KR20080033564A

KR20080033564A - 표시장치용 검사 장치 및 이의 검사 방법

Info

Publication number: KR20080033564A
Application number: KR1020060099117A
Authority: KR
Inventors: 오세춘; 유종근
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2006-10-12
Filing date: 2006-10-12
Publication date: 2008-04-17
Also published as: US20080088337A1

Abstract

연성회로필름과 표시 패널의 연결 상태를 검사할 수 있는 표시장치용 검사 장치 및 이의 검사 방법이 개시되어 있다. 표시장치용 검사 장치는 검사 기판 및 전원공급장치를 포함한다. 검사 기판은 표시 장치의 표시 패널에 연결된 연성회로필름과 전기적으로 연결되어 표시 패널과 연성회로필름의 연결 상태를 검사하는 검사 신호들을 출력한다. 전원공급장치는 검사 기판에 전기적으로 연결되어 표시 패널에 구동 전원을 공급한다. 따라서, 연성회로필름에 검사 기판을 연결함으로써, 검사 장치의 제작 비용을 절감하면서 연성회로필름과 표기 패널의 연결 상태를 검사할 수 있다.

Description

표시장치용 검사 장치 및 이의 검사 방법{INSPECTION DEVICE FOR DISPLAY DEVICE AND INSPECTION METHOD OF THE SAME}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치용 검사 장치를 나타낸 평면도이다.

도 2는 도 1의 Ⅰ-Ⅰ'선을 따라 절단한 단면도이다.

도 3은 도 1의 A부분의 확대도이다.

도 4는 도 1의 B부분의 확대도이다.

도 5는 도 1에 도시된 검사 장치의 일 실시예에 따른 구동을 개략적으로 나타낸 구성도이다.

도 6은 도 5에 도시된 제1 및 제2 논리회로부를 구체적으로 나타낸 도면이다.

도 7은 도 5에 도시된 검사 장치의 신호들을 나타낸 신호도이다.

도 8은 도 1에 도시된 검사 장치의 다른 실시예에 따른 구동을 개략적으로 나타낸 구성도이다.

도 9는 도 8에 도시된 검사 장치의 신호들을 나타낸 신호도이다.

도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 방법에 대한 검사 과정을 나타낸 순서도이다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

10 : 표시 장치 20 : 표시 패널

30 : 연성회로필름 DL2n-1 : 제1 구동배선

DL2n : 제2 구동배선 40 : 구동 칩

CP2n-1 : 제1 연결핀 CP2n : 제2 연결핀

42 : 신호 검사부 45 : 제1 논리회로부

46 : 제2 논리회로부 100 : 검사 장치

200 : 검사 챔버 300 : 검사 기판

IL2n-1 : 제1 검사배선 IL2n : 제2 검사배선

IS : 검사 신호 IS2n-1 : 제1 검사 신호

IS2n : 제2 검사 신호 320 : 논리소자

330 : 인버터 소자 400 : 전원공급장치

500 : 커넥터

본 발명은 표시장치용 검사 장치 및 이의 검사 방법에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 연성회로필름과 표시 패널의 연결 상태를 검사할 수 있는 표시장치용 검사 장치 및 이의 검사 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 액정표시장치는 영상을 표시하기 위하여 액정표시패널을 갖는 다. 액정표시패널은 두 개의 제1 기판 및 제2 기판 사이에 액정층이 형성된 구조를 갖는다. 여기서, 제1 기판의 내면에는 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하, TFT)가 형성되고, 제2 기판의 내면에는 컬러필터가 형성된다.

TFT와 컬러필터에는 구동을 위하여 전기적인 구동 신호가 필요하다. 즉, 액정표시패널은 구동 신호를 제어하기 위하여 제1 기판 상에 배치된 구동 칩 및 구동 칩에 구동 신호를 외부로부터 전송하기 위하여 제1 기판의 단부에 연결된 연성회로필름을 포함한다. 여기서, 연성회로필름에는 다수의 구동배선들이 형성되며, 구동 칩에도 이에 대응하여 다수의 입력핀들이 형성된다.

이러한 액정표시패널은 특정 조건하에서 일정 시간 동안 정상적으로 구동하는지 확인하기 위하여 에이징 테스트를 실시한다. 에이징 테스트는 일반적으로, 구동 칩에 에이징 모드를 내장하여 연성회로필름에 추가적으로 형성된 전원연결배선을 통해 구동 전원만 전송시킴으로써, 진행된다.

그러나, 이와 같은 에이징 테스트는 연성회로필름의 전원연결배선을 제외한 다른 구동배선들에 대해서 검사가 불가하므로, 연성회로필름과 액정표시패널의 연결에 대한 신뢰성이 결여되는 문제점이 있다.

따라서, 본 발명은 이와 같은 문제점을 감안한 것으로써, 본 발명은 연성회로필름에 검사 기판을 연결하여 연성회로필름과 표시 패널의 연결 상태를 검사할 수 있는 표시장치용 검사 장치 및 이의 검사 방법을 제공한다.

상술한 본 발명의 일 특징에 따른 표시장치용 검사 장치는 검사 기판 및 전원공급장치를 포함한다. 상기 검사 기판은 표시 장치의 표시 패널에 연결된 연성회로필름과 전기적으로 연결되어 상기 표시 패널과 상기 연성회로필름의 연결 상태를 검사하는 검사 신호들을 출력한다. 상기 전원공급장치는 상기 검사 기판에 전기적으로 연결되어 상기 표시 패널에 구동 전원을 공급한다.

상기 검사 기판은 상기 표시 패널에서 출력되는 극성 반전 신호에 따라 프레임마다 하이(high) 신호와 로우(low) 신호가 반복적으로 반전되는 상기 검사 신호들 중 하나인 제1 검사 신호를 출력하는 논리소자, 상기 논리소자로부터 출력되는 상기 제1 검사 신호를 반전시켜 상기 검사 신호들 중 다른 하나인 제2 검사 신호를 출력하는 인버터 소자, 상기 연성회로필름의 홀수번째 제1 구동배선들에 상기 논리소자로부터의 상기 제1 검사 신호를 전송하는 제1 검사배선들, 및 상기 연성회로필름의 짝수번째 제2 구동배선들에 상기 인버터 소자로부터의 상기 제2 검사 신호를 전송하는 제2 검사배선들을 포함한다.

여기서, 상기 논리소자는 상기 극성 반전 신호가 양극일 때, 하이 신호를 출력하고, 음극일 때, 로우 신호를 출력하는 데이터 플립플롭을 포함한다.

한편, 상기 표시 장치는 상기 표시 패널에 연결되며, 상기 제1 및 제2 구동배선들로부터 전송되는 상기 제1 및 제2 검사 신호를 검사하는 신호 검사부를 갖는 구동 칩을 더 포함한다.

상기 신호 검사부는 상기 제1 및 제2 검사 신호 중 어느 하나로부터 연이은 제1 및 제2 프레임에서 전송되는 검사 신호들이 서로 같은 경우와 다를 경우에 각 각 하이 신호와 로우 신호의 제1 결과값을 출력하는 제1 논리회로부, 및 상기 제1 논리회로부와 연결되며, 상기 제1 결과값들이 모두 하이 신호일 경우와 적어도 하나가 로우 신호일 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제2 결과값을 출력하는 제2 논리회로부를 포함한다.

이에, 상기 신호 검사부는 상기 제1 프레임에서의 상기 제1 및 제2 검사 신호 중 어느 하나를 상기 제2 프레임까지 지연시키는 딜레이부를 더 포함한다.

또한, 상기 제1 논리회로부는 EXCLUSIVE OR 회로를 포함하고, 상기 제2 논리회로부는 OR 회로를 포함할 수 있다.

반면에, 상기 신호 검사부는 인접한 상기 제1 및 제2 검사 신호가 서로 다를 경우와 같은 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제1 결과값을 출력하는 제1 논리회로부, 및 상기 제1 논리회로부와 연결되며, 상기 제1 결과값들이 모두 하이 신호일 경우와 적어도 하나가 로우 신호일 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제2 결과값을 출력하는 제2 논리회로부를 포함한다.

한편, 상기 구동 칩은 상기 구동 전원에 의해 상기 표시 장치의 에이징 검사를 실시하는 에이징 모드가 내장된 패널 구동부를 더 포함할 수 있다. 이에, 상기 검사 장치는 상기 표시 장치를 수납하여 밀폐 공간을 제공하는 검사 챔버를 더 포함할 수 있다.

상술한 본 발명의 일 특징에 따른 검사 방법은 먼저, 전원공급장치로부터의 구동 전원을 통해 표시 장치의 표시 패널을 구동하여 극성 반전 신호를 출력한다. 이어, 상기 극성 반전 신호를 검사 기판으로 전송한다. 이어, 상기 검사 기판에서 제1 검사 신호 및 상기 제1 검사 신호를 반전시킨 제2 검사 신호를 출력한다. 이어, 상기 제1 검사 신호를 상기 검사 기판의 제1 검사배선들을 통해 연성회로필름의 홀수번째인 제1 구동배선들로 전송하고, 상기 제2 검사 신호를 상기 검사 기판의 제2 검사배선들을 통해 상기 연성회로필름의 짝수번째인 제2 구동배선들로 전송한다. 이어, 상기 제1 및 제2 구동배선들에 전송된 상기 제1 및 제2 검사 신호를 상기 표시 패널에 연결된 구동 칩의 신호 검사부로 전송한다. 마지막으로, 상기 신호 검사부에서 상기 제1 및 제2 검사 신호를 검사하여 상기 표시 패널과 상기 연성회로필름의 연결 상태의 양부를 판정한다.

이러한 표시장치용 검사 장치 및 이의 검사 방법에 따르면, 연성회로필름에 검사 기판을 전기적으로 연결하고, 표시 장치의 구동 칩에 연성회로필름의 제1 및 제2 구동배선들을 검사하는 신호 검사부를 내장함으로써, 연성회로필름과 표시 패널의 연결 상태를 검사할 수 있다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세하게 설명하고자 한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치용 검사 장치를 나타낸 평면도이며, 도 2는 도 1의 Ⅰ-Ⅰ'선을 따라 절단한 단면도이다.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치용 검사 장치(100)는 검사 챔버(200), 검사 기판(300) 및 전원공급장치(400)를 포함한다.

검사 챔버(200)는 표시 장치(10)를 수납하여 밀폐 공간을 제공한다. 즉, 검사 챔버(200)는 표시 장치(10)를 수납하는 수납부(210) 및 수납부(210)를 커버하는 커버부(220)를 포함한다. 여기서, 수납부(210)와 커버부(220)가 접하는 위치에는 별도의 실링부가 형성될 수 있다. 한편, 검사 챔버(200)에는 다수의 표시 장치(10)들이 동시에 수납될 수 있다.

이러한 검사 챔버(200)를 통해 표시 장치(10)는 특정 조건하에서의 안정성이 테스트된다. 이러한 테스트를 일반적으로, 에이징(aging) 테스트라고 한다. 구체적으로, 에이징 테스트는 약 60°인 특정 조건에서 약 8시간 안정하게 구동되는 지 검사하는 것이다.

검사 기판(300)은 표시 장치(10)의 표시 패널(20)에 연결된 연성회로필름(30)과 전기적으로 연결되어 표시 패널(20)과 연성회로필름(30)의 연결 상태를 검사하는 검사 신호들을 출력한다. 여기서, 표시 패널(20)은 기본적으로 두 개의 제1 및 제2 기판(21, 22)과 이들 사이에 개재된 액정층(미도시)으로 이루어진다.

제1 기판(21)은 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 TFT)가 매트릭스 형태로 배열된 TFT 기판이고, 제2 기판(22)은 컬러필터가 박막 형태로 형성된 컬러필터 기판이다. 한편, 표시 패널(20)은 자체적으로, 광을 발생시킬 수 없으므로, 일면에 백라이트 유닛이 배치될 수 있다.

제1 기판(21)은 제2 기판(22)보다 일측이 연장된 연장부(23)를 포함한다. 이에, 연성회로필름(30)은 연장부(23)의 단부에 전기적으로 연결된다. 한편, 검사 기판(300)은 연성회로필름(30)과 커넥터(500)에 의해 전기적으로 연결된다.

구체적으로, 커넥터(500)의 제1 측(510)에는 연성회로필름(30)이 연결되고, 제1 측(510)에 반대되는 제2 측(520)에는 검사 기판(300)이 연결된다. 커넥 터(500)는 검사 챔버(200) 내에 고정될 수 있다.

커넥터(500)는 표시 장치(10)의 크기에 탄력적으로 대응하기 위하여 연성회로필름(30) 및 검사 기판(300)의 폭보다 상대적으로 넓은 폭을 갖는다. 이때, 커넥터(500)에는 여러 종류의 연성회로필름(30) 및 검사 기판(300)의 폭을 가이드하는 가이드핀이 형성될 수 있다. 또한, 커넥터(500)는 연성회로필름(30) 및 검사 기판(300)과의 연결 상태를 확인하기 위하여 투명한 재질로 이루어질 수 있다.

또한, 검사 기판(300)은 연성회로필름(30)과 달리, 일괄적으로 사용할 수 있으므로, 항상 커넥터(500)에 고정될 수도 있다. 이때, 검사 기판(300)의 폭은 다양한 종류의 연성회로필름(30) 중 가장 넓은 폭에 대응되는 것이 바람직하다. 이럴 경우, 검사하고자하는 표시 장치(10)만 커넥터(500)에 연결하면 되므로, 검사 작업이 용이해질 수 있다.

표시 장치(10)는 제1 기판(21)의 연장부(23) 상에 구동 칩(40)을 더 포함한다. 구동 칩(40)은 실질적으로 영상이 표시되도록 하는 구동 신호를 표시 패널(20)로 출력한다. 구동 신호는 연성회로필름(30)을 통해 인가된다. 즉, 구동 칩(40)은 연성회로필름(30)과 전기적으로 연결된다. 이에, 연장부(23)는 영상이 표시되지 않는 부분이므로, 그 면적을 최소화시키는 것이 바람직하다.

전원공급장치(400)는 검사 기판(300)에 전기적으로 연결되어 표시 패널(20)에 구동 전원을 공급한다. 구체적으로, 구동 전원은 검사 기판(300)과 커넥터(500)에 의해 연결된 연성회로필름(30)과 연성회로필름(30)에 연결된 구동 칩(40)을 통해 표시 패널(20)로 전송된다. 이러기 위하여, 검사 기판(300)에는 전 원공급장치(400)와 연결되는 제1 전원연결배선(PCL1)들이 형성되고, 연성회로필름(30)에는 제1 전원연결배선(PCL1)들과 연결되는 제2 전원연결배선(PCL2)들이 형성된다.

전원공급장치(400)는 통상적으로, 검사 챔버(200)의 외부에 배치된다. 전원공급장치(400)는 전원공급배선(PSL)들을 통해 검사 기판(300)에 연결된다. 이때, 전원공급배선(PSL)들은 검사 챔버(200)의 수납부(210) 또는 커버부(220)에서 분리된다.

즉, 수납부(210) 또는 커버부(220)에 별도의 전원 소켓(230)을 형성하여 분리된 전원공급배선(PSL)들을 연결시킨다. 이는, 전원공급장치(400)의 불량으로 인한 교체 작업을 용이하게 하기 위해서이다. 이를 통해, 검사 챔버(200)의 실링력을 보장할 수도 있다. 이와 달리, 전원공급배선(PSL)들은 직접적으로, 검사 기판(300)에 연결될 수도 있다.

한편, 구동 칩(40)에는 에이징 모드가 내장된 패널 구동부(41) 및 신호 검사부(42)가 내장된다. 에이징 모드는 전원공급장치(400)로부터의 구동 전원에 의해 표시 장치(10)의 에이징을 테스트하기 위하여 설계된다. 여기서, 에이징 모드에 구동 전원만 전송되는 이유는 실질적으로, 에이징 테스트 시, 특정 영상이 표시될 필요성이 없기 때문이다. 에이징 모드에는 기본적인 구동 패턴 및 구동 시퀀스가 포함되어 설계된다.

신호 검사부(42)는 검사 기판(300)으로부터 출력되는 검사 신호들을 검사하여 표시 패널(20)과 연성회로필름(30)의 연결 상태의 양부를 판정하는 역할을 한 다. 구체적으로, 신호 검사부(42)는 검사 신호들 중 적어도 두 개를 비교하여 검사한다.

이와 같이, 본 검사 장치(100)는 기본적인 에이징 테스트를 실시함에 있어서, 추가적으로, 연성회로필름(30)에 검사 신호들을 출력하는 검사 기판(300)을 전기적으로 연결하고, 구동 칩(40)에 상기의 검사 신호들을 검사할 수 있는 신호 검사부(42)를 내장시킴으로써, 표시 패널(20)과 연성회로필름(30)의 연결 상태를 검사할 수 있다.

이로써, 본 검사 장치(100)는 에이징 테스트에 대한 신뢰성을 확보할 수 있다. 뿐만 아니라, 본 검사 장치(100)는 커넥터(500)와 전원공급장치(400)만 추가 설치하면 되므로, 그 구조 또한, 간단한 특징을 갖는다. 이로써, 전체적인 제작 비용도 감소시킬 수 있다.

도 3은 도 1의 A부분의 확대도이며, 도 4는 도 1의 B부분의 확대도이다.

도 1, 도 3 및 도 4를 참조하면, 검사 기판(300)은 절연 기판(310) 상에 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들을 더 포함하고, 연성회로필름(30)은 절연 필름(32) 상에 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들에 각각 대응되는 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들을 더 포함한다.

제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들에는 실질적으로, 검사 기판(300)에서 출력된 검사 신호들이 전송된다. 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들은 검사 기판(300) 상에서 단부로 서로 평행하게 번갈아가면서 형성된다.

즉, 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들은 상기의 단부에서 보았을 때, 제 1 검사배선(IL2n-1)들은 홀수번째 형성되고, 제2 검사배선(IL2n)들은 짝수번째 형성된다. 즉, 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들은 각각 연성회로필름(30)의 홀수번째와 짝수번째에 해당된다.

이러한 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들을 구분하는 이유는 각각에 전송되는 검사 신호들이 서로 반전되기 때문이며, 이에 대해서는 이하 도 7을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.

커넥터(500)는 검사 챔버(200)에 고정되는 연결 몸체(550) 및 연결 몸체(550) 내에 형성되어 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들과 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들을 전기적으로 연결하는 연결 소켓(560)을 포함한다. 연결 소켓(560)은 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들과 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들을 보다 안정적으로 홀딩하기 위하여 소정의 탄성력을 가지는 것이 바람직하다.

이와 달리, 커넥터(500)는 연결 소켓(560)을 제거하여 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들과 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들을 홀딩시키는 역할만 할 수도 있다. 이때, 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들과 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들은 일부 오버랩된 영역을 포함하는 것이 바람직하다. 여기서, 상기의 오버랩된 영역에 대응해서 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들과 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들 중 어느 하나는 절연 기판(310) 또는 절연 필름(32)의 반대면으로 연장될 필요성이 있다.

따라서, 본 발명의 검사 장치(100)는 커넥터(500)를 이용하여 검사 기 판(300)에 형성된 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들과 연성회로필름(30)에 형성된 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들을 간단하게 연결시킬 수 있다.

구동 칩(40)은 연성회로필름(30)의 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들과 전기적으로 각각 연결되는 제1 및 제2 연결핀(CP2n-1, CP2n)들을 포함한다. 여기서, 제1 및 제2 연결핀(CP2n-1, CP2n)들은 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들과 직접적으로 연결되는 것이 아니고, 연장부(23) 상에 형성된 제1 및 제2 기판배선(SL2n-1, SL2n)들을 통해 간접적으로 연결된다.

제1 및 제2 기판배선(SL2n-1, SL2n)들은 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들과 이방성 도전 필름(Anisotrofic Conductive Film; ACF)에 의해 전기적으로 연결될 수 있다. 마찬가지로, 제1 및 제2 연결핀(CP2n-1, CP2n)들도 제1 및 제2 기판배선(SL2n-1, SL2n)들과 이방성 도전 필름에 의해 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 및 제2 연결핀(CP2n-1, CP2n)들은 구동 칩(40)에 내장된 신호 검사부(42)와 전기적으로 연결된다.

이로써, 검사 기판(300)에서 출력된 검사 신호들이 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들, 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들, 제1 및 제2 기판배선(SL2n-1, SL2n)들 및 제1 및 제2 연결핀(CP2n-1, CP2n)들을 통해 최종적으로, 구동 칩(40)의 신호 검사부(42)로 전송되도록 할 수 있다.

도 5는 도 1에 도시된 검사 장치의 일 실시예에 따른 구동을 개략적으로 나타낸 구성도이고, 도 6은 도 5에 도시된 제1 및 제2 논리회로부를 구체적으로 나타낸 도면이며, 도 7은 도 5에 도시된 검사 장치의 신호들을 나타낸 신호도이다.

도 5, 도 6 및 도 7을 참조하면, 검사 기판(300)은 절연 기판(310) 상에 형성된 논리소자(320) 및 인버터 소자(330)를 포함한다.

논리소자(320)는 표시 패널(20)에서 출력되는 극성 반전 신호(PS)로부터 검사 신호(IS)들을 출력한다. 여기서, 극성 반전 신호(PS)는 일반적으로, 액정층의 액정 분자가 열화되는 것을 방지하기 위하여 프레임(FR1, FR2,...FRn)마다 기준 전압(0V)을 중심으로 양극과 음극이 반복적으로 반전, 즉 토글링(toggling)되는 신호이다.

이에, 논리소자(320)에서는 극성 반전 신호(PS)가 기준보다 높은 양극을 나타낼 때, 하이(High) 신호(1)를 출력하고, 기준보다 낮은 음극을 나타낼 때에는 로우(low) 신호(0)를 출력한다.

하이 신호(1)와 로우 신호(0)는 극성 반전 신호(PS)가 반복적으로 반전됨에 따라, 이들과 같이 동시에 반전된다. 즉, 논리소자(320)에서는 토글링되는 검사 신호(IS)들이 출력된다. 논리소자(320)는 일 예로, 데이터 플립플롭(Data Flip Flop)을 포함할 수 있다.

논리소자(320)는 제1 검사배선(IL2n-1)들과 직접적으로 연결된다. 이에 따라, 제1 검사배선(IL2n-1)들에는 검사 신호(IS)가 그대로 전송된다. 즉, 제1 검사배선(IL2n-1)에는 극성 반전 신호가 양극을 나타낼 때, 논리소자(320)에서 출력된 하이 신호(1)가 그대로 출력된다.

인버터 소자(330)는 논리소자(320)와 제2 검사배선(IL2n)들 사이에 배치된다. 인버터 소자(330)는 논리소자(320)로부터 출력된 검사 신호(IS)를 반전시키는 역할을 한다. 결과적으로, 제2 검사배선(IL2n)에서는 극성 반전 신호가 양극을 나타낼 때, 논리소자(320)에서 출력된 하이 신호(1)가 반전되어 로우 신호(0)가 출력된다.

이에 따라, 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들에는 동일한 프레임에 대응하여 서로 반전된 검사 신호(IS)들이 전송된다. 또한, 검사 신호(IS)들은 각각의 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들에 프레임(FR1, FR2,...,FRn)마다 토글링되어 전송된다.

이는, 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들과 연결되는 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들에 단락 불량이 발생되는 것을 확인하기 위해서이다. 만약에, 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들에 동일한 검사 신호(IS)들이 전송된다면, 단락 불량이 발생되어도 단락된 부분을 통해 모두 같은 검사 신호(IS)가 전송된다. 결과적으로, 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들의 단락 여부를 확인할 수 없다.

이하, 설명의 편의를 위하여 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들에 전송되는 검사 신호(IS)들을 각각 제1 검사 신호(IS2n-1)들과 제2 검사 신호(IS2n)들로 구분하여 설명하기로 한다.

제1 검사 신호(IS2n-1)들은 제1 검사배선(IL2n-1)들, 제1 구동배선(DL2n-1)들 및 제1 기판배선(SL2n-1)들 및 제1 연결핀(CP2n-1)을 통해 구동 칩(40)에 내장된 신호 검사부(42)로 전송된다. 신호 검사부(42)는 제1 논리회로부(45) 및 제2 논리회로부(46)를 포함한다.

제1 논리회로부(45)는 두 개의 입력 신호들에 대하여 서로 다를 경우, 하이 신호(1)를 출력하고, 서로 같은 경우, 로우 신호(0)의 1차 제1 결과값(L2n-1)들을 출력하는 특징을 갖는다. 제1 논리회로부(45)는 일 예로, EXCLUSIVE OR 회로를 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 두 개의 입력 신호들은 제1 검사 신호(IS2n-1)들 중 연이은 제1 및 제2 프레임(FRn-1, FRn)으로부터 발생된 것을 의미한다.

구체적으로, 신호 검사부(42)는 제1 연결핀(CP2n-1)들로부터 병렬로 연결되어 제1 프레임(FRn-1)에서의 제1 검사 신호(IS2n-1)를 제2 프레임(FRn)까지 지연시키는 딜레이부(47)를 포함한다. 여기서, 지연된 제1 검사 신호(IS2n-1)를 원 신호와 구분하기 위하여 제1 지연 검사 신호(DIS2n-1)로 표기한다. 딜레이부(47)는 일 예로, 메모리 래치(memory latch)를 포함할 수 있다.

이와 같이, 제1 논리회로부(45)에서는 제1 검사 신호(IS2n-1)와 제1 지연 검사 신호(DIS2n-1)가 입력되어 하이 신호(1) 또는 로우 신호(0)의 1차 제1 결과값(L2n-1)들이 출력된다.

구체적으로, 제1 논리회로부(45)에 하이 신호(1)와 로우 신호(0)가 정상적으로 토글링되는 제1 검사 신호(IS2n-1) 및 제1 지연 검사 신호(DIS2n-1)가 입력되면, 하이 신호(1)의 1차 제1 결과값(L2n-1)이 출력된다.

반면에, 제1 검사 신호(IS2n-1)가 전송되는 제1 검사배선(IL2n-1)들, 제1 구동배선(DL2n-1)들, 제1 기판배선(SL2n-1)들 및 제1 연결핀(CP2n-1)에 단선과 같은 불량이 발생된다면, 정상적으로, 토글링되지 못하여 로우 신호(0)의 1차 제1 결과값(L2n-1)이 출력된다. 이는, 제1 검사배선(IL2n-1)들, 제1 구동배선(DL2n-1)들, 제1 기판배선(SL2n-1)들 및 제1 연결핀(CP2n-1)에 단선과 같은 불량이 발생될 경우, 제1 검사 신호(IS2n-1)들은 프레임(FR1, FR2,...,FRn)에 관계없이 항상 로우 신호(0)가 전송되기 때문이다.

따라서, 제1 검사 신호(IS2n-1)들이 프레임(FR1, FR2,...,FRn)마다 토글링되는 상태를 검사하여 제1 검사배선(IL2n-1)들, 제1 구동배선(DL2n-1)들, 제1 기판배선(SL2n-1)들 및 제1 연결핀(CP2n-1)들의 연결 상태를 검사할 수 있다.

제2 검사 신호(IS2n)들은 제2 검사배선(IL2n)들, 제2 구동배선(DL2n)들 및 제2 기판배선(SL2n)들 및 제2 연결핀(CP2n)을 통해 구동 칩(40)에 내장된 신호 검사부(42)로 전송된다. 이러한 제2 검사 신호(IS2n)들을 신호 검사부(42)에서 검사하는 방식은 제1 검사 신호(IS2n-1)들과 동일한 프레임(FR1, FR2,...,FRn)에서 반전된다는 것을 제외하고는 동일하므로, 중복되는 상세한 설명은 생략하기로 한다. 즉, 제2 검사 신호(IS2n)를 제1 논리회로부(45)에서 검사하면, 2차 제1 결과값(L2n)이 출력된다.

제2 논리회로부(46)는 제1 논리회로부(45)와 연결된다. 제2 논리회로부(46)는 1차 및 2차 제1 결과값(L2n-1, L2n)들을 비교하여 하이 신호(1) 또는 로우 신호(0)의 제2 결과값(LR)을 출력한다. 구체적으로, 제2 논리회로부(46)는 1차 및 2차 제1 결과값(L2n-1, L2n)들이 모두 하이 신호(1)일 때, 하이 신호(1)의 제2 결과값(LR)을 출력한다. 반면에, 제2 논리회로부(46)는 1차 및 2차 제1 결과값(L2n-1, L2n)들 중 적어도 하나가 로우 신호(0)일 때, 로우 신호(0)의 제2 결과값(LR)을 출력한다.

따라서, 제2 논리회로부(46)는 연성회로필름(30)과 표시 패널(20)의 연결에서 어느 한 부분이라도 단선과 같은 불량이 발생된다면, 로우 신호(0)의 제2 결과값(LR)을 출력하여 해당 제품이 불량처리되도록 할 수 있다.

예를 들어, 제2 결과값(LR)이 패널 구동부(41)에 전송되어 패널 구동부(41)를 하이 신호(1) 또는 로우 신호(0)에 따라 온, 오프시킬 수 있다. 즉, 제2 결과값(LR)이 하이 신호(1)일 경우, 표시 패널(20)에서 영상이 표시되도록 하고, 로우 신호(0)일 경우, 영상이 차단되도록 한다. 다시 말해, 검사자는 표시 패널(20)의 화면이 꺼짐으로써, 쉽게 불량 여부를 확인할 수 있다.

이와 같이, 검사 기판(300)에 형성된 논리소자(320)와 인버터 소자(330)를 이용하여 제1 및 제2 검사 신호(IS2n-1, IS2n)를 출력하고, 이를 제1 및 제2 논리회로부(45, 46)에 의해 간단하게 비교함으로써, 연성회로필름(30)의 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들이 표시 패널(20)과 연결된 상태를 검사할 수 있다.

도 8은 도 1에 도시된 검사 장치의 다른 실시예에 따른 구동을 개략적으로 나타낸 구성도이며, 도 9는 도 8에 도시된 검사 장치의 신호들을 나타낸 신호도이다.

본 실시예에서는, 구동 칩의 신호 검사부에 형성된 제1 논리회로부에 입력되는 두 개의 검사 신호를 제외하고는 도 5, 도 6 및 도 7에 도시된 구조와 동일하므로, 동일한 참조 번호를 사용하며, 그 중복되는 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 1, 도 8 및 도 9를 참조하면, 표시 장치(10)의 구동 칩(40)에 내장된 신호 검사부(42)의 제1 논리회로부(45)에는 인접한 제1 검사배선(IL2n-1)과 제2 검사 배선(IL2n)으로부터 전송되는 제1 검사 신호(IS2n-1)와 제2 검사 신호(IS2n)가 전송된다.

제1 검사 신호(IS2n-1)와 제2 검사 신호(IS2n)는 검사 기판(300)에 형성된 인버터 소자(330)에 의해 구분된다. 이에 따라, 제1 검사 신호(IS2n-1)와 제2 검사 신호(IS2n)는 동일 프레임(FR1, FR2,...,FRn)에서 서로 토글링되는 특징을 갖는다.

즉, 제1 검사 신호(IS2n-1)와 제2 검사 신호(IS2n)가 정상적으로, 전송될 경우에는 항상 서로 다르므로, 제1 논리회로부(45)에서는 하이 신호(1)의 제1 결과값(L2n-1)들이 출력된다.

반면에, 제1 검사 신호(IS2n-1)와 제2 검사 신호(IS2n)가 전송되는 제1 및 제2 검사배선(IL2n-1, IL2n)들, 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들, 제1 및 제2 기판배선(SL2n-1, SL2n)들, 및 제1 및 제2 연결핀(CP2n-1, CP2n)들 중 적어도 하나에 단선과 같은 불량이 발생될 경우에는 상기 두 신호가 서로 같으므로, 제1 논리회로부(45)에서는 로우 신호(0)의 제1 결과값(L2n-1)들이 출력된다. 이는, 제1 검사 신호(IS2n-1)와 제2 검사 신호(IS2n) 중 하나에서 지속적으로 로우 신호(0)가 출력되기 때문이다.

여기서, 제1 결과값(L2n-1)에서 로우 신호(0)가 출력되는 시점은 불량이 발생된 프레임(FR1, FR2,...,FRn)이거나, 그 다음 프레임(FR1, FR2,...,FRn)일 수 있다. 이는, 제1 검사 신호(IS2n-1)와 제2 검사 신호(IS2n) 중 어느 하나에서 불량으로 인해 로우 신호(0)가 발생되는 프레임(FR1, FR2,...,FRn)에서 정상 신호가 로 우 신호(0)이기 때문이다. 즉, 그 다음 프레임(FR1, FR2,...,FRn)에서는 정상 신호가 토글링되어 하이 신호(1)로 전환되기 때문에, 자연스럽게 로우 신호(0)의 제1 결과값(L2n-1)들이 출력된다.

제2 논리회로부(46)에서는 제1 결과값(L2n-1)들이 모두 하이 신호(1)일 때, 하이 신호(1)의 제2 결과값(LR)을 출력하고, 제1 결과값(L2n-1)들 중 적어도 하나가 로우 신호(0)일 때에는 로우 신호(0)의 제2 결과값(LR)을 출력한다. 여기서, 제2 결과값(LR)이 하이 신호(1)일 경우에는 양품으로 판정하고, 로우 신호(0)일 경우에는 불량으로 판정한다.

따라서, 인접한 제1 검사배선(IL2n-1)들과 제2 검사배선(IL2n)들에서 전송되는 제1 검사 신호(IS2n-1)와 제2 검사 신호(IS2n)를 동일 프레임(FR1, FR2,...,FRn)에서 토글링 상태를 점검함으로써, 연성회로필름(30)과 표시 패널(20)의 연결 상태를 검사할 수 있다.

도 1, 도 8, 도 9 및 도 10을 참조하면, 먼저, 전원공급장치(400)로부터의 구동 전원을 통해 표시 장치(10)의 표시 패널(20)을 구동하여 극성 반전 신호(PS)를 출력한다(S10). 여기서, 극성 반전 신호(PS)는 프레임(FR1, FR2,...,FRn)마다 기준 전압(0V)을 기준으로 극성이 반전되는 신호이다.

이어, 극성 반전 신호(PS)를 검사 기판(300)으로 전송한다(S20). 즉, 극성 반전 신호(PS)는 검사 기판(300)의 논리소자(320)로 전송된다. 여기서, 논리소 자(320)는 극성 반전 신호(PS)가 기준 전압(0V)보다 높은 양극일 때, 하이 신호(1)를 출력하고, 음극일 때, 로우 신호(0)를 출력한다.

이어, 논리소자(320)에서 극성 반전 신호(PS)를 통해 제1 검사 신호(IS2n-1)를 출력하고, 논리소자(320)와 연결된 인버터 소자(330)에서 제2 검사 신호(IS2n)를 출력한다(S30). 여기서, 제1 및 제2 검사 신호(IS2n-1, IS2n)는 서로 반전된 신호이다.

이어, 제1 검사 신호(IS2n-1)를 검사 기판(300)의 제1 검사배선(IL2n-1)들에 전송하고, 제2 검사 신호(IS2n)를 검사 기판(300)의 제2 검사배선(IL2n)들에 전송한다(S40). 여기서, 제1 검사배선(IL2n-1)들은 연성회로필름(30)의 홀수번째인 제1 구동배선(DL2n-1)들에 연결되고, 제2 검사배선(IS2n)들은 연성회로필름(30)의 짝수번째인 제2 구동배선(DL2n)들에 연결된다. 즉, 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들에 각각 제1 및 제2 검사 신호(IS2n-1, IS2n)가 전송된다(S50).

이어, 제1 및 제2 구동배선(DL2n-1, DL2n)들에 전송된 제1 및 제2 검사 신호(IS2n-1, IS2n)를 표시 패널(20)에 연결된 구동 칩(40)의 제1 및 제2 연결핀(CP2n-1, CP2n)들을 통해 신호 검사부(42)로 전송한다(S60).

마지막으로, 신호 검사부(42)에서 제1 및 제2 검사 신호(IS2n-1, IS2n)를 검사하여 표시 패널(20)과 연성회로필름(30)의 연결 상태의 양부를 판정한다(S70).

구체적으로, 신호 검사부(42)에서는 제1 및 제2 검사 신호(IS2n-1, IS2n) 중 어느 하나로부터 연이은 제1 및 제2 프레임(FRn-1, FRn)에서 전송되는 검사 신호들이 서로 다를 경우와 같은 경우에 각각 하이 신호(1)와 로우 신호(0)의 제1 결과 값(L2n-1)들을 출력하는 과정과 제1 결과값(L2n-1)들이 모두 하이 신호(1)일 경우와 적어도 하나가 로우 신호(0)일 경우에 각각 하이 신호(1)와 로우 신호(0)의 제2 결과값(LR)을 출력하는 과정이 진행된다.

이때, 제2 결과값(LR)이 하이 신호(1)일 경우, 표시 패널(20)과 상기 연성회로필름(30)의 연결이 양호한 것으로 판정하고(S80), 로우 신호(0)일 경우 불량한 것으로 판정한다(S90).

이와 달리, 신호 검사부(42)에서는 제1 및 제2 검사 신호(IS2n-1, IS2n) 중 어느 하나로부터 연이은 제1 및 제2 프레임(FRn-1, FRn)에서 전송되는 검사 신호들을 검사하는 대신에, 인접한 제1 및 제2 검사 신호(IS2n-1, IS2n)를 검사할 수도 있다.

이와 같은 표시장치용 검사 장치 및 이의 검사 방법에 따르면, 본 검사 장치는 기본적인 에이징 테스트에 있어서, 추가적으로, 연성회로필름에 검사 신호를 전송하는 검사 기판을 전기적으로 연결하고, 구동 칩에 검사 신호를 검사할 수 있는 신호 검사부를 내장시킴으로써, 표시 패널과 연성회로필름의 연결 상태를 검사할 수 있다. 이로써, 본 검사 장치는 에이징 테스트에 대한 신뢰성을 확보할 수 있다.

뿐만 아니라, 본 검사 장치는 커넥터와 전원공급장치만 추가 설치하면 되므로, 그 구조 또한, 간단한 특징을 갖는다. 이로써, 전체적인 제작 비용도 감소시킬 수 있다.

앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims

표시 장치의 표시 패널에 연결된 연성회로필름과 전기적으로 연결되어 상기 표시 패널과 상기 연성회로필름의 연결 상태를 검사하는 검사 신호들을 출력하는 검사 기판; 및

상기 검사 기판에 전기적으로 연결되어 상기 표시 패널에 구동 전원을 공급하는 전원공급장치를 포함하는 표시장치용 검사 장치.
제1항에 있어서, 상기 검사 기판은

상기 표시 패널에서 출력되는 극성 반전 신호에 따라 프레임마다 하이(high) 신호와 로우(low) 신호가 반복적으로 반전되는 상기 검사 신호들 중 하나인 제1 검사 신호를 출력하는 논리소자;

상기 논리소자로부터 출력되는 상기 제1 검사 신호를 반전시켜 상기 검사 신호들 중 다른 하나인 제2 검사 신호를 출력하는 인버터 소자;

상기 연성회로필름의 홀수번째 제1 구동배선들에 상기 논리소자로부터의 상기 제1 검사 신호를 전송하는 제1 검사배선들; 및

상기 연성회로필름의 짝수번째 제2 구동배선들에 상기 인버터 소자로부터의 상기 제2 검사 신호를 전송하는 제2 검사배선들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 검사 장치.
제2항에 있어서, 상기 논리소자는 상기 극성 반전 신호가 양극일 때, 하이 신호를 출력하고, 음극일 때, 로우 신호를 출력하는 데이터 플립플롭을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 검사 장치.
제2항에 있어서, 상기 표시 장치는 상기 표시 패널에 연결되며 상기 제1 및 제2 구동배선들로부터 전송되는 상기 제1 및 제2 검사 신호를 검사하는 신호 검사부를 갖는 구동 칩을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 검사 장치.
제4항에 있어서, 상기 신호 검사부는

상기 제1 및 제2 검사 신호 중 어느 하나로부터 연이은 제1 및 제2 프레임에서 전송되는 검사 신호들이 서로 같은 경우와 다를 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제1 결과값을 출력하는 제1 논리회로부; 및

상기 제1 논리회로부와 연결되며, 상기 제1 결과값들이 모두 하이 신호일 경우와 적어도 하나가 로우 신호일 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제2 결과값을 출력하는 제2 논리회로부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 검사 장치.
제5항에 있어서, 상기 신호 검사부는 상기 제1 프레임에서의 상기 제1 및 제2 검사 신호 중 어느 하나를 상기 제2 프레임까지 지연시키는 딜레이부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 검사 장치.
제6항에 있어서, 상기 제1 논리회로부는 EXCLUSIVE OR 회로를 포함하고, 상기 제2 논리회로부는 OR 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 검사 장치.
제4항에 있어서, 상기 신호 검사부는

인접한 상기 제1 및 제2 검사 신호가 서로 다를 경우와 같은 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제1 결과값을 출력하는 제1 논리회로부; 및

상기 제1 논리회로부와 연결되며, 상기 제1 결과값들이 모두 하이 신호일 경우와 적어도 하나가 로우 신호일 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제2 결과값을 출력하는 제2 논리회로부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 검사 장치.
제4항에 있어서, 상기 구동 칩은 상기 구동 전원에 의해 상기 표시 장치의 에이징 검사를 실시하는 에이징 모드가 내장된 패널 구동부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 검사 장치.
제9항에 있어서,

상기 표시 장치를 수납하여 밀폐 공간을 제공하는 검사 챔버를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 검사 장치.
전원공급장치로부터의 구동 전원을 통해 표시 장치의 표시 패널을 구동하여 극성 반전 신호를 출력하는 단계;

상기 극성 반전 신호를 검사 기판으로 전송하는 단계;

상기 검사 기판에서 제1 검사 신호 및 상기 제1 검사 신호를 반전시킨 제2 검사 신호를 출력하는 단계;

상기 제1 검사 신호를 상기 검사 기판의 제1 검사배선들을 통해 연성회로필름의 홀수번째인 제1 구동배선들로 전송하고, 상기 제2 검사 신호를 상기 검사 기판의 제2 검사배선들을 통해 상기 연성회로필름의 짝수번째인 제2 구동배선들로 전송하는 단계;

상기 제1 및 제2 구동배선들에 전송된 상기 제1 및 제2 검사 신호를 상기 표시 패널에 연결된 구동 칩의 신호 검사부로 전송하는 단계; 및

상기 신호 검사부에서 상기 제1 및 제2 검사 신호를 검사하여 상기 표시 패널과 상기 연성회로필름의 연결 상태의 양부를 판정하는 단계를 포함하는 표시장치 검사 방법.
제11항에 있어서, 상기 신호 검사부에서 검사하는 단계는

상기 제1 및 제2 검사 신호 중 어느 하나로부터 연이은 제1 및 제2 프레임에서 전송되는 검사 신호들이 서로 다를 경우와 같은 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제1 결과값들을 출력하는 단계; 및

상기 제1 결과값들이 모두 하이 신호일 경우와 적어도 하나가 로우 신호일 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제2 결과값을 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치 검사 방법.
제12항에 있어서, 상기 제2 결과값이 하이 신호일 경우, 상기 표시 패널과 상기 연성회로필름의 연결이 양호한 것으로 판정하고, 로우 신호일 경우 불량한 것으로 판정하는 것을 특징으로 하는 표시장치 검사 방법.
제11항에 있어서, 상기 신호 검사부에서 검사하는 단계는

인접한 상기 제1 및 제2 검사 신호가 서로 다를 경우와 같은 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제1 결과값들을 출력하는 단계; 및

상기 제1 결과값들이 모두 하이 신호일 경우와 적어도 하나가 로우 신호일 경우에 각각 하이 신호와 로우 신호의 제2 결과값을 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치 검사 방법.