KR20080002841U - Pusher block for match plate of test handler - Google Patents
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Abstract
본 고안은 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔블록에 관한 것으로, 본 고안에 따르면, 반도체소자를 테스터의 테스트소켓에 밀착시키기 위한 푸셔와, 상기 푸셔가 장착되는 바디를 포함하며, 상기 푸셔는, 반도체소자와 접촉되는 전단이 속하는 전단부와 상기 바디에 장착되는 후단이 속하는 후단부 중 상기 후단부에 상기 바디에 고정되기 위한 고정구조를 가지는 것을 특징으로 함으로써, 새로이 테스트될 여하한 물리적규격을 가지는 반도체소자의 경우에도 푸셔만의 교체로 유연하게 대응할 수 있어서 자원의 활용률을 높일 수 있는 기술이 개시된다.The present invention relates to a pusher block for a match plate of a test handler. According to the present invention, a pusher for closely contacting a semiconductor device to a test socket of a tester, and a body to which the pusher is mounted, the pusher is a semiconductor device. A semiconductor device having any physical standard to be newly tested by having a fixed structure for being fixed to the body at the rear end of the front end to which the front end in contact with the front end and the rear end attached to the body belongs. In this case, a technology that can flexibly respond to replacement of the pusher and increase the utilization rate of resources is disclosed.
테스트핸들러, 매치플레이트, 푸셔 Test handler, match plate, pusher
Description
도1은 테스트트레이 및 종래기술에 따른 매치플레이트에 대한 사시도이다.1 is a perspective view of a test tray and a matchplate according to the prior art.
도2는 테스터에 대한 개략도이다.2 is a schematic diagram of a tester.
도3은 본 고안의 제1실시예에 따른 푸셔블록의 분해사시도이다.3 is an exploded perspective view of the pusher block according to the first embodiment of the present invention.
도4는 도3의 I-I선을 자른 단면도이다.4 is a cross-sectional view taken along line II of FIG. 3.
도5는 본 고안의 제2실시예에 따른 푸셔블록의 분해사시도이다.5 is an exploded perspective view of the pusher block according to the second embodiment of the present invention.
도6은 도5의 J1-J1선을 자른 단면도이다.FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line J 1 -J 1 of FIG. 5.
도7은 도5의 J2-J2선을 자른 단면도이다.FIG. 7 is a cross-sectional view taken along line J 2 -J 2 of FIG. 5.
도8은 본 고안의 제3실시예에 따른 푸셔블록의 분해사시도이다.8 is an exploded perspective view of the pusher block according to the third embodiment of the present invention.
도9는 도8의 K-K선을 자른 단면도이다.9 is a cross-sectional view taken along the line K-K in FIG.
도10은 도8의 푸셔블록을 설명하기 위한 참조도이다.FIG. 10 is a reference view for explaining a pusher block of FIG. 8.
도11은 본 고안의 제4실시예에 따른 푸셔블록의 분해사시도이다.11 is an exploded perspective view of the pusher block according to the fourth embodiment of the present invention.
도12는 도11의 L-L선을 자른 단면도이다.12 is a cross-sectional view taken along line L-L of FIG.
도13은 도11의 푸셔블록을 설명하기 위한 참조도이다.FIG. 13 is a reference diagram for explaining a pusher block of FIG. 11.
*도면의 주요부위에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *
300, 500, 800, 1100 : 푸셔블록300, 500, 800, 1100: Pusher block
310, 510, 810, 1110 : 바디310, 510, 810, 1110: body
311 : 암나사홈311: female thread groove
311a : 스토퍼311a: stopper
511, 811 : 푸셔삽입홈511, 811: Pusher Insertion Groove
811a : 안내홈 811b : 걸림턱811a:
512 : 암나사홀512: female thread hole
1111 : 푸셔장착홈1111: Pusher mounting groove
1112 : 스프링안착홈 1113 : 덮개삽입홈1112: spring seating groove 1113: cover insertion groove
320, 520, 820, 1120 : 푸셔320, 520, 820, 1120: pusher
321, 521, 821, 1121 : 전단부321, 521, 821, 1121: shear
322, 522, 822, 1122 : 후단부322, 522, 822, 1122: rear end
322a : 걸림턱322a: jamming jaw
522a : 볼삽입홈522a: Ball Insertion Groove
822a : 걸림돌기822a: jamming
1122a : 스프링걸림홈1122a: Spring latching groove
530 : 볼플런저530: Ball Plunger
830 : 코일스프링830: coil spring
1130 : 선스프링1130: sun spring
1140 : 덮개1140: cover
본 고안은 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔블록에 관한 것이다.The present invention relates to a pusher block for a match plate of a test handler.
테스트핸들러라 함은 생산된 반도체소자의 출하에 앞서 그 양부를 테스터에 의해 테스트하고자 할 경우, 테스터에 반도체소자를 공급한 후 테스트완료된 반도체소자를 그 양부에 따라는 분류하는 장치를 말한다.The test handler refers to a device for classifying the tested semiconductor devices according to their specifications after supplying the semiconductor devices to the tester before the shipment of the produced semiconductor devices.
그러한 테스트핸들러에 관해서는 이미 대한민국 공개특허공보 공개번호 특2003-0029266호(고안의 명칭 : 테스트핸들러) 등과 같은 다수의 공개문서들을 통해 공개되어 있다.Such a test handler has already been disclosed through a number of public documents such as Korean Patent Laid-Open Publication No. 2003-0029266 (designated test handler).
일반적으로 테스트핸들러는 고객트레이에 적재된 반도체소자들을 테스트트레이로 로딩시켜 테스트트레이에 적재된 상태의 반도체소자들을 테스터에 공급하고, 테스트가 완료된 반도체소자들을 테스트트레이로부터 고객트레이로 언로딩시키도록 되어 있다.In general, the test handler loads the semiconductor devices loaded in the customer tray into the test tray, supplies the semiconductor devices loaded in the test tray to the tester, and unloads the tested semiconductor devices from the test tray to the customer tray. have.
위와 같이 테스트핸들러는 테스트트레이에 적재된 상태의 반도체소자들을 테스터에 공급하기 위해 테스트트레이를 테스터의 하이픽스보드에 도킹시키기 위한 매치플레이트를 필요로 한다.As described above, the test handler needs a match plate for docking the test tray to the high fix board of the tester to supply the semiconductor devices loaded in the test tray to the tester.
도1은 상하 2단으로 배열된 2장의 테스트트레이(11)와 이에 대응되는 2장의 매치플레이트(12)를 개략적으로 도시하고 있으며, 도2는 두장의 하이픽스보드(21)를 가지는 테스트헤드(20)를 개략적으로 도시하고 있다. 매치플레이트(12)는 프레스유닛(13)에 끼워진 상태에서 동력원(14, 도면상에는 실린더로 표현됨)의 작동에 의해 프레스유닛(13)이 테스트트레이(11) 측으로 전진하게 됨에 따라서 함께 전진함으로써 테스트트레이(11)와 도킹된다. 그리고 계속적인 동력원(14)의 작동에 의해 매치플레이트(12)가 계속 전진함으로써 테스트트레이(11)도 테스트헤드(20) 측으로 전진하게 되어 궁극적으로 테스트트레이(11)가 하이픽스보드(21)에 도킹하게 된다. 테스트트레이(11)가 하이픽스보드(21)에 도킹된 상태에서는 동력원(14)의 작동이 정지되는데, 이 때, 매치플레이트(12)에 행렬형태로 다수 구비되는 푸셔(12a)가 테스트트레이(11)의 인서트(11a)에 적재된 반도체소자를 지지하는 한편 하이픽스보드(21)의 테스트소켓(21a) 측으로 미는 상태를 유지하여 반도체소자가 테스트소켓(21)에 적절히 정합된 상태로 유지되도록 한다.FIG. 1 schematically shows two
계속하여 도1의 확대도시 된 부분에서 참조되는 바와 같이, 푸셔(12a)는 수나사볼트(12d)에 의해 바디(12b)에 고정 장착된 상태에서 매치플레이트(12)의 본체(12c)에 결합된다. 이러한 푸셔(12a)가 바디(12b)에 고정되는 고정구조에 대해서 더 상세히 설명하면, 푸셔(12a)에는 전단면에서 후단면으로 관통하는 암나사홈(12a-1)이 형성되고, 바디(12b)에도 푸셔의 암나사홈(12a-1)과 대응되는 위치에 암나사홈(미도시)이 형성되어 있어서, 수나사볼트(12d)에 의해 푸셔(12a)가 바디(12b)에 고정되게 되어 있다(이하에서는 '푸셔'와 '바디'의 결합체를 '푸셔블록' 이라 한다). As shown in the enlarged portion of FIG. 1, the
한편, 테스트되던 반도체소자와 크기(두께나 평면적)가 다른 반도체소자를 테스트하기 위해서는 새로운 반도체소자의 물리적 규격에 적절히 대응될 수 있도록 일반적으로 테스트트레이(11)의 인서트(11a) 및 하이픽스보드(21)의 테스트소켓(21a)을 교체하고, 매치플레이트(12)의 푸셔(12a)를 교체해 주어야만 한다(일반적으로 인서트, 테스트소켓, 푸셔를 교환하지 않고, 그에 대응하는 테스트트레이, 하이픽스보드, 매치플레이트를 교체한다). 특히 새로운 반도체소자의 평면적이 좁아진다거나 하는 경우 반도체소자에 접촉되는 푸셔의 전단면의 면적이 좁아져야 하는데, 이러한 경우 도1에 도시된 종래의 고정구조에 의해서는 암나사홈(12a-1)의 존재로 인하여 기존의 바디(12b)를 활용할 수 없기 때문에 푸셔블록의 교체(일반적으로 매치플레이트의 교체)는 필수적이었다. 그리고 반도체소자의 종류에 따라 푸셔와 바디가 일체로 된 푸셔블록도 사용되고 있는데, 이러한 경우에도 테스트될 반도체소자의 물리적규격이 바뀌면 푸셔블록의 교체(일반적으로 매치플레이트의 교체)는 역시 필수적이다.On the other hand, in order to test a semiconductor device having a different size (thickness or planar) from the semiconductor device under test, the
또한, 도1의 확대 도시된 부분에서 보여 지는 바와 같이 두 지점에서의 나사결합에 의해 푸셔(12a)가 바디(12b)에 고정되기 때문에 푸셔(12a)를 바디(12b)로부터 분리시키거나 결합시키는 것이 가능하나, 이 경우 두 지점에서 일일이 나사 탈착작업을 수행하여야 하고, 이러한 점은 푸셔(12a)의 교체작업에 수반하는 시간 및 인력의 낭비와 테스트핸들러의 가동률을 떨어뜨리는 결과를 초래한다. 이러한 가동률 저하를 막기 위해 일반적으로 푸셔만을 교체하거나 푸셔블록만을 교체하지 않고 매치플레이트를 교환한다. 이 경우 큰 액수의 추가비용지불이 불가피하고, 자원의 낭비를 초래하게 된다.Also, as shown in the enlarged portion of FIG. 1, the
상기한 문제점을 해결하기 위한 본 고안의 제1목적은 테스트될 반도체소자의 규격, 특히 평면적의 축소가 있더라도 푸셔의 교체만으로 새로이 테스트될 반도체소자에 적용가능할 수 있는 푸셔블록을 제공하는 것이다.A first object of the present invention for solving the above problems is to provide a pusher block that can be applied to a semiconductor device to be newly tested only by replacement of the pusher, even if the size of the semiconductor device to be tested, in particular, the reduction in planar area.
그리고 본 고안의 제2목적은 탄성력에 의해 푸셔를 바디에 고정시킴으로써 원터치식으로 간편하게 푸셔를 바디에 탈착하는 것이 가능한 푸셔블록을 제공하는 것이다.And a second object of the present invention is to provide a pusher block capable of easily detaching the pusher to the body in a one-touch manner by fixing the pusher to the body by the elastic force.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안에 따른 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔블록은, 반도체소자를 테스터의 테스트소켓에 밀착시키기 위한 푸셔; 및 상기 푸셔가 장착되는 바디; 를 포함하며, 상기 푸셔는, 반도체소자와 접촉되는 전단면이 속하는 전단부와 상기 바디에 장착되는 후단부 중 상기 후단부에 상기 바디에 고정되기 위한 푸셔고정구조를 가지고, 상기 바디는, 상기 푸셔고정구조에 대응되는 바디고정구조를 가지는 것을 특징으로 한다.Match plate pusher block of the test handler according to the present invention for achieving the above object, the pusher for closely contacting the semiconductor device to the test socket of the tester; And a body to which the pusher is mounted; It includes, The pusher has a pusher fixing structure to be fixed to the body at the rear end of the front end and the rear end is attached to the body that is in contact with the semiconductor element, the body, the pusher It is characterized by having a body fixing structure corresponding to the fixing structure.
상기 바디고정구조는, 상기 바디에 형성된 암나사홈이고, 상기 푸셔고정구조는, 상기 푸셔의 상기 후단부에 형성되어서 상기 암나사홈에 대응될 수 있는 수나사산인 것을 또 하나의 특징으로 한다. 여기서 상기 푸셔의 나사회전의 종료 위치 를 결정하기 위한 적어도 하나 이상의 스토퍼 및 상기 적어도 하나 이상의 스토퍼에 걸리는 적어도 하나 이상의 걸림턱이 상기 바디고정구조 또는 상기 푸셔고정구조에 각각 선택적으로 마련되는 것을 또 하나의 특징으로 한다.The body fixing structure is a female screw groove formed in the body, the pusher fixing structure is characterized in that the male thread formed on the rear end of the pusher can correspond to the female screw groove. Wherein at least one stopper for determining the end position of the screw rotation of the pusher and at least one locking jaw caught by the at least one stopper are selectively provided in the body fixing structure or the pusher fixing structure, respectively It features.
상기 바디에 형성된 푸셔삽입홈의 일 측 내벽면으로 볼이 돌출되도록 설치되는 볼플런저를 더 포함하고, 상기 바디고정구조는, 상기 푸셔의 상기 후단부가 삽입되는 상기 푸셔삽입홈 및 상기 푸셔삽입홈의 일 측 내벽면으로 상기 볼플런저의 상기 볼이 돌출되도록 상기 볼플런저를 장착시키기 위해 마련되는 볼플런저장착공이고, 상기 푸셔고정구조는, 상기 푸셔의 상기 후단부가 상기 푸셔삽입홈에 삽입될 시에 상기 볼플런저장착공을 통해 상기 바디에 장착된 상기 볼플런저의 상기 볼이 삽입될 수 있는 볼삽입홈인 것을 또 하나의 특징으로 한다.And a ball plunger installed to protrude a ball into one side inner wall surface of the pusher insertion groove formed in the body, wherein the body fixing structure includes the pusher insertion groove and the pusher insertion groove into which the rear end of the pusher is inserted. And a ball plunger storage mounting hole provided to mount the ball plunger so that the ball of the ball plunger protrudes to one side inner wall surface, and the pusher fixing structure is provided when the rear end of the pusher is inserted into the pusher insertion groove. It is another feature that the ball insertion groove into which the ball of the ball plunger mounted to the body through the ball plunger storage fitting hole can be inserted.
상기 바디고정구조는, 상기 푸셔의 상기 후단부가 삽입되는 푸셔삽입홈 및 상기 푸셔삽입홈의 내 측으로 형성된 적어도 하나 이상의 걸림턱이고, 상기 푸셔고정구조는, 상기 푸셔의 상기 후단부가 상기 푸셔삽입홈에 삽입된 후 회전되면 상기 적어도 하나 이상의 걸림턱에 의해 걸리는 적어도 하나 이상의 걸림돌기인 것을 또 하나의 특징으로 한다. 여기서 상기 바디고정구조는, 상기 푸셔의 상기 후단부가 상기 푸셔삽입홈에 삽입될 시에 상기 적어도 하나 이상의 걸림돌기를 안내하기 위한 적어도 하나 이상의 안내홈을 더 가지는 것을 또 하나의 특징으로 한다. 상기 푸셔삽입홈 내부에 마련되어 상기 푸셔삽입홈에 삽입된 상기 푸셔의 상기 후단부를 탄성지지하는 스프링을 더 포함하는 것을 또 하나의 특징으로 한다.The body fixing structure includes at least one locking jaw formed into an inner side of the pusher insertion groove and the pusher insertion groove into which the rear end of the pusher is inserted, and the pusher fixing structure includes the rear end of the pusher in the pusher insertion groove. When inserted and rotated, it is another feature that the at least one locking projection is caught by the at least one locking jaw. The body fixing structure is further characterized by further having at least one guide groove for guiding the at least one locking projection when the rear end of the pusher is inserted into the pusher insertion groove. It is further characterized in that it further comprises a spring provided inside the pusher insertion groove to elastically support the rear end of the pusher inserted into the pusher insertion groove.
상기 바디에 형성된 푸셔삽입홈의 내부에 설치되는 선스프링을 더 포함하고, 상기 바디고정구조는, 상기 푸셔의 상기 후단부 및 상기 선스프링이 삽입 장착될 수 있는 상기 푸셔삽입홈이고, 상기 푸셔고정구조는, 상기 푸셔의 상기 후단부가 상기 푸셔삽입홈에 삽입될 시에 상기 선스프링이 걸리는 걸림홈인 것을 또 하나의 특징으로 한다.And a line spring installed in the pusher insertion groove formed in the body, wherein the body fixing structure is the pusher insertion groove into which the rear end of the pusher and the line spring can be inserted, and the pusher fixed. The structure is further characterized in that the rear end of the pusher is a locking groove to which the line spring is caught when the pusher insertion groove is inserted.
또한 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔블록은, 반도체소자를 테스터의 테스트소켓에 밀착시키기 위한 푸셔; 상기 푸셔가 장착되는 바디; 및 상기 바디에 장착된 상기 푸셔를 탄성가압하여 상기 푸셔를 상기 바디에 고정시키는 탄성가압부재; 를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the pusher block for the match plate of the test handler according to the present invention for achieving the above object, the pusher for closely contacting the semiconductor device to the test socket of the tester; A body on which the pusher is mounted; And an elastic pressing member for elastically pressing the pusher mounted to the body to fix the pusher to the body. Characterized in that it comprises a.
상기 탄성가압부재는, 상기 바디에 형성된 푸셔삽입홈의 일 측 내벽면으로 볼이 돌출되도록 설치되는 볼플런저이고, 상기 푸셔에는, 상기 푸셔삽입홈에 삽입되는 부분에 상기 볼플런저의 상기 볼이 삽입될 수 있는 볼삽입홈이 형성된 것을 또 하나의 특징으로 한다.The elastic pressing member is a ball plunger is installed so that the ball protrudes into one side inner wall surface of the pusher insertion groove formed in the body, the pusher, the ball of the ball plunger is inserted into the portion to be inserted into the pusher insertion groove. Another feature is that the ball insertion groove is formed.
상기 탄성가압부재는, 상기 바디에 형성된 푸셔삽입홈의 내부에 설치되어 상기 푸셔의 상기 후단부를 탄성지지하기 위해 마련되는 스프링이고, 상기 바디에는, 상기 푸셔삽입홈의 내 측으로 적어도 하나 이상의 걸림턱이 형성되어 있으며, 상기 푸셔에는, 상기 푸셔삽입홈에 삽입된 후 회전되면 상기 적어도 하나 이상의 걸림턱에 의해 걸리는 적어도 하나 이상의 걸림돌기가 형성된 것을 또 하나의 특징으로 한다.The elastic pressing member is a spring provided in the pusher insertion groove formed in the body to elastically support the rear end of the pusher, the body, at least one locking jaw toward the inner side of the pusher insertion groove Is formed, the pusher is characterized in that at least one engaging projection is formed by the at least one engaging jaw is rotated after being inserted into the pusher insertion groove.
상기 탄성가압부재는, 상기 바디에 형성된 푸셔삽입홈 내부에 마련되는 선스프링이고, 상기 푸셔에는, 상기 푸셔삽입홈에 삽입되면 상기 선스프링에 걸리는 걸림홈이 형성된 것을 또 하나의 특징으로 한다.The elastic pressing member is a line spring provided in the pusher insertion groove formed in the body, the pusher is characterized in that the locking groove is formed to be caught by the line spring when inserted into the pusher insertion groove.
또한 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔블록은, 반도체소자를 테스터의 테스트소켓에 밀착시키기 위한 푸셔; 상기 푸셔가 장착되는 바디; 및 상기 푸셔에 설치되어 상기 바디의 일부분을 탄성가압하여 상기 푸셔를 상기 바디에 고정시키는 탄성가압부재; 를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the pusher block for the match plate of the test handler according to the present invention for achieving the above object, the pusher for closely contacting the semiconductor device to the test socket of the tester; A body on which the pusher is mounted; And an elastic pressing member installed on the pusher to elastically press a portion of the body to fix the pusher to the body. Characterized in that it comprises a.
또한 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 상기한 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔블록이 행렬행태로 다수 구비된 테스트핸들러용 매치플레이트를 포함한다.In addition, the present invention for achieving the above object, includes a test plate for the test handler that is provided with a plurality of pusher block for the test plate of the test handler in the matrix state.
이하에서는 상술한 바와 같은 본 고안에 따른 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔블록(이하 '푸셔블록'으로 약칭함)에 대한 바람직한 실시예들에 대하여 도3 이하를 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 중복되는 설명은 가급적 생략하거나 압축하기로 한다.Hereinafter, with reference to Figure 3 below with respect to preferred embodiments of the pusher block for the match plate of the test handler according to the present invention (hereinafter abbreviated as 'pusher block'), but for the sake of brevity of description Overlapping descriptions will be omitted or compressed if possible.
<제1실시예>First Embodiment
도3은 본 고안의 제1실시예에 따른 푸셔블록(300)에 대한 분해사시도이고, 도4는 도3의 푸셔블록(300)을 I-I 방향으로 잘라 A방향에서 바라본 일부 결합단면도이다. 도3 및 도4에 도시된 바와 같이 본 실시예에 따른 푸셔블록(300)은 바디(310)와 푸셔(320)를 포함하여 구성된다.3 is an exploded perspective view of the
바디(310)에는 푸셔(320)가 나사결합되기 위한 암나사홈(311)이 형성되어 있으며, 이 암나사홈(311)의 상측은 확장되어 있고, 확장된 부분에는 암나사홈(311)의 내측 방향으로 돌출된 스토퍼(311a)가 형성되어 있다. 여기서 암나사홈(311) 및 스토퍼(311a)는 푸셔(320)가 가지는 고정구조에 대응되도록 바디(310) 측에 마련되는 고정구조이다.The
푸셔(320)는 전단면(도면상으로는 상면, 이하 같은 의미로 사용됨)이 반도체소자와 접촉하는데, 이러한 전단면이 포함된 사각기둥형상의 전단부(321)와 바디(310)의 암나사홈(311)에 삽입되는 원기둥형상의 후단부(322)로 나눌 수 있다. 그리고 푸셔(320)의 후단부(322)에는 그 외면에 수나사산이 형성되어 있어서 바디(310)의 암나사홈(311)에 나사결합될 수 있도록 되어 있고, 수나사산의 상측으로는 후단부(322)의 외측으로 돌출된 걸림턱(322a)이 형성되어 있어서 정해진 만큼의 나사회전을 하게 되면 바디(310)의 스토퍼(311a)에 걸리도록 되어 있다. 여기서 걸림턱(322a)과 스토퍼(311a)는 푸셔(320)의 회전정도, 즉, 푸셔(320)의 회전 종료 위치를 결정하기 위한 것으로, 걸림턱(322a)이 바디(310)에 형성되고 스토퍼(311a)가 푸셔(320)에 형성되는 구성도 얼마든지 가능하며, 푸셔(320)의 회전 종료 위치를 결정하기 위한 구성이라면 얼마든지 대체 가능하다.The
이와 같은 실시예에 따른 푸셔블록(300)에서, 푸셔(320)의 교체 시 작업자는 푸셔(320)를 바디(310)에 대하여 상대적으로 회전시킴으로써 간단하게 푸셔(320)를 바디(310)로부터 탈착시킬 수 있게 된다. 물론 걸림턱(322a) 및 스토퍼(311a)는, 푸셔(320)가 정해진 정도의 회전을 함으로써 푸셔(320)의 사각형상의 전단면이 반도체소자의 사각형상의 평면과 일치되도록 푸셔(320)의 회전 종료위치를 결정하게 된다.In the
본 실시예에서는 바디(310)에 암나사홈(311) 및 스토퍼(311a)가 형성되고 푸셔(320)에 수나사산 및 걸림턱(322a)이 형성되는데, 반대로 바디에 수나사산 및 걸림턱이 형성된 바디돌기를 마련하고 푸셔에 암나사홈 및 스토퍼를 형성시키는 것도 가능하다.In the present embodiment, the
위와 같은 실시예에서 보면, 푸셔(320)를 바디(310)에 탈착시키는데 있어서 푸셔(320)에 고정구조로서 구비되는 수나사산이 푸셔(320)의 후단부(322)에 마련되어 있기 때문에 반도체소자와 접촉하는 푸셔(320)의 전단면을 포함하는 전단부(321)의 여하한 물리적 규격과 고정구조는 아무런 관계가 없다. 따라서 푸셔(320)의 후단부(322)만이 표준화된 규격을 가진다면, 푸셔(320)의 전단면을 포함한 전단부(321)의 물리적 규격과는 관계없이 어떠한 푸셔(320)라도 바디(310)에 적절히 고정될 수 있게 된다.In the above embodiment, since the male thread provided as a fixed structure on the
<제2실시예>Second Embodiment
도5는 본 고안의 제2실시예에 따른 푸셔블록의 분해사시도이고, 도6은 도5의 푸셔블록(500)을 J1-J1 방향에서 잘라 B1 방향에서 바라본 일부 결합단면도이다.Figure 5 is an exploded perspective view of the pusher block according to a second embodiment of the subject innovation, Figure 6 is a part sectional view taken along the combined
도5를 참조하여 보면, 본 실시예에 따른 푸셔블록(500)은 바디(510), 푸셔(520) 및 탄성가압부재로서 마련되는 볼플런저(530) 등을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 5, the
바디(510)에는 사각기둥형상의 푸셔삽입홈(511)과 푸셔삽입홈(511)의 일 측방으로 암나사홀(512)이 형성되어 있다. 여기서 암나사홀(512)은 볼플런저(530)를 바디(510)에 장착시키기 위한 볼플러저장착공으로서 구비되는 것이다. 여기서 푸셔삽입홈(511) 및 암나사홀(512)은 푸셔(520)가 가지는 고정구조에 대응되도록 바디(510) 측에 마련되는 고정구조이다.In the
푸셔(520)는 전단면이 속하는 사각기둥형상의 전단부(521)와 푸셔삽입홈(511)에 삽입되며 일 측방에 볼삽입홈(522a)이 형성된 후단부(522)로 나눌 수 있다.The
볼플런저(530)는 내부에 스프링(미도시)이 장착된 몸통(532)의 외면에 암나사홀(512)에 나사결합되기 위한 수나나산이 형성되어 있으며, 그 끝단에는 스프링(미도시)에 의해서 탄성지지되는 볼(531)이 구비되어 있다. 이러한 볼플런저(530)는 나사결합식으로 암나사홀(512)에 삽입된 상태에서는 볼(531)의 끝단이 푸셔삽입홈(511)의 내측으로 돌출되도록 되어 있다. 도7은 도5의 푸셔블록(500)을 J2-J2 방향에서 잘라 B2 방향에서 바라본 단면도로서 볼플런저(530)의 볼(531) 끝단이 푸셔삽입홈(511)의 내측으로 돌출되어 푸셔(520)의 볼삽입홈(522a)에 삽입되어 있는 것이 잘 표현되어 있다. 그리고 주지된 바와 같이 볼플런저(530)의 볼(531)은 스프 링(미도시)에 의해 탄성지지되기 때문에 볼플런저(530)의 길이 방향(도면상 J2-J2 방향)으로 진퇴 가능하다. The
이와 같은 푸셔블록(500)에 의하면, 작업자가 탄성지지되는 볼(531)에 탄성력을 극복할 수 있는 정도의 힘을 가하여 푸셔(520)를 푸셔삽입홈(511)에 강제적으로 끼우거나 빼는 동작에 의해, 푸셔(520)를 간단하게 바디(510)로부터 탈착시킬 수 있고, 푸셔(520)가 바디(510)에 장착되었을 시에는 도7에서 참조되는 바와 같이 볼플런저(530)의 볼(531) 끝단이 푸셔(520)의 볼삽입홈(522a)에 삽입되어 있기 때문에 특별한 외력이 가해지지 않는 한 푸셔(520)가 바디(510)에 고정될 수 있게 된다. 즉, 작업자는 원터치식으로 간편하게 푸셔(520)를 바디(510)에 탈착시키는 것이 가능해지는 것이다. According to the
본 실시예는 탄성가압부재를 사용해 푸셔(520)를 바디(510)에 고정시키는 예에 관한 것으로, 탄성가압부재로서 볼플런저(530)가 사용되고 있다.The present embodiment relates to an example in which the
본 실시예에서는 바디(510)에 푸셔삽입홈(511) 및 암나사홀(512)이 형성되고 푸셔(320)에 볼삽입홈(522a)이 형성되고 볼플런저(530)가 바디에 고정되는데, 반대로 바디에 볼삽입홈이 형성된 바디돌기를 마련하고 푸셔에 바디돌기삽입홈 및 암나사홀을 형성시키고 볼플런저를 푸셔에 고정시키는 것도 가능하다.In the present embodiment, the
본 실시예에 따르는 경우에도, 푸셔(520)를 바디(510)에 탈착시키는데 있어서 푸셔(520)에 고정구조로서 구비되는 볼삽입홈(522a)이 푸셔삽입홈(511)에 삽입되는 푸셔(520)의 후단부(522)에 마련되어 있기 때문에 반도체소자와 접촉하는 푸 셔(520)의 전단면을 포함하는 전단부(521)의 여하한 물리적 규격과 고정구조는 아무런 관계가 없다. 따라서 푸셔(520)의 후단부(522)만이 표준화된 규격을 가진다면, 푸셔(520)의 전단면을 포함한 전단부(521)의 물리적 규격과는 관계없이 어떠한 푸셔(520)라도 바디(510)에 적절히 고정될 수 있게 된다.Even in this embodiment, the
<제3실시예>Third Embodiment
도8은 본 고안의 제3실시예에 대한 푸셔블록(800)의 분해사시도이고, 도9는 도8의 푸셔블록(800)을 K-K방향에서 잘라 C방향에서 바라본 단면도이다.FIG. 8 is an exploded perspective view of the
도8 및 도9를 참조하여 보면, 본 실시예에 따른 푸셔블록(800)은 바디(810), 푸셔(820) 및 탄성가압부재로서 마련되는 코일스프링(830) 등을 포함하여 구성된다.8 and 9, the
바디(810)에는 원기둥형상의 푸셔삽입홈(811)이 형성되어 있고, 푸셔삽입홈(811)의 일 측 내벽면으로는 안내홈(811a)이 상하방향으로 형성되어 있되 도9에서 참조되는 바와 같이 그 하측 끝단은 원기둥형상의 푸셔삽입홈(811)의 둘레방향으로 꺽여 연장되어 있으며, 연장된 부분의 끝단은 상측으로 확장되어서 걸림턱(811b)을 이루도록 되어 있다. 여기서 푸셔삽입홈(811), 안내홈(811a) 및 걸림턱(811b)는 푸셔(820)가 가지는 고정구조에 대응되도록 바디(810) 측에 마련되는 고정구조이다.A cylindrical
푸셔(820)는 전단면이 속하는 사각기둥형상의 전단부(821)와 푸셔삽입홈(811)에 삽입되는 원기둥형상의 후단부(822)로 나눌 수 있으며, 후단부(822)에는 외측으로 안내홈(811a)의 패인 깊이에 대응될 만큼의 돌출 정도를 가지는 걸림돌기(822a)가 형성되어 있다.The
그리고 코일스프링(830)은 도9에서 참조되는 바와 같이 푸셔삽입홈(811)의 저면에 안착되어서 푸셔(820)의 후단면을 탄성지지하도록 되어 있다. 참고로 푸셔(820)가 반도체소자를 테스트소켓에 정합시킨 상태를 적절히 유지하기 위한 힘, 즉, 푸셔(820)가 반도체소자를 테스트소켓에 미는 힘은 2Kg중을 넘지 않기 때문에, 코일스프링(830)은 2Kg중의 힘에서도 푸셔(820)가 코일스프링(830) 측으로 후퇴되지 않게 지지할 수 있을 정도의 탄성계수만 가지도록 구비되면 족하다.In addition, the
이와 같은 실시예에서 작업자가 푸셔(820)를 바디(810)에 장착시키기 위해서는 걸림돌기(822a)를 안내홈(811a)에 맞춘 상태에서 코일스프링(830)의 탄성력을 극복하면서 푸셔(820)의 후단부(822)를 푸셔삽입홈(811)에 삽입시킨 후 걸림돌기(822a)가 안내홈(811a)의 하측 끝단에 걸리게 되면, 개념적으로 도시된 도10의 평면도 상에서 참조되는 바와 같이, 도10의 (a)에서와 같은 회전 0 상태에서 푸셔(820)를 걸림턱(811b) 방향(도10의 화살표방향 참조)으로 회전시켜 도10의 (b)와 같은 회전 상태가 되도록 하고, 이러한 회전상태에서 코일스프링(830)의 탄성력이 작용하여 푸셔(820)를 상측방향으로 밀어 올려 푸셔(820)의 걸림돌기(822a)가 걸림턱(811b)에 걸리도록 한다. 이러한 경우 코일스프링(830)은 계속적으로 푸셔(820)의 후단면을 탄성지지함으로써 푸셔(820)의 임의적인 회전이나 이탈을 방지시킨다. 또한, 작업자가 푸셔(820)를 바디(810)로부터 탈거시키고자 한다면 전술된 동작과 반대로 동작시킴으로써 푸셔(820)를 손쉽게 바디(810)로부터 탈거시킬 수 있게 된 다. In such an embodiment, in order for the worker to mount the
본 실시예는 탄성가압부재를 사용해 푸셔(820)를 바디(810)에 고정시키는 예에 관한 것으로, 탄성가압부재로서 코일스프링(830)이 사용되고 있다.The present embodiment relates to an example in which the
본 실시예에서는 바디(810)에 푸셔삽입홈(811), 안내홈(811a) 및 걸림턱(811b)이 형성되고 푸셔(820)에 걸림돌기(822a)가 형성되고 코일스프링(830)이 바디에 안착되는데, 반대로 바디에 걸림돌기가 형성된 바디돌기를 마련하고 푸셔에 바디돌기삽입홈, 안내홈 및 걸림턱을 형성시키고 코일스프링을 푸셔에 안착시키는 것도 가능하다.In the present embodiment, the
본 실시예에 따르는 경우에도, 푸셔(820)를 바디(810)에 탈착시키는데 있어서 푸셔(820)에 고정구조로서 구비되는 걸림돌기(822a)가 푸셔(820)의 후단부(822)에 마련되어 있기 때문에 반도체소자와 접촉하는 푸셔(820)의 전단면을 포함하는 전단부(821)의 여하한 물리적 규격과 고정구조는 아무런 관계가 없다. 따라서 푸셔(820)의 후단부(822)만이 표준화된 규격을 가진다면, 푸셔(820)의 전단면을 포함한 전단부(821)의 물리적 규격과는 관계없이 어떠한 푸셔(820)라도 바디(810)에 적절히 고정될 수 있게 된다.Even in this embodiment, in order to detach the
<제4실시예>Fourth Embodiment
도11은 본 고안의 제4실시예에 대한 푸셔블록(1100)의 분해사시도이고, 도12는 도11의 푸셔블록(1100)을 L-L방향에서 잘라 D방향에서 바라본 단면도이다.FIG. 11 is an exploded perspective view of the
도11 및 도12에서 참조되는 바와 같이, 본 실시예에 따른 푸셔블록(1100)은, 바디(1110), 푸셔(1120), 탄성가압부재로서 마련되는 선스프링(1130), 및 덮개(1140) 등을 포함하여 구성된다.11 and 12, the
바디(1110)에는 푸셔삽입홈이 형성되어 있는데, 이러한 푸셔삽입홈은 다시 푸셔장착홈(1111)과, 푸셔장착홈(1111)의 상측으로 푸셔장착홈(1111)보다 더 확장되게 형성된 스프링안착홈(1112)과, 다시 스프링안착홈(1112)의 상측으로는 스프링안착홈(1112)보다 더 확장된 덮개삽입홈(1113)으로 단계적으로 나뉘어져 있다. 여기서 푸셔장착홈(1111), 스프링안착홈(1112) 및 덮개삽입홈(1113)을 포함하는 푸셔삽입홈은 푸셔(1120)가 가지는 고정구조에 대응되도록 바디(1110) 측에 마련되는 고정구조이다.The
푸셔(1120)는 반도체소자와 접촉하는 전단면이 속하는 사각기둥 형상의 전단부(1121)와 바디(1110) 측에 삽입되는 사각 기둥형상의 후단부(1122)로 나눌 수 있으며, 후단부(1122)의 둘레방향으로는 스프링걸림홈(1122a)이 형성되어 있고 후단의 모서리는 도12의 M부분에서 참조되는 바와 같이 테이퍼져 있다.The
선스프링(1130)은 대체로 U자 형상으로 구비되며 스프링안착홈(1112)에 안착되는데, 도11에 도시된 바와 같이 개구된 부분 및 그 반대 부분이 바디(1110)의 길이 방향(도11상에서 L-L 방향)으로 놓여지도록 되어 있다. 그리고 선스프링(1130)의 양단은 스프링안착홈(1112)의 내벽면과 일정 간격(d)을 유지하도록 되어 있으며, 이를 위해 스프링안착홈(1112)은 선스프링(1130)의 양단과 대응되는 부분이 선스프링(1130)의 양단과 일정 간격(d)을 유지하도록 약간 확장되어 있는데, 이러한 이유는 후술되는 바와 같이 푸셔(1120)가 푸셔장착홈(1111)에 장착될 시에 선스프 링(1130)의 양단이 탄성변형 가능하도록 하기 위함이다. 참고로 선스프링(1130)의 양단 간의 간격(e)은 푸셔(1120)의 두께 폭보다 좁아야 되지만 걸림홈(1122a)에 적절히 삽입될 정도는 되어야 한다. The
덮개(1140)는 덮개삽입홈(1113)에 삽입되어 나사 등으로 고정되며, 상기한 푸셔장착홈(1111)에 대응되는 위치 및 크기로 사각형상의 푸셔통과홀(1141)이 형성되어 있다.The
위와 같은 구조의 푸셔블록(1100)은 바디(1110)에 선스프링(1130) 및 덮개(1140)가 설치된 상태로 조립되어 있고, 그와 같은 상태의 바디(1110)에 푸셔(1120)가 탈착 가능하게 고정된다.The
즉, 본 실시예에 따른 푸셔블록(1100)에서 작업자가 푸셔(1120)를 바디(1110)에 장착할 시에는 푸셔(1120)의 후단부(1122)를 덮개(1140)의 푸셔통과홀(1141) 및 바디(1110)의 푸셔장착홈(1111)에 위치시킨 상태에서 개념적으로 도시된 도13의 단면도에서 참조되는 바와 같이, 도13의 (a) 상태에서 푸셔(1120)를 선스프링(1130)의 탄성력을 극복할 수 있는 세기의 힘(F)으로 밀어주면, 선스프링(1130)의 양단이 탄성변형을 하면서 테이퍼면을 타고 외측으로 벌어지게 되어 푸셔(1120)가 푸셔장착홈(1111)에 진입될 수 있게 되고, 푸셔(1120)가 푸셔장착홈(1111)에 완전히 삽입되어 안착된 상태에서는 도13의 (b) 상태에서와 같이 선스프링(1130)의 양단이 탄성복원되어 푸셔(1120)의 스프링걸림홈(1122a)에 삽입됨으로써 특별한 외력이 가해지지 않는 한 푸셔(1120)는 안정적으로 바디(1110)에 장착된 상태를 유지하게 된다.That is, when the operator mounts the
본 실시예는 탄성가압부재를 사용해 푸셔(1120)를 바디(1110)에 고정시키는 예에 관한 것으로, 탄성가압부재로서 선스프링(1130)이 사용되고 있다.The present embodiment relates to an example in which the
본 실시예에서는 바디(1110)에 푸셔장착홈(1111), 스프링안착홈(1112) 및 덮개삽입홈(1113)으로 이루어진 푸셔삽입홈이 형성되고 푸셔(820)에 스프링걸림홈(1122a)이 형성되고 선스프링(1130) 및 덮개(1140)가 바디에 설치되는데, 반대로 바디에 스프링걸림홈이 형성된 바디돌기를 마련하고 푸셔에 바디돌기장착홈, 스프링안착홈 및 덮개삽입홈으로 이루어진 바디돌기삽입홈을 형성시키고 선스프링 및 덮개를 푸셔에 설치시키는 것도 가능하다.In the present embodiment, a pusher insertion groove including a
본 실시예에 따르는 경우에도, 푸셔(1120)를 바디(1110)에 탈착시키는데 있어서 푸셔(1120)에 고정구조로서 구비되는 스프링걸림홈(1122a)이 푸셔(1120)의 후단부(1122)에 마련되어 있기 때문에 반도체소자와 접촉하는 푸셔(1120)의 전단면을 포함하는 전단부(1121)의 여하한 물리적 규격과 고정구조는 아무런 관계가 없다. 따라서 푸셔(1120)의 후단부(1122)만이 표준화된 규격을 가진다면, 푸셔(1120)의 전단면을 포함한 전단부(1121)의 물리적 규격과는 관계없이 어떠한 푸셔(1120)라도 바디(1110)에 적절히 고정될 수 있게 된다.Even in this embodiment, in order to detach the
상술한 바와 같이, 본 고안에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 설명된 실시예는 본 고안의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 고안이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 고안의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 등가개념으로 이해되어져야 할 것이다.As described above, the detailed description of the present invention has been made by the embodiments with reference to the accompanying drawings, but since the described embodiments have only been described as a preferred example of the present invention, the present invention has been described only in the above embodiments. It should not be understood to be limited, and the scope of the present invention should be understood as the following claims and equivalent concepts.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 고안에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.As described in detail above, the present invention has the following effects.
첫째, 푸셔의 후단부에만 바디와 결합 고정되기 위한 고정구조가 있기 때문에 푸셔의 전단부의 물리적 규격과 고정구조는 무관하므로, 고정구조가 있는 후단부만 표준화되면 전단부가 어떠한 물리적 규격을 가지는 푸셔라도 바디에 장착될 수 있다. 따라서 반도체소자의 여하한 물리적 규격의 변환 시에도 바디의 교체 없이 푸셔만을 교체하면 되므로, 자원의 활용률을 높일 수 있다.First, since the physical structure and the fixed structure of the front end of the pusher are irrelevant because there is a fixed structure for coupling and fixing to the body only at the rear end of the pusher, if only the rear end with the fixed structure is standardized, the pusher has any physical specifications. It can be mounted on. Accordingly, even when the physical device is converted to any physical standard, only the pusher needs to be replaced without replacing the body, thereby increasing resource utilization.
둘째, 탄성력에 의해 푸셔의 고정상태를 유지시키기 때문에 작업자가 탄성력을 극복할 수 있는 세기의 힘 정도만 가하면 별다른 도구의 사용 없이 원터치식으로 푸셔를 바디에 탈착시킬 수 있어서 푸셔의 교체작업이 간편하고 빨라지게 되어, 인력이나 시간의 낭비를 막고 테스트핸들러의 가동률을 상승시킬 수 있다.Second, since the pusher is fixed by the elastic force, the operator can detach the pusher to the body in one-touch way without using any tools by simply applying the strength of the force to overcome the elastic force. This reduces the waste of manpower and time and increases the utilization of the test handler.
Claims (14)
Priority Applications (1)
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KR2020070001076U KR20080002841U (en) | 2007-01-22 | 2007-01-22 | Pusher block for match plate of test handler |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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KR2020070001076U KR20080002841U (en) | 2007-01-22 | 2007-01-22 | Pusher block for match plate of test handler |
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