KR20080087629A - Optical source device and exposure device using the same - Google Patents

Optical source device and exposure device using the same Download PDF

Info

Publication number
KR20080087629A
KR20080087629A KR1020070097810A KR20070097810A KR20080087629A KR 20080087629 A KR20080087629 A KR 20080087629A KR 1020070097810 A KR1020070097810 A KR 1020070097810A KR 20070097810 A KR20070097810 A KR 20070097810A KR 20080087629 A KR20080087629 A KR 20080087629A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
discharge lamp
light
illuminance
lamp
light source
Prior art date
Application number
KR1020070097810A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101360800B1 (en
Inventor
데쓰야 시라이
요시히코 세이키
아쓰지 나카가와
Original Assignee
피닉스 덴끼 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 피닉스 덴끼 가부시키가이샤 filed Critical 피닉스 덴끼 가부시키가이샤
Publication of KR20080087629A publication Critical patent/KR20080087629A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101360800B1 publication Critical patent/KR101360800B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70008Production of exposure light, i.e. light sources
    • G03F7/70016Production of exposure light, i.e. light sources by discharge lamps
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70008Production of exposure light, i.e. light sources
    • G03F7/7005Production of exposure light, i.e. light sources by multiple sources, e.g. light-emitting diodes [LED] or light source arrays
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/70491Information management, e.g. software; Active and passive control, e.g. details of controlling exposure processes or exposure tool monitoring processes
    • G03F7/70533Controlling abnormal operating mode, e.g. taking account of waiting time, decision to rework or rework flow
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/7055Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
    • G03F7/70558Dose control, i.e. achievement of a desired dose
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/10Measuring as part of the manufacturing process
    • H01L22/14Measuring as part of the manufacturing process for electrical parameters, e.g. resistance, deep-levels, CV, diffusions by electrical means
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02BCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
    • Y02B20/00Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02BCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
    • Y02B20/00Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps
    • Y02B20/40Control techniques providing energy savings, e.g. smart controller or presence detection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)

Abstract

An optical source device and an exposure device using the same are provided to irradiate continuously light for a long time by forming uniformly the illumination of the light. A lamp unit(18) includes a reflector formed in each of discharge lamps to reflect the light irradiated from each discharge lamp to the same direction, and an abnormal state determination unit(28) for measuring a voltage applied to each discharge lamp, determining an abnormal state of each discharge lamp on the basis of the measured voltage, and outputting an abnormal signal(S3) according to the abnormal state of each discharge lamp. A control unit(22) turns on/off each discharge lamp, interrupts the power applied to the discharge lamp of the abnormal state on the basis of the abnormal signal, and applies the power to an auxiliary discharge lamp.

Description

광원장치 및 이것을 사용한 노광장치{Optical source device and exposure device using the same}Optical source device and exposure device using the same

본 발명은 방전등을 가지며, 장시간에 걸쳐 균일한 조도의 광을 출사할 수 있는 광원장치 및 그와 같은 광원장치를 사용한 노광장치에 관한 것이다. The present invention relates to a light source device having a discharge lamp and capable of emitting light of uniform illuminance over a long period of time, and an exposure apparatus using such a light source device.

방전등을 사용한 광원장치는 반도체 제조 프로세스나 프린트기판 작성 프로세스에서의 포토레지스트의 노광 프로세스와 같이, 광을 사용하여 물건을 가공하는 공업 프로세스에서 활발하게 이용되고 있다. 이러한 공업 프로세스에서 사용되는 광원장치에는 특히 「장시간에 걸쳐 균일한 조도의 광을 출사할 수 있는 것」이 요구되지만, 광원장치에 사용되는 방전등은 사용시간이 길어지는 동시에 열화되어 조도가 저하되기 때문에, 이러한 요구에 응하는 것은 용이하지 않았다. Light source devices using discharge lamps are actively used in industrial processes in which objects are processed using light, such as the exposure process of photoresist in a semiconductor manufacturing process or a printed circuit board making process. The light source device used in such an industrial process is especially required to be able to emit light of uniform illuminance over a long period of time, but the discharge lamp used in the light source device deteriorates due to deterioration of the illumination time. It was not easy to meet these demands.

그래서, 이전부터, 이 요구에 응하기 위한 연구가 행하여지고 있고, 그 성과로서 특허문헌 1의 광원장치가 알려져 있다. 이 광원장치는 복수의 방전등을 사용하여 광원장치를 구성하고, 광원장치가 새로운 것일 때에는 전체수보다도 적은 수의 방전등을 점등함으로써 필요한 조도를 확보하여, 광원장치의 사용시간이 소정의 시간 경과할 때마다 나머지의 방전등을 추가 점등하여 방전등의 열화에 의한 조도 의 저하분을 보충하도록 한 것이다. Therefore, from the past, research for meeting this demand has been conducted, and as a result, the light source device of Patent Document 1 is known. The light source device constitutes a light source device using a plurality of discharge lamps. When the light source device is a new one, the required illuminance is ensured by lighting fewer discharge lamps than the total number, and when the use time of the light source device has elapsed for a predetermined time. Each remaining discharge lamp is additionally lit to compensate for the decrease in illuminance caused by deterioration of the discharge lamp.

[특허문헌 1] 일본 공개특허공보 2005-227465호[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2005-227465

방전등에는 각각 「개체차」가 존재하기 때문에, 전극의 소모가 대단히 빠르거나, 또는 극히 빠른 시기에 밀봉체 용기가 파손되어 「실광(失光)」을 일으키는 불량 방전등이 혼재할 가능성을 완전히 배제할 수는 없다. 이 때문에, 선행기술(특허문헌 1)과 같이, 불량 방전등이 혼입할 가능성을 무시하고 소정시간마다 방전등을 추가 점등한 것에서는 조도의 과부족이 생기기 쉬워, 조도의 균일성을 높이는 데 한계가 있었다. 요컨대, 일부의 불량 방전등이 빠른 시기에 「조도 저하」나 「실광(失光)」을 일으켜도, 소정의 시간이 경과할 때까지는 방전등의 추가 점등을 할 수 없어, 광원장치로부터 출사되는 광의 조도에 부족이 생긴다. 반대로, 소정의 사용시간이 경과하여도 광원장치가 충분한 조도의 광을 출사하고 있는 경우에 방전등을 추가 점등하면, 광원장치로부터 출사되는 광의 조도가 과잉이 된다는 문제점이 존재하고 있었다. Since there is an "individual difference" in each of the discharge lamps, it is possible to completely eliminate the possibility that mixed discharge lamps, such as the use of electrodes, are very fast or the sealing container is broken at an extremely early time, causing "rays of light". There is no number. For this reason, as in the prior art (Patent Document 1), when the discharge lamp is additionally lit every predetermined time while ignoring the possibility of mixing of the bad discharge lamp, excessive shortage of illuminance easily occurs, and there is a limit in increasing the uniformity of illuminance. In short, even if some defective discharge lamps produce "low illuminance" or "real light" at an early time, additional lighting of the discharge lamp cannot be performed until a predetermined time has elapsed, and the illuminance of the light emitted from the light source device There is a shortage in On the contrary, there is a problem that the illuminance of the light emitted from the light source device becomes excessive when the discharge lamp is further turned on when the light source device emits light of sufficient illuminance even after a predetermined use time.

본 발명은 이러한 선행기술의 문제점을 감안하여 개발된 것이다. 그러므로 본 발명의 주된 과제는 균일한 조도의 광을 장시간에 걸쳐 연속적으로 출사할 수 있는 광원장치 및 이것을 사용한 노광장치를 제공하는 것이다. The present invention has been developed in view of the problems of the prior art. Therefore, the main subject of this invention is providing the light source apparatus which can continuously emit the light of uniform illuminance for a long time, and the exposure apparatus using the same.

청구항 1에 기재된 발명은 「복수의 방전등(30)과 방전등(30)의 각각에 형성 되는 것을 특징으로 하는」 노광장치(12)이다. The invention described in claim 1 is an exposure apparatus 12 "characterized in being formed in each of the plurality of discharge lamps 30 and the discharge lamps 30".

본 발명에 의하면, 광원장치(10)로부터 장기간에 걸쳐 연속적으로 균일한 조도의 광이 출사되기 때문에, 노광 대상물(X)에 광원장치(10)로부터의 광을 조사하는 시간(cycle time), 요컨대 노광 대상물(X)의 노광에 요하는 시간을 장기간에 걸쳐 일정하게 할 수 있다. 따라서, 노광 대상물(X)을 지지대(14)에 싣는 타이밍이나 다음의 처리공정으로 반송(搬送)하는 타이밍을 일정하게 하여 노광공정의 전후의 공정에서의 대기 시간이나 지체의 발생 확률을 극소화할 수 있다. According to the present invention, since light of uniform illuminance is continuously emitted from the light source device 10 over a long period of time, a cycle time for irradiating light from the light source device 10 to the exposure object X, that is, The time required for exposure of the exposure target object X can be made constant over a long period of time. Therefore, the timing of loading the exposure object X on the support 14 or the timing of conveying it to the next processing step can be kept constant, thereby minimizing the occurrence probability of waiting time and delay in the steps before and after the exposure step. have.

본 발명에 의하면, 균일한 조도의 광을 장시간에 걸쳐 연속적으로 출사할 수 있는 광원장치를 제공할 수 있다. 또한, 노광 대상물의 노광 시간이 장시간에 걸쳐 일정한 노광장치를 제공할 수 있다. According to the present invention, it is possible to provide a light source device capable of continuously emitting light of uniform illuminance over a long period of time. In addition, it is possible to provide an exposure apparatus in which the exposure time of the exposure object is constant over a long time.

이하, 본 발명을 도면에 따라서 설명한다. 도 1은 본 발명에 관계되는 광원장치(10)가 내장된 노광장치(12)의 개요를 도시한 도면이다. 이 노광장치(12)는 프린트기판(P)상에 형성된, 「노광 대상물」로서의 레지스트층(X)을 노광하기 위한 것으로, 광원장치(10)와 프린트기판(P)과 함께 레지스트층(X)을 지지하는 지지대(14)와 광원장치(10)로부터 출사된 광을 평행광으로 하여 레지스트층(X)에 조사하는 광학계(16)로 대략 구성되어 있다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, this invention is demonstrated according to drawing. 1 is a view showing an outline of an exposure apparatus 12 in which a light source device 10 according to the present invention is incorporated. This exposure apparatus 12 is for exposing the resist layer X as a "exposure object" formed on the printed board P. The resist layer X together with the light source device 10 and the printed board P is provided. It consists of an optical system 16 which irradiates the resist layer X with the support stand 14 which supports this, and the light radiate | emitted from the light source apparatus 10 as parallel light.

광원장치(10)는 노광에 필요한 광(자외광, 또는 자외광에 가까운 가시광)을 소정의 조도로 출사하기 위한 것으로, 램프 유닛(18)과 조도계(20)와 점등 제어장 치(22)를 구비하고 있다. The light source device 10 is for emitting light (ultraviolet light or visible light close to ultraviolet light) required for exposure at a predetermined illuminance, and the lamp unit 18, the illuminometer 20, and the lighting control device 22 are emitted. Equipped.

또, 본 명세서에서, 「조도」는 1㎠의 면적에 1초간에 받는 광에너지[mW/㎠]를 말한다. In addition, in this specification, "illuminance" means the light energy [mW / cm <2>] received for 1 second in the area of 1 cm <2>.

램프 유닛(18)은 도 2에 도시하는 바와 같이, 복수의 램프장치(24)와 전력공급장치(26)와 이상판정수단(28)을 갖는다. 또, 램프 유닛(18)은 복수의 램프장치(24)로부터의 광을 같은 방향을 향하여 출사하기 위해서 복수의 램프장치(24)를 유지하는 블록형의 홀더(29)를 구비하고 있다. As shown in FIG. 2, the lamp unit 18 includes a plurality of lamp devices 24, a power supply device 26, and abnormal determination means 28. Moreover, the lamp unit 18 is provided with the block holder 29 which hold | maintains the several lamp apparatus 24 in order to emit the light from several lamp apparatus 24 to the same direction.

램프장치(24)는 각각 방전등(30)과 방전등(30)으로부터 출사된 광을 소정의 방향을 향하여 반사하는 리플렉터(31; reflector)로 구성되어 있다.The lamp device 24 is comprised by the discharge lamp 30 and the reflector 31 which reflects the light radiate | emitted from the discharge lamp 30 toward a predetermined direction, respectively.

방전등(30)은 도 3에 도시하는 바와 같이, 직류 점등식 쇼트 아크(short arc) 고압 램프이고, 구형(球形)의 발광부(30a)와 그 양단에 쉬링크 시일(shrink seal)방식에 의해 형성된 밀봉부(30b)를 갖는 밀봉체 용기(30c), 전극봉(30d), 밀봉부(30b) 내에 매설된 몰리브덴 호일(30e), 몰리브덴 호일(30e)에 용접된 리드(lead)봉(30f) 및 발광부(30a) 내에 봉입된 수은이나 기타 필요 밀봉물을 구비하고 있다. As shown in FIG. 3, the discharge lamp 30 is a direct-current short arc high-pressure lamp, and is formed by a shrink seal method at a spherical light emitting portion 30a and both ends thereof. A seal body 30c having a sealing portion 30b, an electrode rod 30d, a molybdenum foil 30e embedded in the sealing portion 30b, a lead rod 30f welded to the molybdenum foil 30e, and Mercury and other necessary seals enclosed in the light emitting portion 30a are provided.

봉체 용기(30c)에서의 각 밀봉부(30b)의 내부에는 일단이 발광부(30a)의 내부로 돌출한 전극봉(30d)과 일단이 외부로 돌출한 리드봉(30f)과 전극봉(30d)의 타단과 리드봉(30f)의 타단을 전기적으로 접속하는 몰리브덴 호일(30e)이 배치되어 있고, 각 전극봉(30d)의 일단에는 한 쌍의 전극(30g)을 구성하는 양극(30h) 및 음극(30i)이 소정의 간격(이하, 「전극간 거리(L)」라고 함)을 두고 접속되어 있다. The inside of each sealing part 30b in the sealing container 30c includes one end electrode 30d protruding into the light emitting part 30a and one end protruding outward of the lead rod 30f and the electrode bar 30d. The molybdenum foil 30e which electrically connects the other end and the other end of the lead rod 30f is arrange | positioned, The anode 30h and the cathode 30i which comprise a pair of electrode 30g at one end of each electrode rod 30d are arranged. ) Are connected at predetermined intervals (hereinafter referred to as "inter-electrode distance L").

전력공급장치(26)는 도 2에 도시하는 바와 같이, 램프장치(24)를 구성하는 방전등(30)에 정전력을 공급하기 위해서 필요한 전류를 공급하기 위한 밸러스트(ballast)이고, 밸러스트 전력부(32)와 밸러스트 제어부(33)로 대략 구성되어 있다. 또, 램프 유닛(18)은 램프장치(24)와 같은 수의 전력공급장치(26)를 갖는다. As shown in FIG. 2, the power supply device 26 is a ballast for supplying a current required for supplying constant power to the discharge lamp 30 constituting the lamp device 24, and the ballast power unit ( 32) and the ballast control part 33 is roughly comprised. In addition, the lamp unit 18 has the same number of power supply devices 26 as the lamp device 24.

밸러스트 전력부(32)는 점등 제어장치(22)로부터의 통전 신호(S1)를 받았을 때에, 밸러스트 제어부(33)로부터의 펄스폭 신호에 따라서 스위칭 동작을 하는 것으로 방전등(30)의 점등에 필요한 전력을 방전등(30)에 공급하거나, 또는 점등 제어장치(22)로부터의 통전 차단 신호(S2)를 받았을 때에, 방전등(30)에 대한 전력공급을 정지한다. When the ballast power unit 32 receives the energization signal S1 from the lighting control device 22, the ballast power unit 32 performs a switching operation in accordance with the pulse width signal from the ballast control unit 33, and thus the power required for lighting the discharge lamp 30. Is supplied to the discharge lamp 30, or when the energization cutoff signal S2 is received from the lighting control device 22, the power supply to the discharge lamp 30 is stopped.

또한, 밸러스트 제어부(33)는 방전등(30)에 공급되는 전압의 격차나, 경시적인 전압변화 등을 고려하여, 방전등(30)에 일정 전력을 공급하기 위해서 필요한 전류를 공급할 수 있도록 밸러스트 전력부(32)를 제어한다. In addition, the ballast controller 33 may supply a current required to supply a constant power to the discharge lamp 30 in consideration of a voltage difference or a voltage change over time. 32).

이상판정수단(28)은 개개의 방전등(30)에서의 이상의 유무를 판정하는 수단으로, 전력공급장치(26)로부터 방전등(30)에 공급되는 전압값을 측정하는 측정회로(34)와 측정회로(34)에서 측정된 전압값과 미리 설정된 기준 전압(V1)을 비교하여, 측정된 전압값이 기준 전압(V1)보다 큰 경우는 이상 신호(S3)를 출력하는 비교회로(36)를 갖는다. 또한, 램프 유닛(18)은 램프장치(24)와 같은 수의 이상판정수단(28)을 갖는다. The abnormality determination means 28 is a means for determining the presence or absence of abnormalities in the individual discharge lamps 30, and the measuring circuit 34 and the measurement circuit for measuring the voltage value supplied from the power supply device 26 to the discharge lamp 30. The comparison circuit 36 outputs the abnormal signal S3 when the measured voltage value is greater than the reference voltage V1 by comparing the voltage value measured at 34 with the preset reference voltage V1. In addition, the lamp unit 18 has the same number of abnormality determination means 28 as the lamp device 24.

조도계(20)는 도 1에 도시하는 바와 같이, 광원장치(10)에 의한 광의 출사축 상으로, 광학계(16)를 구성하는 반사경(54)의 배면에서 램프 유닛(18)과 대면하는 방향에 장착되어 있고, 광원장치(10)로부터 출사된 광의 조도를 측정하는 것이다. 또한, 조도계(20)에서 측정된 실(實) 조도는 조도치(S4)로서 점등 제어장치(22)에 출력된다. As shown in FIG. 1, the illuminance meter 20 faces the lamp unit 18 on the rear surface of the reflector 54 constituting the optical system 16 on the emission axis of the light by the light source device 10. The illuminance of the light emitted from the light source device 10 is measured. The actual illuminance measured by the illuminometer 20 is output to the lighting controller 22 as the illuminance value S4.

점등 제어장치(22)는 방전등(30)을 개별로 통전하거나, 또는 통전을 차단하는 장치로, 도 4에 도시하는 바와 같이, 적산광량계(38)와 시퀀서(40(programmable logic controller : PLC))와 전산처리장치(42)를 구비하고 있다. The lighting control device 22 is a device for energizing or discharging the discharge lamp 30 individually, and as shown in FIG. 4, an integrated photometer 38 and a sequencer 40 (programmable logic controller (PLC)). ) And a computer processing unit 42 are provided.

적산광량계(38)는 조도계(20)로부터 출력된 조도치(S4)에 기초하여 이상의 유무를 판정하는 판정회로(44)와 상기 조도치(S4)를 적산하여 광량을 산출하는 적산회로(46)를 갖는다. The integrated light quantity meter 38 integrates the determination circuit 44 for determining the presence or absence of abnormality based on the illuminance value S4 output from the illuminometer 20 and the integrated circuit 46 for calculating the amount of light by integrating the illuminance value S4. Has

또, 본 명세서에서, 「광량」은 1㎠의 면적이 소정의 시간 내에 받은 광에너지 [mJ/㎠]를 말한다. In addition, in this specification, "light quantity" means the light energy [mJ / cm <2>] which the area of 1 cm <2> received within the predetermined time.

판정회로(44)는 조도계(20)로부터 보내진 조도치(S4)가 미리 설정된 적정 조도치보다도 높은지 낮은지, 또 조도치(S4)와 적정 조도치의 차가 1개의 방전등(30)으로부터 출사되는 광의 조도와 같은 정도인지를 판정한다. 조도계(20)로부터 보내진 조도치(S4)가 적정 조도치보다도 높고, 또한 조도치(S4)와 적정 조도치의 차가 1개의 방전등(30)으로부터 출사되는 광의 조도와 같은 정도인 경우, 판정회로(44)는 시퀀서(40)에 대하여 조도 이상 고(高) 신호(S5)를 송신하고, 반대로 조도계(20)로부터 보내진 조도치(S4)가 적정 조도치보다도 낮고, 또한 조도치(S4)와 적정 조도치의 차가 1개의 방전등(30)으로부터 출사되는 조도와 같은 정도인 경우, 판정회로(44)는 시퀀서(40; PLC)에 대하여 조도 이상 저(低) 신호(S6)를 출력한다. The judging circuit 44 determines whether the illuminance value S4 sent from the illuminometer 20 is higher or lower than the preset appropriate illuminance value, and the illuminance of the light emitted from one discharge lamp 30 by the difference between the illuminance value S4 and the appropriate illuminance value. Determine whether or not When the illuminance value S4 sent from the illuminometer 20 is higher than the appropriate illuminance value, and the difference between the illuminance value S4 and the appropriate illuminance value is about the same as the illuminance of the light emitted from one discharge lamp 30, the determination circuit 44 ) Transmits the illuminance abnormality high signal S5 to the sequencer 40, on the contrary, the illuminance value S4 sent from the illuminometer 20 is lower than the appropriate illuminance value, and the illuminance value S4 and the appropriate illuminance When the difference in values is about the same as the illuminance emitted from one discharge lamp 30, the judging circuit 44 outputs the illuminance abnormality low signal S6 to the sequencer 40 (PLC).

적산회로(46)는 조도계(20)로부터 조도치(S4)를 받아들여 조도치(S4)를 적산하여, 광량을 산출하는 회로이고, 시퀀서(40)로부터의 적산 개시 신호(S7)를 받았을 때에 적산치를 리셋하는 동시에, 조도치(S4)의 적산을 개시한다. 그리고, 광량이 미리 설정된 값이 되면, 적산회로(46)는 조도치(S4)의 적산을 종료하는 동시에, 시퀀서(40)에 대하여 적산 종료 신호(S8)를 출력한다. The integrating circuit 46 is a circuit which receives the illuminance value S4 from the illuminometer 20 and integrates the illuminance value S4 to calculate the amount of light, and when the integration start signal S7 is received from the sequencer 40. The integrated value is reset and integration of the illuminance value S4 is started. When the amount of light reaches a predetermined value, the integration circuit 46 finishes integration of the illuminance value S4 and outputs an integration end signal S8 to the sequencer 40.

시퀀서(40)는 이상판정수단(28)의 비교회로(36)로부터 출력된 이상 신호(S3)와 적산광량계(38)의 판정회로(44)로부터 출력된 조도 이상 고 신호(S5) 또는 조도 이상 저 신호(S6)와 적산회로(46)로부터 출력된 적산 종료 신호(S8)와 전산처리장치(42)로부터 출력된 조도 이상 고 신호(S12) 또는 조도 이상 저 신호(S13)를 받아들이고, 이들의 신호에 기초하여 각 전력공급장치(26)에 통전 신호(S1) 또는 통전 차단 신호(S2)를 출력하는 제어부(40a), 방전등(30)이 점등을 개시하고 나서 조도가 안정될 때까지의 시간으로서 미리 설정된 설정 대기시간이나, 광원장치(10)의 기동시에 어떤 램프장치(24)를 점등하고, 어떤 램프장치(24)를 소등하여 둘 것인지를 미리 설정한 램프장치 사용 설정 등을 기억하는 기억부(40b), 및 시간을 카운트하는 타이머(40c)를 구비하고 있다. The sequencer 40 is an illuminance abnormality high signal S5 or illuminance output from the abnormality signal S3 output from the comparison circuit 36 of the abnormality determination means 28 and the determination circuit 44 of the integration photometer 38. The abnormal low signal S6, the integration end signal S8 output from the integration circuit 46, and the illuminance abnormality high signal S12 or the illuminance abnormality low signal S13 output from the computer processing unit 42 are received. The control unit 40a outputting the energization signal S1 or the energization cutoff signal S2 to each power supply device 26 and the discharge lamp 30 until the illuminance is stabilized after starting the lighting. It is possible to store a preset standby time set as time, a lamp device use setting set in advance, etc., which lamp device 24 is turned on when the light source device 10 is started, and which lamp device 24 is turned off. A storage section 40b and a timer 40c for counting time are provided.

즉, 램프 유닛(18)의 이상판정수단(28)이 갖는 비교회로(36)로부터 시퀀서(40)로 이상 신호(S3)가 주어지면, 시퀀서(40)는 상기 이상판정수단(28)에 대응하는 전력공급장치(26)에 통전 차단 신호(S2)를 보내는 동시에, 이때까지 소등되어 있던 예비의 방전등(30)에 대응하는 전력공급장치(26)에 통전 신호(S1)를 보낸다. That is, when the abnormal signal S3 is given to the sequencer 40 from the comparison circuit 36 included in the abnormal determination means 28 of the lamp unit 18, the sequencer 40 corresponds to the abnormal determination means 28. The energization cutoff signal S2 is sent to the power supply device 26, and the energization signal S1 is sent to the power supply device 26 corresponding to the preliminary discharge lamp 30 that has been turned off.

또한, 시퀀서(40)에 적산광량계(38)의 판정회로(44)로부터 조도 이상 고 신호(S5)가 주어지면, 시퀀서(40)는 점등 중인 방전등(30) 중으로부터 1개의 방전등(30)을 선택하여, 상기 방전등(30)에 대응하는 전력공급장치(26)에 대하여 통전 차단 신호(S2)를 보낸다. 한편, 시퀀서(40)에 조도 이상 저 신호(S6)가 주어지면, 시퀀서(40)는 소등 중인 방전등(30) 중으로부터 1개의 방전등(30)을 선택하고, 선택된 방전등(30)에 대응하는 전력공급장치(26)에 대하여 통전 신호(S1)를 보낸다. In addition, when the illuminance abnormality high signal S5 is given to the sequencer 40 from the determination circuit 44 of the integration photometer 38, the sequencer 40 has one discharge lamp 30 from among the discharge lamps 30 being lit. Select and transmit an energization cutoff signal S2 to the power supply device 26 corresponding to the discharge lamp 30. On the other hand, when the illuminance abnormality low signal S6 is given to the sequencer 40, the sequencer 40 selects one discharge lamp 30 from among the discharge lamps 30 which are extinguished, and the electric power corresponding to the selected discharge lamp 30 is performed. The energization signal S1 is sent to the supply device 26.

또, 시퀀서(40)는 레지스트층(X)을 적정한 광량으로 노광하기 때문에, 광학계(16)에 포함되는 노광 제어용 셔터(50)에 대하여, 개방 신호(S10) 또는 폐쇄 신호(S11)를 출력한다. In addition, since the sequencer 40 exposes the resist layer X at an appropriate amount of light, the sequencer 40 outputs an open signal S10 or a closed signal S11 to the exposure control shutter 50 included in the optical system 16. .

또한, 시퀀서(40)는 노광 제어용 셔터(50)에 대하여 개방 신호(S10)를 출력할 때, 적산회로(46)에 적산 개시 신호(S7)를 송신하는 동시에 타이머(40c)는 시간의 카운트를 개시한다. 그리고, 시퀀서(40)가 적산회로(46)로부터 적산 종료 신호(S8)를 받았을 때, 시퀀서(40)는 노광 제어용 셔터(50)에 대하여 폐쇄 신호(S11)를 출력하는 동시에, 타이머(40c)는 시간의 카운트를 종료한다. 요컨대, 타이머(40c)는 레지스트층(X)의 노광 시간을 카운트하고 있다. 그리고, 시퀀서(40)는 적산 개시 신호(S7)의 송신부터 적산 종료 신호(S8)의 수신까지 카운트된 노광 시간값(S9)을 전산처리장치(42)에 출력하는 동시에, 타이머(40c)의 카운트를 리셋한다. In addition, when the sequencer 40 outputs the open signal S10 to the exposure control shutter 50, the integration signal 46 is transmitted to the integration circuit 46 while the timer 40c counts the time. To start. When the sequencer 40 receives the integration end signal S8 from the integration circuit 46, the sequencer 40 outputs the closing signal S11 to the exposure control shutter 50, and at the same time, the timer 40c. Ends the count of hours. In short, the timer 40c counts the exposure time of the resist layer X. FIG. The sequencer 40 outputs the exposure time value S9 counted from the transmission of the integration start signal S7 to the reception of the integration end signal S8 to the computer processing unit 42, and at the same time the timer 40c is turned on. Reset the count.

전산처리장치(42)는 시퀀서(40)로부터 받은 노광 시간값(S9)과 미리 설정한 적정 노광 시간을 비교하여, 노광 시간값(S9)에서의 문제의 유무를 판정하는 판정 부(42a)와 노광 시간값(S9)을 기억하는 기억부(42b)로 구성되어 있다. 노광 시간값(S9)이 적정 노광 시간보다도 짧은 경우, 전산처리장치(42)는 시퀀서(40)에 대하여 조도 이상 고 신호(S12)를 출력한다. 반대로, 노광 시간값(S9)이 적정 노광 시간보다도 긴 경우, 전산처리장치(42)는 시퀀서(40)에 대하여 조도 이상 저 신호(S13)를 송신한다. The computer processing unit 42 compares the exposure time value S9 received from the sequencer 40 with the appropriate exposure time set in advance, and determines the presence or absence of a problem in the exposure time value S9; It is comprised by the memory | storage part 42b which stores the exposure time value S9. When the exposure time value S9 is shorter than the appropriate exposure time, the computer processing apparatus 42 outputs the illuminance abnormality high signal S12 to the sequencer 40. On the contrary, when the exposure time value S9 is longer than the appropriate exposure time, the computer processing apparatus 42 transmits the low illuminance abnormality low signal S13 to the sequencer 40.

또, 기억부(42b)에 기억된 노광 시간 데이터는 노광장치(12)의 운전 이력을 나타내는 데이터로서 축적된다. 이와 같이 노광 시간 데이터를 축적하여 둠으로써, 만일, 노광 불량이 발생한 경우, 과거의 노광 시간 데이터를 참조함으로써 노광장치(12)의 운전상황을 분석하여, 불량 발생의 원인을 추적할 수 있다. In addition, the exposure time data stored in the storage unit 42b is accumulated as data representing the operation history of the exposure apparatus 12. By accumulating the exposure time data in this way, if exposure failure occurs, the operation status of the exposure apparatus 12 can be analyzed by referring to the past exposure time data, and the cause of the failure can be traced.

지지대(14)는 도 1에 도시하는 바와 같이, 프린트기판(P)을 지지하는 것이며, 지금까지 주지의 구성을 적절하게 채용하는 것이 가능하다. As shown in FIG. 1, the support stand 14 supports the printed board P, and it is possible to employ | adopt a well-known structure suitably so far.

광학계(16)는 광원장치(10)로부터 출사된 광을 평행광으로 하여 지지대(14)에 지지된 프린트기판(P)의 레지스트층(X)으로 유도하기 위한 것으로, 광원장치(10)로부터 출사된 광의 조도 분포를 균일하게 한다, 즉, 평면을 조사하였을 때, 피조사면에서 조도의 불균일함이 발생하지 않는 광으로 하는 인테그레이터(52; integrator(플라이 아이렌즈; fly-eye lens))와 광원장치(10)로부터 출사된 광(본 실시예에서는 인테그레이터(52)를 통과한 후의 광)의 출사 광로를 개폐 제어하는 노광 제어용 셔터(50)와 노광 제어용 셔터(50)를 통과한 광의 광로를 굴절시키는 반사경(54)과 반사경(54)에서 반사된 광을 평행광으로 하여 지지대(14)에 유도하는 요면경(56)으로 구성되어 있다. 또한, 반사경(54)의 대략 중심부에는 관통 구 멍(58)이 형성되어 있고, 반사경(54)의 배면으로 관통 구멍(58)을 통과한 광을 받을 수 있는 위치에 조도계(20)가 장착되어 있다. 따라서, 조도계(20)는 광원장치(10)로부터 출사되고, 인테그레이터(52)를 통과함으로써 조도 분포가 균일해진 광의 일부를 받아들여, 그 조도를 측정할 수 있다. The optical system 16 is used to guide the light emitted from the light source device 10 as parallel light to the resist layer X of the printed circuit board P supported by the support 14, and output from the light source device 10. The integrator 52 (fly-eye lens) and the integrator 52 are made to have uniform distribution of illuminance of the emitted light, that is, light which does not cause unevenness of illuminance on the irradiated surface when the plane is irradiated. Of the light passing through the exposure control shutter 50 and the exposure control shutter 50 for controlling the opening and closing of the output light path of the light emitted from the light source device 10 (light after passing through the integrator 52 in this embodiment). The reflector 54 which refracts the optical path and the concave mirror 56 which guides the light reflected by the reflector 54 to the support stand 14 as parallel light are comprised. In addition, a through hole 58 is formed at a substantially central portion of the reflector 54, and the illuminometer 20 is mounted at a position where the light passing through the through hole 58 can be received at the rear surface of the reflector 54. have. Therefore, the illuminance meter 20 is able to take out a part of the light emitted from the light source device 10 and pass through the integrator 52 and the illuminance distribution becomes uniform, and measure the illuminance.

또, 여기에서 개시한 광학계(16)의 구성은 그 일례이며, 본 실시예의 구성에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 광원장치(10)로부터 출사된 광을 반사경(54)에서 반사시킨 후, 인테그레이터(52)에 입광하는 구성으로 하여도 좋고, 목적으로 하는 광학경로에 따라서 적절하게 그 구성을 변경하는 것이 가능하다. 또한, 노광 제어용 셔터(50)의 형식은 도 1에 도시하는 바와 같은 루버(louver)방식 외에, 광을 통과시키지 않는 재질로 형성되어 있고, 광원장치(10)로부터 출사된 광이 통과하는 구멍을 갖는 회전반(도시하지 않음)을 소정의 회전 제어장치로 회전시키는 방식 등을 사용할 수 있다. In addition, the structure of the optical system 16 disclosed here is an example, and is not limited to the structure of a present Example. For example, the light emitted from the light source device 10 may be reflected by the reflector 54 and then incident on the integrator 52. The configuration may be appropriately selected according to the intended optical path. It is possible to change. In addition, the type of the exposure control shutter 50 is formed of a material that does not allow light to pass, in addition to a louver system as shown in FIG. 1, and forms a hole through which light emitted from the light source device 10 passes. The rotating disk (not shown) which has a certain rotation control apparatus, etc. can be used.

점등 제어장치(22)를 기동시키면, 시퀀서(40)로부터 소정 수의 전력공급장치(26)에 대하여 통전 신호(S1)가 송신되어 램프장치(24)가 점등하고, 램프장치(24)로부터 출사된 광(본 실시예에서는 주로 자외광)이 전방을 향하여 출사되게 된다. 또, 본 실시예에 따른 노광장치(12)에서 필요하게 되는 조도는 3개의 램프장치(24)로부터 출사된 광으로 마련할 수 있는 양이다. 따라서, 광원장치(10)가 구비하는 5개의 램프장치(24) 중, 원칙적으로 3개의 램프장치(24)가 동시에 점등하면 되고, 나머지 2개의 램프장치(24)는 예비로서 소등상태를 유지한다. When the lighting control device 22 is activated, the energization signal S1 is transmitted from the sequencer 40 to the predetermined number of power supply devices 26 so that the lamp device 24 lights up and exits from the lamp device 24. The light (mainly ultraviolet light in the present embodiment) is emitted toward the front. The illuminance required by the exposure apparatus 12 according to the present embodiment is an amount that can be provided by the light emitted from the three lamp apparatuses 24. Therefore, of the five lamp devices 24 included in the light source device 10, three lamp devices 24 may be turned on at the same time in principle, and the remaining two lamp devices 24 maintain an unlit state as a reserve. .

광원장치(10)로부터 출사된 광은 인테그레이터(52)를 통과함으로써 조도 분 포가 균일한 광이 된다. 그리고, 방전등(30)이 점등을 개시하고 나서 광량이 안정될 때까지의 시간으로서 시퀀서(40)의 기억부(40b)에 미리 설정된 설정 대기시간이 경과하면, 시퀀서(40)는 적산광량계(38)의 적산회로(46)에 적산 개시 신호(S7)를 출력하는 동시에, 노광 제어용 셔터(50)에 개방 신호(S10)를 송신하여 노광 제어용 셔터(50)를 개방한다. 또한, 동시에 타이머(40c)가 시간의 카운트를 개시한다. The light emitted from the light source device 10 passes through the integrator 52, so that the illuminance distribution is uniform. When the preset waiting time set in the storage unit 40b of the sequencer 40 elapses from when the discharge lamp 30 starts to turn on and the amount of light stabilizes, the sequencer 40 generates an integrated light meter ( The integration start signal S7 is output to the integration circuit 46 of 38, and the open signal S10 is transmitted to the exposure control shutter 50 to open the exposure control shutter 50. At the same time, the timer 40c starts counting the time.

그리고, 인테그레이터(52)로부터의 광은 시퀀서(40)로부터의 개방 신호(S10)를 받아 개방한 노광 제어용 셔터(50)를 통과한다. 또, 노광 제어용 셔터(50)를 통과한 광은 반사경(54)에 의해서 요면경(56)을 향하여 반사된다. And the light from the integrator 52 passes through the exposure control shutter 50 which received the open signal S10 from the sequencer 40, and opened. The light passing through the exposure control shutter 50 is reflected toward the concave mirror 56 by the reflecting mirror 54.

이 때, 반사경(54)을 향하는 광의 일부는 반사경(54)에 형성된 관통 구멍(58)을 통과하여 조도계(20)를 조사한다. 그리고, 조도계(20)는 관통 구멍(58)을 통과한 광에 기초하여 조도를 측정하고, 측정한 조도치(S4)를 점등 제어장치(22)의 적산광량계(38)에 출력한다. 또한, 출력된 조도치(S4)는 적산광량계(38)의 판정회로(44)에서 이상의 유무가 판정되는 동시에, 적산회로(46)에서 적산된다. At this time, a part of the light directed to the reflector 54 passes through the through hole 58 formed in the reflector 54 to irradiate the illuminometer 20. The illuminometer 20 measures illuminance based on the light passing through the through-hole 58, and outputs the measured illuminance value S4 to the integrated photometer 38 of the lighting control device 22. In addition, the output illuminance value S4 is determined by the determination circuit 44 of the integration photometer 38, and is integrated in the integration circuit 46 at the same time.

반사경(54)에 의해서 요면경(56)을 향하여 반사된 광은 요면경(56)에서 평행광이 되고, 지지대(14)를 향하여 반사된다. 지지대(14)를 향하여 반사된 광은 회로 패턴이 형성되어 있는 마스크(M)를 개재하여 지지대(14)상에 재치되어 있는 프린트기판(P)의 레지스트층(X)에 조사된다. The light reflected by the reflector 54 toward the concave mirror 56 becomes parallel light in the concave mirror 56 and is reflected toward the support 14. The light reflected toward the support 14 is irradiated to the resist layer X of the printed board P mounted on the support 14 via the mask M on which the circuit pattern is formed.

적산회로(46)에서 적산된 광량치가 미리 설정된 값이 되면, 적산회로(46)는 시퀀서(40)에 대하여 적산 종료 신호(S8)를 송신한다. 적산 종료 신호(S8)를 받은 시퀀서(40)는 노광 제어용 셔터(150)에 폐쇄 신호(S11)를 출력하여, 노광 제어용 셔터(50)를 닫아 레지스트층(X)을 조사하는 광을 차단하는 동시에, 적산 개시 신호(S7)를 송신하고 나서 적산 종료 신호(S8)를 수신할 때까지의 사이에 타이머(40c)에서 카운트된 노광 시간값(S9)을 전산처리장치(42)에 출력한다. 노광 시간값(S9)을 수신한 전산처리장치(42)는 노광 시간값(S9)이 미리 설정된 적정 노광 시간 내에 있는지를 판정하는 동시에, 상기 노광 시간값(S9)을 노광 시간 데이터로서 기억부(42b)에 출력한다. When the light quantity value accumulated in the integration circuit 46 reaches a preset value, the integration circuit 46 transmits an integration end signal S8 to the sequencer 40. The sequencer 40 receiving the integration end signal S8 outputs the closing signal S11 to the exposure control shutter 150 to close the exposure control shutter 50 to block light irradiating the resist layer X. The exposure time value S9 counted by the timer 40c is transmitted to the computer processing device 42 from the time when the integration start signal S7 is transmitted until the integration end signal S8 is received. The computer processing apparatus 42 which has received the exposure time value S9 determines whether the exposure time value S9 is within a preset appropriate exposure time, and simultaneously stores the exposure time value S9 as the exposure time data. 42b).

이렇게 하여 1개의 레지스트층(X)에 대한 노광이 종료하면, 마스크(M) 아래의 프린트기판(P)이 미처리물과 교환되도록 노광된다. In this way, when exposure to one resist layer X is complete | finished, it exposes so that the printed board P under the mask M may be exchanged with an unprocessed material.

레지스트층(X)을 노광하고 있는 동안에, 점등 중인 방전등(30)에 공급되는 전압값을 측정하는 이상판정수단(28)이 상기 방전등(30)의 이상을 검지한 경우, 이상판정수단(28)은 시퀀서(40)에 이상 신호(S3)를 출력한다. 이 이상 신호(S3)를 받은 시퀀서(40)는 이상이 발생한 방전등(30)에 전력을 공급하는 전력공급장치(26)에 통전 차단 신호(S2)를 보내는 동시에, 소등되어 있던 예비의 방전등(30)에 대응하는 전력공급장치(26)에 통전 신호(S1)를 보낸다. 이것에 의해, 이상이 발생한 방전등(30)이 소등하는 동시에 새로운 방전등(30)이 점등하기 때문에, 광원장치(10) 전체로 보면, 발광하고 있는 방전등(30)의 수는 변화하지 않는다. 또, 이상이 발생한 방전등(30)은 적절한 시기에 작업원에 의해서 교환되고, 교환된 방전등(30)은 예비의 방전등(30)으로서, 다음에 다른 방전등(30)에 이상이 발생할 때까지는 소등상태를 유지한다. If the abnormality determination means 28 for measuring the voltage value supplied to the discharge lamp 30 being lit while the resist layer X is exposed detects the abnormality of the discharge lamp 30, the abnormality determination means 28 Outputs an abnormal signal S3 to the sequencer 40. The sequencer 40 which received this abnormal signal S3 sends the energization cutoff signal S2 to the power supply device 26 which supplies electric power to the discharge lamp 30 in which the abnormality occurred, and the spare discharge lamp 30 which was extinguished. The energization signal S1 is sent to the power supply 26 corresponding to). Thereby, since the discharge lamp 30 which generate | occur | produced abnormality turns off, and the new discharge lamp 30 turns on, when looking at the light source device 10 as a whole, the number of the discharge lamps 30 which emit light does not change. In addition, the discharge lamp 30 in which an abnormality has occurred is replaced by a worker at an appropriate time, and the replaced discharge lamp 30 is a spare discharge lamp 30, and is turned off until an abnormality arises in another discharge lamp 30 next. Keep it.

이상판정수단(28)에서는 상술한 바와 같이, 전력공급장치(26)로부터 램프장 치(24)의 방전등(30)에 공급하는 전압값에 기초하여 방전등(30)의 이상이 판정된다. 즉, 방전등(30)에 공급되는 전압값은 도 5a에 도시하는 바와 같이, 방전등(30)의 사용을 개시한 직후에는 사용시간의 경과와 함께 전압값이 상승하지만, 이 이후는 사용시간의 경과에 맞추어 완만하게 소정의 전압값에 수속(收束)된다(이 전압값을 수속 전압값이라고 함). 이러한 현상이 생기는 것은 방전등(30)을 장시간 사용하면 전극(30g)이 소모되어 전극간 거리(L)가 길어지고, 방전상태를 유지하기 위해서 필요한 전압값이 커지기 때문이다. In the abnormality determination means 28, as described above, the abnormality of the discharge lamp 30 is determined based on the voltage value supplied from the power supply device 26 to the discharge lamp 30 of the lamp device 24. That is, as shown in FIG. 5A, the voltage value supplied to the discharge lamp 30 rises with the passage of the use time immediately after the use of the discharge lamp 30 begins, but after that the use time has elapsed. In accordance with this, the convergence is smoothly performed at a predetermined voltage value (this voltage value is called a convergence voltage value). This phenomenon occurs because when the discharge lamp 30 is used for a long time, the electrode 30g is consumed, the distance L between the electrodes becomes long, and the voltage value necessary for maintaining the discharge state becomes large.

그런데, 수많은 방전등(30)의 중에는 전극의 소모가 대단히 빠르거나, 또는 극히 빠른 시기에 밀봉체 용기(30c)가 파손되어 실광(失光)되는 불량 방전등(30)이 존재한다. 이러한 불량 방전등(30)에서의 전압값과 사용시간의 관계는 도면 중 5b에 도시하는 바와 같이, 짧은 시간에서 급격한 전압값의 상승이 보인다. By the way, among the many discharge lamps 30, there exists a defective discharge lamp 30 in which the sealing container 30c is broken and a real light is consumed at the time when electrode consumption is very fast or extremely early. In the relationship between the voltage value and the use time in the defective discharge lamp 30, as shown in FIG. 5B, a sudden increase in the voltage value is observed in a short time.

그래서, 수속(收束) 전압값보다도 큰 전압값을 기준 전압(V1)으로서 설정하여, 측정한 전압값과 기준 전압(V1)의 크기를 비교한다. 비교한 결과, 측정한 전압값이 큰 경우, 그 방전등(30)은 이미 실광(失光)되었거나, 또는 곧 실광(失光)할 가능성이 높기 때문에, 「이상」이라고 판단한다. Therefore, a voltage value larger than the convergent voltage value is set as the reference voltage V1, and the measured voltage value is compared with the magnitude of the reference voltage V1. As a result of the comparison, when the measured voltage value is large, it is determined that the discharge lamp 30 has already been blinded or is likely to be blinded soon, and therefore is "abnormal."

이와 같이 본 실시예에 따른 광원장치(10)에서는 개개의 방전등(30)에 관해서 개별로 이상을 판단하여, 이상이라고 판단된 방전등(30)에 대한 통전을 차단하는 동시에, 예비의 방전등(30)을 통전하기 때문에, 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도가 저하된 것을 알아차리지 못한 채로 광원장치(10)를 계속 가동할 우려가 없고, 반대로, 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도 부족이 발생하지 않는 정상 점등하에서는 소정의 시간 경과에 따른 방전등(30)의 자동 추가 점등을 하지 않기 때문에 광원장치(10)가 출사하는 광량에 과부족이 생기지 않는다. As described above, in the light source device 10 according to the present embodiment, abnormalities are individually determined for the individual discharge lamps 30, the energization of the discharge lamps 30 determined to be abnormal is cut off, and the spare discharge lamps 30 are provided. Since the light is energized, there is no fear that the light source device 10 will continue to operate without noticing that the illuminance of the light emitted from the light source device 10 is lowered. On the contrary, there is a lack of illuminance of the light emitted from the light source device 10. Under normal lighting that does not occur, the automatic additional lighting of the discharge lamp 30 is not performed after a predetermined time elapses, so that there is no excessive shortage in the amount of light emitted from the light source device 10.

따라서, 본 실시예에 따른 광원장치(10)이면, 균일한 조도의 광을 장시간에 걸쳐 연속적으로 출사할 수 있다. Therefore, in the light source device 10 according to the present embodiment, light of uniform illuminance can be continuously emitted for a long time.

또한, 광원장치(10)로부터 출사된 조도치(S4)가 적정 조도치보다도 크고, 또 조도치(S4)와 적정 조도치의 차가 1개의 방전등(30)으로부터 출사되는 광의 조도와 같은 정도인 것을 검지한 적산광량계(38)의 판정회로(44)는 시퀀서(40)에 대하여 조도 이상 고 신호(S5)를 출력한다. 판정회로(44)로부터 조도 이상 고 신호(S5)를 받은 시퀀서(40)는 점등 중인 방전등(30) 중으로부터 1개의 방전등(30)을 선택하여, 상기 방전등(30)에 대응하는 전력공급장치(26)에 대하여 통전 차단 신호(S2)를 출력한다. 이것에 의해, 점등하는 방전등(30)의 수가 감소하기 때문에, 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도가 저하되어, 과잉이었던 조도는 적정 광량치에 들어간다. 반대로, 광원장치(10)로부터 조사된 조도치(S4)가 적정 조도치보다도 작고, 또 조도치(S4)와 적정 조도치의 차가 1개의 방전등(30)으로부터 출사되는 광의 조도와 같은 정도인 것을 검지한 판정회로(44)는 시퀀서(40)에 대하여 조도 이상 저 신호(S6)를 출력한다. 판정회로(44)로부터 조도 이상 저 신호(S6)를 받은 시퀀서(40)는 소등 중인 방전등(30) 중으로부터 1개의 방전등(30)을 선택하고, 상기 방전등(30)에 대응하는 전력공급장치(26)에 대하여 통전 신호(S1)를 출력한다. 이것에 의해, 점등하는 방전등(30)의 수가 증가하기 때문에, 광원장치(10)로부터 조사되는 광의 조도가 증가하여, 과소이었던 조도는 적정 광량치에 들어간다. Further, it is detected that the illuminance value S4 emitted from the light source device 10 is larger than the appropriate illuminance value, and that the difference between the illuminance value S4 and the appropriate illuminance value is about the same as the illuminance of the light emitted from one discharge lamp 30. The determination circuit 44 of the integrated photometer 38 outputs the illuminance abnormality high signal S5 to the sequencer 40. The sequencer 40 which has received the illuminance abnormality high signal S5 from the determination circuit 44 selects one discharge lamp 30 from among the discharge lamps 30 which are lit, and the power supply device corresponding to the discharge lamp 30 ( 26, the energization cutoff signal S2 is output. As a result, the number of discharge lamps 30 to be turned on decreases, so that the illuminance of the light emitted from the light source device 10 decreases, and the excessive illuminance enters an appropriate light quantity value. On the contrary, it is detected that the illuminance value S4 irradiated from the light source device 10 is smaller than the appropriate illuminance value, and the difference between the illuminance value S4 and the appropriate illuminance value is about the same as the illuminance of the light emitted from one discharge lamp 30. One determination circuit 44 outputs an illuminance abnormality low signal S6 to the sequencer 40. The sequencer 40 receiving the illuminance abnormality low signal S6 from the determination circuit 44 selects one discharge lamp 30 from among the discharge lamps 30 being extinguished, and the power supply device corresponding to the discharge lamp 30 ( 26, the energization signal S1 is outputted. As a result, the number of discharge lamps 30 to be turned on increases, so that the illuminance of the light irradiated from the light source device 10 increases, and the illuminance that is too small enters an appropriate light quantity value.

이것에 의해, 개개의 방전등(30)의 이상을 전압값에 의해서 파악하여, 항상 미리 설정한 수의 방전등(30)을 점등할 수 있을 뿐만 아니라, 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도 자체를 측정하여, 최적의 수의 방전등(30)을 점등시킬 수 있다. Thereby, the abnormality of each discharge lamp 30 can be grasped | ascertained by a voltage value, it is not only possible to light a predetermined number of discharge lamps 30 but also to illuminate the illuminance itself of the light radiate | emitted from the light source device 10 by itself. By measuring, the optimum number of discharge lamps 30 can be turned on.

더욱 설명하면, 조도계(20)가 받는 광은 인테그레이터(52)에 의해서 조도 분포가 균일화된 것이기 때문에, 조도계(20)의 설치위치를 예를 들면 「광원장치(10)의 광의 중심축에 맞추어야만 한다」와 같은 제약이 없고, 광원장치(10)로부터의 광을 받을 수 있는 위치이면, 어디에 조도계(20)를 설치하여도 같은 조도를 측정할 수 있다. 즉, 조도계(20)의 위치조정을 간단히 할 수 있게 된다. In addition, since the light intensity received by the illuminometer 20 is the illuminance distribution uniformized by the integrator 52, the installation position of the illuminometer 20 is set to "the central axis of the light of the light source device 10, for example." If the illuminometer 20 is a position where the light from the light source device 10 can be received, the same illuminance can be measured wherever the illuminometer 20 is provided. That is, the position adjustment of the illuminometer 20 can be simplified.

또, 시퀀서(40)로부터 출력된 노광 시간값(S9)이 적정 노광 시간보다도 긴 것(요컨대, 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도가 낮은 것)을 검지한 전산처리장치(42)는 시퀀서(40)에 대하여 조도 이상 저 신호(S13)를 출력한다. 전산처리장치(42)로부터 조도 이상 저 신호(S13)를 받은 시퀀서(40)는 소등 중인 방전등(30) 중으로부터 1개의 방전등(30)을 선택하여, 상기 방전등(30)에 대응하는 전력공급장치(26)에 대하여 통전 신호(S1)를 출력한다. 이것에 의해, 점등하는 방전등(30)의 수가 증가하고, 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도가 증가함으로써, 적산회로(46)에서 적산되는 광량이 미리 설정된 값이 될 때까지의 시간이 단축되기 때문에, 노광 시간값(S9)은 적정 노광 시간 내에 들어간다. 반대로, 노광 시간값(S9)이 적정 노광 시간보다도 짧은 것(요컨대, 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도가 높은 것)을 검지한 전산처리장치(42)는 시퀀서(40)에 대하여 조도 이상 고 신 호(S12)를 출력한다. 전산처리장치(42)로부터 조도 이상 고 신호(S12)를 받은 시퀀서(40)는 점등 중인 방전등(30) 중으로부터 1개의 방전등(30)을 선택하여, 상기 방전등(30)에 대응하는 전력공급장치(26)에 대하여 통전 차단 신호(S2)를 출력한다. 이것에 의해, 점등하는 방전등(30)의 수가 감소하여, 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도가 저하됨으로써, 적산회로(46)에서 적산되는 광량이 미리 설정된 값이 될 때까지의 시간이 길어지기 때문에, 노광 시간값(S9)은 적정 노광 시간 내에 들어간다. The computer processing unit 42 that detects that the exposure time value S9 output from the sequencer 40 is longer than the appropriate exposure time (in other words, the illuminance of the light emitted from the light source device 10) is determined by the sequencer. The illuminance abnormality low signal S13 is output to 40. The sequencer 40 receiving the illuminance abnormality low signal S13 from the computer processing unit 42 selects one discharge lamp 30 from among the discharge lamps 30 being extinguished, and the power supply device corresponding to the discharge lamp 30. The energization signal S1 is output to (26). As a result, the number of discharge lamps 30 to be turned on increases and the illuminance of the light emitted from the light source device 10 increases, so that the time until the amount of light accumulated in the integration circuit 46 reaches a preset value is shortened. Therefore, exposure time value S9 falls within an appropriate exposure time. On the contrary, the computer processing device 42 which detects that the exposure time value S9 is shorter than the appropriate exposure time (in other words, the light intensity emitted from the light source device 10) is higher than the illuminance with respect to the sequencer 40. Outputs a high signal (S12). The sequencer 40 receiving the illuminance abnormality high signal S12 from the computer processing unit 42 selects one discharge lamp 30 from among the discharge lamps 30 being lit, and the power supply device corresponding to the discharge lamp 30. The energization cutoff signal S2 is output to (26). As a result, the number of discharge lamps 30 to be turned on decreases and the illuminance of the light emitted from the light source device 10 decreases, so that the time until the amount of light accumulated in the integration circuit 46 reaches a preset value is long. Since it loses, exposure time value S9 falls within an appropriate exposure time.

이것에 의해, 노광 시간에 기초하여 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도의 타당성을 판단하여, 최적의 수의 램프장치(24)를 점등시킬 수 있다. Thereby, the validity of the illuminance of the light emitted from the light source device 10 can be judged based on the exposure time, and the optimal number of lamp devices 24 can be turned on.

이상으로부터, 본 실시예에 따른 노광장치(12)에 의하면, 광원장치(10)로부터 균일한 조도의 광이 장시간에 걸쳐 연속적으로 출사되기 때문에, 노광 대상물(X)에 광원장치(10)로부터의 광을 조사하는 시간(cycle time), 요컨대 노광 대상물(X)의 감광에 요하는 시간을 일정하게 할 수 있다. 따라서, 노광 대상물(X)을 지지대(14)에 싣는 타이밍이나 다음의 처리공정에 반송하는 타이밍을 일정하게 하여 노광공정 전후의 공정에서의 대기 시간이나 지체의 발생 확률을 극소화할 수 있다. As described above, according to the exposure apparatus 12 according to the present embodiment, since light of uniform illuminance is continuously emitted from the light source apparatus 10 for a long time, the exposure target object X is exposed from the light source apparatus 10. A cycle time for irradiating light, that is, a time required for photosensitive exposure object X can be made constant. Therefore, the timing at which the exposure target object X is placed on the support base 14 or the timing for conveying it to the next processing step can be made constant to minimize the waiting time and the occurrence probability of delay in the steps before and after the exposure step.

또, 도 3에 도시한 방전등(30)은 더블 엔드(double-end)형 직류점등방식 램프이지만, 이 대신에, 교류 점등방식 램프나 싱글 엔드(single-end)형 램프를 사용하도록 하여도 좋다. 또, 방전등(30)은 밀봉체 용기(30c)에 수은이 봉입된 쇼트 아크(short arc)형 방전등에 한정되지 않고, 발광물질로서 나트륨이나 스칸듐 등의 금속할로겐화물을 봉입한 메탈 핼라이드 램프(metal halide lamp)를 사용하여, 자외광, 또는 가시광을 출사하여도 좋다. 또, 밀봉체 용기(30c)의 재질로서 석영유리나 투광성이 있는 세라믹을 사용하여도 좋다. In addition, although the discharge lamp 30 shown in FIG. 3 is a double-end type | mold DC lamp type | mold lamp, you may use an alternating current type lamp or a single-end type lamp instead. . The discharge lamp 30 is not limited to a short arc discharge lamp in which mercury is enclosed in the sealed container 30c, and a metal halide lamp in which a metal halide such as sodium or scandium is encapsulated as a light emitting material ( UV light or visible light may be emitted using a metal halide lamp). As the material of the sealed container 30c, quartz glass or light transmitting ceramics may be used.

또한, 본 실시예에서는 방전등(30)에 공급되는 측정 전압값이 수속 전압값보다도 높게 설정한 기준 전압(V1)보다도 클 때에 상기 방전등(30)이 「이상」이라고 판단하고 있지만, 방전등(30)이 「이상」이라는 것의 판단방법은 이것에 한정되지 않고, 방전등(30)을 최초로 점등하였을 때의 전압값(「당초 전압값」라고 함)에 근거하여, 당초 전압값으로부터 소정의 볼트수만큼 증가한 값을 기준 전압(V1)으로 하는 방법, 및 당초 전압값으로부터 소정의 비율만큼 증가한 값을 기준 전압(V1)으로 하는 방법이 있다. 또한, 현재의 측정 전압값과 현재로부터 소정시간 전에 측정한 측정 전압값의 차를 연산하여, 상기 차가 소정의 값보다도 큰 것(즉, 전압값이 급격히 증가한 것), 또는 상기 차가 마이너스인 것(즉, 사용시간의 경과와 함께 전압값이 감소한 것)을 두고 상기 방전등(30)이 「이상」이라고 판단하도록 하여도 좋다. 이 판단방법을 사용함으로써, 방전등(30)의 전압값이 도 5c에 도시하는 바와 같은 움직임을 한 경우를 검지할 수 있다. 요컨대, 방전등(30) 중에는 사용 중에 밀봉체 용기(30c)가 열에 의해서 팽창하는 경우가 있고, 이러한 팽창이 발생하면 전압값은 약간의 기간만 감소하고, 그 후, 방전등(30)은 실광(失光)하여 전압값은 제로가 된다. 따라서, 현재의 측정 전압값과 소정시간 경과 후의 측정 전압값의 차를 연산함으로써, 전압값이 급격히 상승하는 타입의 「이상」뿐만 아니라, 전압값이 감소하는 타입의 「이상」도 검지할 수 있다. In addition, in this embodiment, when the measured voltage value supplied to the discharge lamp 30 is larger than the reference voltage V1 set higher than the convergence voltage value, it is determined that the discharge lamp 30 is "ideal", but the discharge lamp 30 The determination method of this "abnormal" is not limited to this, but based on the voltage value ("original voltage value") when the discharge lamp 30 is first turned on, it increases from the original voltage value by a predetermined number of volts. There are a method of making the value the reference voltage V1 and a method of making the value increased by a predetermined ratio from the original voltage value as the reference voltage V1. The difference between the present measured voltage value and the measured voltage value measured a predetermined time from the present time is calculated so that the difference is larger than the predetermined value (that is, the voltage value is increased sharply) or the difference is negative ( In other words, the discharge lamp 30 may be judged to be "ideal" with the passage of the use time and the voltage value decrease. By using this determination method, it is possible to detect the case where the voltage value of the discharge lamp 30 makes a movement as shown in Fig. 5C. In other words, in the discharge lamp 30, the sealed container 30c may expand due to heat during use, and when such expansion occurs, the voltage value decreases only for a certain period of time, and then the discharge lamp 30 is blinded. The voltage is zero. Therefore, by calculating the difference between the current measured voltage value and the measured voltage value after a predetermined time has elapsed, not only the "abnormal" type of which the voltage value rises sharply but also the "abnormal" type of the voltage value decreases can be detected. .

또한, 조도계(20)로부터 보내진 조도치(S4)가 미리 설정된 적정 조도치보다도 높은지 낮은지를 판정하여, 점등시키는 방전등(30)의 수를 제어함으로써 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도를 일정하게 하는 것이지만, 조도계(20)로부터 보내진 조도치(S4)가 미리 설정된 적정 조도치보다도 높을 때에는 방전등(30)에 공급하는 전력량을 작게 하고, 반대로, 조도치(S4)가 미리 설정된 적정 조도치보다도 낮을 때에는 방전등(30)에 공급하는 전력량을 크게 함으로써 광원장치(10)로부터 출사되는 광의 조도를 일정하게 하여도 좋다. 또, 점등시키는 방전등(30) 수의 제어와 방전등(30)에 공급하는 전력량의 제어를 조합하여도 좋다. In addition, it is determined whether the illuminance value S4 sent from the illuminometer 20 is higher or lower than a predetermined appropriate illuminance value, and the illuminance of the light emitted from the light source device 10 is constant by controlling the number of discharge lamps 30 to be turned on. However, when the illuminance value S4 sent from the illuminometer 20 is higher than the preset appropriate illuminance value, the amount of power supplied to the discharge lamp 30 is made smaller, and conversely, the illuminance value S4 is lower than the preset appropriate illuminance value. In this case, the illuminance of the light emitted from the light source device 10 may be made constant by increasing the amount of power supplied to the discharge lamp 30. In addition, the control of the number of discharge lamps 30 to be lit and the amount of power supplied to the discharge lamps 30 may be combined.

또한, 광학계(16)를 구성하는 반사경(54)의 배면에 조도계(20)를 배치하도록 하고 있지만, 노광 완료의 프린트기판(P)을 새로운 프린트기판(P)으로 교환하는 동안만, 마스크(M)의 바로 위에 다른 조도계(20)를 배치하여 마스크(M)에 조사되는 광의 조도를 측정하여, 상기 조도에 기초하여 반사경(54)의 배면의 조도계(20)가 측정한 조도를 보정하도록 하여도 좋다. 이와 같이 하면, 실제의 노광 대상물인 레지스트층(X)의 근방에서의 조도에 기초하여, 반사경(54)의 배면에 배치한 조도계(20)의 조도 측정 제도를 높여, 더욱 정확한 노광 시간 관리를 할 수 있다. In addition, although the illuminometer 20 is arrange | positioned on the back surface of the reflector 54 which comprises the optical system 16, only while replacing the exposure-finished printed board P with a new printed board P, the mask M Another illuminometer 20 is placed directly on the upper side of the) and the illuminance of the light irradiated onto the mask M is measured to correct the illuminance measured by the illuminometer 20 on the rear side of the reflector 54 based on the illuminance. good. In this way, based on the illuminance in the vicinity of the resist layer X which is the actual exposure object, the illuminance measuring system of the illuminometer 20 arranged on the rear surface of the reflector 54 is increased to perform more accurate exposure time management. Can be.

또한, 점등 제어장치(22)가 갖는 기능은 적산광량계(38)와 시퀀서(40)와 전산처리장치(42)가 각각 분담하고 있지만, 점등 제어장치(22)에 필요한 기능 모두를 1개의 장치에 정리하도록 하여도 좋고, 본 실시예보다도 많은 장치에 기능을 분담시키도록 하여도 좋다. 또한, 이상판정수단(28)의 기능을 점등 제어장치(22)가 부담하도록 구성하여도 좋다. In addition, although the function which the lighting control apparatus 22 has is shared between the integrated light quantity meter 38, the sequencer 40, and the computer processing apparatus 42, respectively, all the functions required for the lighting control apparatus 22 are one apparatus. The functions may be distributed to more devices than the present embodiment. The lighting control device 22 may be configured to bear the function of the abnormality determining means 28.

또한, 램프장치(24)마다 홀더(29)에 대한 각도를 조정하여 램프장치(24)의 광축이 인테그레이터(52)의 중심을 지나도록 하고 있지만, 도 6에 도시하는 바와 같이, 개개의 램프장치(24)에 대응하는 전반사 미러(60) 및 반반사 미러(62; 하프 미러)를 구비하는 도광 유닛(64)을 사용하여 개개의 램프장치(24)의 광축(R)을 집속시키고, 상기 집속시킨 광축(R)이 인테그레이터(52)의 중심을 지나도록 하여도 좋다. In addition, although the optical axis of the lamp device 24 passes through the center of the integrator 52 by adjusting the angle with respect to the holder 29 for every lamp device 24, as shown in FIG. The optical axis R of each lamp device 24 is focused using the light guiding unit 64 provided with the total reflection mirror 60 and the half reflection mirror 62 (half mirror) corresponding to the lamp device 24, The focused optical axis R may pass through the center of the integrator 52.

또, 발명에 관계되는 광원장치(10)를 노광장치(12)에 사용하고 있지만, 균일한 광량을 장시간에 걸쳐 출사할 수 있는 광원장치(10)는 광을 사용하는 모든 공업 프로세스에 적용할 수 있다. In addition, although the light source apparatus 10 which concerns on this invention is used for the exposure apparatus 12, the light source apparatus 10 which can output the uniform amount of light over a long time can be applied to all the industrial processes which use light. have.

도 1은 본 발명에 관계되는 노광장치를 도시하는 도면. 1 is a view showing an exposure apparatus according to the present invention.

도 2는 광원 유닛을 도시하는 도면. 2 shows a light source unit.

도 3은 방전등을 도시하는 도면. 3 is a view showing a discharge lamp.

도 4는 점등 제어장치를 도시하는 도면. 4 is a diagram showing a lighting control device;

도 5는 방전등에 공급되는 전압값과 상기 방전등의 사용시간의 관계를 도시하는 도면. 5 is a diagram showing a relationship between a voltage value supplied to a discharge lamp and a use time of the discharge lamp.

도 6은 복수의 램프와 인테그레이터와 위치에 관한 다른 실시예를 도시하는 도면. 6 shows another embodiment relating to a plurality of lamps, integrators and positions;

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10 : 광원장치10: light source device

12 : 노광장치12: exposure apparatus

14 : 지지대14: support

16 : 광학계 16: optical system

18 : 램프 유닛18 lamp unit

20 : 조도계 20: illuminometer

22 : 점등 제어장치22: lighting control device

24 : 램프장치24: lamp device

26 : 전력공급장치26: power supply device

28 : 이상판정수단28: abnormal determination means

30 : 방전등30: discharge lamp

38 : 적산광량계 38: accumulated photometer

40 : 시퀀서(programmable logic controller : PLC)40: programmable logic controller (PLC)

42 : 전산처리장치 42: computer processing apparatus

50 : 노광 제어용 셔터(셔터)50: shutter for exposure control (shutter)

52 : 인테그레이터(인테그레이터) 52: Integrator

54 : 반사경54 reflector

56 : 요면경56: concave mirror

Claims (3)

복수의 방전등과, 상기 방전등의 각각에 형성되고 상기 방전등의 각각으로부터 출사된 광을 같은 방향을 향하여 반사하는 리플렉터와, 상기 방전등에 부여되는 전압을 개별로 측정하고 상기 전압에 기초하여 상기 방전등의 이상을 개별로 판정하여 이상이라고 판정하였을 때에 이상 신호를 출력하는 이상판정수단을 갖는 램프 유닛, 및 상기 방전등을 개별로 통전하거나 또는 통전을 차단하는 기능을 가지며, 기동시에는 적어도 1개의 예비의 상기 방전등의 통전을 차단한 상태로 다른 상기 방전등을 통전하고 또한 상기 이상 신호에 기초하여 이상이라고 판정된 상기 방전등의 통전을 차단하는 동시에, 이때까지 통전이 차단되었던 예비의 상기 방전등을 통전하는 점등 제어장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 광원장치. A plurality of discharge lamps, reflectors formed on each of the discharge lamps and reflecting light emitted from each of the discharge lamps in the same direction, and an abnormality of the discharge lamp based on the voltages by separately measuring the voltage applied to the discharge lamps. And a lamp unit having an abnormality determining means for outputting an abnormal signal when it is judged to be abnormal and determining abnormality, and a function of energizing or discharging the discharge lamp individually, and at least one preliminary discharge lamp at start-up. A lighting control device which energizes the other discharge lamp in the state of interrupting the power supply of the lamp and cuts off electricity of the discharge lamp that is determined to be abnormal based on the abnormal signal, and energizes the preliminary discharge lamp of which the electricity supply has been cut off so far. Light source device characterized in that it comprises. 제 1 항에 있어서, 상기 이상판정수단은 상기 방전등에 부여되는 전압을 개별로 측정한 측정 전압이 수속 전압값보다도 높게 설정된 기준 전압보다 클 때 상기 방전등을 이상이라고 판정하는 것을 특징으로 하는 광원장치. The light source apparatus according to claim 1, wherein said abnormality determining means determines that said discharge lamp is abnormal when the measured voltage which measured the voltage applied to said discharge lamp separately is larger than the reference voltage set higher than the convergence voltage value. 제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 광원장치와;A light source device according to claim 1 or 2; 상기 광원장치로부터 출사된 광에 의해서 노광되는 노광 대상물을 지지하는 지지대; 및 A support for supporting an exposure object exposed by the light emitted from the light source device; And 상기 광원장치로부터 출사된 광을 상기 지지대에서 지지된 상기 노광 대상물 로 유도하는 광학계를 구비하는 것을 특징으로 하는 노광장치. And an optical system for guiding the light emitted from the light source device to the exposure object supported by the support.
KR1020070097810A 2007-03-26 2007-09-28 Optical source device and exposure device using the same KR101360800B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007079178A JP4955436B2 (en) 2007-03-26 2007-03-26 Light source device and exposure apparatus using the same
JPJP-P-2007-00079178 2007-03-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080087629A true KR20080087629A (en) 2008-10-01
KR101360800B1 KR101360800B1 (en) 2014-02-11

Family

ID=39913350

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070097810A KR101360800B1 (en) 2007-03-26 2007-09-28 Optical source device and exposure device using the same

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP4955436B2 (en)
KR (1) KR101360800B1 (en)
CN (1) CN101277567A (en)
TW (1) TWI432911B (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130207544A1 (en) * 2011-09-30 2013-08-15 Pinebrook Imaging Technology, Ltd. Illumination system
JP5869713B1 (en) * 2015-04-13 2016-02-24 フェニックス電機株式会社 Light source apparatus, exposure apparatus, and inspection method thereof
CN106507532A (en) * 2016-09-28 2017-03-15 宁波工程学院 A kind of lithium electric solar energy LED street lamp and its monitoring system based on Internet of Things
WO2019039427A1 (en) * 2017-08-23 2019-02-28 フェニックス電機株式会社 Light source device, exposure device, and determination method for light source device

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62200345A (en) * 1986-02-28 1987-09-04 Fuji Xerox Co Ltd Illuminating device
JP2600433B2 (en) * 1990-04-18 1997-04-16 三菱電機株式会社 Discharge lamp lighting device
JP2001307988A (en) * 2000-04-24 2001-11-02 Canon Inc Illumination device and illumination method, and aligner with the illumination device and device manufacturing method by means of them
JP3593654B2 (en) * 2000-05-25 2004-11-24 東京エレクトロン株式会社 Substrate processing apparatus and substrate processing method
KR100558490B1 (en) * 2003-09-08 2006-03-07 삼성전자주식회사 Semiconductor manufacturing appratus having lamp monitering means

Also Published As

Publication number Publication date
TW200839453A (en) 2008-10-01
KR101360800B1 (en) 2014-02-11
TWI432911B (en) 2014-04-01
JP2008241876A (en) 2008-10-09
CN101277567A (en) 2008-10-01
JP4955436B2 (en) 2012-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20080087630A (en) Optical source device and exposure device using the same
KR101360800B1 (en) Optical source device and exposure device using the same
TWI566054B (en) Lighting device with discharge lamp
JP5410718B2 (en) Illumination apparatus and illumination method provided with a discharge lamp
JP2010034293A (en) Light irradiation device for exposure
TWI382283B (en) Light irradiation device
KR102190652B1 (en) Light source device, and exposure device provided with the light source device
JP2003173029A (en) Exposure device and exposure method
KR101586062B1 (en) LED exposure apparatus capable of controlling light output and method for controlling the same
CN111466011B (en) Lamp lighting method
KR102537954B1 (en) Light source device, exposure device, and determination method of light source device
JP5320006B2 (en) Exposure drawing device
KR101586061B1 (en) Exposure Apparatus using LED and method for controlling the same
KR100817412B1 (en) Apparatus for controlling lamps of flood exposure
TW202249531A (en) Method for controlling lighting device, and exposure device
KR20160042866A (en) Illumination device
JP2006344430A (en) Lighting system

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161226

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171120

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191127

Year of fee payment: 7