것이 이해될 것이다. 또한 발명의 상세한 설명에서 사용된 용어는 특정 실시예를 기술하기 위한 목적일 뿐이고 범위를 제한하기 위한 것이 아님이 이해될 것이다.
발명의 상세한 설명 및 특허청구범위에서 사용된 단수형은 내용에서 다르게 표시하지 않는 경우 복수를 포함하는 것이다. 그러므로, 예를 들면, "카드"의 언급은 하나 이상의 카드 및 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 주지된 등가물 등의 언급니다. 다르게 규정되지 않으면, 모든 기술적 및 과학적 용어는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해되는 것과 같은 의미로 사용된다. 여기에서 언급된 것과 유사하거나 등가인 다른 방법, 물질, 및 장치가 실시예의 연습 또는 시험을 위해 사용될 수 있지만, 바람직한 방법, 물질, 및 장치가 이하에서 기술된다. 여기에서 언급된 모든 공개는 그것들의 온하게 참조되어 결합된다. 기술된 실시예가 선행기술에 대한 기술로서 전문에 일컬어지지 않은 것은 허락으로서 해석되지 않는다. 사용된 바와 같이, "포함"이란 용어는 "포함하지만 이에 제한되지는 않음"을 의미한다.
일 실시예에서, 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법은 절연 표면에 상거래 카드를 위치시키는 단계, 상거래 카드의 제 1 위치에 접지 탐침을 위치시키는 단계, 주지된 전압 수위로 방전 탐침을 충전시키는 단계, 상거래 카드의 제 2 위치에 방전 탐침을 방전시키는 단계, 접지 탐침으로부터 방전 파형을 판독하는 단계, 및 기준 전압 수위에 대한 주지된 전압 수위의 값에 적어도 기초하여 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 부여하는 단계를 포함할 수 있다. 제 1 위치 및 제 2 위치는 각각 상거래 카드의 복수의 영역으로부터 선택될 수 있다.
일 실시예에서, 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법은 절연 표면에 자기선을 갖는 상거래 카드를 위치시키는 단계, 상거래 카드의 제 1 경계를 따른 자기선에 접지 탐침을 위치시키는 단계, 주지된 전압 수위로 방전 탐침을 충전시키는 단계, 제 1 경계의 반대 방향인 상거래 카드의 제 2 경계를 따른 자기선에 방전 탐침을 방전시키는 단계, 접지 탐침으로부터 방전 파형을 판독하는 단계, 및 방전 파형이 기준 방전 파형과 실질적으로 유사한지 여부에 적어도 기초하여 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 부여하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법은 접지 전압 수위에 외피 및 하나 이상의 핀을 포함하는 판독 헤드를 연결하는 단계, 주지된 전압 수위로 방전 탐침을 충전시키는 단계, 주지된 전압 수위로 상거래 카드 및 조작자를 충전하기 위해, 상거래 카드의 제 1 위치에서, 조작자에 의해 들린 상거래 카드로 방전 탐침을 방전시키는 단계, 상거래 카드의 제 2 위치에서 판독 헤드와 접촉하도록 상거래 카드를 위치시키는 단계, 및 기준 전압 수위와 비교한 주지된 전압 수위의 값에 적어도 기초하여 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 부여하는 단계를 포함할 수 있다. 제 1 위치 및 제 2 위치 각각은 상거래 카드의 복수의 영역으로부터 선택될 수 있다.
일 실시예에서, 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법은 주지된 전압 수위로 방전 탐침을 충전시키는 단계, 주지된 전압 수위로 상거래 카드 및 조작자를 충전시키기 위해, 상거래 카드의 제 1 위치에서, 조작자에 의해 들린 상거래 카드로 방전 탐침을 방전시키는 단계, 상거래 카드의 제 2 위치에서 단말의 판독 헤드와 접촉하도록 상거래 카드를 위치시키는 단계, 단말이 이상을 표시하는지 여부를 판단하는 단계, 및 단말이 이상을 표시하는 경우, 기준 전압 수위와 비교한 주지된 전압 수위의 값에 적어도 기초하여 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 부여하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법은 주지된 전압 수위로 방전 탐침을 충전시키는 단계, 주지된 전압 수위로 상거래 카드 및 조작자를 충전시키기 위해, 상거래 카드의 제 1 위치에서, 조작자에 의해 들린 상거래 카드로 방전 탐침을 방전시키는 단계, 상거래 카드의 제 2 위치에서 단말의 판독 헤드와 접촉하도록 상거래 카드를 위치시키는 단계, 판독 헤드에서 피크 전압 및 전압 파형을 판독하는 단계, 및 기준 전압 수위와 비교한 주지된 전압 수위의 값에 적어도 기초하여 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 부여하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법은 주지된 전압 수위로 상거래 카드를 충전시키는 단계, 단말을 통해 상거래 카드를 긁는 단계, 및 이상이 발생하였는지 여부에 기초하여 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 부여하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법은 주지된 전압 수위로 상거래 카드의 자기선을 충전시키는 단계, 단말을 통해 상거래 카드를 긁는 단계, 및 이상이 발생하였는지 여부에 기초하여 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 부여하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법은 전도성 물질에 상거래 카드를 마찰시키는 단계, 단말을 통해 상거래 카드를 긁는 단계, 및 이상이 발생하였는지 여부에 기초하여 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 부여하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법은 상거래 카드의 제 1 면이 금속 표면에 접하고 자기선을 갖고 제 1 면과 반대 방향인 제 2 면이 금속 표면에 접하지 않도록 금속 표면에 상거래 카드를 위치시키는 단계, 상거래 카드의 전기 용량을 판단하는 단계, 및 전기 용량이 임계값을 초과하였는지 여부에 기초하여 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 부여하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 외관, 특징, 장점은 이하의 발명의 상세한 설명 및 첨부한 도면을 의해 명확할 것이다.
도 1A 및 1B는 일 실시예에 따른 카드 경계 측정을 위한 예시 시험 영역을 도시한다.
도 2는 일 실시예에 따른 카드 부품 측정을 위한 예시 시험 영역을 도시한다.
도 3은 일 실시예에 따른 부품 측정을 위한 카드 경계의 예시 시험 영역을 도시한다.
도 4는 일 실시예에 따른 시험을 수행하기 위한 제 1 예시 시험 구성을 도시한다.
도 5는 일 실시예에 따른 ESD 파형 및 유전체 파손 정도 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다.
도 6은 일 실시예에 따른 시험을 수행하기 위한 제 2 예시 시험 구성을 도시한다.
도 7은 일 실시예에 따른 ESD 파형 및 전도체 시험을 수행하기 위한 예시 방 법을 도시한다.
도 8은 일 실시예에 따른 시험을 수행하기 위한 제 3 예시 시험 구성을 도시한다.
도 9는 일 실시예에 따른 접지된 판독 헤드에서 ESD 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다.
도 10A 및 10B는 일 실시예에 따른 시험을 수행하기 위한 제 4 예시 시험 구성을 도시한다.
도 11은 일 실시예에 따른 신체를 통한 가상 방전 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다.
도 12A 및 12B는 일 실시예에 따른 시험을 수행하기 위한 제 5 예시 시험 구성을 도시한다.
도 13은 일 실시예에 따른 전도성 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다.
도 14는 일 실시예에 따른 충전판을 통한 마찰 전기 가상 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다.
도 15는 일 실시예에 따른 충전된 카드 가상 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다.
도 16은 실시예에 따른 카드 충전 수위 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다.
도 17은 일 실시예에 따른 카드 전기 용량 및 방전 에너지 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다.
여기에서 기재된 바와 같은, 미확인 부품은 ESD 시험이 이전에 수행되지 않은 상거래 카드의 부품을 의미한다.
하나 이상의 시험이, 특히 미확인 부품 및 요소를 갖는, 상거래 카드에 의해 야기된 지불 상거래의 방해를 인식하는 것을 돕기 위해 실행될 수 있다. 또한, 이러한 시험은 상거래 카드가 단말로 들어갈 때 발생할 수 있는 잠재적인 손상을 인식할 수 있다. 일 실시예에서, 자기선과는 다른 전기적 특성을 표시하는 상거래 카드의 부품은 이러한 시험의 목적을 위해 미확인 부품으로 고려될 수 있다. 미확인 부품으로 고려될 수 있는 상거래 카드 부품은 상거래 카드 내부 또는 표면의 자기 발전 회로, 표시부, 센서, 홀로그램 또는 다른 시각적 부품을 포함할 수 있고 이에 제한되지는 않는다.
하나 이상의 시험은 미확인 부품을 갖는 상거래 카드에 의해 야기되는 장치의 일반적인 과정에서 상거래에 간섭을 인식하기 위한 기초를 제공할 수 있다. 시험은 카드에서 ESD 사건 동안 전기적 특성의 측면에서 탄소-기반 자기선 카드의 성능에 대한 미확인 부품을 갖는 상거래 카드의 성능을 비교할 수 있다. 일 실시예에서, 미확인 부품을 갖는 상거래 카드가 탄소-기반 자기선 카드에 실질적으로 등가로 수행하는 경우, 미확인 부품을 갖는 상거래 카드는 시험을 통과한 것으로 고려될 수 있다.
예를 들면, 2개의 시험 구성이 새로운 상거래 카드를 시험하기 위해 사용될 수 있다: 1) 단말을 포함하지 않는 특별히 설계된 시험 구성을 통한 ESD 모델 및 강도 비교, 2) 단말 판독 헤드를 이용하여 수행된 ESD 강도 및 극성 비교, 및 3) 통상적인 취급 동안 상거래 카드에서 발달하는 전하의 전압 수위 및 극성의 표시를 제공하기 위해 다른 카드, 가죽, 나일론, 면 및/또는 다른 통상적인 의류 물질과 마찰하였을 때 상거래 카드에서 발달하는 존압 수위의 판단.
복수의 시험 조건 하에서 상거래 카드의 수행에 기초하여, 카드에 대한 ESD 사건 발생의 예상된 결과의 측면에서 충고가 제공될 수 있다. 예를 들면, 상거래 카드가 모든 시험에서 탄소-기반 자기선 카드와 실질적으로 유사하게 수행하는 경우, 상거래 카드는 손상적인 ESD 사건을 유발하지 않을 것으로 고려될 수 있다. 탄소-기반 자기선 카드의 수행은 ESD로부터의 단말 고장의 보고된 사건은 이러한 카드를 이용한 30년 이상 동안 발생하지 않았기때문에 기준점으로서 선택될 수 있다.
ESD 시험을 수행할 모델은 다음 중 하나 이상을 포함할 수 있다: 1)IEC 61000-4-2(도구를 든 사람 - 150 pF/330 옴), 2) ANSI/ESD STM 5.1-2001(신체 모델 - 100 pF/1500 옴), 3) ANSI/ESD STM 5.2-1999(기계 모델 - 200 pF/0 옴), 및 ANSI/SED STM 5.3(충전된 장치 모델 - 선 전기 용량/0 옴).
ISO 7810은 카드 식별 또는 동정을 위한 3개 형태를 규정하는 국제 표준이다: ID-1(약 8.56 cm 곱하기 약 5.4 cm), ID-2(약 10.5 cm 곱하기 약 7.4 cm), 및 ID-3(약 12.5 cm 곱하기 약 8.8 cm). ID-1 형태가 일반적으로 상거래 카드를 위해 사용되지만, ISO 7810에 규정되지 않는 형태를 포함하는 다른 카드 형태도 본 발명의 범위 내에 포함될 수 있다.
다른 영역이 시험 목적으로 상거래 카드에 규정될 수 있다. 제 1 영역("영역 1")은 자기선 단말 판독 헤드가 통상적인 긁기 또는 뒤집어 긁기 동안 카드에 직접 접촉하는 "미안전" 영역을 표시할 수 있다. 제 1 영역은 또한 카드가 긁어질 때 사용자에 의해 잡히는 카드의 부분을 표시할 수 있다. 이러한 경우에, 측정은 카드의 전면에서 제 1 카드 장변으로부터 1 cm 이격되고 제 1 카드 단변으로부터 1 cm 이격된 제 1 지점과 제 1 카드 장변으로부터 1 cm 이격되고 제 2 카드 단변으로부터 1 cm 이격된 제 2 지점 사이의 선을 따라 만들어질 수 있다("시험 영역 1F"). 제 2 카드 장변으로부터 측정된 점들에 의해 규정된 유사한 선이 또한 측정될 수 있다("시험 영역 2F"). 또한, 측정은 카드의 후면에서 수행될 수 있다("시험 영역 1B 및 2B"). 상술한 규정된 영역 1을 위한 시험 영역(즉, 시험 영역 1F, 2F, 1B 및 2B)는 도 1A 및 1B에 도시된다.
안전 영역은 상거래 카드에 대해 규정될 수 있다. 안전 영역은, 도 2에 도시되는 바와 같이, 적어도 2개의 장변 각각으로부터 약 1.9 cm 이격되고 2개의 단변 각각으로부터 약 1.9 cm 이격된 영역일 수 있다. 미확인 부품이 안전 영역 외부에 적어도 일부 존재하는 경우, 2개의 추가 영역이 규정될 수 있다.
제 2 영역("영역 2")은 실장 부품 측정을 위해 규정될 수 있다. 제 2 영역은 부품의 제 1 단변으로부터 약 0.5 cm 이내인 제 1 지점으로부터 부품의 제 2 단변으로부터 약 0.5 cm 이내인 제 2 지점까지의 선으로서 규정될 수 있다. 일 실시예에서, 제 1 및 제 2 지점은 부품의 2개의 장변 사이의 약 절반일 수 있다. 예시 제 2 영역은 도 2에 도시된다.
제 3 영역("영역 3")은 영역 1에 규정된 지점들과 영역 2에 규정된 지점들에 의해 규정될 수 있다. 제 3 영역은 영역 1 지점들과 영역 2 지점들의 각각의 조합에 의해 규정된 선일 수 있다(모두 8개 선). 제 3 영역을 규정하는 선들의 예시 집합은 도 3에 도시된다.
시험을 위한 추가의 그리고/또는 대체의 영역이 사용될 수 있다. 예를 들면, 상거래 카드의 경계로부터 다른 거리의 점들이 선택될 수 있다. 또는, 많거나 적은 지점들이 하나 이상의 영역의 각각을 위해 선택될 수 있다. 이러한 변경은 본 기술에 기초하여 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
이하에 기술된 각각의 시험에 대하여, 하나 이상의 시험 조건이 수행된 시험의 재생 가능성 및 신뢰성을 만족시키기 위해 요구될 수 있다. 예를 들면, 시험 환경은 약 20% 상대 습도 이하를 갖도록 요구될 수 있다. 또는, 시험될 상거래 카드(및 통과 및/또는 실패 조건을 위한 제어 카드)는 카드 주변으로 강제된 공기로 적어도 24 시간 동안 약 12% 상대 습도를 갖는 환경에 저장될 수 있다. 시험을 하는 개인은 접지를 방지하기 위해 폴리테트라플루오르에틸렌(E. I. du Pont de Nemours and Co.로부터의 Teflon®), 폴리메틸 메타아크릴레이트(Rohms and Haas Co.로부터의 Plexiglas®) 및/또는 발포 폴리에틸렌과 같은 절연 기판에 서는 것이 요구될 수 있다. 추가의 그리고/또는 대체의 시험 조건이 강제될 수 있다.
각각의 시험은 복수의 시험 상거래 카드 및 복수의 제어 상거래 카드에 수행될 수 있다. 시험 상거래 카드는 시험되는 상거래 카드 설계를 포함할 수 있다. 제어 상거래 카드는 통과 조건을 위한 기준으로서 사용되는 탄소-기반 자기선 카드를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 제어 상거래 카드는 시험된 것과 동일하거나 유사한 조건에서 작동 동안 단말 장치에 고장을 유발하는 정전기 에너지의 양을 방전하는 특별하게 제작된 카드와 같은 작동에서 실패하는 것으로 주지된 카드를 포함할 수 있다.
일 실싱예에서, 하나 이상의 통과 기준이 시험을 위해 규정될 수 있다. 예를 들면, 하나의 기준은 상거래 카드가 약 5 kV로 충전되었을 때 시험되는 상거래 카드로부터 방전되는 전류가 약 500 mA 이하일 것일 수 있다. 다른 기준은 시험되는 상거래 카드가 약 1 pF 이하의 전기 용량을 가질 것을 요구할 수 있다. 다른 기준은 시험되는 상거래 카드의 동적 저항이 약 1 kΩ 이상일 것일 수 있다. 다른 기준은 시험되는 상거래 카드로부터 방전되는 에너지가 약 2μJ 이하일 것을 요구할 수 있다. 다른 기준은 충전 및 글기 시험 동안 사용되는 ESD 민감 단말에서 붕괴가 발생하지 않을 것을 요구할 수 있다. 다른 기준은 시험되는 모든 카드가 시험이 완료된 후에 모든 시각적 부품 및/또는 상거래 인터페이스 기능을 포함하여 기능을 유지할 것을 요구할 수 있다. 적용될 수 있는 다른 값을 포함하는 추가의 그리고/또는 대체의 기준이 본 발명의 범위 내에서 사용될 수 있는 것은 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
도 4는 일 실시예에 따른 시험을 수행하기 위한 제 1 예시 시험 구성을 도시한다. 도 4에 도시되는 바와 같이, 시험될 카드(405)는 절연층(410)에 위치할 수 있다. 접지 탐침(415)은 제 1 시험 지점에서 카드(405)에 위치할 수 있고, 방전 탐침(420)은 제 2 시험 지점에서 카드에 위치할 수 있다. 접지 탐침(415)은 접지에 연결될 수 있고, 예를 들면, 만일 ESD 사건이 발생할 때 전류 파형을 획득하기 위해 사용될 수 있다. 방전 탐침(420)은 주지된 전압 수위에서 ESD 사건을 생성하기 위해 사용될 수 있다.
도 5는 일 실시예에 따른 ESD 파형 및 유전체 파손에 대한 강도 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다. 도 5에 도시되는 바와 같이, 상대 습도 및 온도와 같은 환경 조건은 시험 이전에, 동안에 그리고/또는 이후에 기록될 수 있다(505). 카드(405)는 하나의 선 경계가 제 1 시험 지점에서 접지 탐침(415)과 접촉하도록 절연 표면(410)에 위치할 수 있다(510). 방전 탐침(420)은 인체 모델에 따라 설정될 수 있다(515). 일 실시예에서, 방전 탐침(420)은 조정 가능한 전압 수준을 가질 수 있다. 예를 들면, 방전 탐침(420)은 약 500 V와 같은 주지된 전압 수준으로 초기에 설정될 수 있다(520). 그리고 방전 탐침(420)은 제 2 시험 지점에서 방전될 수 있다(525). 일 실시예에서, 제 1 및 제 2 지점은, 예를 들면, 영역 1, 2 및 3에 의해 규정되는 시험 영역의 하나에 기초하여 선택될 수 있다.
접지선(즉, 접지 탐침(415))은 방전 사건이 발생하였는지 여부를 판단하기 위해(즉, 전류 수위가 방전 탐침의 방전 동안 0이 아닌지 여부를 판단하기 위해) 방전 탐침(420)으로부터 정전기 방전 동안 실험될 수 있다(530). 방전 사건이 발생하는 경우, 전압 수위(VESD), 피크 전류 및/또는 전류의 방전 파형은 판독될 수 있다(540). 또는, 방전 탐침(420)의 전압 수위는, 예를 들면, 약 1 kV, 5 kV, 10 kV, 15 kV 또는 20 kV와 같이 다른 전압 수위로 증가될 수 있다(545). 방전 탐침(420) 을 위한 대체의 그리고/또는 추가의 전압 수위가 본 발명의 범위 내에서 또한 사용될 수 있다. 방전 탐침(420)에 대한 전압 수위가 증가된 후(545), 방전 탐침은 다시 방전된다(525). 일 실시예에서, 적어도 약 2 분과 같은 시간이 증가된 전압 수위로 방전 탐침(420)이 방전되기(525) 이전에 경과할 것으로 요구될 수 있다.
방전 사건이 발생하거나 방전 사건이 최대 시험 전압 수준에서 발생하지 않는 경우, 새로운 카드(405)가 시험을 위해 선택될 수 있다(550). 일 실시예에서, 복수의 시험 카드 및 복수의 제어 카드는 시험될 수 있다. 일 실시예에서, 복수의 제어 카드는 복수의 통과 기준 카드 및 복수의 실패 기준 카드를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 시험은 각각의 카드(405)에 대해 영역 1, 2 및 3으로 규정된 각각의 시험 영역에서 수행될 수 있다. 일 실시예에서, 시험 카드(405)는 시험 카드의 VESD가 통과 기준 카드의 VESD와 비교 가능하고 시험 카드의 방전 파형과 통과 기준 카드의 방전 파형 사이에 특이한 차이가 없는 경우 통과한 것으로 고려될 수 있다. 적용 가능한 다른 값을 포함하는 추가의 그리고/또는 대체의 기준이 본 발명의 범위 내에서 사용될 수 있는 것은 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
도 6은 일 실시예에 따른 시험을 수행하기 위한 제 2 예시 시험 구성을 도시한다. 도 6에서 도시되는 바와 같이, 시험될 카드(405)는 절연층(410)에 위치할 수 있다. 접지 탐침(415)은 제 1 시험 지점에서 카드(405)에 위치할 수 있고, 방전 탐침(420)은 제 2 시험 지점에서 카드에 위치할 수 있다. 접지 탐침(415)은 접지에 연결될 수 있고 만일 ESD 사건이 발생할 때, 예를 들면, 전류 파형을 획득하기 위해 사용될 수 있다. 방전 탐침(420)은 주지된 전압 수위로 ESD 사건을 생성하기 위해 사용될 수 있다. 제 1 시험 지점은 카드(405)의 경계를 따르고 카드의 자기선을 접촉할 수 있다. 제 2 시험 지점은 카드(405)의 반대 경계를 따르고 카드의 자기선을 접촉할 수 있다.
도 7은 일 실시예에 따른 ESD 파형 및 전도성 강도 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다. 도 7에 도시된 바와 같이, 상대 습도 및 온도와 같은 환경 조건이 시험 이전에, 동안에, 그리고/또는 이후에 기록될 수 있다(705). 카드(405)는 하나의 줄 경계가 제 1 시험 지점에서 접지 탐침(415)과 접촉하도록 절연 표면(410)에 위치할 수 있다(710). 방전 탐침(420)은 신체 모델에 따라 구성될 수 있다(715). 일 실시예에서, 방전 탐침(420)의 저항은 조정 가능하다. 예를 들면, 방전 탐침(420)은 약 1500 Ω으로 초기에 설정될 수 있다. 또한, 방전 탐침(420)의 전압 수위는 약 5 kV로 설정될 수 있다(720). 방전 탐침(420)은 그리고 제 2 시험 지점에서 방전될 수 있다(725). 방전 전류는 접지 탐침(415)에서 전류 파형을 시험하여 관측될 수 있다(730). 일 실시예에서, 방전 탐침(420)으로부터 ESD 방전에 의해 생성된 피크 전류 및 전류 파형은 판단될 수 있다. 동적 저항은 방전 탐침(420)의 전압 수위를 암페어 단위의 피크 전류로 나누어서 계산될 수 있다(735). 시험은 그리고 방전 탐침(420)에 대해 약 0 Ω의 저항으로 반복될 수 있다. 방전 탐침(420)에 대한 추가의 그리고/또는 대체의 저항 수위 및 전압 수위가 본 발명의 범위 내에서 사용될 수 있다. 시험은 각각의 저항 수위에서 시험될 각각의 카 드(420)에 대해 반복될 수 있다.
도 8은 일 실시예에 따른 시험을 수행하기 위한 제 3 예시 시험 구성을 도시한다. 도 8에서 도시된 바와 같이, 시험될 카드(405)는 절연층(410)에 위치할 수 있다. 단말 판독 헤드(805)는 제 1 시험 지점에서 카드(405)에 위치할 수 있고, 방전 탐침(420)은 제 2 시험 지점에서 카드에 위치할 수 있다. 단말 판독 헤드(805)는 접지선을 통해 접지에 연결될 수 있고 만일 ESD 사건이 발생할 때, 예를 들면, 전류 파형을 획득하기 위해 사용될 수 있다. 전류 파형은, 예를 들면, 단말 판독 헤드(805)의 핀 및 외피로부터 획득될 수 있다. 방전 탐침(420)은 주지된 전압 수위로 ESD 사건을 생성하기 위해 사용될 수 있다.
도 9는 일 실시예에 따른 접지된 판독 헤드에서 ESD 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다. 도 9에 도시된 바와 같이, 상대 습도 및 온도와 같은 환경 조건은 시험 이전에, 동안에 그리고/또는 이후에 기록될 수 있다(905). 카드(405)는 절연 표면(410)에 위치할 수 있다. 방전 탐침(420)의 전압 수위는 조정 가능하다. 예를 들면, 방전 탐침(420)은 약 -5 kV로 초기에 설정될 수 있다(910). 방전 탐침(420)을 카드(405)에 위치시킬 때, 방전 탐침은 제 1 시험 지점에 위치할 수 있다(915). 시험 조작자는 같은 출력 전위로 카드 및 조작자를 충전하기 위해 방전 탐침(420)을 제 1 시험 지점에 위치시킬 때 카드(405)를 붙잡고 표면(410)에 접촉할 수 있다(915). 단말 판독 헤드(805)는 그리고 제 2 시험 지점에서 카드(405)에 위치할 수 있다(920). 일 실시예에서, 제 1 및 제 2 시험 지점은, 예를 들면, 영역 1, 2 및 3에 의해 규정되는 시험 영역의 하나에 기초하여 선택될 수 있다.
단말 판독 헤드(805)의 외피에 연결된 접지선은 방전 사건이 발생하였는지 여부를 판단하기 위해(즉, 전류 수위가 방전 탐침의 방전 동안 0이 아닌지 여부를 판단하기 위해) 방전 탐침(420)으로부터 방전 통안 실험될 수 있다(930). 방전 사건이 발생하는 경우, 단말 판독 헤드(805)의 핀에서 전압 수위(VESD1), 피크 전류 및/또는 전류의 방전 파형 및/또는 단말 판독 헤드(805)의 외피에서 전압 수위(VESD2)가 기록될 수 있다(940). 또는, 방전 탐침(420)의 전압 수위는, 예를 들면, 약 1 kV, 2.5 kV, 5 kV 또는 10 kV와 같이 다른 전압 수위로 증가할 수 있다(945). 방전 탐침(420)에 대한 대체의 그리고/또는 추가의 전압 수위가 본 발명의 범위 내에서 또한 사용될 수 있다. 방전 탐침(420)의 전압 수위가 증가된 후(945), 방전 탐침은 다시 방전될 수 있다(925). 일 실시예에서, 각 시험은 복수회 수행될 수 있다. 일 실시예에서, 카드(405)는 시험을 수행하거나 증가한 전압 수위로 시험을 수행하기 이전에 이온화될 수 있다.
방전 사건이 발생하거나 최대 시험 전압에서 방전 사건이 발생하지 않는 경우, 새로운 카드(405)가 시험을 위해 선택될 수 있다(950). 일 실시예에서, 복수의 시험 카드 및 복수의 제어 카드가 시험될 수 있다. 일 실시예에서, 복수의 제어 카드는 복수의 통과 조건 카드 및 복수의 실패 조건 카드를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 시험은 각각의 카드(405)에 대해 영역 1, 2 및 3으로 규정되는 각각의 시험 영역에 대해 수행될 수 있다. 일 실시예에서, 시험 카드(405)는 시험 카드(405)의 VESD1이 통과 기준 카드의 VESD1과 비교 가능한 경우, 시험 카드의 VESD2가 통과 기 준 카드의 VESD2와 비교 가능한 경우, 그리고 시험 카드에 대한 방전 파형과 통과 기준 카드의 방전 파형 사이에 특이한 차이가 없는 경우 시험을 통과한 것으로 고려될 수 있다. 적용 가능한 다른 값을 포함하는 추가의 그리고/또는 대체의 기준이 본 발명의 범위 내에서 사용될 수 있는 것은 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
도 10A 및 10B는 일 실시예에 따른 시험을 수행하기 위한 제 4 예시 시험 구성을 도시한다. 도 10A 및 10B에 도시된 바와 같이, 카드(405)는 시험 동안 카드 판독기(단말)(1005)에 삽입될 수 있다. 카드(405)는 단말(1005)을 토해 카드를 긁기 전에 방전 탐침(420)을 이용하여 충전될 수 있다. 카드(405)의 카드선(1010)과 같은 제 1 시험 지점은 카드의 전하가 단말(1005)에 이상이 발생하게 하는지 여부를 판단하기 위해 단말 판독 헤드(1015)에 접촉할 수 있다. 일 실시예에서, 카드(405)는 충전되고 시험될 때 시험 조작자에 의해 잡힐 수 있다.
도 11은 일 실시예에 따른 신체를 통한 가상 방전 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다. 도 11에 도시된 바와 같이, 상대 습도 및 온도와 같은 환경 조건은 시험 이전에, 동안에 그리고/또는 이후에 기록될 수 있다(1105). 방전 탐침(420)은 약 -500 V와 같은 초기 전압 수위로 충전될 수 있다(1110). 시험 조작자는 그리고 조작자가 카드의 표면 및 경계에 접촉하도록 카드(405)를 잡을 수 있다(1115). 시험 조작자는 그리고 카드를 정전기로 충전하기 위해 방전 탐침(420)과 카드(405)를 접촉시킬 수 있다(1120). 카드(405)가 충전된 후, 충전 탐침(420)은 카드와의 접촉으로부터 제거될 수 있고, 카드는 카드의 자기선(1010)의 적어도 일부가 단말 판독 헤드(1015)에 접촉하도록 단말(1005) 내로 삽입될 수 있다(1125). 시험 조작자는 카드(405)가 단말 판독 헤드(1015)와 접촉할 때 단말(1005)이 재시작, 재초기화, 멈춤 또는 다른 이상을 갖는지 여부를 판단할 수 있다(1130). 이러한 경우, 카드(405)가 충전된 전압(VESD)은 기록될 수 있다(1135). 또는, 카드(405)의 전압 수위는, 예를 들면, 약 1 kV, 2.5 kV, 5 kV 또는 10 kV와 같이 다른 전압 수위로 증가할 수 있고(1140), 상술한 시험이 반복될 수 있다. 일 실시예에서, 카드(405)는 카드 시험의 연속적인 반복을 수행하기 이전에 이온화될 수 있다. 일 실시예에서, 카드(405)는 특정 전압 수위로 충전될 때 복수회 시험될 수 있다. 일 실시예에서, 시험될 하나 이상의 카드, 하나 이상의 통과 조건 카드 및/또는 하나 이상의 실패 조건 카드와 같은 복수의 카드(405)는 시험될 수 있다(1145). 시험 카드(405)는 시험 카드의 VESD가 통과 기준 카드의 VESD와 비교 가능한 경우 통과한 것으로 고려될 수 있다. 적용 가능한 다른 값을 포함하는 추가의 그리고/또는 대체의 기준이 본 발명의 범위 내에서 사용될 수 있는 것은 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
도 12A 및 12B는 일 실시예에 따른 시험을 수행하기 위한 제 5 예시 시험 구성을 도시한다. 도 12A 및 12B에 도시된 바와 같이, 카드(405)는 시험 동안 단말(1005) 내로 삽입될 수 있다. 카드(405)는 단말(1005)을 통해 카드를 긁기 전에 방전 탐침(405)을 이용하여 충전될 수 있다. 카드(405)의 카드선(1010)과 같은 제 1 시험 지점은 단말(1005) 내에서 위치하여 접지 탐침(415)에 접촉할 수 있다. 일 실시예에서, 카드(405)는 충전되고 시험되는 때 시험 조작자에 의해 잡힐 수 있다.
도 13은 일 실시예에 따른 신체를 통한 가상 방전 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다. 도 13에 도시된 바와 같이, 상대 습도 및 온도와 같은 환경 조건은 시험 이전에, 동안에 그리고/또는 이후에 기록될 수 있다(1305). 방전 탐침(420)은 약 -500 V와 같은 초기 전압 수위로 충전될 수 있다(1310). 시험 조작자는 그리고 조작자가 카드의 표면 및 경계에 접촉하도록 카드(405)를 잡을 수 있다(1315). 시험 조작자는 그리고 카드를 정전기로 충전하기 위해 방전 탐침(420)으로 카드(405)를 접촉시킬 수 있다(1320). 카드(405)가 충전된 후, 방전 탐침(420)은 카드로부터 제거될 수 있고, 카드는 카드의 자기선(1010)의 일부가 접지 탐침(415)과 접촉하도록 단말(1005) 내로 삽입될 수 있다(1325). 피크 전압 및 전압 및/또는 전류 파형은 접지 탐침(415)으로부터 기록될 수 있다(1330). 카드(415)의 전압 수위는, 예를 들면, 약 1 kV, 2.5 kV, 5 kV 또는 10 kV와 같은 다른 전압 수위로 증가할 수 있다(1335). 일 실시예에서, 시험은 중단까지 증가된 전압으로 반복될 수 있다. 일 실시예에서, 카드(405)는 시험의 연속적인 반복을 수행하기 이전에 이온화될 수 있다. 일 실시예에서, 카드(405)는 특정 전압에서 복수회 시험될 수 있다. 일 실시예에서, 하나 이상의 시험될 카드, 하나 이상의 통과 기준 카드 및/또는 하나 이상의 실패 기준 카드와 같은 복수의 카드(405)는 시험될 수 있다(1340). 시험 카드(405)는 시험 카드의 VESD가 통과 기준 카드의 VESD와 비교 가능 한 경우 통과한 것으로 고려될 수 있다. 적용 가능한 다른 값을 포함하는 추가의 그리고/또는 대체의 기준이 본 발명의 범위 내에서 사용될 수 있는 것은 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
도 14는 일 실시예에 따른 충전판을 통한 마찰 전기 가상 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다. 도 14에 도시되는 바와 같이, 상대 습도 및 온도와 같은 환경 조건은 시험 이전에, 동안에 그리고/또는 이후에 기록될 수 있다(1405). 카드(405)는, 예를 들면, 코로나 충전 장치(미도시)를 이용하여 약 30 kV와 같은 전압 수위로 충전될 수 있다(1410). 카드(405)는 그리고 단말에 긁혀질 수 있다(1415). 시험 조작자는 카드(405)가 긁혀질 때(1415) 단말이 재시작, 재초기화, 중지 또는 다른 이상을 나타내는지 여부를 판단할 수 있다(1420). 단말이 이상을 나타내는 카드 전압 수위는 판단될 수 있다(1425). 시험 카드(405)는 이상이 단말에 의해 나타나는 경우 실패로 고려될 수 있다(1430). 또는, 카드는 통과한 것으로 고려될 수 있다(1435). 일 실시예에서, 카드(405)는 시험 반복 사이에 이온화될 수 있다. 카드(405)는 복수회 상술한 과정을 이용하여 시험될 수 있다. 일 실시예에서, 하나 이상의 시험될 카드, 하나 이상의 통과 기준 카드 및/또는 하나 이상의 실패 기준 카드와 같은 복수의 카드(405)는 시험될 수 있다(1440). 적용 가능한 다른 값을 표함하는 추가의 그리고/또는 대체의 기준이 본 발명의 범위 내에서 사용될 수 있는 것은 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
도 15는 일 실시예에 따른 충전된 카드 가상 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다. 도 15에서 도시된 바와 같이, 상대 습도 및 온도와 같은 환경 조건 은 시험 이전에, 동안에 그리고/또는 이후에 기록될 수 있다(1505). 카드(405)의 자기선은 약 -500 V와 같은 초기 전압 수위로 충전될 수 있다(1510). 카드는 그릭고 단말에서 긁어질 수 있다(1515). 시험 조작자는 카드(405)가 긁어질 때(1515) 단말이 재시작, 재초기화, 정지 또는 다른 이상을 나타내는지 여부를 판단할 수 있다(1520). 이상이 단말에 발생한 경우, 이상이 발생한 자기선 전압은 기록될 수 있고 카드(405)는 실패한 것으로 고려될 수 있다(1525). 카드(405)는 긁어진 후(1515) 이온화될 수 있다. 시험은 특정 전압 수위에서 각각의 카드(405)에 대하여 복수회 반복될 수 있다. 카드(405)의 자기선은 다시 시험을 수행하기 이전에 약 -1 kV, -2.5 kV, -5 kV, -10 kV, 500 V, 1 kV, 2.5 kV, 5 kV 또는 10 kV와 같은 다른 전압으로 충전될 수 있다(1530). 시험 카드(405)는 이상이 단말에 의해 나타나지 않는 경우 통과한 것으로 고려될 수 있다(1535). 일 실시예에서, 하나 이상의 시험될 카드, 하나 이상의 통과 기준 카드 및/또는 하나 이상의 실패 기준 카드와 같은 복수의 카드(405)는 시험될 수 있다(1540). 적용 가능한 다른 값을 포함하는 추가의 그리고/또는 대체의 기준이 본 발명의 범위 내에서 사용될 수 있는 것은 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
도 16은 일 실시예에 따른 카드 충전 수위 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다. 도 16에 도시된 바와 같이, 상대 습도 및 온도와 같은 환경 조건은 시험 이전에, 동안에 그리고/또는 이후에 기록될 수 있다(1605). 카드(405)는, 예를 들지만 이에 제한되지는 않는, 다른 카드, 가죽, 나일론, 면 및/또는 하나 이상의 다른 물질에 마찰되어 충전될 수 있다(1610). 카드(405)는 그리고 단말에 긁어 질 수 있다(1615). 단말은 모조 판독 헤드를 포함할 수 있다. 정전기 방전 파형은 획득될 수 있고(1620), 피크 방전 전류는 기록될 수 있다(1625). 시험 카드(405)에 대한 피크 방전 전류가 통과 기준 카드와 실질적으로 유사하고 또는 실패 기준 카드와 실질적으로 비유사하다고 판단되는 경우(1630), 시험 카드는 통과한 것으로 고려될 수 있다(1635). 또는, 시험 카드(405)는 실패한 것으로 고려될 수 있다(1640). 일 실시예에서, 하나 이상의 시험될 카드, 하나 이상의 통과 기준 카드 및/또는 하나 이상의 실패 기준 카드와 같은 복수의 카드(405)는 시험될 수 있다(1645). 일 실시예에서, 각각의 카드(405)는 복수회 시험될 수 있다. 적용 가능한 다른 값을 포함하는 추가의 그리고/또는 대체의 기준이 본 발명의 범위 내에서 사용될 수 있는 것은 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
도 17은 일 실시예에 따른 카드 전기 용량 및 방전 에너지 시험을 수행하기 위한 예시 방법을 도시한다. 도 17에 도시된 바와 같이, 상대 습도 및 온도와 같은 환경 조건은 시험 이전에, 동안에 그리고/또는 이후에 기록될 수 있다(1705). 카드(405)는 자기선을 포함하지 않는 카드의 면이 평탄한 금속 표면에 접하도록 위치할 수 있다(1710). 전기 용량 측정계(미도시)는 카드의 전기 용량을 측정하기 위해 평탄한 금속 표면 및 카드(405)의 선에 연결될 수 있다(1715). 카드(405)의 방전 에너지는, 예를 들면, 다음의 식을 이용하여 계산될 수 있다(1720):
Figure 112009049463111-PCT00001
, C는 카드의 전기 용량. 그리고 카드 전기 용량이 약 1 pF와 같은 임계치 미만인지 여부가 판단될 수 있다. 그러한 경우, 시험 카드(405)는 통과한 것으로 고려될 수 있다(1730). 또는, 시험 카드(405)는 실패한 것으로 고려될 수 있다(1735). 시험은 시험될 각각의 카드에 대하여 반복될 수 있다(1740). 적용 가능한 다른 값을 포함하는 추가의 그리고/또는 대체의 기준이 본 발명의 범위 내에서 사용될 수 있는 것은 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
상술한 개시의 다양함 및 다른 특징 및 기능, 또는 이들의 데체가 다른 시스템 및 응용에 바람직하게 결합될 수 있는 것은 명백할 것이다. 또한, 다양한 현재 예측되지 않거나 예지되지 않는 대체, 변경, 변화 또는 향상이 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 이어서 만들어질 수 있는 것은 명백할 것이다. 이러한 대체, 변경, 변화 및 향상은 또한 이하의 특허청구범위에 의해 포함된다.

Claims (40)

  1. 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법으로서,
    절연된 표면에 상거래 카드를 위치시키는 단계;
    상기 상거래 카드의 제 1 위치에 접지 탐침을 위치시키는 단계;
    주지된 전압 수위로 방전 탐침을 충전하는 단계;
    상기 상거래 카드의 제 2 위치에 상기 방전 탐침을 방전시키는 단계;
    상기 접지 탐침으로부터 방전 파형을 기록하는 단계; 및
    기준 전압 수위에 비교된 상기 주지된 전압 수위의 값에 적어도 기초하여 상기 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계를 포함하고,
    상기 제 1 위치 및 상기 제 2 위치는 각각 상기 상거래 카드의 복수의 영역으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계는 상기 방전 파형이 기준 방전 파형에 실질적으로 유사한지 여부에 더 기초하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 위치는, 상기 상거래 카드의 제 1 경계로부터 약 0.5cm 이격된 상기 상거래 카드의 자기선의 제 1 지점, 상기 상거래 카드의 상기 제 1 경계로부터 약 1cm 그리고 상기 상거래 카드의 제 2 경계로부터 약 1cm 이격된 상기 상거래 카드의 제 2 지점, 및 상기 상거래 카드의 부품의 제 1 경계로부터 약 0.5cm 내측인 제 3 지점 중 하나를 포함하고,
    상기 제 2 위치는, 상기 상거래 카드의 상기 제 1 경계의 반대편인 상기 상거래 카드의 제 3 경계로부터 약 0.5cm 이격된 자기선의 제 4 지점, 상기 상거래 카드의 상기 제 2 경계로부터 약 1cm 그리고 상기 상거래 카드의 상기 제 3 경계로부터 약 1cm 이격된 상기 상거래 카드의 제 5 지점, 상기 부품의 제 1 경계의 반대편인 상기 부품의 제 2 경계로부터 약 0.5cm 내측인 제 6 지점 중 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 주지된 전압 수위는 약 500 볼트와 약 20000 볼트 사이의 전압 수위를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 방전 탐침은 약 100pF의 전기 용량과 약 1500옴의 저항을 갖는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 기준 전압 수위는 탄소 기반 자기선이 실패하는 전압에 기초하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  7. 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법으로서,
    절연 표면에 자기선을 포함하는 상거래 카드를 위치시키는 단계;
    상기 상거래 카드의 제 1 경계를 따르는 상기 자기선에 접지 탐침을 위치시키는 단계;
    주지된 전압 수위로 방전 탐침을 충전시키는 단계;
    상기 제 1 경계의 반대편인 상기 상거래 카드의 제 2 경계를 따르는 상기 자기선에 상기 방전 탐침을 방전시키는 단계;
    상기 접지 탐침으로부터 방전 파형을 기록하는 단계; 및
    상기 방전 파형이 기준 방전 파형에 대해 실질적으로 유사한지 여부에 적어도 기초하여 상기 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 주지된 전압 수위는 약 5000 볼트를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 방전 탐침은 약 0 옴의 저항을 갖는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  10. 제 7 항에 있어서,
    상기 방전 탐침은 약 1500 옴의 저항을 갖는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  11. 제 7 항에 있어서,
    상기 기준 방전 파형은 탄소-기반 자기선이 실패하는 전압 수위에서 상기 탄소-기반 자기선에 존재하는 파형에 기초하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  12. 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법으로서,
    접지 전압 수위로 외피 및 하나 이상의 핀을 포함하는 판독 헤드를 연결하는 단계;
    주지된 전압 수위로 방전 탐침을 충전시키는 단계;
    상기 주지된 전압 수위로 상거래 카드 및 조작자를 충전하기 위해, 상기 상거래 카드의 제 1 위치에서, 상기 조작자에 의해 들려진 상기 상거래 카드로 상기 방전 탐침을 방전하는 단계;
    상기 상거래 카드의 제 2 위치에서 상기 판독 헤드와 접촉하게 상기 상거래 카드를 위치시키는 단계;
    상기 접지 탐침으로부터 방전 파형을 기록하는 단계; 및
    기준 전압 수위에 비교되는 상기 주지된 전압 수위의 값에 적어도 기초하여 상기 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계를 포함하고,
    상기 제 1 위치 및 상기 제 2 위치는 각각 상기 상거래 카드의 복수의 영역으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계는 상기 방전 파형이 기준 방전 파형에 실질적으로 유사한지 여부에 더 기초하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 접지 탐침으로부터 방전 파형을 기록하는 단계는 상기 접지 탐침의 적어도 하나의 핀으로부터 방전 파형을 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  15. 제 12 항에 있어서,
    상기 접지 탐침으로부터 방전 파형을 기록하는 단계는 상기 접지 탐침의 상기 외피로부터 방전 파형을 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  16. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 1 위치는, 상기 상거래 카드의 제 1 경계로부터 약 0.5cm 이격된 상기 상거래 카드의 자기선의 제 1 지점, 상기 상거래 카드의 상기 제 1 경계로부터 약 1cm, 그리고 상기 상거래 카드의 제 2 경계로부터 약 1cm 이격된 상기 상거래 카드의 제 2 지점, 및 상기 상거래 카드의 부품의 제 1 경계로부터 내측으로 약 0.5cm 이격된 제 3 지점 중 하나를 포함하고,
    상기 제 2 위치는, 상기 상거래 카드의 상기 제 1 경계의 반대편인 상기 상거래 카드의 제 3 경계로부터 약 0.5cm 이격된 상기 자기선의 제 4 지점, 상기 상거래 카드의 상기 제 2 경계로부터 약 1cm, 그리고 상기 상거래 카드의 제 3 경계로부터 약 1cm 이격된 상기 상거래 카드의 제 5 지점, 및 상기 부품의 제 1 경계의 반대편인 상기 부품의 제 2 경계로부터 내측으로 약 0.5cm 이격된 제 6 지점 중 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  17. 제 12 항에 있어서,
    상기 주지된 전압 수위는 약 -5000 볼트와 약 10000볼트 사이의 전압 수위를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  18. 제 12 항에 있어서,
    상기 기준 전압 수위는 탄소-기반 자기선 카드가 실패하는 전압에 기초하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  19. 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법으로서,
    주지된 전압 수위로 방전 탐침을 충전하는 단계;
    상기 주지된 전압 수위로 상거래 카드 및 조작자를 충전하기 위해, 상기 상거래 카드의 제 1 위치에서, 상기 조작자에 의해 들려진 상기 상거래 카드로 상기 방전 탐침을 방전하는 단계;
    상기 상거래 카드의 제 2 위치에서 단말의 판독 헤드와 접촉하도록 상기 상거래 카드를 위치시키는 단계;
    상기 단말이 이상을 가지고 있는지 여부를 판단하는 단계; 및
    상기 단말이 이상을 가지고 있는 경우, 기준 전압 수위와 비교한 상기 주지된 전압 수위의 값에 적어도 기초하여 상기 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  20. 제 19 항에 있어서,
    상기 이상은 상기 단말의 재시동, 상기 단말의 재초기화, 및 상기 단말의 작동 정지 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  21. 제 19 항에 있어서,
    상기 제 1 위치는 상기 상거래 카드의 제 1 경계로부터 약 0.5cm 이격된 상기 상거래 카드의 자기선의 제 1 지점을 포함하고, 상기 제 2 위치는 상기 상거래 카드의 제 2 경계로부터 약 0.5cm 이격된 상기 자기선의 제 2 지점을 포함하며, 상기 상거래 카드의 상기 제 2 경계는 상기 상거래 카드의 상기 제 1 경계의 반대 방향인 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  22. 제 19 항에 있어서,
    상기 주지된 전압 수위는 약 -1000 볼트와 약 10000 볼트 사이의 전압 수위를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  23. 제 19 항에 있어서,
    상기 기준 전압 수위는 탄소-기반 자기선 카드가 실패하는 전압에 기초하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  24. 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법으로서,
    주지된 전압 수위로 방전 탐침을 충전하는 단계;
    상기 주지된 전압 수위로 상거래 카드 및 조작자를 충전하기 위해, 상기 상거래 카드의 제 1 위치에서, 상기 조작자에 의해 들려진 상기 상거래 카드로 상기 방전 탐침을 방전하는 단계;
    상기 상거래 카드의 제 2 위치에 단말의 판독 헤드와 접촉하도록 상기 상거래 카드를 위치시키는 단계;
    상기 판독 헤드에서 피크 전압 및 전압 파형을 판독하는 단계; 및
    기준 전압 수위에 비교한 상기 주지된 전압 수위의 값에 적어도 기초하여 상기 상거래 카드로 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  25. 제 24 항에 있어서,
    상기 제 1 위치는 상기 상거래 카드의 제 1 경계로부터 약 0.5cm 이격된 상기 상거래 카드의 자기선의 제 1 지점을 포함하고, 상기 제 2 위치는 상기 상거래 카드의 제 2 경계로부터 약 0.5cm 이격된 상기 자기선의 제 2 지점을 포함하며, 상기 상거래 카드의 상기 제 2 경계는 상기 상거래 카드의 상기 제 1 경계의 반대 방향인 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  26. 제 24 항에 있어서,
    상기 주지된 전압 수위는 약 -1000 볼트와 약 10000 볼트 사이의 전압 수위를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  27. 제 24 항에 있어서,
    상기 기준 전압 수위는 탄소-기반 자기선 카드가 실패하는 전압에 기초하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  28. 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법으로서,
    주지된 전압 수위로 상거래 카드를 충전하는 단계;
    단말을 통해 상기 상거래 카드를 긁는 단계; 및
    이상이 상기 단말에서 발생하는지 여부에 기초하여 상기 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  29. 제 28 항에 있어서,
    상기 이상은 상기 단말의 재시작, 상기 단말의 재초기화, 및 상기 단말의 작동 중지 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  30. 제 28 항에 있어서,
    상기 주지된 전압은 약 30000 볼트를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  31. 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법으로서,
    주지된 전압 수위로 상거래 카드의 자기선을 충전하는 단계;
    상기 단말을 통해 상기 상거래 카드를 긁는 단계; 및
    이상이 상기 단말에서 발생하였는지 여부에 기초하여 상기 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  32. 제 31 항에 있어서,
    상기 이상은 상기 단말의 재시작, 상기 단말의 재초기화, 및 상기 단말의 작동 중지 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  33. 제 31 항에 있어서,
    상기 주지된 정바 수위는 약 -10000 볼트와 약 10000 볼트 사이의 전압 수위를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방 법.
  34. 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법으로서,
    전도성 물질에 대해 상거래 카드를 마찰시키는 단계;
    단말을 통해 상기 상거래 카드를 긁는 단계; 및
    이상이 상기 단말에 발생하였는지 여부에 기초하여 상기 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  35. 제 34 항에 있어서,
    상기 전도성 물질은 플라스틱, 가죽, 나일론, 및 면 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  36. 제 34 항에 있어서,
    상기 이상은 상기 단말의 재시작, 상기 단말의 재초기화, 상기 단말의 작동 중지 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  37. 제 34 항에 있어서,
    단말을 통해 상기 상거래 카드를 긁는 단계는 상기 단말의 판독 헤드와 접촉 하도록 상기 상거래 카드를 위치시키는 단계를 포함하고, 그리고
    상기 판독 헤드에서 피크 전압 및 전압 파형을 판독하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  38. 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법으로서,
    상거래 카드의 제 1 면이 금속 표면에 접하도록 상기 상거래 카드를 상기 금속 표면에 위치시키는 단계로서, 제 2 면은 자기선을 포함하고, 상기 제 2 면은 상기 제 1 면의 반대 방향이고 상기 금속 표면에 접하지 않는, 상기 상거래 카드를 상기 금속 표면에 위치시키는 단계;
    상기 상거래 카드의 전기 용량을 결정하는 단계; 및
    상기 충전 용량이 임계값을 초과하는지 여부에 기초하여 상기 상거래 카드에 통과 조건 및 실패 조건 중 하나를 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  39. 제 38 항에 있어서,
    상기 상거래 카드의 전기 용량을 결정하는 단계는,
    상기 금속 표면에 전기 용량 계측기의 제 1 탐침을 연결하는 단계; 및
    상기 자기선에 상기 전기 용량 계측기의 제 2 탐침을 연결하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
  40. 제 38 항에 있어서,
    상기 임계치는 약 1 pF를 포함하는 것을 특징으로 하는 상거래 카드에서 정전기 방전 시험을 수행하는 방법.
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