KR20090058387A

KR20090058387A - 액정표시소자 테스트패드구조와 이를 포함하는액정표시소자 및 액정표시소자 제조방법

Info

Publication number: KR20090058387A
Application number: KR1020070125136A
Authority: KR
Inventors: 박현진; 우정원
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2007-12-04
Filing date: 2007-12-04
Publication date: 2009-06-09
Also published as: KR101427282B1

Abstract

본 발명은 모기판 단위에서 액정패널의 점등검사를 실시하기 위한 것으로, 테스트패드에 대응하는 제2모기판의 영역에 홀을 형성하고 홀을 통해 도전성 물질을 실패턴에 의해 밀폐된 영역에 충진한 후, 탐침을 도전물질과 접촉시키고 탐침을 통해 테스트신호를 입력시킴으로써 검사를 실시한다.

액정패널, 모기판, 검사, 테스트패드, 테스트신호

Description

액정표시소자 테스트패드구조와 이를 포함하는 액정표시소자 및 액정표시소자 제조방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE HAVING PAD STRUCTURE AND METHOD OF FABRICATING THEREOF}

본 발명은 액정표시소자에 관한 것으로, 특히 모기판 단위에서 액정패널의 점등검사를 실시하여 불량을 미연에 검출함으로써 공정이 지연되고 제조비용이 증가하는 것을 방지할 수 있는 액정표시소자의 테스트패드와 액정표시소자 및 액정표시소자 제조방법에 관한 것이다.

근래, 핸드폰(Mobile Phone), PDA, 노트북컴퓨터와 같은 각종 휴대용 전자기기가 발전함에 따라 이에 적용할 수 있는 경박단소용의 평판표시장치(Flat Panel Display Device)에 대한 요구가 점차 증대되고 있다. 이러한 평판표시장치로는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), FED(Field Emission Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display) 등이 활발히 연구되고 있지만, 양산화 기술, 구동수단의 용이성, 고화질의 구현이라는 이유로 인해 현재에는 액정표시소자(LCD)가 각광을 받고 있다.

액정표시소자는 액정의 굴절률 이방성을 이용하여 화면에 정보를 표시하는 장치이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 액정표시소자(1)는 제1기판(3)과 제2기판(5) 및 상기 제1기판(3)과 제2기판(5) 사이에 형성된 액정층(7)으로 구성되어 있다. 제1기판(3)은 구동소자 어레이(Array)기판이다. 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 제1기판(1)에는 복수의 화소가 형성되어 있으며, 각각의 화소에는 박막트랜지스터(Thin Film Transistor;이하, TFT라 한다)와 같은 구동소자가 형성되어 있다. 제2기판(5)은 컬러필터(Color Filter)기판으로서, 실제 컬러를 구현하기 위한 컬러필터층이 형성되어 있다. 또한, 상기 제1기판(3) 및 제2기판(5)에는 각각 화소전극 및 공통전극이 형성되어 있으며 액정층(7)의 액정분자를 배향하기 위한 배향막이 도포되어 있다.

상기 제1기판(3) 및 제2기판(5)은 실링재(Sealing Material)(9)에 의해 합착되어 있으며, 그 사이에 액정층(7)이 형성되어 상기 제1기판(3)에 형성된 구동소자에 의해 액정분자를 구동하여 액정층을 투과하는 광량을 제어함으로써 정보를 표시하게 된다.

액정표시소자의 제조공정은 크게 제1기판(3)에 구동소자를 형성하는 구동소자 어레이기판공정과 제2기판(5)에 컬러필터를 형성하는 컬러필터기판공정 및 셀(Cell)공정으로 구분될 수 있는데, 이러한 액정표시소자의 공정을 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.

도 2에 도시된 바와 같이, TFT어레이공정과 컬러필터공정을 통해 복수의 액정패널영역이 형성된 유리 모기판인 제1기판(3) 및 제2기판(5)에 각각 구동소자인 TFT와 컬러필터층을 형성한다(S101,S104). 이어서, 상기 TFT가 형성된 제1기판(3) 과 컬러필터층이 형성된 제2기판(5)에 각각 배향막을 도포한 후 러빙을 실행한 후(S102,S105), 제1기판(3)의 액정패널 영역에는 액정(7)을 적하하고 제2기판(5)의 액정패널 외곽부 영역에는 실링재(9)를 도포한다(S103,S106).

그 후, 상기 제1기판(3)과 제2기판(5)을 정렬한 상태에서 압력을 가하여 실링재(9)에 의해 상기 제1기판(3)과 제2기판(5)을 합착함과 동시에 압력의 인가에 의해 적하된 액정(7)을 패널 전체에 걸쳐 균일하게 퍼지게 한다(S137). 이와 같은 공정에 의해 대면적의 유리기판(제1기판 및 제2기판)에는 액정층이 형성된 복수의 액정패널이 형성되며, 이 유리기판을 가공, 절단하여 복수의 액정패널로 분리하고 각각의 액정패널을 검사함으로써 액정표시소자를 제작하게 된다(S108,S139).

상기한 바와 같이, 종래 액정표시소자 제조방법에서는 복수의 액정패널이 형성될 기판상에 액정을 적하하고 제1기판(3)과 제2기판(5)을 합착한 후 합착된 기판(3,5)을 단위 패널 단위로 분리함으로써 액정표시소자를 제작할 수 있게 된다.

그러나, 상기와 같은 제조방법에서는 다음과 같은 문제가 발생한다. 상술한 바와 같이, 종래 액정표시소자 제조방법에서는 복수의 액정패널영역이 형성된 모기판에 액정을 적하하고 2개의 기판을 합착한 후 모기판을 절단하여 복수의 단위 액정패널로 분리한다. 그런데, 상기 방법에서는 액정패널의 검사가 액정패널을 분리한 후에 이루어진다. 따라서, 액정패널의 분리 이전에 불량이 발생하는 경우에도 액정패널이 분리된 이후에나 상기 불량을 검출할 수 있기 때문에 불량이 발생한 액정패널에 대하여 불필요한 공정이 진행되므로, 제조공정이 지연되는 문제가 있었다. 특히, 대형화된 모기판에 대한 공정이 진행되는 경우 분리되지 않은 모기판에 불량이 발생하는 경우에도 이를 인식하지 못하게 되므로, 불량 기판에 대하여 불필요한 공정이 진행되고 고가의 제조물질이 사용되므로 제조비용이 증가하는 문제가 있었다.

물론, 액정을 적하하고 기판을 합착한 후 제1기판(3) 및 제2기판(5) 사이에 형성된 액정층의 액정이 설정된 양을 초과했는지 미달했는지를 검사하는 중력불량에 대한 검사는 이루어지지만, 이 검사는 단순히 액정층의 액정의 양과 기판의 갭에 대한 것으로서, 패턴이나 박막트랜지스터 또는 배향막과 같은 중요한 액정표시소자의 중요 구성요소에 대한 점등검사는 이루어지지 않았다.

본 발명은 상기한 점을 감안하여 이루어진 것으로, 모기판 단위에서 액정패널의 점등검사를 실시하여 불량을 미연에 검출할 수 있는 액정표시소자의 테스트패드와 액정표시소자 및 액정표시소자 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 액정표시소자 제조방법은 박막트랜지스터 및 컬러필터가 각각 형성되고, 복수의 액정패널이 형성되는 제1모기판 및 제2모기판을 제공하는 단계와, 상기 제1모기판 및 제2모기판을 합착하는 단계와, 상기 제1기판의 액정패널에 형성되고 실패턴에 의해 밀폐된 테스트패드를 노출시키는 단계와, 상기 테스트패드를 통해 테스트신호를 인가하여 액정패널을 검사하는 단계와, 합착된 제1모기판 및 제2모기판을 액정패널로 분리하는 단계로 구성된다.

테스트패드는 상기 테스트패드에 대응하는 제2모기판의 영역에 홀을 형성하는 단계와 상기 홀을 통해 도전성 물질을 실패턴에 의해 밀폐된 영역에 충진하는 단계에 의해 외부로 노출되며, 탐침을 도전물질과 접촉시키고 탐침을 통해 테스트신호를 입력시킴으로써 검사를 실시할 수 있게 된다.

본 발명에서는 모기판 단위에서 액정패널의 점등검사를 실시하므로 액정패널의 불량을 미연에 검출할 수 있게 된다. 따라서, 불필요한 공정의 진행에 따른 공 정지연과 제조비용의 증가를 방지할 수 있게 된다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.

본 발명에서는 모기판을 단위 액정패널로 분리하기 전에 합착된 모기판을 점등검사하여 합착된 모기판 단위의 기판에 불량이 발생하였는지를 검사한다. 이와 같은, 점등검사에 의해 기판 불량을 미연에 검출하여 불량이 발생하는 경우 불필요한 공정을 진행하지 않게 되므로, 제조공정이 지연되는 것을 방지할 수 있고 제조비용이 증가하는 것을 방지할 수 있게 된다.

도 3은 본 발명에 따른 액정표시소자의 제조방법을 나타내는 도면이다. 도 3에 도시된 바와 같이, TFT어레이공정과 컬러필터공정을 통해 복수의 액정패널영역이 형성된 유리 모기판인 제1기판 및 제2기판에 각각 구동소자인 TFT와 컬러필터층을 형성한다(S201,S204). 이어서, 상기 TFT가 형성된 제1기판과 컬러필터층이 형성된 제2기판에 각각 배향막을 도포한 후 러빙을 실행한 후(S202,S205), 제1기판의 액정패널 영역에는 액정을 적하하고 제2기판의 액정패널 외곽부 영역에는 실링재를 도포한다(S203,S206).

그 후, 상기 제1기판과 제2기판을 정렬한 상태에서 압력을 가하여 실링재에 의해 상기 제1기판과 제2기판을 합착함과 동시에 압력의 인가에 의해 적하된 액정을 패널 전체에 걸쳐 균일하게 퍼지게 한다(S207).

이어서, 상기 합착된 제1기판 및 제2기판에 형성된 액정패널을 검사한다. 즉, 분리되지 않은 모기판에 형성된 복수의 액정패널에 각각 테스트신호를 인가하 여 합착된 제1기판 및 제2기판의 액정패널영역의 점등상태를 조사함으로써 해당 모기판에 형성된 액정패널영역의 불량을 검출한다.(S208).

상기와 같은 검사공정에 의해 불량이 발생하지 않는 경우, 유리 모기판을 가공, 절단하여 복수의 액정패널로 분리하고 분리된 액정패널을 각각 최종적으로 검사함으로써 액정표시소자를 제작하게 된다(S209,S210).

상기한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시소자 제조방법에서는 복수의 액정패널이 형성될 기판상에 액정을 적하하고 제1기판과 제2기판을 합착하고 이어서 합착된 기판에 형성된 액정패널의 불량여부를 검사한 후 다음 공정을 진행함으로써 액정패널에 불량이 발생할 경우 불필요한 공정의 진행되지 않도록 한다.

상기 합착된 제1기판 및 제2기판에 대한 검사는 MPS(Mass Product System)검사공정을 통해 이루어진다. 상기 MPS검사공정은 액정패널에 발생하는 선불량(line defect)이나 점불량(point defect)를 검출하기 위한 것으로, 액정패널의 각 게이트패드와 데이터패드를 게이트쇼팅바와 데이터쇼팅바에 연결하여, 액정패널의 게이트라인과 연결된 게이트쇼팅바와 데이터라인에 연결된 데이터쇼팅바를 통해 화소에 신호를 인가하여 측정되는 값을 이용하여 기판의 불량여부를 판단한다.

이러한 MPS검사공정을 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 4는 본 발명에 따른 합착된 모기판(100)을 나타내는 도면이다. 도면에 도시된 바와 같이, 제1기판 및 제2기판이 합착된 모기판(100)에는 복수의 액정패널(110)이 형성된다. 이 상태의 모기판은 도 3에 도시된 합착단계에서 합착된다. 즉, 합착된 모기판(100)은 TFT어레이공정 및 컬러필터공정에 의해 제1기판 및 제2 기판에 각각 박막트랜지스터와 컬러필터가 형성되며, 배향막도포 및 러빙공정에 의해 상기 제1기판 및 제2기판에 배향막이 형성되고 러빙된다. 또한, 제1기판에는 액정이 적하되고 제2기판에는 실패턴이 형성된 후, 상기 제1기판 및 제2기판이 합착되어 복수의 액정패널(110)이 형성된 합착 모기판(100)을 형성하는 것이다.

이때, 각각의 액정패널(110)에는 MPS검사를 위한 복수의 테스트패드(120)가 형성되어 상기 테스트패드(120)를 통해 액정패널(110)로 테스트신호가 입력된다. 한편, 도면에서는 액정패널(110)이 모기판에 6개 형성되어 있지만, 본 발명이 액정패널의 갯수에 한정되는 것이 아니다. 필요에 따라 하나의 모기판에 4개의 액정패널을 형성할 수도 있고 8개의 액정패널을 형성할 수도 있을 것이다. 즉, 모기판의 크기와 제작하고자 하는 액정패널(110)의 크기에 따라 모기판에 형성되는 액정패널(110)의 숫자를 다양하게 조절할 수 있을 것이다.

도 5에 도시된 바와 같이, 액정패널(110)은 실제 화상이 구현되는 표시부(111)를 포함하고 있다. 이때, 도면에는 설명의 편의를 위해 박막트랜지스가 형성된 박막트랜지스터 기판만을 도시하고 컬러필터가 형성된 컬러필터기판을 생략하였다.

표시부(111)에는 종횡으로 배열되어 복수의 화소를 정의하는 복수의 게이트라인(133)과 데이터라인(135)이 형성되어 있다. 각 화소 내에는 스위칭소자인 박막트랜지스터(Thin Film Transistor;137)가 배치되어 상기 게이트라인(103)을 통해 주사신호가 입력되는 경우 스위칭되어 데이터라인(105)을 통해 입력되는 화상신호를 화소전극(139)에 인가한다. 또한, 상기 게이트라인(133) 및 데이터라인(135)의 종단에는 각각 게이트패드와 데이터패드가 형성되어 있다.

도면에는 도시하지 않았지만, 상기 액정패널(110)의 외부에는 게이트구동IC와 데이터구동IC가 장착되어 상기 게이트패드(112) 및 데이터패드(114)를 통해 게이트라인(103)과 데이터라인(105)에 신호를 공급한다.

도면에는 자세히 도시하지 않았지만, 상기 박막트랜지스터(137)는 게이트라인(103)에 접속되어 게이트구동IC로부터 주사신호가 인가되는 게이트전극과, 게이트전극위에 형성된 게이트절연층과, 상기 게이트절연층 위에 형성되어 게이트전극에 주사신호가 인가됨에 따라 채널층을 형성하는 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성되어 채널층이 형성됨에 따라 데이터구동IC로부터 데이터라인(105)을 통해 입력되는 신호를 화소 전체에 형성된 화소전극(139)에 인가하는 소스/드레인전극으로 구성된다.

또한, 도면에는 도시하지 않았지만, 컬러필터기판에는 실제 컬러를 구현하는 R(Red), G(Green), B(Blue)의 컬러필터층과, 게이트라인 및 데이터라인과 박막트랜지스터 등으로 광이 투과하는 것을 차단하는 블랙매트릭스로 구성된다.

액정패널(110)의 표시부(111) 외곽의 더미영역에는 복수의 데스트패드(122a,122b,124a,124b,126a,126b)가 형성되어 있다. 또한, 상기 표시부(111)의 외곽에는 홀수 및 짝수의 게이트라인(103)과 각각 접속되어 상기 홀수 및 짝수의 게이트라인(103)을 통해 화소에 형성된 박막트랜지스터(137)에 테스트 주사신호를 인가하는 제1게이트쇼팅바(118a) 및 제2게이트쇼팅바(118b)와, 홀수 및 짝수의 데이터라인(105)과 각각 접속되어 상기 홀수 및 짝수의 데이터라인(105)을 통해 화소 에 형성된 화소전극(139)에 테스트 화상신호를 인가하는 제1데이터쇼팅바(116a) 및 제2데이터쇼팅바(116b)와, 화소내의 공통전극에 연결되어 상기 공통전극에 테스트 공통신호를 인가하는 공통쇼팅바(119)가 형성되어 있다. 이때, 상기 제1게이트쇼팅바(118a) 및 제2게이트쇼팅바(118b)는 제1신호배선(127a,127b)를 통해 제1게이트테스트패드(122a) 및 제2게이트테스트패드(122b)에 각각 연결되고 제1데이터쇼팅바(116a) 및 제2데이터쇼팅바(116b)는 제2신호배선(128a,128b)를 통해 제1데이터테스트패드(124a) 및 제2데이터테스트패드(124b)에 연결되며, 공통쇼팅바(119)는 제3신호배선(129)을 통해 공통테스트패드(126)에 연결된다.

상기와 같이 구성된 액정패널(110)에서는 상기 제1게이트테스트패드(122a) 및 제2게이트테스트패드(122b)를 통해 외부로부터 테스트주사신호가 액정패널의 게이트라인(103)으로 인가되고, 제1데이터테스트패드(124a) 및 제2데이터테스트패드(124b)를 통해 테스트 화상신호가 데이터라인(105) 및 박막트랜지스터를 통해 화소영역의 화소전극(139)으로 인가된다. 또한, 공통테스트패드(126)를 통해 공통신호가 화소의 공통전극으로 인가된다.

상기와 같이, 테스트주사신호가 제1게이트테스트패드(122a) 및 제2게이트테스트패드(122b)에 입력됨에 따라 상기 제1게이트테스트패드(122a) 및 제2게이트테스트패드(122b)에 각각 접속된 홀수 및 짝수 게이트라인(103)을 통해 테스트주사신호가 입력되어 각각의 화소에 형성된 박막트랜지스터(137)가 턴온되며, 이와 동시에 상기 제1데이터테스트패드(124a) 및 제2데이터테스트패드(124b)에 데스트 화상신호가 입력됨에 따라 상기 테스트 화상신호가 상기 제1데이터테스트패드(124a) 및 제2데이터테스트패드(124b)에 각각 접속된 홀수 및 짝수 데이터라인(105) 및 박막트랜지스터(137)를 통해 화소의 화소전극(139)으로 입력된다.

박막트랜지스터의 작동여부를 검사하기 위해서는 테스트 화상신호가 인가된 화소의 화소전극의 전압을 측정해야만 한다. 만약, 화소전극에 전압변화가 인지되면 박막트랜지스터를 통해 입력된 테스트 화상신호가 화소전극으로 인가되어 박막트랜지스터가 정상적으로 작동하고 패턴에 불량이 없음을 판단하고, 화소전극에 전압변화가 발생하지 않으면 박막트랜지스터 및 패턴에 불량이 발생하였음을 판단한다.

한편, 본 발명에서는 MPS검사가 액정패널 단위로 이루어지는 것이 아니라 액정패널이 복수개 형성된 모기판 단위로 이루어진다. 따라서, 각각의 액정패널에 형성되는 제1게이트테스트패드(122a) 및 제2게이트테스트패드(122b), 제1데이터테스트패드(124a) 및 제2데이터테스트패드(124b), 공통테스트패드(126)가 외부로 노출되지 않고 합착된 모기판 내부에 위치하게 된다. 따라서, 본 발명에서는 상기 제1게이트테스트패드(122a) 및 제2게이트테스트패드(122b), 제1데이터테스트패드(124a) 및 제2데이터테스트패드(124b), 공통테스트패드(126)에 테스트신호를 입력하기 위해 상기 제1게이트테스트패드(122a) 및 제2게이트테스트패드(122b), 제1데이터테스트패드(124a) 및 제2데이터테스트패드(124b), 공통테스트패드(126) 상부의 모기판에 홀(141)을 형성하여 상기 패드(122a,122b,124a,124b,126)의 일부를 외부로 노출시킴으로서 노출된 패드(122a,122b,124a,124b,126)를 통해 신호를 입력시킬 수 있게 된다.

이러한 테스트패드(122a,122b,124a,124b,126)의 구조를 도 6을 참조하여 좀더 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 6은 도 5의 I-I'선 단면도로서, 상기 제1게이트테스트패드(122a) 및 제2게이트테스트패드(122b), 제1데이터테스트패드(124a) 및 제2데이터테스트패드(124b), 공통테스트패드(126)의 단면구조를 나타내는 도면이다. 이때, 도면에는 상기 다수의 테스트패드중에서 제2게이트테스트패드(122b)를 예를 들어 설명한다.

도 6에 도시된 바와 같이, 제1모기판(103)의 액정패널에는 제2게이트테스트패드(122b)가 형성되어 있으며 그 위에 제2모기판(105)이 배치된다. 상기 제2게이트테스트패드(122b)의 주위에는 실패턴(142)이 형성되어 있다. 상기 실패턴(142)은 상기 제2게이트테스트패드(122b)을 둘러싸고 있어서, 상기 실패턴(142)을 외부와 차단한다. 즉, 제2게이트테스트패드(122b)는 실패턴(142)과 제1모기판(103) 및 제2모기판(105)에 의해 밀폐된다. 또한, 상기 실패턴(142) 상부의 제2모기판(105)에는 홀(141)이 형성되어 있으며, 상기 실패턴(142)에 의해 밀폐된 제1모기판(103)과 제2모기판(105) 사이에 은과 같은 도전성 물질(144)이 충진된다. 이때, 상기 실패턴(142)에 의해 제2게이트테스트패드(122b)가 밀폐되므로, 상기 도전성 물질(144)이 액정패널의 다른 영역으로 퍼지지 않게 된다.

상기와 같은 구성으로 이루어진 제2게이트테스트패드(122b)에서는 상기 도전성 물질(144)에 탐침(150)을 접촉시킨 상태에서 테스트신호를 인가하면, 상기 도전성 물질(144)이 제2게이트테스트패드(122b) 위에 형성되므로, 인가된 테스트신호가 도전성 물질(144)을 통해 제2게이트테스트패드(122b)에 입력되어, 제2게이트쇼팅 바(118b)를 통해 액정패널의 박막트랜지스터(137)로 테스트신호가 입력된다.

홀(141)은 합착된 모기판(100)에 형성되는 복수 액정패널의 테스트패드(122a,122b,124a,124b,126)상의 제2모기판(105)에 형성된다. 따라서, 각각의 테스트패드(122a,122b,124a,124b,126)에 탐침을 이용하여 테스트신호를 인가함으로써 모든 액정패널에 대하여 MPS검사를 실시할 수 있게 된다.

도 7a∼도 7c는 상기 테스트패드 구조를 형성하는 방법을 나타내는 도면이다.

우선, 도 7a에 도시된 바와 같이, 테스트패드(222)가 형성된 제1모기판(203)에 실패턴(242)을 형성된다. 상기 실패턴(242)의 제1기판(203) 외곽에 형성되어 상기 제1기판(203)과 제2기판(205)을 합착하는 실패턴과 동일한 공정에 의해 형성된다. 이어서, 상기 제1모기판(203)과 제2모기판(205)을 합착한 후 드릴과 같은 공구를 이용하여 제2모기판(205)에 홀(241)을 형성한다. 상기 제1모기판(203)과 제2모기판(205)을 합착함에 따라 상기 테스트패드(222)는 밀폐되어 액정패널의 다른 영역으로부터 분리된다.

그후, 도 7b에 도시된 바와 같이, 상기 홀(241)을 통해 실패턴(242)에 의해 밀폐된 공간에 액체 상태의 은이나 알루미늄과 같은 도전성물질(244)을 충진시킨 후 냉각하여 상기 도전성물질(244)을 경화시킨다. 이때, 상기 도전성물질(244)은 실패턴(242)에 의해 밀폐된 공간에만 충진되므로, 상기 도전성물질(244)이 액정패널의 다른 영역으로 흘러가 발생하는 불량을 방지할 수 있게 된다. 상기 도전성 물질(244)이 경화됨에 도전성 물질(244)과 테스트패드(222)가 접촉하여 상기 통전상 태로 된다.

이어서, 도 7c에 도시된 바와 같이, 탐침(250)을 상기 도전성물질(244)에 접촉시켜 테스트신호를 상기 도전성물질에 인가하면, 상기 테스트신호가 테스트패드(222)를 통해 액정패널의 게이트라인 또는 데이터라인으로 인가되어 화소내에 형성된 박막트랜지스를 구동하고 화소에 신호를 공급하여 MPS검사를 실시하게 된다.

상기와 같이 MPS검사를 실시하여 불량이 발생하는 경우 불량이 발생된 액정패널에 대하여 더 이상의 공정을 진행하지 않고 해당 액정패널을 폐기하거나 해당 액정패널에 리페어(repair)공정을 진행하며, 불량이 발생하지 않는 경우 이후의 공정을 진행한다.

상기 MPS검사가 종료된 모기판은 가공공정에 의해 가공된다. 즉, 합착된 모기판이 절단되어 단위 액정패널로 분리되고 절단된 액정패널을 연마하고 세정함으로써 액정패널을 완성할 수 있게 된다. 이때, 제작된 액정패널에 다시 한번 검사를 진행할 수도 있을 것이다.

한편, 상기 테스트패드 및 쇼팅바는 모기판의 절단시 액정패널로부터 분리된다. 다시 말해서, 완성된 액정패널에는 상기 테스트패드 및 쇼팅바가 제거되어 있는 것이다.

상기한 설명에 많은 사항이 구체적으로 기재되어 있으나 이것은 발명의 범위를 한정하는 것이라기보다 바람직한 실시예의 예시로서 해석되어야 한다. 따라서 발명의 권리의 범위는 설명된 실시예에 의하여 결정되는 것이 아니고 첨부한 특허청구범위에 의해 결정되어야만 할 것이다.

도 1은 일반적인 액정표시소자의 구조를 나타내는 단면도.

도 2는 종래 액정표시소자 제조방법을 나타내는 플로우챠트.

도 3은 본 발명에 따른 액정표시소자의 제조방법을 나타내는 플로우챠트.

도 4는 본 발명에 따른 액정패널이 형성된 합착된 모기판을 나타내는 도면.

도 5는 모기판에 형성된 액정패널의 구조를 나타내는 평면도.

도 6은 도 4의 I-I'선 단면도.

도 7a∼7c는 본 발명에 따른 테스트패드 구조를 형성하는 방법을 나타내는 도면.

Claims

박막트랜지스터 및 컬러필터가 각각 형성되고, 복수의 액정패널이 형성되는 제1모기판 및 제2모기판을 제공하는 단계;

상기 제1모기판 및 제2모기판을 합착하는 단계;

상기 제1기판의 액정패널에 형성되고 실패턴에 의해 밀폐된 테스트패드를 노출시키는 단계;

상기 테스트패드를 통해 테스트신호를 인가하여 액정패널을 검사하는 단계; 및

합착된 제1모기판 및 제2모기판을 액정패널로 분리하는 단계로 구성된 액정표시소자 제조방법.
제1항에 있어서, 상기 테스트패드를 노출시키는 단계는,

상기 테스트패드에 대응하는 제2모기판의 영역에 홀을 형성하는 단계; 및

상기 홀을 통해 도전성 물질을 실패턴에 의해 밀폐된 영역에 충진하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시소자 제조방법.
제2항에 있어서, 액정패널을 검사하는 단계는,

탐침을 도전물질과 접촉시키는 단계; 및

탐침을 통해 테스트신호를 입력시키는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표 시소자 제조방법.
제3항에 있어서, 상기 도전물질은 은을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 제조방법.
제1항에 있어서, 상기 제1모기판을 제공하는 단계는,

제1모기판의 액정패널의 표시부에 게이트라인, 데이터라인 및 박막트랜지스터를 형성하는 단계; 및

상기 표시부 외부의 더미영역에 상기 게이트라인과 데이터라인 및 테스트패드를 연결하는 복수의 쇼팅바를 형성하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시소자 제조방법.
제5항에 있어서, 상기 테스트패드와 쇼팅바는 합착된 모기판으로부터 액정패널을 분리할때 제거되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 제조방법.
제1항에 있어서, 상기 컬러필터를 제공하는 단계는,

제2모기판의 액정패널의 표시부에 컬러필터층을 형성하는 단계; 및

상기 표시부에 블랙매트릭스를 형성하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시소자 제조방법.
복수의 액정패널 영역을 포함하는 제1모기판 및 제2모기판;

상기 제1모기판의 액정패널 영역의 표시부에 형성되어 복수의 화소를 정의하는 복수의 게이트라인 및 데이터라인;

상기 상기 제1모기판의 액정패널 영역의 표시부의 각 화소에 형성된 박막트랜지스터;

상기 제2모기판의 액정패널 영역에 형성된 컬러필터층 및 블랙매트릭스; 및

상기 제1모기판의 액정패널 영역의 더미부에 형성되어 외부로부터 테스트신호가 입력되는 복수의 테스트패드로 구성되며,

상기 테스트패드는 제2모기판에 형성된 홀을 통해 외부로 노출되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
제8항에 있어서,

상기 제1모기판의 액정패널 영역의 더미부에 형성되어 상기 테스트패드를 밀폐하는 실패턴;

상기 테스트패드에 대응하는 영역의 제2모기판에 형성된 홀; 및

상기 상기 실패턴에 의해 밀폐된 공간에 충진된 도전성 물질을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
제9항에 있어서, 상기 도전성 물질은 은을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
제8항에 있어서, 상기 제1모기판의 액정패널 영역의 더미부에 형성되어 상기 테스트패드 및 표시부의 게이트라인과 데이터라인에 접속되는 복수의 쇼팅바를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
복수의 액정패널 영역을 포함하는 제1모기판 및 제2모기판;

상기 제1모기판의 각 액정패널 외부의 더미영역에 형성된 복수의 테스트패턴;

제1모기판의 각 액정패널 영역 더미부의 테스트패턴의 주위에 형성되어 상기 제1모기판 및 제2모기판과 함께 상기 테스트패드를 밀폐하는 실패턴;

상기 테스트패드에 대응하는 영역의 제2모기판에 형성된 홀; 및

상기 실패턴에 의해 밀폐된 공간에 충진된 도전성 물질로 이루어진 액정표시소자의 테스트패턴구조.