CN101689242B - 对支付卡进行静电放电测试的方法 - Google Patents

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Abstract

公开了对交易卡(405)进行静电放电测试的方法。把交易卡放在绝缘表面(410)上。把接地探针(415)放在交易卡上的第一位置。把放电探针(420)充电到已知电压电平。随后使放电探针在交易卡上的第二位置放电。从接地探针记录放电波形，至少根据与基准电压电平相比的已知电压电平的值，来分配通过状态和失败状态之一。所述第一位置和第二位置都选自交易卡上的多个区域。

Description

对支付卡进行静电放电测试的方法
相关申请数据
本申请要求2007年1月19日提交的美国临时申请序列号No.60/885,764的优先权，其整个内容在此通过引用而并入。
背景技术
静电放电(ESD，electrostatic discharge)是当存储在电绝缘或非绝缘物体上的过多电荷流向电位不同的物体(比如地)时发生的突然的瞬间电流。在固态电子器件中，ESD是一个严重的问题，尤其是当瞬间的有害电流对电子设备造成损坏时更是如此。
能够累积电荷的一种物体是交易卡，比如信用卡、借记卡、智能卡、非接触卡、会员卡、支付卡等等。这种卡一般与诸如销售点终端之类的电子设备接触。因此，如果在交易卡上积累了电荷，那么从交易卡到电子设备的静电放电会损害电子设备。在一些情况下，ESD会导致电子设备不能完成支付交易。
这种卡还能够充当具有不同电位的物体，比如用户的身体和支付卡读卡器之间的导体。交易卡一般与诸如销售点终端之类的电子设备接触，并形成带电的用户身体和读卡器之间的导体。从而，如果在用户身体和/或其它物体上产生了电荷，那么在交易卡与读卡器接触的时候，会产生通过用户的皮肤、交易卡和交易卡的导电元件从用户到电子设备的静电放电。这种静电放电会损坏电子设备。在一些情况下，静电放电会导致电子设备暂时地或永久地不能完成支付交易。
从而，确定交易卡发出的ESD的量的方法以及确定放电电荷的量是否会对电子设备造成损坏的方法将是合乎需要的。
发明内容
在说明本发明的实施例、方法和材料之前，要理解本发明并不局限于描述的特定实施例、方法和材料，因为它们是可以变化的。另外要明白，说明书中使用的术语只是用于描述特定的实施例，并不意图限制本发明的范围。
必须注意的是，在这里和附加权利要求中使用的单数形式“一个”包括一个以上，除非上下文明确地另有说明。从而，例如，一张“卡”指的是一张或多张卡，及其为本领域技术人员已知的等同物等等。除非另有说明，否则这里使用的所有技术和科学术语的含义与本领域技术人员通常理解的意义相同。尽管与这里所述的方法、材料和设备类似或等同的任意方法、材料和设备可用于实践或测试实施例，不过现在说明的是优选的方法、材料和设备。这里提及的所有出版物都整体通过引用而并入。这里的一切都不应被理解为承认所述实施例无权早于现有发明的这种公开。这里使用的术语“包含”意味“包括，但不限于”。
在一个实施例中，对交易卡进行静电放电测试的方法包括：把交易卡放在绝缘表面上；把接地探针放在交易卡上的第一位置；把放电探针充电到已知电压电平；在交易卡上的第二位置使放电探针放电；从接地探针记录放电波形；以及至少根据与基准电压电平相比的已知电压电平的值，向交易卡分配通过状态和失败状态之一。所述第一位置和第二位置都可选自交易卡上的多个区域。
在一个实施例中，对交易卡进行静电放电测试的方法包括：把具有磁条的交易卡放在绝缘表面上；把接地探针沿交易卡的第一边缘放在磁条上；把放电探针充电到已知电压电平；沿交易卡的与第一边缘相对的第二边缘，使放电探针在磁条上放电；从接地探针记录放电波形；以及至少根据放电波形是否大体上类似于基准放电波形，向交易卡分配通过状态和失败状态之一。
在一个实施例中，对交易卡进行静电放电测试的方法包括：将包含外壳和一个或多个引脚的读取头连接到地电平；把放电探针充电到已知电压电平；在交易卡上的第一位置，使放电探针对测试人员拿着的交易卡放电，从而把交易卡和测试人员充电到已知电压电平；使交易卡在交易卡上的第二位置与读取头接触；从接地探针记录放电波形；以及至少根据与基准电压电平相比的已知电压电平的值，向交易卡分配通过状态和失败状态之一。所述第一位置和第二位置都可选自交易卡上的多个区域。
在一个实施例中，对交易卡进行静电放电测试的方法包括：把放电探针充电到已知电压电平；在交易卡上的第一位置，使放电探针对测试人员拿着的交易卡放电，从而把交易卡和测试人员充电到已知电压电平；使交易卡在交易卡上的第二位置与终端的读取头接触；确定终端是否出现异常，如果是，那么至少根据与基准电压电平相比的已知电压电平的值，向交易卡分配通过状态和失败状态之一。
在一个实施例中，对交易卡进行静电放电测试的方法包括：把放电探针充电到已知电压电平；在交易卡上的第一位置，使放电探针对测试人员拿着的交易卡放电，从而把交易卡和测试人员充电到已知电压电平；使交易卡在交易卡上的第二位置与终端的读取头接触；在读取头记录峰值电压和电压波形；以及至少根据与基准电压电平相比的已知电压电平的值，向交易卡分配通过状态和失败状态之一。
在一个实施例中，对交易卡进行静电放电测试的方法包括：把交易卡充电到已知电压电平；使交易卡刷过终端；以及根据是否出现异常，向交易卡分配通过状态和失败状态之一。
在一个实施例中，对交易卡进行静电放电测试的方法包括：把交易卡上的磁条充电到已知电压电平；使交易卡刷过终端；以及根据是否出现异常，向交易卡分配通过状态和失败状态之一。
在一个实施例中，对交易卡进行静电放电测试的方法包括：使交易卡和导电材料摩擦；使交易卡刷过终端；以及根据是否出现异常，向交易卡分配通过状态和失败状态之一。
在一个实施例中，对交易卡进行静电放电测试的方法包括：把交易卡放在金属面上，使得交易卡的第一侧接触金属面，以及具有磁条并且与第一侧相对的第二侧不接触金属面；确定交易卡的电容；以及根据所述电容是否超过阈值，向交易卡分配通过状态和失败状态之一。
附图说明
根据下面的说明和附图，本发明的各个方面、特征、效益和优点将是显而易见的，其中：
图1A和1B描述按照实施例的卡边缘测量的例证测试区。
图2描述按照实施例的卡组件测量的例证测试区。
图3描述按照实施例的卡边缘-组件测量的例证测试区。
图4描述按照实施例，进行测试的第一例证测试设置。
图5描述按照实施例，进行ESD波形和介电击穿幅度测试的例证方法。
图6描述按照实施例，进行测试的第二例证测试设置。
图7描述按照实施例，进行ESD波形和电导率大小测试的例证方法。
图8描述按照实施例，进行测试的第三例证测试设置。
图9描述按照实施例，对接地读取头进行ESD测试的例证方法。
图10A和10B描述按照实施例，进行测试的第四例证测试设置。
图11描述按照实施例，进行经由人体的模拟放电测试的例证方法。
图12A和12B描述按照实施例，进行测试的第五例证测试设置。
图13描述按照实施例，进行电导率测试的例证方法。
图14描述按照实施例，进行经由充电板的摩擦生电模拟测试的例证方法。
图15描述按照实施例，进行充电卡模拟测试的例证方法。
图16描述按照实施例，进行卡充电电平测试的例证方法。
图17描述按照实施例，进行卡电容和放电能量测试的例证方法。
具体实施方式
这里使用的“未识别组件”指的是交易卡上的以前未对其进行ESD测试的组件。
可进行一个或多个测试，以帮助识别由交易卡，尤其是带有未识别组件和元件的那些交易卡造成的支付交易的任何中断。另外，这样的测试可识别当把交易卡插入终端中时可能导致的潜在损坏。在一个实施例中，交易卡的表现出与磁条不同的电气属性的任意元件可被看作对该测试来说的未识别组件。可被看作未识别组件的交易卡组件可包括(但不限于)卡的自供电电路、显示器、传感器、全息图、或者交易卡中或交易卡上的任何其它可视组件。
所述一种或多种测试提供用于识别由带有未识别组件的交易卡在设备正常过程中造成的任何交易中断的基础。测试可在交易卡上的ESD事件期间的电气属性方面，比较带有未识别元件的交易卡的性能和碳基磁条卡的性能。在一个实施例中，如果带有未识别元件的交易卡的性能基本上与碳基磁条卡相同，那么可认为带有未识别元件的交易卡通过了测试。
例如，可以使用三种测试设置来测试新的交易卡：1)经由专门设计的不包括终端的测试设置的ESD模型和量值比较，2)利用终端读取头进行的ESD量值和极性比较，以及3)确定当交易卡摩擦另一张卡、皮革、尼龙、棉布和/或其它常见衣服材料时在交易卡上形成的电压电平，以提供在正常使用期间在交易卡上形成的电荷的电压电平和极性的指示。
根据交易卡在多种测试条件下的性能，可以提供关于交易卡的ESD事件发生的预期结果的建议。例如，如果对于所有测试，交易卡的性能基体上与碳基磁条卡相似，那么可认为交易卡不太可能引起破坏性的ESD事件。碳基磁条卡的性能可被选作基准点，因为在超过30年的使用碳基磁条卡的期间，没有报告起因于ESD的终端故障事件。
进行ESD测试的模型可以包括下述中的一个或多个：1)IEC61000-4-2(握有工具的人-150pF/330Ohms)，2)ANSI/ESD STM5.1-2001(人体模型-100pF/1500Ohms)，3)ANSI/ESD STM 5.2-1999(机器模型-200pF/0Ohms)，以及4)ANSI/ESD STM 5.3(带电设备模型-条电容/0Ohms)。
ISO 7810是定义身份证或标识卡的三种形状因数的国际标准：ID-1(约8.56cm×约5.4cm)，ID-2(约10.5cm×约7.4cm)，以及ID-3(约12.5cm×约8.8cm)。ID-1形状因数通常被用于交易卡，不过其它卡形状因数，包括未在ISO 7810中定义的形状因数也可包括在本发明的范围之内。
为了进行测试，可在交易卡上定义不同的区域。第一区域(“区域1”)可识别在正常刷卡或颠倒(upside-down)刷卡期间，磁条终端读取头直接接触交易卡的“不安全”区域。第一区域也可表示当刷卡时用户持卡的部分。这样，可沿着交易卡的正面上离卡的第一长边1cm并且离卡的第一短边1cm的第一点以及离卡的第一长边1cm并且离卡的第二短边1cm的第二点之间的线进行测量(“测试区1F”)。也可测量由从卡的第二长边测量的点定义的类似线(“测试区2F”)。另外，可在卡的背面进行测量(“测试区1B和2B”)。图1A和1B中描述了上面定义的区域1的例证测试区(即，测试区1F、2F、1B和2B)。
对于交易卡可定义安全区。安全区可以是离两个长边均至少1.9cm并且离两个短边均至少1.9cm的区域，如图2中所示。如果未识别组件至少部分位于安全区之外，那么可以定义两个另外的区域。
对于关于组件的测量，可以定义第二区域(“区域2”)。第二区域可被定义成从在组件的第一短边内约0.5cm的第一点到在组件的第二短边内约0.5cm的第二点的线。在一个实施例中，第一点和第二点可以近似在组件的两个长边之间的一半处。图2中描述了例证的第二区域。
第三区域(“区域3”)可由关于区域1定义的点和关于区域2定义的点定义。第三区域可包括由区域1的各个点和区域2的各个点的每种组合定义的线(总共8条线)。图3中描述了定义第三区域的一组例证线。
可以使用用于测试的另外和/或备选区域。例如，可以选择到交易卡的边缘距离不同的点。另外，对于一个或多个区域中的每一个，可以选择更多或更少的点。根据本公开，这样的修改对本领域的技术人员来说是显而易见的。
对于下面说明的每种测试，要求满足一个或多个测试条件，以便保证进行的测试的再现性和可靠性。例如，要求测试环境的相对湿度等于或小于约20％。此外，待测试的交易卡(以及用于通过和/或失败条件的任何对照卡)在相对湿度约12％的环境中被保存至少24小时，同时在卡周围进行强制通风。要求测试人员站在绝缘基体上，比如聚四氟乙烯(E.I.du Pont de Nemours and Co.的
Figure G2008800066444D00071
)、聚甲基丙烯酸甲酯(Rohm and Haas Co.的
Figure G2008800066444D00072
)、和/或聚乙烯泡沫，以防止接地。可以施加另外和/或备选的测试条件。
可用多个测试交易卡和多个对照交易卡进行每个测试。测试交易卡可包括被测试的交易卡设计。对照交易卡可包括用作通过标准的基准的碳基磁条卡。在一个实施例中，对照交易卡可包括已知工作失败的交易卡，比如在与测试情况相同或相似的情况下的工作期间，放出造成终端设备失灵的量的静电能量的特别制造的交易卡。
在一个实施例中，可以为测试定义一个或多个通过标准。例如，一种标准可以是当被测试的交易卡被充电到约5kV时，交易卡的放电电流必须小于约500mA。另一标准要求被测试的交易卡具有小于约1pF的电容。又一标准可以是被测试的交易卡的动态电阻必须大于约1kΩ。再一标准可能要求来自被测试交易卡的放电能量小于约2μJ。另一标准要求在充电和刷卡测试期间使用的ESD敏感终端上不发生击穿。另一标准要求在测试完成之后，所有被测试卡，包括所有可视组件和/或交易接口功能(如果有的话)仍然可使用。对本领域的普通技术人员来说，在本发明的范围内显然可以使用另外和/或备选的标准，包括适用的不同数值。
图4描述按照一个实施例进行测试的第一例证测试设置。如图4中所示，待测试卡405可被放在绝缘层410上。接地探针415可在第一测试点放在卡405上，以及放电探针420可在第二测试点放在卡上。接地探针415可与地连接，并且可用于当发生ESD事件时，捕获电流波形(如果有的话)。放电探针420可被用于以已知的电压电平产生ESD事件。
图5描述按照一个实施例，进行ESD波形和介电击穿幅度测试的例证方法。如图5中所示，可在测试之前、测试期间和/或测试之后，记录505环境条件，比如相对湿度和温度。卡405可被放在绝缘表面410上，使得一个磁条边缘在第一测试点接触510接地探针415。可按照人体模型配置515放电探针420。在一个实施例中，放电探针420可具有可调的电压电平。例如，放电探针420最初可被设置520成已知电压电平，比如约500V。放电探针420随后在第二测试点被放电525。在一个实施例中，可根据例如由区域1、2和3定义的测试区之一，来选择第一和第二测试点。
在从放电探针420静电放电期间，可检查530地线(即，接地探针415)，以确定535是否发生放电事件(即，确定在放电探针的放电期间，电流水平是否不为零)。如果发生放电事件，那么可记录540电压电平(VESD)、峰值电流和/或电流的放电波形。否则，可把放电探针20的电压电平增大545到不同的电压电平，比如约1kV、5kV、10kV、15kV或20kV。在本发明的范围内，可以使用放电探针420的备选和/或另外的电压电平。在放电探针420的电压电平被增大545之后，放电探针可再次被放电525。在一个实施例中，在以增大的电压电平使放电探针420放电525之前，要求经过一段时间，比如至少约2分钟。
如果在最大测试电压电平下，发生了放电事件或者未发生放电事件，那么可选择550新卡405进行测试。在一个实施例中，可以测试多个测试卡和多个对照卡。在一个实施例中，多个对照卡包括多个通过标准卡和多个失败标准卡。在一个实施例中，可对由每个卡405的区域1、2和3定义的每个测试区进行测试。在一个实施例中，如果测试卡的VESD与通过标准卡的VESD相当，以及如果在测试卡的放电波形和通过标准卡的放电波形之间未观察到明显差异，那么可认为测试卡405通过了测试。对本领域的普通技术人员来说，在本发明的范围之内显然可以使用另外和/或备选的标准，包括适用的不同数值。
图6描述按照一个实施例，进行测试的第二例证测试设置。如图6中所示，待测试卡405可被放在绝缘层410上。接地探针415在第一测试点放在卡405上，放电探针420在第二测试点放在卡上。接地探针415可与地连接，并可用于捕获当发生ESD事件时的电流波形(如果有的话)。放电探针420可被用于以已知的电压电平产生ESD事件。第一测试点可以沿着卡405的边缘并且接触卡的磁条。第二测试点可以沿着卡405的对边并接触卡的磁条。
图7描述按照一个实施例，进行ESD波形和电导率大小测试的例证方法。如图7中所示，可在测试之前、测试期间和/或测试之后，记录705环境条件，比如相对湿度和温度。卡405可被放在绝缘表面410上，使得一个磁条边缘在第一测试点接触710接地探针415。可按照人体模型配置715放电探针420。在一个实施例中，放电探针420的电阻是可调的。例如，放电探针420最初可被设置成720约1500Ω。另外，放电探针420的电压电平可被设置成720约5kV。放电探针420随后在第二测试点被放电725。通过在接地探针415检查电流波形，可观察730放电电流。在一个实施例中，可确定由从放电探针420的ESD放电引起的峰值电流和电流波形。通过把放电探针420的电压电平除以峰值电流(安培)，可计算735动态电阻。随后，以对于放电探针420来说约0Ω的电阻重复测试。在本发明的范围之内可以使用放电探针420的另外和/或备选电阻水平和电压电平。可在每个电阻水平对每个待测试卡405重复进行测试。
图8描述按照一个实施例进行测试的第三例证测试设置。如图8中所示，待测试卡405可被放在绝缘层410上。终端读取头805可在第一测试点放在卡405上，放电探针420可在第二测试点放在卡上。终端读取头805可经地线接地，并可用于捕获当发生ESD事件时的电流波形(如果有的话)。例如，可从终端读取头805的引脚和外壳捕获电流波形。放电探针420可被用于以已知的电压电平产生ESD事件。
图9描述按照一个实施例，对接地读取头进行ESD测试的例证方法。如图9中所示，可在测试之前、测试期间和/或测试之后，记录905环境条件，比如相对湿度和温度。卡405可被放在绝缘表面410上。放电探针420的电压电平是可调的。例如，放电探针420最初被设置成910约-5kV。当把放电探针420放在卡405上时，放电探针可被放置915在第一测试点。当放电探针420被放置915在第一测试点时，测试人员可握着卡405并接触绝缘表面410，以把卡和测试人员充电到相同的输出电位。终端读取头805随后可在第二测试点被放置920在卡405上。在一个实施例中，例如可根据由区域1、2和3定义的测试区之一，来选择第一和第二测试点。
在从放电探针420放电925期间，可检查930与终端读取头805的外壳连接的地线，以确定935是否发生放电事件(即，确定在放电探针的放电期间，电流水平是否不为零)。如果发生了放电事件，那么可记录940终端读取头805的引脚处的电压电平(VESD1)、峰值电流和/或电流的放电波形，和/或终端读取头805的外壳的电压电平(VESD2)。否则，放电探针420的电压电平被增大945到不同的电压电平，比如约1kV、2.5kV、5kV或10kV。在本发明的范围内，也可以使用放电探针420的备选和/或其它电压电平。在增大945放电探针420的电压电平之后，放电探针可再次被放电925。在一个实施例中，每个测试可进行多次。在一个实施例中，在进行测试或者在以增大的电压电平进行测试之前，卡405可被电离。
如果在最大测试电压下发生了放电事件，或者未发生放电事件，那么可选择950新卡405进行测试。在一个实施例中，可以测试多个测试卡和多个对照卡。在一个实施例中，多个对照卡可包括多个通过标准卡和多个失败标准卡。在一个实施例中，可对由每个卡405的区域1、2和3定义的每个测试区进行测试。在一个实施例中，如果测试卡405的VESD1与通过标准卡的VESD1相当，如果测试卡的VESD2与通过标准卡的VESD2相当，以及如果在测试卡的放电波形与通过标准卡的放电波形之间未观察到明显的差异，那么可认为测试卡405通过了测试。对本领域的普通技术人员来说，在本发明的范围之内显然可以使用另外和/或备选的标准，包括适用的不同数值。
图10A和10B描述按照一个实施例，进行测试的第四例证测试设置。如图10A和10B中所示，在测试期间，卡405可被插入读卡器(终端)1005中。在使卡刷过终端1005之前，可利用放电探针420对卡405充电。第一测试点，比如卡405上的卡磁条1010上的第一测试点可接触终端读取头1015，以确定卡上的电荷是否会造成终端1005发生异常。在一个实施例中，当被充电时和在测试期间，卡405可由测试人员拿着。
图11描述按照一个实施例进行经由人体的模拟放电测试的例证方法。如图11中所示，可在测试之前、测试期间和/或测试之后，记录1105环境条件，比如相对湿度和温度。放电探针420可被充电1110到初始电压电平，比如约-500V。测试人员随后可握着1115卡405，使得测试人员接触卡的表面和边缘。测试人员随后接触1120卡405与放电探针420，以对卡静电充电。在卡405被充电之后，可使放电探针420与卡脱离接触，卡可被插入终端1005中，使得卡的至少一部分磁条1010接触1125终端读取头1015。测试人员可确定1130当卡405接触1125终端读取头1015时，终端1005是否重新启动、重新初始化、冻结或表现出任何其它异常。如果是，那么可记录1135卡405被充电到的电压(VESD)。否则，卡405的电压电平可被增大1140到不同的电压电平，比如大约1kV，2.5kV，5kV或10kV，并重复上面的测试。在一个实施例中，在对卡进行后续的重复测试之前，卡405可被电离。在一个实施例中，当被充电到特定电压电平时，卡405可被测试多次。在一个实施例中，可以测试1145多个卡405，比如一个或多个待测试卡、一个或多个通过标准卡和/或一个或多个失败标准卡。如果测试卡的VESD与通过标准卡的VESD相当，那么可认为测试卡405通过测试。对本领域的普通技术人员来说，在本发明的范围内显然可以使用另外和/或备选的标准，包括适用的不同数值。
图12A和12B描述按照一个实施例进行测试的第五例证测试设置。如图12A和12B中所示，在测试期间，卡405被插入终端1005中。在使卡刷过终端1005之前，可利用放电探针420对卡405充电。第一测试点，比如卡405上的卡磁条1010上的第一测试点可接触放置在终端1005内的接地探针415。在一个实施例中，当被充电时以及在测试期间，卡405可由测试人员拿着。
图13描述按照一个实施例，进行经由人体的模拟放电测试的例证方法。如图13中所示，可在测试之前、测试期间和/或测试之后，记录1305环境条件，比如相对湿度和温度。放电探针420可被充电1310到初始电压电平，比如约-500V。测试人员随后可握着1315卡405，使得测试人员接触卡的表面和边缘。测试人员随后接触1320卡405与放电探针420，以对卡静电充电。在卡405被充电之后，可使放电探针420与卡脱离接触，卡可被插入终端1005中，使得卡的磁条1010的一部分接触1325接地探针415。可从接地探针415记录1330峰值电压和电压和/或电流波形。卡405的电压电平可被增大1335到不同的电压电平，比如大约1kV，2.5kV，5kV或10kV，并重复上面的测试。在一个实施例中，可在增大的电压下重复测试，直到击穿为止。在一个实施例中，在对卡进行后续的重复测试之前，卡405可被电离。在一个实施例中，在特定电压下，卡405可被测试多次。在一个实施例中，可以测试1340多个卡405，比如一个或多个待测试卡、一个或多个通过标准卡和/或一个或多个失败标准卡。如果测试卡的VESD与通过标准卡的VESD相当，那么可认为测试卡405通过测试。对本领域的普通技术人员来说，在本发明的范围内显然可以使用另外和/或备选的标准，包括适用的不同数值。
图14描述按照一个实施例，进行经由充电板的摩擦生电模拟测试的例证方法。如图14中所示，可在测试之前、测试期间和/或测试之后，记录1405环境条件，比如相对湿度和温度。例如利用电晕充电设备(未示出)，卡405可被充电1410到某一电压电平，比如约30kV。随后可在终端中刷过1415卡405。测试人员可确定1420当卡405被刷过1415时，终端是否重新启动、重新初始化、冻结或表现出任何其它异常。终端表现出异常(如果有的话)的卡电压电平可被确定1425。如果终端表现出异常，那么可认为1430测试卡405未通过测试。否则，可认为测试卡通过测试1435。在一个实施例中，在重复测试期间，卡405可被电离。可利用上述过程多次测试卡405。在一个实施例中，可以测试1440多个卡405，比如一个或多个待测试卡、一个或多个通过标准卡和/或一个或多个失败标准卡。对本领域的普通技术人员来说，在本发明的范围内显然可以使用另外和/或备选的标准，包括适用的不同数值。
图15描述按照一个实施例，进行充电卡模拟测试的例证方法。如图15中所示，可在测试之前、测试期间和/或测试之后，记录1505环境条件，比如相对湿度和温度。卡405上的磁条可被充电1510到初始电压电平，比如约-500V。随后可在终端中刷过1515卡。测试人员可确定1520当卡405被刷过1515时，终端是否重新启动、重新初始化、冻结或表现出任何其它异常。如果终端出现异常，那么发生异常的磁条电压可被记录，并且可认为1525卡405失败。在刷卡1515之后，卡405可被电离。在特定电压电平下，可对每张卡405重复进行多次测试。在再次进行测试之前，卡405上的磁条可被充电1530到不同的电压，比如大约-1kV、-2.5kV、-5kV、-10kV、500V、1kV、2.5kV、5kV或10kV。如果终端未表现出任何异常，那么可认为1535测试卡405通过了测试。在一个实施例中，可以测试1540多个卡405，比如一个或多个待测试卡、一个或多个通过标准卡和/或一个或多个失败标准卡。对本领域的普通技术人员来说，在本发明的范围内显然可以使用另外和/或备选的标准，包括适用的不同数值。
图16描述按照一个实施例，进行卡充电电平测试的例证方法。如图16中所示，可在测试之前、测试期间和/或测试之后，记录1605环境条件，比如相对湿度和温度。通过使卡405摩擦例如(但不限于)另一张卡、皮革、尼龙、棉布和/或一种或多种其它材料，卡405可被充电1610。随后，可在终端中刷过1615卡。终端可包括仿真读取头。静电放电波形可被捕获1620，以及峰值放电电流可被记录1625。如果确定1630测试卡405的峰值放电电流与通过标准卡基本相似和/或基本不同于失败标准卡，那么可认为1635测试卡通过了测试。否则，可认为1640测试卡405失败。在一个实施例中，可以测试1645多个卡405，比如一个或多个待测试卡、一个或多个通过标准卡和/或一个或多个失败标准卡。在一个实施例中，每张卡405可被测试多次。对本领域的普通技术人员来说，在本发明的范围内显然可以使用另外和/或备选的标准，包括适用的不同数值。
图17描述按照一个实施例，进行卡电容和放电能量测试的例证方法。如图17中所示，可在测试之前、测试期间和/或测试之后，记录1705环境条件，比如相对湿度和温度。卡405可被这样放置1710，使得卡的不包括磁条的一侧接触平坦金属面。电容计(未示出)可与平坦金属面和卡405的磁条连接，以测量1715卡的电容。利用下述公式 E = CV 2 2 = 6.25 × 10 6 C 可计算1720卡405的放电能量，其中C是卡的电容。随后可确定1725卡电容是否小于阈值，比如约1pF。如果是，那么可认为1730测试卡405通过测试。否则，认为测试卡405失败1735。可对每张待测试卡重复1740该测试。对本领域的普通技术人员来说，在本发明的范围内显然可以使用另外和/或备选的标准，包括适用的不同数值。
要认识到上面公开的特征和功能，以及其它特征和功能，或者它们的备选物可被组合到许多不同系统或应用中。另外，要认识到本领域的技术人员此后能够做出各种目前未预见到的或者意料之外的备选方案，修改，变化或改进。这样的备选方案，修改，变化和改进也包括在下面的权利要求中。

Claims (20)

1.一种对交易卡进行静电放电测试的方法，所述方法包括：
把交易卡放在绝缘表面上；
把接地探针放在交易卡上的第一位置；
把放电探针充电到已知电压电平；
使放电探针在交易卡上的第二位置放电；
从接地探针记录交易卡的放电电压电平和放电波形；以及
至少根据与基准电压电平相比的所述放电电压电平的值以及放电波形是否与基准放电波形基本相似，向交易卡分配通过状态和失败状态之一，
其中，所述第一位置和第二位置都选自交易卡上的多个区域；以及
其中，所述基准电压电平和基准放电波形是碳基磁条卡的所述放电电压电平和所述放电波形。
2.按照权利要求1所述的方法，其中，
所述第一位置包括下述之一：
交易卡的磁条上离交易卡的第一边缘约0.5cm的第一点，
交易卡上离交易卡的第一边缘约1cm并且离交易卡的第二边缘约1cm的第二点，
从交易卡上的一个组件的第一边缘向内约0.5cm的第三点；以及
所述第二位置包括下述之一：
磁条上离交易卡的第三边缘约0.5cm的第四点，其中，交易卡的第三边缘与交易卡的第一边缘相对，
交易卡上离交易卡的第二边缘约1cm并且离交易卡的第三边缘约1cm的第五点，以及
从所述组件的第二边缘向内约0.5cm的第六点，其中，所述组件的第二边缘与所述组件的第一边缘相对。
3.按照权利要求1所述的方法，其中，所述已知电压电平包含介于约500伏和约20000伏之间的电压电平。
4.按照权利要求3所述的方法，其中，所述放电探针具有约100pF的电容和约1500欧姆的电阻。
5.一种对交易卡进行静电放电测试的方法，所述方法包括：
把交易卡放在绝缘表面上，其中，所述交易卡包含磁条；
沿交易卡的第一边缘把接地探针放在磁条上；
把放电探针充电到已知电压电平；
使放电探针沿交易卡的第二边缘在磁条上放电，其中，第二边缘与第一边缘相对；
从接地探针记录放电波形；以及
至少根据放电波形是否基本类似于基准放电波形，向交易卡分配通过状态和失败状态之一；
其中，所述基准放电波形基于在碳基磁条卡失败的电压电平下碳基磁条卡所表现的波形。
6.按照权利要求5所述的方法，其中，所述已知电压电平包含约5000伏。
7.按照权利要求5所述的方法，其中，所述放电探针具有约0欧姆的电阻。
8.按照权利要求5所述的方法，其中，所述放电探针具有约1500欧姆的电阻。
9.一种对交易卡进行静电放电测试的方法，所述方法包括：
使读取头连接到地电压电平，其中，所述读取头包含外壳和一个或多个引脚；
把放电探针充电到已知电压电平；
使放电探针在交易卡上的第一位置对测试人员拿着的交易卡放电，从而把交易卡和测试人员充电到已知电压电平；
使交易卡在交易卡上的第二位置与读取头接触；
从读取头记录交易卡的放电电压电平和放电波形；以及
至少根据与基准电压电平相比的所述放电电压电平的值以及放电波形是否与基准放电波形基本相似，向交易卡分配通过状态和失败状态之一，
其中，所述第一位置和第二位置都选自交易卡上的多个区域；
其中，所述基准电压电平和基准放电波形是碳基磁条卡的所述放电电压电平和所述放电波形。
10.按照权利要求9所述的方法，其中，从读取头记录放电波形包括：从读取头的至少一个引脚记录放电波形。
11.按照权利要求9所述的方法，其中，从读取头记录放电波形包括：从读取头的外壳记录放电波形。
12.按照权利要求9所述的方法，其中：
所述第一位置包括下述之一：
交易卡的磁条上离交易卡的第一边缘约0.5cm的第一点，
交易卡上离交易卡的第一边缘约1cm并且离交易卡的第二边缘约1cm的第二点，
从交易卡上的一个组件的第一边缘向内约0.5cm的第三点；以及
所述第二位置包括下述之一：
磁条上离交易卡的第三边缘约0.5cm的第四点，其中，交易卡的第三边缘与交易卡的第一边缘相对，
交易卡上离交易卡的第二边缘约1cm并且离交易卡的第三边缘约1cm的第五点，以及
从所述组件的第二边缘向内约0.5cm的第六点，其中，所述组件的第二边缘与所述组件的第一边缘相对。
13.按照权利要求9所述的方法，其中，所述已知电压电平包含介于约-5000伏和约10000伏之间的电压电平。
14.一种对交易卡进行静电放电测试的方法，所述方法包括：
把放电探针充电到已知电压电平；
使放电探针在交易卡上的第一位置对测试人员拿着的交易卡放电，从而把交易卡和测试人员充电到已知电压电平；
使交易卡在交易卡上的第二位置与用于对交易卡进行读取的终端的读取头接触；
确定终端是否出现异常；以及
如果出现异常，那么至少根据与基准电压电平相比的已知电压电平的值，向交易卡分配通过状态和失败状态之一；
其中，所述基准电压电平基于碳基磁条卡失败的电压。
15.按照权利要求14所述的方法，其中，所述异常包含重新启动终端、重新初始化终端、和暂停终端的操作中的一个或多个。
16.按照权利要求14所述的方法，其中，所述第一位置包含交易卡的磁条上离交易卡的第一边缘约0.5cm的第一点，其中，所述第二位置包含磁条上离交易卡的第二边缘约0.5cm的第二点，其中，所述交易卡的第二边缘与交易卡的第一边缘相对。
17.按照权利要求14所述的方法，其中，所述已知电压电平包含介于约-1000伏和约10000伏之间的电压电平。
18.一种对交易卡进行静电放电测试的方法，所述方法包括：
把放电探针充电到已知电压电平；
使放电探针在交易卡上的第一位置对测试人员拿着的交易卡放电，从而把交易卡和测试人员充电到已知电压电平；
使交易卡在交易卡上的第二位置与用于对交易卡进行读取的终端的接地探针接触；
在接地探针记录峰值电压和电压波形；以及
至少根据与基准电压电平相比的所述峰值电压的值，向交易卡分配通过状态和失败状态之一；
其中，所述基准电压电平是碳基磁条卡的所述峰值电压。
19.按照权利要求18所述的方法，其中，所述第一位置包含交易卡的磁条上离交易卡的第一边缘约0.5cm的第一点，其中，所述第二位置包含磁条上离交易卡的第二边缘约0.5cm的第二点，其中，所述交易卡的第二边缘与交易卡的第一边缘相对。
20.按照权利要求18所述的方法，其中，所述已知电压电平包含介于约-1000伏和约10000伏之间的电压电平。
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