KR20080099008A - 다방향 영사식 모아레 간섭계 및 이를 이용한 검사방법 - Google Patents
다방향 영사식 모아레 간섭계 및 이를 이용한 검사방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20080099008A KR20080099008A KR1020070044563A KR20070044563A KR20080099008A KR 20080099008 A KR20080099008 A KR 20080099008A KR 1020070044563 A KR1020070044563 A KR 1020070044563A KR 20070044563 A KR20070044563 A KR 20070044563A KR 20080099008 A KR20080099008 A KR 20080099008A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pattern
- inspection object
- rotating
- rotating mirror
- illumination
- Prior art date
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 98
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 25
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 58
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 34
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims 1
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2513—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/254—Projection of a pattern, viewing through a pattern, e.g. moiré
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Claims (13)
- 다수개의 스테이지 이송기구에 의해 이동 가능하도록 설치되어 검사대상물을 X, Y방향으로 이동시키는 X-Y 스테이지와,상기 X-Y 스테이지의 상측에 설치되어 X-Y 스테이지에 위치한 검사대상물에서 반사되는 패턴영상을 촬영하는 결상부와,상기 결상부의 일측에 설치되어 패턴조명을 조사받아 광경로를 변경시켜 투영하는 제1회전거울부와,상기 결상부의 타측에 설치되어 패턴조명을 조사받아 광경로를 변경시켜 투영하는 제2회전거울부와,상기 제1회전거울부의 일측에 각각 설치되어 제1회전거울부에서 투영되는 패턴조명을 검사대상물로 투영시키는 다수개의 제1고정거울부와,상기 제2회전거울부의 타측에 각각 설치되어 제2회전거울부에서 투영되는 패턴조명을 검사대상물로 투영시키는 다수개의 제2고정거울부와,상기 제1 및 제2회전거울부로 패턴조명을 투영시킬 수 있도록 설치되어 패턴조명을 발생하는 패턴조명발생부로 구비됨을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 간섭계.
- 다수개의 스테이지 이송기구에 의해 이동 가능하도록 설치되어 검사대상물을 X, Y방향으로 이동시키는 X-Y 스테이지와,상기 X-Y 스테이지의 상측에 설치되어 X-Y 스테이지에 위치한 검사대상물에서 반사되는 패턴영상을 촬영하는 결상부와,상기 결상부의 일측에 설치되어 패턴조명을 조사받아 광경로를 변경시켜 투영하는 제1회전거울부와,상기 결상부의 타측에 설치되어 패턴조명을 조사받아 광경로를 변경시켜 투영하는 제2회전거울부와,상기 제1회전거울부의 일측에 각각 설치되어 제1회전거울부에서 투영되는 패턴조명을 검사대상물로 투영시키는 다수개의 제1고정거울부와,상기 제2회전거울부의 타측에 각각 설치되어 제2회전거울부에서 투영되는 패턴조명을 검사대상물로 투영시키는 다수개의 제2고정거울부와,상기 제1 및 제2회전거울부로 패턴조명을 투영시킬 수 있도록 설치되어 패턴조명을 발생하는 패턴조명발생부와,상기 결상부에서 촬영된 패턴영상을 수신받아 전송하는 영상획득부와,상기 X-Y 스테이지와 상기 제1 및 제2회전거울부와 상기 패턴조명발생부를 각각 제어하여 패턴조명발생부에서 패턴조명을 발생시키고 상기 제1 및 제2회전거울부에서 패턴조명이 상기 다수개의 제1 및 제2고정거울부로 각각 조사되도록 회전 제어하여 X-Y 스테이지에 의해 이송되는 상기 검사대상물로 패턴조명을 조사하는 모듈제어부와,상기 모듈제어부를 제어하여 상기 X-Y 스테이지에 의해 이송되는 검사대상물로 패턴조명을 투영시키고 반사되는 패턴영상이 상기 결상부에서 촬영되어 상기 영 상획득부에서 전송되면 패턴영상에서 위상지도를 회득하고 위상지도를 이용하여 검사대상물의 높이를 산출하여 검사대상물의 3차원형상을 검사하는 중앙제어부로 구비됨을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 간섭계.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 결상부는 패턴영상을 촬영하는 카메라와,상기 카메라의 하측에 설치되어 검사대상물에서 반사되는 패턴영상을 결상시키는 결상렌즈와,상기 결상렌즈의 하측에 설치되어 검사대상물에서 반사되는 패턴영상의 여과시켜 투과시키는 제1필터로 구비되며,상기 카메라는 CCD 카메라나 CMOS 카메라 중 어느 하나가 적용되며, 상기 제1필터는 주파수 필터, 칼라필터나 광세기 조절필터 중의 어느 하나가 적용됨을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 간섭계.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 결상부는 검사대상물의 2차원 검사를 위한 조명을 발생하는 제5조명원이 하측에 더 구비되어 설치되며,상기 제5조명원은 다수개의 발광다이오드나 돔형의 다층 원형램프 중 어느 하나로 이루어짐을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 간섭계.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제1 및 제2회전거울부는 각각 거울회전기구와, 상기 거울회전기구의 상측에 회전 가능하도록 설치되는 홀더와, 상기 홀더에 설치되어 상기 거울회전기구에 의해 상기 홀더에 지지된 상태로 회전되는 회전거울로 이루어지는 다수개의 회전거울소자로 구비되며,상기 다수개의 회전거울소자는 각각 회전거울의 일단이 서로 수직방향으로 대향되도록 복층으로 배열되어 설치됨을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 간섭계.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 다수개의 제1 및 제2고정거울부는 각각 상기 제1 및 제2회전거울부로부터 각각 투영되는 패턴조명을 조사받아 여과시켜 투영시키는 제2필터와,상기 제1 및 제2회전거울부로부터 각각 투영되는 패턴조명을 조사받을 수 있도록 상기 제2필터에 경사지게 설치되어 패턴조명을 제2필터로 투영시키는 고정거울로 구비되며,상기 제2필터는 각각 주파수 필터, 칼라필터, 편광필터나 광세기 조절필터 중의 어느 하나가 적용됨을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 간섭계.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 패턴조명발생부는 조명을 발생하는 다수개의 제1 내지 제4조명원과,상기 다수개의 제1 내지 제4조명원의 일측에 각각 다수개의 제1 내지 제4조명원에 각각 대응되도록 설치되어 다수개의 제1 내지 제4조명원에서 각각 조명이 조사되면 이를 패턴조명으로 투영시키는 제1 내지 제4격자소자가 설치되는 격자판 과,상기 격자판의 일측에 설치되어 격자판을 수직방향으로 이송시켜 상기 제1 내지 제4격자소자를 이송시키는 격자판이송기구와,상기 격자판의 일측에 상기 제1 내지 제4격자소자에 각각 대응되도록 설치되어 제1 내지 제4격자소자에서 조사되는 패턴조명을 투영시키는 다수개의 제1 내지 제2투영렌즈로 구비됨을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 간섭계.
- 제7항에 있어서, 상기 격자판이송기구는 상기 격자판에 설치되는 LM 가이드와,상기 LM 가이드를 가이드하는 LM 레일과,상기 LM 가이드를 상기 LM 레일을 따라 이송되도록 구동시켜 상기 격자판을 이송시키는 직선이송기구로 구비되며,상기 직선이송기구는 볼 스크류, 리니어모터나 PZT 이송기구 중 어느 하나가 적용됨을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 간섭계.
- 제2항에 있어서, 상기 모듈제어부는 상기 모듈제어부는 상기 중앙제어부의 제어에 따라 다수개의 스테이지 이송기구를 구동시켜 X-Y 스테이지를 X,Y방향으로 이송시키는 테이블 제어기와,상기 중앙제어부의 제어에 따라 상기 패턴조명발생부를 구동시켜 패턴조명을 발생시키거나 상기 결상부에 포함되는 제5조명원을 구동시켜 2차원검사를 위한 조 명을 발생시키는 조명제어기와,상기 중앙제어부의 제어에 따라 상기 패턴조명발생부에 포함되는 격자판이송기구를 구동시켜 다수개의 제1 내지 제4격자소자가 설치되는 격자판을 이송시키는 격자제어기와,상기 중앙제어부의 제어에 따라 상기 제1 및 제2회전거울부를 구동시켜 상기 패턴조명발생부에서 투영되는 패턴조명을 조사받아 광경로를 변경시켜 투영시키는 회전거울제어기로 구비됨을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 간섭계.
- 제1 및 제2회전거울부의 회전거울의 회전 각도를 조정하고 제5조명원을 온시켜 결상부에서 검사대상물의 2차원검사를 실시한 후 X-Y 스테이지에 의해 검사대상물을 정위치로 이송시키는 단계와,상기 검사대상물이 정위치로 이송되면 제1 내지 제4조명원 중 어느 한 조명원을 온시키는 단계와,상기 선택된 조명원이 온되었는지 중앙제어부에서 확인하는 단계와,상기 선택된 조명원이 온되었으면 격자판을 이송시켜 선택된 조면원에 대응되는 격자소자를 1/N 피치씩 이송시키는 단계와,상기 격자소자가 이송되면 결상부에서 검사대상물에서 반사되는 패턴영상을 촬영하는 단계와,상기 패턴영상을 획득하는 동안 격자소자가 N번째 피치 이송인지를 중앙제어부에서 확인하는 단계와,상기 격자소자가 N번째 피치 이송되면 각각 이송에서 촬영된 패턴영상을 이용하여 위상지도를 획득하는 단계와,상기 위상지도가 획득되면 제1 내지 제4위상지도가 획득되었는지를 중앙제어부에서 확인하는 단계와,상기 제1 내지 제4위상지도가 획득되었으면 중앙제어부는 획득된 제1 내지 제4위상지도를 이용하여 노이즈가 제거된 통합 위상지도를 산출한 후 통합위상지도를 이용하여 통합높이지도를 산출하여 검사대상물의 3차원 검사하는 단계로 구비됨을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 검사방법.
- 제10항에 있어서, 상기 선택된 조명원이 온되었는지 중앙제어부에서 확인하는 단계는 상기 제1 내지 제4조명원 중 어느 한 조명원을 온시키는 단계에서 제1 내지 제4조명원이 각각 순차적으로 선택되어 온/오프 되었는지 여부를 확인하여 선택된 조면원이 온되지 않으면 상기 제1 내지 제4조명원 중 어느 한 조명원을 온시키는 단계로 리턴함을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 검사방법.
- 제10항에 있어서, 상기 격자소자가 N번째 피치 이송인지를 중앙제어부에서 확인하는 단계는 격자소자 N번째 피치 이송이 완료되지 않으면 상기 선택된 조면원에 대응되는 격자소자를 1/N 피치씩 이송시키는 단계로 리턴함을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 검사방법.
- 제10항에 있어서, 상기 제1 내지 제4위상지도가 획득되었는지를 중앙제어부에서 확인하는 단계는 상기 위상지도를 획득하는 단계에서 획득되는 위상지도가 제4위상지도까지 획득되지 않으면 제1 내지 제4위상지도를 획득하기 위해 상기 제1 내지 제4조명원 중 어느 한 조명원을 온시키는 단계로 리턴함을 특징으로 하는 다방향 영사식 모아레 검사방법.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070044563A KR100870930B1 (ko) | 2007-05-08 | 2007-05-08 | 다방향 영사식 모아레 간섭계 및 이를 이용한 검사방법 |
EP07021785.6A EP1990604B1 (en) | 2007-05-08 | 2007-11-09 | Multi-directional projection type moire interferometer and inspection method of using the same |
TW096142670A TWI351508B (en) | 2007-05-08 | 2007-11-12 | Multi-directional projection type moire interferom |
JP2007292986A JP5462999B2 (ja) | 2007-05-08 | 2007-11-12 | 多方向映写式形状測定装置 |
CN2007101882216A CN101303223B (zh) | 2007-05-08 | 2007-11-13 | 多方向投影式莫尔干涉仪以及使用该干涉仪的检查方法 |
US11/947,381 US7894077B2 (en) | 2007-05-08 | 2007-11-29 | Multi-directional projection type moire interferometer and inspection method of using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070044563A KR100870930B1 (ko) | 2007-05-08 | 2007-05-08 | 다방향 영사식 모아레 간섭계 및 이를 이용한 검사방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080099008A true KR20080099008A (ko) | 2008-11-12 |
KR100870930B1 KR100870930B1 (ko) | 2008-11-28 |
Family
ID=39710953
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070044563A KR100870930B1 (ko) | 2007-05-08 | 2007-05-08 | 다방향 영사식 모아레 간섭계 및 이를 이용한 검사방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7894077B2 (ko) |
EP (1) | EP1990604B1 (ko) |
JP (1) | JP5462999B2 (ko) |
KR (1) | KR100870930B1 (ko) |
CN (1) | CN101303223B (ko) |
TW (1) | TWI351508B (ko) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101900534A (zh) * | 2009-05-27 | 2010-12-01 | 株式会社高永科技 | 三维形状测量设备和三维形状测量方法 |
KR101234935B1 (ko) * | 2011-06-09 | 2013-02-19 | 삼성전기주식회사 | 조명검사장치 및 조명검사방법 |
KR101379817B1 (ko) * | 2009-07-07 | 2014-04-01 | 엘지디스플레이 주식회사 | 백라이트 어셈블리 검사 장치 및 표시소자 검사 장치 |
KR101527764B1 (ko) * | 2015-02-11 | 2015-06-11 | 넥스타테크놀로지 주식회사 | 레이저 간섭계를 이용한 3차원 형상 검사장치 |
WO2018074907A1 (ko) * | 2016-10-21 | 2018-04-26 | 주식회사 고영테크놀러지 | 복수의 상이한 패턴 광원의 설치가 가능한 패턴 광 조사 장치 및 검사 장치 |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8854610B2 (en) * | 2008-02-26 | 2014-10-07 | Koh Young Technology Inc. | Apparatus and method for measuring a three-dimensional shape |
US9170097B2 (en) * | 2008-04-01 | 2015-10-27 | Perceptron, Inc. | Hybrid system |
DE102009017464B4 (de) * | 2009-04-03 | 2011-02-17 | Carl Zeiss Oim Gmbh | Vorrichtung zum optischen Inspizieren einer Oberfläche an einem Gegenstand |
US8045181B2 (en) * | 2009-05-21 | 2011-10-25 | General Electric Company | Inspection system and method with multi-image phase shift analysis |
DE102010030833B4 (de) * | 2009-07-03 | 2014-07-03 | Koh Young Technology Inc. | Vorrichtung zur Messung einer dreidimensionalen Form |
TWI432699B (zh) | 2009-07-03 | 2014-04-01 | Koh Young Tech Inc | 用於檢查測量物件之方法 |
KR101343375B1 (ko) * | 2010-04-14 | 2013-12-20 | 주식회사 고영테크놀러지 | 검사 장치의 진단 및 측정변수 설정 방법 |
US9124810B2 (en) * | 2010-04-14 | 2015-09-01 | Koh Young Technology Inc. | Method of checking an inspection apparatus and method of establishing a measurement variable of the inspection apparatus |
US8855403B2 (en) * | 2010-04-16 | 2014-10-07 | Koh Young Technology Inc. | Method of discriminating between an object region and a ground region and method of measuring three dimensional shape by using the same |
KR101295760B1 (ko) | 2011-03-10 | 2013-08-13 | 주식회사 미르기술 | 다중 격자 무늬를 이용한 비전검사장치 |
JP2014106094A (ja) * | 2012-11-27 | 2014-06-09 | Keyence Corp | 形状測定装置 |
KR101483956B1 (ko) | 2013-07-02 | 2015-01-19 | 현대오토에버 주식회사 | 조립품질 검증장치 및 그 방법 |
US9500468B2 (en) | 2014-08-25 | 2016-11-22 | Board Of Trustees Of Michigan State University | Scanning interferometry technique for through-thickness evaluation in multi-layered transparent structures |
US9335157B2 (en) * | 2014-10-14 | 2016-05-10 | Electronics For Imaging, Inc. | Differential lighting |
EP3244198A1 (en) | 2016-05-13 | 2017-11-15 | ASM Assembly Systems GmbH & Co. KG | Method and apparatus for inspecting a solder paste deposit with a digital mirror device |
FR3051551A1 (fr) * | 2016-05-20 | 2017-11-24 | Univ Aix Marseille | Appareil et procede de mesure d'un etat de surface ou de volume d'un objet par diffusion en champ lointain |
KR101903066B1 (ko) * | 2017-03-17 | 2018-10-02 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원 형상 측정 장치 및 방법 |
KR102654872B1 (ko) * | 2019-01-29 | 2024-04-05 | 삼성전자주식회사 | 반사 기하학 구조를 이용한 광학 장치 |
CN110186388B (zh) * | 2019-05-13 | 2021-04-06 | 天津大学 | 基于白光干涉光谱的同步相移测量系统与方法 |
FR3107119B1 (fr) * | 2020-02-07 | 2022-04-22 | V Optics | Système d’analyse d’une surface par projection d’une image lumineuse |
CN114075661B (zh) * | 2020-08-14 | 2022-11-18 | 长鑫存储技术有限公司 | 半导体沉积方法及半导体沉积系统 |
KR102540387B1 (ko) * | 2021-02-10 | 2023-06-07 | (주)에이앤아이 | 광 경로 분할 고속 3차원 센서장치 |
US11835418B2 (en) | 2021-09-30 | 2023-12-05 | Opto-Alignment Technology, Inc. | Simultaneous multi-surface non-contact optical profiler |
KR20230133520A (ko) * | 2022-03-11 | 2023-09-19 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원 형상 측정 장치 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56125606A (en) * | 1980-03-07 | 1981-10-02 | Hitachi Ltd | Stereoscopic shape detector |
US4432239A (en) * | 1981-12-08 | 1984-02-21 | Bykov Anatoly P | Apparatus for measuring deformation |
US4850693A (en) * | 1988-05-23 | 1989-07-25 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Compact portable diffraction moire interferometer |
US5898486A (en) * | 1994-03-25 | 1999-04-27 | International Business Machines Corporation | Portable moire interferometer and corresponding moire interferometric method |
US6690474B1 (en) | 1996-02-12 | 2004-02-10 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for surface contour measurement |
US5868179A (en) * | 1997-03-04 | 1999-02-09 | Gilbarco Inc. | Precision fuel dispenser |
AU4975399A (en) | 1998-07-08 | 2000-02-01 | Lennard H. Bieman | Machine vision and semiconductor handling |
ATE376165T1 (de) * | 2000-01-10 | 2007-11-15 | Massachusetts Inst Technology | Apparat und verfahren zur oberflächenkonturmessung |
JP3858056B2 (ja) | 2001-10-15 | 2006-12-13 | 福岡県 | スペックルを用いた2方向変形同時計測装置 |
KR100615576B1 (ko) * | 2003-02-06 | 2006-08-25 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정장치 |
CN100338434C (zh) * | 2003-02-06 | 2007-09-19 | 株式会社高永科技 | 三维图像测量装置 |
KR100540192B1 (ko) * | 2003-11-11 | 2005-12-29 | 박승한 | 3차원 형상 측정 장치 및 측정 방법 |
JP4611782B2 (ja) * | 2005-03-28 | 2011-01-12 | シチズンホールディングス株式会社 | 3次元形状測定方法及び測定装置 |
US7599071B2 (en) * | 2005-04-06 | 2009-10-06 | Dimensional Photonics International, Inc. | Determining positional error of an optical component using structured light patterns |
US7538891B1 (en) * | 2005-09-30 | 2009-05-26 | California Institute Of Technology | Surface characterization based on lateral shearing of diffracted wave fronts to measure in-plane and out-of-plane displacement gradient fields |
US7545512B2 (en) * | 2006-01-26 | 2009-06-09 | Koh Young Technology Inc. | Method for automated measurement of three-dimensional shape of circuit boards |
KR100672818B1 (ko) * | 2006-01-26 | 2007-01-22 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정방법 |
KR100722245B1 (ko) * | 2006-03-23 | 2007-05-29 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정장치 |
-
2007
- 2007-05-08 KR KR1020070044563A patent/KR100870930B1/ko active IP Right Grant
- 2007-11-09 EP EP07021785.6A patent/EP1990604B1/en active Active
- 2007-11-12 JP JP2007292986A patent/JP5462999B2/ja active Active
- 2007-11-12 TW TW096142670A patent/TWI351508B/zh active
- 2007-11-13 CN CN2007101882216A patent/CN101303223B/zh active Active
- 2007-11-29 US US11/947,381 patent/US7894077B2/en active Active
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101900534A (zh) * | 2009-05-27 | 2010-12-01 | 株式会社高永科技 | 三维形状测量设备和三维形状测量方法 |
KR101379817B1 (ko) * | 2009-07-07 | 2014-04-01 | 엘지디스플레이 주식회사 | 백라이트 어셈블리 검사 장치 및 표시소자 검사 장치 |
KR101234935B1 (ko) * | 2011-06-09 | 2013-02-19 | 삼성전기주식회사 | 조명검사장치 및 조명검사방법 |
KR101527764B1 (ko) * | 2015-02-11 | 2015-06-11 | 넥스타테크놀로지 주식회사 | 레이저 간섭계를 이용한 3차원 형상 검사장치 |
WO2018074907A1 (ko) * | 2016-10-21 | 2018-04-26 | 주식회사 고영테크놀러지 | 복수의 상이한 패턴 광원의 설치가 가능한 패턴 광 조사 장치 및 검사 장치 |
US10883824B2 (en) | 2016-10-21 | 2021-01-05 | Koh Young Technology Inc. | Pattern light emitting device capable of having plurality of different pattern light sources installed thereon and inspection device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200844396A (en) | 2008-11-16 |
US20080278729A1 (en) | 2008-11-13 |
TWI351508B (en) | 2011-11-01 |
KR100870930B1 (ko) | 2008-11-28 |
CN101303223B (zh) | 2011-12-14 |
JP2008281543A (ja) | 2008-11-20 |
US7894077B2 (en) | 2011-02-22 |
JP5462999B2 (ja) | 2014-04-02 |
EP1990604B1 (en) | 2014-12-31 |
CN101303223A (zh) | 2008-11-12 |
EP1990604A1 (en) | 2008-11-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100870930B1 (ko) | 다방향 영사식 모아레 간섭계 및 이를 이용한 검사방법 | |
KR100841662B1 (ko) | 모아레와 스테레오를 이용한 3차원형상 측정시스템 및 방법 | |
US7400413B2 (en) | Three-dimensional shape measuring apparatus using shadow moire | |
TWI416066B (zh) | 用以利用多波長量測三維形狀之裝置與方法 | |
KR100870922B1 (ko) | 다중 간섭계를 이용한 3차원형상 측정시스템 | |
TWI448681B (zh) | 物件之二維與三維光學檢視方法及設備與物件之光學檢視資料的取得方法及設備 | |
JP5441840B2 (ja) | 3次元形状測定装置 | |
JP2013257340A (ja) | 3次元形状測定装置及び方法 | |
KR100829204B1 (ko) | 다중 간섭계를 이용한 3차원형상 측정방법 | |
KR100956547B1 (ko) | 3차원형상 측정장치 및 방법 | |
KR20080096064A (ko) | 스캔형 듀얼 모아레 검사장치 및 검사방법 | |
KR101527764B1 (ko) | 레이저 간섭계를 이용한 3차원 형상 검사장치 | |
KR100969349B1 (ko) | 에이오아이(aoi) 장치 | |
KR100449175B1 (ko) | 광학식 2차원 및 3차원 형상 측정 시스템 | |
KR100950590B1 (ko) | 집광 조명을 이용한 스캐닝 모아레 측정방법 | |
KR100893883B1 (ko) | 모아레와 동적 스테레오 비젼을 이용한 3차원 측정장치 및방법 | |
KR20080088946A (ko) | 입체 형상 검사 장치 및 그를 이용한 입체 형상 검사 방법 | |
KR100955815B1 (ko) | 에이오아이(aoi) 장치 | |
JP2009098044A (ja) | 形状測定装置 | |
TWI851070B (zh) | 光罩檢查裝置 | |
KR100495900B1 (ko) | 전자부품 및 솔더 도포 검사장치 | |
KR100651791B1 (ko) | 부품 검사 장치 및, 방법 | |
KR20080097165A (ko) | 새도우 모아레를 이용한 3차원형상 측정장치 | |
KR20080089314A (ko) | 입체 형상 검사 장치 및 그를 이용한 입체 형상 검사 방법 | |
TW202338297A (zh) | 光罩檢查裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121102 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131108 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141029 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151029 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160907 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170907 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190909 Year of fee payment: 12 |