KR20070092430A - Apparatus for reparing pixel of display device - Google Patents

Apparatus for reparing pixel of display device Download PDF

Info

Publication number
KR20070092430A
KR20070092430A KR1020060022560A KR20060022560A KR20070092430A KR 20070092430 A KR20070092430 A KR 20070092430A KR 1020060022560 A KR1020060022560 A KR 1020060022560A KR 20060022560 A KR20060022560 A KR 20060022560A KR 20070092430 A KR20070092430 A KR 20070092430A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
display panel
laser beam
femtosecond laser
pixel
high pixel
Prior art date
Application number
KR1020060022560A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
박명일
이동진
김경섭
이용의
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020060022560A priority Critical patent/KR20070092430A/en
Priority to JP2007045264A priority patent/JP2007241274A/en
Priority to TW096108022A priority patent/TW200807062A/en
Priority to CN2007100860864A priority patent/CN101034214B/en
Publication of KR20070092430A publication Critical patent/KR20070092430A/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259—Repairing; Defects
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B2006/12166—Manufacturing methods
    • G02B2006/12169—Annealing
    • G02B2006/12171—Annealing using a laser beam

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

An apparatus for repairing pixels of a display device is provided to more precisely repair a high pixel by using femtosecond laser beams and making intensity of the femtosecond laser beams uniform. An apparatus for repairing pixels(20) of a display device comprises the followings: a laser generator(110) for generating femtosecond laser beams; a beam homogenizer(120) for making intensity of the femtosecond laser beams uniform; and a concentrator(160) which concentrates the femtosecond laser beams to form its focus on a high pixel of a display panel assembly(10). The beam homogenizer includes a first aspherical lens for condensing a plurality of beam rays of the femtosecond laser beams at regular intervals, and a second aspherical lens for transmitting the plurality of beam rays at regular intervals.

Description

표시 장치의 픽셀 수리 장치{APPARATUS FOR REPARING PIXEL OF DISPLAY DEVICE}Pixel repair device for display device {APPARATUS FOR REPARING PIXEL OF DISPLAY DEVICE}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치를 나타낸 구성도이다.1 is a block diagram illustrating a pixel repair apparatus of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치에서 균질기를 나타낸 단면도이다.2 is a cross-sectional view illustrating a homogenizer in a pixel repair apparatus of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 3은 도 2의 균질기에 의해 펨토초 레이지 빔의 강도가 변화되는 상태를 나타낸 그래프이다.3 is a graph illustrating a state in which the intensity of the femtosecond laser beam is changed by the homogenizer of FIG. 2.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치에서 영점 조정기에 의해 촬영기의 초점이 변경되는 상태를 나타낸 도 3의 "A"부 확대도이다.FIG. 4 is an enlarged view of portion “A” of FIG. 3 illustrating a state in which a focus of a photographing apparatus is changed by a zero adjuster in a pixel repair apparatus of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치에 의해 하이 픽셀이 수리된 상태를 나타낸 도면이다. 5 is a diagram illustrating a state in which a high pixel is repaired by a pixel repair apparatus of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings

10: 표시 패널 어셈블리 12: 편광판10: display panel assembly 12: polarizer

20: 픽셀 100: 레이저 유닛20: pixel 100: laser unit

110: 레이저 발생기 120: 균질기110: laser generator 120: homogenizer

130: 셔터 140: 크기 조절기130: shutter 140: size adjuster

150: 유지기 160: 집속기150: holder 160: collector

300: 모니터링 유닛 310: 미러부300: monitoring unit 310: mirror portion

311: 제1 전반사 미러 312: 제2 전반사 미러311: first total reflection mirror 312: second total reflection mirror

320: 촬영기 330: 영점 조정기320: camera 330: zero point adjuster

340: 광원 350: 자동 포커싱 센서340: light source 350: automatic focusing sensor

본 발명은 표시 장치에 관한 것으로서, 더 상세하게는 표시 장치의 픽셀 수리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a display device, and more particularly, to a pixel repair apparatus of a display device.

일반적으로, 평판 표시 장치는 액정 표시 장치(LCD, liquid crystal display)와 유기 발광 다이오드(OLED, organic light emitting diode) 표시 장치 등 여러 종류가 있다.In general, there are various types of flat panel display devices such as a liquid crystal display (LCD) and an organic light emitting diode (OLED) display.

예를 들어, 액정 표시 장치는 공통 전극과 컬러 필터(color filter) 등이 형성되어 있는 제1 표시 패널과, 화소 전극과 박막 트랜지스터 등이 형성되어 있는 제2 표시 패널 사이에 액정 물질을 주입해 놓고 공통 전극과 화소 전극에 서로 다른 전위를 인가함으로써 전계를 형성하여 액정 분자들의 배열을 변경시키고, 이를 통해 빛의 투과율을 조절함으로써 화상을 표현하는 장치이다.For example, a liquid crystal display device injects a liquid crystal material between a first display panel on which a common electrode and a color filter are formed, and a second display panel on which a pixel electrode and a thin film transistor are formed. By applying different potentials to the common electrode and the pixel electrode to form an electric field to change the arrangement of the liquid crystal molecules, and thereby to control the light transmittance through which the image is expressed.

이러한 액정 표시 장치는 화면 전체를 까맣게 하여 화소의 불량 여부를 확인할 때, 액정층에 이물질이 존재하거나 배선의 단선 또는 단락 등으로 불량 부분이 밝게 빛나는 이른바 하이 픽셀(high pixel) 현상이 나타날 수 있다. In the liquid crystal display, when the entire screen is black to check whether a pixel is defective, a so-called high pixel phenomenon may occur in which a foreign material is present in the liquid crystal layer or the defective part shines brightly due to disconnection or short circuit of the wiring.

이러한 하이 픽셀 현상은 액정 표시 장치뿐만 아니라 대부분의 표시 장치에서 나타날 수 있다. Such a high pixel phenomenon may appear in most display devices as well as liquid crystal displays.

따라서, 이러한 하이 픽셀 현상을 막기 위해 하이 픽셀을 수리하는 연구가 지속적으로 이루어지고 있는 실정이다.Accordingly, researches to repair high pixels have been continuously conducted to prevent such high pixel phenomenon.

본 발명은 종래기술에 대한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 기술적 과제는, 하이 픽셀을 보다 정밀하게 수리할 수 있는 표시 장치의 픽셀 수리 장치를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the problems of the prior art, and the technical problem of the present invention is to provide a pixel repair apparatus of a display device capable of more accurately repairing high pixels.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는 펨토초 레이저 빔을 생성하는 레이저 발생기와, 상기 펨토초 레이저 빔의 강도를 균일하게 만드는 균질기와, 그리고 상기 펨토초 레이저 빔을 집속시켜 그 초점을 표시 패널 어셈블리의 하이 픽셀에 형성시키는 집속기를 포함한다.In order to achieve the above object, a pixel repair apparatus of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention includes a laser generator for generating a femtosecond laser beam, a homogenizer for uniformizing the intensity of the femtosecond laser beam, and the femtosecond laser beam. And focusing to form the focus on the high pixel of the display panel assembly.

또한, 상기 균질기는 상기 레이저 발생기에서 발진된 상기 펨토초 레이저 빔의 복수개의 빔 레이를 서로 일정간격으로 밀집시키는 제1 비구면 렌즈와, 그리고 상기 제1 비구면 렌즈를 통과한 상기 복수개의 빔 레이가 서로 일정 간격으로 밀집된 지점에 구비되어 상기 복수개의 빔 레이를 일정 간격으로 투과시키는 제2 비구면 렌즈를 포함할 수 있다.In addition, the homogenizer may include a first aspherical lens that densifies a plurality of beam rays of the femtosecond laser beam oscillated by the laser generator at a predetermined interval, and the plurality of beam rays passing through the first aspherical lens are constant with each other. It may include a second aspherical lens provided at the points concentrated at intervals to transmit the plurality of beam ray at a predetermined interval.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는 상기 균질 기와 상기 집속기 사이에 위치되어 상기 강도가 균일해진 펨토초 레이저 빔의 크기를 조절하는 크기 조절기를 더 포함할 수 있다.In addition, the pixel repair apparatus of the display device according to an exemplary embodiment may further include a size adjuster positioned between the homogenizer and the concentrator to adjust the size of the femtosecond laser beam with uniform intensity.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는 상기 크기 조절기와 상기 집속기 사이에 위치되어 상기 크기가 조절된 펨토초 레이저 빔을 설정거리 그 크기를 유지시키는 유지기를 더 포함할 수 있다.In addition, the pixel repair apparatus of the display device according to an exemplary embodiment of the present invention may further include a retainer positioned between the size adjuster and the concentrator to maintain the size of the adjusted femtosecond laser beam at a predetermined distance. have.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는 상기 균질기와 상기 크기 조절기 사이에 위치되어 펨토초 레이저 빔을 차단하거나 통과시키는 셔터를 더 포함할 수 있다.In addition, the pixel repair apparatus of the display device according to an exemplary embodiment may further include a shutter positioned between the homogenizer and the size adjuster to block or pass the femtosecond laser beam.

또한, 일예로서, 상기 표시 패널 어셈블리는 그 내면에 복수개의 픽셀이 배열된 컬러 필터 표시 패널일 수 있고, 그리고 상기 집속기는 상기 펨토초 레이저 빔의 초점 레벨을 상기 컬러 필터 표시 패널 중 상기 복수개의 픽셀에 위치되도록 설계될 수 있다.Also, as an example, the display panel assembly may be a color filter display panel in which a plurality of pixels are arranged on an inner surface thereof, and the focusing unit sets the focal level of the femtosecond laser beam to the plurality of pixels of the color filter display panel. It can be designed to be located at.

또한, 다른 예로서, 상기 표시 패널 어셈블리는 그 사이에 액정층이 구비되는 컬러 필터 표시 패널 및 박막 트랜지스터 표시 패널로 이루어질 수 있고, 그리고 상기 집속기는 상기 펨토초 레이저 빔의 초점 레벨을 상기 컬러 필터 표시 패널 중 상기 하이 픽셀에 위치되도록 설계될 수 있다.In another example, the display panel assembly may include a color filter display panel and a thin film transistor display panel having a liquid crystal layer interposed therebetween, and the focuser may display a focus level of the femtosecond laser beam on the color filter display. The panel may be designed to be positioned at the high pixel of the panel.

또한, 또 다른 예로서, 상기 표시 패널 어셈블리는 그 사이에 액정층이 구비되는 컬러 필터 표시 패널 및 박막 트랜지스터 표시 패널과, 그리고 상기 컬러 필터 표시 패널의 외면에 부착되는 편광판을 포함하는 것일 수 있고, 그리고 상기 집속기는 상기 펨토초 레이저 빔의 초점 레벨을 상기 컬러 필터 표시 패널 중 상기 하이 픽셀에 위치되도록 설계될 수 있다.As another example, the display panel assembly may include a color filter display panel and a thin film transistor display panel having a liquid crystal layer therebetween, and a polarizing plate attached to an outer surface of the color filter display panel. The concentrator may be designed such that a focal level of the femtosecond laser beam is positioned at the high pixel of the color filter display panel.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는 상기 표시 패널 어셈블리의 상기 하이 픽셀을 관찰하는 모니터링 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the pixel repair apparatus of the display device according to the exemplary embodiment may further include a monitoring unit that observes the high pixel of the display panel assembly.

또한, 상기 모니터링 유닛은 상기 균질기와 상기 집속기 사이에 위치되는 미러부와, 상기 미러부를 통해 상기 표시 패널 어셈블리의 하이 픽셀의 이미지를 촬영하는 촬영기와, 그리고 상기 펨토초 레이저 빔의 초점에 상기 하이 픽셀의 이미지를 일치시키기 위해 상기 촬영기의 초점을 미세 조절하는 영점 조정기를 포함할 수 있다.The monitoring unit may further include a mirror unit positioned between the homogenizer and the concentrator, an imager for capturing an image of a high pixel of the display panel assembly through the mirror unit, and the high pixel at a focal point of the femtosecond laser beam. It may include a zero adjuster for fine-tuning the focus of the camera to match the image of the.

또한, 상기 모니터링 유닛은 상기 미러부에 광을 조사하는 광원을 더 포함할 수 있고, 상기 미러부는 상기 균질기와 상기 집속기 사이에 위치되는 제1 전반사 미러와, 그리고 상기 균질기와 상기 제1 전반사 미러 사이에 위치되는 제2 전반사 미러를 포함할 수 있고, 상기 광원은 상기 제1 전반사 미러를 통해 상기 표시 패널 어셈블리에 광을 조사하는 것이 바람직하고, 그리고 상기 촬영기는 상기 표시 패널 어셈블리에서 반사된 광을 제2 전반사 미러를 통해 전달받는 것이 바람직할 수 있다.The monitoring unit may further include a light source for irradiating light to the mirror unit, wherein the mirror unit includes a first total reflection mirror positioned between the homogenizer and the concentrator, and the homogenizer and the first total reflection mirror. And a second total reflection mirror positioned therebetween, wherein the light source is configured to irradiate light to the display panel assembly through the first total reflection mirror, and the camera is configured to emit light reflected from the display panel assembly. It may be desirable to be delivered through a second total reflection mirror.

또한, 상기 영점 조정기는 상기 광이 통과할 수 있는 제3 경통과, 상기 제3 경통 내에 슬라이딩 가능하게 구비되는 적어도 하나의 제3 렌즈와, 그리고 상기 제3 렌즈를 상/하 이동시키는 레버를 포함할 수 있다.In addition, the zero adjuster includes a third barrel through which the light can pass, at least one third lens slidably provided in the third barrel, and a lever for moving the third lens up and down. can do.

또한, 상기 모니터링 유닛은 상기 제2 전반사 미러와 상기 촬영기 사이에 위치되고, 상기 촬영기와 전기적으로 연결되며, 그리고 상기 하이 픽셀의 위치를 미 리 검출하여 상기 촬영기의 초점이 상기 하이 픽셀 근처에 미리 위치되도록 상기 촬영기에 그 검출 값을 전달하는 자동 포커싱 센서를 더 포함할 수 있다.Further, the monitoring unit is located between the second total reflection mirror and the camera, is electrically connected to the camera, and detects the position of the high pixel in advance so that the focus of the camera is pre-positioned near the high pixel. It may further include an automatic focusing sensor for transmitting the detection value to the camera as possible.

한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는 표시 패널 어셈블리의 하이 픽셀을 향해 펨토초 레이저 빔을 조사하기 위한 레이저 유닛, 그리고 상기 하이 픽셀을 관찰하는 모니터링 유닛을 포함한다. 그리고, 상기 모니터링 유닛은 상기 레이저 유닛의 상기 펨토초 레이저 빔 진행 경로 상에 위치되는 미러부와, 상기 미러부를 통해 상기 표시 패널 어셈블리의 하이 픽셀의 이미지를 촬영하는 촬영기와, 그리고 상기 펨토초 레이저 빔의 초점에 상기 하이 픽셀의 이미지를 일치시키기 위해 상기 촬영기의 초점을 미세 조절하는 영점 조정기를 포함한다. On the other hand, the pixel repair apparatus of the display device according to another embodiment of the present invention includes a laser unit for irradiating a femtosecond laser beam toward the high pixel of the display panel assembly, and a monitoring unit for observing the high pixel. The monitoring unit may include a mirror unit positioned on the femtosecond laser beam propagation path of the laser unit, an imager for capturing an image of a high pixel of the display panel assembly through the mirror unit, and a focal point of the femtosecond laser beam. And a zero adjuster for fine-tuning the focus of the camera to match the image of the high pixel.

이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치를 나타낸 구성도이다.1 is a block diagram illustrating a pixel repair apparatus of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 표시 패널 어셈블리(10)의 하이 픽셀(도 4의 "21"참조)을 향해 펨토초 레이저 빔(101)을 조사하기 위한 레이저 유닛(100)을 포함하고, 이러한 레이저 유닛(100)은 레이저 발생기(110)와, 균질기(120)와, 그리고 집속기(160)를 포함한다.In the pixel repair apparatus of the display device according to the exemplary embodiment, the femtosecond laser beam 101 is directed toward the high pixel (see “21” in FIG. 4) of the display panel assembly 10, as shown in FIG. 1. It includes a laser unit 100 for irradiating the laser unit 100, the laser unit 100 includes a laser generator 110, a homogenizer 120, and a concentrator 160.

레이저 발생기(110)는 펨토초 레이저 빔(101)을 생성하고 발진시킨다. 이러한 펨토초(femtosecond) 레이저 빔(101)의 파장은 780nm 내지 1550nm의 대이다. 특히, 이러한 파장대를 갖는 펨토초 레이저 빔(101)을 사용하게 되면, 표시 패널 어셈블리(10)에 부착된 편광판(12)에 흡수되지도 않고, 유리 패널(11)을 투과하여 레드 픽셀(도 4의 "22"참조)(red pixel) 및 블루 픽셀(도 4의 "23" 참조)(blue pixel)뿐만 아니라 그린 픽셀(도 4의 "21" 참조)(green pixel)에 정확히 흡수될 수 있다. 즉, 하이 픽셀(도 4의 "21"참조)이 어떤 색의 픽셀이든 간에 빛을 통과하지 못하도록 검은색으로 만들 수 있다. 참고로, 355nm의 파장을 갖는 레이저 빔은 편광판(12)에 흡수되어 버려 더 이상 진행을 하지 못하게 되고, 532nm의 파장을 갖는 레이저 빔은 편광판(12) 및 유리 패널(11)뿐만 아니라 하이 픽셀 현상이 발생될 경우 다른 픽셀 보다 시인성이 가장 큰 그린 픽셀 또한 통과해버려 그린 픽셀을 수리하지 못하는 우려가 있을 수 있다. 여기서, 수리라 함은 하이 픽셀을 통해 빛이 투과하지 못하도록 하이 픽셀을 검은색으로 만드는 것을 의미한다.The laser generator 110 generates and oscillates the femtosecond laser beam 101. The wavelength of this femtosecond laser beam 101 is in the range of 780 nm to 1550 nm. In particular, when the femtosecond laser beam 101 having such a wavelength band is used, the red pixel is not absorbed by the polarizing plate 12 attached to the display panel assembly 10 and is transmitted through the glass panel 11 to provide a red pixel (see FIG. 4). Red pixels and blue pixels (see "23" in FIG. 4) as well as blue pixels (see "21" in FIG. 4) (green pixels) can be accurately absorbed. That is, the high pixel (see “21” in FIG. 4) can be made black so as not to pass light of any color pixel. For reference, a laser beam having a wavelength of 355 nm is absorbed by the polarizing plate 12 and no longer proceeds. A laser beam having a wavelength of 532 nm is a high pixel phenomenon as well as the polarizing plate 12 and the glass panel 11. If this occurs, there may be a risk that the green pixel, which has the greatest visibility than other pixels, may also pass through and fail to repair the green pixel. Here, the number means to make the high pixel black so that light cannot pass through the high pixel.

또한, 이러한 펨토초 레이저 빔(101)은 펄스 방사 시간이 1 피코초(picosecond) 이하의 10-13 에서 10-15 s 대이다. 특히, 펄스 방사 시간이 이렇게 짧다는 것은 나노초 이상의 레이저 빔보다 펨토초 레이저 빔(101)의 강도가 높다는 것을 의미할 수 있고, 또한 펨토초 레이저 빔(101)의 중심부(도 3의 "C"참조)로 갈수록 점점 강도가 높아진다는 것을 의미할 수 있다. 나아가, 펨토초 레이저 빔(101)의 강도가 중심부(도 3의 "C"참조)에 집중되어 있다는 것은 정밀 가공이 가능 하다는 것을 의미할 수 있다. 즉, 펨토초 레이저 빔(101)은 표시 패널 어셈블리(10)의 픽셀(20)과 같이 매우 작은 크기의 픽셀(20)을 수리할 경우 주변 픽셀에 영향을 주지 않고 해당 픽셀만을 정확히 수리할 수 있는 성질을 가지고 있다. In addition, such femtosecond laser beam 101 has a pulse emission time in the range of 10 -13 to 10 -15 s of 1 picosecond or less. In particular, such a short pulse radiation time may mean that the femtosecond laser beam 101 has a higher intensity than the laser beam of nanoseconds or more, and also to the center of the femtosecond laser beam 101 (see “C” in FIG. 3). This may mean that you are getting stronger and stronger. Furthermore, the concentration of the femtosecond laser beam 101 at the center portion (see “C” in FIG. 3) may mean that precision processing is possible. That is, when the femtosecond laser beam 101 repairs a pixel 20 having a very small size, such as the pixel 20 of the display panel assembly 10, only the pixel can be repaired accurately without affecting the surrounding pixels. Have

그러나, 이러한 펨토초 레이저 빔(101)의 성질만을 가지고는 보다 정밀하게 픽셀 수리를 하는데 부족한 점이 있을 수 있다. 왜냐하면, 펨토초 레이저 빔(101)의 주변부(도 3의 "E"참조)는 나노초(nanosecond) 또는 피코초 레이저 빔의 강도가 높긴 하지만 상대적으로 펨토초 레이저 빔(101)의 가장 중심부 보다 낮기 때문이다. 따라서, 이러한 펨토초 레이저 빔(101)의 강도를 균일하게 가져가기 위한 새로운 장치가 필요하다. However, only the properties of the femtosecond laser beam 101 may be insufficient for more precise pixel repair. This is because the periphery of the femtosecond laser beam 101 (see “E” in FIG. 3) is relatively lower than the center of the femtosecond laser beam 101 although the intensity of the nanosecond or picosecond laser beam is high. Therefore, there is a need for a new device to uniformly bring the intensity of such femtosecond laser beam 101.

이하, 도 2 및 도 3을 참조하여, 이러한 새로운 장치인 균질기(120)(beam homogenizer)를 설명한다. 2 and 3, a homogenizer 120 (beam homogenizer), which is such a new device, will be described.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치에서 균질기를 나타낸 단면도이고, 도 3은 도 2의 균질기에 의해 강도가 변화되는 상태를 나타낸 그래프이다.2 is a cross-sectional view illustrating a homogenizer in a pixel repair apparatus of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a graph showing a state in which intensity is changed by the homogenizer of FIG. 2.

균질기(120)는 레이저 발생기(110)와 표시 패널 어셈블리(10) 사이에 위치되어 펨토초 레이저 빔(101)의 강도를 균일하게 만드는 역할을 수행한다. 일예로, 균질기(120)는 제1 비구면 렌즈(121)와 제2 비구면 렌즈(122)를 포함할 수 있다. 제1 비구면 렌즈(121)는 레이저 발생기(110)에서 발진된 펨토초 레이저 빔(101)의 복수개의 빔 레이(101a)(beam ray)를 서로 일정간격으로 밀집시킨다. 제2 비구면 렌즈(122)는 제1 비구면 렌즈(121)를 통과한 복수개의 빔 레이(101a)가 서로 일정 간격으로 밀집된 지점에 구비되어 복수개의 빔 레이(101a)를 일정 간격으로 계속해서 투과시킨다. The homogenizer 120 is positioned between the laser generator 110 and the display panel assembly 10 to make uniform the intensity of the femtosecond laser beam 101. For example, the homogenizer 120 may include a first aspherical lens 121 and a second aspherical lens 122. The first aspherical lens 121 densifies a plurality of beam rays 101a (beam ray) of the femtosecond laser beam 101 oscillated by the laser generator 110 at a predetermined interval from each other. The second aspherical lens 122 is provided at a point where a plurality of beam ray 101a passing through the first aspherical lens 121 is concentrated at a predetermined interval to continuously transmit the plurality of beam ray 101a at a predetermined interval. .

집속기(160)는 균질기(120)와 표시 패널 어셈블리(10) 사이에 위치되며 강도가 균일해진 펨토초 레이저 빔(101)을 집속시켜 그 초점(도 4의 "BF"참조)을 표시 패널 어셈블리(10)의 하이 픽셀(도 4의 "21"참조)에 형성시키는 역할을 한다. 일예로, 이러한 집속기(160)는 펨토초 레이저 빔(101)을 통과시키는 제1 경통(161)과, 그리고 제1 경통(161)에 내장되는 적어도 하나의 제1 렌즈(162)를 포함할 수 있다.The concentrator 160 is located between the homogenizer 120 and the display panel assembly 10 and focuses the femtosecond laser beam 101 whose intensity is uniform to display its focus (see “BF” in FIG. 4). It serves to form in the high pixel (see "21" in Fig. 4) of (10). For example, the concentrator 160 may include a first barrel 161 through which the femtosecond laser beam 101 passes, and at least one first lens 162 embedded in the first barrel 161. have.

또한, 상술한 표시 패널 어셈블리(10)는 도 1에 도시된 바와 같이 제1 표시 패널(P1)과, 제2 표시 패널(P2)과, 그리고 제1 및 제2 표시 패널(P1)(P2) 사이에 구비되는 액정층(L)을 포함하는 것일 수 있고, 상기 제1 표시 패널(P1)은 그 외면에 편광판(12)이 부착되고 그 내면에 복수개의 픽셀(20)이 배열된 컬러 필터 표시 패널(11)을 포함할 수 있고, 그리고 상기 집속기(160)는 펨토초 레이저 빔(101)의 초점(BF) 레벨(level)을 컬러 필터 표시 패널(11) 중 복수개의 픽셀(20)에 위치되도록 설계될 수 있다. 한편, 다른 예로서, 표시 패널 어셈블리(10)는 상기 편광판(12)이 부착되지 않은 상태로서, 그 사이에 액정층이 구비되는 제1 표시 패널(박막 트랜지스터 표시 패널) 및 컬러 필터 표시 패널로 이루어진 것일 수 있다. 나아가, 또 다른 예로서, 표시 패널 어셈블리(10)는 상기 편광판(12), 제1 표시 패널(P2) 및 액정층(L)이 포함되지 않은 상태로서, 그 내면에 복수개의 픽셀(20)이 배열된 컬러 필터 표시 패널(11) 그 자체일 수 있다.In addition, the display panel assembly 10 described above includes the first display panel P1, the second display panel P2, and the first and second display panels P1 and P2 as shown in FIG. 1. It may include a liquid crystal layer (L) provided between, the first display panel (P1) is a color filter display in which a polarizer 12 is attached to the outer surface and a plurality of pixels 20 are arranged on the inner surface Panel 11, and the concentrator 160 positions the focus BF level of the femtosecond laser beam 101 on the plurality of pixels 20 of the color filter display panel 11. It may be designed to be. On the other hand, as another example, the display panel assembly 10 is a state in which the polarizing plate 12 is not attached, and is formed of a first display panel (thin film transistor display panel) and a color filter display panel having a liquid crystal layer therebetween. It may be. Further, as another example, the display panel assembly 10 is a state in which the polarizer 12, the first display panel P2, and the liquid crystal layer L are not included, and a plurality of pixels 20 are formed on an inner surface thereof. The arranged color filter display panel 11 may itself.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 균질기(120)와 집속기(160) 사이에 위치되어 강도가 균일해진 펨토초 레이저 빔(101)의 크기를 조절하는 크기 조절기(140)를 더 포함할 수 있다. 일예로, 이러한 크기 조절기(140)는 펨토초 레이저 빔(101)을 통과시키는 슬롯(141)이 형성된 고정부(142), 슬롯(141)의 크기를 가변시키는 가변부(143)를 포함할 수 있다.In addition, the pixel repair apparatus of the display device according to the exemplary embodiment of the present invention is located between the homogenizer 120 and the concentrator 160 and has a uniform intensity, as shown in FIG. 1. It may further include a size adjuster 140 to adjust the size of). For example, the size adjuster 140 may include a fixed part 142 having a slot 141 through which the femtosecond laser beam 101 passes, and a variable part 143 for varying the size of the slot 141. .

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 크기 조절기(140)와 집속기(160) 사이에 위치되어 크기가 조절된 펨토초 레이저 빔(101)을 설정거리 그 크기를 유지시키는 유지기(150)를 더 포함할 수 있다. 일예로, 이러한 유지기(150)는 펨토초 레이저 빔(101)을 통과시키는 제2 경통(151)과, 그리고 제2 경통(151)에 내장되는 적어도 하나의 제2 렌즈(152)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 레이저 유닛(100)을 배치함에 있어서 크기 조절기(140)와 집속기(160) 사이의 간격이 클 경우 상술한 유지가(150)의 필요성이 인식될 수 있다. 즉, 크기 조절기(140)와 집속기(160) 사이의 간격이 크게 되면, 이 사이 간격에서 빔 퍼짐 현상이 발생될 수 있는데, 이 사이 간격에 유지기(150)를 위치시키게 되면 이러한 빔 퍼짐 현상을 미연에 막을 수 있게 된다. 또한 상술한 설정거리는 경통(151)의 길이에 해당한다.In addition, the pixel repair apparatus of the display device according to the exemplary embodiment of the present invention is a femtosecond laser beam 101 which is positioned between the size adjuster 140 and the concentrator 160 and has a size adjusted as shown in FIG. 1. It may further include a retainer 150 to maintain the size of the set distance. For example, the retainer 150 may include a second barrel 151 for passing the femtosecond laser beam 101, and at least one second lens 152 embedded in the second barrel 151. have. Specifically, when the laser unit 100 is disposed, the necessity of the above-described holder 150 may be recognized when the distance between the size adjuster 140 and the concentrator 160 is large. That is, when the distance between the size adjuster 140 and the concentrator 160 becomes large, a beam spreading phenomenon may occur in the gap therebetween, and when the retainer 150 is positioned in the gap therebetween, the beam spreading phenomenon. Can be prevented in advance. In addition, the above-described setting distance corresponds to the length of the barrel 151.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 균질기(120)와 크기 조절기(140) 사이에 위치되어 펨토초 레이저 빔(101)을 차단하거나 통과시키는 셔터(130)(shutter)를 더 포함할 수 있다. 물론, 레이저 발생기(110)를 온/오프(on/off)하는 형식으로 할 수도 있지만, 레이저 발생기(110)를 온(on)시키기 위해서는 예열과정 등으로 인해 시간이 오래 걸릴 수 있으므로 별도의 셔터(130)를 사용하는 것이 바람직하다.In addition, the pixel repair apparatus of the display device according to an exemplary embodiment of the present invention may be positioned between the homogenizer 120 and the size adjuster 140 to block the femtosecond laser beam 101 as illustrated in FIG. 1. It may further include a shutter 130 to pass through. Of course, the laser generator 110 may be on / off, but the laser generator 110 may take a long time due to a preheating process. 130) is preferred.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 표시 패널 어셈블리(10)의 하이 픽셀(도 4의 "21"참조)을 관찰하는 모니터링 유닛(300)을 더 포함할 수 있다.In addition, the pixel repair apparatus of the display device according to the exemplary embodiment may include a monitoring unit that observes a high pixel (see “21” in FIG. 4) of the display panel assembly 10 as illustrated in FIG. 1. 300) may be further included.

이러한, 모니터링 유닛(300)은 미러부(310)(mirror part)와, 촬영기(320)와, 그리고 영점 조정기(330)를 포함할 수 있다.The monitoring unit 300 may include a mirror part 310, a photographing device 320, and a zero point adjuster 330.

미러부(310)는 균질기(120)와 집속기(160) 사이에 위치된다. 이에 대한 구체적인 설명은 후술한다.The mirror unit 310 is located between the homogenizer 120 and the concentrator 160. Detailed description thereof will be described later.

촬영기(320)는 미러부(310)를 통해 표시 패널 어셈블리(10)의 하이 픽셀(도 4의 "21"참조)의 이미지를 촬영한다. 일예로, 이러한 촬영기(320)는 CCD(charge coupled device) 카메라일 수 있고, 자체 광원을 가질 수 있고, 초점 조절 기능을 가질 수 있다. 그러나, 촬영기(320) 자체의 초점 조절 기능은 한계가 있을 수 있기 때문에 별도의 영점 조정기(330)가 필요하다. 더 구체적으로, 픽셀(20)과 같은 아주 작은 크기에 초점을 맞추기 위해서는 영점 조정기(330)의 필요성이 매우 크다고 할 수 있다. 이하 도 4를 참조하여 영점 조정기(330)를 설명한다.The camera 320 captures an image of a high pixel (see “21” in FIG. 4) of the display panel assembly 10 through the mirror 310. For example, the camera 320 may be a charge coupled device (CCD) camera, may have its own light source, and may have a focus adjustment function. However, since the focusing function of the camera 320 itself may be limited, a separate zero adjuster 330 is required. More specifically, it may be said that the necessity of the zero adjuster 330 is very large to focus on a very small size such as the pixel 20. Hereinafter, the zero point adjuster 330 will be described with reference to FIG. 4.

도 4는 본 발명이 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치에서 영점 조정기에 의해 촬영기의 초점이 변경되는 상태를 나타낸 도 3의 "A"부 확대도이다.4 is an enlarged view of portion “A” of FIG. 3 illustrating a state in which a focus of a photographing apparatus is changed by a zero adjuster in a pixel repair apparatus of a display device according to an exemplary embodiment.

영점 조정기(330)는 펨토초 레이저 빔(101)의 초점(BF)에 하이 픽셀(21)의 이미지를 일치시키기 위해 촬영기(320)의 초점(IF)을 미세 조절하는 역할을 한다. 일예로, 이러한 영점 조정기(330)는 광(301)이 통과할 수 있는 제3 경통(331)과, 제3 경통(331) 내에 슬라이딩 가능하게 구비되는 적어도 하나의 제3 렌즈(332)와, 그리고 제3 렌즈(332)를 상/하 이동시키는 레버(333)를 포함할 수 있다.The zero adjuster 330 finely adjusts the focus IF of the camera 320 to match the image of the high pixel 21 with the focus BF of the femtosecond laser beam 101. For example, the zero adjuster 330 may include a third barrel 331 through which the light 301 may pass, at least one third lens 332 slidably provided in the third barrel 331, and And it may include a lever 333 for moving the third lens 332 up / down.

나아가, 촬영기(320)에 광원이 구비되어 있지 않은 경우에는, 상술한 모니터링 유닛(300)은 미러부(310)에 광(301)을 조사하는 광원(340)을 더 포함할 수 있다. 이 경우, 상술한 미러부(310)는 균질기(120)와 집속기(160) 사이에 위치되는 제1 전반사 미러(311)와, 그리고 균질기(120)와 제1 전반사 미러(311) 사이에 위치되는 제2 전반사 미러(312)를 포함할 수 있다. 따라서, 상기 광원(340)은 제1 전반사 미러(311)를 통해 표시 패널 어셈블리(10)에 광(301)을 조사하게 되고, 상기 촬영기(320)는 표시 패널 어셈블리(10)에서 반사된 광(301)을 제2 전반사 미러(312)를 통해 전달받게 된다.In addition, when the light source is not provided in the camera 320, the above-described monitoring unit 300 may further include a light source 340 irradiating light 301 to the mirror 310. In this case, the aforementioned mirror unit 310 may include a first total reflection mirror 311 positioned between the homogenizer 120 and the concentrator 160, and between the homogenizer 120 and the first total reflection mirror 311. The second total reflection mirror 312 may be located at. Therefore, the light source 340 irradiates the light 301 to the display panel assembly 10 through the first total reflection mirror 311, and the camera 320 reflects the light reflected from the display panel assembly 10. 301 is received through the second total reflection mirror 312.

또한, 촬영기(320)에 초점 조절 기능을 보조하기 위해, 상술한 모니터링 유닛(300)은 별도의 자동 포커싱 센서(350)를 더 포함할 수 있다. 일예로, 이러한 자동 포커실 센서(350)는 제2 전반사 미러(312)와 촬영기(320) 사이에 위치되고, 촬영기(320)와 전기적으로 연결될 수 있다. 따라서, 자동 포커싱 센서(350)는 하이 픽셀(21)의 위치를 미리 검출하여 촬영기(320)의 초점(IF)이 대략적으로 하이 픽셀(21) 근처에 미리 위치되도록 촬영기(320)에 그 검출 값을 전달하게 된다.In addition, in order to assist the focusing function in the camera 320, the above-described monitoring unit 300 may further include a separate automatic focusing sensor 350. For example, the automatic poker room sensor 350 may be positioned between the second total reflection mirror 312 and the camera 320, and may be electrically connected to the camera 320. Therefore, the auto focusing sensor 350 detects the position of the high pixel 21 in advance so that the detection value of the camera 320 is pre-positioned in the vicinity of the high pixel 21. Will be delivered.

이하, 도 1 및 도 5을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치의 동작으로 설명한다.Hereinafter, an operation of a pixel repair apparatus of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 5.

먼저, 도 1에 도시된 바와 같이, 레이저 발생기(110)로부터 펨토초 레이저 빔(101)이 발진된다. 이러한 펨토초 레이저 빔(101)은 균질기(120)를 통과하면 그 강도가 균일하게 된다(도 2 및 도 3 참조). 이후, 펨토초 레이저 빔(101)은 셔터(130)를 거쳐 크기 조절기를 통과하면서 그 크기가 조절된다. 이후, 펨토초 레이저 빔(101)은 유지기(150)를 지나면서 그 크기기 유지되고, 집속기(160)를 지나면서 그 초점(BF)이 표시 패널 어셈블리(10)의 하이 픽셀(21)에 형성된다(도 4 참조).First, as shown in FIG. 1, the femtosecond laser beam 101 is oscillated from the laser generator 110. When the femtosecond laser beam 101 passes through the homogenizer 120, its intensity becomes uniform (see FIGS. 2 and 3). Thereafter, the femtosecond laser beam 101 is adjusted in size while passing through the size adjuster through the shutter 130. Thereafter, the femtosecond laser beam 101 is maintained in size while passing through the retainer 150, and the focal point BF passes through the focuser 160 to the high pixel 21 of the display panel assembly 10. Formed (see FIG. 4).

한편, 광원(340)에서 조사된 광(301)은 제1 전반사 미러(311)를 거쳐 표시 패널 어셈블리(10)로 입사된 후, 다시 반사되어 제2 전반사 미러(312)를 거쳐 촬영기(320)로 입사된다. 이 때, 광(301)이 촬영기(320)로 입사되는 동안 자동 포커싱 센서(350)는 표시 패널 어셈블리(10)의 하이 픽셀(도 4의 "21"참조)의 위치를 검출하여 검출 값을 촬영기(320)로 보낸다. 촬영기(320)는 검출 값에 따라 대략적인 초점 조절을 하게 된다. 이 후, 영점 조정기(330)를 이용하여 펨토초 레이저 빔(101)의 초점(BF)에 하이 픽셀(21)의 이미지를 일치시키기 위해 촬영기(320)를 미세 조절한다[도 4참조, 도 4에서는 촬영기(320)의 초점(IF)을 "H"만큼 내려서 펨토초 레이저 빔(101)의 초점(BF)과 일치시키면 된다].Meanwhile, the light 301 irradiated from the light source 340 is incident on the display panel assembly 10 through the first total reflection mirror 311 and then reflected again to pass through the second total reflection mirror 312. Incident. At this time, the auto focusing sensor 350 detects the position of the high pixel (see “21” in FIG. 4) of the display panel assembly 10 while the light 301 is incident on the camera 320 to detect the detected value. Send to 320. The camera 320 performs rough focus adjustment according to the detection value. Thereafter, the zero point adjuster 330 is used to finely adjust the camera 320 to match the image of the high pixel 21 to the focus BF of the femtosecond laser beam 101 (see FIG. 4 and FIG. 4). The focus IF of the imaging device 320 may be lowered by "H" to coincide with the focus BF of the femtosecond laser beam 101.

이러한 동작을 통해 펨토초 레이저 빔(101)을 조사 받은 하이 픽셀(21)은, 도 5에 도시된 바와 같이, 검정색으로 변하게 되어 하이 픽셀(21)로부터 더 이상의 빛이 새지 않게 된다. 결국, 하이 픽셀(21)의 수리는 완료된다.Through this operation, the high pixel 21 irradiated with the femtosecond laser beam 101 turns to black as shown in FIG. 5 so that no more light leaks from the high pixel 21. As a result, the repair of the high pixel 21 is completed.

한편, 도면 부호 "125"는 펨토초 레이저 빔의 진행 경로를 바꾸는 제3 전반 사 미러이고, 도면 부호 "360"은 광의 진행 경로를 바꾸는 제4 전반사 미러이다. On the other hand, reference numeral 125 denotes a third total reflection mirror that changes the path of travel of the femtosecond laser beam, and reference numeral 360 denotes a fourth total reflection mirror that changes the path of travel of the light.

한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는, 도 1을 참조하면, 표시 패널 어셈블리(10)의 하이 픽셀(21)을 향해 펨토초 레이저 빔(101)을 조사하기 위한 레이저 유닛(100), 그리고 상기 하이 픽셀(21)을 관찰하는 모니터링 유닛(300)을 함께 포함한다. 그리고, 모니터링 유닛(300)은 레이저 미러부(310)와, 촬영기(320)와, 그리고 영점 조정기(330)를 포함한다. 이들에 대한 구체적인 설명은 본 발명의 일 실시예에서 설명된 바 있으므로 생략한다.On the other hand, the pixel repair apparatus of the display device according to another embodiment of the present invention, referring to FIG. 1, a laser unit for irradiating the femtosecond laser beam 101 toward the high pixel 21 of the display panel assembly 10. And a monitoring unit 300 for observing the high pixel 21. In addition, the monitoring unit 300 includes a laser mirror unit 310, an imaging device 320, and a zero point adjuster 330. Detailed description thereof will be omitted since it has been described in one embodiment of the present invention.

이상에서와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치의 픽셀 수리 장치는 다음과 같은 효과를 가질 수 있다.As described above, the pixel repair apparatus of the display device according to the exemplary embodiment of the present invention may have the following effects.

본 발명의 실시예에 의하면, 펨토초 레이지 빔을 사용하고 이의 강도가 균일하게 되므로, 보다 정밀하게 하이 픽셀을 수리할 수 있다.According to the embodiment of the present invention, since the femtosecond laser beam is used and its intensity is uniform, high pixels can be repaired more precisely.

또한, 본 발명의 실시예에 의하면, 영점 조정기가 구비되므로, 펨토초 레이저 빔이 초점된 하이 픽셀을 정확하게 모니터할 수 있다.In addition, according to the embodiment of the present invention, since a zero point adjuster is provided, it is possible to accurately monitor the high pixel in which the femtosecond laser beam is focused.

Claims (17)

펨토초 레이저 빔을 생성하는 레이저 발생기와,A laser generator for generating a femtosecond laser beam, 상기 펨토초 레이저 빔의 강도를 균일하게 만드는 균질기와, 그리고A homogenizer for making the intensity of the femtosecond laser beam uniform, and 상기 펨토초 레이저 빔을 집속시켜 그 초점을 표시 패널 어셈블리의 하이 픽셀에 형성시키는 집속기A focuser for focusing the femtosecond laser beam and focusing it on a high pixel of a display panel assembly 를 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.Pixel repair apparatus of the display device including a. 제1항에서,In claim 1, 상기 균질기는,The homogenizer is 상기 레이저 발생기에서 발진된 상기 펨토초 레이저 빔의 복수개의 빔 레이를 서로 일정간격으로 밀집시키는 제1 비구면 렌즈와, 그리고A first aspherical lens for densifying a plurality of beam rays of the femtosecond laser beam oscillated by the laser generator at a predetermined interval from each other, and 상기 제1 비구면 렌즈를 통과한 상기 복수개의 빔 레이가 서로 일정 간격으로 밀집된 지점에 구비되어 상기 복수개의 빔 레이를 일정 간격으로 투과시키는 제2 비구면 렌즈A second aspherical lens provided at a point where the plurality of beam ray passing through the first aspherical lens are densely spaced from each other at a predetermined interval to transmit the plurality of beam ray at regular intervals 를 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.Pixel repair apparatus of the display device including a. 제1항에서,In claim 1, 상기 균질기와 상기 집속기 사이에 위치되어 상기 강도가 균일해진 펨토초 레이저 빔의 크기를 조절하는 크기 조절기를 더 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.And a size adjuster positioned between the homogenizer and the concentrator to adjust the size of the femtosecond laser beam whose intensity is uniform. 제3항에서,In claim 3, 상기 크기 조절기와 상기 집속기 사이에 위치되어 상기 크기가 조절된 펨토초 레이저 빔을 설정거리 그 크기를 유지시키는 유지기를 더 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치. And a retainer positioned between the size adjuster and the concentrator to maintain the size of the adjusted femtosecond laser beam at a predetermined distance. 제4항에서,In claim 4, 상기 균질기와 상기 크기 조절기 사이에 위치되어 펜토초 레이저 빔을 차단하거나 통과시키는 셔터를 더 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.And a shutter positioned between the homogenizer and the scaler to block or pass the pentosecond laser beam. 제1항에서,In claim 1, 상기 표시 패널 어셈블리는 그 내면에 복수개의 픽셀이 배열된 컬러 필터 표시 패널이고, 그리고The display panel assembly is a color filter display panel having a plurality of pixels arranged on an inner surface thereof, and 상기 집속기는 상기 펨토초 레이저 빔의 초점 레벨을 상기 컬러 필터 표시 패널 중 상기 복수개의 픽셀에 위치시키는 표시 장치의 픽셀 수리 장치. And the concentrator places the focal level of the femtosecond laser beam on the plurality of pixels of the color filter display panel. 제1항에서,In claim 1, 상기 표시 패널 어셈블리는 그 사이에 액정층이 구비되는 컬러 필터 표시 패널 및 박막 트랜지스터 표시 패널로 이루어지고, 그리고The display panel assembly includes a color filter display panel and a thin film transistor display panel having a liquid crystal layer interposed therebetween, and 상기 집속기는 상기 펨토초 레이저 빔의 초점 레벨을 상기 컬러 필터 표시 패널 중 상기 하이 픽셀에 위치시키는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.And the concentrator places the focal level of the femtosecond laser beam at the high pixel of the color filter display panel. 제1항에서,In claim 1, 상기 표시 패널 어셈블리는The display panel assembly 그 사이에 액정층이 구비되는 컬러 필터 표시 패널 및 박막 트랜지스터 표시 패널과, 그리고 상기 컬러 필터 표시 패널의 외면에 부착되는 편광판을 포함하고, 그리고A color filter display panel and a thin film transistor display panel provided with a liquid crystal layer therebetween, and a polarizing plate attached to an outer surface of the color filter display panel, and 상기 집속기는 상기 펨토초 레이저 빔의 초점 레벨을 상기 컬러 필터 표시 패널 중 상기 하이 픽셀에 위치시키는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.And the concentrator places the focal level of the femtosecond laser beam at the high pixel of the color filter display panel. 제1항에서,In claim 1, 상기 표시 패널 어셈블리의 상기 하이 픽셀을 관찰하는 모니터링 유닛을 더 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.And a monitoring unit for observing the high pixel of the display panel assembly. 제9항에서,In claim 9, 상기 모니터링 유닛은The monitoring unit 상기 균질기와 상기 집속기 사이에 위치되는 미러부와,A mirror unit located between the homogenizer and the concentrator, 상기 미러부를 통해 상기 표시 패널 어셈블리의 하이 픽셀의 이미지를 촬영하는 촬영기와, 그리고A photographing apparatus for photographing an image of a high pixel of the display panel assembly through the mirror unit, and 상기 펨토초 레이저 빔의 초점에 상기 하이 픽셀의 이미지를 일치시키기 위해 상기 촬영기의 초점을 미세 조절하는 영점 조정기A zero adjuster for fine-tuning the focus of the camera to match the image of the high pixel to the focus of the femtosecond laser beam 를 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.Pixel repair apparatus of the display device including a. 제10항에서,In claim 10, 상기 모니터링 유닛은 상기 미러부에 광을 조사하는 광원을 더 포함하고,The monitoring unit further includes a light source for irradiating light to the mirror portion, 상기 미러부는 상기 균질기와 상기 집속기 사이에 위치되는 제1 전반사 미러와, 그리고 상기 균질기와 상기 제1 전반사 미러 사이에 위치되는 제2 전반사 미러를 포함하고,The mirror portion includes a first total reflection mirror positioned between the homogenizer and the concentrator, and a second total reflection mirror positioned between the homogenizer and the first total reflection mirror, 상기 광원은 상기 제1 전반사 미러를 통해 상기 표시 패널 어셈블리에 광을 조사하고, 그리고The light source irradiates light to the display panel assembly through the first total reflection mirror, and 상기 촬영기는 상기 표시 패널 어셈블리에서 반사된 광을 제2 전반사 미러를 통해 전달받는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.And the camera is configured to receive light reflected from the display panel assembly through a second total reflection mirror. 제11항에서,In claim 11, 상기 영점 조정기는The zero point adjuster 상기 광이 통과할 수 있는 제3 경통과,A third barrel through which the light can pass, 상기 제3 경통 내에 슬라이딩 가능하게 구비되는 적어도 하나의 제3 렌즈와, 그리고At least one third lens slidably provided in the third barrel, and 상기 제3 렌즈를 상/하 이동시키는 레버Lever for moving the third lens up and down 를 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.Pixel repair apparatus of the display device including a. 제12항에서,In claim 12, 상기 모니터링 유닛은The monitoring unit 상기 제2 전반사 미러와 상기 촬영기 사이에 위치되고, 상기 촬영기와 전기적으로 연결되며, 그리고 상기 하이 픽셀의 위치를 미리 검출하여 상기 촬영기의 초점이 상기 하이 픽셀 근처에 미리 위치되도록 상기 촬영기에 그 검출 값을 전달하는 자동 포커싱 센서를 더 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치. A detection value positioned between the second total reflection mirror and the imager, electrically connected to the imager, and detecting the position of the high pixel in advance so that the focal point of the imager is prepositioned near the high pixel. The pixel repair device of the display device further comprising an automatic focusing sensor to transmit. 표시 패널 어셈블리의 하이 픽셀을 향해 펨토초 레이저 빔을 조사하기 위한 레이저 유닛, 그리고A laser unit for irradiating a femtosecond laser beam toward a high pixel of the display panel assembly, and 상기 하이 픽셀을 관찰하는 모니터링 유닛을 포함하고,A monitoring unit for observing the high pixel, 상기 모니터링 유닛은The monitoring unit 상기 레이저 유닛의 상기 펨토초 레이저 빔 진행 경로 상에 위치되는 미러부와,A mirror unit positioned on the femtosecond laser beam propagation path of the laser unit; 상기 미러부를 통해 상기 표시 패널 어셈블리의 하이 픽셀의 이미지를 촬영하는 촬영기와, 그리고A photographing apparatus for photographing an image of a high pixel of the display panel assembly through the mirror unit, and 상기 펨토초 레이저 빔의 초점에 상기 하이 픽셀의 이미지를 일치시키기 위해 상기 촬영기의 초점을 미세 조절하는 영점 조정기A zero adjuster for fine-tuning the focus of the camera to match the image of the high pixel to the focus of the femtosecond laser beam 를 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.Pixel repair apparatus of the display device including a. 제14항에서,The method of claim 14, 상기 모니터링 유닛은 상기 미러부에 광을 조사하는 광원을 더 포함하고,The monitoring unit further includes a light source for irradiating light to the mirror portion, 상기 미러부는 The mirror unit 상기 광원으로부터 광을 입사 받아 상기 표시 패널 어셈블리를 향해 광을 반사시키는 제1 전반사 미러와, 그리고 A first total reflection mirror that receives light from the light source and reflects light toward the display panel assembly; and 상기 표시 패널 어셈블리로부터 반사된 광을 입사 받아 상기 촬영기로 광을 반사시키는 제2 전반사 미러A second total reflection mirror that receives light reflected from the display panel assembly and reflects the light to the camera 를 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.Pixel repair apparatus of the display device including a. 제15항에서,The method of claim 15, 상기 영점 조정기는The zero point adjuster 상기 광이 통과할 수 있는 경통과,A barrel through which the light can pass, 상기 경통 내에 슬라이딩 가능하게 구비되는 적어도 하나의 렌즈와, 그리고At least one lens slidably provided in the barrel, and 상기 렌즈를 상/하 이동시키는 레버Lever for moving the lens up and down 를 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치.Pixel repair apparatus of the display device including a. 제16항에서,The method of claim 16, 상기 모니터링 유닛은The monitoring unit 상기 제2 전반사 미러와 상기 촬영기 사이에 위치되고, 상기 촬영기와 전기 적으로 연결되며, 그리고 상기 하이 픽셀의 위치를 미리 검출하여 상기 촬영기의 초점이 상기 하이 픽셀 근처에 미리 위치되도록 상기 촬영기에 그 검출 값을 전달하는 자동 포커싱 센서를 더 포함하는 표시 장치의 픽셀 수리 장치. Located between the second total reflection mirror and the imager, electrically connected to the imager, and detecting the position of the high pixel in advance such that the focus of the imager is prepositioned near the high pixel; A pixel repair apparatus of a display device further comprising an automatic focusing sensor for conveying a value.
KR1020060022560A 2006-03-10 2006-03-10 Apparatus for reparing pixel of display device KR20070092430A (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060022560A KR20070092430A (en) 2006-03-10 2006-03-10 Apparatus for reparing pixel of display device
JP2007045264A JP2007241274A (en) 2006-03-10 2007-02-26 Pixel repairing device for display device
TW096108022A TW200807062A (en) 2006-03-10 2007-03-08 Apparatus for reparing pixel of display device
CN2007100860864A CN101034214B (en) 2006-03-10 2007-03-09 Apparatus for reparing pixel of display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060022560A KR20070092430A (en) 2006-03-10 2006-03-10 Apparatus for reparing pixel of display device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20070092430A true KR20070092430A (en) 2007-09-13

Family

ID=38586818

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060022560A KR20070092430A (en) 2006-03-10 2006-03-10 Apparatus for reparing pixel of display device

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP2007241274A (en)
KR (1) KR20070092430A (en)
CN (1) CN101034214B (en)
TW (1) TW200807062A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100909958B1 (en) * 2008-01-16 2009-07-29 참앤씨(주) Pixel repair device and pixel repair method of display device
TWI427488B (en) * 2010-04-23 2014-02-21 Realtek Semiconductor Corp Distance computing apparatus, lens correcting system and method applying the distance computing apparatus
CN109814286A (en) * 2019-01-23 2019-05-28 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Laser repair device
CN114939717A (en) * 2022-04-02 2022-08-26 华工法利莱切焊系统工程有限公司 High-power laser cutting head control system and method

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102193218A (en) * 2010-03-11 2011-09-21 晶彩科技股份有限公司 Method for mending display with color filter
TWI430000B (en) 2010-07-02 2014-03-11 Ind Tech Res Inst Method and system for repairing flat panel display
CN102338942B (en) * 2010-07-21 2013-07-10 财团法人工业技术研究院 Method and system for repairing flat panel display
TW201227057A (en) * 2010-12-22 2012-07-01 Au Optronics Corp Method of repairing display device and repiared structure thereof
TWI444705B (en) * 2011-09-13 2014-07-11 Au Optronics Corp Method for improve efficiency of three-dimensional optical thin film
JP5775811B2 (en) * 2011-12-26 2015-09-09 浜松ホトニクス株式会社 Laser processing apparatus and laser processing method
US9304090B2 (en) * 2013-03-11 2016-04-05 Electro Scientific Industries, Inc. Systems and methods for providing polarization compensated multi-spectral laser repair of liquid crystal display panels
CN103558698B (en) 2013-11-05 2016-01-13 合肥京东方光电科技有限公司 Laser repairing equipment
CN103978306B (en) * 2014-04-23 2016-10-05 成都精密光学工程研究中心 Fused quartz optical component laser repair device and restorative procedure
CN105988070A (en) * 2015-02-04 2016-10-05 上海和辉光电有限公司 Method of determining short circuit of negative and positive electrodes of organic light-emitting diode
CN105866991B (en) * 2016-06-21 2019-02-26 京东方科技集团股份有限公司 Display panel method for maintaining, device, equipment and system
CN110866863A (en) * 2018-08-27 2020-03-06 天津理工大学 Automobile A-pillar perspective algorithm
TWI773003B (en) * 2020-12-08 2022-08-01 東捷科技股份有限公司 Material modification system
CN115283820A (en) * 2022-08-29 2022-11-04 苏州科韵激光科技有限公司 Laser repair system and repair method based on Micro OLED

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62158592A (en) * 1986-01-08 1987-07-14 Inoue Japax Res Inc Laser beam machining device
JPH05177374A (en) * 1992-01-09 1993-07-20 Hitachi Constr Mach Co Ltd Observing device for laser beam machine
CN2181700Y (en) * 1993-04-28 1994-11-02 龙品 Laser beam intensity distribution changing device
JP3784543B2 (en) * 1998-07-29 2006-06-14 Ｎｔｎ株式会社 Pattern correction apparatus and correction method
JP3404627B2 (en) * 1999-09-10 2003-05-12 住友重機械工業株式会社 Laser processing machine
JP2002260857A (en) * 2000-12-28 2002-09-13 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Forming method of light-emitting device and thin film forming device
US6812992B2 (en) * 2001-01-26 2004-11-02 Rockwell Collins Photo ablation to resolve “bright on” pixel defects in a normally white LCD
JP2002303881A (en) * 2001-04-04 2002-10-18 Toshiba Corp Electrode substrate, display panel, and repairing method therefor
KR100457565B1 (en) * 2002-07-29 2004-11-18 엘지전자 주식회사 laser repair device and method
JP3673255B2 (en) * 2002-12-05 2005-07-20 住友重機械工業株式会社 Laser processing method and laser processing apparatus
JP2004335717A (en) * 2003-05-07 2004-11-25 Canon Inc Laser repairing apparatus
JP4488287B2 (en) * 2003-11-21 2010-06-23 フジノン株式会社 Beam focusing lens
JP2005345602A (en) * 2004-06-01 2005-12-15 Seiko Epson Corp Method for manufacturing liquid crystal panel and liquid crystal panel, and projector and rear projection television

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100909958B1 (en) * 2008-01-16 2009-07-29 참앤씨(주) Pixel repair device and pixel repair method of display device
TWI427488B (en) * 2010-04-23 2014-02-21 Realtek Semiconductor Corp Distance computing apparatus, lens correcting system and method applying the distance computing apparatus
CN109814286A (en) * 2019-01-23 2019-05-28 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Laser repair device
CN114939717A (en) * 2022-04-02 2022-08-26 华工法利莱切焊系统工程有限公司 High-power laser cutting head control system and method

Also Published As

Publication number Publication date
CN101034214B (en) 2011-01-26
JP2007241274A (en) 2007-09-20
CN101034214A (en) 2007-09-12
TW200807062A (en) 2008-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20070092430A (en) Apparatus for reparing pixel of display device
JP2007241274A5 (en)
TWI357994B (en) Method and apparatus for repairing a liquid crysta
JP5123943B2 (en) Liquid crystal display device and manufacturing method thereof
KR100755817B1 (en) Method and apparatus for correcting a defective pixel of a liquid crystal display
US9513499B2 (en) Laser repairing apparatus
JP5220015B2 (en) Liquid crystal display device and manufacturing method thereof
TW200829977A (en) Method and apparatus for repairing liquid crystal display panel
KR101214045B1 (en) Method and device for repairing brightness defect of liquid crystal display panel
KR20110137460A (en) Laser repairing device and the repairign mathod thereof
JP7173641B2 (en) LASER REPAIR AND INSPECTION METHOD FOR DISPLAY DEVICE PANEL AND REPAIR AND INSPECTION APPARATUS SUITABLE FOR THE SAME
JP2014182228A (en) Method and device for removing light point defect of liquid crystal display panel
JP6390049B2 (en) Display device, manufacturing method thereof, and manufacturing device
TWI774885B (en) Laser repair and inspection method for display device panel and repair and inspection apparatus suitable for the same
JP7281392B2 (en) LASER PROCESSING APPARATUS AND LASER PROCESSING METHOD
JP5746065B2 (en) Method and apparatus for darkening dark spot defects in liquid crystal display devices
JP6214197B2 (en) Method of darkening a bright spot defect in a liquid crystal panel
KR20090114214A (en) Method and apparatus for repairing a defect of liquid crystal display panel
KR100685145B1 (en) Apparatus for repairing colorfilter
JP2000056283A (en) Defective pixel correction device for liquid crystal panel
JP2019133022A (en) Display, and method for manufacturing the same and device for manufacturing the same
US10656485B2 (en) Display device and method for manufacturing the same
JP2001183615A (en) Method for correcting luminescent point of liquid crystal display device and liquid crystal display device
KR20210028802A (en) Repair apparatus for display panel and repair method of display panel
TW201032426A (en) Repair device for display panel

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E601 Decision to refuse application