JP4955436B2 - Light source device and exposure apparatus using the same - Google Patents

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Description

本発明は、放電灯を有し、長時間にわたって均一な照度の光を出射することのできる光源装置ならびにそのような光源装置を用いた露光装置に関する。   The present invention relates to a light source device having a discharge lamp and capable of emitting light having a uniform illuminance over a long period of time, and an exposure apparatus using such a light source device.

放電灯を用いた光源装置は、半導体製造プロセスやプリント基板作成プロセスにおけるフォトレジストの露光プロセスのように、光を用いて物の加工を行う工業プロセスにおいて盛んに利用されている。このような工業プロセスで用いられる光源装置には、特に「長時間にわたって均一な照度の光を出射できること」が要求されるが、光源装置に用いられる放電灯は、使用時間が長くなるとともに劣化して照度が低下するため、かかる要求に応えるのは容易でなかった。   A light source device using a discharge lamp is actively used in an industrial process for processing an object using light, such as a photoresist exposure process in a semiconductor manufacturing process or a printed circuit board production process. Light source devices used in such industrial processes are particularly required to be able to emit light with uniform illuminance over a long period of time. However, discharge lamps used in light source devices deteriorate with increasing usage time. Since the illuminance is reduced, it is not easy to meet this requirement.

そこで、以前から、この要求に応えるための研究が行われており、その成果として特許文献1の光源装置が知られている。この光源装置は、複数の放電灯を用いて光源装置を構成し、光源装置が新しいときには、全体数よりも少ない数の放電灯を点灯することによって必要な照度を確保し、光源装置の使用時間が所定の時間経過する毎に残りの放電灯を追加点灯して放電灯の劣化による照度の低下分を補うようにしたものである。
特開2005−227465号公報
Therefore, research for meeting this requirement has been conducted for a long time, and the light source device of Patent Document 1 is known as a result. This light source device comprises a plurality of discharge lamps, and when the light source device is new, the necessary light intensity is ensured by lighting a smaller number of discharge lamps than the total number, and the usage time of the light source device When a predetermined time elapses, the remaining discharge lamp is additionally lit to compensate for the decrease in illuminance due to the deterioration of the discharge lamp.
JP 2005-227465 A

放電灯には、それぞれ「個体差」が存在するため、電極の消耗が非常に速い、あるいは極めて早期に封体容器が破損して「失光」を起こすといった不良放電灯が混在する可能性を完全に排除できるものではない。このため、先行技術(特許文献1)のように、不良放電灯が混入する可能性を無視して所定時間毎に放電灯を追加点灯したのでは照度の過不足が生じ易く、照度の均一性を高めるのに限界があった。つまり、一部の不良放電灯が早期に「照度低下」や「失光」を起こしても、所定の時間が経過するまでは放電灯の追加点灯を行うことができず、光源装置から出射する光の照度に不足が生じる。逆に、所定の使用時間が経過しても光源装置が十分な照度の光を出射している場合に放電灯を追加点灯すると、光源装置から出射する光の照度が過剰になるといった問題点が存在していた。   Since there are “individual differences” in each of the discharge lamps, there is a possibility that defective discharge lamps may be mixed, such as electrode consumption is very fast, or the envelope is damaged very early and causes “light loss”. It cannot be completely eliminated. For this reason, as in the prior art (Patent Document 1), if the discharge lamp is additionally lit at a predetermined time while ignoring the possibility that a defective discharge lamp is mixed, the illuminance is likely to be excessive or insufficient, and the illuminance uniformity There was a limit to raising In other words, even if some defective discharge lamps cause “illuminance reduction” or “light loss” at an early stage, additional discharge lamps cannot be turned on until a predetermined time elapses, and are emitted from the light source device. Insufficient illuminance of light occurs. On the contrary, when the light source device emits light with sufficient illuminance even after a predetermined usage time has elapsed, if the discharge lamp is additionally lit, the illuminance of light emitted from the light source device becomes excessive. Existed.

本発明は、このような先行技術の問題点に鑑みて開発されたものである。それゆえに本発明の主たる課題は、均一な照度の光を長時間にわたり連続して出射することができる光源装置ならびにこれを用いた露光装置を提供することにある。   The present invention has been developed in view of such problems of the prior art. Therefore, a main problem of the present invention is to provide a light source device capable of continuously emitting light with uniform illuminance over a long period of time and an exposure apparatus using the same.

請求項1に記載した発明は、「複数の放電灯30と、放電灯30のそれぞれに設けられ、放電灯30のそれぞれから出射された光を同じ方向へ向けて反射するリフレクタ31と、放電灯30に付与される電圧を個別に測定して、電圧に基づいて放電灯30の異常を個別に判定し、異常と判定したときに異常信号S3を出力する異常判定手段28とを有するランプユニット18、および放電灯30を個別に通電し、または通電を遮断する機能を有しており、起動時には少なくとも1つの予備の放電灯30の通電を遮断した状態で他の放電灯30を通電し、かつ、異常信号S3に基づいて異常と判定された放電灯30の通電を遮断するとともに、それまで通電が遮断されていた予備の放電灯30を通電する点灯制御装置22を備えており、異常判定手段28は、放電灯30に付与される電圧を個別に測定した測定電圧が収束電圧値よりも高く設定された基準電圧より大きいとき、あるいは、放電灯30に付与される現在の測定電圧と所定時間前に測定した測定電圧との差がマイナスであるときに放電灯30を異常と判定することを特徴とする」光源装置10である。
According to the first aspect of the present invention, “a plurality of discharge lamps 30, a reflector 31 provided in each of the discharge lamps 30 and reflecting light emitted from each of the discharge lamps 30 in the same direction, and a discharge lamp” The lamp unit 18 includes an abnormality determination unit 28 that individually measures the voltage applied to the lamp 30, determines the abnormality of the discharge lamp 30 individually based on the voltage, and outputs an abnormality signal S3 when the abnormality is determined. And a function of individually energizing or interrupting the discharge lamp 30, energizing other discharge lamps 30 in a state where at least one spare discharge lamp 30 is de-energized during startup, and , together with blocking the determined energization of the discharge lamp 30 and abnormality based on the abnormality signal S3, equipped with a lighting control device 22 for energizing the spare lamp 30 energized was blocked before, abnormal-format The means 28 is configured so that the measured voltage obtained by individually measuring the voltage applied to the discharge lamp 30 is larger than the reference voltage set higher than the convergence voltage value, or the current measured voltage applied to the discharge lamp 30 and the predetermined voltage. The light source device 10 is characterized in that the discharge lamp 30 is determined to be abnormal when the difference from the measured voltage measured before time is negative .

本発明によれば、放電灯30に付与される電圧に基づいて、異常判定手段28が電極の消耗により寿命となった(甚だしくは、封体容器30cの破損により失光した)放電灯30を「異常」として個別に判断し、点灯制御装置22が異常判定手段28によって異常と判断された放電灯30への通電を遮断するとともに予備の放電灯30を通電点灯する。   According to the present invention, based on the voltage applied to the discharge lamp 30, the abnormality determination means 28 has reached the end of its life due to the consumption of the electrode (remarkably, the discharge lamp 30 has lost its light due to damage to the envelope container 30 c). Individually determined as “abnormal”, the lighting control device 22 cuts off the power supply to the discharge lamp 30 determined to be abnormal by the abnormality determination means 28 and energizes the standby discharge lamp 30.

これにより、一部の放電灯30が照度不足となり、あるいは失光することより照度が低下したままで光源装置10を稼働し続けるおそれがない。逆に、上述したような照度不足あるいは失光が発生しない正常点灯下では、所定の時間経過に伴う放電灯30の自動追加点灯を行わないので光源装置10から出射する光の照度が過剰になることがない。したがって、本発明に係る光源装置10では、長期間にわたり連続して均一な照度の光を出射することができる。   Thereby, there is no possibility that some of the discharge lamps 30 are insufficient in illuminance or continue to operate the light source device 10 while the illuminance is lowered due to the loss of light. On the other hand, under normal lighting in which illuminance shortage or light loss does not occur as described above, the automatic additional lighting of the discharge lamp 30 with the passage of a predetermined time is not performed, so the illuminance of light emitted from the light source device 10 becomes excessive. There is nothing. Therefore, the light source device 10 according to the present invention can emit light with uniform illuminance continuously over a long period of time.

なお、本明細書において、「照度」(放射照度)とは、1cmの面積が1秒間に受けるエネルギー[mW/cm]をいう。 In this specification, “illuminance” (irradiance) refers to energy [mW / cm 2 ] received per second by an area of 1 cm 2 .

放電灯30に供給される電圧値は、放電灯30の使用を開始した直後は使用時間の経過とともに電圧値が上昇するものの、これ以降は、使用時間の経過に合わせてゆるやかに所定の電圧値に収束する(この電圧値を「収束電圧値」という)。ところが、上述した「異常」放電灯30では、短い時間で急激な電圧値の上昇が見られる。   The voltage value supplied to the discharge lamp 30 increases as the usage time elapses immediately after the start of use of the discharge lamp 30, but thereafter, the voltage value gradually increases with the elapse of the usage time. (This voltage value is referred to as “convergence voltage value”). However, in the “abnormal” discharge lamp 30 described above, a rapid increase in voltage value is observed in a short time.

本発明は、このような放電灯30が有する特性を利用したものであり、放電灯30に付与される電圧を個別に測定した測定電圧が収束電圧値よりも高く設定した基準電圧V1より大きいときに当該放電灯30を異常と判定するようにしている。また、現在の測定電圧と現在から所定時間前に測定した測定電圧との差を演算し、当該差がマイナスであることをもって当該放電灯30を異常と判断するようになっている。これにより、不良放電灯30を確実に検出することができる。
The present invention utilizes such characteristics of the discharge lamp 30, and when the measured voltage obtained by individually measuring the voltage applied to the discharge lamp 30 is higher than the reference voltage V1 set higher than the convergence voltage value. The discharge lamp 30 is determined to be abnormal. Further, the difference between the current measured voltage and the measured voltage measured a predetermined time before the present is calculated, and the discharge lamp 30 is determined to be abnormal when the difference is negative. Thereby, the defective discharge lamp 30 can be detected reliably.

請求項に記載した発明は、「請求項1に記載の光源装置10と、光源装置10から出射された光によって露光される露光対象物Xを支持する支持台14と、光源装置10から出射された光を支持台14で支持された露光対象物Xへ導く光学系16とを備えることを特徴とする」露光装置12である。
The invention described in claim 2 is described as follows: “The light source device 10 according to claim 1, the support 14 for supporting the exposure object X exposed by the light emitted from the light source device 10, and the light source device 10. And an optical system 16 that guides the emitted light to the exposure object X supported by the support base 14 ”.

本発明によれば、光源装置10から長期間にわたり連続して均一な照度の光が出射されるので、露光対象物Xに光源装置10からの光を照射する時間(タクトタイム)、つまり露光対象物Xの露光に要する時間を長期間にわたって一定にすることができる。したがって、露光対象物Xを支持台14に載せるタイミングや次の処理工程に搬送するタイミングを一定にして露光工程の前後の工程における待ち時間や渋滞の発生確率を極小化することができる。   According to the present invention, light having a uniform illuminance is continuously emitted from the light source device 10 over a long period of time. The time required for the exposure of the object X can be made constant over a long period of time. Therefore, it is possible to minimize the waiting time and the occurrence probability of the traffic jam in the steps before and after the exposure step by making the timing of placing the exposure object X on the support base 14 and the timing of transporting it to the next processing step constant.

この発明によれば、均一な照度の光を長時間にわたり連続して出射することのできる光源装置を提供することができる。また、露光対象物の露光時間が長時間にわたって一定な露光装置を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a light source device capable of continuously emitting light with uniform illuminance over a long period of time. Further, it is possible to provide an exposure apparatus in which the exposure time of the exposure object is constant for a long time.

以下、本発明を図面に従って説明する。図1は本発明にかかる光源装置10が組み込まれた露光装置12の概要を示した図である。この露光装置12は、プリント基板P上に形成された、「露光対象物」としてのレジスト層Xを露光するためのものであり、光源装置10と、プリント基板Pとともにレジスト層Xを支持する支持台14と、光源装置10から出射された光を平行光としてレジスト層Xに照射する光学系16とで大略構成されている。   The present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a view showing an outline of an exposure apparatus 12 in which a light source device 10 according to the present invention is incorporated. The exposure device 12 is for exposing a resist layer X as an “exposure target” formed on the printed circuit board P, and supports the light source device 10 and the resist layer X together with the printed circuit board P. The base 14 and the optical system 16 that irradiates the resist layer X with the light emitted from the light source device 10 as parallel light are roughly configured.

光源装置10は、露光に必要な光(紫外光、あるいは紫外光に近い可視光)を所定の照度で出射するためのものであり、ランプユニット18と、照度計20と、点灯制御装置22とを備えている。   The light source device 10 is for emitting light (ultraviolet light or visible light close to ultraviolet light) necessary for exposure at a predetermined illuminance. The light source device 10 includes a lamp unit 18, an illuminance meter 20, a lighting control device 22, and the like. It has.

なお、本明細書において、「照度」(放射照度)とは、1cmの面積が1秒間に受けるエネルギー[mW/cm]をいう。 In this specification, “illuminance” (irradiance) refers to energy [mW / cm 2 ] received per second by an area of 1 cm 2 .

ランプユニット18は、図2に示すように、複数のランプ装置24と、電力供給装置26と、異常判定手段28とを有している。さらに、ランプユニット18は、複数のランプ装置24からの光を同じ方向へ向けて出射するために複数のランプ装置24を保持するブロック状のホルダー29を備えている。   As shown in FIG. 2, the lamp unit 18 includes a plurality of lamp devices 24, a power supply device 26, and an abnormality determination unit 28. Further, the lamp unit 18 includes a block-shaped holder 29 that holds the plurality of lamp devices 24 in order to emit light from the plurality of lamp devices 24 in the same direction.

ランプ装置24は、それぞれ放電灯30と、放電灯30から出射された光を所定の方向に向けて反射するリフレクタ31とで構成されている。   Each of the lamp devices 24 includes a discharge lamp 30 and a reflector 31 that reflects light emitted from the discharge lamp 30 in a predetermined direction.

放電灯30は、図3に示すように、直流点灯式のショートアーク高圧ランプであり、球状の発光部30aと、その両端にシュリンクシール方式により形成された封止部30bとを有する封体容器30c、電極棒30d、封止部30b内に埋設されたモリブデン箔30e、モリブデン箔30eに溶接されたリード棒30fおよび発光部30a内に封入された水銀やその他必要封止物を備えている。   As shown in FIG. 3, the discharge lamp 30 is a direct current lighting type short arc high pressure lamp, and includes a spherical light emitting portion 30a and sealed portions 30b formed by a shrink seal method at both ends thereof. 30c, an electrode rod 30d, a molybdenum foil 30e embedded in the sealing portion 30b, a lead rod 30f welded to the molybdenum foil 30e, mercury sealed in the light emitting portion 30a and other necessary sealing materials.

封体容器30cにおける各封止部30bの内部には、一端が発光部30aの内部へ突出した電極棒30dと、一端が外部へ突出したリード棒30fと、電極棒30dの他端とリード棒30fの他端とを電気的に接続するモリブデン箔30eとが配設されており、各電極棒30dの一端には、一対の電極30gを構成する陽極30hおよび陰極30iが所定の間隔(以下、「電極間距離L」という)をあけて接続されている。   Inside each sealing part 30b in the envelope container 30c, one end of the electrode bar 30d protruding into the light emitting part 30a, one end of the lead bar 30f protruding outward, the other end of the electrode bar 30d and the lead bar Molybdenum foil 30e that electrically connects the other end of 30f is disposed, and at one end of each electrode rod 30d, an anode 30h and a cathode 30i that constitute a pair of electrodes 30g are arranged at a predetermined interval (hereinafter, referred to as a It is connected with a gap (referred to as “distance L between electrodes”).

電力供給装置26は、図2に示すように、ランプ装置24を構成する放電灯30に定電力を供給するために必要な電流を供給するためのバラストであり、バラスト電力部32とバラスト制御部33とで大略構成されている。また、ランプユニット18は、ランプ装置24と同じ数の電力供給装置26を有している。   As shown in FIG. 2, the power supply device 26 is a ballast for supplying a current necessary for supplying constant power to the discharge lamp 30 constituting the lamp device 24, and includes a ballast power unit 32 and a ballast control unit. 33. The lamp unit 18 includes the same number of power supply devices 26 as the lamp device 24.

バラスト電力部32は、点灯制御装置22からの通電信号S1を受けたときに、バラスト制御部33からのパルス幅信号に応じてスイッチング動作をすることで放電灯30の点灯に必要な電力を放電灯30に供給し、あるいは点灯制御装置22からの通電遮断信号S2を受けたときに、放電灯30に対する電力供給を停止する。   When the ballast power unit 32 receives the energization signal S1 from the lighting control device 22, the ballast power unit 32 performs a switching operation according to the pulse width signal from the ballast control unit 33, thereby releasing the power necessary for lighting the discharge lamp 30. When power is supplied to the electric lamp 30 or when an energization cutoff signal S2 is received from the lighting control device 22, the electric power supply to the discharge lamp 30 is stopped.

また、バラスト制御部33は、放電灯30に供給される電圧のばらつきや、経時的な電圧変化などを考慮し、放電灯30に一定電力を供給するために必要な電流を供給することができるようにバラスト電力部32を制御する。   In addition, the ballast controller 33 can supply a current necessary for supplying a constant power to the discharge lamp 30 in consideration of variations in the voltage supplied to the discharge lamp 30 and changes in voltage over time. Thus, the ballast power unit 32 is controlled.

異常判定手段28は、個々の放電灯30における異常の有無を判定する手段であり、電力供給装置26から放電灯30に供給される電圧値を測定する測定回路34と、測定回路34で測定された電圧値と予め設定された基準電圧V1とを比較し、測定された電圧値の方が基準電圧V1より大きい場合は異常信号S3を出力する比較回路36とを有する。また、ランプユニット18は、ランプ装置24と同じ数の異常判定手段28を有している。   The abnormality determination unit 28 is a unit that determines whether or not each discharge lamp 30 has an abnormality, and is measured by a measurement circuit 34 that measures a voltage value supplied from the power supply device 26 to the discharge lamp 30, and the measurement circuit 34. A comparison circuit 36 that compares the measured voltage value with a preset reference voltage V1 and outputs an abnormal signal S3 if the measured voltage value is greater than the reference voltage V1. The lamp unit 18 has the same number of abnormality determination means 28 as the lamp device 24.

照度計20は、図1に示すように、光源装置10による光の出射軸上であって、光学系16を構成する反射鏡54の背面においてランプユニット18と対面する向きに取り付けられており、光源装置10から出射された光の照度を測定するものである。また、照度計20で測定された実照度は、照度値S4として点灯制御装置22に出力される。   As shown in FIG. 1, the illuminometer 20 is mounted on the light emission axis of the light source device 10 and facing the lamp unit 18 on the back surface of the reflecting mirror 54 constituting the optical system 16. The illuminance of light emitted from the light source device 10 is measured. The actual illuminance measured by the illuminometer 20 is output to the lighting control device 22 as the illuminance value S4.

点灯制御装置22は、放電灯30を個別に通電し、あるいは通電を遮断する装置であり、図4に示すように、積算光量計38と、シーケンサ40と、電算処理装置42とを備えている。   The lighting control device 22 is a device that individually energizes or interrupts the discharge lamp 30, and includes an integrated light meter 38, a sequencer 40, and a computer processing device 42 as shown in FIG. 4. .

積算光量計38は、照度計20から出力された照度値S4に基づいて異常の有無を判定する判定回路44と、当該照度値S4を積算して光量を算出する積算回路46とを有している。   The integrated light meter 38 includes a determination circuit 44 that determines whether there is an abnormality based on the illuminance value S4 output from the illuminometer 20, and an integrating circuit 46 that calculates the light amount by integrating the illuminance value S4. Yes.

なお、本明細書において、「光量」とは、1cmの面積が所定の時間内に受けたエネルギー[mJ/cm]をいう。 In this specification, the term "amount" refers to the energy area of 1 cm 2 was received within the predetermined time [mJ / cm 2].

判定回路44は、照度計20から送られてきた照度値S4が予め設定された適正照度値よりも高いか低いか、さらに照度値S4と適正照度値との差が1つの放電灯30から出射される光の照度と同程度であるかを判定する。照度計20から送られてきた照度値S4が適正照度値よりも高く、かつ照度値S4と適正照度値との差が1つの放電灯30から出射される光の照度と同程度である場合、判定回路44は、シーケンサ40に対して照度異常高信号S5を送信し、逆に照度計20から送られてきた照度値S4が適正照度値よりも低く、かつ照度値S4と適正照度値との差が1つの放電灯30から出射される照度と同程度である場合、判定回路44は、シーケンサ40に対して照度異常低信号S6を出力する。   The determination circuit 44 determines whether the illuminance value S4 sent from the illuminometer 20 is higher or lower than the preset appropriate illuminance value, or the difference between the illuminance value S4 and the appropriate illuminance value is emitted from one discharge lamp 30. It is determined whether or not the illuminance of the emitted light is comparable. When the illuminance value S4 sent from the illuminometer 20 is higher than the appropriate illuminance value and the difference between the illuminance value S4 and the appropriate illuminance value is about the same as the illuminance of the light emitted from one discharge lamp 30, The determination circuit 44 transmits an illuminance abnormality high signal S5 to the sequencer 40. Conversely, the illuminance value S4 sent from the illuminometer 20 is lower than the appropriate illuminance value, and the illuminance value S4 and the appropriate illuminance value are set. When the difference is approximately the same as the illuminance emitted from one discharge lamp 30, the determination circuit 44 outputs an illuminance abnormality low signal S 6 to the sequencer 40.

積算回路46は、照度計20から照度値S4を受け入れて照度値S4を積算し、光量を算出する回路であり、シーケンサ40からの積算開始信号S7を受けたときに積算値をリセットするとともに、照度値S4の積算を開始する。そして、光量が予め設定された値になると、積算回路46は、照度値S4の積算を終了するとともに、シーケンサ40に対して積算終了信号S8を出力する。   The integrating circuit 46 is a circuit that receives the illuminance value S4 from the illuminometer 20 and integrates the illuminance value S4 to calculate the amount of light, and resets the integrated value when receiving the integration start signal S7 from the sequencer 40. Integration of the illuminance value S4 is started. When the light amount reaches a preset value, the integration circuit 46 ends the integration of the illuminance value S4 and outputs an integration end signal S8 to the sequencer 40.

シーケンサ40は、異常判定手段28の比較回路36から出力された異常信号S3と、積算光量計38の判定回路44から出力された照度異常高信号S5あるいは照度異常低信号S6と、積算回路46から出力された積算終了信号S8と、電算処理装置42から出力された照度異常高信号S12あるいは照度異常低信号S13とを受け入れ、これらの信号に基づいて各電力供給装置26に通電信号S1あるいは通電遮断信号S2を出力する制御部40a、放電灯30が点灯を開始してから照度が安定するまでの時間として予め設定された設定待機時間や、光源装置10の起動時にどのランプ装置24を点灯し、どのランプ装置24を消灯しておくのかを予め設定したランプ装置使用設定などを記憶する記憶部40b、および時間をカウントするタイマー40cを備えている。   The sequencer 40 includes an abnormality signal S3 output from the comparison circuit 36 of the abnormality determination unit 28, an illuminance abnormality high signal S5 or an illuminance abnormality low signal S6 output from the determination circuit 44 of the integrated light quantity meter 38, and an integration circuit 46. The output integration end signal S8 and the illuminance abnormality high signal S12 or the illuminance abnormality low signal S13 output from the computer processing device 42 are received, and the energization signal S1 or the energization interruption is supplied to each power supply device 26 based on these signals. The control unit 40a that outputs the signal S2, the set standby time that is preset as the time from when the discharge lamp 30 starts to light until the illuminance stabilizes, and which lamp device 24 is lit when the light source device 10 is activated, A storage unit 40b for storing a lamp device use setting in advance which lamp device 24 is to be turned off, and counting time It is equipped with a timer 40c.

すなわち、ランプユニット18の異常判定手段28が有する比較回路36からシーケンサ40へ異常信号S3が与えられると、シーケンサ40は、当該異常判定手段28に対応する電力供給装置26に通電遮断信号S2を送るとともに、それまで消灯していた予備の放電灯30に対応する電力供給装置26に通電信号S1を送る。   That is, when the abnormality signal S3 is given from the comparison circuit 36 included in the abnormality determination unit 28 of the lamp unit 18 to the sequencer 40, the sequencer 40 sends the energization cutoff signal S2 to the power supply device 26 corresponding to the abnormality determination unit 28. At the same time, an energization signal S1 is sent to the power supply device 26 corresponding to the standby discharge lamp 30 that has been extinguished until then.

また、シーケンサ40に積算光量計38の判定回路44から照度異常高信号S5が与えられると、シーケンサ40は、点灯中の放電灯30のうちから1つの放電灯30を選択し、当該放電灯30に対応する電力供給装置26に対して通電遮断信号S2を送る。一方、シーケンサ40に照度異常低信号S6が与えられると、シーケンサ40は、消灯中の放電灯30のうちから1つの放電灯30を選択し、選択された放電灯30に対応する電力供給装置26に対して通電信号S1を送る。   Further, when the illuminance abnormality high signal S5 is given to the sequencer 40 from the determination circuit 44 of the integrating light quantity meter 38, the sequencer 40 selects one discharge lamp 30 from the discharge lamps 30 that are lit, and the discharge lamp 30 Is sent to the power supply device 26 corresponding to On the other hand, when the illuminance abnormality low signal S6 is given to the sequencer 40, the sequencer 40 selects one discharge lamp 30 from the discharge lamps 30 that are not lit, and the power supply device 26 corresponding to the selected discharge lamp 30. An energization signal S1 is sent to

さらに、シーケンサ40は、レジスト層Xを適正な光量で露光するため、光学系16に含まれる露光制御用シャッター50に対して、開信号S10あるいは閉信号S11を出力する。   Further, the sequencer 40 outputs an open signal S10 or a close signal S11 to the exposure control shutter 50 included in the optical system 16 in order to expose the resist layer X with an appropriate amount of light.

また、シーケンサ40は、露光制御用シャッター50に対して開信号S10を出力する際、積算回路46に積算開始信号S7を送信すると同時にタイマー40cは時間のカウントを開始する。そして、シーケンサ40が積算回路46から積算終了信号S8を受けたとき、シーケンサ40は、露光制御用シャッター50に対して閉信号S11を出力するとともに、タイマー40cは時間のカウントを終了する。つまり、タイマー40cは、レジスト層Xの露光時間をカウントしている。そして、シーケンサ40は、積算開始信号S7の送信から積算終了信号S8の受信までにカウントされた露光時間値S9を電算処理装置42に出力するとともに、タイマー40cのカウントをリセットする。   When the sequencer 40 outputs the open signal S10 to the exposure control shutter 50, the timer 40c starts counting time at the same time as transmitting the integration start signal S7 to the integration circuit 46. When the sequencer 40 receives the integration end signal S8 from the integration circuit 46, the sequencer 40 outputs the closing signal S11 to the exposure control shutter 50, and the timer 40c ends the time counting. That is, the timer 40c counts the exposure time of the resist layer X. Then, the sequencer 40 outputs the exposure time value S9 counted from the transmission of the integration start signal S7 to the reception of the integration end signal S8 to the computer processing device 42 and resets the count of the timer 40c.

電算処理装置42は、シーケンサ40から受けた露光時間値S9と予め設定した適正露光時間とを比較し、露光時間値S9における問題の有無を判定する判定部42aと、露光時間値S9を記憶する記憶部42bとで構成されている。露光時間値S9が適正露光時間よりも短い場合、電算処理装置42は、シーケンサ40に対して照度異常高信号S12を出力する。逆に、露光時間値S9が適正露光時間よりも長い場合、電算処理装置42はシーケンサ40に対して照度異常低信号S13を送信する。   The computer processing device 42 compares the exposure time value S9 received from the sequencer 40 with a preset appropriate exposure time, and determines the presence or absence of a problem in the exposure time value S9, and stores the exposure time value S9. It is comprised with the memory | storage part 42b. When the exposure time value S9 is shorter than the appropriate exposure time, the computer processing device 42 outputs an illuminance abnormality high signal S12 to the sequencer 40. Conversely, when the exposure time value S9 is longer than the appropriate exposure time, the computer processing device 42 transmits an illuminance abnormality low signal S13 to the sequencer 40.

なお、記憶部42bに記憶された露光時間データは露光装置12の運転履歴を示すデータとして蓄積される。このように露光時間データを蓄積しておくことにより、万一、露光不良が発生した場合、過去の露光時間データを参照することによって露光装置12の運転状況を分析し、不良発生の原因を追及することができる。   The exposure time data stored in the storage unit 42b is accumulated as data indicating the operation history of the exposure apparatus 12. By accumulating exposure time data in this way, in the unlikely event that an exposure failure occurs, the operating status of the exposure apparatus 12 is analyzed by referring to past exposure time data, and the cause of the failure occurrence is investigated. can do.

支持台14は、図1に示すように、プリント基板Pを支持するものであり、これまでに周知の構成を適宜採用することが可能である。   As shown in FIG. 1, the support base 14 supports the printed circuit board P, and a well-known configuration can be employed as appropriate.

光学系16は、光源装置10から出射された光を平行光として支持台14に支持されたプリント基板Pのレジスト層Xへ導くためのものであり、光源装置10から出射された光の照度分布を均一にする、すなわち、平面を照射したとき、被照射面において照度のムラが発生しないような光にするインテグレータ52(フライアイレンズ)と、光源装置10から出射された光(本実施例では、インテグレータ52を通過した後の光)の出射光路を開閉制御する露光制御用シャッター50と、露光制御用シャッター50を通過した光の光路を屈折させる反射鏡54と、反射鏡54にて反射された光を平行光にして支持台14に誘導する凹面鏡56とで構成されている。また、反射鏡54の略中心部には貫通孔58が設けられており、反射鏡54の背面であって貫通孔58を通過した光を受けることができる位置に照度計20が取り付けられている。したがって、照度計20は、光源装置10から出射され、インテグレータ52を通過することによって照度分布が均一にされた光の一部を受け入れて、その照度を測定することができる。   The optical system 16 is for guiding the light emitted from the light source device 10 to the resist layer X of the printed circuit board P supported by the support base 14 as parallel light, and the illuminance distribution of the light emitted from the light source device 10. Is uniform, that is, light that does not cause unevenness in illuminance on the irradiated surface when irradiated on a flat surface, and light emitted from the light source device 10 (in this embodiment) , The light after passing through the integrator 52), the exposure control shutter 50 for controlling the opening and closing of the light emission path, the reflection mirror 54 for refracting the optical path of the light that has passed through the exposure control shutter 50, and the reflection by the reflection mirror 54 And a concave mirror 56 that guides the light to the support base 14 as parallel light. In addition, a through hole 58 is provided at substantially the center of the reflecting mirror 54, and the illuminometer 20 is attached to a position on the back surface of the reflecting mirror 54 where light that has passed through the through hole 58 can be received. . Accordingly, the illuminance meter 20 can receive a part of light emitted from the light source device 10 and having a uniform illuminance distribution by passing through the integrator 52 and measure the illuminance.

なお、ここで示した光学系16の構成はその一例であり、本実施例の構成に限定されるものではない。例えば、光源装置10から出射された光を反射鏡54で反射させた後、インテグレータ52に入光するような構成としてもよく、目的とする光学経路に応じて適宜その構成を変更することが可能である。また、露光制御用シャッター50の形式は、図1に示すようなルーバー方式の他、光を通過させない材質で形成されており、光源装置10から出射された光が通過する孔を有する回転盤(図示せず)を所定の回転制御装置で回転させる方式などを用いることができる。   In addition, the structure of the optical system 16 shown here is an example, and is not limited to the structure of a present Example. For example, the configuration may be such that the light emitted from the light source device 10 is reflected by the reflecting mirror 54 and then enters the integrator 52, and the configuration can be appropriately changed according to the target optical path. It is. In addition to the louver system as shown in FIG. 1, the exposure control shutter 50 is formed of a material that does not allow light to pass through, and has a rotating disk (having a hole through which light emitted from the light source device 10 passes). For example, a method of rotating a not-shown) by a predetermined rotation control device can be used.

点灯制御装置22を起動させると、シーケンサ40から所定の数の電力供給装置26に対して通電信号S1が送信されてランプ装置24が点灯し、ランプ装置24から出射された光(本実施例では、主として紫外光)が前方に向けて出射されることになる。なお、本実施例に係る露光装置12で必要とされる照度は、3つのランプ装置24から出射された光で賄うことができる量である。したがって、光源装置10が備える5つのランプ装置24のうち、原則として3つのランプ装置24が同時に点灯すればよく、残り2つのランプ装置24は、予備として消灯状態を維持する。   When the lighting control device 22 is activated, an energization signal S1 is transmitted from the sequencer 40 to a predetermined number of power supply devices 26, the lamp device 24 is turned on, and light emitted from the lamp device 24 (in this embodiment) , Mainly ultraviolet light) will be emitted forward. The illuminance required by the exposure apparatus 12 according to the present embodiment is an amount that can be covered by light emitted from the three lamp devices 24. Therefore, of the five lamp devices 24 included in the light source device 10, in principle, the three lamp devices 24 may be turned on at the same time, and the remaining two lamp devices 24 are kept off as a spare.

光源装置10から出射された光は、インテグレータ52を通過することによって照度分布が均一な光となる。そして、放電灯30が点灯を開始してから光量が安定するまでの時間としてシーケンサ40の記憶部40bに予め設定された設定待機時間が経過すると、シーケンサ40は、積算光量計38の積算回路46に積算開始信号S7を出力するとともに、露光制御用シャッター50に開信号S10を送信して露光制御用シャッター50を開く。また、同時にタイマー40cが時間のカウントを開始する。   The light emitted from the light source device 10 passes through the integrator 52 and becomes light with a uniform illuminance distribution. When the set standby time preset in the storage unit 40b of the sequencer 40 has elapsed as the time from when the discharge lamp 30 starts to light until the amount of light stabilizes, the sequencer 40 integrates the integrating circuit 46 of the integrating photometer 38. In addition to outputting the integration start signal S7, an open signal S10 is transmitted to the exposure control shutter 50 to open the exposure control shutter 50. At the same time, the timer 40c starts counting time.

そして、インテグレータ52からの光は、シーケンサ40からの開信号S10を受けて開いた露光制御用シャッター50を通過する。さらに、露光制御用シャッター50を通過した光は、反射鏡54によって凹面鏡56に向けて反射される。   Then, the light from the integrator 52 passes through the exposure control shutter 50 opened in response to the open signal S10 from the sequencer 40. Further, the light that has passed through the exposure control shutter 50 is reflected by the reflecting mirror 54 toward the concave mirror 56.

このとき、反射鏡54に向かう光の一部は、反射鏡54に設けられた貫通孔58を通過して照度計20を照射する。そして、照度計20は、貫通孔58を通過した光に基づいて照度を測定し、測定した照度値S4を点灯制御装置22の積算光量計38に出力する。また、出力された照度値S4は、積算光量計38の判定回路44で異常の有無を判定されるとともに、積算回路46で積算される。   At this time, part of the light traveling toward the reflecting mirror 54 passes through a through hole 58 provided in the reflecting mirror 54 and irradiates the illuminometer 20. The illuminometer 20 measures the illuminance based on the light that has passed through the through-hole 58 and outputs the measured illuminance value S4 to the integrated light meter 38 of the lighting control device 22. In addition, the output illuminance value S4 is determined by the determination circuit 44 of the integrated light meter 38 to determine whether there is an abnormality, and is integrated by the integration circuit 46.

反射鏡54によって凹面鏡56に向けて反射された光は、凹面鏡56において平行光にされ、支持台14に向けて反射される。支持台14に向けて反射された光は、回路パターンが形成されているマスクMを介して支持台14上に載置されているプリント基板Pのレジスト層Xに照射される。   The light reflected by the reflecting mirror 54 toward the concave mirror 56 is converted into parallel light by the concave mirror 56 and reflected toward the support base 14. The light reflected toward the support table 14 is applied to the resist layer X of the printed circuit board P placed on the support table 14 through a mask M on which a circuit pattern is formed.

積算回路46において積算された光量値が予め設定された値になると、積算回路46はシーケンサ40に対して積算終了信号S8を送信する。積算終了信号S8を受けたシーケンサ40は、露光制御用シャッター50に閉信号S11を出力し、露光制御用シャッター50を閉じてレジスト層Xを照射する光を遮断するとともに、積算開始信号S7を送信してから積算終了信号S8を受信するまでの間にタイマー40cでカウントされた露光時間値S9を電算処理装置42に出力する。露光時間値S9を受信した電算処理装置42は、露光時間値S9が予め設定された適正露光時間内にあるかを判定するとともに、当該露光時間値S9を露光時間データとして記憶部42bに出力する。   When the light quantity value integrated in the integration circuit 46 reaches a preset value, the integration circuit 46 transmits an integration end signal S8 to the sequencer 40. Upon receiving the integration end signal S8, the sequencer 40 outputs a close signal S11 to the exposure control shutter 50, closes the exposure control shutter 50, blocks light that irradiates the resist layer X, and transmits an integration start signal S7. After that, the exposure time value S9 counted by the timer 40c is output to the computer processing device 42 until the integration end signal S8 is received. The computer processing device 42 that has received the exposure time value S9 determines whether or not the exposure time value S9 is within a preset appropriate exposure time, and outputs the exposure time value S9 to the storage unit 42b as exposure time data. .

このようにして1つのレジスト層Xに対する露光が終了すると、マスクM下のプリント基板Pが未処理物と交換され同様に露光される。   Thus, when the exposure with respect to one resist layer X is complete | finished, the printed circuit board P under the mask M is replaced | exchanged for an unprocessed thing, and exposed similarly.

レジスト層Xを露光している間に、点灯中の放電灯30に供給される電圧値を測定する異常判定手段28が当該放電灯30の異常を検知した場合、異常判定手段28は、シーケンサ40に異常信号S3を出力する。この異常信号S3を受けたシーケンサ40は、異常が発生した放電灯30に電力を供給する電力供給装置26に通電遮断信号S2を送ると同時に、消灯していた予備の放電灯30に対応する電力供給装置26に通電信号S1を送る。これにより、異常が発生した放電灯30が消灯するとともに新しい放電灯30が点灯するので、光源装置10全体として見れば、発光している放電灯30の数は変化しない。なお、異常が発生した放電灯30は適切な時期に作業員によって交換され、交換された放電灯30は予備の放電灯30として、次に他の放電灯30に異常が発生するまでは消灯状態を維持する。   When the abnormality determination unit 28 that measures the voltage value supplied to the lighting discharge lamp 30 detects the abnormality of the discharge lamp 30 while the resist layer X is exposed, the abnormality determination unit 28 uses the sequencer 40. Output an abnormal signal S3. Upon receiving this abnormality signal S3, the sequencer 40 sends an energization cutoff signal S2 to the power supply device 26 that supplies power to the discharge lamp 30 in which an abnormality has occurred, and at the same time, the power corresponding to the standby discharge lamp 30 that has been turned off. An energization signal S1 is sent to the supply device 26. Thereby, since the discharge lamp 30 in which an abnormality has occurred is turned off and a new discharge lamp 30 is turned on, the number of light-emitting discharge lamps 30 does not change when viewed from the light source device 10 as a whole. The discharge lamp 30 in which an abnormality has occurred is replaced by an operator at an appropriate time, and the replaced discharge lamp 30 is turned off as a spare discharge lamp 30 until another abnormality occurs in another discharge lamp 30 next time. To maintain.

異常判定手段28では、上述したように、電力供給装置26からランプ装置24の放電灯30に供給する電圧値に基づいて放電灯30の異常が判定される。すなわち、放電灯30に供給される電圧値は、図5中Aに示すように、放電灯30の使用を開始した直後は使用時間の経過とともに電圧値が上昇するものの、これ以降は、使用時間の経過に合わせてゆるやかに所定の電圧値に収束する(この電圧値を収束電圧値という)。このような現象が生じるのは、放電灯30を長時間使用すると電極30gが消耗して電極間距離Lが長くなり、放電状態を維持するために必要な電圧値が大きくなるからである。   As described above, the abnormality determination unit 28 determines the abnormality of the discharge lamp 30 based on the voltage value supplied from the power supply device 26 to the discharge lamp 30 of the lamp device 24. That is, the voltage value supplied to the discharge lamp 30 increases as the usage time elapses immediately after the start of use of the discharge lamp 30, as shown by A in FIG. As the time elapses, the voltage gradually converges to a predetermined voltage value (this voltage value is referred to as a converged voltage value). Such a phenomenon occurs because, when the discharge lamp 30 is used for a long time, the electrode 30g is consumed, the interelectrode distance L is increased, and the voltage value necessary for maintaining the discharge state is increased.

ところが、数多くの放電灯30の中には、電極の消耗が非常に速い、あるいは極めて早期に封体容器30cが破損して失光するといった不良放電灯30が存在する。このような不良放電灯30における電圧値と使用時間との関係は、図中Bに示すように、短い時間で急激な電圧値の上昇が見られる。   However, among the many discharge lamps 30, there are defective discharge lamps 30 in which the electrodes are consumed very quickly or the envelope 30 c is damaged and loses light very early. As for the relationship between the voltage value and the usage time in such a defective discharge lamp 30, as shown in FIG.

そこで、収束電圧値よりも大きい電圧値を基準電圧V1として設定し、測定した電圧値と基準電圧V1との大きさを比較する。比較した結果、測定した電圧値の方が大きい場合、その放電灯30はすでに失光しているか、あるいはすぐに失光する可能性が高いことから、「異常」であると判断する。   Therefore, a voltage value larger than the convergence voltage value is set as the reference voltage V1, and the measured voltage value is compared with the reference voltage V1. As a result of the comparison, if the measured voltage value is larger, the discharge lamp 30 has already lost light or is likely to lose light immediately, so it is determined to be “abnormal”.

このように本実施例に係る光源装置10では、個々の放電灯30について個別に異常を判断し、異常と判断された放電灯30への通電を遮断するとともに、予備の放電灯30を通電するので、光源装置10から出射される光の照度が低下したことに気づかないままで光源装置10を稼働し続けてしまうおそれがなく、逆に、光源装置10から出射される光の照度不足が発生しない正常点灯下では、所定の時間経過に伴う放電灯30の自動追加点灯を行わないので光源装置10が出射する光量に過不足が生じることがない。   As described above, in the light source device 10 according to the present embodiment, the individual discharge lamps 30 are individually determined to be abnormal, the energization to the discharge lamp 30 determined to be abnormal is interrupted, and the spare discharge lamp 30 is energized. Therefore, there is no fear that the light source device 10 will continue to operate without realizing that the illuminance of the light emitted from the light source device 10 has decreased, and conversely, the illuminance shortage of the light emitted from the light source device 10 occurs. Under normal lighting, since the automatic additional lighting of the discharge lamp 30 is not performed as a predetermined time elapses, the light amount emitted from the light source device 10 does not become excessive or insufficient.

したがって、本実施例に係る光源装置10であれば、均一な照度の光を長時間にわたり連続して出射することができる。   Therefore, the light source device 10 according to the present embodiment can emit light with uniform illuminance continuously for a long time.

また、光源装置10から出射された照度値S4が適正照度値よりも大きく、さらに照度値S4と適正照度値との差が1つの放電灯30から出射される光の照度と同程度であることを検知した積算光量計38の判定回路44は、シーケンサ40に対して照度異常高信号S5を出力する。判定回路44から照度異常高信号S5を受けたシーケンサ40は、点灯中の放電灯30のうちから1つの放電灯30を選択し、当該放電灯30に対応する電力供給装置26に対して通電遮断信号S2を出力する。これにより、点灯する放電灯30の数が減少するので、光源装置10から出射される光の照度が低下し、過剰であった照度は適正光量値に収まる。逆に、光源装置10から照射された照度値S4が適正照度値よりも小さく、さらに照度値S4と適正照度値との差が1つの放電灯30から出射される光の照度と同程度であることを検知した判定回路44は、シーケンサ40に対して照度異常低信号S6を出力する。判定回路44から照度異常低信号S6を受けたシーケンサ40は、消灯中の放電灯30のうちから1つの放電灯30を選択し、当該放電灯30に対応する電力供給装置26に対して通電信号S1を出力する。これにより、点灯する放電灯30の数が増加するので、光源装置10から照射される光の照度が増加し、過小であった照度は適正光量値に収まる。   Further, the illuminance value S4 emitted from the light source device 10 is larger than the appropriate illuminance value, and the difference between the illuminance value S4 and the appropriate illuminance value is comparable to the illuminance of light emitted from one discharge lamp 30. The determination circuit 44 of the integrated light meter 38 that detects the illuminance outputs an abnormal illuminance high signal S5 to the sequencer 40. The sequencer 40 that has received the abnormal illuminance high signal S5 from the determination circuit 44 selects one discharge lamp 30 from the discharge lamps 30 that are lit, and cuts off the power supply to the power supply device 26 corresponding to the discharge lamp 30. The signal S2 is output. As a result, the number of discharge lamps 30 to be turned on decreases, so that the illuminance of the light emitted from the light source device 10 decreases, and the excessive illuminance falls within the appropriate light quantity value. Conversely, the illuminance value S4 emitted from the light source device 10 is smaller than the appropriate illuminance value, and the difference between the illuminance value S4 and the appropriate illuminance value is about the same as the illuminance of light emitted from one discharge lamp 30. When the determination circuit 44 detects this, the illuminance abnormality low signal S6 is output to the sequencer 40. The sequencer 40 that has received the illuminance abnormality low signal S6 from the determination circuit 44 selects one discharge lamp 30 from the discharge lamps 30 that are not lit, and supplies an energization signal to the power supply device 26 corresponding to the discharge lamp 30. S1 is output. Thereby, since the number of the discharge lamps 30 to light up increases, the illumination intensity of the light irradiated from the light source device 10 increases, and the illumination intensity that was too small falls within the appropriate light quantity value.

これにより、個々の放電灯30の異常を電圧値によって把握し、常に予め設定した数の放電灯30を点灯することができるだけでなく、光源装置10から出射される光の照度そのものを測定し、最適な数の放電灯30を点灯させることができる。   Thereby, the abnormality of each discharge lamp 30 is grasped by the voltage value, and not only the preset number of discharge lamps 30 can always be lit, but also the illuminance itself of the light emitted from the light source device 10 is measured, An optimal number of discharge lamps 30 can be turned on.

さらにいえば、照度計20が受ける光は、インテグレータ52によって照度分布が均一化されたものであるから、照度計20の設置位置を例えば「光源装置10の光の中心軸に合わせなければならない」といった制約がなく、光源装置10からの光を受けることができる位置であれば、どこに照度計20を設置しても同じ照度を測定することができる。すなわち、照度計20の位置調整が簡単に行えるようになる。   Furthermore, since the light received by the illuminometer 20 has the illuminance distribution made uniform by the integrator 52, the installation position of the illuminometer 20 must be "aligned with the central axis of the light of the light source device 10", for example. The same illuminance can be measured no matter where the illuminance meter 20 is installed as long as it is a position where the light from the light source device 10 can be received. That is, the position adjustment of the illuminometer 20 can be easily performed.

さらに、シーケンサ40から出力された露光時間値S9が適正露光時間よりも長いこと(つまり、光源装置10から出射される光の照度が低いこと)を検知した電算処理装置42は、シーケンサ40に対して照度異常低信号S13を出力する。電算処理装置42から照度異常低信号S13を受けたシーケンサ40は、消灯中の放電灯30のうちから1つの放電灯30を選択し、当該放電灯30に対応する電力供給装置26に対して通電信号S1を出力する。これにより、点灯する放電灯30の数が増加し、光源装置10から出射される光の照度が増加することにより、積算回路46において積算される光量が予め設定された値になるまでの時間が短縮されるので、露光時間値S9は適正露光時間内に収まる。逆に、露光時間値S9が適正露光時間よりも短いこと(つまり、光源装置10から出射される光の照度が高いこと)を検知した電算処理装置42は、シーケンサ40に対して照度異常高信号S12を出力する。電算処理装置42から照度異常高信号S12を受けたシーケンサ40は、点灯中の放電灯30のうちから1つの放電灯30を選択し、当該放電灯30に対応する電力供給装置26に対して通電遮断信号S2を出力する。これにより、点灯する放電灯30の数が減少し、光源装置10から出射される光の照度が低下することにより、積算回路46において積算される光量が予め設定された値になるまでの時間が長くなるので、露光時間値S9は適正露光時間内に収まる。   Further, the computer 42 that detects that the exposure time value S9 output from the sequencer 40 is longer than the appropriate exposure time (that is, the illuminance of the light emitted from the light source device 10 is low) The illuminance abnormality low signal S13 is output. The sequencer 40 that has received the illuminance abnormality low signal S13 from the computer processing device 42 selects one discharge lamp 30 from the discharge lamps 30 that are extinguished, and energizes the power supply device 26 corresponding to the discharge lamp 30. The signal S1 is output. As a result, the number of discharge lamps 30 to be lit increases, and the time until the amount of light integrated in the integration circuit 46 reaches a preset value by increasing the illuminance of the light emitted from the light source device 10. Since it is shortened, the exposure time value S9 falls within the appropriate exposure time. Conversely, the computer processing device 42 that has detected that the exposure time value S9 is shorter than the appropriate exposure time (that is, that the illuminance of the light emitted from the light source device 10 is high) signals the illuminance abnormality high signal to the sequencer 40. S12 is output. The sequencer 40 that has received the abnormal illuminance high signal S12 from the computer processing device 42 selects one discharge lamp 30 from the discharge lamps 30 that are lit, and supplies power to the power supply device 26 corresponding to the discharge lamp 30. A shut-off signal S2 is output. As a result, the number of discharge lamps 30 that are turned on decreases, and the illuminance of the light emitted from the light source device 10 decreases, so that the time until the amount of light integrated in the integration circuit 46 reaches a preset value. Since it becomes longer, the exposure time value S9 falls within the appropriate exposure time.

これにより、露光時間に基づいて光源装置10から出射する光の照度の妥当性を判断し、最適な数のランプ装置24を点灯させることができる。   Thereby, the validity of the illuminance of the light emitted from the light source device 10 can be determined based on the exposure time, and the optimum number of lamp devices 24 can be turned on.

本実施例に係る露光装置12によれば、光源装置10から均一な照度の光が長時間にわたり連続して出射されるので、露光対象物Xに光源装置10からの光を照射する時間(タクトタイム)、つまり露光対象物Xの感光に要する時間を一定にすることができる。したがって、露光対象物Xを支持台14に載せるタイミングや次の処理工程に搬送するタイミングを一定にして露光工程の前後の工程における待ち時間や渋滞の発生確率を極小化することができる。   According to the exposure apparatus 12 according to the present embodiment, light having a uniform illuminance is continuously emitted from the light source device 10 over a long period of time, so that the exposure time X is irradiated with light from the light source device 10 (tact). Time), that is, the time required for exposure of the exposure object X can be made constant. Therefore, it is possible to minimize the waiting time and the occurrence probability of the traffic jam in the steps before and after the exposure step by making the timing of placing the exposure object X on the support base 14 and the timing of transporting it to the next processing step constant.

なお、図3に示した放電灯30は、ダブルエンド型直流点灯方式ランプであるが、これに代えて、交流点灯方式ランプやシングルエンド型ランプを用いるようにしてもよい。さらに、放電灯30は、封体容器30cに水銀が封入されたショートアーク型放電灯に限られず、発光物質としてナトリウムやスカンジウムなどの金属ハロゲン化物質を封入したメタルハライドランプを用いて、紫外光、あるいは可視光を出射してもよい。また、封体容器30cの材質として石英ガラスや透光性のあるセラミックを用いてもよい。   The discharge lamp 30 shown in FIG. 3 is a double-end type DC lighting system lamp, but instead of this, an AC lighting system lamp or a single-end type lamp may be used. Further, the discharge lamp 30 is not limited to a short arc type discharge lamp in which mercury is sealed in a sealed container 30c, and a ultraviolet light, a metal halide lamp in which a metal halide material such as sodium or scandium is sealed as a luminescent material, Alternatively, visible light may be emitted. In addition, quartz glass or translucent ceramic may be used as the material of the envelope container 30c.

また、本実施例では、放電灯30に供給される測定電圧値が収束電圧値よりも高く設定した基準電圧V1よりも大きいときに当該放電灯30が「異常」であると判断しているが、放電灯30が「異常」であることの判断方法はこれに限られず、放電灯30を最初に点灯した時の電圧値(「当初電圧値」という)に基づき、当初電圧値から所定のボルト数だけ増加した値を基準電圧V1とする方法、および当初電圧値から所定の割合だけ増加した値を基準電圧V1とする方法がある。また、現在の測定電圧値と現在から所定時間前に測定した測定電圧値との差を演算し、当該差が所定の値よりも大きいこと(すなわち、電圧値が急激に増加したこと)、あるいは当該差がマイナスであること(すなわち、使用時間の経過とともに電圧値が減少したこと)をもって当該放電灯30が「異常」であると判断するようにしてもよい。この判断方法を用いることにより、放電灯30の電圧値が図5中のCに示すような動きをした場合を検知することができる。つまり、放電灯30の中には、使用中に封体容器30cが熱によって膨張するものがあり、このような膨張が発生すると電圧値は少しの期間だけ減少し、その後、放電灯30は失光して電圧値はゼロになる。したがって、現在の測定電圧値と所定時間経過後の測定電圧値との差を演算することにより、電圧値が急激に上昇するタイプの「異常」だけでなく、電圧値が減少するタイプの「異常」も検知することができる。   In this embodiment, when the measured voltage value supplied to the discharge lamp 30 is higher than the reference voltage V1 set higher than the convergence voltage value, it is determined that the discharge lamp 30 is “abnormal”. The method of determining that the discharge lamp 30 is “abnormal” is not limited to this. Based on the voltage value when the discharge lamp 30 is first lit (referred to as “initial voltage value”), the initial voltage value is set to a predetermined voltage. There are a method in which a value increased by a number is used as a reference voltage V1, and a method in which a value increased by a predetermined ratio from the initial voltage value is used as a reference voltage V1. Also, the difference between the current measured voltage value and the measured voltage value measured a predetermined time before the present time is calculated, and the difference is larger than the predetermined value (that is, the voltage value has increased rapidly), or The discharge lamp 30 may be determined to be “abnormal” when the difference is negative (that is, the voltage value has decreased with the passage of time of use). By using this determination method, it is possible to detect a case where the voltage value of the discharge lamp 30 moves as indicated by C in FIG. That is, in some discharge lamps 30, the envelope 30 c expands due to heat during use. When such expansion occurs, the voltage value decreases for a short period of time, and then the discharge lamp 30 is lost. Lights and the voltage value becomes zero. Therefore, by calculating the difference between the current measured voltage value and the measured voltage value after the lapse of a predetermined time, not only the “abnormal” type in which the voltage value increases rapidly but also the “abnormal” type in which the voltage value decreases. Can also be detected.

また、照度計20から送られてきた照度値S4が予め設定された適正照度値よりも高いか低いかを判定し、点灯させる放電灯30の数を制御することによって光源装置10から出射する光の照度を一定にするものであるが、照度計20から送られてきた照度値S4が予め設定された適正照度値よりも高いときには、放電灯30に供給する電力量を小さくし、逆に、照度値S4が予め設定された適正照度値よりも低いときには、放電灯30に供給する電力量を大きくすることによって光源装置10から出射する光の照度を一定にしてもよい。さらに、点灯させる放電灯30数の制御と放電灯30に供給する電力量の制御とを組み合わせてもよい。   Further, it is determined whether the illuminance value S4 sent from the illuminometer 20 is higher or lower than a preset appropriate illuminance value, and the light emitted from the light source device 10 is controlled by controlling the number of discharge lamps 30 to be lit. However, when the illuminance value S4 sent from the illuminometer 20 is higher than the preset appropriate illuminance value, the amount of power supplied to the discharge lamp 30 is reduced, and conversely, When the illuminance value S4 is lower than a preset appropriate illuminance value, the illuminance of light emitted from the light source device 10 may be made constant by increasing the amount of power supplied to the discharge lamp 30. Furthermore, the control of the number of discharge lamps 30 to be lit and the control of the amount of power supplied to the discharge lamp 30 may be combined.

また、光学系16を構成する反射鏡54の背面に照度計20を配置するようにしているが、露光済みのプリント基板Pを新しいプリント基板Pに交換する間だけ、マスクMの直上に別の照度計20を配置してマスクMに照射される光の照度を測定し、当該照度に基づいて反射鏡54の背面の照度計20が測定した照度を補正するようにしてもよい。このようにすれば、実際の露光対象物であるレジスト層Xの近傍における照度に基づいて、反射鏡54の背面に配置した照度計20の照度測定制度を高めて、より正確な露光時間管理を行うことができる。   In addition, the illuminometer 20 is arranged on the back surface of the reflecting mirror 54 constituting the optical system 16, but only while the exposed printed circuit board P is replaced with a new printed circuit board P, another illuminance meter 20 is disposed immediately above the mask M. The illuminance meter 20 may be arranged to measure the illuminance of light irradiated on the mask M, and the illuminance measured by the illuminometer 20 on the back surface of the reflecting mirror 54 may be corrected based on the illuminance. In this way, based on the illuminance in the vicinity of the resist layer X that is the actual exposure object, the illuminance measurement system of the illuminometer 20 disposed on the back surface of the reflecting mirror 54 is enhanced, and more accurate exposure time management is performed. It can be carried out.

また、点灯制御装置22が有する機能は、積算光量計38と、シーケンサ40と、電算処理装置42とがそれぞれ分担しているが、点灯制御装置22に必要な機能の全てを1つの装置にまとめるようにしてもよいし、本実施例よりも多くの装置に機能を分担させるようにしてもよい。また、異常判定手段28の機能を点灯制御装置22が負担するように構成してもよい。   The functions of the lighting control device 22 are shared by the integrating light meter 38, the sequencer 40, and the computer processing device 42, but all the functions necessary for the lighting control device 22 are combined into one device. The functions may be shared by more apparatuses than in the present embodiment. Moreover, you may comprise so that the lighting control apparatus 22 may bear the function of the abnormality determination means 28. FIG.

また、ランプ装置24ごとにホルダー29に対する角度を調整してランプ装置24の光軸がインテグレータ52の中心を通るようにしているが、図6に示すように、個々のランプ装置24に対応する全反射ミラー60および半反射ミラー(ハーフミラー)62を備える導光ユニット64を用いて個々のランプ装置24の光軸Rを集束させ、当該集束させた光軸Rがインテグレータ52の中心を通るようにしてもよい。   Further, the angle with respect to the holder 29 is adjusted for each lamp device 24 so that the optical axis of the lamp device 24 passes through the center of the integrator 52. However, as shown in FIG. A light guide unit 64 including a reflection mirror 60 and a semi-reflection mirror (half mirror) 62 is used to focus the optical axis R of each lamp device 24 so that the focused optical axis R passes through the center of the integrator 52. May be.

また、発明に係る光源装置10を露光装置12に用いているが、均一な光量を長時間にわたって出射することのできる光源装置10は、光を用いるあらゆる工業プロセスに適用することができる。   Moreover, although the light source device 10 according to the invention is used for the exposure device 12, the light source device 10 capable of emitting a uniform amount of light over a long period of time can be applied to any industrial process using light.

本発明にかかる露光装置を示す図である。It is a figure which shows the exposure apparatus concerning this invention. 光源ユニットを示す図である。It is a figure which shows a light source unit. 放電灯を示す図である。It is a figure which shows a discharge lamp. 点灯制御装置を示す図である。It is a figure which shows a lighting control apparatus. 放電灯に供給される電圧値と当該放電灯の使用時間との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the voltage value supplied to a discharge lamp, and the use time of the said discharge lamp. 複数のランプとインテグレータと位置に関する他の実施例を示す図である。It is a figure which shows the other Example regarding a some lamp | ramp, an integrator, and a position.

符号の説明Explanation of symbols

10…光源装置
12…露光装置
14…支持台
16…光学系
18…ランプユニット
20…照度計
22…点灯制御装置
24…ランプ装置
26…電力供給装置
28…異常判定手段
30…放電灯
38…積算光量計
40…シーケンサ
42…電算処理装置
50…露光制御用シャッター
52…インテグレータ
54…反射鏡
56…凹面鏡
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Light source device 12 ... Exposure apparatus 14 ... Support stand 16 ... Optical system 18 ... Lamp unit 20 ... Illuminance meter 22 ... Illumination control device 24 ... Lamp device 26 ... Power supply device 28 ... Abnormality determination means 30 ... Discharge lamp 38 ... Integration Light meter 40 ... Sequencer 42 ... Computer processing unit 50 ... Exposure control shutter 52 ... Integrator 54 ... Reflective mirror 56 ... Concave mirror

Claims (2)

複数の放電灯と、前記放電灯のそれぞれに設けられ、前記放電灯のそれぞれから出射された光を同じ方向へ向けて反射するリフレクタと、前記放電灯に付与される電圧を個別に測定して、前記電圧に基づいて前記放電灯の異常を個別に判定し、異常と判定したときに異常信号を出力する異常判定手段とを有するランプユニット、および
前記放電灯を個別に通電し、または通電を遮断する機能を有しており、起動時には少なくとも1つの予備の前記放電灯の通電を遮断した状態で他の前記放電灯を通電し、かつ、前記異常信号に基づいて異常と判定された前記放電灯の通電を遮断するとともに、それまで通電が遮断されていた予備の前記放電灯を通電する点灯制御装置を備えており、
前記異常判定手段は、前記放電灯に付与される電圧を個別に測定した測定電圧が収束電圧値よりも高く設定された基準電圧より大きいとき、あるいは、前記放電灯に付与される現在の測定電圧と所定時間前に測定した測定電圧との差がマイナスであるときに前記放電灯を異常と判定することを特徴とする光源装置。
A plurality of discharge lamps, a reflector provided in each of the discharge lamps and reflecting light emitted from each of the discharge lamps in the same direction, and a voltage applied to the discharge lamp are individually measured. A lamp unit having an abnormality determining means for individually determining abnormality of the discharge lamp based on the voltage and outputting an abnormality signal when it is determined to be abnormal, and energizing the discharge lamp individually, or energizing It has a function of shutting off, and at the time of start-up, the other discharge lamp is energized in a state where the energization of at least one spare discharge lamp is shut off, and the discharge that has been determined to be abnormal based on the abnormal signal. It has a lighting control device that cuts off the power of the electric lamp and energizes the spare discharge lamp that has been cut off until then ,
The abnormality determination unit is configured such that when a measurement voltage obtained by individually measuring a voltage applied to the discharge lamp is larger than a reference voltage set higher than a convergence voltage value, or a current measurement voltage applied to the discharge lamp. And the measured voltage measured a predetermined time before is negative, the discharge lamp is determined to be abnormal .
請求項1に記載の光源装置と、
前記光源装置から出射された光によって露光される露光対象物を支持する支持台と、
前記光源装置から出射された光を前記支持台で支持された前記露光対象物へ導く光学系とを備えることを特徴とする露光装置
A light source device according to claim 1;
A support base for supporting an exposure object exposed by light emitted from the light source device;
An exposure apparatus comprising: an optical system that guides light emitted from the light source device to the exposure object supported by the support base .
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