KR20070077374A - Probe unit and method of testing liquid crystal display panel using the same - Google Patents

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하재춘
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김종담
김범성
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사승운
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엘지.필립스 엘시디 주식회사
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Abstract

A probe unit and a method of testing a liquid crystal panel using the same are provided to improve alignment accuracy and the degree of planarization by contacting a probe bar with a conductive material patterned on a bottom surface to the liquid crystal panel and testing the liquid crystal panel. A tap(400) is connected to a PCB (printed circuit board)(500). A bridge tap(450) inverts a signal received from the tap. A probe bar(300) is connected to the bridge tap. A conductive material is patterned on a bottom surface of the probe bar. The tap is connected to a driver integrated circuit. The probe bar is formed of glass. The tap is formed of an FPCB (flexible PCB). The conductive material includes an aluminum alloy (AlNd).

Description

프로브 유닛 및 이를 이용한 액정패널 검사방법{Probe Unit and Method of Testing Liquid Crystal Display Panel using the same}Probe Unit and Method of Testing Liquid Crystal Display Panel using the same

도 1은 종래 기술에 따른 프로브 유닛 및 이를 이용한 액정패널의 검사방법을 개략적으로 도시한 평면도이다.1 is a plan view schematically illustrating a probe unit and a method of inspecting a liquid crystal panel using the same according to the related art.

도 2는 도 1의 A-A'라인의 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 1.

도 3은 본 발명에 따른 프로브 유닛 및 이를 이용한 액정패널의 검사방법을 개략적으로 도시한 평면도이다.3 is a plan view schematically illustrating a probe unit and a method of inspecting a liquid crystal panel using the same according to the present invention.

도 4는 도 3의 B-B'라인의 단면도이다.4 is a cross-sectional view taken along the line BB ′ of FIG. 3.

도 5는 도 3의 C-C'라인의 단면도이다.5 is a cross-sectional view taken along the line CC ′ of FIG. 3.

도 6은 본 발명에 따른 프로브 바의 하면을 개략적으로 도시한 평면도이다.6 is a plan view schematically illustrating a bottom surface of the probe bar according to the present invention.

<도면의 주요부의 부호에 대한 설명><Description of Signs of Major Parts of Drawing>

100 : 하부기판 110 : 상부기판100: lower substrate 110: upper substrate

200 : 데이터 배선 220 : 게이트 배선200: data wiring 220: gate wiring

300 : 프로브 바 350 : 전도성 물질300: probe bar 350: conductive material

400 : 탭 450 : 브릿지 탭400: Tab 450: Bridge Tab

500 : 인쇄회로기판 600 : 드라이버 집적회로500: printed circuit board 600: driver integrated circuit

700 : 이방성전도필름700: anisotropic conductive film

본 발명은 액정표시소자 검사장비에 관한 것으로 보다 구체적으로는 그 하면에 전도성 물질이 패터닝된 프로브 바를 구비한 프로브 유닛(Probe Unit)에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to liquid crystal display device inspection equipment, and more particularly, to a probe unit having a probe bar having a conductive material patterned on the bottom thereof.

표시화면의 두께가 수 센티미터(cm)에 불과한 초박형의 평판표시소자(Flat Panel Display), 그 중에서도 액정표시소자는 동작 전압이 낮아 소비 전력이 적고 휴대용으로 쓰일 수 있는 등의 이점으로 노트북 컴퓨터, 모니터, 우주선, 항공기 등에 이르기까지 응용분야가 넓고 다양하다.Ultra-thin flat panel displays with a thickness of only a few centimeters (cm). Among them, liquid crystal displays have low operating voltages, which consume less power and can be used as portable devices. Applications range from ships to spacecraft to aircraft.

상기 액정표시소자는 하부기판, 상부기판 및 상기 양 기판 사이에 형성된 액정층을 포함하여 구성된다.The liquid crystal display device includes a lower substrate, an upper substrate, and a liquid crystal layer formed between the two substrates.

상기 하부기판 상에는 서로 종횡으로 교차되어 화소영역을 정의하는 게이트 배선과 데이터 배선이 형성되어 있다. 그리고 상기 게이트 배선과 데이터 배선의 교차 영역에는 스위칭 소자로서 박막트랜지스터가 형성되어 있다. 그리고 화소전극이 형성되어 박막트랜지스터와 연결되어 있다.Gate lines and data lines are formed on the lower substrate so as to cross each other vertically and horizontally to define pixel regions. A thin film transistor is formed as a switching element in an intersection region of the gate line and the data line. A pixel electrode is formed and connected to the thin film transistor.

또한, 상부기판 상에는 게이트 배선, 데이터 배선 및 박막트랜지스터 영역에서 광이 누설되는 것을 차단하기 위한 차광층이 형성되어 있고, 상기 차광층 위에 컬러필터층이 형성되어 있으며, 상기 컬러필터층 상부에 공통전극이 형성되어 있다.In addition, a light shielding layer is formed on the upper substrate to block light leakage from the gate wiring, the data wiring and the thin film transistor region, a color filter layer is formed on the light shielding layer, and a common electrode is formed on the color filter layer. It is.

상기 액정층은 상기 양 기판 사이에서 씨일재에 의해 밀봉되며, 씨일재에 의해 하부기판과 상부기판이 합착된다.The liquid crystal layer is sealed by the sealing material between the substrates, and the lower substrate and the upper substrate are bonded by the sealing material.

상기 하부기판과 상부기판을 합착한 후에는, 제작된 액정패널의 상태를 확인하기 위한 불량검사가 필수적으로 요구된다.After the lower substrate and the upper substrate are bonded together, a defect inspection for checking the state of the manufactured liquid crystal panel is essentially required.

상기 불량검사는 외관 및 전기적 불량검사를 하기 위한 프로브 검사로서, 예를 들면 컬러필터 돌기, 사선얼룩, 러빙 줄무늬, 핀 홀, 게이트 배선 및 데이터 배선의 단선 또는 합선 등을 검사하는 공정이다.The defect inspection is a probe inspection for inspecting appearance and electrical defects, for example, a process of inspecting disconnection or short circuit of color filter protrusions, diagonal stains, rubbing stripes, pin holes, gate wirings, and data wirings.

이하에서, 도면을 참조로 종래의 프로브 유닛과 프로브 유닛을 이용한 액정패널 검사방법을 설명하기로 한다.Hereinafter, a liquid crystal panel inspection method using a conventional probe unit and a probe unit will be described with reference to the drawings.

도 1은 종래 기술에 따른 프로브 유닛 및 이를 이용한 액정패널의 검사방법을 개략적으로 도시한 평면도이다. 도 2는 도 1의 A-A'라인의 단면도이다.1 is a plan view schematically illustrating a probe unit and a method of inspecting a liquid crystal panel using the same according to the related art. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 1.

종래 기술에 따른 프로브 유닛은, 도 1에서 알 수 있듯이, 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB)(50), 인쇄회로기판(50)으로부터 신호를 받아 액정패널로 신호를 전달하는 탭(Tab)(40), 상기 탭(40)이 액정패널과 잘 접촉되도록 탭(40) 상부에서 균일한 압력을 가해주는 프로브 바(30)를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 1, the probe unit according to the related art receives a signal from a printed circuit board 50 and a printed circuit board 50 and transmits a signal to a liquid crystal panel. 40, the tab 40 is configured to include a probe bar 30 to apply a uniform pressure on the upper portion of the tab 40 to make good contact with the liquid crystal panel.

상기 액정패널은 하부기판(10)과 상부기판(11)으로 구성되며, 상기 하부기판(10) 상에는 서로 종횡으로 교차되어 화소영역을 정의하는 게이트 배선(22)과 데이터 배선(20)이 형성되어 있다.The liquid crystal panel includes a lower substrate 10 and an upper substrate 11, and gate lines 22 and data lines 20 are formed on the lower substrate 10 to cross each other in a vertical direction. have.

상기 탭(40)은 인쇄회로기판(50)과 연결되어 인쇄회로기판(50)으로부터 신호를 전달받는다.The tab 40 is connected to the printed circuit board 50 to receive a signal from the printed circuit board 50.

또한 상기 탭(40)은 액정패널의 하부기판(10) 상에 형성된 게이트 배선(22)과 연결되어 상기 인쇄회로기판(50)으로부터 전달된 신호를 상기 게이트 배선(22)에 전송한다.In addition, the tab 40 is connected to the gate wiring 22 formed on the lower substrate 10 of the liquid crystal panel to transmit a signal transmitted from the printed circuit board 50 to the gate wiring 22.

도 1에서는 상기 프로브 유닛이 게이트 배선(22)에만 접속된 경우를 도시하였으나, 본래 프로브 유닛은 상기 게이트 배선(22) 및 데이터 배선(20) 모두에 접속되어 상기 액정 패널의 작동이 올바른지 검사한다.In FIG. 1, the probe unit is connected only to the gate wiring 22, but the probe unit is originally connected to both the gate wiring 22 and the data wiring 20 to check whether the operation of the liquid crystal panel is correct.

도 2에서 알 수 있듯이, 탭(40)과 상기 인쇄회로기판(50)은 이방성전도필름(Anisotropic Conductive Film, ACF)(70)으로 연결된다.As can be seen in FIG. 2, the tab 40 and the printed circuit board 50 are connected to an anisotropic conductive film (ACF) 70.

또한 상기 탭(40)은 드라이버 집적회로(Driver IC)(60)와 연결되어 있다.In addition, the tab 40 is connected to a driver IC 60.

상기 드라이버 집적회로(60)는 상기 인쇄회로기판(50)으로부터 전송된 신호를 각 게이트 배선(22)에 나누어 전송하는 기능을 한다.The driver IC 60 functions to divide and transmit a signal transmitted from the PCB 50 to each gate line 22.

프로브 바(30)는 상기 탭(40)이 액정패널과 연결되는 영역에 형성되어, 상기 탭(40)이 액정패널의 게이트 배선(22)과 잘 연결될 수 있도록, 상기 탭(40) 상에 일정한 압력을 가해준다.The probe bar 30 is formed in an area where the tab 40 is connected to the liquid crystal panel, so that the tab 40 can be connected to the gate wiring 22 of the liquid crystal panel so that the tab 40 is uniformly formed on the tab 40. Apply pressure.

이 때, 상기 프로브 바(30)는 상기 탭(40)의 상면과 이방성전도필름(70)으로 연결된다.In this case, the probe bar 30 is connected to the top surface of the tab 40 and the anisotropic conductive film 70.

종래 기술에 따른 액정패널의 검사방법을 정리하면 다음과 같다. The inspection method of the liquid crystal panel according to the prior art is summarized as follows.

우선, 인쇄회로기판(50)에서 생성된 신호가 탭(40)을 통해 드라이버 집적회로(60)로 전송된다.First, a signal generated in the printed circuit board 50 is transmitted to the driver integrated circuit 60 through the tab 40.

그 후, 상기 드라이버 집적회로(60)로 전송된 신호는 각 게이트 배선(22)으 로 전송될 신호로 나누어진 후, 상기 탭(40)을 통해서 직접 액정패널로 전달된다.Thereafter, the signal transmitted to the driver integrated circuit 60 is divided into a signal to be transmitted to each gate wiring 22, and then directly transmitted to the liquid crystal panel through the tab 40.

상기 전달된 신호에 의해 액정패널이 구동되면, 육안 또는 영상기기를 통하여 액정패널의 불량여부를 검사한다.When the liquid crystal panel is driven by the transmitted signal, the LCD panel is inspected for defects through the naked eye or an imaging device.

이 때, 프로브 바(30)는 상기 탭(40) 상부에 일정한 압력을 가하여 탭(40)과 액정패널이 잘 접속되도록 한다.At this time, the probe bar 30 applies a constant pressure to the upper portion of the tab 40 so that the tab 40 and the liquid crystal panel are well connected.

그러나 종래기술에 따른 프로브 유닛은 다음과 같은 문제점이 있다.However, the probe unit according to the prior art has the following problems.

이방성전도필름(70)은 고온에서 접착력이 생기기 때문에, 상기 탭(40)과 프로브 바(30)를 연결하기 위해서는 고온의 공정이 필요하다.Since the anisotropic conductive film 70 generates adhesive force at a high temperature, a high temperature process is required to connect the tab 40 and the probe bar 30.

상기 이방성전도필름(70)을 이용하여 고온에서 상기 탭(40)과 프로브 바(30)를 연결하는 경우, 탭(40)의 액정패널과의 접촉부위가 변형될 수 있다.When the tab 40 is connected to the probe bar 30 at a high temperature by using the anisotropic conductive film 70, the contact portion of the tab 40 with the liquid crystal panel may be deformed.

고온의 공정으로 인하여 상기 탭(40)의 액정패널과의 접촉부위가 변형되는 경우, 탭(40)을 액정패널의 게이트 배선(22)에 접속시킬 때, 정확한 얼라인(Align)이 어렵다.When the contact portion of the tab 40 with the liquid crystal panel is deformed due to the high temperature process, when the tab 40 is connected to the gate wiring 22 of the liquid crystal panel, accurate alignment is difficult.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로,The present invention has been made to solve the above problems,

본 발명의 제1목적은 그 하면에 전도성물질이 패터닝된 프로브 바를 액정패널에 직접 접촉시킴으로써, 탭의 변형에도 불구하고, 얼라인의 정확도를 높일 수 있는 프로브 유닛을 제공하는 것이고,A first object of the present invention is to provide a probe unit which can improve the accuracy of alignment in spite of deformation of a tab by directly contacting a probe bar having a conductive material patterned on its lower surface with a liquid crystal panel.

본 발명의 제2목적은 상기 프로브 유닛을 이용하여 액정패널을 검사하는 방법을 제공하는 것이다.A second object of the present invention is to provide a method for inspecting a liquid crystal panel using the probe unit.

본 발명은 상기와 같은 제1목적을 달성하기 위해서, 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB); 상기 인쇄회로기판과 연결된 탭(Tab); 상기 탭으로부터 받은 신호를 반전시키는 브릿지 탭(Bridge Tab); 및 상기 브릿지 탭과 연결되고, 그 하면에 전도성물질이 패터닝된 프로브 바(Probe Bar)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛을 제공한다.The present invention to achieve the first object as described above, Printed Circuit Board (Printed Circuit Board, PCB); A tab connected to the printed circuit board; A bridge tab for inverting a signal received from the tap; And a probe bar connected to the bridge tab and having a conductive material patterned on a lower surface thereof.

본 발명의 특징은 탭을 액정패널에 직접 접촉시키는 것이 아니라, 그 하면에 전도성 물질이 패터닝된 프로브 바를 탭에 연결하여, 이를 액정패널에 접촉시키는 데 있다.A feature of the present invention is not to contact the tab directly to the liquid crystal panel, but to connect the probe bar patterned with a conductive material on the bottom thereof to the tab, thereby contacting the tab.

탭이 아닌 프로브 바를 액정패널에 접촉시키므로 탭이 변형된다 하여도, 얼라인의 정확도에는 영향이 없다.Since the probe bar, rather than the tab, is brought into contact with the liquid crystal panel, even if the tab is deformed, the accuracy of alignment is not affected.

이 때, 상기 인쇄회로기판은 이방성전도필름(Anisotropic Conductive Film, ACF)에 의해 탭과 연결될 수 있다.In this case, the printed circuit board may be connected to the tab by an anisotropic conductive film (ACF).

상기 탭은 연성인쇄회로(Flexible printed circuit, FPC)로 이루어질 수 있다.The tab may be made of a flexible printed circuit (FPC).

또한, 상기 탭은 드라이버 집적회로와 연결될 수 있다.In addition, the tab may be connected to a driver integrated circuit.

상기 드라이버 집적회로는 상기 인쇄회로기판으로부터 전달된 신호를 액정패널로 전달하기 위해 분할하는 기능을 한다.The driver integrated circuit divides the signal transmitted from the printed circuit board to deliver the signal to the liquid crystal panel.

상기 탭과 프로브 바 모두 그 하면에 패턴이 형성되어 있는 바, 이들을 연결하기 위해서는 브릿지 탭이 필요하다.Both the tab and the probe bar have a pattern formed on the lower surface thereof, and a bridge tap is required to connect them.

상기 브릿지 탭은 상기 탭과 프로브 바 모두와 이방성전도필름에 의해 연결될 수 있다.The bridge tab may be connected to both the tab and the probe bar by an anisotropic conductive film.

상기 이방성전도필름은 고온에서 접착력이 생기기 때문에, 상기 브릿지 탭을 상기 탭 및 프로브 바와 연결시키는 공정은 고온 하에서 이루어진다.Since the anisotropic conductive film has an adhesive force at a high temperature, the process of connecting the bridge tab to the tab and the probe bar is performed at a high temperature.

이 때, 상기 탭은 열에 약하기 때문에, 상기 연결공정에 의해 브릿지 탭과의 접촉부위가 변형될 수 있다.At this time, since the tab is weak to heat, the contact portion with the bridge tab may be deformed by the connecting process.

다만, 탭이 직접 액정패널에 접촉되는 것이 아니라, 프로브 바가 접촉되는 것이므로, 얼라인(Align)의 정확도에는 영향이 없다.However, since the tab is not in direct contact with the liquid crystal panel but is in contact with the probe bar, the accuracy of alignment is not affected.

상기 프로브 바는 그 하면에 전도성물질이 패터닝 되어있어, 브릿지 탭으로부터 전달된 신호를 액정패널에 전달한다. The probe bar has a conductive material patterned on a lower surface thereof to transmit a signal transmitted from the bridge tab to the liquid crystal panel.

상기 프로브 바는 유리로 이루어질 수 있는데, 이는 유리가 고온의 공정에서도 변형이 없는 절연물질이기 때문이다.The probe bar may be made of glass because the glass is an insulating material without deformation even in a high temperature process.

고온의 공정에서 변형이 없는 절연물질로, 패턴의 형성이 자유로운 물질이라면 다른 물질도 상기 프로브 바의 몸체(Body)로 이용될 수 있다.Insulation material without deformation in a high temperature process, if the material is free to form a pattern, other materials may be used as the body of the probe bar.

상기 프로브 바의 하면에 패터닝된 전도성 물질은 금속으로 이루어질 수 있다.The conductive material patterned on the bottom surface of the probe bar may be made of metal.

보다 바람직하게는, 게이트 배선, 데이터 배선을 이루는 알루미늄 합금(AlNd)을 이용할 수 있다.More preferably, aluminum alloy (AlNd) constituting the gate wiring and the data wiring can be used.

또한, 본 발명은 상기와 같은 제2목적을 달성하기 위해서, 프로브 유닛에 구비된 프로브 바를 액정패널에 접촉시키는 공정(제1공정); 상기 프로브 바 상에 일 정한 압력을 가하는 공정(제2공정); 상기 프로브 유닛을 이용하여 액정패널에 신호를 인가하는 공정(제3공정); 및 상기 액정패널의 동작을 검사하는 공정(제4공정)을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법을 제공한다.In addition, the present invention is to contact the liquid crystal panel with a probe bar provided in the probe unit in order to achieve the second object (first step); Applying a predetermined pressure on the probe bar (second step); Applying a signal to a liquid crystal panel using the probe unit (third step); And a step (fourth step) of inspecting the operation of the liquid crystal panel.

이 때, 프로브 유닛에 구비된 프로브 바를 액정패널에 접촉시키는 공정(제1공정)은 여러 대의 프로브 유닛을 이용하여 수행되어지며, 상기 여러 대의 프로브 유닛에 구비된 프로브 바를 상기 액정패널의 게이트 배선 및 데이터 배선에 모두 접촉시켜 이루어진다.In this case, a process (first process) of bringing the probe bar provided in the probe unit into contact with the liquid crystal panel is performed by using a plurality of probe units. It is made by making all data wires contact.

상기 프로브 바 상에 일정한 압력을 가하는 공정(제2공정)은 프레스 장비 등을 이용하여 이루어질 수 있는데, 이는 상기 프로브 바의 하면에 형성된 패턴이 액정패널의 각 배선에 잘 접촉되도록 하기 위해서이다.The step (second step) of applying a constant pressure on the probe bar may be performed by using a press equipment or the like, so that the pattern formed on the bottom surface of the probe bar may be in contact with each wiring of the liquid crystal panel.

상기 프로브 유닛을 이용하여 액정패널에 신호를 인가하는 공정(제3공정)은 인쇄회로기판에서 신호를 발생시키는 단계; 상기 인쇄회로기판으로부터 발생된 신호가 탭 및 브릿지 탭을 통하여 프로브 바로 전송되는 단계; 및 상기 프로브 바로 전송된 신호가 액정패널에 인가되는 단계를 포함하여 이루어진다.The process of applying a signal to the liquid crystal panel using the probe unit (third process) may include generating a signal on a printed circuit board; Transmitting a signal generated from the printed circuit board to a probe bar through a tap and a bridge tap; And applying a signal transmitted to the probe bar to the liquid crystal panel.

이 때, 상기 인쇄회로기판으로부터 발생된 신호가 탭 및 브릿지 탭을 통하여 프로브 바로 전송되는 단계는 상기 인쇄회로기판으로부터 발생된 신호가 탭과 연결된 드라이버 집적회로로 전송되는 단계; 상기 신호를 전송받은 드라이버 집적회로에서 전송된 신호를 분할하는 단계; 및 상기 분할된 신호가 탭 및 브릿지 탭을 통하여 프로브 바로 전송되는 단계를 포함하여 이루어질 수 있다.At this time, the step of transmitting the signal generated from the printed circuit board directly through the tab and the bridge tap is a step of transmitting the signal generated from the printed circuit board to the driver integrated circuit connected to the tab; Dividing a signal transmitted from a driver integrated circuit receiving the signal; And transmitting the split signal to the probe bar through the tap and the bridge tap.

상기 액정패널의 동작을 검사하는 공정(제4공정)은 육안 또는 영상기기를 이 용하여 이루어진다.The step (fourth step) of inspecting the operation of the liquid crystal panel is performed using the naked eye or an imaging device.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

1. 프로브 유닛1. Probe unit

도 3은 본 발명에 따른 프로브 유닛 및 이를 이용한 액정패널의 검사방법을 개략적으로 도시한 평면도이다. 도 4는 도 3의 B-B'라인의 단면도이다.3 is a plan view schematically illustrating a probe unit and a method of inspecting a liquid crystal panel using the same according to the present invention. 4 is a cross-sectional view taken along the line BB ′ of FIG. 3.

본 발명의 실시예에 따른 프로브 유닛은, 도 3에서 알 수 있듯이, 액정패널의 게이트 배선(220)에 직접 연결된 프로브 바(300), 상기 프로브 바(300)와 연결된 브릿지 탭(450), 상기 브릿지 탭(450)과 연결된 탭(400), 상기 탭(400)과 연결된 인쇄회로기판(500)을 포함하여 구성된다.As can be seen in Figure 3, the probe unit according to an embodiment of the present invention, the probe bar 300 directly connected to the gate wiring 220 of the liquid crystal panel, the bridge tab 450 connected to the probe bar 300, the A tab 400 connected to the bridge tab 450 and a printed circuit board 500 connected to the tab 400 are configured.

상기 액정패널은 하부기판(100)과 상부기판(110)으로 구성되며, 상기 하부기판(100) 상에는 서로 종횡으로 교차되어 화소영역을 정의하는 게이트 배선(220)과 데이터 배선(200)이 형성되어 있다.The liquid crystal panel includes a lower substrate 100 and an upper substrate 110, and a gate wiring 220 and a data wiring 200 are formed on the lower substrate 100 so as to cross each other in a vertical direction. have.

도 3에서는 상기 프로브 유닛이 게이트 배선(220)에만 접속된 경우를 도시하였으나, 본래 프로브 유닛은 상기 게이트 배선(220) 및 데이터 배선(200) 모두에 접속되어 상기 액정 패널의 작동이 올바른지 검사한다.In FIG. 3, the probe unit is connected only to the gate line 220, but the probe unit is originally connected to both the gate line 220 and the data line 200 to check whether the operation of the liquid crystal panel is correct.

인쇄회로기판(500)에서 전송된 신호는 탭(400) 및 브릿지 탭(450)을 거쳐 상기 프로브 바(300)의 하면에 형성된 전도성물질의 패턴을 통해 액정패널에 전달된다.The signal transmitted from the printed circuit board 500 is transmitted to the liquid crystal panel through a pattern of conductive material formed on the bottom surface of the probe bar 300 via the tab 400 and the bridge tab 450.

상기 탭(400)과 프로브 바(300)는 모두 그 하면에 패턴이 형성되어 있기 때 문에, 양자를 연결하기 위해 그 상면에 패턴이 형성된 브릿지 탭(450)을 이용하는 것이다.Since both the tab 400 and the probe bar 300 have a pattern formed on the lower surface thereof, the tab tab 450 having the pattern formed on the upper surface of the tab 400 and the probe bar 300 are used to connect the two tabs.

도 4에서 알 수 있듯이, 상기 브릿지 탭(450)은 상기 탭(400) 및 프로브 바(300)와 이방성전도필름(700)에 의해 연결되어 있다.As can be seen in Figure 4, the bridge tab 450 is connected by the tab 400 and the probe bar 300 and the anisotropic conductive film 700.

또한, 상기 탭(400)은 상기 인쇄회로기판(500)과 이방성전도필름(700)에 의해 연결되어 있다.In addition, the tab 400 is connected by the printed circuit board 500 and the anisotropic conductive film 700.

이 때, 프로브 바(300)는 액정패널의 검사를 마친 후, 상기 하부기판(100)으로부터 제거되어야 하므로, 상기 프로브 바(300)와 상기 하부기판(100)을 이방성전도필름으로 연결하지는 않는다.At this time, since the probe bar 300 should be removed from the lower substrate 100 after the inspection of the liquid crystal panel, the probe bar 300 and the lower substrate 100 are not connected to the anisotropic conductive film.

상기 이방성전도필름(700)은 고온에서 접착력이 생기기 때문에, 상기 구성요소들을 이방성전도필름(700)에 의해 연결하기 위해서는 고온의 공정이 필요하다.Since the anisotropic conductive film 700 generates adhesive force at a high temperature, a high temperature process is required to connect the components by the anisotropic conductive film 700.

이 때, 연성인쇄회로(Flexible printed circuit, FPC)로 이루어진 탭(400)은 고온에 의해 변형될 수 있으나, 액정패널에 직접 접촉되는 프로브 바(300)는 유리로 되어 있어 변형되지 않으므로, 얼라인(Align)의 정밀도에 영향을 미치지 않는다.At this time, the tab 400 made of a flexible printed circuit (FPC) may be deformed by a high temperature, but the probe bar 300 directly contacting the liquid crystal panel is made of glass and is not deformed. Does not affect the accuracy of Align.

상기 탭(400)은 드라이버 집적회로(600)와도 연결되어 있다. The tab 400 is also connected to the driver integrated circuit 600.

상기 드라이버 집적회로(600)는, 상기 인쇄회로기판(500)으로부터 전달된 신호를 액정패널 상의 각 배선으로 전달하기 위하여, 상기 신호를 분할하는 기능을 한다.The driver integrated circuit 600 divides the signal in order to transfer the signal transmitted from the printed circuit board 500 to the respective wires on the liquid crystal panel.

도 5는 도 3의 C-C' 라인의 단면도이고, 도 6은 본 발명에 따른 프로브 바의 하면을 개략적으로 도시한 평면도이다.5 is a cross-sectional view of the line CC ′ of FIG. 3, and FIG. 6 is a plan view schematically illustrating a bottom surface of the probe bar according to the present invention.

도 5에서 알 수 있듯이, 하부기판(100) 상에 형성된 게이트 배선(220)과 프로브 바(300)의 하면에 형성된 전도성물질의 패턴(350)이 서로 연결되어 있다.As can be seen in FIG. 5, the gate wiring 220 formed on the lower substrate 100 and the pattern 350 of the conductive material formed on the lower surface of the probe bar 300 are connected to each other.

인쇄회로기판(500)으로부터 전송된 신호가 드라이버 집적회로(600)에 의해 분할된 후, 상기 프로브 바(300)의 전도성물질 패턴(350)에 의해 각각의 게이트 배선(220)으로 전달된다.After the signal transmitted from the printed circuit board 500 is divided by the driver integrated circuit 600, the signal is transmitted to each gate wiring 220 by the conductive material pattern 350 of the probe bar 300.

또한, 상기 프로브 바(300) 하면의 전도성물질(350)은 도 6과 같은 형태로 패터닝된다. In addition, the conductive material 350 on the lower surface of the probe bar 300 is patterned as shown in FIG.

도시하지는 아니하였으나, 상기 프로브 바(300)의 하면에 전도성물질(350)을 패터닝하는 공정은 포토리소그래피 또는 인쇄 방법을 이용하여 행해질 수 있다.Although not shown, the process of patterning the conductive material 350 on the lower surface of the probe bar 300 may be performed using a photolithography or printing method.

상기 패터닝된 전도성물질(350)의 일면은 이방성전도필름(700)에 의해 브릿지 탭(450)과 연결되고, 다른 일면은 액정패널의 게이트 배선(220) 또는 데이터 배선(200)에 접촉된다.One surface of the patterned conductive material 350 is connected to the bridge tab 450 by the anisotropic conductive film 700, and the other surface of the patterned conductive material 350 is in contact with the gate wiring 220 or the data wiring 200 of the liquid crystal panel.

이 때, 상기 전도성물질(350)로는 금속을 이용할 수 있는데, 액정패널의 게이트 배선(220) 또는 데이터 배선(200)을 이루는 물질이 바람직하다.In this case, a metal may be used as the conductive material 350, and a material constituting the gate line 220 or the data line 200 of the liquid crystal panel is preferable.

이 중 하나로, 알루미늄 합금(AlNd)을 들 수 있다.One of these is aluminum alloy (AlNd).

2. 액정패널 검사방법2. Inspection method of liquid crystal panel

우선, 전술한 프로브 유닛 여러 대에 구비된 프로브 바(300)의 전도성물질(350) 패턴을 액정패널의 게이트 배선(220) 및 데이터 배선(200) 모두에 접촉시킨다.First, the conductive material 350 pattern of the probe bar 300 provided in several probe units is contacted with both the gate line 220 and the data line 200 of the liquid crystal panel.

그 후, 프레스 장비 등을 이용하여, 상기 프로브 바(300) 상에 일정한 압력을 가하여, 상기 프로브 바(300)의 하면에 형성된 패턴(350)이 상기 액정패널의 배선(200, 220)에 잘 접촉되도록 한다.Thereafter, using a press equipment or the like, a predetermined pressure is applied on the probe bar 300 so that the pattern 350 formed on the lower surface of the probe bar 300 is well connected to the wirings 200 and 220 of the liquid crystal panel. Make contact.

그 후, 프로브 유닛을 이용하여 액정패널에 신호를 인가한다.Thereafter, a signal is applied to the liquid crystal panel using the probe unit.

상기 프로브 유닛을 이용하여 액정패널에 신호를 인가하는 공정은 다음과 같다.The process of applying a signal to the liquid crystal panel using the probe unit is as follows.

우선, 인쇄회로기판(500)에서 신호를 발생시킨 후, 탭(400)을 통하여 드라이버 집적회로(600)로 이를 전송한다.First, the signal is generated in the printed circuit board 500 and then transmitted to the driver integrated circuit 600 through the tab 400.

드라이버 집적회로(600)는 액정패널의 각 게이트 배선(220) 또는 데이터 배선(200)으로 전송하기 위해 상기 신호를 분할한다.The driver integrated circuit 600 divides the signal for transmission to each gate wiring 220 or data wiring 200 of the liquid crystal panel.

그 후, 상기 드라이버 집적회로(600)에서 분할된 신호를 탭(400) 및 브릿지 탭(450)을 통해 프로브 바(300)로 전송한다.Thereafter, the signal divided by the driver integrated circuit 600 is transmitted to the probe bar 300 through the tap 400 and the bridge tap 450.

그 후, 상기 프로브 바(300)로 전송된 신호를 그 하면에 형성된 패턴(350)을 통하여 액정패널에 인가한다.Thereafter, the signal transmitted to the probe bar 300 is applied to the liquid crystal panel through the pattern 350 formed on the lower surface thereof.

이와 같이 프로브 유닛을 이용하여 액정패널에 신호를 인가한다.In this way, a signal is applied to the liquid crystal panel using the probe unit.

그 후, 육안 또는 영상기기를 이용하여 액정패널의 동작 상태를 검사한다.Thereafter, the operating state of the liquid crystal panel is inspected using the naked eye or an imaging device.

상기 구성에 의한 본 발명에 따르면,According to the present invention by the above configuration,

탭을 액정패널에 직접 접촉시켜 검사하는 것이 아니라, 탭을 그 하면에 전도성물질이 패터닝된 프로브 바와 연결하고, 상기 프로브 바를 액정패널에 접촉시킨 다.Rather than inspecting the tab by directly contacting the tab, the tab is connected to a probe bar having a conductive material patterned on the bottom thereof, and the probe bar is brought into contact with the LCD panel.

상기 탭을 프로브 바와 연결하기 위해 브릿지 탭이 이용되는데, 상기 탭과 프로브 바는 이방성전도필름에 의해 브릿지 탭과 연결된다.A bridge tab is used to connect the tab to the probe bar, wherein the tab and the probe bar are connected to the bridge tab by an anisotropic conductive film.

상기 이방성전도필름은 고온에서 접착력이 생기는 바, 고온의 상태에서 연결공정이 이루어지므로 열에 약한 탭이 변형되어 얼라인의 정밀도가 떨어질 수 있으나, 그 하면에 전도성물질이 패터닝된 프로브 바를 이용함으로써 이러한 문제점을 해결하였다.Since the anisotropic conductive film has an adhesive force at a high temperature, since the connection process is performed at a high temperature, the weak tabs may be deformed and the alignment accuracy may be degraded. Solved.

Claims (14)

인쇄회로기판;Printed circuit board; 상기 인쇄회로기판과 연결된 탭;A tab connected to the printed circuit board; 상기 탭으로부터 받은 신호를 반전시키는 브릿지 탭; 및A bridge tap for inverting a signal received from the tap; And 상기 브릿지 탭과 연결되고, 그 하면에 전도성물질이 패터닝된 프로브 바를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.And a probe bar connected to the bridge tab and having a conductive material patterned on a lower surface thereof. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 탭은 The tab is 드라이버 집적회로에 연결되는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.A probe unit connected to the driver integrated circuit. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 프로브 바는 The probe bar is 유리로 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.A probe unit comprising glass. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 탭은 The tab is 연성인쇄회로로 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.Probe unit comprising a flexible printed circuit. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 전도성물질은 The conductive material is 알루미늄 합금(AlNd)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.A probe unit comprising aluminum alloy (AlNd). 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 인쇄회로기판과 탭은 The printed circuit board and the tab 이방성전도필름에 의해 연결되는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.Probe unit, characterized in that connected by the anisotropic conductive film. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 탭과 브릿지 탭은 The tap and bridge tap 이방성전도필름에 의해 연결되는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.Probe unit, characterized in that connected by the anisotropic conductive film. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 브릿지 탭과 프로브 바는 The bridge tap and the probe bar 이방성전도필름에 의해 연결되는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.Probe unit, characterized in that connected by the anisotropic conductive film. 프로브 유닛에 구비된 프로브 바를 액정패널에 접촉시키는 공정;Contacting the probe bar provided in the probe unit to the liquid crystal panel; 상기 프로브 바 상에 일정한 압력을 가하는 공정;Applying a constant pressure on the probe bar; 상기 프로브 유닛을 이용하여 액정패널에 신호를 인가하는 공정; 및Applying a signal to a liquid crystal panel using the probe unit; And 상기 액정패널의 동작을 검사하는 공정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으 로 하는 액정패널 검사방법.And inspecting the operation of the liquid crystal panel. 제9항에 있어서,The method of claim 9, 프로브 유닛에 구비된 프로브 바를 액정패널에 접촉시키는 공정은The process of contacting the probe bar provided in the probe unit to the liquid crystal panel 여러 대의 프로브 유닛을 이용하여, 상기 프로브 유닛에 구비된 프로브 바를 상기 액정패널의 게이트 배선 및 데이터 배선에 접촉시키는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법. And a probe bar provided in the probe unit is in contact with the gate wiring and the data wiring of the liquid crystal panel using a plurality of probe units. 제9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 프로브 바 상에 일정한 압력을 가하는 공정은The process of applying a constant pressure on the probe bar 프레스 장비를 이용하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.Liquid crystal panel inspection method characterized in that using a press equipment. 제9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 프로브 유닛을 이용하여 액정패널에 신호를 인가하는 공정은The process of applying a signal to the liquid crystal panel using the probe unit 인쇄회로기판에서 신호를 발생시키는 단계;Generating a signal at the printed circuit board; 상기 인쇄회로기판으로부터 발생된 신호가 탭 및 브릿지 탭을 통하여 프로브 바로 전송되는 단계; 및Transmitting a signal generated from the printed circuit board to a probe bar through a tap and a bridge tap; And 상기 프로브 바로 전송된 신호가 액정패널에 인가되는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.And applying a signal transmitted to the probe bar to the liquid crystal panel. 제12항에 있어서,The method of claim 12, 상기 인쇄회로기판으로부터 발생된 신호가 탭 및 브릿지 탭을 통하여 프로브 바로 전송되는 단계는Transmitting the signal generated from the printed circuit board directly through the probe and the tap tap 상기 인쇄회로기판으로부터 발생된 신호가 탭과 연결된 드라이버 집적회로로 전송되는 단계;Transmitting a signal generated from the printed circuit board to a driver integrated circuit connected to a tab; 상기 신호를 전송받은 드라이버 집적회로에서 전송된 신호를 분할하는 단계; 및Dividing a signal transmitted from a driver integrated circuit receiving the signal; And 상기 분할된 신호가 탭 및 브릿지 탭을 통하여 프로브 바로 전송되는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.And transmitting the divided signal to the probe bar through the tap and the bridge tap. 제9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 액정패널의 동작을 검사하는 공정은 The process of inspecting the operation of the liquid crystal panel 육안 또는 영상기기를 이용하는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.Liquid crystal panel inspection method characterized in that using the naked eye or an imaging device.
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