KR20070074179A - Unit for connecting circuit board and apparatus for testing plat display panel having the unit - Google Patents
Unit for connecting circuit board and apparatus for testing plat display panel having the unit Download PDFInfo
- Publication number
- KR20070074179A KR20070074179A KR1020060001994A KR20060001994A KR20070074179A KR 20070074179 A KR20070074179 A KR 20070074179A KR 1020060001994 A KR1020060001994 A KR 1020060001994A KR 20060001994 A KR20060001994 A KR 20060001994A KR 20070074179 A KR20070074179 A KR 20070074179A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit board
- plug
- block
- socket block
- patterns
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0416—Connectors, terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
Description
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 평판표시패널 검사 장치의 개략적인 구성을 보여주는 블록도이다.1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of an apparatus for inspecting a flat panel display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명에서 제1실시예에 따른 회로기판 연결 유닛과 프로브 유닛 그리고 인터페이스 모듈을 보여주는 사시도이다. 2 is a perspective view illustrating a circuit board connection unit, a probe unit, and an interface module according to the first embodiment of the present invention.
도 3은 도 2에 도시된 회로기판 연결 유닛을 보여주는 평면도이다.3 is a plan view illustrating the circuit board connection unit illustrated in FIG. 2.
도 4a 및 도 4b는 본 발명에서 제1회로기판과 제2회로기판이 연결 유닛에 의해 접촉되는 과정을 단계적으로 보여주는 도면들이다. 4A and 4B are diagrams illustrating a process of contacting a first circuit board and a second circuit board by a connection unit in the present invention.
도 5 및 도 6은 제2실시예에 따른 회로기판 연결 유닛과 프로브 유닛 그리고 인터페이스 모듈을 보여주는 사시도이다. 5 and 6 are perspective views illustrating a circuit board connection unit, a probe unit, and an interface module according to the second embodiment.
도 7은 제1회로기판과 제2회로기판이 제2실시예에 따른 회로기판 연결 유닛에 의해 연결된 상태를 보여주는 측면도이다.FIG. 7 is a side view illustrating a state in which a first circuit board and a second circuit board are connected by a circuit board connection unit according to a second embodiment.
도 8은 제2실시예에 따른 회로기판 연결 유닛의 분해 사시도이다.8 is an exploded perspective view of a circuit board connection unit according to a second embodiment.
도 9는 제2실시예에 따른 회로기판 연결 유닛의 평면도이다.9 is a plan view of a circuit board connection unit according to a second embodiment.
도 10a 내지 도 10c는 제1회로기판과 제2회로기판이 연결 유닛에 의해 접촉 및 분리되는 과정을 단계적으로 보여주는 도면들이다. 10A through 10C are diagrams illustrating a process of contacting and separating a first circuit board and a second circuit board by a connection unit.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
1 : 검사 장치 100 : 연결 유닛1: inspection device 100: connection unit
110 : 플러그 120 : 소켓 블록110: plug 120: socket block
130 : 정렬부재 140 : 푸셔 부재130: alignment member 140: pusher member
200 : 인터페이스 모듈 300 : 프로브 유닛 200: interface module 300: probe unit
본 발명은 평판표시패널 검사 장치에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 프로브 유닛의 연성회로기판(FPC)과 인터페이스 모듈의 인쇄회로기판을 전기적으로 연결시키는 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a flat panel display panel inspection device, and more particularly, a circuit board connection unit for electrically connecting a flexible printed circuit board (FPC) of a probe unit and a printed circuit board of an interface module, and a flat panel display panel inspection device having the same. It is about.
일반적으로 액정표시장치(TFT-LCD)와 같은 평판표시패널은 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화가 급속도로 진전되어 노트북 컴퓨터(computer)용 뿐만 아니라 대형 모니터(monitor) 응용 제품으로도 개발되어 기존의 CRT(cathode ray tube) 제품을 점진적으로 대체하고 있어 디스플레이 산업에서의 그 비중이 점차 증대되고 있다. In general, flat panel displays such as TFT-LCDs are rapidly becoming larger and higher in size due to mass production technology and R & D. As a result, they are not only used for laptop computers but also for large monitor applications. It is being developed and gradually replaced the existing cathode ray tube (CRT) products, and its portion in the display industry is gradually increasing.
이와 같은 평판표시패널은 패널 가장자리 부근에 패널을 구동하기 위한 수많은 접속단자를 구비하고 있으며, 이들 접속단자를 통해 평판표시패널의 화소에 전 기적 신호를 인가한다. 한편, 평판표시패널은 반도체 칩과 마찬가지로 제품에 장착하기 전에 패널에 전기적 신호를 인가하여 화소의 불량 유무를 검사하게 된다.Such a flat panel display panel includes a number of connection terminals for driving the panel near the edge of the panel, and applies electric signals to the pixels of the flat panel display panel through these connection terminals. Meanwhile, like a semiconductor chip, a flat panel display panel applies an electrical signal to a panel before mounting it on a product and inspects whether a pixel is defective.
이를 위한 검사장비는 각종 측정기기들이 내장된 테스터와, 테스터와 평판표시패널을 전기적으로 연결시켜 주는 프로브 유닛을 갖추고 있다. 특히, 프로브 유닛은 평판표시패널의 접속단자와 직접 접촉하여 접속단자에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하는 역할을 한다. The test equipment for this purpose is equipped with a tester having various measuring devices and a probe unit for electrically connecting the tester and the flat panel display panel. In particular, the probe unit directly contacts the connection terminal of the flat panel display panel to apply an electrical signal to the connection terminal and simultaneously detect an output.
이러한 평판표시패널 검사 장치는 프로브 유닛에 전기 신호를 입력할 있도록 프로브 유닛의 연성회로기판(FPC)과 인터페이스 모듈의 인쇄회로기판이 서로 전기적으로 연결된 구조가 사용되고 있으며, 이들 기판들은 포고핀들이 구비된 포고 블록에 의해 서로 전기적으로 연결된다. The flat panel panel inspection apparatus is a structure in which the flexible printed circuit board (FPC) of the probe unit and the printed circuit board of the interface module are electrically connected to each other to input an electrical signal to the probe unit, and these substrates are provided with pogo pins. It is electrically connected to each other by pogo blocks.
그러나, 포고핀 타입의 접속 구조는 포고 블록에 포고핀 수와 피치에 맞게 미세홀을 가공해야 하는 제작의 어려움이 있고, 포고핀을 포고 블록에 형성된 미세홀에 하나씩 수작업으로 삽입해야 하는 조립의 불편함이 있으며 특히, 포고 블록의 포고핀들을 인쇄회로기판의 패턴들에 정렬하는 작업 등에 많은 시간이 소요되며, 전체적인 제작비용이 많이 드는 단점이 있다. However, the pogo pin type connection structure has a difficulty in fabricating the micro holes in accordance with the number and pitch of pogo pins in the pogo block. In particular, it takes a lot of time to align the pogo pins of the pogo block to the pattern of the printed circuit board, there is a disadvantage that the overall manufacturing cost is high.
본 발명의 목적은 프로브 유닛의 연성회로기판과 인터페이스 모듈의 인쇄회로기판의 접속 구조를 개선한 새로운 형태의 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사 장치를 제공하는데 있다. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a new type of circuit board connection unit and a flat panel display panel inspection apparatus having the same in which the connection structure between the flexible circuit board of the probe unit and the printed circuit board of the interface module is improved.
본 발명의 목적은 프로브 유닛의 연성회로기판과 인터페이스 모듈의 인쇄회 로기판을 전기적으로 연결하는 작업을 단순화할 수 있는 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사 장치를 제공하는데 있다. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a circuit board connection unit and a flat panel display panel inspection apparatus having the same, which can simplify the operation of electrically connecting the flexible circuit board of the probe unit and the printed circuit board of the interface module.
본 발명의 목적은 제작 단가가 저렴한 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사 장치를 제공하는데 있다. An object of the present invention is to provide a circuit board connection unit having a low manufacturing cost and a flat panel display panel inspection apparatus having the same.
본 발명의 목적은 정확한 신호 전달 그리고 접촉 재현성이 뛰어난 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사 장치를 제공하는데 있다. An object of the present invention is to provide a circuit board connection unit excellent in accurate signal transmission and contact reproducibility and a flat panel display panel inspection apparatus having the same.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 회로기판 연결 유닛은 제1회로기판의 일단이 결합되는 플러그; 제2회로기판이 설치된 베이스 플레이트에 장착되고 상기 플러그가 삽입되는 삽입구를 갖는 소켓 블록; 및 상기 소켓 블록의 삽입구를 통해 삽입된 상기 플러그를 상기 소켓 블록 상부에서 가압하여 상기 플러그에 결합된 제1회로기판의 패턴들이 상기 제2회로기판의 패턴들과 접촉되도록 하는 푸셔 부재를 포함할 수 있다.The circuit board connection unit of the present invention for achieving the above object comprises a plug to which one end of the first circuit board is coupled; A socket block mounted to a base plate on which a second circuit board is installed and having an insertion hole into which the plug is inserted; And a pusher member configured to press the plug inserted through the insertion hole of the socket block on the socket block so that the patterns of the first circuit board coupled to the plug are in contact with the patterns of the second circuit board. have.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 회로기판 연결 유닛은 상기 제1회로기판의 패턴들이 상기 제2회로기판의 패턴들 상부에 정렬되도록 상기 플러그의 삽입 위치를 제한하는 정렬부재를 더 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, the circuit board connection unit may further include an alignment member that restricts an insertion position of the plug such that the patterns of the first circuit board are aligned on the patterns of the second circuit board. .
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 정렬부재는 상기 소켓 블록에 형성되는 기준핀들과, 상기 플러그에 형성되며 상기 기준핀들이 삽입되는 기준홀들을 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the alignment member may include reference pins formed in the socket block and reference holes formed in the plug and into which the reference pins are inserted.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 플러그는 상기 제1회로기판이 부착되는 저 면에 시트를 갖을 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the plug may have a sheet on the bottom surface to which the first circuit board is attached.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 푸셔 부재는 상기 소켓 블록에 형성되는 나사홀들에 삽입되어 상기 플러그 상면을 누르는 나사들을 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the pusher member may include screws that are inserted into screw holes formed in the socket block and press the upper surface of the plug.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 나사홀의 상부에는 상기 나사의 머리가 삽입되는 나사머리 홈이 형성되되, 상기 나사머리 홈은 상기 플러그를 누르는 상기 나사의 위치를 제한하도록 형성될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a screw head groove into which the head of the screw is inserted is formed in an upper portion of the screw hole, and the screw head groove may be formed to limit the position of the screw pressing the plug.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 푸셔 부재는 상기 소켓 블록에 설치되며, 상기 플러그의 상면을 눌러주는 제1위치와 상기 플러그의 상면으로부터 이격되는 제2위치로 이동 가능한 이동 블록; 상기 이동 블록에 설치되며, 상기 이동 블록이 제1위치로 이동되었을 때 상기 소켓 블록에 형성된 잠금홈에 끼워져 상기 이동 블록의 이동을 제한하는 스톱퍼; 상기 소켓 블록의 잠금홈에 결합된 상기 스톱퍼의 잠금 상태가 해제되도록 상기 스톱퍼를 이동시켜주는 해제버튼을 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the pusher member is installed in the socket block, the movable block movable to the first position pressing the upper surface of the plug and the second position spaced apart from the upper surface of the plug; A stopper installed in the moving block and inserted into a locking groove formed in the socket block when the moving block is moved to the first position to limit movement of the moving block; It may include a release button for moving the stopper to release the lock state of the stopper coupled to the locking groove of the socket block.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 소켓 블록의 상면에는 상기 이동 블록의 일단이 회전 가능하게 설치되는 오프닝이 형성될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, an opening on which one end of the movable block is rotatably installed may be formed on an upper surface of the socket block.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 이동 블록은 타단에 상기 스톱퍼가 삽입되는 장착홈이 형성되고, 상기 장착홈에는 상기 해제버튼에 의해 상기 장착홈으로 이동한 상기 스톱퍼를 원래의 위치로 복원시키기 위한 스프링이 설치될 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the moving block is provided with a mounting groove into which the stopper is inserted at the other end, and the mounting groove for restoring the stopper moved to the mounting groove by the release button to its original position. Springs can be installed.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 잠금홈은 상기 장착홈과 대응되는 상기 소켓 블록의 일면에 형성되며, 상기 해제버튼은 상기 잠금홈에 전후 이동가능하게 설치되며 일단은 작업자가 누를 수 있도록 상기 소켓 블록의 외부로 노출된다.According to an embodiment of the present invention, the lock groove is formed on one surface of the socket block corresponding to the mounting groove, the release button is installed in the lock groove to move back and forth and the socket so that one end can be pressed by the worker Exposed to the outside of the block.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 스톱퍼는 상기 이동 블록이 상기 제1위치에서 제2위치로 회전될 때 상기 소켓 블록의 일면과의 접촉을 최소화하기 위한 제1경사면과, 상기 이동 블록이 상기 제2위치에서 제1위치로 회전될 때 상기 소켓 블록의 일면과의 접촉을 최소화하기 위한 제2경사면이 형성된다.According to an embodiment of the present invention, the stopper may include a first inclined surface for minimizing contact with one surface of the socket block when the moving block is rotated from the first position to the second position, and the moving block may include the first inclined surface. A second inclined surface is formed to minimize contact with one surface of the socket block when rotated from the second position to the first position.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 베이스 플레이트에는 상기 소켓 블록의 장착 위치를 위한 복수의 기준핀들이 설치되고, 상기 소켓 블록의 저면에는 상기 기준핀들이 삽입되는 기준홀들이 형성된다.According to an exemplary embodiment of the present invention, a plurality of reference pins for mounting positions of the socket block are installed in the base plate, and reference holes into which the reference pins are inserted are formed in the bottom of the socket block.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 평판표시패널 검사 장치는 평판표시패널과 접촉되는 프로브들과 상기 프로브들로 전기적인 신호를 제공하는 제1회로기판을 갖는 프로브 유닛들; 상기 프로브 유닛들 각각의 제1회로기판으로 전기적인 신호를 제공하기 위한 제2회로기판을 갖는 인터페이스 모듈; 상기 제1회로기판의 패턴들과 제2회로기판의 패턴들을 직접 접촉시키는 회로기판 연결 유닛을 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a flat panel display inspection apparatus including: probe units having probes in contact with the flat panel display panel and a first circuit board configured to provide an electrical signal to the probes; An interface module having a second circuit board for providing an electrical signal to the first circuit board of each of the probe units; And a circuit board connection unit for directly contacting the patterns of the first circuit board and the patterns of the second circuit board.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 회로기판 연결 유닛은 상기 제1회로기판의 일단이 결합되는 플러그; 상기 제2회로기판이 설치된 베이스 플레이트에 장착되고 상기 플러그가 삽입되는 삽입구를 갖는 소켓 블록; 및 상기 소켓 블록의 삽입구를 통해 삽입된 상기 플러그를 상기 소켓 블록 상부에서 가압하여 상기 플러그에 결합된 제1회로기판의 패턴들이 상기 제2회로기판의 패턴들과 접촉되도록 하는 푸셔 부재를 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the circuit board connection unit includes a plug to which one end of the first circuit board is coupled; A socket block mounted on a base plate on which the second circuit board is installed and having an insertion hole into which the plug is inserted; And a pusher member configured to press the plug inserted through the insertion hole of the socket block on the socket block so that the patterns of the first circuit board coupled to the plug are in contact with the patterns of the second circuit board. have.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 회로기판 유닛은 상기 제1회로기판의 패턴 들이 상기 제2회로기판의 패턴들 상부에 정렬되도록 상기 플러그의 삽입 위치를 제한하는 정렬부재를 더 포함하되; 상기 정렬부재는 상기 소켓 블록에 형성되는 기준핀들과, 상기 플러그에 형성되며 상기 기준핀들이 삽입되는 기준홀들을 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the circuit board unit further includes an alignment member for restricting an insertion position of the plug such that the patterns of the first circuit board are aligned above the patterns of the second circuit board; The alignment member may include reference pins formed in the socket block, and reference holes formed in the plug and into which the reference pins are inserted.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 플러그는 상기 제1회로기판이 부착되는 저면에 시트를 갖는다. According to an embodiment of the present invention, the plug has a sheet on a bottom surface to which the first circuit board is attached.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 푸셔 부재는 상기 소켓 블록에 형성되는 나사홀들에 삽입되어 상기 플러그 상면을 누르는 나사들을 포함한다.According to an embodiment of the present invention, the pusher member includes screws that are inserted into screw holes formed in the socket block and press the upper surface of the plug.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 푸셔 부재는 상기 소켓 블록에 설치되며, 상기 플러그의 상면을 눌러주는 제1위치와 상기 플러그의 상면으로부터 이격되는 제2위치로 이동 가능한 이동 블록; 상기 이동 블록에 설치되며, 상기 이동 블록이 제1위치로 이동되었을 때 상기 소켓 블록에 형성된 잠금홈에 끼워져 상기 이동 블록의 이동을 제한하는 스톱퍼; 상기 소켓 블록의 잠금홈에 결합된 상기 스톱퍼의 잠금 상태가 해제되도록 상기 스톱퍼를 이동시켜주는 해제버튼을 포함한다. According to an embodiment of the present invention, the pusher member is installed in the socket block, the movable block movable to the first position pressing the upper surface of the plug and the second position spaced apart from the upper surface of the plug; A stopper installed in the moving block and inserted into a locking groove formed in the socket block when the moving block is moved to the first position to limit movement of the moving block; And a release button for moving the stopper to release the lock state of the stopper coupled to the lock groove of the socket block.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 소켓 블록의 상면에는 상기 이동 블록의 일단이 회전 가능하게 설치되는 오프닝이 형성되며, 상기 이동 블록은 타단에 상기 스톱퍼가 삽입되는 장착홈이 형성되고, 상기 장착홈에는 상기 해제버튼에 의해 상기 장착홈으로 이동한 상기 스톱퍼를 원래의 위치로 복원시키기 위한 스프링이 설치된다. According to an embodiment of the present invention, an opening in which one end of the movable block is rotatably installed is formed on an upper surface of the socket block, and the movable block is provided with a mounting groove into which the stopper is inserted at the other end thereof. The spring is installed to restore the stopper moved to the mounting groove by the release button to its original position.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 잠금홈은 상기 장착홈과 대응되는 상기 소 켓 블록의 일면에 형성되며, 상기 해제버튼은 상기 잠금홈에 전후 이동가능하게 설치되며 일단은 작업자가 누를 수 있도록 상기 소켓 블록의 외부로 노출된다. According to an embodiment of the present invention, the locking groove is formed on one surface of the socket block corresponding to the mounting groove, the release button is installed to be movable back and forth in the locking groove and one end so that the operator can press Exposed to the outside of the socket block.
예컨대, 본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예로 인해 한정되어 지는 것으로 해석되어져서는 안 된다. 본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되어지는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다. For example, embodiments of the present invention may be modified in various forms, and the scope of the present invention should not be construed as being limited by the embodiments described below. This embodiment is provided to more completely explain the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shape of the elements in the drawings and the like are exaggerated to emphasize a clearer description.
본 발명의 실시예를 첨부된 도면 도 1 내지 도 10c에 의거하여 상세히 설명한다. 또, 상기 도면들에서 동일한 기능을 수행하는 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 병기한다. Exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 10C. In addition, in the drawings, the same reference numerals are denoted together for components that perform the same function.
본 발명의 기본적인 의도는 프로브 유닛의 연성회로기판과 인터페이스 모듈의 인쇄회로기판을 간편하게 전기적으로 연결시키기 위한 것으로, 이를 달성하기 위하여 본 발명의 회로기판 연결 유닛은 연성회로기판의 패턴들이 인쇄회로기판의 패턴들 상부에 정렬시키는 플러그와 소켓 블록을 갖고, 연성회로기판의 패턴들이 인쇄회로기판의 패턴들에 직접 접촉하도록 물리적인 압박을 가하는 푸셔 부재를 갖는데 그 특징이 있다. The basic intention of the present invention is to easily and electrically connect the flexible circuit board of the probe unit and the printed circuit board of the interface module. In order to achieve this, the circuit board connection unit of the present invention is characterized in that the patterns of the flexible circuit board Characterized by a pusher member having a plug and socket block to align above the patterns, and a physical pressing to cause the patterns of the flexible circuit board to directly contact the patterns of the printed circuit board.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 평판표시패널 검사 장치의 개략적인 구성을 보여주는 블록도이다.1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of an apparatus for inspecting a flat panel display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 평판표시패널 검사를 위한 검사장치(1)는 평판표시패널을 테스트하기 위한 소정의 신호를 발생시키는 테스터(400), 테스 터(400)로부터 각각 평판표시패널(10)의 X,Y축으로 신호를 분리 전달하는 소스/게이트 인쇄회로기판(PCB; 이하 제2회로기판이라고 함)을 갖는 인터페이스 모듈(200), 인터페이스 모듈(200)의 제2회로기판(210)과 프로브 유닛(300)의 연선회로기판(FPC, 이하 제1회로기판이라고 함)(310)을 직접 연결시키는 회로기판 연결 유닛(100), 인터페이스 모듈(200)로부터 소정의 신호를 제공받는 제1회로기판(310)과, 평판표시패널(10)의 접속단자(12)와 접촉하여 제1회로기판(310)으로부터 제공받은 전기적 신호를 인가하는 프로브(320)들을 갖는 프로브 유닛(300)들을 포함한다. As shown in FIG. 1, an
도 2는 본 발명에서 제1실시예에 따른 회로기판 연결 유닛과 프로브 유닛 그리고 인터페이스 모듈을 보여주는 사시도이다. 도 3은 도 2에 도시된 회로기판 연결 유닛을 보여주는 평면도이다.2 is a perspective view illustrating a circuit board connection unit, a probe unit, and an interface module according to the first embodiment of the present invention. 3 is a plan view illustrating the circuit board connection unit illustrated in FIG. 2.
도 2 및 도 3을 참조하면, 제1실시예에 따른 회로기판 연결 유닛(100)은 프로브 유닛(300)의 제1회로기판(310)의 패턴(312;도 4a에 도시됨)들과 인터페이스 모듈(200)의 베이스 플레이트(202)에 설치된 제2회로기판(210)의 패턴(212;도 4a에 도시됨)들을 직접 연결시켜주는 유닛이다. 2 and 3, the circuit
회로기판 연결 유닛(100)은 플러그(110)와 소켓 블록(120), 정렬부재(130) 그리고 푸셔 부재(140)를 포함한다.The circuit
플러그(110)는 일단에 2개의 제2기준홀(134)이 형성되어 있는 판 형상으로, 투명한 아크릴 소재로 이루어진다. 플러그(110)는 앞쪽 저면이 경사지게 형성된다. 플러그(110)의 저면(114)에는 제1회로기판(310)의 일단이 접착제 등에 의해 부착되 며, 제1회로기판(310)이 부착되는 플러그(110) 저면에는 시트(또는 필름;118)가 부착된다. 시트(118)는 제1회로기판(310)의 패턴들과 제2회로기판(210)의 패턴들이 서로 접촉될 때 접촉성을 향상시키기 위한 것이다. 물론, 시트(118)는 여러 장이 겹쳐진 복합 시트가 사용될 수 도 있다. The
소켓 블록(120)은 제2회로기판(210)이 설치된 베이스 플레이트(202)에 장착된다. 소켓 블록(120)은 플러그(110)가 삽입되는 삽입구(124)가 형성되고 베이스 플레이트(202)에 지지되는 수직부(122a)와, 수직부(122a)의 상부로부터 일측(제2회로기판의 패턴들이 위치하는 상부)방향으로 연장되어 형성되는 수평부(122b)를 포함한다. 수직부(122a)의 저면 양단에는 제1기준홀(125)들이 형성되고, 수평부(122b)에는 3개의 나사홀(126)이 수직하게 관통되며, 수평부(122b)의 저면에는 2개의 제2기준핀(132)이 아래로 돌출되도록 설치된다. 나사홀(126)의 상부에는 나사(142)의 머리(142a)가 삽입되는 나사머리 홈(126a)이 형성된다. 나사머리 홈(126a)은 플러그(110)를 누르는 나사(142)의 위치를 제한할 수 있는 깊이를 제공한다. 예컨대, 나사(142)의 누름 위치를 제한하지 않으면 나사(142)의 과도한 물리적 누름에 의해 플러그(110)가 깨지는 문제가 발생될 수 있다.The
베이스 플레이트(202)에는 소켓 블록(120)의 장착 위치를 정렬해주기 위한 2개의 제1기준핀(204)들이 설치되며, 제1기준핀(204)들은 소켓 블록(120)의 제1기준홀(125)들에 삽입된다. 소켓 블록(120)은 제1기준핀(204)이 제1기준홀(125)에 끼워지면서 베이스 플레이트(202)의 정위치에 놓여지게 된다. 이렇게 베이스 플레이트(202)에 놓여진 소켓 블록(120)은 2개의 고정 나사(190)에 의해 고정된다. The
정렬부재(130)는 제1회로기판(310)의 패턴(312)들이 제2회로기판(210)의 패턴들(212) 상부에 정렬되도록 플러그(110)의 삽입 위치를 제한하기 위한 것으로, 소켓 블록(120)에 형성되는 2개의 제2기준핀(132)들과, 플러그(110)에 형성되는 2개의 제2기준홀(134)들을 포함한다. 제1회로기판(310)의 패턴(312)들은 플러그(110)가 소켓 블록(120)의 삽입구(124)를 통해 삽입되면서 좌우 위치가 1차로 정렬되고, 플러그(110)가 제2기준핀(132)들에 의해 전진 이동이 제한되면서 2차 정렬된다. The
푸셔 부재(140)는 소켓 블록(120)의 수평부(122b)에 형성된 나사홀(126)들에 나사 결합되어 플러그(110) 상면을 누르는 나사(142)들로 이루어진다. 나사(142)들은 플러그(110) 저면에 부착된 제1회로기판(310)의 패턴(312)(도 4a에 표시됨)들이 제2회로기판(210)의 패턴(212)(도 4a에 표시됨)들과 접촉되도록 소켓 블록(120)의 삽입구(124)를 통해 삽입된 플러그(110)의 상면을 가압하게 된다. The
도 4a 및 도 4b는 본 발명에서 제1회로기판과 제2회로기판이 연결 유닛에 의해 접촉되는 과정을 단계적으로 보여주는 도면들이다. 4A and 4B are diagrams illustrating a process of contacting a first circuit board and a second circuit board by a connection unit in the present invention.
도 4a 및 도 4b를 참조하면, 제1회로기판(310)이 부착된 플러그(110)는 소켓 블록(120)의 삽입구(124)를 통해 삽입된다. 이 과정에서 플러그(110)는 삽입구(124)에 의해 1차로 좌우 위치가 정렬된다. 플러그(110)가 계속 전진 이동하는 과정에서 제2기준홀(134)에 제2기준핀(132)이 끼워지면서 다시 한번 플러그(110)의 위치가 정렬된다. 최종적으로 제2기준핀(132)이 제2기준홀(134) 끝단에 위치되면서(플러그의 전진 이동이 제한) 플러그(110)가 정위치에 정렬된다. 4A and 4B, the
이 상태에서, 작업자는 나사(142)의 하단면이 플러그(110)의 상면을 누르도록 나사(142)들을 조임 방향으로 돌린다. 나사(142)의 머리(142a) 저면이 나사머리 홈(126a)의 저면(126b)에 맞닿을 때까지 나사를 조이면 나사(142)의 하단면이 적당한 위치에서 플러그(110)의 상면을 누르게 되고, 플러그(110) 저면에 부착된 제1회로기판(310)의 패턴(312)들이 제2회로기판(210)의 패턴(212)들과 접촉된다.In this state, the operator turns the
(변형예) (Variation)
도 5 내지 도 10c는 회로기판 연결 유닛의 제2실시예를 설명하기 위한 도면들이다. 5 to 10C are diagrams for describing a second embodiment of a circuit board connection unit.
도 5 및 도 6은 제2실시예에 따른 회로기판 연결 유닛과 프로브 유닛 그리고 인터페이스 모듈을 보여주는 사시도이다. 도 7은 제1회로기판과 제2회로기판이 제2실시예에 따른 회로기판 연결 유닛에 의해 연결된 상태를 보여주는 측면도이다.5 and 6 are perspective views illustrating a circuit board connection unit, a probe unit, and an interface module according to the second embodiment. FIG. 7 is a side view illustrating a state in which a first circuit board and a second circuit board are connected by a circuit board connection unit according to a second embodiment.
도 5 내지 도 7을 참조하면, 제2실시예에 따른 회로기판 연결 유닛(100')은 제1실시예에 따른 회로기판 연결 유닛(100)보다 간단한 원터치 방식으로 프로브 유닛(300)의 제1회로기판(310)의 패턴(312)들과 인터페이스 모듈(200)의 베이스 플레이트(202)에 설치된 제2회로기판(210)의 패턴(212)들을 직접 연결시켜주는 유닛이다. 5 to 7, the circuit
회로기판 연결 유닛(100')은 앞에서 설명한 회로기판 연결 유닛(100)과 동일한 구성과 기능을 갖는 플러그(110)와 정렬부재(130) 그리고 유사한 구성의 소켓 블록(120')을 포함한다. 특히, 본 실시예에서는 원터치 방식으로 플러그(110)를 누르는 푸시 부재(150)를 갖는다는데 그 특징이 있다. The circuit
플러그(110)는 일단에 2개의 제2기준홀(134)이 형성되며, 플러그(110)의 저면에는 제1회로기판(310)의 일단이 접착제 등에 의해 부착된다. 제1회로기판(310)이 부착되는 플러그(110) 저면에는 시트(118)가 설치된다. The
소켓 블록(120')은 제2회로기판(210)이 설치된 베이스 플레이트(202)에 장착된다. The
도 8 및 도 9는 제2실시예에 따른 회로기판 연결 유닛의 분해 사시도 및 평면도이다. 8 and 9 are an exploded perspective view and a plan view of a circuit board connection unit according to the second embodiment.
도 5 및 도 8 그리고 도 9를 참조하면, 소켓 블록(120')은 수직부(122a)와 수평부(122b)를 포함한다. 수직부(122a)는 플러그(110)가 삽입되는 삽입구(124)를 갖으며, 베이스 플레이트(202)에 지지된다. 수직부(122a)의 저면 양단에는 제1기준홀(125)들이 형성된다. 수평부(122b)는 수직부(122a)의 상부로부터 일측(제2회로기판의 패턴들이 위치하는 상부)방향으로 연장되어 형성된다. 수평부(122b)에는 윗면에서 아랫면으로 관통된 사각 형상의 오프닝(123)이 형성된다. 5, 8, and 9, the
베이스 플레이트(202)에는 소켓 블록(120')의 장착 위치를 정렬해주기 위한 2개의 제1기준핀(204)들이 설치되며, 제1기준핀(204)들은 소켓 블록(120')의 제1기준홀(125)들에 삽입된다. 소켓 블록(120')은 제1기준핀(204)이 제1기준홀(125)에 끼워지면서 베이스 플레이트(202)의 정위치에 놓여지게 된다. 이렇게 베이스 플레이트(202)에 놓여진 소켓 블록(120')은 2개의 고정 나사(190)에 의해 고정된다. The
정렬부재(130)는 제1회로기판(310)의 패턴(312)(도 10a에 도시됨)들이 제2회로기판(210)의 패턴(212)(도 10a에 도시되)들 상부에 정렬되도록 플러그(110)의 삽 입 위치를 제한하기 위한 것으로, 소켓 블록(120')에 형성되는 2개의 제2기준핀(132)들과, 플러그(110)에 형성되는 2개의 제2기준홀(134)들을 포함한다. 제1회로기판(310)의 패턴(312)들은 플러그(110)가 소켓 블록(120')의 삽입구(124)를 통해 삽입되면서 좌우 위치가 1차로 정렬되고, 플러그(110)가 제2기준핀(132)들에 의해 전진 이동이 제한되면서 2차 정렬된다. The
푸셔 부재(150)는 이동블록(152), 스톱퍼(160) 그리고 해제버튼(170)을 포함한다.The
이동블록(152)은 오프닝(123)에 설치된다. 이동블록(152)은 오프닝(123)에서 플러그(110)의 상면을 눌러주는 제1위치(도 10b에 도시된 위치)와 플러그(110)의 상면으로부터 이격되는 제2위치(도 10a에 도시된 위치)로 이동가능하게 회전된다. 이동블록(152)의 타단 측면(153)에는 2개의 장착홈(154)이 형성되며, 이 장착홈(154)에는 스프링(164)과 스톱퍼(160)가 삽입되어 설치된다. 스톱퍼(160)는 이동블록(152)이 제1위치로 이동되었을 때, 이동 블록(52)의 이동을 제한하는 것이다. 스톱퍼(160)는 스프링(164)의 탄성에 의해 소켓 블록(120')의 내측 일면(127)에 형성된 잠금홈(127a)에 일단이 끼워지면서 이동 블록(152)의 이동(회전)을 제한한다. 스톱퍼(160)는 잠금홈(127a)에 끼워지는 헤드(162)와, 헤드(162)의 후단으로부터 연장되어 형성되고 스프링(164)이 끼워지는 돌기(161)를 갖는다. 스톱퍼(160)의 헤드(162) 전면은 이동 블록(152)이 제1위치에서 제2위치(또는 제2위치에서 제1위치)로 회전될 때 소켓 블록(120')의 내측 일면(127)과 접촉하는 부분으로, 스톱퍼(160)의 헤드(162) 전면은 이동 블록(152)의 원활한 회전을 위해 경사진 제1,2경사 면(162a,162b)을 갖는다. The moving
스톱퍼(160)의 헤드(162)가 끼워지는 잠금홈(127a)은 장착홈(154)과 마주하는 소켓 블록(120')의 내측 일면(127)에 형성된다. 잠금홈(127a) 안쪽에는 해제 버튼(170)이 설치된다. 이 해제 버튼(170)은 잠금홈(127a)에 끼워진 스톱퍼 헤드(162)의 잠금 상태를 해제하고자 할 때 사용되는 부분으로, 해제 버튼(170)의 일단은 잠금홈(127a)에 형성된 관통공(127b)을 통해 소켓 블록(120') 밖으로 노출된다. 이렇게 노출된 해제 버튼(170)의 일단은 연결바(172)와 결합된다. The locking
도 10a 내지 도 10c는 제1회로기판과 제2회로기판이 연결 유닛에 의해 접촉 및 분리되는 과정을 단계적으로 보여주는 도면들이다. 10A through 10C are diagrams illustrating a process of contacting and separating a first circuit board and a second circuit board by a connection unit.
도 10a를 참조하면, 이동 블록(152)이 제2위치로 들어올려진 상태에서 제1회로기판(310)이 부착된 플러그(110)는 소켓 블록(120')의 삽입구(124)를 통해 삽입된다. 이 과정에서 플러그(110)는 삽입구(124)에 의해 1차로 좌우 위치가 정렬된다. 플러그(110)는 제2기준홀(134)에 제2기준핀(132)이 끼워지면서 다시 한번 플러그(110)의 위치가 정렬된다. 최종적으로 제2기준핀(132)이 제2기준홀(134) 끝단에 위치되면서(플러그의 전진 이동이 제한) 플러그(110)가 정위치에 정렬된다. 플러그(110) 삽입이 완료되면, 작업자는 이동 블록(152)의 상면을 눌러, 이동 블록(152)을 제2위치에서 제1위치로 회전 이동 시킨다. 이동 블록(152)이 제1위치로 이동되면서 이동 블록(152) 저면이 플러그(110) 상면을 누르게 되고, 제1회로기판(310)의 패턴(312)들이 제2회로기판(210)의 패턴(212)들과 접촉된다. 이때, 스톱퍼(160)는 잠금홈(127a)과 동일선상에 위치되면서 스프링(164)의 탄성에 의해 스톱퍼(160)의 헤드(162)가 잠금홈(127a)에 삽입된다. 따라서, 작업자가 이동 블록(152)을 누르던 힘을 제거하더라도 이동 블록(152)은 제1위치를 유지(고수)하게 된다(도 10b 참조). 상술한 바와 같이, 제1회로기판(310)과 제2회로기판(210)을 접촉시키기 위한 작업은 플러그(110)를 소켓 블록(120')의 삽입구(124)에 삽입하고 이동 블록(152)을 눌러주는 단순한 과정만으로 간단하게 완료된다. Referring to FIG. 10A, when the moving
한편, 제1회로기판(310)과 제2회로기판(210)을 분리하는 과정은 다음과 같다. 연결바(172)를 작업자가 누르면 연결바(172)와 연결된 해제버튼(170)이 잠금홀(127a)에서 이동하면서 잠금홀(127a)에 위치된 스톱퍼(160)의 헤드(162)를 바깥쪽으로 밀어낸다. 스톱퍼(160)의 헤드(162)가 잠금홀(127a)에서 벗어나면 이동 블록(152)에 의해 눌려져 있던 플러그(110)와 제1,2회로기판(310,210)의 탄성 복원력에 의해 이동 블록(152)이 상방향(제2위치로 회전)으로 들어올려지게 된다. 이렇게 이동 블록(152)이 제2위치(도 10a)로 이동된 상태에서 플러그(110)를 삽입 반대 방향으로 잡아당기면 소켓 블록(120')에서 쉽게 분리된다. 상술한 바와 같이, 제1회로기판(310)과 제2회로기판(210)의 분리 과정은 연결 과정과 마찬가지로 연결바(172)를 눌러주는 원터치 동작으로 이루어진다. Meanwhile, a process of separating the
한편, 본 발명은 상기의 구성으로 이루어진 평판표시패널 검사 장치는 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있다. 하지만, 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.In the present invention, the flat panel display panel inspection apparatus having the above configuration can be variously modified and can take various forms. It is to be understood, however, that the present invention is not limited to the specific forms referred to in the above description, but rather includes all modifications, equivalents and substitutions within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It should be understood to do.
상술한 바와 같이, 본 발명은 부품수가 적고 구조가 단순하여 제조 원가가 저렴하고 제작이 용이한 이점이 있다. As described above, the present invention is advantageous in that the number of parts and the structure are simple, the manufacturing cost is low, and the manufacturing is easy.
본 발명은 별도의 정렬 과정 없이 제1회로기판의 패턴들과 제2회로기판의 패턴들을 접촉시킬 수 있기 때문에 작업성이 매우 뛰어나다. The present invention has excellent workability because the patterns of the first circuit board and the patterns of the second circuit board can be contacted without a separate alignment process.
본 발명은 제1회로기판과 제2회로기판의 접촉 후 필요에 따라서 제1회로기판을 제2회로기판으로부터 쉽게 분리할 수 있어 유지 보수가 용이하다.According to the present invention, after the contact between the first circuit board and the second circuit board, the first circuit board can be easily separated from the second circuit board as necessary, so that maintenance is easy.
본 발명은 원터치방식으로 간단히 제1회로기판과 제2회로기판을 접촉시킬 수 있어서, 작업이 간단하고 작업시간을 단축시킬 수 있다. According to the present invention, the first circuit board and the second circuit board can be simply contacted in a one-touch manner, so that the work is simple and the working time can be shortened.
본 발명은 제1회로기판의 패턴들과 제2회로기판의 패턴들이 직접 접촉됨으로써 신호 전달 과정에서의 노이즈를 최소화할 수 있다. According to the present invention, the patterns of the first circuit board and the patterns of the second circuit board are directly contacted, thereby minimizing noise in a signal transmission process.
Claims (19)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060001994A KR100767191B1 (en) | 2006-01-06 | 2006-01-06 | Unit for connecting circuit board and apparatus for testing plat display panel having the unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060001994A KR100767191B1 (en) | 2006-01-06 | 2006-01-06 | Unit for connecting circuit board and apparatus for testing plat display panel having the unit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070074179A true KR20070074179A (en) | 2007-07-12 |
KR100767191B1 KR100767191B1 (en) | 2007-10-17 |
Family
ID=38508391
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060001994A KR100767191B1 (en) | 2006-01-06 | 2006-01-06 | Unit for connecting circuit board and apparatus for testing plat display panel having the unit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100767191B1 (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101362564B1 (en) * | 2013-03-11 | 2014-02-13 | 세메스 주식회사 | Unit for separating a socket board and base board apparatus having the unit |
JP2017096949A (en) * | 2015-11-24 | 2017-06-01 | フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド | System and method for electrical inspection of flat panel display device using cell contact probing pads |
CN108806565A (en) * | 2018-06-01 | 2018-11-13 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | Display screen lighting test device and method |
WO2019000975A1 (en) * | 2017-06-30 | 2019-01-03 | 京东方科技集团股份有限公司 | Electrical test jig |
JP6830715B1 (en) * | 2020-10-29 | 2021-02-17 | 株式会社Sdk | Measurement socket |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101164855B1 (en) | 2009-03-19 | 2012-07-27 | 하나네트워크 (주) | FPC measurement apparatus |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100314586B1 (en) * | 1999-05-17 | 2001-11-15 | 이석행 | Prober apparatus for testing of tft-lcd |
KR20020093383A (en) * | 2001-06-08 | 2002-12-16 | 주식회사 유림하이테크산업 | Probe card for testing LCD |
KR100599989B1 (en) * | 2003-12-24 | 2006-07-13 | 주식회사 파이컴 | Probe apparatus using probe unit |
KR100599983B1 (en) * | 2004-01-26 | 2006-07-13 | 주식회사 파이컴 | Probe unit combining structure |
-
2006
- 2006-01-06 KR KR1020060001994A patent/KR100767191B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101362564B1 (en) * | 2013-03-11 | 2014-02-13 | 세메스 주식회사 | Unit for separating a socket board and base board apparatus having the unit |
JP2017096949A (en) * | 2015-11-24 | 2017-06-01 | フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド | System and method for electrical inspection of flat panel display device using cell contact probing pads |
US10962567B2 (en) | 2015-11-24 | 2021-03-30 | Photon Dynamics, Inc. | Systems and methods for electrical inspection of flat panel displays using cell contact probing pads |
JP2021105620A (en) * | 2015-11-24 | 2021-07-26 | オルボテック リミテッド | Probe system |
WO2019000975A1 (en) * | 2017-06-30 | 2019-01-03 | 京东方科技集团股份有限公司 | Electrical test jig |
CN108806565A (en) * | 2018-06-01 | 2018-11-13 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | Display screen lighting test device and method |
US10847069B2 (en) | 2018-06-01 | 2020-11-24 | Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Display light-on test device and method |
JP6830715B1 (en) * | 2020-10-29 | 2021-02-17 | 株式会社Sdk | Measurement socket |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100767191B1 (en) | 2007-10-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8400177B2 (en) | Device and method for testing display panel | |
KR100767191B1 (en) | Unit for connecting circuit board and apparatus for testing plat display panel having the unit | |
JP3942823B2 (en) | Inspection device | |
KR100188840B1 (en) | Conductive contact unit | |
KR101874325B1 (en) | Socket for testing apparatus | |
JP2006343269A (en) | Tester | |
KR20070008460A (en) | Inspection device for display panel and interface used therein | |
KR100648014B1 (en) | Pcb jig of probe unit for flat display panel | |
KR100884475B1 (en) | A device for testing for display panel | |
CN111721979B (en) | Probe card testing device and signal switching module thereof | |
TWI400442B (en) | A detection method for a detection device and a panel | |
KR101999521B1 (en) | pin breakage prevention type multi contact socket | |
JPH048381Y2 (en) | ||
KR100657768B1 (en) | Unit for connecting circuit board and apparatus for testing plat display panel having the unit | |
KR101000456B1 (en) | Probe unit with easy maintenance | |
KR200415777Y1 (en) | Probe card for testing LCD | |
KR102075484B1 (en) | Socket for testing semiconductor | |
TWI273248B (en) | Universal probing apparatus for TFT array test | |
KR100656065B1 (en) | Connector for inspected the Flat Panel Display Device | |
KR100751237B1 (en) | Probe block for display panel test | |
KR100820277B1 (en) | Probe apparatus and probe block include the same | |
JPS63302377A (en) | Apparatus for inspecting circuit board | |
TWI720769B (en) | Test equipment and movably connected mechanism thereof | |
KR101913639B1 (en) | Electrical Connecting Apparatus | |
CN101149492A (en) | Guiding device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120716 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131011 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |