KR20080071621A - 주기적 비율 센서 자체 테스트 - Google Patents

주기적 비율 센서 자체 테스트 Download PDF

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KR20080071621A
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케네스 돌
아놀드 에이취. 스파이커
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켈시-헤이즈 컴파니
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Abstract

주기적 테스트 신호는 센서에 주사되며, 센서 출력(46)은 센서가 적절히 작동되고 있는지의 여부를 결정하기 위해 임계값과 비교된다.
폴트 플래그, 샘플링, 테스트 신호, 전자 제어유니트, 알고리즘

Description

주기적 비율 센서 자체 테스트{PERIODIC RATE SENSOR SELF TEST}
본 발명은 센서에 관한 것으로서, 특히 센서 동작을 테스트하기 위한 방법에 관한 것이다.
차량 제어 시스템은 차량의 작동변수를 관찰하는 다양한 센서를 사용하고 있다. 또한, 차량의 전기제어식 제동 시스템은 예를 들어 낮은 표면 또는 잠재적인 차량 롤오버에서의 방향 제어손실 등과 같은 불필요한 차량 이동의 검출에 따라 차량 방향 이동을 보정할 능력을 포함하므로 점점 복잡해지고 있다. 이러한 검출은 전형적으로 가속기를 포함하는 운동 센서와 각비율 센서를 포함하며, 또한 통상적으로 예를 들어 휘일 속도 센서 및 조향각 센서 등과 같은 기타 다른 차량 작동변수로부터의 입력값을 포함한다. 차량 제동 제어 시스템은 전형적으로 다양한 센서 출력 신호를 수신하는 전자 제어유니트(ECU)를 포함한다. 저장된 알고리즘에 의해 제어되는 ECU내의 마이크로프로세서는 수신된 센서 신호를 관찰한다. 상기 마이크로프로세서는 잠재적인 차량 방향성 안정문제의 검출에 따라 이러한 문제점을 보정하기 위해 차량 제동을 선택적으로 인가하거나 및/또는 엔진 토오크를 변화시키도록 작동된다.
제동 제어 시스템에 의해 이용되는 운동 센서는 신호 조정 회로를 포함하므 로 점점 소형화되고 복잡해지고 있다. 단일의 센서 칩에는 센서 출력을 위해 관련의 신호 조정 회로를 갖는 복합 운동 센서가 포함된다. 상기 신호 조정 회로는 기능부전 센서를 검출하는 센서 출력 신호를 관찰하기 위해 자체 테스팅 능력을 포함한다. 전형적으로, 자체 테스트는 초기의 차량 시동중에 실행되며, 만일 신호 조정 회로가 센서 출력 신호가 설정의 임계값을 초과하였다고 결정한 경우에는 에러 코드를 발생할 것이다. 또한, 기능부전 센서를 검출함에 따라, 자체 테스트 능력은 센서 출력을 무능력하게 하므로, 잘못된 신호가 ECU에 전송되지 않는다.
그러나, 차량은 점점 긴 시간주기로 작동되기 때문에, 초기의 차량 시동에 대한 자체 테스팅의 제한은 자체 테스트 사이에 운동 센서의 작동 시간을 효과적으로 증가시켰다. 그 결과, 만일 운동 센서가 차량 작동중 기능부전이 되기 시작했다면, 문제는 적시에 검출되지 않는다. 따라서, 차량이 작동중일동안 발생되는 운동 센서를 위한 주기적 자체 테스트 방법을 제공하는 것이 바람직하다. 이러한 테스팅은 자동차에 의해 이용되는 기타 다른 센서에도 바람직하다.
본 발명은 센서의 작동을 테스팅하기 위한 방법에 관한 것이다.
본 발명은 센서의 적절한 작동을 입증하는 방법을 제공하며; 이러한 방법은 검출된 차량 작동변수를 나타내는 센서 신호를 발생하는 센서를 제공하는 단계와, 센서 신호로부터 샘플링된 센서 출력 신호를 발생하는 단계를 포함한다. 그후, 테스트 출력 신호를 유도하는 두개의 연속한 샘플링된 출력 신호중 첫번째 신호후와 두개의 연속한 샘플링된 출력 신호중 두번째 신호의 발생전에, 테스트 신호가 센서에 제공된다. 테스트 출력 신호는 관찰되어, 테스트 기준과 비교된다.
또한, 본 발명은 테스트 기준에 부합하지 않는 테스트 신호 유도된 출력 신호에 따라, 에러 신호를 발생하는 단계를 포함한다. 상기 에러 신호는 폴트 플래그를 세팅하는 단계를 포함한다. 또한, 본 발명은 에러 신호가 테스트 신호 유도된 출력 신호가 설정된 횟수동안 테스트 기준에 부합하지 않은 후에만 발생된다는 것에 주목하고 있다.
본 발명의 기타 다른 목적과 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조한 하기의 상세한 설명에 의해 보다 명확하게 이해될 것이다.
도1은 본 발명에 따른 센서의 개략적인 다이아그램을 도시한 도면.
도2는 도1에 도시된 센서의 작동을 도시한 그래프.
도3은 테스트 신호에 대한 센서의 응답을 나타내는, 도2에 도시된 그래프의 확대도.
도4는 도1에 도시된 센서의 작동에 대한 플로우챠트.
도5는 도3에 도시된 플로우챠트의 다른 실시예를 도시한 도면.
도6은 도3에 도시된 플로우챠트의 또 다른 실시예를 도시한 도면.
도1은 자동차의 작동변수를 관찰하는데 사용되는 전형적인 센서(10)에 대한 개략적인 다이아그램을 도시하고 있다. 도시된 바와 같이, 센서는 검출 소자(12)와, 상기 검출 소자(12)에 의해 발생된 신호를 조절하는 주문형 집적회 로(ASIC)(14)를 포함한다. 검출 소자(12)는 예를 들어 가속, 회전속도 또는 요오, 변위 또는 힘 등과 같은 특정의 차량 작동변수를 관찰하기 위해 선택된다. 상기 ASIC(14)는 테스트 회로(16)에 연결되며, 상기 테스트 회로는 차량이 작동중일동안 센서(10)를 테스트하기 위하여 하기에 서술되는 바와 같이 관련의 알고리즘을 갖는 마이크로프로세서(17)를 포함하고 있다. 도시된 바와 같이, 센서(10)는 4개의 라인에 의해 테스트 회로(16)에 연결된다. 제1라인(18)은 전압 공급부에 연결되고, 제2라인(20)이 접지되어 있을동안 센서(10)에 전원을 제공한다. 제3라인(22)은 센서(10)의 출력을 테스트 기준에 연결하고, 센서(10)에 의해 발생된 출력 신호를 센서로부터 테스트 회로(16)에 이송한다. 제4라인(24)은 테스트 라인이며, 테스트 신호를 테스트 회로(16)로부터 센서(10)로 이송한다. 테스트 회로(16)는 도1에 별도의 부품으로서 도시되었지만, 본 발명은 센서(10)에 집적된 테스트 회로(16)로 실행될 수 있음을 인식해야 한다. 이와 마찬가지로, ASIC(14)는 검출 소자(12)로부터 이격되어 배치될 수도 있다.
도1에 도시된 바와 같이, 테스트 회로(16)는 계측 제어기 통신망(CAN) 버스(26)에 의해 제동 시스템 전자 제어유니트(ECU)(28)에 연결된다. 상기 ECU(28)는 유압 제어유니트(HCU)(30)에 장착된 다수의 솔레노이드 밸브의 선택적 작동에 의해 차량 제동 시스템의 동작을 제어하기 위한 전자 부품을 포함한다. 테스트 회로(16)는 차량 엔진을 제어하기 위한 엔진 ECU(32)와, 능동 현가 제어 ECU와, 기타 다수의 제어 시스템 ECU(34) 등과 같은 차량의 ECU에 연결된다. ECU 로의 이러한 여러 연결부는 CAN 버스(26)의 사용에 의해 효과적으로 제공되지만, 그러나 본 발 명은 테스트 회로(16)로부터 센서 출력 데이터(도시않음)를 이용하는 각각의 ECU에 제공된 하드 와이어링(hard wiring)으로 실행될 수도 있다.
도2에 도시된 그래프에는 테스트 회로(16)의 동작이 도시되어 있다. 양호한 실시예에서, 센서 소자(12)는 도2에 점선으로 도시된 조정된 센서 아날로그 신호를 발생하기 위해 ASIC(14)에 의해 증폭 및 여과된 아날로그 신호를 발생한다. 또한, ASIC(14)는 출력 신호 라인(22)에 대해 테스트 회로(16)로 전송되는 값(42)으로 나타나는 샘플링된 신호를 발생하기 위해, 조정된 센서 신호를 샘플링한다. 샘플링된 출력 신호(42)에 대해서는 순간값으로 도시되었지만, 출력은 샘플링 지점(도시않음) 사이의 주기에 대해 이루어지고 ASIC(14)에 의해 발생된 아날로그 신호(40)의 평균값이다. 도2는 7 밀리초 간격으로 발생되는 출력 신호(42)를 도시하였지만, 기타 다른 샘플링 시간도 이용될 수 있다. 테스트 회로(16)는 샘플링된 센서 출력 신호를 CAN(16)에 대해 선택된 차량 제어 시스템 ECU로 진행시킨다.
본 발명은 테스트 회로(16)가 테스트 전압 펄스(44)를 테스트 신호 라인(24)에 대한 출력 신호 샘플링 간격 사이에서 테스트 라인(24) 위의 센서(10)에 전송하는 것에 주목하고 있다. 양호한 실시예에서, 테스트 펄스(44)는 잠시동안 1 밀리초이지만, 기타 다른 주기를 갖는 테스트 펄스가 사용될 수도 있다. 테스트 펄스는 도2에서 점선(46)으로 도시된 응답을 발생한다. 테스트 펄스 응답(46)은 출력 신호 라인(22) 위에서 테스트 회로(16)에 전송된다. 테스트 회로(16)에서, 테스트 펄스 응답(46)은 센서(10)가 적절히 작동하고 하고 있는지의 여부를 결정하기 위해 예를 들어 설정 임계값 등과 같은 테스트 기준과 비교된다. 만일 테스트 회로(16) 가 센서가 결점이 있는 것으로 결정한다면, 에러 신호가 발생되어, CAN 버스 위에서 ECU로 전송된다. 상기 에러 신호는 변화된 전압 레벨 또는 에러 플래그의 세팅으로 구성되어 있다.
도3에는 테스트 펄스(44) 및 응답(46)의 확대도가 도시되어 있으며, 여기서 ST는 테스트 펄스(44)의 크기이고, △ST는 테스트 펄스 응답(46)의 크기이다. 도3에 도시된 바와 같이, △ST의 최종 응답 전압(46)은 테스트 펄스(44)의 전압(ST) 보다 작다. 본 발명은 테스트 펄스(44)의 인가에 이어지는 설정의 시간주기가 경과후, 센서 응답(46)의 크기를 측정하는 단계를 포함한다. 양호한 실시예에서는 1 밀리초 딜레이가 이용되지만, 본 발명은 또 다른 시간 딜레이로 실행될 수도 있다.
도2에 있어서, 본 발명은 테스트 펄스(44)가 센서(10)에 주기적으로 주사되는 것을 도시하고 있다. 도2에 도시된 바와 같이, 테스트 펄스(44)의 주사에 대한 주기는 샘플링된 센서 출력 신호(42)에 대한 주기 보다 크다. 테스트 신호 주사 주기에 비해 훨씬 큰 센서 출력 신호 샘플링 주기를 선택하고 또한 테스트 펄스 주기를 매우 짧게 하므로써, 테스트 펄스(44)의 천이 효과는 차후 센서 출력 신호(42)가 발생되는 시간에 종료된다. 따라서, 테스트 회로(16)가 센서(10)의 테스팅에 의해 발생된 신호를 효과적으로 "스텝 오버(step over)"하고, 각각의 차량 시스템 제어 ECU에 공급되는 도2에 도시된 출력 신호(42)를 생성한다. 테스트 펄스(44) 및 그 대응의 응답(46)이 센서 출력 신호(42)에 영향을 끼치지 않기 때문에, 센서는 차량이 작동중일동안에도 테스팅될 수 있으므로, 적절한 센서 동작의 보장에 의해 차량 제어 시스템의 안정성을 개선시킨다.
상술한 바와 같이, ASIC(16)는 테스트 회로(16)에 제공되는 센서 출력 신호(42)를 결정하는 샘플링 시간 사이에서 아날로그 신호의 평균이다. 이 경우, 본 발명은 테스트 펄스(44) 및 테스트 펄스 응답(46)이 존재할동안 센서 신호를 무시하거나 또는 선택적으로 테스트가 진행되는 동안 센서 신호의 값을 위한 테스트 펄스(44)의 주사 바로 이전에 존재하는 센서 출력값을 이용한다.
다수의 포지티브 테스트 펄스로 구성된 테스트 펄스(44)를 갖는 양호한 실시예가 도2에 도시되었지만, 본 발명은 다수의 네거티브 테스트 펄스(도시않음)로 구성된 테스트 신호로 실행되거나 또는 교차하는 포지티브 및 네거티브 펄스(도시않음)로 실행될 수도 있음을 인식해야 한다. 또한, 도2에 도시된 바와 같이 테스트 펄스(44)의 타이밍은 예시적인 것임을 의미한다. 본 발명은 테스트 펄스(44)를 분리하는 짧거나 긴 시간주기로 실행될 수도 있다. 짧은 시간주기에 있어서, 테스트 펄스는 필요할 경우 각각의 센서 출력 신호(42) 사이에 선택적으로 주사될 수도 있다.
본 발명에 있어서 테스트 회로(16)는 저장된 알고리즘에 따라 센서의 테스팅 동작을 제어하는 마이크로프로세서(도시않음)를 포함한다. 기본적인 알고리즘 동작을 나타내는 플로우챠트가 도4에 도시되어 있다. 플로우챠트는 블럭(50)에서 시작되어 블럭(52)으로 진행되며, 도2에 도시된 출력 신호(42)를 발생하도록 센서 출력이 샘플링된다. 그후, 알고리즘은 결정 블럭(54)으로 진행되어, 테스트 펄스를 센서에 주사할 시간인지의 여부가 결정된다. 테스트 펄스를 주사하는 결정은 카운터의 체킹 등과 같은 종래 방법에 의해 제공된다. 만일 테스트 펄스를 주사할 시 간이 아니라면, 알고리즘은 반복 시간 딜레이를 위해 블럭(56)으로 진행된 후, 블럭(52)으로 진행되어 센서 출력을 다시 샘플링한다.
만일 결정 블럭(54)에서 알고리즘이 테스트 펄스를 발생할 시간이라고 결정하였다면, 알고리즘은 블럭(58)으로 진행되어 테스트 펄스(44)가 센서(10)에 주사된다. 블럭(58)에서는 테스트 펄스(44)의 주사를 위한 타이밍 또는 마지막 샘플링된 신호(42)로부터의 딜레이가 결정된다. 그후, 알고리즘은 블럭(60)으로 진행되어, 응답 신호(46)가 측정된다. 그후, 알고리즘은 결정 블럭(62)으로 진행된다.
결정 블럭(62)에서, 알고리즘은 블럭(60)에서 측정된 응답 신호(46)가 만족스러운지의 여부를 결정한다. 이를 결정하기 위해 여러가지 방법이 고려될 수 있다. 예를 들어, 응답은 ASIC(14)에 저장된 설정 임계값과 비교된다. 만일 응답이 저장된 임계값 보다 작다면, 응답은 만족스럽지 않은 것이며, 알고리즘은 블럭(64)으로 진행되어 에러 신호가 발생되거나 또는 선택적으로 에러 플래그가 설정된다. 그후, 알고리즘은 블럭(66)을 통해 빠져나온다. 만일 결정 블럭(62)에서 응답이 임계값 보다 크거나 같다면, 알고리즘은 결정 블럭(68)으로 진행된다.
결정 블럭(68)에서, 알고리즘은 예를 들어 차량 엔진이 작동중인지 또는 차량이 이동중인지 등과 같은 지속적인 작동을 위해 기준을 체크하므로써 지속되어야 할 지의 여부를 결정한다. 만일 알고리즘을 계속 작동시키는 것으로 결정되었다면, 알고리즘은 차후 딜레이를 위해 블럭(56)으로 이송되므로써 차후 반복으로 진행된다. 만일 결정 블럭(68)에서 알고리즘을 계속 작동시키지 않는 것으로 결정되었다면, 알고리즘은 블럭(66)을 통해 빠져나온다.
알고리즘은 결정 블럭(62)에서 신호 응답을 임계값과 비교하는 것으로 서술되었지만, 이러한 결정은 다른 기준을 적용하므로써 이루어질 수도 있음을 인식해야 한다. 예를 들어, 응답은 결정 블럭(62)에서 한쌍의 상하부 임계값과 비교된다. 응답이 두개의 임계값 사이에 있을 경우에만, 알고리즘은 결정 블럭(68)으로 진행될 것이다. 그렇지 않을 경우 알고리즘은 블럭(65)으로 진행되어 에러 신호가 발생될 것이다.
도4에 도시되어 서술된 알고리즘은 신호 폴트의 발생에 따라 에러 신호를 발생할 것이다. 의사 에러 신호의 발생을 피하기 위해, 폴트 상태는 시간주기 동안 지속되거나 설정된 횟수동안 반복되는 것이 바람직하다. 이러한 기준을 포함하는 본 발명의 실시예가 도5에 도시된 플로우챠트로 도시되어 있으며, 도4에 도시된 바와 동일한 블럭은 동일한 도면부호를 갖는다. 하기에 서술되는 바와 같이, 도5에 도시된 알고리즘은 에러 신호를 발생하기 전에 다수의 연속적인 폴트를 검출하며, 이것은 시간주기동안 폴트 상태 지속을 갖는 것과 동일하다.
도5에 도시된 알고리즘의 동작이 서술될 것이다. 블럭(50)에서 시작된 후, 알고리즘은 블럭(70)으로 진행되어, 폴트 카운터(fault counter: FC)가 제로로 세팅된다. 그후, 알고리즘은 상술한 바와 같이 그리고 도4에 도시된 바와 같이 결정 블럭(62)으로 진행되어, 주사된 테스트 신호에 대한 응답이 만족스러운지의 여부가 결정된다. 만일 테스트 신호에 대한 응답이 만족스러운 것으로 결정되었다면, 알고리즘은 블럭(68)으로 진행되어 알고리즘이 계속 작동되어 상술한 바와 같이 지속될 것인지의 여부가 결정된다. 만일 결정 블럭(62)에서 응답이 만족스럽지 않은 것으로 결정되었다면, 알고리즘은 블럭(72)으로 진행되어 폴트 카운터(FC)는 하나씩 증가된다. 그후, 알고리즘은 결정 블럭(74)으로 진행된다.
결정 블럭(74)에서, 폴트 카운터(FC)는 설정의 폴트 카운터 임계값(FCMAX)와 비교된다. 만일 폴트 카운터(FC)의 값이 FCMAX 보다 작다면, 알고리즘은 결정 블럭(76)으로 진행되어 알고리즘이 계속 작동되지 않을지의 여부가 결정된다. 그러나 만일 결정 블럭(74)에서 폴트 카운터(FC)의 값이 FCMAX 보다 크거나 같다면, 알고리즘은 블럭(64)으로 진행되어 에러 신호가 발생되거나 또는 선택적으로 에러 플래그가 세팅된다. 그후, 알고리즘은 블럭(66)을 통해 빠져나온다.
블럭(76)으로 되돌아가서, 만일 알고리즘이 계속 작동될 것으로 결정되었다면, 알고리즘은 센서 출력 신호의 차후 샘플링 반복이 지속되기 전에 시간 딜레이를 위해 블럭(56)으로 진행된다. 만일 결정 블럭(76)에서 알고리즘이 계속 작동하지 않는 것으로 결정되었따면, 알고리즘은 블럭(66)을 통해 빠져나온다.
도5에 도시된 바와 같이, 알고리즘은 FCMAX 에 도달할 때까지 폴트를 계속 카운트할 것이며, 그때 에러 신호가 발생된다. 그러나, 상기 폴트는 연속적으로 발생되지 않는다. 본 발명은 연속적인 폴트의 카운팅에 의해 발생된 에러 신호로 실행될 수도 있다. 이것은 결정 블럭(60)에서 각각의 성공적인 응답이 검출된 후, 폴트 카운터(FC)를 제로로 리세팅함에 따라 달성된다. 폴트 카운터(FC)를 리세팅하는 방법중 한가지는 도5의 상부 좌측 모서리에서 점선(78)으로 도시된 바와 같이, 알고리즘을 시간 딜레이 블럭(56)으로부터 폴트 카운터(FC) 리세트 블럭(70)으 로 진행시키는 것이다.
본 발명은 폴트 카운터(FC)가 각각의 만족스러운 응답에 대해 감소될동안 테스트 펄스에 대해 각각 만족스러운 응답으로 증가되는 알고리즘의 또 다른 실시예를 도시하고 있다. 도6의 또 다른 실시예에서, 도4 및 도5에 도시된 바와 동일한 블럭은 동일한 도면부호를 갖는다. 도6에 도시된 바와 같이, 알고리즘은 결정 블럭(62)에 대한 응답중 한가지에서 도5에 도시된 알고리즘과 상이하다. 결정 블럭(62)에서 테스트 펄스에 대해 측정된 응답이 만족스럽다는 결정에 따라, 알고리즘은 결정 블럭(80)으로 진행된다. 결정 블럭(80)에서, 알고리즘은 폴트 카운터(FC)의 값을 체크한다. 만일 폴트 카운터(FC)가 제로라면, 알고리즘은 결정 블럭(68)으로 진행되어, 상술한 바와 같이 계속 작동된다. 만일 결정 블럭(80)에서 폴트 카운터(FC)가 제로가 아니라면, 카운터는 폴트의 검출에 의해 이미 증가되었다. 그러나, 현재의 반복에서, 폴트는 검출되지 않았다. 따라서, 알고리즘은 결정 블럭(82)으로 진행되어 폴트 카운터(FC)는 하나씩 감소된다. 그후, 알고리즘은 결정 블럭(68)으로 진행되어 상술한 바와 같이 계속 작동된다. 알고리즘은 폴트가 검출될 때마다 카운트업되지만, 테스트 펄스에 대한 만족스러운 응답의 검출시 카운트다운된다. 에러 신호는 폴트 카운터(FC)가 폴트 카운터 임계값(FCMAX)에 도달되었을 때만 발생된다.
도4 내지 도6에 도시되고 설명된 플로우챠트는 예시적인 것이며 본 발명은 여기에 도시된 바와는 상이한 플로우챠트를 갖는 알고리즘으로 실행될 수도 있음을 인식해야 한다.
상술한 바와 같이, 응답 전압(△ST)은 테스트 회로(16)에 의해 최대값 및 최소값과 비교되며, 이러한 최대값 및 최소값은 비휘발성 램(NVRAM)에 저장되어 있으며, 센서는 응답 전압(△ST)이 임계값에 의해 한정된 범위내에 속한 경우에만 만족스럽게 작동되는 것으로 간주된다. 플로우챠트에 도시된 바와 같이, 센서 응답 전압의 측정에 이어, 알고리즘은 결정 블럭(62)으로 진행되어 포지티브 테스트 신호 펄스(ST1)에 대한 응답 전압(△ST1)은 하기의 관계식에 따라 허용된 최대값 및 최소값과 비교된다.
Is TMAX ≥ △ST1 ≥TMIN ?
상기 TMAX 는 허용가능한 출력 전압 범위에 대한 상한값이고, TMIN 는 허용가능한 출력 전압 범위에 대한 하한값이다.
또한, 본 발명에 있어서, 테스트 폴트 임계값은 보상된 소음 및 온도이다. 따라서, 온도(T)의 함수로서 자체 테스트 응답 전압(△STX)에 대한 공칭값은 하기의 식으로 주어진다.
Figure 112008046545949-PCT00001
Sens, a_Sens 및 b_Sens 는 비휘발성 램(NVRAM)에 저장된 값이다.
자체 테트트 에러 폴트 임계값은 하기의 식에 따라 △STX 공칭 deg/s(T)에 대한 이득 및 옵셋 감도에 기초한다.
Figure 112008046545949-PCT00002
+임계값은 상술한 바와 같이 연산되며,
Figure 112008046545949-PCT00003
-임계값은 상술한 바와 같이 연산된다.
상술한 임계값 경계 연산은 테스트 응답 전압(△ST1)을 플로우챠트의 결정 블럭(62)에서의 임계값과 비교하기 전에 실행된다. 따라서, △ST1 및 △ST2 경계에 대한 연산은 블럭(60)에서 제1응답 전압의 측정중 완료된다. 단일의 임계값을 이용하는 실시예에 관해, 본 발명에서 TMAX 는 임계값을 위해 선택적으로 이용된다.
본 발명에서는 폴트 카운터를 리세팅하지 않고 예를 들어 전원공급부 스파이크 및 외부 소음 등과 같은 외부 동작에 의해 유발된 응답 전압을 무시할 능력을 제공하는 4개의 부가적인 실시예를 제공한다. 이러한 이질적인 신호는 신호의 상승 시간 및/또는 주파수를 관찰하므로써 확인된다.
알고리즘의 제1실시예는 도5에 도시된 플로우챠트에 대해 하기에 도시되었지만, 알고리즘은 도6에 도시된 플로우챠트에도 적용된다. 알고리즘은 블럭(60)에서 응답 전압의 상승률을 측정하는 단계와, 응답 전압의 측정된 상승률을 결정 블럭(62)에서의 임계값 상승률과 비교하는 단계를 포함한다. 상승률 결정은 전압 응 답이 허용가능한 경계내에 있지 않다는 결정 블럭(62)에서의 결정시에만 고려된다. 만일 결정 블럭(62)에서, 응답 전압 상승률이 임계값 상승률(SRMAX) 보다 작거나 같다면, 폴트 카운터(FC)는 블럭(72)에서 인덱싱된다. 만일 결정 블럭(62)에서 상승률이 임계값 상승률(SRMAX) 보다 크다면, 알고리즘은 결정 블럭(68)으로 진행되어 폴트 카운터(FC)의 인덱싱을 건너뛴다. 제1알고리즘의 사용에 의해, 상승 시간이 너무 빠른 이질적인 신호는 폴트 카운터의 리세팅없이 무시될 수 있다.
알고리즘의 제2실시예는 블럭(60)에서 응답 전압의 주파수를 측정하는 단계와, 측정된 응답 전압의 주파수를 결정 블럭(62)에서의 신호 주파수 임계값과 비교하는 단계를 포함한다. 응답 전압 주파수 결정은 전압 응답이 허용가능한 경계내에 있지 않다는 결정 블럭(62)에서의 결정시에만 고려된다. 만일 결정 블럭(62)에서, 응답 전압 주파수가 주파수 임계값(SFMAX) 보다 작거나 같다면, 폴트 카운터(FC)는 블럭(72)에서 인덱싱된다. 만일 결정 블럭(62)에서 응답 전압 주파수가 주파수 상승률(SFMAX) 보다 크다면, 알고리즘은 결정 블럭(68)으로 진행되어 폴트 카운터(FC)의 인덱싱을 건너뛴다. 제2알고리즘의 사용에 의해, 주파수가 높은 이질적인 신호는 폴트 카운터의 리세팅없이 무시될 수 있다.
제3 및 제4실시예는 응답 전압의 주파수 및 상승률의 고려를 포함하며, 이러한 두 변수는 블럭(60)에서 측정된다. 제3실시예에서, 상승률 임계값(SFMAX) 또는 주파수 임계값(SFMAX)이 초과되었다면, 알고리즘은 결정 블럭(68)으로 진행되어, 폴 트 카운터(FC)의 인덱싱을 건너뛴다. 제4실시예에서, 만일 상승률 임계값(SFMAX) 및 주파수 임계값(SFMAX)이 초과되었다면, 알고리즘은 결정 블럭(68)으로 진행되어, 폴트 카운터(FC)의 인덱싱을 건너뛴다.
본 발명은 양호한 실시예를 참조로 서술되었기에 이에 한정되지 않으며, 본 기술분야의 숙련자라면 첨부된 청구범위로부터의 일탈없이 본 발명에 다양한 변형과 수정이 가해질 수 있음을 인식해야 한다.

Claims (14)

  1. 적절한 센서 동작을 입증하는 방법에 있어서,
    (a)검출된 차량 작동변수를 나타내는 센서 신호를 발생하는 센서를 제공하는 단계와,
    (b)센서 신호로부터 샘플링된 센서 출력 신호를 발생하는 단계와,
    (c)테스트 출력 신호를 유도하는 두개의 연속한 샘플링된 출력 신호중 첫번째 신호후와 두개의 연속한 샘플링된 출력 신호중 두번째 신호의 발생전에, 테스트 신호를 센서에 제공하는 단계와,
    (d)테스트 출력 신호를 관찰하는 단계와,
    (e)테스트 출력 신호를 테스트 기준과 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  2. 제1항에 있어서, (f)테스트 기준에 부합하지 않는 테스트 신호 유도된 출력 신호에 따라, 에러 신호를 발생하는 단계를 부가로 포함하는 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  3. 제2항에 있어서, 단계(f)에서 발생된 에러 신호는 폴트 플래그를 세팅하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  4. 제2항에 있어서, 에러 신호는 테스트 신호 유도된 출력 신호가 설정의 횟수동안 테스트 기준에 부합되지 않은 후에만 단계(f)에서 발생되는 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  5. 제1항에 있어서, 단계(c)에서 유도된 테스트 출력 신호는 테스트 출력 신호가 두개의 연속한 샘플링된 출력 신호의 두번째 신호가 발생되기 전에 쇠퇴할 수 있는 주기를 갖는 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  6. 제5항에 있어서, 센서 출력 신호는 주기적으로 샘플링되는 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  7. 제6항에 있어서, 단계(c)에서의 테스트 신호는 주기적으로 제공되는 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  8. 제7항에 있어서, 단계(c)에서의 테스트 신호의 제공이 제2비율인 반면, 단계(b)에서의 센서 출력 신호의 샘플링은 제1비율이며, 상기 제2비율은 제1비율 보다 작은 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  9. 제8항에 있어서, 제1비율은 제2비율의 정수배인 것을 특징으로 하는 센서 동 작 입증 방법.
  10. 제7항에 있어서, 테스트 신호를 제공하는 주기는 센서 출력 신호의 샘플링 주기 보다 큰 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  11. 제10항에 있어서, 테스트 신호를 제공하는 주기는 주기적 센서 출력 신호의 샘플링 주기의 정수배인 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  12. 제10항에 있어서, 출력 테스트 신호는 단계(e)에서 테스트 신호와 비교되는 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  13. 제10항에 있어서, 단계(e)에서 출력 테스트 신호는 테스트 신호와 비교되며, 이러한 두개의 신호 사이의 편차는 임계값과 비교되는 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
  14. 제13항에 있어서, 단계(e)에 이어 폴트 플래그를 세팅하는 단계를 부가로 포함하며, 두개의 신호 사이의 편차는 임계값 보다 작은 것을 특징으로 하는 센서 동작 입증 방법.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010017431A2 (en) * 2008-08-08 2010-02-11 Trw Braking Electronics Fail safe self test for motion sensor modules
WO2013074497A1 (en) * 2011-11-17 2013-05-23 Kelsey-Hayes Company Fail safe test for a bandwidth check on inertial sensing components

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006011500A1 (de) * 2006-03-14 2007-09-20 Abb Patent Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Steuerungssystems eines verfahrenstechnischen Prozesses
US7841967B1 (en) 2006-04-26 2010-11-30 Dp Technologies, Inc. Method and apparatus for providing fitness coaching using a mobile device
US8902154B1 (en) 2006-07-11 2014-12-02 Dp Technologies, Inc. Method and apparatus for utilizing motion user interface
US7653508B1 (en) 2006-12-22 2010-01-26 Dp Technologies, Inc. Human activity monitoring device
US8620353B1 (en) 2007-01-26 2013-12-31 Dp Technologies, Inc. Automatic sharing and publication of multimedia from a mobile device
US8949070B1 (en) 2007-02-08 2015-02-03 Dp Technologies, Inc. Human activity monitoring device with activity identification
US7753861B1 (en) 2007-04-04 2010-07-13 Dp Technologies, Inc. Chest strap having human activity monitoring device
US8555282B1 (en) 2007-07-27 2013-10-08 Dp Technologies, Inc. Optimizing preemptive operating system with motion sensing
US20090201375A1 (en) * 2008-02-08 2009-08-13 Kelsey-Hayes Company Fail safe test for motion sensors
US7996162B1 (en) * 2008-03-28 2011-08-09 Kelsey-Hayes Company Detection of shorted output pins
US8285344B2 (en) 2008-05-21 2012-10-09 DP Technlogies, Inc. Method and apparatus for adjusting audio for a user environment
US8678925B1 (en) 2008-06-11 2014-03-25 Dp Technologies, Inc. Method and apparatus to provide a dice application
US8996332B2 (en) 2008-06-24 2015-03-31 Dp Technologies, Inc. Program setting adjustments based on activity identification
US8872646B2 (en) * 2008-10-08 2014-10-28 Dp Technologies, Inc. Method and system for waking up a device due to motion
US20100122565A1 (en) * 2008-11-15 2010-05-20 Freescale Semiconductor, Inc. Continuous selftest for inertial sensors at 0 hz
US9529437B2 (en) 2009-05-26 2016-12-27 Dp Technologies, Inc. Method and apparatus for a motion state aware device
EP2369301B1 (de) * 2010-03-23 2014-04-30 Micronas GmbH Sensorbaustein und Verfahren zur Funktionsüberwachung eines solchen
US8457835B2 (en) * 2011-04-08 2013-06-04 General Electric Company System and method for use in evaluating an operation of a combustion machine
JP5270775B1 (ja) * 2012-03-09 2013-08-21 トヨタ自動車株式会社 電動車両および電動車両の制御方法
US9846191B2 (en) * 2013-09-09 2017-12-19 Infineon Technologies Ag Systems and methods for internal and external error detection in sensor output interfaces
JP5660236B1 (ja) * 2014-02-27 2015-01-28 オムロン株式会社 電磁継電器の異常検出方法、電磁継電器の異常検出回路、及び、異常検出システム
US20180143240A1 (en) * 2015-05-28 2018-05-24 Sikorsky Aircraft Corporation Systems and methods for assessing condition of a sensor
DE102016105016B4 (de) * 2016-03-17 2024-10-24 Trw Automotive Gmbh Verfahren zur Erkennung eines Ausfalls eines Sensors einer Fahrzeugsicherheitseinrichtung
US10671062B2 (en) * 2017-04-19 2020-06-02 Infineon Technologies Ag Testing a crash sensor device during vehicle operation
US9983032B1 (en) * 2017-06-01 2018-05-29 Nxp Usa, Inc. Sensor device and method for continuous fault monitoring of sensor device
EP3717886A4 (en) 2017-12-01 2021-08-25 3M Innovative Properties Company CAUSAL ANALYSIS FOR POWERTRAIN MANAGEMENT
CN107957545B (zh) * 2017-12-25 2024-09-06 苏州睿艾迪汽车科技有限公司 Fct探针测试仪器
CN107976622B (zh) * 2017-12-25 2024-07-09 姜俊杰 Fct测试器
US10790844B2 (en) * 2018-06-21 2020-09-29 Lear Corporation Sensor measurement verification in quasi real-time
US11275127B2 (en) * 2019-12-16 2022-03-15 Allegro Microsystems, Llc Data converter false saturation detector

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0579838B1 (en) * 1992-01-08 1998-09-09 Ikegami Tsushinki Co., Ltd. Solid-state imaging device and solid-state imaging element used therefor
US5621167A (en) * 1995-06-30 1997-04-15 General Motors Corporation Exhaust gas recirculation system diagnostic
DE19739903A1 (de) * 1997-09-11 1999-04-01 Bosch Gmbh Robert Sensorvorrichtung
US6434456B1 (en) * 2000-09-07 2002-08-13 Kelsey-Hayes Company High reliability pressure sensor
US6651205B2 (en) * 2001-02-02 2003-11-18 Advantest Corp. Test pattern conversion apparatus and conversion method
US6792792B2 (en) * 2001-06-04 2004-09-21 Kelsey-Hayes Company Diagnostic test for a resonant micro electro mechanical system
US6934665B2 (en) * 2003-10-22 2005-08-23 Motorola, Inc. Electronic sensor with signal conditioning
US7337048B2 (en) * 2004-01-29 2008-02-26 Denso Corporation Vehicular occupant protection system
JP4306475B2 (ja) * 2004-01-29 2009-08-05 株式会社デンソー 車両用乗員保護システム
US7243278B2 (en) * 2005-09-14 2007-07-10 Credence Systems Corporation Integrated circuit tester with software-scaleable channels

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010017431A2 (en) * 2008-08-08 2010-02-11 Trw Braking Electronics Fail safe self test for motion sensor modules
WO2010017431A3 (en) * 2008-08-08 2010-04-29 Kelsey-Hayes Company Fail safe self test for motion sensor modules
WO2013074497A1 (en) * 2011-11-17 2013-05-23 Kelsey-Hayes Company Fail safe test for a bandwidth check on inertial sensing components

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