KR20090003097A - The connecting device for burn in testing equipment - Google Patents

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KR20090003097A
KR20090003097A KR1020070100615A KR20070100615A KR20090003097A KR 20090003097 A KR20090003097 A KR 20090003097A KR 1020070100615 A KR1020070100615 A KR 1020070100615A KR 20070100615 A KR20070100615 A KR 20070100615A KR 20090003097 A KR20090003097 A KR 20090003097A
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burn
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housing
connection terminal
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Application number
KR1020070100615A
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이철섭
권오현
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타이코에이엠피 주식회사
(주)테스트포스
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601—Apparatus or methods therefor

Abstract

A connecting device of a burn-in test apparatus is provided to perform compatibility with an initial error detection test process of a semiconductor device using a burn-in board increasing the number of connection pins. A plurality of expansion boards is equipped in the sidewall of a test room of a chamber. A connector(1) is installed in the end section of each expansion board. The connector includes a first connection terminal and a second connection terminal which are arranged in two columns and symmetrical up and down. A burn-in board(130) includes a plurality of sockets in which the semiconductor device is mounted. The connection terminal(2) is formed in the burn-in board in order to connect the burn-in board with the expansion board electrically. The first connection pin and the second connection pin of two front and rear columns are formed in the connection terminal of the burn-in board. The first connection pin and the second connection pin are alternatively arranged.

Description

번-인 테스트 장비의 접속장치{The connecting device for burn in testing equipment}Connecting device for burn in testing equipment

본 발명은 하나의 번-인 테스트 장비에서 기존 번-인 보드와 접속핀의 개수가 늘어난 새로운 번-인 보드를 이용한 반도체소자의 초기불량 검출 테스트 작업이 서로 호환되게 함께 이루어질 수 있도록 한 번-인 테스트 장비의 접속장치에 관한 것이다.The present invention provides a one-in-one test equipment for the initial defect detection test of semiconductor devices using a new burn-in board with an increased number of existing burn-in boards and connecting pins. The connection device of the test equipment.

일반적으로 조립 완료된 반도체소자는 제품 출하전에 초기불량을 사전에 차단하기 위해 번-인 테스트 공정을 수행하게 되는 것으로서, 번-인 테스트 공정은 조립 완료된 반도체소자에 전기적, 열적 스트레스를 가하여 반도체소자의 불량 여부를 검출하는 과정이다.In general, the assembled semiconductor device performs a burn-in test process to block initial defects before shipment of the product, and the burn-in test process applies electrical and thermal stress to the assembled semiconductor device, thereby causing defects in the semiconductor device. It is a process of detecting whether or not.

통상, 반도체소자는 도 1에 도시된 바와 같은 챔버(100)의 내부에서 이루어지게 되는 것으로서, 상기 챔버(100)는 내부에 테스트룸(110)이 구비되고, 상기 테스트룸(110)의 내부에는 테스트 결과를 파악하는 서버(미도시됨)와 연결되는 다수의 확장보드(120)가 구비되어 테스트의 대상이 되는 다수의 반도체소자를 탑재한 번- 인 보드(130)를 확장보드(120)에 접속시켜 테스트가 이루어지게 된다.Typically, the semiconductor device is to be made in the interior of the chamber 100 as shown in Figure 1, the chamber 100 is provided with a test room 110 therein, the interior of the test room 110 A plurality of expansion boards 120 connected to a server (not shown) for checking a test result are provided, and a burn-in board 130 including a plurality of semiconductor devices to be tested is mounted on the expansion board 120. The test is made by connecting.

상기 번- 인 보드(130)는 반도체소자(140)의 리드선(140a)에 대응되는 소켓핀(131a)을 갖는 다수의 소켓(131)이 구비되는 것이며, 이들의 접속은 확장보드(120)의 단부측에 구비된 커넥터(121)에 번- 인 보드(130)의 접속단자(132)를 삽입함으로써 이루어지게 되고, 상기 접속단자(132)에는 커넥터(121)의 연결단자(미도시됨)에 접촉되는 다수의 접속핀(132a)이 형성되어 있다.The burn-in board 130 is provided with a plurality of sockets 131 having socket pins 131a corresponding to the lead wires 140a of the semiconductor device 140. The connection terminal 132 of the burn-in board 130 is inserted into the connector 121 provided at the end side, and the connection terminal 132 is connected to a connection terminal (not shown) of the connector 121. A plurality of contact pins 132a are in contact with each other.

이렇게 반도체소자가 탑재된 번- 인 보드(130)를 확장보드(120)에 접속시키게 되면 상기 반도체소자(140)에 전기적, 열적 스트레스가 가해지게 됨으로써 반도체소자(140)에 대한 초기 불량을 검출하게 되는 것이다.When the burn-in board 130 in which the semiconductor device is mounted is connected to the expansion board 120, electrical and thermal stresses are applied to the semiconductor device 140 to detect an initial failure of the semiconductor device 140. Will be.

한편, 근래에는 기술적인 발전으로 한정된 크기의 번-인 보드 상에 보다 많은 량의 반도체소자의 탑재가 이루어지기 때문에 번-인 보드의 접속단자에도 증가된 반도체소자의 리드선에 상응하게 접속핀이 형성된다.On the other hand, in recent years, due to technical development, since a larger amount of semiconductor devices are mounted on burn-in boards of limited size, connection pins are formed on the connection terminals of burn-in boards corresponding to the increased lead wires of semiconductor devices. do.

그러나, 종래의 번-인 보드는 1열 다수의 접속핀으로 이루어진 접속단자에 맞게 연결단자를 갖는 커넥터가 확장보드에 적용되므로 번-인 보드의 접속핀의 개수가 늘어나게 되면, 확장보드의 커넥터가 번-인 보드의 접속단자를 수용하지 못하게 됨으로써 상호 접속이 이루어지지 않게 된다.However, in the conventional burn-in board, a connector having a connection terminal is applied to an expansion board to fit a connection terminal composed of a plurality of connection pins in a row, so that the number of connection pins of the burn-in board increases, Failure to accept connection terminals on the burn-in board prevents interconnection.

따라서, 늘어난 접속핀의 개수에 맞게 연결단자를 갖는 새로운 커넥터가 장착된 확장보드로 모두 교체하여 사용하거나 기존 장비외에 새로운 확장보드가 장착된 별도의 테스트 장비를 제작하여 사용해야만 된다.Therefore, it is necessary to replace all the expansion boards equipped with new connectors having connection terminals in accordance with the increased number of connection pins, or to manufacture separate test equipment equipped with new expansion boards in addition to the existing equipment.

이렇게 확장보드를 교체하는 경우에는 기존 고가의 확장보드 및 번-인 보드 모두를 폐기 처분해야만 되므로 경제적 낭비 및 손실을 초래하는 문제점이 있고, 기존 장비외에 새로운 확장보드가 장착된 별도의 테스트 장비를 제작하여 사용하는 경우에는 새로운 테스트 장비의 제작에 따른 경제적인 부담감을 가져오는 문제점이 있었다.If the expansion board is replaced in this way, the existing expensive expansion boards and burn-in boards must be disposed of and disposed of, which causes problems of economic waste and loss. In addition to the existing equipment, a separate test equipment equipped with a new expansion board is manufactured. In case of using it, there was a problem of bringing economic burden due to the production of new test equipment.

이에 본 발명은 상기한 바와 같은 종래의 제반 문제점을 해소하기 위해 창안된 것으로서, 그 목적은 하나의 번-인 테스트 장비에서 기존 번-인 보드와 접속핀의 개수가 늘어난 새로운 번-인 보드를 이용한 반도체소자의 초기불량 검출 테스트 작업이 서로 호환되게 함께 이루어질 수 있도록 하는데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the conventional problems as described above, the purpose is to use a new burn-in board in which the number of the existing burn-in board and the connection pins increased in one burn-in test equipment Initial defect detection test work of the semiconductor device is to be made to be compatible with each other.

또한, 본 발명의 목적은 컨넥터의 연결단자와 접속단자의 접속핀 증가로 회로 구성이 복잡해진 확장보드와 번-인 보드의 제작시 상기 확장보드의 연결단자와 보드 패턴 간의 전기적인 접속 및 연결, 번-인 보드의 접속핀과 보드 패턴 간의 전기적인 접속 및 연결이 보다 용이하게 이루어질 수 있도록 하는데 있다.In addition, an object of the present invention is the electrical connection and connection between the connector and the board pattern of the expansion board when the expansion board and the burn-in board is complicated by the increase in the connection pin of the connector and the connection terminal of the connector, In order to facilitate the electrical connection and connection between the connection pin and the board pattern of the burn-in board.

이러한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 챔버의 테스트룸의 측벽부에 다수의 구비되는 확장보드와; 상기 각각의 확장보드의 단부측에 설치되고, 몸체의 내부에는 상.하로 대칭을 이루고 전.후 2열로 배치 구성되는 한 쌍의 제1 연결단자 및 제2 연결단자가 구비된 커넥터와; 반도체소자가 탑재되는 다수의 소켓을 갖는 번-인 보드와; 상기 번-인 보드를 확장보드에 전기적으로 접속시키기 위하여 번-인 보 드에 형성되는 접속단자;로 구성된 것을 특징으로 한 번-인 테스트 장비의 접속장치가 제공된다.Expansion board is provided with a plurality of side walls of the test room of the chamber to achieve the object of the present invention; A connector provided at an end side of each of the expansion boards and having a pair of first and second connection terminals symmetrically arranged up and down and arranged in two rows before and after the inside of the body; A burn-in board having a plurality of sockets on which semiconductor elements are mounted; The connection terminal of the burn-in test equipment is provided, characterized in that consisting of; a connection terminal formed on the burn-in board to electrically connect the burn-in board to the expansion board.

또한, 상기 몸체는 제1 연결단자를 고정 및 지지하고, 전방측으로 제1 삽입구를 가지며, 후방측으로 하우징 수용홈을 갖는 제1 하우징과; 상기 제1 하우징의 하우징 수용홈에 삽입 수용되고, 전방측으로 제2 삽입구를 가지며, 제2 연결단자를 고정 및 지지하는 제2 하우징과; 상기 제1 하우징의 측면부에 형성되는 로킹홈에 제2 하우징의 측면부에 형성된 로킹돌기가 끼움 고정되도록 하여 제1 하우징에 제2 하우징이 결합되도록 하는 로킹부;로 구성된 것을 특징으로 한다.The body may further include: a first housing configured to fix and support the first connection terminal, the first housing having a first insertion hole at the front side, and a housing accommodating groove at the rear side; A second housing inserted into and received in the housing receiving groove of the first housing, the second housing having a second insertion opening in the front side, and fixing and supporting the second connection terminal; And a locking unit configured to couple the locking protrusion formed on the side surface of the first housing to the locking groove formed on the side surface of the first housing so that the second housing is coupled to the first housing.

또한, 상기 번-인 보드의 접속단자는 전.후 2열의 다수 제1 접속핀)과 제2 접속핀을 형성하여서 된 것을 특징으로 한다.In addition, the connection terminal of the burn-in board is characterized in that it is formed by forming a plurality of first connecting pins) and second connecting pins in the front and rear two rows.

또한, 상기 제1 접속핀과 제2 접속핀을 서로 교호되게 배치 구성된 것을 특징으로 한다.In addition, the first connecting pin and the second connecting pin is characterized in that the configuration arranged alternately.

상술한 바와 같이 본 발명은 하나의 번-인 테스트 장비에서 기존 번-인 보드와 접속핀의 개수가 늘어난 새로운 번-인 보드를 이용한 반도체소자의 초기불량 검출 테스트 작업이 서로 호환되게 함께 이루어질 수 있도록 함으로써 접속핀의 증가에 따른 확장보드의 교체로 기존 확장보드 및 번-인 보드를 폐기함에 따른 경제적 낭비 및 손실을 방지할 수 있음은 물론 기존 장비외에 새로운 확장보드가 설치된 별도의 장비 제작에 따른 경제적 부담감없이 보다 간편하면서도 효율적으로 경제적인 사용이 가능한 효과가 있다.As described above, the present invention allows the initial defect detection test operation of the semiconductor device using the new burn-in board in which the number of existing burn-in boards and the connection pins are increased in one burn-in test equipment to be compatible with each other. Therefore, it is possible to prevent economic waste and loss caused by discarding existing expansion boards and burn-in boards by replacing expansion boards with an increase in connection pins. There is an effect that can be used economically simpler and more efficiently without the burden.

또한, 본 발명은 전.후 2열로 접속단자에 형성되는 접속핀을 커넥터의 연결단자와 함께 서로 교호되게 형성함으로써 컨넥터의 연결단자와 접속단자의 접속핀 증가로 회로 구성이 복잡해진 확장보드와 번-인 보드의 제작시 상기 확장보드의 연결단자와 보드 패턴 간의 전기적인 접속 및 연결, 번-인 보드의 접속핀과 보드 패턴 간의 전기적인 접속 및 연결이 보다 용이하게 이루어질 수 있어 작업의 효율성에 따른 생산성 향상을 기할 수 있는 이점도 갖게 된다.In addition, the present invention by forming the connecting pins formed in the connection terminal in two rows before and after alternately with the connector of the connector, the expansion board and burner complicated circuit configuration by increasing the connection pin of the connector and the connection terminal of the connector -In the manufacture of the in-board, the electrical connection and connection between the connection terminal and the board pattern of the expansion board, the electrical connection and connection between the connection pin and the board pattern of the burn-in board can be made more easily according to the efficiency of the work It also has the advantage of improving productivity.

도 2는 본 발명의 커넥터의 전체적인 구조를 나타낸 사시도이고, 도 3a 내지 도 4b는 본 발명의 커넥터 내부 구조 및 제1 사용상태를 나타낸 사시도 및 단면도이다.Figure 2 is a perspective view showing the overall structure of the connector of the present invention, Figures 3a to 4b is a perspective view and a cross-sectional view showing the internal structure of the connector of the present invention and the first use state.

이에 도시된 바와 같이 본 발명의 커넥터(1)는 몸체(10)의 내부에 제1 연결단자(13)와 제2 연결단자(14)가 전.후 2열로 배치 구성된 것을 특징으로 하는 것이다.As shown therein, the connector 1 of the present invention is characterized in that the first connection terminal 13 and the second connection terminal 14 are arranged in two rows before and after the inside of the body 10.

이를 좀더 구체적으로 설명하면, 상기 몸체(10)는 제1 연결단자(13)를 고정 및 지지하는 제1 하우징(11)과, 제2 연결단자(14)를 고정 및 지지하는 제2 하우징(11a)으로 분리 구성되어 로킹부(15)에 의해 서로 결합되는 것으로서, 상기 로킹부(15)는 도 2b에 도시된 바와 같이 제1 하우징(11)의 측면부에 형성되는 로킹홈(15a)과 상기 로킹홈(15a)에 끼움 고정되도록 제2 하우징(11a)의 측면부에 탄성의 후크 형태로 형성되는 로킹돌기(15b)로 구성된다.In more detail, the body 10 includes a first housing 11 for fixing and supporting the first connection terminal 13, and a second housing 11a for fixing and supporting the second connection terminal 14. It is separated into a configuration that is coupled to each other by the locking unit 15, the locking unit 15 is a locking groove (15a) and the locking is formed in the side portion of the first housing 11 as shown in Figure 2b It is composed of a locking projection (15b) formed in the shape of an elastic hook to the side portion of the second housing (11a) to fit in the groove (15a).

또한, 상기 제1 하우징(11) 및 제2 하우징(11a)은 전방측으로 번-인보드의 접속단자가 삽입되는 제1 삽입구(12) 및 제2 삽입구(12a)가 형성되고, 제1 하우징(11)의 제1 연결단자(13)와 제2 하우징(11a)의 제2 연결단자(14)는 상기 제1 삽입구(12) 및 제2 삽입구(12a)를 향하여 상.하로 대칭을 이루는 한 쌍의 핀으로 각각 형성되는 것으로서, 상기 각각의 핀은 평행을 이루는 후방측에 연이어 전방측으로 경사를 이루고 선단부가 만곡진 제1 접촉부(13a) 및 제2 접촉부(14a)를 갖는다.In addition, the first housing 11 and the second housing 11a are formed with a first insertion hole 12 and a second insertion hole 12a into which the connection terminal of the burn-in board is inserted forward, and the first housing ( The first connection terminal 13 of 11 and the second connection terminal 14 of the second housing 11a are symmetrically paired up and down toward the first insertion hole 12 and the second insertion hole 12a. Each of the pins has a first contact portion 13a and a second contact portion 14a, each of which is inclined toward the front side and is bent at the front side thereof, in succession to the rear side in parallel.

그리고, 제1 하우징(11)의 배면에는 제2 하우징(11a)이 내부로 삽입 수용될 수 있도록 하우징 수용홈(16)이 형성되는 것이며, 상기 하우징 수용홈(16)은 제2 하우징(11a)에 상응하는 형상으로 형성된다.In addition, a housing accommodating groove 16 is formed at a rear surface of the first housing 11 so that the second housing 11a can be inserted and accommodated therein, and the housing accommodating groove 16 is the second housing 11a. It is formed into a shape corresponding to the.

한편, 상기 제1 연결단자(13)와 제2 연결단자(14)는 서로 간섭되지 않도록 제1 연결단자(13)는 길이가 길게 형성되고 제2 연결단자(14)는 제1 연결단자(13)보다 길이가 짧게 형성되며, 접속단자의 삽입에 의해 제1 연결단자(13)의 제1 접촉부(13a)가 벌어지거나 후술되어질 2열의 접속핀을 갖는 접속단자를 삽입할 때 제1 연결단자(13)의 제1 접촉부(13a)와 제2 연결단자(14)의 제2 접촉부(14a)가 함께 벌어질 때 주변 또는 상호 간섭을 일으키지 않도록 배치 설계시 고려되어야 할 것이다.Meanwhile, the first connection terminal 13 is formed to have a long length so that the first connection terminal 13 and the second connection terminal 14 do not interfere with each other, and the second connection terminal 14 is the first connection terminal 13. The length of the first connecting terminal 13 is shorter than that of the first connecting terminal 13a of the first connecting terminal 13 by the insertion of the connecting terminal, or when the connecting terminal having two rows of connecting pins to be described later is inserted. The first contact 13a of 13) and the second contact 14a of the second connecting terminal 14 should be considered in the layout design so as not to cause peripheral or mutual interference when they are opened together.

이와같이 구성된 본 발명의 커넥터(1)는 하우징(11) 내부의 전.후에 2열로 제1 연결단자(13) 및 제2 연결단자(14)를 구비함으로써 도 3a 내지 도 4b에 도시된 바와 같이 접속단자(132)에 1열의 접속핀(132a)이 형성된 기존 번-인 보드의 사용은 물론 도 5a 내지 도 6b에 도시된 바와 같이 2열의 제1 접속핀(21) 및 제2 접속 핀(22)을 갖는 접속단자(2)를 갖는 번- 인 보드(130)를 상호 호환성있게 함께 병행하여 사용할 수 있는 장점을 갖게 되는 것이다.The connector 1 of the present invention configured as described above is provided with the first connecting terminal 13 and the second connecting terminal 14 in two rows before and after inside the housing 11, thereby connecting as shown in FIGS. 3A to 4B. As shown in FIGS. 5A to 6B, as well as the existing burn-in board having one row of connection pins 132a formed in the terminal 132, two rows of the first connection pins 21 and the second connection pins 22 are provided. Burn-in board 130 having a connection terminal (2) having the advantage that can be used in parallel with each other in parallel.

다음은 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명의 사용상태를 상세히 설명하기로 한다.Next, the use state of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3a 내지 도 4b는 본 발명의 커넥터(1)에 기존의 번- 인 보드(130)의 접속단자(132)를 접속하는 상태를 나타낸 것으로서, 도 3a 및 도 4a에 도시된 바와 같이 본 발명의 커넥터(1)는 전.후 2열로 제1 연결단자(13) 및 제2 연결단자(14)가 몸체(10)의 내부에 구비되어 있고, 기존의 번- 인 보드(130)의 접속단자(132)는 1열 다수의 접속핀(132a)이 형성되어 있다.3A to 4B show a state of connecting the connection terminal 132 of the existing burn-in board 130 to the connector 1 of the present invention, as shown in FIGS. 3A and 4A. The connector 1 is provided with a first connection terminal 13 and a second connection terminal 14 in the interior of the body 10 in two rows before and after the connection terminal of the existing burn-in board 130 ( 132 has a plurality of connection pins (132a) in one row.

이러한 상태에서 기존 번- 인 보드(130)의 접속단자(132)는 도 3b 및 도 4b에 도시된 바와 같이 커넥터(1)의 제1 삽입구(12)를 통하여 몸체(10)의 내부로 삽입되고, 이 삽입된 번-인 보드의 접속단자(132)는 제1 삽입구(12)의 상.하부에 서로 대칭을 이루며 형성된 한 쌍의 제1 연결단자(13)의 제1 접촉부(13a)가 상기 번-인 보드의 접속단자(132)에 형성된 접속핀(132a)에 접촉됨으로써 상호 전기적인 접속이 이루어지게 되는 것이다.In this state, the connection terminal 132 of the existing burn-in board 130 is inserted into the body 10 through the first insertion hole 12 of the connector 1 as shown in FIGS. 3B and 4B. The first and second contact portions 13a of the pair of first connection terminals 13 formed symmetrically with each other on the upper and lower portions of the first insertion hole 12 are inserted into the connection terminals 132 of the burn-in board. Electrical contact is made by contacting the connecting pins 132a formed on the connecting terminals 132 of the burn-in board.

도 5a 내지 도 6b는 본 발명의 커넥터(1)에 접속핀이 증가된 번- 인 보드(130)의 접속단자(2)를 접속하는 상태를 나타낸 것으로서, 도 5a 및 도 6a에 도시된 바와 같이 상기 컨넥터(1)는 전술한 바와 같이 전.후 2열로 제1 연결단자(13) 및 제2 연결단자(14)가 몸체(10)의 내부에 구비되어 있고, 상기 번-인 보드의 접속단자(2) 역시 전.후 2열의 제1 접속핀(21) 및 제2 접속핀(22)이 형 성되어 있다.5A to 6B illustrate a state in which the connecting terminal 2 of the burn-in board 130 with the connecting pin increased to the connector 1 of the present invention, as shown in FIGS. 5A and 6A. As described above, the connector 1 includes the first connection terminal 13 and the second connection terminal 14 in the interior of the body 10 in two rows before and after, and the connection terminal of the burn-in board. (2) Also, the first and second connecting pins 21 and 22 are formed in two rows before and after.

이러한 상태에서 상기 접속단자(2)를 도 5b 및 도 6b에 도시된 바와 같이 커넥터(1)의 제1 삽입구(12)를 통하여 몸체(10)의 내부로 삽입하게 되면, 이 삽입된 접속단자(2)는 제1 삽입구(12) 및 제2 삽입구(12a)의 상.하부에 서로 대칭을 이루며 형성된 한 쌍의 제1 연결단자(13) 및 제2 연결단자(14)의 제1 접촉부(13a) 및 제2 접촉부(14a)가 상기 접속단자(2)에 형성된 제1 접속핀(21) 및 제2 접속핀(22)에 각각 접촉됨으로써 상호 전기적인 접속이 이루어질 수 있게 되는 것이다.In this state, when the connection terminal 2 is inserted into the body 10 through the first insertion hole 12 of the connector 1, as shown in Figs. 5b and 6b, the inserted connection terminal ( 2) is a first contact portion 13a of the pair of first connection terminal 13 and the second connection terminal 14 formed symmetrically on the upper and lower portions of the first insertion hole 12 and the second insertion hole 12a. ) And the second contact portion 14a are in contact with the first connecting pin 21 and the second connecting pin 22 formed on the connecting terminal 2, respectively, so that electrical connection can be made.

한편, 상기 접속단자(2)의 제1 접속핀(21) 및 제2 접속핀(22)을 커넥터(1)의 제1 연결단자(13) 및 제2 연결단자(14)와 함께 서로 교호로 형성하는 경우에는 컨넥터의 연결단자와 접속단자의 접속핀 증가로 회로 구성이 복잡해진 확장보드와 번-인 보드의 제작시 상기 확장보드의 연결단자와 보드 패턴 간의 전기적인 접속 및 연결, 번-인 보드의 접속핀과 보드 패턴 간의 전기적인 접속 및 연결이 보다 용이하게 이루어질 수 있는 장점이 있다.Meanwhile, the first connecting pin 21 and the second connecting pin 22 of the connecting terminal 2 are alternately formed together with the first connecting terminal 13 and the second connecting terminal 14 of the connector 1. In the case of forming, the electrical connection, connection, and burn-in between the expansion board and the board pattern of the expansion board and the burn-in board in which the circuit configuration is complicated by the increase in the connection pins of the connector and the connection terminal There is an advantage that the electrical connection and connection between the connecting pin of the board and the board pattern can be made more easily.

도 1은 일반적인 번-인 테스트 장비를 나타낸 사시도.1 is a perspective view of a typical burn-in test equipment.

도 2a 및 도 2b는 본 발명의 커넥터 구조를 나타낸 것으로서,2A and 2B show the connector structure of the present invention,

도 2a는 커넥터의 전체적인 구조를 나타낸 사시도.Figure 2a is a perspective view showing the overall structure of the connector.

도 2b는 도 2a의 "A"부 확대 단면도.FIG. 2B is an enlarged cross-sectional view of a portion “A” of FIG. 2A; FIG.

도 3a 내지 도 4b는 본 발명의 커넥터 내부 구조 및 제1 사용상태를 나타낸 것으로서,3A to 4B show the internal structure of the connector and the first use state of the present invention.

도 3a 및 도 4a는 접속단자의 삽입전 상태를 나타낸 사시도 및 단면도.3A and 4A are a perspective view and a cross-sectional view showing a state before insertion of a connection terminal.

도 3b 및 도 4b는 접속단자의 삽입 상태를 나타낸 사시도 및 단면도.3B and 4B are a perspective view and a cross-sectional view showing an insertion state of a connection terminal.

도 5a 내지 도 6b는 본 발명의 제2 사용상태를 나타낸 것으로서,5A to 6B illustrate a second use state of the present invention.

도 5a 및 6a는 접속단자의 삽입전 상태를 나타낸 사시도 및 단면도.5A and 6A are a perspective view and a sectional view showing a state before insertion of a connection terminal;

도 5b는 6b는 접속단자의 삽입 상태를 나타낸 사시도 및 단면도.Fig. 5B is a perspective view and a sectional view 6b showing an insertion state of a connection terminal.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1:커넥터 2:접속단자1: Connector 2: Connection terminal

11:하우징 12:삽입구11: Housing 12: Insertion

13,14:제1,2 연결단자 21,22:제1,2 접속핀13,14: 1st, 2nd connection terminal 21, 22: 1st, 2nd connection pin

120:확장보드 130:번-인 보드120: expansion board 130: burn-in board

Claims (4)

챔버(100)의 테스트룸(110)의 측벽부에 다수의 구비되는 확장보드(120)와;A plurality of expansion boards 120 provided in a side wall of the test room 110 of the chamber 100; 상기 각각의 확장보드(120)의 단부측에 설치되고, 몸체(10)의 내부에는 상.하로 대칭을 이루고 전.후 2열로 배치 구성되는 한 쌍의 제1 연결단자(13) 및 제2 연결단자(14)가 구비된 커넥터(1)와;It is installed at the end side of each of the expansion boards 120, the pair of first connection terminal 13 and the second connection which is arranged in two rows before and after symmetrical up and down inside the body 10 A connector 1 provided with a terminal 14; 반도체소자(140)가 탑재되는 다수의 소켓(131)을 갖는 번-인 보드(130)와;A burn-in board 130 having a plurality of sockets 131 on which the semiconductor devices 140 are mounted; 상기 번-인 보드(130)를 확장보드(120)에 전기적으로 접속시키기 위하여 번-인 보드(130)에 형성되는 접속단자(2);로 구성된 것을 특징으로 한 번-인 테스트 장비의 접속장치.Connection terminal of the once-in test equipment, characterized in that consisting of; connecting terminal (2) formed on the burn-in board 130 to electrically connect the burn-in board 130 to the expansion board 120 . 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 몸체(10)는 제1 연결단자(13)를 고정 및 지지하고, 전방측으로 제1 삽입구(12)를 가지며, 후방측으로 하우징 수용홈(16)을 갖는 제1 하우징(11)과;The body 10 includes a first housing 11 which fixes and supports the first connection terminal 13, has a first insertion hole 12 in the front side, and a housing accommodating groove 16 in the rear side; 상기 제1 하우징(11)의 하우징 수용홈(16)에 삽입 수용되고, 전방측으로 제2 삽입구(12a)를 가지며, 제2 연결단자(14)를 고정 및 지지하는 제2 하우징(11a)과;A second housing (11a) inserted and received in the housing receiving groove (16) of the first housing (11), having a second insertion opening (12a) on the front side, and fixing and supporting the second connection terminal (14); 상기 제1 하우징(11)의 측면부에 형성되는 로킹홈(15a)에 제2 하우징(11a)의 측면부에 형성된 로킹돌기(15b)가 끼움 고정되도록 하여 제1 하우징(11)에 제2 하우징(11a)이 결합되도록 하는 로킹부(15);로 구성된 것을 특징으로 한 번-인 테스트 장비의 접속장치.The locking protrusion 15b formed at the side portion of the second housing 11a is fitted into the locking groove 15a formed at the side portion of the first housing 11 so that the second housing 11a is fitted to the first housing 11. Locking unit (15) to be coupled to); connecting device of the one-in test equipment, characterized in that consisting of. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 번-인 보드(130)의 접속단자(2)는 전.후 2열의 다수 제1 접속핀(21)과 제2 접속핀(22)을 형성하여서 된 것을 특징으로 한 번-인 테스트 장비의 접속장치.The connection terminal 2 of the burn-in board 130 is formed by forming a plurality of first connection pins 21 and second connection pins 22 in two rows before and after. Connection device. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 제1 접속핀(21)과 제2 접속핀(22)을 서로 교호되게 배치 구성된 것을 특징으로 한 번-인 테스트 장비의 접속장치.One-in-one test equipment, characterized in that the first connecting pins 21 and the second connecting pins 22 are arranged alternately with each other.
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KR101249022B1 (en) * 2012-09-17 2013-04-02 (주)디지털프론티어 High speed burn-in test apparatus
KR101249020B1 (en) * 2012-09-17 2013-04-03 (주)디지털프론티어 High speed burn-in test apparatus

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