KR101736921B1 - 액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법 - Google Patents

액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 인버젼구동방식의 액정표시소자에서 단색 테스트패턴을 검사하기 위한 것으로, 복수의 게이트라인 및 데이터라인에 의해 정의되는 복수의 화소와 상기 화소에 배치되는 박막트랜지스터를 포함하는 액정패널을 제공하는 단계; 홀수번째 게이트라인에 제1테스트주사신호를 인가하는 단계; 데이터라인에 단색 테스트 화상신호를 인가하는 단계; 짝수번째 게이트라인에 제2테스트주사신호를 인가하는 단계; 및 데이터라인에 단색 테스트 화상신호를 인가하여 단색 테스트패턴을 표시하는 단계로 구성되며, 상기 데이터라인에는 서로 인접하는 화소에 배치된 박막트랜지스터가 연결되며, 제1테스트주사신호의 인가 및 제2테스트주사신호의 인가는 한 프레임 내에서 순차적으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

Description

액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD TESTING THEREOF}
본 발명은 액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법에 관한 것으로, 특히 인버젼구동하는 액정표시소자에서 단색의 검사를 용이하게 실행할 수 있는 액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법에 관한 것이다.
근래, 핸드폰(Mobile Phone), PDA, 노트북컴퓨터와 같은 각종 휴대용 전자기기가 발전함에 따라 이에 적용할 수 있는 경박단소용의 평판표시장치(Flat Panel Display Device)에 대한 요구가 점차 증대되고 있다. 이러한 평판표시장치로는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), FED(Field Emission Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display) 등이 활발히 연구되고 있지만, 양산화 기술, 구동수단의 용이성, 고화질의 구현이라는 이유로 인해 현재에는 액정표시소자(LCD)가 각광을 받고 있다.
액정표시소자는 액정의 굴절률 이방성을 이용하여 화면에 정보를 표시하는 장치이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 액정표시소자(1)는 제1기판(3)과 제2기판(5) 및 상기 제1기판(3)과 제2기판(5) 사이에 형성된 액정층(7)으로 구성되어 있다. 제1기판(3)은 구동소자 어레이(Array)기판이다. 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 제1기판(1)에는 복수의 화소가 형성되어 있으며, 각각의 화소에는 박막트랜지스터(Thin Film Transistor;이하, TFT라 한다)와 같은 구동소자가 형성되어 있다. 제2기판(5)은 컬러필터(Color Filter)기판으로서, 실제 컬러를 구현하기 위한 컬러필터층이 형성되어 있다. 또한, 상기 제1기판(3) 및 제2기판(5)에는 각각 화소전극 및 공통전극이 형성되어 있으며 액정층(7)의 액정분자를 배향하기 위한 배향막이 도포되어 있다.
상기 제1기판(3) 및 제2기판(5)은 실링재(Sealing Material)(9)에 의해 합착되어 있으며, 그 사이에 액정층(7)이 형성되어 상기 제1기판(3)에 형성된 구동소자에 의해 액정분자를 구동하여 액정층을 투과하는 광량을 제어함으로써 정보를 표시하게 된다.
액정표시소자의 제조공정은 크게 제1기판(3)에 구동소자를 형성하는 구동소자 어레이기판공정과 제2기판(5)에 컬러필터를 형성하는 컬러필터기판공정 및 셀(Cell)공정으로 구분될 수 있는데, 이러한 액정표시소자의 공정을 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 2에 도시된 바와 같이, TFT어레이공정과 컬러필터공정을 통해 복수의 액정패널영역이 형성된 유리 모기판인 제1기판(3) 및 제2기판(5)에 각각 구동소자인 TFT와 컬러필터층을 형성한다(S101,S104). 이어서, 상기 TFT가 형성된 제1기판(3)과 컬러필터층이 형성된 제2기판(5)에 각각 배향막을 도포한 후 러빙을 실행한 후(S102,S105), 제1기판(3)의 액정패널 영역에는 액정(7)을 적하하고 제2기판(5)의 액정패널 외곽부 영역에는 실링재(9)를 도포한다(S103,S106).
그 후, 상기 제1기판(3)과 제2기판(5)을 정렬한 상태에서 압력을 가하여 실링재(9)에 의해 상기 제1기판(3)과 제2기판(5)을 합착함과 동시에 압력의 인가에 의해 적하된 액정(7)을 패널 전체에 걸쳐 균일하게 퍼지게 한다(S137). 이와 같은 공정에 의해 대면적의 유리기판(제1기판 및 제2기판)에는 액정층이 형성된 복수의 액정패널이 형성되며, 이 유리기판을 가공, 절단하여 복수의 액정패널로 분리하고 각각의 액정패널을 검사함으로써 액정표시소자를 제작하게 된다(S108,S139).
상기한 바와 같이, 종래 액정표시소자 제조방법에서는 복수의 액정패널이 형성될 기판상에 액정을 적하하고 제1기판(3)과 제2기판(5)을 합착한 후 합착된 기판(3,5)을 단위 패널 단위로 분리함으로써 액정표시소자를 제작할 수 있게 된다.
액정패널은 다양한 방법으로 검사될 수 있지마, 이중에서 대표적인 검사방법이 오토프로브(Auto Probe) 검사방법이다. 상기 오토프로브 검사방법은 액정패널에 테스트패턴을 디스플레이하는 테스트신호를 인가한 후, 액정패널에 구현되는 테스트패턴을 검사함으로써 액정패널의 불량여부를 조사하는 것이다. 이때, 테스트신호는 백색 테스트패턴을 구현하는 신호와 R,G,B의 단색의 테스트패턴을 구현하는 신호로 이루어져, 백색 테스트패턴과 단색 테스트패턴을 검사하여 액정패널의 불량여부를 조사한다.
도 3은 종래 오토프로브 검사장치를 이용하여 액정패널을 검사하는 것을 나타내는 도면이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 액정패널(1)은 실제 화상이 구현되는 표시부를 포함하고 있다. 이때, 도면에는 설명의 편의를 위해 박막트랜지스터가 형성된 박막트랜지스터 기판만을 도시하고 컬러필터가 형성된 컬러필터기판을 생략하였다.
표시부에는 종횡으로 배열되어 복수의 화소를 정의하는 복수의 게이트라인(33)과 데이터라인(35)이 형성되어 있다. 각 화소 내에는 스위칭소자인 박막트랜지스터(Thin Film Transistor;37)가 배치되어 상기 게이트라인(33)을 통해 주사신호가 입력되는 경우 스위칭되어 데이터라인(35)을 통해 입력되는 화상신호를 화소전극(39)에 인가한다. 또한, 상기 게이트라인(33) 및 데이터라인(35)의 종단에는 각각 게이트패드와 데이터패드가 형성되어 있다.
도면에는 도시하지 않았지만, 상기 액정패널(1)의 외부에는 게이트구동IC와 데이터구동IC가 장착되어 상기 게이트패드(22) 및 데이터패드(25)를 통해 게이트라인(33)과 데이터라인(35)에 신호를 공급한다.
도면에는 자세히 도시하지 않았지만, 상기 박막트랜지스터(37)는 게이트라인(33)에 접속되어 게이트구동IC로부터 주사신호가 인가되는 게이트전극과, 게이트전극위에 형성된 게이트절연층과, 상기 게이트절연층 위에 형성되어 게이트전극에 주사신호가 인가됨에 따라 채널층을 형성하는 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성되어 채널층이 형성됨에 따라 데이터구동IC로부터 데이터라인(35)을 통해 입력되는 신호를 화소 전체에 형성된 화소전극(39)에 인가하는 소스/드레인전극으로 구성된다.
또한, 도면에는 도시하지 않았지만, 컬러필터기판에는 실제 컬러를 구현하는 R(Red), G(Green), B(Blue)의 컬러필터층과, 게이트라인 및 데이터라인과 박막트랜지스터 등으로 광이 투과하는 것을 차단하는 블랙매트릭스로 구성된다.
상기와 같은 구성으로 이루어진 액정패널(1)에서 게이트패드(22)를 통해 테스트주사신호가 액정패널(1)의 게이트라인(33)으로 인가되고, 데이터패드(25)를 통해 테스트 화상신호가 데이터라인(35) 및 박막트랜지스터(37)를 통해 화소영역의 화소전극(39)으로 인가된다.
이때, 상기 테스트 화상신호는 백색 테스트패턴을 구현하기 위한 R,G,B신호일 수도 있고, R,G,B의 단색 테스트패턴을 구현하기 위한 R,G,B 단일 신호일 수도 있다.
상기와 같이, 테스트 화상신호가 입력됨에 따라 화면상에는 백색 테스트패턴과 R,G,B 단일 테스트패턴이 구현되며, 이 구현된 테스트패턴을 사람이 직접 관찰하거나 카메라에 의해 촬영함으로써 불량여부를 판별하게 된다.
그러나, 상기와 같은 검사방법에서는 다음과 같은 문제가 발생한다.
도 3에 도시된 바와 같이, R,G,B화소는 게이트라인(33)을 따라 R,G,B,R,G,B의 순서로 배열되며, 데이터라인을 따라서는 동일한 화소가 배열된다. 따라서, 단색 테스트패턴을 구현하는 경우, 단색 테스트패턴이 데이터라인을 따라 위에서 아래로 연장되며, 인접하는 테스트패턴과는 일정 간격(즉, 2개의 화소에 대응하는 간격) 이격된 형태의 띠형상으로 구현되며, 이 구현된 테스트패턴에 의해 단색 테스트신호의 인가시의 불량여부를 판별한다.
그런데, 근래 도 4에 도시된 바와 같이 하나의 데이터라인을 통해 데이터라인과 서로 인접하는 복수의 화소에 화상신호를 인가하여 액정표시소자를 인버젼구동하는 구성이 제안되고 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 이러한 구조의 액정표시소자에서는 하나의 데이터라인(33)에 인접하는 화소의 박막트랜지스터(37)가 접속되어, 데이터라인(33)을 통해 화상신호가 인가되는 경우 서로 인접하는 화소에 화상신호가 인가되어, 지그재그형상으로 화상이 구현되게 된다.
즉, 도 5a에 도시된 바와 같이, 일반적인 구조의 액정표시소자에서는 적색의 테스트패턴을 구현하는 R-테스트신호를 인가했을 때, 띠형상의 적색 테스트패턴이 일정 간격을 두고 구현된다.
반면에, 도 5b에 도시된 바와 같이, 인버젼구동 방식에서는 적색의 테스트패턴을 구현하는 R-테스트신호를 인가했을 때 하나의 데이터라인에 인접하는 양측의 화소(즉, B-화소 및 R-화소)가 접속되므로, 테스트패턴이 데이터라인을 따라 지그재그형상으로 구현된다. 이때, 테스트패턴은 적색만이 구현되는 것이 아니라 적색 화소와 데이터라인을 공유하는 청색 화소로 인해 적색 테스트패턴과 청색 테스트패턴이 지그재그형상으로 교대로 구현된다.
이와 같이, 인버젼구동방식의 액정표시소자에서는 단색 테스트신호를 인가했을 때 해당 테스트신호에 대응하는 단색만이 구현되는 것이 아니라 다른 색의 테스트패턴도 구현되므로, 단색 신호에 대한 검사가 불가능하였다.
본 발명은 상기한 점을 감안하여 이루어진 것으로, 홀수번째 게이트라인과 짝수번째 게이트라인에 테스트 주사신호를 별도로 인가한 상태에서 단색 테스트패턴에 대한 검사를 실행함으로써 화소가 데이터라인에 지그재그로 연결되어 구동되는 인버젼구동방식의 액정표시소자에서도 단색 테스트신호에 대한 검사가 용이하게 이루어질 수 있는 액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법에 관한 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 액정표시소 검사방법은 복수의 게이트라인 및 데이터라인에 의해 정의되는 복수의 화소와 상기 화소에 배치되는 박막트랜지스터를 포함하는 액정패널을 제공하는 단계; 홀수번째 게이트라인에 제1테스트주사신호를 인가하는 단계; 데이터라인에 단색 테스트 화상신호를 인가하는 단계; 짝수번째 게이트라인에 제2테스트주사신호를 인가하는 단계; 및 데이터라인에 단색 테스트 화상신호를 인가하여 단색 테스트패턴을 표시하는 단계로 구성되며, 상기 데이터라인에는 서로 인접하는 화소에 배치된 박막트랜지스터가 연결되며, 제1테스트주사신호의 인가 및 제2테스트주사신호의 인가는 한 프레임 내에서 순차적으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상기 단색 테스트 화상신호를 인가하는 단계는 데이터라인에 연결된 제1트랜지스터중 하나의 트랜지스터를 턴온시키는 단계 및 턴온된 제1-3트랜지스터에 연결된 데이터라인을 통해 단색 테스트 화상신호를 인가하는 단계로 이루어지며, 상기 단색 테스트 화상신호는 Red, Green, Blue 테스트 화상신호를 포함한다.
본 발명에서는 홀수번째 게이트라인과 짝수번째 게이트라인 별도로 테스트 주사신호를 인가한 상태에서 단색 테스트패턴에 대한 검사를 실행함으로써 화소가 데이터라인에 지그재그로 연결되어 구동되는 인버젼구동방식의 액정표시소자에서도 한 프레임 내에서 단색 테스트패턴이 모두 표시되므로 단색신호에 대한 검사가 용이하게 이루어질 수 있게 된다.
도 1은 일반적인 액정표시소자의 구조를 나타내는 단면도.
도 2는 종래 액정표시소자 제조방법을 나타내는 플로우챠트.
도 3은 종래 액정표시소자의 검사방법을 나타내는 도면.
도 4는 종래 다른 구조의 액정표시소자에서의 검사방법을 나타내는 도면.
도 5a 및 도 5b는 도 3 및 도 4에 도시된 액정표시소자의 검사시 화면에 표시되는 단색 테스트 패턴을 나타내는 도면.
도 6은 본 발명에 따른 액정표시소자의 검사장치를 개략적으로 나타내는 도면.
도 7은 본 발명에 따른 액정표시소자의 검사방법을 나타내는 도면.
도 8a-도 8c는 본 발명에 따른 액정표시소자의 검사시 화면상에 표시되는 단색 테스트 패턴을 나타내는 도면.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.
도 6은 본 발명에 따른 액정표시소자의 검사장치를 개략적으로 나타내는 것으로, 이 검사장치를 이용하여 액정표시소자의 검사방법을 개략적으로 설명하면 다음과 같다.
도 6에 도시된 바와 같이, 검사장치(100)는 이전의 박막트랜지스터 어레이공정, 컬러필터형성공정, 합착공정, 절단공정 등의 여러 공정을 거친 액정패널(101)이 로딩되는 로더부와, 컨베이어 등과 같은 이동수단에 의해 이동되어 실제 액정패널(101)의 검사가 진행되는 검사부와, 상기 검사부에서 검사가 종료된 액정패널(101)이 컨베이어 등과 같은 이동수단에 의해 이동되어 언로딩되는 언로더부로 구성된다.
상기 로더부에는 액정패널(101)이 안착되는 팔레트(110)가 구비되어, 액정패널(101)은 상기 팔레트(110)에 안착된 상태로 이동수단에 의해 이동된다. 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 팔레트(110)는 검사를 수행하기 위해 상기 액정패널(101)이 안착되는 테이블과, 상기 테이블에 안착된 액정패널(101)에 에 부착되어 상기 액정패널(101)에 테스트신호를 인가하는 프로브유닛과, 상기 액정패널(101)의 게이트 및 데이터라인 별로 프로브 유닛이 장착된 베이스 플레이트로 구성된다.
상기 검사부의 상부에는 카메라(115)가 설치되어 로딩되는 액정패널(101)을 촬영한다. 이때, 상기 카메라(115)로는 액정패널(101)을 라인별로 스캐닝하는 라인스캔 카메라(Line Scan Camera)일 수 있고 액정패널(101)을 영역별로 스캔하는 에어리어 카메라(Area Camera)일 수도 있다. 또한 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 검사장치(100)는 상기 카메라(115)로부터 전달된 정보를 작업자가 확인할 수 있는 화상으로 처리하는 비전하드웨어와, 상기 비전하드웨어를 통해 처리된 화상이 표시되는 화상표시부 및 검사되는 검사 대상물의 결함을 표시하는 결함맵을 구비할 수 있다.
또한, 검사부의 팔레트(110)의 하부에는 백라이트(190)가 구비되어 셀단위의 액정패널(101)을 검사할 때 액정패널(101)에 광을 공급하여 테스트패턴이 표시되도록 한다.
이러한 검사장치(100)에 의한 액정패널(101)의 검사공정은 다음과 같다.
박막트랜지스터 어레이공정, 컬러필터형성공정, 합착공정, 절단공정 등을 걸친 액정패널(101)이 상기 검사장치(100)로 투입되면, 상기 로더부는 상기 액정패널(101)을 로딩하고, 상기 로딩된 액정패널(101)은 팔레트(110) 상에 안착된 상태로 검사부로 이동하게 된다.
상기 검사부로 이동된 액정패널(101)은 상기 팔레트(110)에 구비된 테이블에 안착되어 프로브유닛과 접속되어 상기 카메라(115)를 통해 불량 여부에 대한 검사가 이루어진다. 이때, 상기 카메라(115)에 의해 촬영된 검사시료의 이미지는 광정보처리부에 의해 처리됨으로써 자동으로 검사가 이루어진다.
상기 검사부에서 검사가 이루어진 액정패널(101)은 상기 팔레트(110)에 안착되어 언로더부를 통해 언로딩된다.
도 7에 도시된 바와 같이, 상기 검사장치(100)에 의해 검사가 이루어지는 액정패널(101)에는 종횡으로 배열되어 복수의 화소를 정의하는 복수의 게이트라인(133)과 데이터라인(135a,135b,135c)이 형성되어 있으며 각 화소 내에는 스위칭소자인 박막트랜지스터(137)가 배치되어 상기 게이트라인(133)을 통해 주사신호가 입력되는 경우 스위칭되어 데이터라인(135a,135b,135c)을 통해 입력되는 화상신호를 화소전극(139)에 인가한다. 또한, 상기 게이트라인(133) 및 데이터라인(135a,135b,135c)의 종단에는 각각 게이트패드(122)와 데이터패드(125a,125b,125c)가 형성되어 있다.
이때, 상기 데이터라인(135a,135b,135c)의 각각에는 인접하는 좌우 화소의 박막트랜지스터(137)가 접속된다. 즉, 특정 데이터라인(135a,135b,135c)을 기준으로 홀수번째 게이트라인(133a)에 연결된 박막트랜지스터(137)가 데이터라인(135a,135b,135c)의 우측에 배치되어 상기 데이터라인(135a,135b,135c)과 연결되고, 짝수번째 게이트라인(133b)에 연결된 박막트랜지스터(137)는 데이터라인(135a,135b,135c)의 좌측에 배치되어 데이터라인(135a,135b,135c)과 접속된다. 다시 말해서, 데이터라인(135a,135b,135c)을 중심으로 지그재그형상으로 박막트랜지스터(137)가 데이터라인(135a,135b,135c)에 연결된다.
데이터라인(135)의 단부에는 데이터패드(125a,125b,125c)가 형성되며, 상기 데이터패드(125a,125b,125c)에는 외부의 연결라인(210)을 통해 테스트신호 인가라인(220)과 연결되어 외부로부터 테스트 화상신호가 상기 데이터패드(125a,125b,125c)를 통해 데이터라인(135a,135b,135c)으로 입력된다. 이때, 상기 연결라인(210)에는 각각 테스트신호 인가용 트랜지스터(211a,211b,211c)가 배치되어, 각각의 데이터라인(135a,135b,135c)에 단색 제1-3테스트신호를 인가한다.
즉, 적색 테스트패턴에 대한 검사를 진행하는 경우, Red On용 제1테스트신호를 제1트랜지스터(211a)의 게이트단자에 인가하여 상기 제1트랜지스터(211a)를 턴온시키면, 테스트신호 인가라인(220)을 통해 테스트 화상신호가 제1트랜지스터(211a)를 통해 해당 데이터라인(135a)으로 인가되어 상기 데이터라인(135a)과 연결된 화소에 테스트패턴을 구현하게 된다.
또한, 녹색 테스트패턴에 대한 검사를 진행하는 경우, GREEN On용 제2테스트신호를 제2트랜지스터(211b)의 게이트단자에 인가하여 상기 제2트랜지스터(211b)를 턴온시키면, 테스트신호 인가라인(220)을 통해 테스트 화상신호가 제2트랜지스터(211b)를 통해 해당 데이터라인(135b)으로 인가되어 상기 데이터라인(135b)과 연결된 화소에 테스트패턴을 구현하게 된다.
그리고, 청색 테스트패턴에 대한 검사를 진행하는 경우, BLUE On용 제3테스트신호를 제3트랜지스터(211c)의 게이트단자에 인가하여 상기 제3트랜지스터(211c)를 턴온시키면, 테스트신호 인가라인(220)을 통해 테스트 화상신호가 제3트랜지스터(211c)를 통해 해당 데이터라인(135c)으로 인가되어 상기 데이터라인(135c)과 연결된 화소에 테스트패턴을 구현하게 된다.
백색 테스트패턴에 대한 검사를 진행하는 경우에는, 제1테스트신호, 제2테스트신호 및 제3테스트신호를 각각 제1트랜지스터(211a), 제2트랜지스터(211b) 및 제3트랜지스터(211c)에 인가하여 제1트랜지스터(211a), 제2트랜지스터(211b) 및 제3트랜지스터(211c)를 모두 턴온시키면, 테스트신호 인가라인(220)을 통해 테스트 화상신호가 각각 제1트랜지스터(211a), 제2트랜지스터(211b) 및 제3트랜지스터(211c)를 통해 해당 데이터라인(135a,135b,135c)으로 인가되어 각각의 데이터라인(135a,135b,135c)과 연결된 화소에 적,녹,청색 테스트패턴이 구현되어 결국 백색 테스트패턴이 구현된다.
홀수번째 게이트라인(133a) 및 짝수번째 게이트라인(133b)은 각각 제1테스트주사신호가 인가되는 제1테스트 주사신호라인(230a) 및 제2테스트 주사신호라인(230b)에 연결된다.
도면에 도시하지 않았지만, 상기 제1테스트 주사신호라인(230a) 및 제2테스트 주사신호라인(230b)은 외부의 테스트 주사신호 발생부와 연결되어 게이트라인(133a,133b)에 테스트 주사신호를 인가한다.
이때, 상기 제1테스트 주사신호라인(230a) 및 제2테스트 주사신호라인(230b)에는 각각 한 프레임내에서 연속적인 테스트 주사신호가 인가된다. 즉, 제1테스트 주사신호라인(230a)을 통해 홀수번째의 게이트라인(133a)에 테스트 주사신호가 인가된 후, 이어서 제2테스트 주사신호라인(230b)을 통해 짝수번째의 게이트라인(133b)에 테스트 주사신호가 순차적으로 인가된다.
이와 같이, 한 프레임내에서 홀수번째 게이트라인(133a)과 짝수번째 게이트라인(133b)에 테스트 주사신호를 순차적으로 인가함으로써, 데이터라인을 따라 띠형상으로 표시되는 단색을 구현할 수 있는데, 이러한 방법을 도 7 및 도 8을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
우선, 도 7에 도시된 구조의 액정표시소자에서 제1테스트 주사신호라인(230a)을 통해 홀수번째 게이트라인(133a)에 제1테스트 주사신호를 인가함과 동시에 제1테스트신호를 제1트랜지스터(211a)의 게이트단자에 인가하면, 상기 제1트랜지스터(211a)가 턴온되어 데이터라인(135a)을 통해 테스트 화상신호가 입력된다. 이때, 홀수번째 게이트라인(133a)에 연결된 박막트랜지스터(137)만이 턴온되고 짝수번째 게이트라인(133b)에 연결된 박막트랜지스터(137)는 턴오프된 상태를 유지하므로, 테스트 화상신호가 입력되는 데이터라인(135a) 및 홀수번째 게이트라인(133a)에 의해 정의되는 화소, 즉 도 7에서 테스트 화상신호가 입력되는 데이터라인(135a)의 우측에 배치된 R-화소에만 테스트 화상신호가 입력되어 상기 R-화소에 적색 테스트패턴을 구현하게 되어 도 8a에 도시된 바와 같이 적색 테스트패턴이 한 화소가 이격된 띠형상으로 구현된다.
이때, 도 7에서 테스트 화상신호가 입력되는 데이터라인(135a)의 좌측에 배치된 B-화소는 테스트 주사신호가 인가되지 않는 짝수번째 게이트라인(133b)과 연결되어 내부에 배치되는 박막트랜지스터(137)가 턴오프된 상태를 유지하므로 상기 B화소에는 테스트 화상신호가 입력되지 않아서 청색 테스트패턴이 구현되지 않는다. 따라서, 도 5b에 도시된 종래에는 B-화소에 청색 테스트패턴이 표시되는데 비해서, 본 발명에서는 B-화소에 이러한 청색 테스트패턴이 표시되지 않게 된다.
이어서, 제2테스트 주사신호라인(230b)을 통해 짝수번째 게이트라인(133b)에 제2테스트 주사신호를 인가함과 동시에 제2테스트신호를 제2트랜지스터(112b)의 게이트단자에 인가하면, 상기 제2트랜지스터(211b)가 턴온되어 데이터라인(135b)을 통해 테스트 화상신호가 입력된다. 이때, 짝수번째 게이트라인(133a)에 연결된 박막트랜지스터(137)만이 턴온되고 홀수번째 게이트라인(133b)에 연결된 박막트랜지스터(137)는 턴오프된 상태를 유지하므로, 테스트 화상신호가 입력되는 데이터라인(135b) 및 짝수번째 게이트라인(133b)에 의해 정의되는 화소, 즉 도 7에서 테스트 화상신호가 입력되는 데이터라인(135b)의 좌측에만 배치된 R-화소에만 테스트 화상신호가 입력되어 적색 테스트패턴을 표시하게 되어 도 8b에 도시된 바와 같이 적색 테스트패턴이 한 화소가 이격된 띠형상으로 구현된다.
이때, 도 7에서 테스트 화상신호가 입력되는 데이터라인(135b)의 우측에 배치된 G-화소는 테스트 주사신호가 인가되지 않는 홀수번째 게이트라인(133a)과 연결되어 내부의 박막트랜지스터(137)가 턴오프상태를 유지하게 되어 테스트 화상신호가 입력되지 않기 때문에, G-화소에는 녹색 테스트패턴이 표시되지 않는다.
상기와 같은 홀수번째 게이트라인(133a) 및 짝수번째 게이트라인(133b)으로 주사신호를 인가한 상태에서 테스트신호를 인가하는 동작은 한프레임에서 이루어진다. 따라서, 실질적으로 화면상에는 도 8a에 도시된 테스트패턴과 도 8b에 도시된 테스트패턴이 한 프레임상에서 구현되어 실제로는 이들 테스트패턴이 합성된 영상이 화면상에 표시된다. 즉, 도 8c에 도시된 바와 같이, 실제 화면에는 띠형상의 적색 테스트패턴이 구현되어 적색에 대한 검사가 원활하게 이루어진다.
상기와 같은 과정의 검사가 녹색 및 청색의 단일 테스트패턴에 대하여 반복되어 단일 색상에 대한 검사가 진행된다.
또한, 백색 테스트패턴에 대한 검사는 제1-3트랜지스터(211a,211b,211c)를 모두 턴온시키고 대응하는 모든 테스트신호를 데이터라인(135a,135b,135c)에 인가함으로써 이루어진다. 즉, 모든 테스트신호를 인가함에 따라 화면상에는 적색, 녹색, 청색의 테스트패턴이 구현되어 결국 백색 테스트패턴이 표시된다.
상술한 바와 같이, 본 발명에서는 홀수번째 게이트라인과 짝수번째 게이트라인에 한 프레임내에서 순차적으로 신호를 인가한 상태에서 오토프로브검사를 진행하므로 인버젼구동방식의 액정표시소자에서도 단일 색상에 대한 검사가 원할하게 이루어질 수 있게 된다.
한편, 상술한 상세한 설명에서는 본 발명으로서 특정한 구조의 액정표시소자 및 검사방법이 설명되고 있지만, 본 발명이 이러한 특정 구조나 방법에 한정되는 것이 아니다. 본 발명의 기본적인 개념을 이용하여 창안할 수 있는 다른 예나 변형예를 본 발명의 범위에 포함되어야만 할 것이다.
101 : 액정패널 133a,133b : 게이트라인
135a,135b,135c : 데이터라인 137 : 박막트랜지스터
139 : 화소전극 211a,211b,211c : 트랜지스터
230a,230b : 테스트 주사신호라인

Claims (6)

  1. 복수의 게이트라인 및 데이터라인에 의해 정의되는 복수의 화소와 상기 화소에 배치되는 박막트랜지스터를 포함하는 액정패널을 제공하는 단계;
    홀수번째 게이트라인에 제1테스트주사신호를 인가함과 동시에 데이터라인에 테스트 화상신호를 인가하는 단계;
    짝수번째 게이트라인에 제2테스트주사신호를 인가함과 동시에 데이터라인에 테스트 화상신호를 인가하여 단색 테스트패턴을 표시하는 단계로 구성되며,
    상기 화소에 배치된 상기 박막트랜지스터가 상기 데이터라인을 중심으로 지그재그형상으로 상기 데이터라인에 연결되며, 제1테스트주사신호의 인가 및 제2테스트주사신호의 인가는 한 프레임 내에서 순차적으로 이루어져 상기 데이터라인을 따라 좌우에 배치되는 상기 박막트랜지스터중 데이터라인을 따라 일렬로 배치되는 박막트랜지스터를 구동하여 한프레임내에서 띠형상의 단색 테스트패턴을 구현하는 액정표시소자 검사방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 테스트 화상신호를 인가하는 단계는,
    각각의 데이터라인에 연결된 제1-3트랜지스터중 하나의 트랜지스터를 턴온시키는 단계; 및
    턴온된 상기 제1-3트랜지스터에 연결된 데이터라인을 통해 테스트 화상신호를 인가하는 단계로 이루어진 액정표시소자 검사방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 테스트 화상신호는 Red, Green, Blue 테스트 화상신호를 포함하는 액정표시소자 검사방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 테스트 화상신호를 인가하는 단계는,
    각각의 데이터라인에 연결된 제1-3트랜지스터를 모두 턴온시키는 단계; 및
    턴온된 상기 제1-3트랜지스터에 연결된 데이터라인에 테스트화상 신호를 동시에 인가하여 백색 테스트패턴을 표시하는 단계로 이루어진를 추가로 포함하는 액정표시소자 검사방법.
  5. 제1항에 있어서, 표시된 테스트패턴을 촬영하여 불량을 판별하는 단계를 추가로 포함하는 액정표시소자 검사방법.
  6. 복수의 게이트라인 및 데이터라인에 의해 정의되는 복수의 화소와 상기 화소에 배치되는 박막트랜지스터를 포함하는 액정패널;
    상기 액정패널의 각각의 데이터라인과 연결되어, 신호가 인가됨에 따라 턴온되는 복수의 제1-3트랜지스터;
    상기 제1-3트랜지스터에 연결되어 제1-3트랜지스터가 턴온됨에 따라 상기 제1-3트랜지스터를 통해 데이터라인에 테스트 화상신호를 인가하는 테스트신호라인;
    상기 액정패널 내에 형성된 홀수번째 게이트라인과 연결되어 홀수번째 게이트라인에 제1테스트 주사신호를 인가하는 제1테스트 주사신호라인; 및
    상기 액정패널 내에 형성된 짝수번째 게이트라인과 연결되어 짝수번째 게이트라인에 제2테스트 주사신호를 인가하는 제2테스트 주사신호라인으로 구성되며,
    상기 화소에 배치된 상기 박막트랜지스터가 데이터라인을 중심으로 지그재그형상으로 상기 데이터라인에 연결되며, 제1테스트주사신호의 인가 및 제2테스트주사신호의 인가는 한 프레임 내에서 순차적으로 이루어져 상기 데이터라인을 따라 좌우에 배치되는 박막트랜지스터중 상기 데이터라인을 따라 일렬로 배치되는 박막트랜지스터를 구동하여 한프레임내에서 띠형상의 단색 테스트패턴을 구현하는 액정표시소자.
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