KR20080081656A - 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적데이터 쓰기 장치 및 방법 - Google Patents
상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적데이터 쓰기 장치 및 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20080081656A KR20080081656A KR1020070021966A KR20070021966A KR20080081656A KR 20080081656 A KR20080081656 A KR 20080081656A KR 1020070021966 A KR1020070021966 A KR 1020070021966A KR 20070021966 A KR20070021966 A KR 20070021966A KR 20080081656 A KR20080081656 A KR 20080081656A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- data
- phase change
- change memory
- write
- different
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 229910000618 GeSbTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0004—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements comprising amorphous/crystalline phase transition cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0021—Auxiliary circuits
- G11C13/004—Reading or sensing circuits or methods
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0021—Auxiliary circuits
- G11C13/0069—Writing or programming circuits or methods
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/22—Control and timing of internal memory operations
- G11C2207/2227—Standby or low power modes
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
Description
Claims (11)
- 상 변화(phase change) 메모리에 쓰기(Write)될 데이터를 입력받는 입력부;상기 입력받은 데이터가 쓰여질 상기 상 변화 메모리의 셀 위치상에서 기저장된 데이터를 읽어들이는 읽기부;상기 입력받은 데이터와 상기 읽어들인 기저장된 데이터의 일치 여부를 비교하는 비교부; 및상기 비교된 두 데이터가 상이한 경우 상기 입력받은 데이터 중 상기 기저장된 데이터와 상이한 부분을 상기 상 변화 메모리의 셀 위치로 저장하는 쓰기부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 비교부는 상기 입력받은 데이터와 상기 읽어들인 기저장된 데이터의 일치 여부를 각 비트 별로 비교하며,상기 쓰기부는 상기 비교된 두 데이터 간에 상이한 비트가 존재하는 경우 상기 입력받은 데이터 중 상기 기저장된 데이터와 상이한 비트의 값을 상기 상변화 메모리의 셀 위치로 저장하는 것을 특징으로 하는 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 장치.
- 제 2항에 있어서,상기 쓰기부는 상기 상이한 비트의 값을 상기 상 변화 메모리의 셀 위치로 저장시 상기 비트의 값이 0인 경우는 SET 전류 펄스를 발생하고 1인 경우는 RESET 전류 펄스를 발생하여 저장하는 것을 특징으로 하는 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 장치.
- 상 변화 메모리에 쓰기(Write)될 데이터를 입력받는 단계;상기 입력받은 데이터가 쓰여질 상기 상 변화 메모리의 셀 위치상에서 기저장된 데이터를 읽어들이는 단계;상기 입력받은 데이터와 상기 읽어들인 기저장된 데이터의 일치 여부를 비교하는 단계; 및상기 비교된 두 데이터가 상이한 경우 상기 입력받은 데이터 중 상기 기저장된 데이터와 상이한 부분을 상기 상 변화 메모리의 셀 위치로 저장하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 방법.
- 제 4항에 있어서,상기 입력받은 데이터와 상기 읽어들인 기저장된 데이터의 일치 여부를 비교하는 단계는, 상기 두 데이터의 일치 여부를 각 비트 별로 비교하며상기 비교된 두 데이터가 상이한 경우 상기 상이한 부분을 상기 상 변화 메 모리의 셀 위치로 저장하는 단계는, 상기 비교된 두 데이터 간의 상이한 비트가 존재하는 경우 상기 입력받은 데이터 중 상기 기저장된 데이터와 상이한 비트의 값을 상기 상 변화 메모리의 셀 위치로 저장하는 것을 특징으로 하는 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 방법.
- 제 5항에 있어서,상기 상이한 비트의 값을 상기 상 변화 메모리의 셀 위치로 저장시, 상기 상이한 비트의 값이 0인 경우는 SET 전류 펄스를 발생하고 1인 경우는 RESET 전류 펄스를 발생하여 저장하는 것을 특징으로 하는 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 방법.
- 데이터를 저장하는 상 변화 메모리 셀;상기 상 변화 메모리 셀로 쓰기(Write)될 데이터가 입력시 상기 입력된 데이터의 상기 상 변화 메모리 셀 내에 쓰여질 위치를 선택하는 메모리 셀 위치 선택부;상기 쓰여질 위치가 선택된 경우 상기 위치상에 기저장된 데이터를 읽기(Read)하는 읽기 회로부;상기 입력된 쓰기될 데이터와 상기 기저장된 데이터의 일치 여부를 비트 단위로 비교한 후, 상기 쓰기될 데이터 중 상기 기저장된 데이터와 상이한 비트를 상기 상 변화 메모리 셀로 쓰기(Write) 위한 신호 펄스를 발생시키는 데이터 비교 및 펄스 발생 회로부; 및상기 신호 펄스를 수신하여 상기 상이한 비트를 상기 선택된 메모리 셀 내로 쓰기(Write)하는 쓰기 회로부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 기능을 가진 상 변화 메모리 장치.
- 제 7항에 있어서,상기 메모리 셀 위치 선택부는 워드 라인(word line)과 MUX(multiplexer)에 연결된 비트 라인(bit line)에 의해 상기 입력된 데이터의 상기 메모리 셀 내에 쓰여질 위치를 선택하는 것을 특징으로 하는 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 기능을 가진 상 변화 메모리 장치.
- 제 7항에 있어서,상기 메모리 셀 위치 선택부는 상기 쓰기될 데이터를 I/O 회로를 통하여 입력받는 것을 특징으로 하는 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 기능을 가진 상 변화 메모리 장치.
- 제 7항에 있어서,상기 데이터 비교 및 펄스 발생부는 상기 상이한 비트의 값이 0이면 SET 펄스를, 1이면 RESET 펄스를 상기 상이한 비트를 쓰기하기 위한 신호 펄스로 발생시키는 것을 특징으로 하는 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 기능을 가진 상 변화 메모리 장치.
- 제 7항에 있어서,상기 쓰기 회로부는 연결된 PMOS(p-channel metal-oxide semiconductor)를 이용하여 상기 데이터 비교 및 펄스 발생부를 통하여 상기 수신된 신호 펄스가 SET 펄스인 경우 SET 전류를 SET 시간 동안 발생시키며,상기 수신된 신호펄스가 RESET 펄스인 경우 RESET 전류를 RESET 시간 동안 발생시켜 상기 메모리 셀의 저항값을 변경하는 것을 특징으로 하는 쓰기 전력 감소를 위한 선택적 데이터 쓰기 기능을 가진 상 변화 메모리 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070021966A KR20080081656A (ko) | 2007-03-06 | 2007-03-06 | 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적데이터 쓰기 장치 및 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070021966A KR20080081656A (ko) | 2007-03-06 | 2007-03-06 | 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적데이터 쓰기 장치 및 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080081656A true KR20080081656A (ko) | 2008-09-10 |
Family
ID=40021311
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070021966A Ceased KR20080081656A (ko) | 2007-03-06 | 2007-03-06 | 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적데이터 쓰기 장치 및 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20080081656A (ko) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101004679B1 (ko) * | 2008-11-11 | 2011-01-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 상변화 메모리 장치 및 그 프로그래밍 전류 검증방법 |
WO2012177698A3 (en) * | 2011-06-22 | 2013-03-07 | Intel Corporation | Drift management in a phase change memory and switch (pcms) memory device |
US8456933B2 (en) | 2010-04-26 | 2013-06-04 | SK Hynix Inc. | Semiconductor memory apparatus and method for generating programming current pulse |
US8570794B2 (en) | 2010-04-26 | 2013-10-29 | SK Hynix Inc. | Semiconductor memory apparatus |
US9183138B2 (en) | 2012-10-23 | 2015-11-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Encoding program data based on data stored in memory cells to be programmed |
US9947404B1 (en) | 2016-10-14 | 2018-04-17 | SK Hynix Inc. | Resistive memory apparatus, selective write circuit therefor, and operation method thereof |
KR20200091184A (ko) * | 2019-01-22 | 2020-07-30 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
US11183239B2 (en) | 2019-12-23 | 2021-11-23 | SK Hynix Inc. | Resistive memory device and operating method thereof |
-
2007
- 2007-03-06 KR KR1020070021966A patent/KR20080081656A/ko not_active Ceased
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101004679B1 (ko) * | 2008-11-11 | 2011-01-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 상변화 메모리 장치 및 그 프로그래밍 전류 검증방법 |
US8456933B2 (en) | 2010-04-26 | 2013-06-04 | SK Hynix Inc. | Semiconductor memory apparatus and method for generating programming current pulse |
US8570794B2 (en) | 2010-04-26 | 2013-10-29 | SK Hynix Inc. | Semiconductor memory apparatus |
WO2012177698A3 (en) * | 2011-06-22 | 2013-03-07 | Intel Corporation | Drift management in a phase change memory and switch (pcms) memory device |
US9021227B2 (en) | 2011-06-22 | 2015-04-28 | Intel Corporation | Drift management in a phase change memory and switch (PCMS) memory device |
TWI493547B (zh) * | 2011-06-22 | 2015-07-21 | Intel Corp | 相變記憶體及開關(pcms)記憶體裝置中之漂移管理 |
US9183138B2 (en) | 2012-10-23 | 2015-11-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Encoding program data based on data stored in memory cells to be programmed |
US9947404B1 (en) | 2016-10-14 | 2018-04-17 | SK Hynix Inc. | Resistive memory apparatus, selective write circuit therefor, and operation method thereof |
KR20200091184A (ko) * | 2019-01-22 | 2020-07-30 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
US11183239B2 (en) | 2019-12-23 | 2021-11-23 | SK Hynix Inc. | Resistive memory device and operating method thereof |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20080081656A (ko) | 상 변화 메모리에서의 쓰기 전력 감소를 위한 선택적데이터 쓰기 장치 및 방법 | |
KR100819061B1 (ko) | 쓰기 전력 계산 및 데이터 반전 기능을 통한 상 변화메모리에서의 데이터 쓰기 장치 및 방법 | |
US7830726B2 (en) | Data storage using read-mask-write operation | |
US7522073B1 (en) | Self-adapted bus inversion | |
TWI604457B (zh) | 用於記憶體操作參數之儲存及寫入多重參數編碼之裝置及方法 | |
CN1959846B (zh) | 随机存取存储器、升压电荷泵和产生写驱动电压的方法 | |
CN103456366A (zh) | 具有自包含式测试单元的半导体存储器件及其测试方法 | |
JP2007004967A (ja) | 並列データ経路アーキテクチャ | |
KR20040053230A (ko) | 상변화 물질 메모리 소자에 기록 동작을 실행하는 기술 및장치 | |
US10891998B2 (en) | Memory device operating based on a write current for a given operation condition and a method of driving the write current | |
US9224446B2 (en) | Multi-port memory circuit, accessing method and compiler | |
CN107533864A (zh) | 相变存储器电流 | |
KR101950322B1 (ko) | 전압 생성회로 | |
JP4190836B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2005531876A5 (ko) | ||
EP1649468B1 (en) | Compensating a long read time of a memory device in data comparison and write operations | |
US8861286B2 (en) | Verification read data output circuit of a semiconductor device and method for operating the same | |
CN101471130A (zh) | 相变存储器与相变存储器的控制方法 | |
CN103594112B (zh) | 一种相变存储器的写操作方法及设备 | |
EP1528570A2 (en) | Phase change memory device and operating method thereof | |
US8274852B2 (en) | Semiconductor memory apparatus and method of testing the same | |
US8122302B2 (en) | Semiconductor device having adaptive power function | |
US9135969B2 (en) | Semiconductor device | |
KR101921101B1 (ko) | 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 동작 방법 | |
US9305647B2 (en) | Write operation method and device for phase change memory |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20070306 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20080229 Patent event code: PE09021S01D |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20080829 Patent event code: PE09021S01D |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20081112 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20080829 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I Patent event date: 20080229 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |