KR20080017108A - Position-variable temperature measurement device - Google Patents

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KR20080017108A
KR20080017108A KR1020060078496A KR20060078496A KR20080017108A KR 20080017108 A KR20080017108 A KR 20080017108A KR 1020060078496 A KR1020060078496 A KR 1020060078496A KR 20060078496 A KR20060078496 A KR 20060078496A KR 20080017108 A KR20080017108 A KR 20080017108A
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Abstract

A position-variable temperature measurement device is provided to measure the temperature of many parts of a sample by allowing a temperature sensor attached to a moveable arm member to approach the sample. A position-variable temperature measurement device(100) includes more than one arm members(300) which are moveable relative to a fixed sample(200). The arm member is provided with a temperature sensor(400). The temperature sensor is moved to be adjacent or attached to the sample by moving the arm member.

Description

위치 가변적 온도 측정 장치 {Position-variable Temperature Measurement Device}Position-variable Temperature Measurement Device

도 1은 본 발명의 하나의 실시예에 따른 시험 장치의 사시도이다;1 is a perspective view of a test apparatus according to one embodiment of the present invention;

도 2는 도 1의 시험 장치에서 수평 연장부가 좌우 방향(X)으로 회전할 수 있도록 본체에 위치 가변적으로 결합되어 있는 가변적 결합 구조의 모식도이다; FIG. 2 is a schematic diagram of a variable coupling structure in which the horizontal extension portion is variably coupled to the main body so that the horizontal extension portion can rotate in the horizontal direction X in the test apparatus of FIG. 1; FIG.

도 3은 도 1의 시험 장치에서 수평 연장부가 좌우 방향(X)으로 회전함과 동시에 피벗 회전할 수 있는 가변적 결합 구조의 모식도이다;3 is a schematic view of a variable coupling structure in which the horizontal extension rotates simultaneously with the horizontal extension in the test apparatus of FIG.

도 4는 도 1의 시험 장치에서 지지부에 대해 수평 연장부가 상하 방향(Y)으로 움직일 수 있는 가변적 결합 구조의 모식도이다;4 is a schematic view of a variable coupling structure in which the horizontal extension can move in the up and down direction (Y) with respect to the support in the test device of FIG. 1;

도 5는 도 1의 시험 장치에서 지지부에 대해 수평 연장부가 상하 방향(Y)과 전후 방향(Z)으로 움직일 수 있는 가변적 결합 구조의 모식도이다; 5 is a schematic diagram of a variable coupling structure in which the horizontal extension can move in the up-down direction Y and the front-rear direction Z with respect to the support in the test apparatus of FIG. 1;

도 6은 도 1의 시험 장치에서 수평 연장부의 단부 하단면에 온도센서가 장착되어 있는 하나의 예시적인 구조의 모식도이다;FIG. 6 is a schematic diagram of one exemplary structure in which a temperature sensor is mounted on the lower end surface of the horizontal extension in the test apparatus of FIG. 1; FIG.

도 7은 도 6에서 C 부위의 확대도이고, 도 8은 그것의 저면도이다.FIG. 7 is an enlarged view of a portion C in FIG. 6, and FIG. 8 is a bottom view thereof.

<도면의 주요 부호에 대한 설명><Description of Major Symbols in Drawing>

100: 온도 측정 장치 200: 테스트 시편100: temperature measuring device 200: test specimen

110: 본체 300: 암 부재110: main body 300: arm member

310: 지지부 320: 수평 연장부310: support portion 320: horizontal extension portion

400: 온도센서 500: 커넥터400: temperature sensor 500: connector

본 발명은 가변적으로 위치를 이동하면서 온도를 측정할 수 있는 시험 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 테스트 시편의 온도를 측정하기 위한 장치로서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상대적으로 위치를 변화시킬 수 있는 하나 이상의 암 부재를 포함하고 있고, 상기 암 부재 상에 온도센서가 장착되어 있어서, 암 부재를 임의의 위치로 변화시켜 상기 온도센서를 테스트 시편 상에 근접 또는 밀착시킴으로써 온도를 측정하는 것을 특징으로 하는 시험 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test apparatus capable of measuring a temperature while variably moving a position, and more particularly, a device for measuring a temperature of a test specimen, the position of which changes relative to a test specimen of a fixed position And at least one arm member, wherein a temperature sensor is mounted on the arm member to change the arm member to an arbitrary position to measure the temperature by bringing the temperature sensor close to or close to the test specimen. It relates to a test apparatus.

많은 전기/전자 관련 소자들은 작동과정에서 열이 발생한다. 예를 들어, 반도체 칩 등의 회로소자, AC-DC 변환기 등의 전기 부품들은 미시적 측면에서 작동시 전자의 이동이 수반되므로 정도의 차이는 있지만 작동 중에 필연적으로 다량의 열을 발생시킨다. 이러한 발열로 인한 당해 소자의 온도 상승은 오작동을 유발할 뿐만 아니라 작동 효율을 크게 저하시키는 원인이 된다. 따라서, 열에 대한 안전성을 향상시키기 위하여 제품의 생산단계 이전에 많은 시험들이 행해지며, 그러한 시험 중에는 테스트 시편의 온도를 측정하는 과정이 필수적으로 포함된다.Many electrical / electronic devices generate heat during operation. For example, circuit components such as semiconductor chips and electrical components such as AC-DC converters involve microscopic movements of electrons during operation, and thus, inevitably generate a large amount of heat during operation. The rise in temperature of the device due to such heat generation not only causes a malfunction but also causes a significant decrease in operating efficiency. Therefore, many tests are performed before the production stage of the product to improve the safety against heat, and the process of measuring the temperature of the test specimen is essential.

일반적으로, 테스트 시편의 온도를 측정하는데 있어서, 테스트 시편의 소정 부위에 온도센서를 부착하는 방식이 많이 사용되고 있다. 하지만, 상기의 방법은 다수의 시편들에 대해 온도를 측정하거나 또는 하나의 시편이라 하더라도 여러 부위의 온도를 측정하는 과정에서, 온도센서를 장착하는 과정 및 온도센서와 제어장치의 연결회로를 구성하는 과정 등의 일련의 작업이 수행되어야 하는 번거로움이 발생한다. In general, in measuring the temperature of the test specimen, a method of attaching a temperature sensor to a predetermined portion of the test specimen is widely used. However, in the above method, in the process of measuring the temperature of a plurality of specimens or in the process of measuring the temperature of various parts of a single specimen, a process of mounting a temperature sensor and configuring a connection circuit of a temperature sensor and a control device The hassle of having to perform a series of tasks such as a process occurs.

따라서, 테스트 시편의 다양한 온도 측정 부위에서의 가변적인 온도 측정 및, 다수의 테스트 시편들에서의 연속적인 온도 측정이 용이하게 이루어질 수 있는 기술에 대한 필요성이 높은 실정이다.Accordingly, there is a high need for a technique that can easily perform variable temperature measurement at various temperature measurement sites of the test specimen and continuous temperature measurement at multiple test specimens.

본 발명은 상기와 같은 종래기술의 문제점과 과거로부터 요청되어온 기술적 과제를 해결하는 것을 목적으로 한다.The present invention aims to solve the problems of the prior art as described above and the technical problems that have been requested from the past.

본 발명의 목적은 테스트 시편의 다양한 부위에서 가변적으로 온도를 측정할 수 있고, 다수의 테스트 시편들에서 연속적으로 온도를 측정할 수 있는 시험 장치를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a test apparatus capable of measuring temperature variably at various sites of a test specimen and continuously measuring temperature in a plurality of test specimens.

구체적으로, 본 발명의 또 다른 목적은 위치 가변적 암 부재를 포함하고 있는 시험 장치를 제공하는 것이다.Specifically, another object of the present invention is to provide a test apparatus including a variable position arm member.

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 시험 장치는 테스트 시편의 온도를 측정하기 위한 장치로서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상대적으로 위치를 변화시킬 수 있는 하나 이상의 암 부재를 포함하고 있고, 상기 암 부재 상에 온도센서가 장착되어 있어서, 암 부재를 임의의 위치로 변화시켜 상기 온도센서를 테스트 시편 상에 근접 또는 밀착시킴으로써 온도를 측정하는 것으로 구성되어 있다.The test apparatus according to the present invention for achieving this object is a device for measuring the temperature of the test specimen, including one or more arm members that can be changed relative to the test specimen in a fixed position, the arm The temperature sensor is mounted on the member, and the temperature is measured by changing the arm member to an arbitrary position and bringing the temperature sensor close to or in close contact with the test specimen.

따라서, 본 발명에 따른 시험 장치는, 온도센서를 장착하거나 온도센서와 제어장치를 연결하기 위한 회로를 구성하는 별도의 과정을 거치지 않고, 다수의 테스트 시편 및 테스트 시편의 다양한 부위에서 온도를 용이하게 측정할 수 있는 장점을 가지고 있다.Therefore, the test apparatus according to the present invention facilitates the temperature at a plurality of test specimens and various parts of the test specimens without going through a separate process of mounting a temperature sensor or configuring a circuit for connecting the temperature sensor and the control device. It has the measurable advantage.

상기 암 부재는 소망하는 온도 측정 부위로 온도센서를 가변적으로 위치시킬 수 있는 구조라면 특별히 제한되지 않으며, 하나의 바람직한 예에서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상하 방향, 좌우 방향 및 전후 방향으로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나 이상의 방향으로 온도센서 장착 부위가 이동할 수 있도록 구성된 구조일 수 있다.The arm member is not particularly limited as long as it has a structure capable of variably positioning the temperature sensor to a desired temperature measurement site. In one preferred example, the arm member is configured in a vertical direction, a horizontal direction, and a front-rear direction with respect to the test specimen in a fixed position. It may be a structure configured to move the temperature sensor mounting portion in at least one direction selected from.

암 부재는 둘 이상의 다 수개가 설치될 수도 있으며, 이러한 다수 개의 암 부재는 테스트 시편의 소정 부위들에 대한 온도를 동시에 측정할 수 있다. Two or more arm members may be installed, and the plurality of arm members may simultaneously measure temperature for predetermined portions of the test specimen.

상기의 예에서, 온도센서가 장착되어 있는 부위는, 암 부재가 좁은 폭으로 이동될 경우라도 소망하는 측정 위치로의 이동이 용이하게 이루어질 수 있는 부위로서, 예를 들어, 암 부재의 단부일 수 있다.In the above example, the portion where the temperature sensor is mounted is a portion that can be easily moved to a desired measurement position even when the arm member is moved in a narrow width, and can be, for example, an end of the arm member. have.

하나의 바람직한 예에서, 온도센서는 암 부재의 단부 하단면으로부터 소정의 이격 거리에 탄력적으로 장착될 수 있다. 구체적으로는, 암 부재의 단부 하단면에 탄력적인 판 스프링 또는 압축 스프링이 장착되어 있고, 그러한 스프링의 단부면에 온도센서가 설치되어 있는 구조를 예로서 들 수 있다. 따라서, 암 부재를 테스트 시편의 표면에 위치시켰을 때, 온도센서는 스프링의 탄성력에 의해 테스트 시편 상에 탄력적으로 밀착될 수 있다. In one preferred example, the temperature sensor may be resiliently mounted at a predetermined distance from the end bottom surface of the arm member. Specifically, a structure in which an elastic leaf spring or a compression spring is attached to the lower end face of the arm member and a temperature sensor is provided on the end face of the spring is exemplified. Therefore, when the arm member is placed on the surface of the test specimen, the temperature sensor can be elastically in close contact with the test specimen by the elastic force of the spring.

본 발명에서는, 상기 암 부재의 이동을 용이하게 표현하기 위하여, 테스트 시편의 고정된 위치를 기준으로, 상기 테스트 시편의 상부와 하부를 연결하는 가상축 상에서의 이동 방향을 상하 방향, 상기 테스트 시편의 좌우 측부를 연결하는 가상축 상에서의 이동 방향을 좌우 방향, 및 상기 테스트 시편의 앞뒤 측부를 연결하는 가상축 상에서의 이동 방향을 전후 방향으로 명시하였다. 즉, 상기 테스트 시편이, 예를 들어, 육면체의 형상일 경우, 상기 상하 방향은 육면체의 상면과 하면 사이의 이동 방향을 의미하고, 상기 좌우 방향은 육면체의 좌면과 우면 사이의 이동 방향을 의미하며, 상기 전후 방향은 육면체의 전면과 후면 사이의 이동 방향을 의미한다. 이때, 상기 가상축은 직선으로 한정되는 것은 아니며, 예를 들어, 온도 센서가 장착되어 있는 부위가 포물선 형태로 이동될 수 있도록 곡선 등 다양할 수 있다.In the present invention, in order to easily express the movement of the arm member, based on the fixed position of the test specimen, the direction of movement on the virtual axis connecting the upper and lower portions of the test specimen in the up and down direction, of the test specimen The direction of movement on the virtual axis connecting the left and right sides was indicated in the left and right directions and the direction of movement on the virtual axis connecting the front and back sides of the test specimen in the front and rear directions. That is, when the test specimen is, for example, in the shape of a hexahedron, the up and down direction means a moving direction between the upper and lower surfaces of the cube, and the left and right directions mean a moving direction between the left and right surfaces of the cube. The direction of the front and rear means a moving direction between the front and rear of the cube. In this case, the virtual axis is not limited to a straight line. For example, the virtual axis may vary in a curve such that a portion on which the temperature sensor is mounted may move in a parabolic form.

더욱 구체적으로, 본 발명에 따른 시험 장치는, 상기 테스트 시편을 시험 상태로 위치 고정할 수 있는 본체와, 상기 본체의 일측에 설치되어 있고 온도센서가 장착되어 있는 위치 가변적 암 부재, 및 상기 시편의 테스트 장치의 작동을 제어하고 온도센서의 검출 정보를 측정장치로 송부하기 위한 커넥터를 포함하는 것으로 구성될 수 있다. More specifically, the test apparatus according to the present invention includes a main body capable of fixing the test specimen in a test state, a variable position arm member installed at one side of the main body, and equipped with a temperature sensor, and the specimen. And a connector for controlling the operation of the test apparatus and sending detection information of the temperature sensor to the measuring apparatus.

하나의 바람직한 구조의 예에서, 상기 위치 가변적 암 부재는, 본체에 가변적으로 연결된 지지부와, 상기 지지부에 가변적으로 연결된 수평 연장부를 포함하는 것으로 구성된 구조일 수 있다. 이 경우, 상기 온도센서는 다양한 방향으로의 이동이 가능할 수 있도록, 상기 수평 연장부에 장착되는 것이 바람직하다.In one example of the preferred structure, the variable position arm member may be a structure comprising a support that is variably connected to the body, and a horizontal extension that is variably connected to the support. In this case, the temperature sensor is preferably mounted to the horizontal extension, so that it can be moved in various directions.

상기의 구조에서, 본체에 대한 지지부의 상기 가변적 연결은 지지부가 좌우 방향으로 회전할 수 있도록 본체에 결합되는 것으로 달성될 수 있다. 즉, 상기 지지부는 본체와 결합된 단부를 기준으로 그것에 대향하는 타단부가 가상의 곡선을 그리며 시편의 좌우 방향으로 회전될 수 있도록, 상기 본체에 연결될 수 있다.In the above structure, the variable connection of the support to the body can be achieved by being coupled to the body such that the support can rotate in the left and right directions. That is, the support portion may be connected to the main body so that the other end opposite to the end coupled to the main body may be rotated in the left and right directions of the specimen while drawing an imaginary curve.

구체적으로, 상기 지지부는 단면상 원형 구조로 이루어져 있고, 본체와 접하는 그것의 단부에 체결용 만입홈이 형성되어 있으며, 상기 본체에는 상기 만입홈에 대응하는 구조의 체결용 돌기가 형성되어 있을 수 있다. 이러한 구조에 의해, 상기 지지부는 그것의 만입홈와 상기 만입홈에 대응하는 본체의 돌기가 상호 체결됨으로써, 좌우 방향으로 회전 가능하도록 본체에 결합될 수 있다. Specifically, the support portion has a circular cross-sectional structure, a fastening indentation groove is formed at an end thereof in contact with the main body, and the fastening protrusion of a structure corresponding to the indentation groove may be formed in the main body. With this structure, the support portion can be coupled to the main body so as to be rotatable in the left-right direction by mutually fastening projections of the main body corresponding to the indentation groove and the indentation groove.

또한, 상기 본체에는 지지부에 대응하는 형상의 장착홈이 형성되어 있고, 상기 지지부의 단부에는 본체에 소정의 각도로 결합된 상태에서 피벗 회전이 가능하도록 피벗 구조가 형성되어 있을 수 있다. 이러한 구조에 의하여, 상기 지지부는 그것의 단부가 피벗 회전되도록 본체에 결합될 수 있으며, 좌우 방향으로 회전되어 상기 본체의 장착홈에 삽입될 수 있다. 이때, 상기 피벗 구조는 상기 지지부의 단부에 형성되어 있는 만입홈을 기준으로 그것의 상부쪽에 형성되어 있는 것이 바람 직하다. 따라서, 상기 지지부는 그것의 만입홈이 형성되어 있는 단부가 본체에 결합되어 고정된 상태에서도, 상기 만입홈의 상부에 형성되어 있는 피벗 구조에 의하여 피벗 회전될 수 있다.In addition, the main body may be provided with a mounting groove having a shape corresponding to the support portion, the pivot structure may be formed at the end of the support portion to enable pivot rotation in a state coupled to the main body at a predetermined angle. By this structure, the support portion can be coupled to the main body so that its end is pivoted, it can be rotated in the horizontal direction and inserted into the mounting groove of the main body. At this time, the pivot structure is preferably formed on the upper side of the indentation groove formed in the end of the support portion. Therefore, the support portion can be pivotally rotated by a pivot structure formed on the upper portion of the indentation groove, even in a state in which an end portion of the indentation groove formed therein is coupled and fixed to the main body.

상기의 구조에서, 지지부에 대한 수평 연장부의 상기 가변적 연결은, 수평 연장부가 지지부에 대해 상하 방향 및/또는 전후 방향으로 이동할 수 있도록, 지지부에 결합되는 것으로 이루어질 수 있다. 즉, 상기 수평 연장부는 지지부와 결합된 단부를 기준으로 그것에 대향하는 타단부가 시편의 상하 및/또는 전후 방향으로 이동될 수 있도록, 상기 지지부에 연결될 수 있다.In the above structure, the variable connection of the horizontal extension to the support may be coupled to the support such that the horizontal extension can move in the up and down direction and / or the front-back direction with respect to the support. That is, the horizontal extension portion may be connected to the support portion so that the other end opposite to the end coupled to the support portion may be moved in the up and down and / or front and rear directions of the specimen.

구체적으로, 상기 지지부에는 상하로 길게 수직 체결홈이 형성되어 있고, 상기 수평 연장부는 상기 수직 체결홈에 결합될 수 있는 체결 단부를 포함하고 있을 수 있다. 이러한 구조에 의해, 상기 수평 연장부는 그것의 체결 단부가 지지부에 결합된 상태에서, 상기 지지부의 수직 체결홈을 따라 상하 방향으로 이동할 수 있다. Specifically, the support portion may be formed with a vertical fastening groove vertically long, the horizontal extension may include a fastening end that can be coupled to the vertical fastening groove. With this structure, the horizontal extension can move in the vertical direction along the vertical fastening groove of the support, with its fastening end coupled to the support.

또는, 상기 지지부에는 상하로 길게 체결 관통홈이 형성되어 있고, 상기 수평 연장부는 상기 체결 관통홈에 결합될 수 있는 체결 단부를 포함하는 구조일 수 있다. 이러한 구조에 의해, 상기 수평 연장부는 그것의 체결 단부가 지지부에 결합된 상태에서, 상기 지지부의 체결 관통홈을 따라 전후 방향 및 상하 방향으로 움직일 수 있다. Alternatively, the support part may have a fastening through groove formed vertically and the horizontal extension part may have a structure including a fastening end which may be coupled to the fastening through groove. With this structure, the horizontal extension can move in the front-rear direction and the vertical direction along the fastening through-groove of the support, with its fastening end coupled to the support.

상기의 구조에서, 상기 가변적 연결 부위에는 가변 위치를 고정할 수 있는 락킹부가 추가로 포함되어 있을 수 있다. 이러한 락킹부의 구조는 특별히 제한되 지 않고 다양할 수 있는 바, 예를 들어, 가변적 연결 부위에 연속적으로 형성되어 있는 락킹 홈 또는 탄성의 라킹 돌출부 등의 구조일 수 있다.In the above structure, the variable connection portion may further include a locking portion for fixing the variable position. The structure of the locking portion is not particularly limited and may vary. For example, the locking portion may have a structure such as a locking groove or an elastic locking protrusion that is continuously formed at the variable connection portion.

경우에 따라서, 상기 온도센서의 연결회로는 위치 가변적 암 부재를 따라 커넥터에 연결될 수 있다.In some cases, the connection circuit of the temperature sensor may be connected to the connector along the variable position arm member.

본 발명에서, 상기 온도센서의 예로는, 써머커플 또는 써미스터 등을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.In the present invention, examples of the temperature sensor may include a thermocouple or thermistor, but are not limited thereto.

본 발명에 따른 상기 시험 장치는 특별히 제한되지 않고 다양한 시편의 온도를 측정하는데 사용될 수 있으며, 그 중에서도 이차전지의 온도를 측정하는데 바람직하게 사용될 수 있다.The test apparatus according to the present invention is not particularly limited and may be used to measure the temperature of various specimens, and may be preferably used to measure the temperature of the secondary battery.

이하에서는, 본 발명의 실시예에 따른 도면을 참조하여 설명하지만, 이는 본 발명의 더욱 용이한 이해를 위한 것으로, 본 발명의 범주가 그것에 의해 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, although described with reference to the drawings according to an embodiment of the present invention, this is for easier understanding of the present invention, the scope of the present invention is not limited thereto.

도 1에는 본 발명의 하나의 실시예에 따른 시험 장치의 사시도가 모식적으로 도시되어 있다.1 is a perspective view schematically showing a test apparatus according to one embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 시험 장치(100)는 테스트 시편으로서의 판상형 이차전지(200)가 고정될 수 있는 본체(110)와, 본체(110)의 일측에 설치되어 있고 온도센서(400)가 장착되어 있는 암 부재(300), 및 작동을 제어하고 온도센서의 검출 정보를 처리하는 커넥터(500)를 포함하는 것으로 구성되어 있다.Referring to FIG. 1, the test apparatus 100 includes a main body 110 to which a plate-shaped secondary battery 200 as a test specimen may be fixed, and a temperature sensor 400 mounted to one side of the main body 110. Arm member 300, and a connector 500 for controlling the operation and processing the detection information of the temperature sensor.

커넥터(500)는 검출 정보를 시간적 또는 청각적으로 표시하는 디플레이부(도 시하지 않음)를 포함하고 있는 측정장치(도시하지 않음)로 송부하는 역할을 한다. The connector 500 serves to send the detection information to a measuring device (not shown) that includes a display unit (not shown) for displaying the detection information in a time or audible manner.

암 부재(300)는 본체(100)에 가변적으로 연결되어 있는 지지부(310)와, 지지부(310)에 가변적으로 연결되어 있는 수평 연장부(320)로 이루어져 있고, 수평 연장부(320)의 타단부에 온도센서(400)가 장착되어 있으며, 시편(200)의 고정된 위치에 대해 상하 방향(Y), 좌우 방향(X), 및 전후 방향(Z)으로 이동될 수 있다. 이러한 구조는 점선원 A 및 B 부분의 확대도로서 모식적으로 도시되어 있는 도 2 내지 5에서 더욱 용이하게 확인할 수 있다.The arm member 300 includes a support part 310 variably connected to the main body 100 and a horizontal extension part 320 variably connected to the support part 310, and the other of the horizontal extension part 320. The temperature sensor 400 is mounted at the end and may be moved in the up and down direction (Y), the left and right directions (X), and the front and rear directions (Z) with respect to the fixed position of the specimen 200. Such a structure can be more easily confirmed in FIGS. 2 to 5 which are schematically shown as enlarged views of the dotted circles A and B portions.

구체적으로, 도 2에는 수평 연장부가 좌우 방향(X)으로 회전할 수 있도록 본체에 위치 가변적으로 결합되어 있는 가변적 결합 구조의 일 예가 도시되어 있고, 도 3에는 수평 연장부가 좌우 방향(X)으로 회전함과 동시에 피벗 회전할 수 있는 가변적 결합 구조의 일 예가 도시되어 있다. Specifically, FIG. 2 illustrates an example of a variable coupling structure in which the horizontal extension portion is variably coupled to the main body so that the horizontal extension portion may rotate in the left and right direction X. In FIG. 3, the horizontal extension portion rotates in the left and right direction X. An example of a variable coupling structure is shown which can be pivoted simultaneously.

우선, 도 2를 참조하면, 지지부(310)는 단면상으로 원형 구조로 이루어져 있고, 본체(110)와 접하는 지지부(310)의 단부에는 체결용 만입홈(311)이 형성되어 있다. 지지부(310)의 만입홈(310)은 그에 대응하여 본체(110)에 형성되어 있는 체결용 돌기(111)와 맞물려 있다. 따라서, 지지부(310)의 만입홈(310)과 본체(110)의 체결용 돌기(111)의 가변적인 결합 구조에 의해, 지지부(310)는 좌우 방향으로 회전 가능하도록 본체(110)에 결합된다.First, referring to FIG. 2, the support part 310 has a circular structure in cross section, and a fastening indentation groove 311 is formed at an end portion of the support part 310 in contact with the main body 110. The indentation groove 310 of the support portion 310 is engaged with the fastening protrusion 111 formed in the main body 110 correspondingly. Therefore, by the variable coupling structure of the indentation groove 310 of the support 310 and the fastening protrusion 111 of the main body 110, the support 310 is coupled to the main body 110 to be rotatable in the left and right directions. .

도 3을 참조하면, 지지부(310)는 단면상으로 원형 구조로 이루어져 있고 본체(110)와 접하는 단부에 체결용 만입홈(311)이 형성되어서 좌우 방향으로 회전 가능하도록 본체(110)에 결합되어 있다는 점에서는 도 2의 구조와 동일하다. 그러한 좌우 방향으로의 회전과 동시에, 본체(110)에는 지지부(310)에 대응하는 형상의 장착홈(112)이 형성되어 있고, 지지부(310)의 단부는 본체(110)에 소정의 각도로 피벗 회전이 가능하도록 결합되어 있어서, 지지부(310)를 회전시켜 본체(110)의 장착홈(112)에 삽입할 수 있다. 즉, 지지부(310)의 측면에는 지지부(310)의 축을 기준으로 수직 방향으로 회전축(312)이 돌출되어 있고, 본체(110)에는 지지부(310)의 회전축(312)이 고정될 수 있는 축 홈(113)이 형성되어 있다. 따라서, 지지부(310)는 회전축(312)을 중심으로 화살표 방향으로 피벗 회전이 가능하다. Referring to FIG. 3, the support part 310 has a circular structure in cross section, and a fastening indentation groove 311 is formed at an end contacting the main body 110 to be rotatably coupled to the main body 110. It is the same as that of FIG. At the same time as the rotation in the left and right directions, the mounting groove 112 of the shape corresponding to the support portion 310 is formed in the main body 110, the end of the support portion 310 pivots at a predetermined angle to the main body 110. Since it is coupled to rotate, the support 310 can be rotated and inserted into the mounting groove 112 of the main body 110. That is, the rotation shaft 312 protrudes in the vertical direction based on the axis of the support 310, and the shaft groove in which the rotation shaft 312 of the support 310 is fixed to the side of the support 310. 113 is formed. Therefore, the support part 310 can pivotally rotate in the direction of the arrow about the rotation axis 312.

다시 도 1을 참조하면, 지지부(310)에 대한 수평 연장부(320)의 가변적인 결합 구조는 도 4 및 도 5를 참조하여 설명할 수 있다. Referring back to FIG. 1, the variable coupling structure of the horizontal extension 320 to the support 310 may be described with reference to FIGS. 4 and 5.

도 4에는 지지부에 대해 수평 연장부가 상하 방향(Y)으로 움직일 수 있는 가변적 결합 구조의 일 예가 도시되어 있고, 도 5에는 지지부에 대해 수평 연장부가 상하 방향(Y)과 전후 방향(Z)으로 움직일 수 있는 가변적 결합 구조의 일 예가 도시되어 있다. 4 shows an example of a variable coupling structure in which the horizontal extension can move in the vertical direction (Y) with respect to the support, and FIG. 5 shows the horizontal extension in the vertical direction (Y) and the front-rear direction (Z) with respect to the support. One example of a variable coupling structure that can be shown is shown.

우선, 도 4를 참조하면, 지지부(310)에는 상하로 길게 수직 체결홈(313)이 형성되어 있고, 수평 연장부(320)에는 지지부(310)의 수직 체결홈(313)에 삽입 상태로 결합되어 있는 체결 단부(321)를 포함하고 있다. 따라서, 체결 단부(321)가 수직 체결홈(313)을 따라 상하 방향으로 움직일 수 있다.First, referring to FIG. 4, the support part 310 has a vertical fastening groove 313 extending vertically, and the horizontal extension part 320 is coupled to the vertical fastening groove 313 of the support part 310 in an inserted state. It includes a fastening end 321 is formed. Therefore, the fastening end 321 may move in the vertical direction along the vertical fastening groove 313.

도 5를 참조하면, 지지부(310)에는 상하로 길게 체결 관통홈(314)이 형성되어 있고, 수평 연장부(320)의 체결 단부(321)는 그러한 체결 관통홈(314)을 수평으로 관통한 상태로 결합되어 있다. 따라서, 수평 연장부(320)는 지지부(310)의 상 하 방향 뿐만 아니라 전후 방향으로도 움직일 수 있도록 결합되어 있다. Referring to FIG. 5, the support part 310 is provided with a fastening through groove 314 extending vertically, and the fastening end 321 of the horizontal extension part 320 penetrates the fastening through groove 314 horizontally. Are combined in a state. Therefore, the horizontal extension part 320 is coupled to move in the front-rear direction as well as the vertical direction of the support part 310.

도 4와 도 5의 가변적 결합 구조에는 가변 위치를 고정할 수 있는 락킹부(도시하지 않음)가 추가로 포함될 수 있음은 물론이다. The variable coupling structure of FIGS. 4 and 5 may further include a locking unit (not shown) capable of fixing the variable position.

도 6에는 도 1의 장치 중 수평 연장부의 단부 하단면에 온도센서가 장착되어 있는 하나의 예시적인 구조가 모식적으로 도시되어 있고, 도 7에는 도 6에서 C 부위의 확대도가 도시되어 있으며, 도 8에는 그것의 저면도가 도시되어 있다. FIG. 6 schematically shows one exemplary structure in which a temperature sensor is mounted on an end lower surface of a horizontal extension part of the apparatus of FIG. 1, and FIG. 7 shows an enlarged view of a portion C in FIG. 6. 8 is a bottom view thereof.

이들 도면을 참조하면, 온도센서(400)는 수평 연장부(320) 중 지지부(310)의 가변적 연결 부위에 대향하는 단부의 하단면에 장착되어 있다. 즉, 수평 연장부(320)의 단부 하단면에는 탄력적인 판 스프링(410)이 설치되어 있고, 그러한 판 스프링(410)의 단부면에 온도센서(400)가 설치되어 있다. 온도센서(400)는, 판 스프링(410)의 절곡 구조에 의해 수평 연장부(320)의 하단면으로부터 소정의 이격 거리에 탄력적으로 위치하게 되므로, 수평 연장부(320)를 테스트 시편(도시하지 않음)의 표면에 위치시켰을 때, 판 스프링(410)의 탄성력에 의해 테스트 시편 상에 온도센서(400)가 탄력적으로 밀착될 수 있다(화살표 방향의 변화 참조). Referring to these drawings, the temperature sensor 400 is mounted on the bottom surface of the end portion of the horizontal extension portion 320 opposite to the variable connection portion of the support portion 310. That is, the resilient leaf spring 410 is provided on the lower end face of the horizontal extension part 320, and the temperature sensor 400 is provided on the end face of the leaf spring 410. Since the temperature sensor 400 is elastically positioned at a predetermined distance from the bottom surface of the horizontal extension part 320 by the bending structure of the leaf spring 410, the horizontal extension part 320 is a test specimen (not shown). When positioned on the surface of the (not shown), the temperature sensor 400 can be elastically in close contact with the test specimen by the elastic force of the leaf spring (410) (see the change in the direction of the arrow).

이상 본 발명의 실시예에 따른 도면을 참조하여 설명하였지만, 본 발명이 속한 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기 내용을 바탕으로 본 발명의 범주내에서 다양한 응용 및 변형을 행하는 것이 가능할 것이다.Although described above with reference to the drawings according to an embodiment of the present invention, those of ordinary skill in the art will be able to perform various applications and modifications within the scope of the present invention based on the above contents.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 시험 장치는 위치 가변적 암 부 재를 포함함으로써, 테스트 시편의 다양한 부위에서 가변적으로 온도를 측정할 수 있고, 다수의 테스트 시편들에서 연속적으로 온도 측정할 수 있는 효과가 있다.As described above, the test apparatus according to the present invention includes a variable position arm member, so that the temperature can be variably measured at various parts of the test specimen, and the temperature can be continuously measured in a plurality of test specimens. It works.

Claims (17)

테스트 시편의 온도를 측정하기 위한 장치로서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상대적으로 위치를 변화시킬 수 있는 하나 이상의 암 부재를 포함하고 있고, 상기 암 부재 상에 온도센서가 장착되어 있어서, 암 부재를 임의의 위치로 변화시켜 상기 온도센서를 테스트 시편 상에 근접 또는 밀착시킴으로써 온도를 측정하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.An apparatus for measuring the temperature of a test specimen, the apparatus comprising one or more arm members capable of varying positions relative to a test specimen in a fixed position, wherein a temperature sensor is mounted on the arm member, And changing the temperature to an arbitrary position to measure the temperature by bringing the temperature sensor close to or in close contact with the test specimen. 제 1 항에 있어서, 상기 암 부재는 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상하 방향, 좌우 방향 및 전후 방향으로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나 이상의 방향으로 온도센서 장착 부위가 이동할 수 있도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.The method of claim 1, wherein the arm member is configured to move the temperature sensor mounting portion in at least one direction selected from the group consisting of up, down, left and right and front and rear direction with respect to the test specimen of the fixed position. Testing device. 제 2 항에 있어서, 상기 암 부재의 단부에 온도센서가 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.The test apparatus according to claim 2, wherein a temperature sensor is attached to an end of the arm member. 제 3 항에 있어서, 상기 온도센서는 암 부재의 단부 하단면으로부터 소정의 이격 거리에 탄력적으로 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.The test apparatus according to claim 3, wherein the temperature sensor is elastically mounted at a predetermined distance from an end lower surface of the arm member. 제 4 항에 있어서, 상기 암 부재의 단부 하단면에 탄력적인 판 스프링 또는 압축 스프링이 장착되어 있고, 그러한 스프링의 단부면에 온도센서가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.5. A test apparatus according to claim 4, wherein an elastic leaf spring or a compression spring is mounted on the lower end face of the arm member, and a temperature sensor is provided on the end face of the spring. 제 1 항에 있어서, 상기 장치는,The method of claim 1, wherein the apparatus, 상기 테스트 시편을 시험 상태로 위치 고정할 수 있는 본체;A body capable of positioning the test specimen in a test state; 상기 본체의 일측에 설치되어 있고 온도센서가 장착되어 있는 위치 가변적 암 부재; 및 A variable position arm member installed at one side of the main body and equipped with a temperature sensor; And 상기 시편의 테스트 장치의 작동을 제어하고 온도센서의 검출 정보를 측정장치로 송부하는 커넥터;A connector for controlling the operation of the test device of the specimen and sending detection information of the temperature sensor to the measurement device; 를 포함하는 구성으로 이루어진 것을 특징으로 하는 시험 장치.Test apparatus comprising a configuration comprising a. 제 6 항에 있어서, 상기 위치 가변적 암 부재는, 본체에 가변적으로 연결된 지지부와, 상기 지지부에 가변적으로 연결된 수평 연장부를 포함하는 것으로 구성되어 있고, 상기 온도센서는 상기 수평 연장부에 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.The method of claim 6, wherein the variable position arm member comprises a support that is variably connected to the main body and a horizontal extension that is variably connected to the support, wherein the temperature sensor is mounted on the horizontal extension Characterized in that the test apparatus. 제 7 항에 있어서, 본체에 대한 지지부의 상기 가변적 연결은 지지부가 좌우 방향으로 회전할 수 있도록 본체에 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.8. The test apparatus of claim 7, wherein the variable connection of the support to the body is coupled to the body such that the support can rotate in the left and right directions. 제 8 항에 있어서, 상기 지지부는 단면상으로 원형 구조로 이루어져 있고, 본체와 접하는 그것의 단부에는 체결용 만입홈이 형성되어 있으며, 상기 만입홈은 그에 대응하여 본체에 형성되어 있는 체결용 돌기에 결합되어 있어서, 지지부는 좌우 방향으로 회전 가능하도록 본체에 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.The method of claim 8, wherein the support portion has a circular structure in cross-section, the end thereof in contact with the main body is formed with a fastening indentation groove, the indentation groove is correspondingly coupled to the fastening protrusion formed in the main body And the support portion is coupled to the main body so as to be rotatable in the horizontal direction. 제 8 항에 있어서, 상기 본체에는 지지부에 대응하는 형상의 장착홈이 형성되어 있고, 상기 지지부의 단부는 본체에 소정의 각도로 피벗 회전이 가능하도록 결합되어 있어서, 지지부를 회전시켜 본체의 장착홈에 삽입할 수 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.According to claim 8, wherein the main body is provided with a mounting groove having a shape corresponding to the support portion, the end of the support portion is coupled to the main body so as to pivot pivot at a predetermined angle, the support groove is rotated by the mounting groove of the main body Test apparatus, characterized in that can be inserted into. 제 7 항에 있어서, 지지부에 대한 수평 연장부의 상기 가변적 연결은, 수평 연장부가 상하 방향 및/또는 전후 방향으로 이동할 수 있도록 지지부에 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.8. The test apparatus of claim 7, wherein the variable connection of the horizontal extension to the support is coupled to the support such that the horizontal extension can move in the vertical and / or forward and backward directions. 제 11 항에 있어서, 상기 지지부에는 상하로 길게 수직 체결홈이 형성되어 있고, 상기 수평 연장부는 상기 수직 체결홈에 결합될 수 있는 체결 단부를 포함하고 있어서, 상기 체결 단부가 수직 체결홈을 따라 상하 방향으로 움직일 수 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.12. The method of claim 11, wherein the support portion is formed with a vertical fastening groove vertically long and the horizontal extension includes a fastening end that can be coupled to the vertical fastening groove, the fastening end is vertically along the vertical fastening groove Test apparatus, characterized in that movable in the direction. 제 11 항에 있어서, 상기 지지부에는 상하로 길게 체결 관통홈이 형성되어 있고, 상기 수평 연장부는 상기 체결 관통홈에 결합될 수 있는 체결 단부를 포함하고 있어서, 상기 체결 단부가 체결 관통홈을 따라 전후 방향 및 상하 방향으로 움직일 수 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.12. The method of claim 11, wherein the support portion is formed with a fastening through groove extending vertically, the horizontal extension includes a fastening end that can be coupled to the fastening through groove, the fastening end is moved forward and backward along the fastening through groove Test device, characterized in that the movable in the vertical direction. 제 7 항에 있어서, 상기 가변적 연결 부위에는 가변 위치를 고정할 수 있는 락킹부가 추가로 포함되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.8. The test apparatus according to claim 7, wherein the variable connection portion further includes a locking portion for fixing the variable position. 제 2 항에 있어서, 상기 온도센서의 연결회로는 위치 가변적 암 부재를 따라 커넥터에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.3. A test apparatus according to claim 2, wherein the connection circuit of the temperature sensor is connected to the connector along the position variable arm member. 제 1 항에 있어서, 상기 온도센서는 써머커플 또는 써미스터인 것을 특징으로 하는 시험 장치. The test apparatus of claim 1, wherein the temperature sensor is a thermocouple or thermistor. 제 1 항에 있어서, 상기 장치는 이차전지의 온도를 측정하는데 사용되는 것을 특징으로 하는 시험 장치.The test apparatus of claim 1, wherein the apparatus is used to measure the temperature of the secondary battery.
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