KR20090068886A - Connecting structure using anisotropic conductive film and checking method of connecting condition thereof - Google Patents
Connecting structure using anisotropic conductive film and checking method of connecting condition thereof Download PDFInfo
- Publication number
- KR20090068886A KR20090068886A KR1020070136685A KR20070136685A KR20090068886A KR 20090068886 A KR20090068886 A KR 20090068886A KR 1020070136685 A KR1020070136685 A KR 1020070136685A KR 20070136685 A KR20070136685 A KR 20070136685A KR 20090068886 A KR20090068886 A KR 20090068886A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electrodes
- connected member
- conductive film
- anisotropic conductive
- electrode
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1343—Electrodes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/137—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells characterised by the electro-optical or magneto-optical effect, e.g. field-induced phase transition, orientation effect, guest-host interaction or dynamic scattering
- G02F1/139—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells characterised by the electro-optical or magneto-optical effect, e.g. field-induced phase transition, orientation effect, guest-host interaction or dynamic scattering based on orientation effects in which the liquid crystal remains transparent
- G02F1/1393—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells characterised by the electro-optical or magneto-optical effect, e.g. field-induced phase transition, orientation effect, guest-host interaction or dynamic scattering based on orientation effects in which the liquid crystal remains transparent the birefringence of the liquid crystal being electrically controlled, e.g. ECB-, DAP-, HAN-, PI-LC cells
- G02F1/1395—Optically compensated birefringence [OCB]- cells or PI- cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B5/00—Non-insulated conductors or conductive bodies characterised by their form
- H01B5/14—Non-insulated conductors or conductive bodies characterised by their form comprising conductive layers or films on insulating-supports
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Combinations Of Printed Boards (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체에 관한 것으로, 보다 상세하게는 단순한 구성에 의해 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태를 용이하게 검사할 수 있고, 품질 및 신뢰성을 제고할 수 있는 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체 및 그의 접속상태 검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to a bonded structure using an anisotropic conductive film, and more particularly to a connection structure of a bonded structure using an anisotropic conductive film by a simple configuration, an anisotropic conductive can improve the quality and reliability A connection structure using a film and a method for inspecting the connection state thereof.
일반적으로 이방성 도전 필름(ACF, An-isotropic Conductive Film)은 금속 코팅된 플라스틱이나 금속입자 등 도전성 입자를 분산시킨 필름모양의 접착제로서, 피접속 부재의 재질이 특수하거나 신호배선의 피치가 세밀하여 부재와 부재를 솔더링(soldering)의 방식으로 부착할 수 없는 경우 등의 전기적 접착접속에 광범위하게 이용되고 있다.In general, an anisotropic conductive film (ACF) is a film-shaped adhesive in which conductive particles such as metal-coated plastic or metal particles are dispersed, and the member is made of a special material to be connected or a fine pitch of signal wiring. It has been widely used in electrical adhesive connection, such as when the and members cannot be attached by soldering.
상기와 같은 이방성 도전 필름은 대표적으로 LCD모듈에서 액정 표시 패 널(LCD), 인쇄회로기판(PCB) 및 드라이버 IC회로 등을 패키징하는 접속재료로 사용된다.The anisotropic conductive film as described above is typically used as a connecting material for packaging a liquid crystal display panel (LCD), a printed circuit board (PCB) and a driver IC circuit in the LCD module.
예컨대, LCD모듈에는 TFT(Thin Film Transistor) 패턴들을 구동시키기 위해서 복수의 드라이버 IC가 실장 된다. 드라이버 IC를 실장하는 방식은 크게, 별도의 구조물 없이 LCD패널의 게이트 영역과 데이터 영역에 실장하는 방식인 COG(Chip On Glass) 마운팅 방식과, 드라이버 IC를 탑재한 TCP(Tape Carrier Package)를 통해 LCD패널의 게이트 영역과 데이터 영역에 간접적으로 드라이버 IC를 실장하는 방식인 TAB(Tape Automated Bonding) 마운팅 방식으로 나뉜다.For example, a plurality of driver ICs are mounted in the LCD module to drive TFT (Thin Film Transistor) patterns. The driver IC is largely mounted on the LCD panel through a COG (Chip On Glass) mounting method, which is a method of mounting the LCD panel in a gate area and a data area without a separate structure, and a tape carrier package (TCP) equipped with a driver IC. It is divided into TAB (Tape Automated Bonding) mounting method, which indirectly mounts a driver IC in the gate area and data area of the panel.
그런데, 상기 드라이버 IC소자 측의 전극과 LCD패널 측의 전극은 미소한 피치 간격으로 형성되어 있기 때문에 어느 실장 방식을 채용한다 하더라도 납땜 등의 수단을 사용하는 것은 곤란하다. 이와 같은 이유로 드라이버 IC 측의 전극과 패널 측의 전극을 전기적으로 접속하기 위하여 이방성 도전 필름이 주로 사용된다.By the way, since the electrode on the driver IC element side and the electrode on the LCD panel side are formed at minute pitch intervals, it is difficult to use means such as soldering even if any mounting method is employed. For this reason, anisotropic conductive films are mainly used to electrically connect the electrodes on the driver IC side and the electrodes on the panel side.
도 1은 일반적인 TAB방식을 채용한 LCD모듈을 도시한 평면도이고, 도 2는 도 1의 실시예의 A-A선에 따른 단면도이며, 도 3은 도 1의 실시예의 B-B선에 따른 이방성 도전 필름으로부터 피접속 부재를 분리하여 펼친 상태를 도시한 구성도이고, 도 4는 이방성 도전 필름의 양호한 접속상태를 도시한 단면도이며, 도 5는 이방성 도전 필름의 불량한 접속상태를 도시한 단면도이다.1 is a plan view illustrating an LCD module employing a general TAB method, FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA of the embodiment of FIG. 1, and FIG. 3 is connected from an anisotropic conductive film taken along line BB of the embodiment of FIG. 1. It is a block diagram which shows the state which removed and expanded the member, FIG. 4 is sectional drawing which shows the favorable connection state of the anisotropic conductive film, and FIG. 5 is sectional drawing which shows the poor connection state of the anisotropic conductive film.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, LCD패널(20)의 행방향에는 외부 신호를 LCD패널(20)에 전송하기 위한 소스측 인쇄회로기판(10)이 위치하고, 드라이버 IC(31)가 실장된 TCP(30)가 LCD패널(20)과 인쇄회로기판(10) 사이를 전기적으로 연 결한다. 이 경우, LCD패널(20)과 TCP(30) 사이 및 TCP(30)와 인쇄회로기판(10)은 이방성 도전 필름(40)으로 접속된다.1 and 2, the source side printed
도 2 및 3에 도시된 바와 같이, 이방성 도전 필름(40)은 절연성 접착제(41)에 복수의 도전 입자(42)를 분산시킨 것으로서, 피접속 부재 사이에 개재시켜 열 압착함으로써 대향하는 피접속 부재(10, 30)의 단자 사이에 도전 입자(42)가 접촉하여 전기적 접속을 이루게 된다. 이때, x-y 평면상으로는 절연성이 유지되고, z축 방향으로는 도통이 이루어진다.As shown in FIGS. 2 and 3, the anisotropic
보다 상세하게 설명하면 도 4에 도시된 바와 같이, 피접속 부재인 TCP(30)와 인쇄회로기판(10) 또는 TCP(30)와 LCD패널(20) 사이에, 절연성 접착제(41)에 분산된 복수의 도전 입자(42)로 구성된 이방성 도전 필름(40)이 개재된다. 그런 후 소정의 온도(약 160 내지 180℃)와 함께 10 내지 20초 정도로 가압(약 2 내지 3MPa)하면, 상기 피접속 부재(10, 30) 각각에 대향하여 형성된 전극(12, 32) 사이에 도전 입자(42)가 개재되어 피접속 부재(10, 30)들이 상호간에 전기적으로 접속되는 것이다.More specifically, as shown in FIG. 4, between the TCP 30 and the printed
그러나, 도 5에 도시된 바와 같이 이방성 도전 필름(40)에 의한 피접속 부재(10, 30) 간의 전기적 접속 상태가 불량할 수 있다. 그 원인으로 이방성 도전 필름(40)의 절연성 접착제(41)에 분산된 복수의 도전 입자(42)가 불균일하게 배열되어 있거나, 가압시 도전 입자(42)가 피접속 부재(10, 30)에 대향 형성된 전극(12, 32) 사이에 개재되지 못하는 경우도 있다. 또한, 가압이 피접속 부재(10, 30)의 전면에 걸쳐 균일하게 이루어지지 못해 전극(12, 32) 사이에 도전 입자(42) 가 개재되어 있더라도 전극(12, 32)과 접촉되지 못하는 경우가 있다.However, as shown in FIG. 5, the electrical connection between the
따라서, 이방성 도전 필름(40)에 의한 피접속 부재(10, 30) 간의 전기적 접속 상태를 검사해야될 필요성이 있고, 불량임에도 불구하고 이어지는 공정의 계속적인 진행에 의해 소재 손실을 방지할 수 있으며, 신뢰성 및 품질을 향상시킬 수 있다.Therefore, there is a need to inspect the electrical connection state between the
이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태를 검사하기 위한 방법으로 종래부터 현미경으로 관찰하는 방법과, 카메라를 통하여 화상을 촬영한 후 그에 따른 이미지를 분석하는 방법 등이 있다. 또한, 압흔이나 표면조도를 측정하여 피접속 부재(10, 30) 간의 요철을 확인하여 분석하는 방법 등이 있다.As a method for inspecting the connection state of a bonded structure using an anisotropic conductive film, there are conventionally a method of observing with a microscope, a method of capturing an image through a camera and analyzing the image accordingly. In addition, there are methods for checking and analyzing unevenness between the connected
상기와 같이 종래의 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태 검사방법은, 육안 또는 현미경이나 카메라를 사용하는 경우 피접속 부재가 투명해야 하는 등의 제약 조건이 있고, 압흔이나 표면조도를 확인하여 검사하는 경우에는 복잡한 검사장치를 사용해야 하므로 설치상 제약 및 제조 원가의 상승 등의 문제점이 있다.As mentioned above, the connection state inspection method of the bonded structure using the conventional anisotropic conductive film has constraints, such as that a to-be-connected member should be transparent when using a naked eye or a microscope or a camera, and checks an indentation or surface roughness In this case, since a complicated inspection apparatus must be used, there are problems such as restrictions on installation and an increase in manufacturing cost.
또한, 상기와 같이 종래의 검사방법은 피접속 부재간의 접속상태를 간접적으로 측정함으로써, 실제 전기적으로 접속되어 있는지를 완벽히 확인할 수 없으므로 신뢰성 및 품질을 저하시키는 문제점이 있다.In addition, as described above, the conventional inspection method indirectly measures the connection state between the members to be connected, so that it is impossible to completely confirm whether the connection is actually made. Therefore, there is a problem of deteriorating reliability and quality.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 본 발명의 목적은, 단순한 구성에 의해 이방성 도전 필름을 이용한 회로기판의 접속 구조체의 접속상태를 용이하게 검사할 수 있고, 품질 및 신뢰성을 제고할 수 있는 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체 및 그의 접속상태 검사방법을 제공하는 데 있다.An object of the present invention devised to solve the above problems is an anisotropy that can easily inspect the connection state of the connection structure of the circuit board using the anisotropic conductive film by a simple configuration, and improve the quality and reliability It is providing the bonded structure using the electrically conductive film, and its connection state test | inspection method.
전술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체는, 일면에 나란히 배열된 복수의 제1 전극을 구비한 제1 피접속 부재와, 상기 제1 피접속 부재의 일면과 마주보는 면에 상기 복수의 제1 전극과 각각 대향되 도록 배열되되 각각이 전기적으로 2개로 분리된 복수의 제2 전극을 구비한 제2 피접속 부재와, 상기 복수의 제1 전극의 양단과 마주보는 상기 복수의 제2 전극 각각의 분리된 끝단에 서로 대칭되도록 돌출 형성된 더미전극과, 상기 제1 피접속 부재와 제2 피접속 부재 사이에 개재되어 상기 제1 피접속 부재와 제2 피접속 부재를 접속시키는 이방성 도전 필름을 포함하여 이루어진다.In order to achieve the above object, the bonded structure using the anisotropic conductive film of the present invention includes a first to-be-connected member having a plurality of first electrodes arranged side by side on one surface and facing one surface of the first to-be-connected member. A second to-be-connected member arranged on the surface to face the plurality of first electrodes, the second connected member having a plurality of second electrodes electrically separated from each other, and facing both ends of the plurality of first electrodes; A dummy electrode protruding from each other at a distal end of each of the plurality of second electrodes so as to be symmetrical with each other, and interposed between the first connected member and the second connected member to connect the first connected member and the second connected member. It consists of an anisotropic conductive film made to make.
또한, 상기 제1 피접속 부재 및 제2 피접속 부재는 각각 인쇄회로기판 또는 연성회로기판 중 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 한다.In addition, the first to-be-connected member and the second to-be-connected member may each be any one selected from a printed circuit board and a flexible circuit board.
또한, 상기 더미전극은 외부로부터 기설정된 하중 이상의 장력을 받는 경우 상기 복수의 제2 전극으로부터 분리될 수 있는 것을 특징으로 한다.In addition, the dummy electrode may be separated from the plurality of second electrodes when the dummy electrode receives a tension of a predetermined load or more from the outside.
또한, 상기 이방성 도전 필름은 절연성 접착제에 분산된 복수의 도전 입자를 포함하고, 상기 절연성 접착제는 상기 제1 피접속 부재와 제2 피접속부재를 접착하고, 상기 복수의 도전 입자는 상기 복수의 제1 전극과 제2 전극 사이에 가압되어 상기 복수의 제1 전극과 제2 전극을 전기적으로 연결하는 것을 특징으로 한다.In addition, the anisotropic conductive film includes a plurality of conductive particles dispersed in an insulating adhesive, the insulating adhesive bonds the first and second connected members, and the plurality of conductive particles are the plurality of conductive particles. Pressing between the first electrode and the second electrode is characterized in that for electrically connecting the plurality of first electrode and the second electrode.
한편, 본 발명의 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태 검사방법은, 복수의 제1 전극을 구비한 제1 피접속 부재의 일면에 이방성 도전 필름을 부착하는 ACF 부착단계와, 상기 제1 피접속 부재의 일면과 마주보는 면에 상기 복수의 제1 전극과 각각 대향되도록 배열되되 각각이 전기적으로 2개로 분리된 복수의 제2 전극을 구비한 제2 피접속 부재와 상기 제1 피접속 부재를 마주보도록 정렬시키는 피접속 부재 정렬단계와, 상기 이방성 도전 필름에 열과 압력을 가하여 상기 제1 피접속 부재 및 제2 피접속 부재를 접착하는 ACF 열압착단계와, 상기 복수의 제1 전극의 양단과 마주보는 상기 복수의 제2 전극 각각의 분리된 끝단에 서로 대칭되도록 돌출 형성된 더미전극 각각이 전기적으로 접속되어 있는지를 검사하는 접속상태 검사단계를 포함하여 이루어진다.On the other hand, in the connection state inspection method of the bonded structure using the anisotropic conductive film of this invention, the ACF attachment step of attaching an anisotropic conductive film to one surface of the 1st to-be-connected member provided with the some 1st electrode, and the said 1st blood The second to-be-connected member and the first to-be-connected member, each of which is arranged to face the one surface of the connection member to face the plurality of first electrodes, each of which has a plurality of second electrodes electrically separated from each other. Aligning the connected member to be aligned facing each other, ACF thermocompression bonding the first and second connected members by applying heat and pressure to the anisotropic conductive film, and both ends of the plurality of first electrodes And a connection state inspection step of inspecting whether each of the dummy electrodes protruding from each other to be symmetrical with each other at the separated ends of the plurality of second electrodes facing each other is electrically connected. Achieved.
또한, 상기 접속상태 검사단계 이후에 수행되고, 접속불량인 경우 외부에 알리는 경고단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the connection state is performed after the step of checking, characterized in that it further comprises a warning step notifying the outside in case of a bad connection.
또한, 상기 접속상태 검사단계 이후에 진행되고, 접속양호인 경우 상기 더미전극을 상기 복수의 제2 전극으로부터 각각 분리해내는 더미전극 분리단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The method may further include a dummy electrode separation step of separating the dummy electrodes from the plurality of second electrodes in the case of the connection goodness, after the connection state inspection step.
또한, 상기 제1 피접속 부재 및 제2 피접속 부재는 각각 인쇄회로기판 또는 연성회로기판 중 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 한다.In addition, the first to-be-connected member and the second to-be-connected member may each be any one selected from a printed circuit board and a flexible circuit board.
본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체 및 그의 접속상태 검사방법은, 전기적으로 2개로 분리된 제2 전극과 더미전극의 간단한 구성을 통해 피접속 부재의 종류에 구애받지 않고, 제1 전극과 제2 전극의 전기적 접속상태를 용이하게 검사할 수 있다.The bonded structure using the anisotropic conductive film and the method for inspecting the connected state thereof according to the present invention are not limited to the type of the member to be connected through the simple configuration of the second electrode and the dummy electrode electrically separated into two, The electrical connection state of the second electrode can be easily inspected.
또한, 복수의 제1 전극과 제2 전극 상호 간의 전기적 접속상태를 각각 직접적으로 검사함으로써, 신뢰성 및 품질을 제고시킬 수 있다.In addition, reliability and quality can be improved by directly inspecting the electrical connection state between the plurality of first electrodes and the second electrodes, respectively.
또한, 접속상태가 양호한 경우에는 더미전극을 제2 전극으로부터 분리하여 외관의 우수성을 확보할 수 있다.In addition, when the connection state is good, the dummy electrode can be separated from the second electrode to secure the excellent appearance.
이하에서는 첨부된 도면을 참조로 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the bonded structure using an anisotropic conductive film according to the present invention.
도 6은 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 바람직한 실시예를 도시한 분해 사시도이고, 도 7은 도 6의 실시예의 결합 사시도이며, 도 8은 도 7의 실시예의 C-C선에 따른 단면도이다.6 is an exploded perspective view showing a preferred embodiment of a bonded structure using an anisotropic conductive film according to the present invention, Figure 7 is a combined perspective view of the embodiment of Figure 6, Figure 8 is a cross-sectional view taken along line CC of the embodiment of Figure 7 to be.
본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체는, 도 6 내지 7에 도시된 바와 같이 제1 전극(150)을 구비한 제1 피접속 부재(100), 제2 전극(250)을 구비한 제2 피접속 부재(200), 더미전극(300) 및 이방성 도전 필름(400)을 포함하여 이루어진다. 상기 제1 피접속 부재(100) 및 제2 피접속 부재(200)는 인쇄회로기판 또는 연성회로기판일 수 있고, 상기 이방성 도전 필름(400)은 절연성 접착제(410) 및 도전 입자(420)를 포함한다.The connection structure using the anisotropic conductive film which concerns on this invention is the thing provided with the 1st to-be-connected
제1 피접속 부재(100)는 도 6 및 7에 도시된 바와 같이, 일면에 나란히 배열된 복수의 제1 전극(150)을 구비한다. 제1 피접속 부재(100)는 후술할 제2 피접속 부재(200)와 이방성 도전 필름(400)을 매개로 상호 접속되는 부재로서, 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board) 또는 연성회로기판(FCP, Flexible Printed Circuit)일 수 있다. 이 경우, 상기 제1 피접속 부재(100)인 회로기판의 일면에 접속단자로서 나란히 배열된 복수의 제1 전극(150)을 구비한다.As illustrated in FIGS. 6 and 7, the first connected
제2 피접속 부재(200)는 도 6 및 7에 도시된 바와 같이, 상기 제1 피접속 부재(100)의 일면과 마주보는 면에 상기 복수의 제1 전극(150)과 각각 대향되도록 배열되되 각각이 전기적으로 2개로 분리된 복수의 제2 전극(250)을 구비한다. 제2 피접속 부재(200)는 상기 제1 피접속 부재(100)와 상호 접속되는 부재이고, 제1 피접속부재(100)와 마찬가지로 인쇄회로기판 또는 연성회로기판일 수 있다. 이 경우, 상기 제2 피접속 부재(200)인 회로기판은 상기 제1 피접속 부재(100)의 일면과 마주보는 면에 접속단자로서 상기 복수의 제1 전극(150)과 각각이 대향되도록 배열된 복수의 제2 전극(250)을 구비한다.As shown in FIGS. 6 and 7, the second to-be-connected
상기 복수의 제2 전극(250)은 도 8에 도시된 바와 같이 각각이 전기적으로 2개로 분리되는데, 이는 후술할 이방성 도전 필름(400)에 포함된 도전 입자(420)에 의해 제1 전극(150)과 제2 전극(250)이 전기적으로 연결되었는지를 용이하게 검사하기 위한 것이다. 제2 전극(250)은 도 6 내지 8에 도시된 바와 같이, 물리적으로 서로 이격되어 2개로 분리되어 있으며, 이 경우에도 역시 서로 간에 전기적으로 분리되어 있게 된다. 즉, 도면에는 도시되어 있지 않으나 상기 복수의 제2 전극(250) 각각이 하나의 일체로 된 경우라도 중간에 부도체와 같은 물질을 매개로 연결되어 있다면, 이 역시 전기적으로 2개로 분리된 것이라고 볼 것이다.As shown in FIG. 8, each of the plurality of
더미전극(300)은 도 6 내지 8에 도시된 바와 같이, 상기 복수의 제1 전극(150)의 양단과 마주보는 상기 복수의 제2 전극(250) 각각의 분리된 끝단에 서로 대칭되도록 돌출 형성된다. 상기 복수의 제2 전극(250)의 분리된 끝단을 전류계 또는 검류계와 같은 통전 여부를 확인할 수 있는 장비를 이용하여 전기적으로 제1 전극(150)과 연결되었는지를 검사할 수는 있다. 그러나, 제2 전극(250)이 제2 피접속부재(250) 안쪽에 있어 쉽게 찾지 못하거나 제1 전극(150)을 잘못 제2 전극(250)으로 판단하는 실수를 미연에 방지하고, 전기적 검사를 보다 용이하게 하고자 상기 더미전극(300)을 포함하는 것이다. 이 경우, 상기 더미전극(300)은 인접한 더미전극(300)과 접촉되지 않도록 해야 하며, 돌출된 부분을 구부려 제2 피접속 부재(200)의 측면에 접촉시켜 두는 것이 검사에도 편리하다. 따라서, 상기 더미전극(300)만을 통하여 제1 전극(150)과 제2 전극(250)의 전기적 접속상태를 확인할 수 있는 것이다. 한편, 상기 더미전극(300)은 외부로부터 기설정된 하중 이상의 장력을 받는 경우 상기 복수의 제2 전극(250)으로부터 분리될 수 있다. 이는 검사가 완료된 후 외관상 지저분해 보일 수 있는 더미전극(300)을 떼어내어 외관을 미려하게 할 수 있는 효과가 있다. 최초 더미전극(300)이 제2 전극(250)에 형성될 때 운반, 제조 및 검사 시에는 더미전극(300)이 쉽게 떨어지지 않도록 붙어있어야 한다. 그러나, 검사가 완료된 후 사용자가 손으로 또는 작업기구를 이용해 제2 전극(250)으로부터 더미전극(300)을 용이하게 떼어내기 위하여 더미 전극(300)과 제2 전극(250) 간의 미리 형성된 결합력으로부터 분리해 내기 위한 어느 정도 크기의 장력이 필요하다. 상기와 같이 미리 형성된 결합력으로부터 분리해 내기 위한 장력이 기설정된 하중 이상의 장력을 뜻한다.As shown in FIGS. 6 to 8, the
이방성 도전 필름(400)은 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 제1 피접속 부재(100)와 제2 피접속 부재(200) 사이에 개재되어 상기 제1 피접속 부재(100)와 제 2 피접속 부재(200)를 접속시킨다. 보다 구체적으로 상기 이방성 도전 필름(400)은 도 8에 도시된 바와 같이 절연성 접착제(410)에 분산된 복수의 도전 입자(420)를 포함한다. 이 경우 상기 절연성 접착제(410)는 상기 제1 피접속 부재(100)와 제2 피접속 부재(200)를 접착하고, 상기 복수의 도전 입자(420)는 상기 복수의 제1 전극(150)과 제2 전극(250) 사이에 가압되어 상기 복수의 제1 전극(150)과 제2 전극(250)을 전기적으로 연결한다. 결국, 도 8에 도시된 바와 같이 제2 전극(250)의 분리된 하나로부터 도전 입자(420)를 매개로 제1 전극(150)과 전기적으로 연결되고, 다시 제1 전극(150)으로부터 도전 입자(420)를 매개로 제2 전극(250)의 분리된 다른 하나와 전기적으로 연결된다. 그에 따라, 제1 전극(150)과 제2 전극(250)이 완전히 접속되는 것이다. 그러나, 제1 전극(150)과 제2 전극(250) 사이에 개재된 도전 입자(420)에 접속불량이 발생한 경우에는 상기 더미전극(300)을 통해 전기적으로 연결이 되지 않을 것이다.As shown in FIG. 7, the anisotropic
이하에서는 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태 검사방법의 바람직한 실시예를 설명한다.Hereinafter, the preferable Example of the connection state inspection method of the bonded structure using the anisotropic conductive film which concerns on this invention is described.
도 9는 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태 검사방법의 제1 실시예를 도시한 블럭도이고, 도 10은 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태 검사방법의 제2 실시예를 도시한 블럭도이며, 도 11은 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태 검사방법의 제3 실시예를 도시한 블럭도이다.9 is a block diagram showing a first embodiment of a connection state inspection method of a bonded structure using an anisotropic conductive film according to the present invention, Figure 10 is a connection state inspection method of a bonded structure using an anisotropic conductive film according to the present invention 11 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention, and FIG. 11 is a block diagram showing a third embodiment of a connection state inspection method for a bonded structure using an anisotropic conductive film according to the present invention.
다만, 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체와 중복되는 설명은 생략하고, 도 6 내지 8을 참조하여 설명한다.However, description overlapping with the connection structure using the anisotropic conductive film which concerns on this invention is abbreviate | omitted, and it demonstrates with reference to FIGS. 6-8.
본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태 검사방법은 도 9 내지 11에 도시된 바와 같이 ACF 부착단계(S101), 피접속 부재 정렬단계(S201), ACF 열압착단계(S301) 및 접속상태 검사단계(S401)를 포함하여 이루어진다. 또한, 경고단계(S501) 및 더미전극 분리단계(S601)를 더 포함할 수 있다.Connection state inspection method of the bonded structure using an anisotropic conductive film according to the present invention is as shown in Figure 9 to 11 ACF attachment step (S101), connected member alignment step (S201), ACF thermocompression step (S301) and It includes a connection state check step (S401). In addition, it may further include a warning step (S501) and the dummy electrode separation step (S601).
ACF 부착단계(S101)는 도 6에 도시된 복수의 제1 전극(150)을 구비한 제1 피접속 부재(100)의 일면에 이방성 도전 필름(ACF)을 부착한다. 제1 피접속 부재(100)에 이방성 도전 필름(ACF)을 부착하는 것은 후술할 ACF 열압착단계(S201)에서의 본압착 전에 제1 피접속 부재(100)에 이방성 도전 필름(ACF)를 가압착하여 부착시키는 것이다. 그에 따라 후술할 ACF 열압착단계(S201)에서 제2 피접속 부재(200)를 상기 제1 피접속 부재(100)에 가압착된 이방성 도전 필름(ACF)을 통해 접착시키는 것이다. 따라서, 제1 피접속 부재(100)와 제2 피접속 부재(200)를 본압착하기 전에 양자를 마주보도록 정렬시킬 필요가 있다.In the ACF attaching step (S101), the anisotropic conductive film (ACF) is attached to one surface of the first to-
피접속 부재 정렬단계(S201)는 상기 제1 피접속 부재(100)의 일면과 마주보는 면에 상기 복수의 제1 전극(150)과 각각 대향되도록 배열되되 각각이 전기적으로 2개로 분리된 복수의 제2 전극(250)을 구비한 제2 피접속 부재(200)와 상기 제1 피접속 부재(100)를 마주보도록 정렬시킨다. 즉, 제1 피접속 부재(100)에 구비된 복수의 제1 전극(150)과 제2 피접속 부재(200)에 구비된 복수의 제2 전극(250)이 서로 대향되도록 정렬이 되어야 한다.Alignment of the connected member (S201) is arranged so as to face each of the plurality of
ACF 열압착단계(S301)는 상기 이방성 도전 필름(400)에 열과 압력을 가하여 상기 제1 피접속 부재(100) 및 제2 피접속 부재(200)를 접착시킨다. 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 이방성 도전 필름(400)은 절연성 접착제(410)에 분산된 복수의 도전 입자(420)를 포함한다. 이 경우 상기 절연성 접착제(410)는 상기 제1 피접속 부재(100)와 제2 피접속 부재(200)를 접착하고, 상기 복수의 도전 입자(420)는 상기 복수의 제1 전극(150)과 제2 전극(250) 사이에 가압되어 상기 복수의 제1 전극(150)과 제2 전극(250)을 전기적으로 연결하는 것이다.In the ACF thermocompression bonding step S301, heat and pressure are applied to the anisotropic
접속상태 검사단계(S401)는 상기 복수의 제1 전극(150)의 양단과 마주보는 상기 복수의 제2 전극(250) 각각의 분리된 끝단에 서로 대칭되도록 돌출 형성된 더미전극(300) 각각이 전기적으로 접속되어 있는지를 검사한다. 이 경우 상호 대칭되는 더미전극(300)에 대하여 전류계 또는 검류계 등의 전자장비를 이용함으로써, 제1 전극(150)과 제2 전극(250)의 전기적 접속여부를 직접적으로 확인해 낼 수 있다.In the connection state inspection step (S401), each of the
한편, 경고단계(S501)는 상기 접속상태 검사단계(S401) 이후에 수행되고, 접속불량인 경우 외부에 알린다. 즉, 더미전극(300)을 통하여 검사된 전류신호가 전달되지 않는다면 제1 전극(150)과 제2 전극(250) 사이에 개재된 도전 입자(420)에 의한 전기적 접속이 불량이라고 할 것이고, 그에 따라 외부에 상기 접속불량상태를 확인시켜줄 필요가 있다. 이 경우, 스피커나 사이렌을 이용한 경고음이나 시각적으로 경고할 수 있는 경고등을 이용하여 외부의 사용자에게 접속불량임을 알릴 수 있다.On the other hand, the warning step (S501) is performed after the connection state check step (S401), and informs the outside in case of a bad connection. That is, if the current signal inspected through the
또한, 더미전극 분리단계(S601)는 상기 접속상태 검사단계(S501) 이후에 진행되고, 접속양호인 경우 상기 더미전극(300)을 상기 복수의 제2 전극(250)으로부터 각각 분리해낸다. 이는 검사가 완료된 후 외관상 지저분해 보일 수 있는 더미전극(300)을 떼어내어 외관을 미려하게 할 수 있는 효과가 있다.In addition, the dummy electrode separation step S601 is performed after the connection state inspection step S501, and when the connection is good, the
앞에서 설명되고, 도면에 도시된 본 발명의 실시예는, 본 발명의 기술적 사상을 한정하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 발명의 보호범위는 청구범위에 기재된 사항에 의하여만 제한되고, 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상을 다양한 형태로 개량 변경하는 것이 가능하다. 따라서 이러한 개량 및 변경은 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것인 한 본 발명의 보호범위에 속하게 될 것이다.The embodiments of the present invention described above and illustrated in the drawings should not be construed as limiting the technical idea of the present invention. The protection scope of the present invention is limited only by the matters described in the claims, and those skilled in the art can change and change the technical idea of the present invention in various forms. Therefore, such improvements and modifications will fall within the protection scope of the present invention, as will be apparent to those skilled in the art.
도 1은 일반적인 TAB방식을 채용한 LCD모듈을 도시한 평면도이고,1 is a plan view showing an LCD module employing a general TAB method,
도 2는 도 1의 실시예의 A-A선에 따른 단면도이며,2 is a cross-sectional view taken along the line A-A of the embodiment of FIG.
도 3은 도 1의 실시예의 B-B선에 따른 이방성 도전 필름으로부터 피접속 부재를 분리하여 펼친 상태를 도시한 구성도이고,3 is a configuration diagram showing a state in which the connected member is separated and expanded from the anisotropic conductive film along the line B-B of the embodiment of FIG. 1,
도 4는 이방성 도전 필름의 양호한 접속상태를 도시한 단면도이며,4 is a cross-sectional view showing a good connection state of the anisotropic conductive film,
도 5는 이방성 도전 필름의 불량한 접속상태를 도시한 단면도이고,5 is a cross-sectional view showing a poor connection state of the anisotropic conductive film,
도 6은 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 바람직한 실시예를 도시한 분해 사시도이며,6 is an exploded perspective view showing a preferred embodiment of a bonded structure using an anisotropic conductive film according to the present invention,
도 7은 도 6의 실시예의 결합 사시도이고,7 is a combined perspective view of the embodiment of FIG. 6,
도 8은 도 7의 실시예의 C-C선에 따른 단면도이며,8 is a cross-sectional view taken along the line C-C of the embodiment of FIG.
도 9는 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태 검사방법의 제1 실시예를 도시한 블럭도이고,9 is a block diagram showing a first embodiment of a connection state inspection method for a bonded structure using an anisotropic conductive film according to the present invention;
도 10은 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태 검사방법의 제2 실시예를 도시한 블럭도이며,10 is a block diagram showing a second embodiment of a connection state inspection method for a bonded structure using an anisotropic conductive film according to the present invention;
도 11은 본 발명에 따른 이방성 도전 필름을 이용한 접속 구조체의 접속상태 검사방법의 제3 실시예를 도시한 블럭도이다.Fig. 11 is a block diagram showing a third embodiment of the connection state inspection method for a bonded structure using the anisotropic conductive film according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
100 : 제1 피접속 부재100: first connected member
150 : 제1 전극150: first electrode
200 : 제2 피접속 부재200: second connected member
250 : 제2 전극250: second electrode
300 : 더미전극300: dummy electrode
400 : 이방성 도전 필름(ACF)400: anisotropic conductive film (ACF)
410 : 절연성 접착제410: insulating adhesive
420 : 도전 입자420: conductive particles
Claims (8)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070136685A KR20090068886A (en) | 2007-12-24 | 2007-12-24 | Connecting structure using anisotropic conductive film and checking method of connecting condition thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070136685A KR20090068886A (en) | 2007-12-24 | 2007-12-24 | Connecting structure using anisotropic conductive film and checking method of connecting condition thereof |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090068886A true KR20090068886A (en) | 2009-06-29 |
Family
ID=40996213
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070136685A KR20090068886A (en) | 2007-12-24 | 2007-12-24 | Connecting structure using anisotropic conductive film and checking method of connecting condition thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20090068886A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20110041690A (en) * | 2009-10-16 | 2011-04-22 | 티에스씨멤시스(주) | Probe unit and method of manufacturing the same |
WO2015057012A1 (en) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | 삼성에스디아이 주식회사 | Anisotropic conductive film composition harmless to human body, anisotropic conductive film, and semiconductor device connected by film |
KR20240015956A (en) | 2022-07-28 | 2024-02-06 | (주)우주일렉트로닉스 | Flexible cable assembly and manufacturing method of the same |
-
2007
- 2007-12-24 KR KR1020070136685A patent/KR20090068886A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20110041690A (en) * | 2009-10-16 | 2011-04-22 | 티에스씨멤시스(주) | Probe unit and method of manufacturing the same |
WO2015057012A1 (en) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | 삼성에스디아이 주식회사 | Anisotropic conductive film composition harmless to human body, anisotropic conductive film, and semiconductor device connected by film |
CN105593945A (en) * | 2013-10-18 | 2016-05-18 | 三星Sdi株式会社 | Anisotropic conductive film composition harmless to human body, anisotropic conductive film, and semiconductor device connected by film |
KR20240015956A (en) | 2022-07-28 | 2024-02-06 | (주)우주일렉트로닉스 | Flexible cable assembly and manufacturing method of the same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4987880B2 (en) | Circuit board connection structure using anisotropic conductive film, adhesion method, and adhesion state evaluation method using the same | |
US6952250B2 (en) | Pressure-welded structure of flexible circuit boards | |
KR100737590B1 (en) | Tab tape for use in tape carrier package | |
US20070242207A1 (en) | Flat display panel and connection structure | |
KR100731699B1 (en) | Coupling structure of electronic components | |
JPWO2009004894A1 (en) | Display module, liquid crystal display device, and display module manufacturing method | |
JP2005019393A (en) | Anisotropic conductive material, display device, manufacturing method for the device, and conductive member | |
US6300998B1 (en) | Probe for inspecting liquid crystal display panel, and apparatus and method for inspecting liquid crystal display panel | |
JP4193453B2 (en) | Electronic component mounting substrate, electro-optical device, electronic component mounting substrate manufacturing method, electro-optical device manufacturing method, and electronic apparatus | |
JP4661300B2 (en) | LCD module | |
CN101211073A (en) | Substrate circuit connected structure and its detection method | |
KR20090068886A (en) | Connecting structure using anisotropic conductive film and checking method of connecting condition thereof | |
JP2006163012A (en) | Display panel, display apparatus using the same and method for manufacturing display panel | |
JP2003090856A (en) | Mounting inspection method of wiring board | |
TW201831917A (en) | Probe inspecting unit including non-POGO type connector capable of easily coupling the printed circuit board with the flexible circuit board | |
KR100806910B1 (en) | liquid crystal device and method for measuring bonding state in manufacturing the liquid crystal device | |
KR100726529B1 (en) | Printed circuit board with easy discernment of connection and liquid crystal dispaly using the same | |
JP3853729B2 (en) | Flexible printed wiring board connection structure and connection method | |
JP2003158354A (en) | Mount inspection method of wiring board | |
JP2011249527A (en) | Circuit module | |
KR100681581B1 (en) | Connecting structure of fpc for measuring insulation resistance | |
WO2024018535A1 (en) | Anisotropically conductive connector, anisotropically conductive connector having frame, and inspection apparatus | |
JPH10186394A (en) | Inspection device and inspection method for liquid crystal display device | |
JPH06152192A (en) | Mounting method for semiconductor chip | |
JP3846240B2 (en) | Liquid crystal panel inspection apparatus and liquid crystal panel inspection method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |