KR100599983B1 - Probe unit combining structure - Google Patents

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KR100599983B1 KR1020040004587A KR20040004587A KR100599983B1 KR 100599983 B1 KR100599983 B1 KR 100599983B1 KR 1020040004587 A KR1020040004587 A KR 1020040004587A KR 20040004587 A KR20040004587 A KR 20040004587A KR 100599983 B1 KR100599983 B1 KR 100599983B1
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Abstract

본 발명은 프로브 유닛의 교체가 용이하도록 상기 프로브 유닛의 검사팁과 연결되는 접속단자가 프로브 유닛의 외측으로 형성된 프로브 유닛의 취부구조에 관한 것으로서, 상기 프로브 유닛의 전면패널이 프로브 장치에 닫힌 상태에서 상기 프로브 유닛의 수리 또는 교체가 가능한 프로브 유닛의 취부구조를 제공하는 것을 그 목적으로 한다. 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 프로브 유닛의 취부구조는 프로브 장치의 본체 일측에 설치되고 피검사소자의 검사단자에 일단이 접촉되어 피검사소자의 상태를 검사하기 위한 검사팁이 마련된 프로브 유닛에 있어서, 상기 프로브 장치의 본체에 체결되는 프로브 유닛 설치판과, 상기 프로브 유닛 설치판에 장착된 몸체부와, 상기 몸체부의 일단에 상하방향으로 이동가능하게 장착되고 전면에 검사팁이 구비된 프로브 블록이 장착된 검사부와, 상기 몸체부를 감싸안은 형상으로 상기 검사부의 검사팁과 상기 프로브 유닛 설치판의 외부신호 접속단자를 연결하는 가요성 인쇄회로기판을 포함한다.The present invention relates to a mounting structure of a probe unit having a connection terminal connected to an inspection tip of the probe unit to the outside of the probe unit to facilitate replacement of the probe unit, wherein the front panel of the probe unit is closed to the probe device. It is an object of the present invention to provide a mounting structure of a probe unit capable of repairing or replacing the probe unit. Probe structure of the probe unit according to the present invention for achieving the above object is installed on one side of the main body of the probe device, one end contacting the test terminal of the device under test is provided with a test tip for inspecting the state of the device under test In the unit, the probe unit mounting plate fastened to the main body of the probe device, the body portion mounted to the probe unit mounting plate, and one end of the body portion is mounted to be movable in the vertical direction and the inspection tip is provided on the front And a flexible printed circuit board which connects the test unit to which the probe block is mounted and the test tip of the test unit to the external signal connection terminal of the probe unit mounting plate in a shape surrounding the body.

프로브 유닛, 스테이지, 검사팁, 탭 아이씨 블록, 단자, 가요성 인쇄회로기판Probe units, stages, test tips, tab IC blocks, terminals, flexible printed circuit boards

Description

프로브 유닛의 취부구조 {PROBE UNIT COMBINING STRUCTURE}Probe unit mounting structure {PROBE UNIT COMBINING STRUCTURE}

도 1은 종래 기술에 따른 프로브 장치의 일부가 절개된 측면도.1 is a side view of a portion of the probe device according to the prior art cut away.

도 2는 종래 기술에 따른 프로브 장치의 프로브 유닛과 피검사소자의 접속관계가 도시된 사시도.2 is a perspective view showing a connection relationship between a probe unit and a device under test of the probe device according to the prior art;

도 3은 종래 기술에 따른 프로브 유닛의 측면도.3 is a side view of a probe unit according to the prior art.

도 4는 종래 기술의 다른 실시예에 따른 프로브 유닛의 취부구조가 도시된 측면도.Figure 4 is a side view showing the mounting structure of the probe unit according to another embodiment of the prior art.

도 5는 본 발명 따른 프로브 장치의 일부가 절개된 측면도.Figure 5 is a side view of a portion of the probe device according to the present invention cut away.

도 6은 본 발명에 따른 프로브 장치의 프로브 유닛과 피검사소자의 접속관계가 도시된 사시도.6 is a perspective view showing a connection relationship between the probe unit and the device under test of the probe device according to the present invention;

도 7은 본 발명에 따른 프로브 유닛의 측면도.7 is a side view of a probe unit according to the present invention.

도 8은 본 발명에 따른 프로브 유닛의 일부가 분해된 측면도.8 is an exploded side view of a part of the probe unit according to the present invention;

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

110 : 프로브 장치 112 : 베이스 유닛110: probe device 112: base unit

120 : 전면패널 122 : 프로브 유닛 설치판120: front panel 122: probe unit mounting plate

124 : 작업 스테이지 126 : 외부신호 접속블록124: work stage 126: external signal connection block

126a : 고정돌기 삽입홀 127 : 외부신호 접속단자126a: fixing protrusion insertion hole 127: external signal connection terminal

130 : 프로브 유닛 132 : 검사팁130: probe unit 132: inspection tip

134 : 몸체부 134a : 몸체 고정 볼트134: body portion 134a: body fixing bolt

135 : 리니어 가이드 136 : 검사부135: linear guide 136: inspection unit

137 : 가동부 137a : 스프링137: movable part 137a: spring

138 : 고정부 138a : 고정핀138: fixing part 138a: fixing pin

139 : 프로브 블록 139a : 프로브 블록 체결볼트139: probe block 139a: probe block fastening bolt

140 : 탭 아이씨 블록 140a : 고정홀140: tap IC block 140a: fixing hole

142 : 가요성 인쇄회로기판 144 : 접속단자142: flexible printed circuit board 144: connection terminal

146 : 포고핀 블록 146a : 포고핀 블록 고정돌기146: pogo pin block 146a: pogo pin block fixing protrusion

147 : 포고핀147: pogo pin

본 발명은 피검사소자의 검사단자와 접촉되어 피검사소자의 상태를 검사하기 위한 검사팁이 마련된 프로브 유닛의 취부구조에 관한 것으로서, 프로브 유닛의 교체가 용이하도록 프로브 유닛의 검사팁으로 신호를 전달하는 배선 및 주요 부품이 상기 프로브 유닛의 외측으로 형성된 프로브 유닛의 취부구조에 관한 것이다. The present invention relates to a mounting structure of a probe unit provided with a test tip for inspecting the state of the device under test in contact with the test terminal of the device under test, and transmits a signal to the test tip of the probe unit to facilitate replacement of the probe unit. The wiring and the main parts are related to the mounting structure of the probe unit formed to the outside of the probe unit.

일반적으로, 각종 정보를 사용자에게 표시할 때에는 표시장치가 사용되고 있으며, 최근들어 전자산업의 발달과 정보량의 증가로 인해 대화면 디스플레이 소자의 연구 개발이 활발히 진행되고 있으며, 대화면의 구현이 가능한 PDP(plasma display panel), LCD(liquid crystal display) 또는 유기EL(organic electroluminescence) 등의 평면표시소자가 개발되었다. 통상의 소형 텔레비전이나 노트북과 같은 영상 표시장치로 주로 사용되는 LCD와 같은 피검사소자의 경우, 가장자리 부분에 검사신호가 인가되는 복수의 검사단자가 형성된다. 상기한 피검사소자의 검사단자에는 피검사소자의 상태를 검사할 수 있도록 피검사소자를 점등시키는 프로브 유닛이 접촉된다.In general, a display device is used to display various types of information to a user. Recently, due to the development of the electronics industry and the increase in the amount of information, research and development of large-screen display devices have been actively conducted, and PDP (plasma display) can be implemented. Flat display devices such as a panel, liquid crystal display (LCD) or organic electroluminescence (EL) have been developed. In the case of a device under test such as an LCD which is mainly used as a video display device such as a small television or a laptop, a plurality of test terminals to which a test signal is applied are formed at the edge portion. The probe terminal for lighting the device under test is brought into contact with the test terminal of the device under test.

도 1은 종래 기술에 따른 프로브 장치의 일부가 절개된 측면도이고, 도 2는 종래 기술에 따른 프로브 장치의 프로브 유닛과 피검사소자의 접속관계가 도시된 사시도이며, 도 3은 종래 기술에 따른 프로브 유닛의 측면도이다.1 is a side view of a portion of a probe device according to the prior art is cut away, Figure 2 is a perspective view showing the connection between the probe unit and the device under test of the probe device according to the prior art, Figure 3 is a probe according to the prior art Side view of the unit.

종래의 프로브 유닛의 취부구조에 있어서, 프로브 장치(10)는, 도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 프레임으로 이루어져 각종 장비들이 장착되는 베이스 유닛(12)의 내측에는 피검사소자(P)를 안착시켜 작업면으로 이동시키는 작업 스테이지(24)가 설치된다. 또한, 상기 베이스 유닛(12)의 일측에는 전방으로 개폐가능토록 전면패널(20)이 설치되고, 상기 전면패널(20)의 저면에는 프로브 유닛 설치판(22)이 고정볼트(B)로서 체결된다. 또한, 상기 프로브 유닛 설치판(22)의 일측에는 피검사소자(P)의 검사단자와 접속되는 하나 이상의 검사팁을 갖춘 프로브 유닛(30)이 설치된다. 상기 프로브 유닛(30)은 상기 프로브 유닛 설치판(22)의 단부에 장착되는 몸체부(34)와, 상기 몸체부(34)의 일측에 활주가능하게 장착된 검사부(36)를 포함한다. 상기 검사부(36)는 가동부(37)와 고정부(38)를 포함한다. 상기 몸체부(34)와 상기 가동부(37) 사이에는 리니어 가이드(35)가 설치되어 이동이 안 내되고, 상기 고정부(38)의 하단에는 피검사소자(P)의 검사단자와 접촉하는 검사팁(32)이 형성된 프로브 블록(39)이 탈착가능하게 장착된다. 또한, 상기 고정부(38)에는 상기 프로브 블록(39)의 검사팁(32)으로 검사신호가 공급될 수 있도록 가요성 인쇄회로기판(42)이 연결된다. 상기 가요성 인쇄회로기판(42)에는 상기 검사팁(32)으로 공급되는 검사신호를 제어하기 위한 집적회로(IC)가 실장된 탭 아이씨 블록(TAP IC BLOCK)(40)이 형성된다. 상기 몸체부(34)와 가동부(37) 사이에는 이들을 완충시키는 스프링(37a)을 포함하는 탄성부재가 포함된다. 전술된 프로브 유닛(30)은 상기 피검사소자(P)의 검사단자가 상기 프로브 유닛(30)의 검사팁(32)에 접촉될 경우에 상기 가동부(37)가 상기 리니어 가이드(35)에 안내되어 상기 몸체부(34) 측으로 활주되고, 동시에 상기 스프링(37a)에 의해 상기 가동부(37)의 활주시 발생되는 충격이 완충된다.In the mounting structure of a conventional probe unit, the probe device 10, as shown in Figs. 1 to 3, consisting of a frame, the device under test (P) inside the base unit 12 on which various equipment is mounted The work stage 24 which mounts and moves to the work surface is installed. In addition, the front panel 20 is installed on one side of the base unit 12 to be opened and closed forwardly, and the probe unit mounting plate 22 is fastened to the bottom of the front panel 20 as a fixing bolt B. . In addition, one side of the probe unit mounting plate 22 is provided with a probe unit 30 having one or more test tips connected to the test terminal of the device under test (P). The probe unit 30 includes a body part 34 mounted at an end of the probe unit mounting plate 22, and an inspection part 36 slidably mounted on one side of the body part 34. The inspection part 36 includes a movable part 37 and a fixed part 38. The linear guide 35 is installed between the body portion 34 and the movable portion 37 to prevent movement, and the lower end of the fixed portion 38 contacts the inspection terminal of the device under test P. The probe block 39 with the tip 32 formed thereon is detachably mounted. In addition, a flexible printed circuit board 42 is connected to the fixing part 38 so that an inspection signal can be supplied to the inspection tip 32 of the probe block 39. The flexible printed circuit board 42 is formed with a tap IC block 40 mounted with an integrated circuit IC for controlling the test signal supplied to the test tip 32. Between the body portion 34 and the movable portion 37 includes an elastic member including a spring (37a) for cushioning them. The probe unit 30 described above guides the movable part 37 to the linear guide 35 when the test terminal of the device under test P contacts the test tip 32 of the probe unit 30. It slides toward the body portion 34, and at the same time the shock generated during the sliding of the movable portion 37 by the spring 37a is buffered.

전술된 종래의 프로브 장치(10)의 수리 또는 교체작업을 설명하면 다음과 같다. 종래의 프로브 장치(10)는 상기 프로브 유닛(30)을 교체하기 위해 전면패널(20)을 연다. 다음으로 상기 프로브 장치(10)로부터 연결되어 상기 프로브 유닛(30)의 일측에 연결된 가요성 인쇄회로기판(42)으로 이루어진 배선을 분리하고, 상기 고정볼트(B)를 풀러 상기 프로브 유닛 설치판(22)을 탈착한다. 전술된 바와 같이 프로브 유닛(30)이 분리되면 양품의 프로브 유닛(30)을 장착한다. 먼저, 상기 프로브 유닛(30)을 상기 프로브 유닛 설치판(22)에 고정시킨다. 다음으로 상기 프로브 유닛 설치판(22)을 상기 전면패널(20)에 고정볼트(B)로서 결합시킨 후 상기 프로브 유닛(30)의 교체를 위해 개방되었던 상기 전면패널(20)을 닫는다. 한 편, 상기 프로브 유닛(30)의 탭 아이씨 블록(40)이 손상되거나 가요성 인쇄회로기판(42) 에 꼬임, 단선, 단락이 발생될 경우, 상기 전면패널(20)을 개방하여 상기 프로브 유닛(30)의 저면이 보이도록 한 후, 상기 가요성 인쇄회로기판(42) 또는 탭 아이씨 블록(40)을 조정 또는 교체한 후, 전면패널(20)을 닫는다.Referring to the repair or replacement of the conventional probe device 10 described above are as follows. The conventional probe device 10 opens the front panel 20 to replace the probe unit 30. Next, disconnect the wiring made of the flexible printed circuit board 42 connected from the probe device 10 to one side of the probe unit 30, and unfasten the fixing bolt B to release the probe unit mounting plate ( 22) Remove. As described above, when the probe unit 30 is separated, a good quality probe unit 30 is mounted. First, the probe unit 30 is fixed to the probe unit mounting plate 22. Next, the probe unit mounting plate 22 is coupled to the front panel 20 as a fixing bolt B, and then the front panel 20 that has been opened for replacement of the probe unit 30 is closed. On the other hand, when the tab IC block 40 of the probe unit 30 is damaged or twists, breaks, or short circuits occur in the flexible printed circuit board 42, the front panel 20 is opened to open the probe unit. After the bottom surface 30 is visible, the front panel 20 is closed after adjusting or replacing the flexible printed circuit board 42 or the tab IC block 40.

전술된 프로브 장치(10)는 각종 장치가 내부에 구성되어 부품의 수리 또는 교체시 상기 전면패널(20)을 열어야 하는 불편함이 있었다. 최근에는 소비자의 구매력이 향상됨에 따라 대용량 LCD 패널과 같은 피검사소자(P)가 검사되고 있다. 이와 같이 피검사소자(P)의 크기 및 무게가 증가됨에 따라 프로브 장치(10)의 크기 또한 증가되고 있다. 이로 인해 종래의 프로브 장치(10)는 전면패널(20)의 크기 및 증가됨에 따라 상기 전면패널(20)을 개방하여 상기 프로브 장치(10)의 부품을 수리 또는 교체하는 작업이 힘들었다. 따라서, 상기 전면패널(20)이 자동으로 개폐되도록 구동기를 설치하는 방안이 제시되었으나, 이로 인해 구성이 복잡해지고 사용이 불편한 문제점이 있다. 또한, 이를 위한 추가적인 부품이 소요되어 생산비가 증가된다.Probe device 10 described above was inconvenient to open the front panel 20 when various devices are configured therein when repairing or replacing parts. Recently, as the purchasing power of consumers improves, the device under test P, such as a large-capacity LCD panel, is being inspected. As the size and weight of the device under test P increase, the size of the probe device 10 also increases. As a result, the conventional probe device 10 has difficulty in repairing or replacing parts of the probe device 10 by opening the front panel 20 as the size and size of the front panel 20 increase. Therefore, a method of installing a driver to open and close the front panel 20 has been proposed, but this causes a complicated configuration and inconvenience in use. In addition, additional parts are required for this, which increases the production cost.

도 4는 종래 기술의 다른 실시예에 따른 프로브 유닛의 취부구조가 도시된 측면도로서, 종래의 다른 실시예에 의한 프로브 장치는 상기 전면패널(20)을 개방하지 않고도 프로브 유닛(30)을 수리 또는 교체할 수 있도록 구성된다. 이를 위해 프로브 유닛(30)은 프로브 유닛 설치판(52)의 전면에 고정볼트(B)를 이용하여 프로브 유닛(30)을 체결할 수 있는 프로브 장치(10)가 제안되었다. 이를 위해 프로브 장치(10)는 상기 프로브 유닛 설치판(52)의 일측에 상기 프로브 유닛(30)의 배열방 향으로 긴 홈(54)을 형성하고, 상기 프로브 유닛(30)의 검사팁(32)으로 신호를 전달하는 가요성 인쇄회로기판(62)이 상기 홈을 통해 상기 전면패널(20)의 전면에 체결되도록 하였다.4 is a side view showing a mounting structure of a probe unit according to another embodiment of the prior art, the probe device according to another embodiment of the conventional repair or repair the probe unit 30 without opening the front panel 20 It is configured to be replaceable. To this end, the probe unit 30 has been proposed a probe device 10 capable of fastening the probe unit 30 using the fixing bolt (B) on the front surface of the probe unit mounting plate 52. To this end, the probe device 10 forms an elongated groove 54 in one direction of the probe unit mounting plate 52 in the arrangement direction of the probe unit 30, and the inspection tip 32 of the probe unit 30. The flexible printed circuit board 62 transmitting a signal to the front panel 20 is fastened to the front surface of the front panel 20 through the groove.

전술된 바와 같이 구성된 다른 실시예에 의한 프로브 유닛의 취부구조는 프로브 유닛(30)을 수리 또는 교체할 경우 프로브 유닛 설치판(52)의 전면에 고정된 고정볼트(B)를 풀러 상기 프로브 유닛(30)을 분리하였다. 한편, 이러한 프로브 장치에 있어서, 상기 프로브 유닛(30)에 신호를 전달하는 가요성 인쇄회로기판(62)을 교체하기 위해서는 먼저, 상기 프로브 유닛(30)의 일측에 연결된 가요성 인쇄회로기판(62)의 일단을 분리한다. 다음으로, 상기 전면패널(20)을 개방한 후 다음으로 상기 프로브 유닛(60)의 저면에 연결된 가요성 인쇄회로기판(62)의 타단을 분리하는 복잡한 과정을 거쳤다. 또한, 상기 프로브 유닛(30)을 전면에 결합시키기 위해 상기 프로브 유닛 설치판(52)에 형성된 홈(54)으로 인해 내구성이 저하되고, 상기 프로브 유닛(30)에 진동이 발생되어 검사의 정확도가 떨어졌다.Mounting structure of the probe unit according to another embodiment configured as described above is to unfasten the fixing bolt (B) fixed to the front of the probe unit mounting plate 52 when repairing or replacing the probe unit (30) 30) was separated. On the other hand, in such a probe device, in order to replace the flexible printed circuit board 62 for transmitting a signal to the probe unit 30, first, a flexible printed circuit board 62 connected to one side of the probe unit 30. Separate one end of). Next, the front panel 20 was opened and then a complicated process of separating the other end of the flexible printed circuit board 62 connected to the bottom of the probe unit 60 was performed. In addition, due to the groove 54 formed in the probe unit mounting plate 52 to couple the probe unit 30 to the front surface, durability is reduced, and vibration is generated in the probe unit 30, so that the accuracy of the inspection is improved. fell.

본 발명의 목적은 전술된 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 프로브 유닛의 검사팁으로 신호를 전달하는 배선 및 주요 부품이 상기 프로브 유닛의 외측에 위치되도록 하여 상기 프로브 유닛의 전면패널이 프로브 장치에 닫힌 상태에서 상기 프로브 유닛의 수리 또는 교체가 가능하고, 신속하고 용이하게 수리 또는 교체할 수 있는 프로브 유닛의 취부구조를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, the front panel of the probe unit is a probe device so that the wiring and the main parts for transmitting a signal to the probe tip of the probe unit is located outside the probe unit In the closed state, the probe unit can be repaired or replaced, and provides a mounting structure of the probe unit that can be repaired or replaced quickly and easily.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 프로브 유닛의 취부구조는 프로브 장치의 본체 일측에 설치되고 피검사소자의 검사단자에 일단이 접촉되어 피검사소자의 상태를 검사하기 위한 검사팁이 마련된 프로브 유닛에 있어서, 프로브 장치의 본체에 체결되는 프로브 유닛 설치판과, 상기 프로브 유닛 설치판에 장착된 몸체부와, 상기 몸체부의 일단에 상하방향으로 이동가능하게 장착되고 전면에 검사팁이 구비된 프로브 블록이 장착된 검사부와, 일정부분이 "Γ"형상을 형성하여 몸체부 외측을 감싸는 형태로 위치되며, 일단은 상기 검사부의 검사팁과 접속 결합되며, 타단은 상기 프로브 유닛 설치판의 외부신호 접속단자와 접속 결합되는 가요성 인쇄회로기판을 포함하여 이루어진다.Probe structure of the probe unit according to the present invention for achieving the above object is installed on one side of the main body of the probe device, one end contacting the test terminal of the device under test is provided with a test tip for inspecting the state of the device under test In the unit, a probe unit mounting plate fastened to the main body of the probe device, a body portion mounted on the probe unit mounting plate, and a probe mounted on one end of the body portion so as to be movable upward and downward and provided with a test tip on the front surface thereof. The inspection unit equipped with the block, and a certain portion is formed in a form forming a "Γ" surrounding the outside of the body portion, one end is connected to the inspection tip of the inspection unit, the other end is connected to the external signal of the probe unit mounting plate It includes a flexible printed circuit board coupled to the terminal.

여기서, 상기 검사부는 상기 몸체부의 전면에 가이드 수단에 의해 상하로 이동가능하게 설치된 가동부와, 상기 가동부의 전면에 고정되어 검사팁이 구비된 상기 프로브 블록을 고정하기 위한 고정부를 포함할 수 있다. 또한, 상기 가요성 회로기판의 일단은 고정홀이 형성된 탭 아이씨 블록을 포함하고, 상기 고정부의 전면에는 상기 탭 아이씨 블록이 고정되도록 상기 고정홀이 결합되는 고정핀이 형성되며, 상기 프로브 블록은 상기 검사팁이 상기 가요성 인쇄회로기판에 형성되어 상기 검사팁이 접속되는 접속단자의 전면을 압착하도록 상기 고정부의 전면에 체결될 수 있다. 나아가, 상기 프로브 블록은 전면을 향해 소정각도 경사진 경사면을 포함할 수 있고, 상기 프로브 블록의 경사면에는 상기 검사팁이 고정될 수 있다.Here, the inspection unit may include a movable part installed on the front surface of the body part to be movable up and down by a guide means, and a fixing part fixed to the front surface of the movable part to fix the probe block having an inspection tip. In addition, one end of the flexible circuit board includes a tab IC block having a fixing hole, and a fixing pin to which the fixing hole is coupled to fix the tab IC block is formed on a front surface of the fixing part. The test tip may be formed on the flexible printed circuit board and may be fastened to the front surface of the fixing part to compress the front surface of the connection terminal to which the test tip is connected. Further, the probe block may include an inclined surface inclined at a predetermined angle toward the front surface, and the inspection tip may be fixed to the inclined surface of the probe block.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 도 5는 본 발명 따른 프로브 장치의 일부가 절개된 측면도이고, 도 6은 본 발명에 따른 프로브 장치의 프로브 유닛과 피검사소자의 접속관계가 도시된 사시도이며, 도 7은 본 발명에 따른 프로브 유닛의 측면도이고, 도 8은 본 발명에 따른 프로브 유닛의 일부가 분해된 측면도이다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. 5 is a side view of a portion of the probe device according to the present invention cut away, Figure 6 is a perspective view showing the connection between the probe unit and the device under test of the probe device according to the invention, Figure 7 is a probe unit according to the present invention 8 is a side view of a part of the probe unit according to the present invention in an exploded view.

본 발명에 따른 프로브 유닛의 취부구조에 있어서, 프로브 장치(110)는, 도 5 내지 도 8에 도시된 바와 같이, 베이스 유닛(112)과, 상기 베이스 유닛(112)에 설치되어 피검사소자(P)가 장착되는 작업 스테이지(124)를 포함한다. 상기 베이스 유닛(112)은 프레임으로 이루어져 상기 프로브 장치(110)의 외관을 이루고, 내부에는 각종 장비들이 장착된다. 또한, 상기 베이스 유닛(112)에는 일측을 축으로 전방으로 개폐되는 전면패널(120)이 설치된다. 여기서, 상기 전면패널(120)의 전면에는 프로브 유닛(130)의 고정을 위한 프로브 유닛 설치판(122)이 고정볼트(B)로서 체결된다. 상기 프로브 유닛(130)은 피검사소자(P)의 검사단자와 접속되는 하나 이상의 검사팁(132)이 형성된 것으로서, 상기 프로브 장치(110)로부터 전달된 검사신호를 피검사소자(P)의 검사단자로 전달한다. In the mounting structure of the probe unit according to the present invention, the probe device 110 is installed in the base unit 112 and the base unit 112, as shown in Figs. Work stage 124 on which P) is mounted. The base unit 112 is composed of a frame to form the exterior of the probe device 110, the various equipment is mounted therein. In addition, the base unit 112 is provided with a front panel 120 that opens and closes with one side forward. Here, the probe unit mounting plate 122 for fixing the probe unit 130 is fastened as a fixing bolt (B) on the front surface of the front panel 120. The probe unit 130 is formed with at least one test tip 132 connected to the test terminal of the device under test (P), the test signal transmitted from the probe device 110 to the test of the device under test (P) Pass it to the terminal.

상기 프로브 유닛(130)은 상기 프로브 유닛 설치판(122)의 단부에 장착되는 몸체부(134)와, 상기 몸체부(134)의 장착되어 피검사소자(P)의 검사를 위한 각종 부품이 설치된 검사부(136)를 포함한다. 상기 몸체부(134)는 상기 프로브 유닛 설치판(122)에 몸체 고정 볼트(134a)로 고정된다. 상기 검사부(136)는 상기 몸체부(134)의 전면 일측에 활주가능하게 장착된다. 이를 위해 상기 검사부(136)와 몸체부(134) 사이에는 활주가 용이하도록 리니어 가이드(135)가 설치된다. 상기 검사부(136)는 상기 리니어 가이드(135)가 고정되어 활주되는 가동부(137)와, 상기 가동부(137)의 일측에 고정되어 각종 부품이 고정되는 고정부(138)를 포함한다. 또 한, 상기 몸체부(134)와 가동부(137) 사이에는 이들을 완충시키는 스프링(137a)을 포함하는 탄성부재가 포함된다. 상기 스프링(137a)은 상기 몸체부(134)의 일측을 관통하여 상기 가동부(137)의 상단에 체결된 가이드 볼트(137b)에 의해 이동이 안내된다.The probe unit 130 is provided with a body portion 134 mounted at the end of the probe unit mounting plate 122 and various components for mounting the body portion 134 to inspect the device under test (P). The inspection unit 136 is included. The body portion 134 is fixed to the probe unit mounting plate 122 by a body fixing bolt 134a. The inspection unit 136 is slidably mounted on one side of the front surface of the body portion 134. To this end, a linear guide 135 is installed between the inspection part 136 and the body part 134 so as to slide easily. The inspection unit 136 includes a movable part 137 on which the linear guide 135 is fixed and slides, and a fixing part 138 fixed to one side of the movable part 137 to fix various parts. In addition, between the body portion 134 and the movable portion 137 includes an elastic member including a spring (137a) for buffering them. The spring 137a is guided by a guide bolt 137b fastened to an upper end of the movable part 137 by passing through one side of the body part 134.

또한, 상기 고정부(138)에는 상기 피검사소자(P)의 검사단자와 접촉하기 위한 검사팁(132)이 구비된 프로브 블록(139)이 프로브 블록 체결볼트(139a)에 의해 탈착가능하게 장착된다.In addition, a probe block 139 having a test tip 132 for contacting the test terminal of the device under test P is detachably mounted to the fixing part 138 by a probe block fastening bolt 139a. do.

상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 일단에는 고정홀(140a)이 형성된 탭 아이씨 블록(140)을 포함하고, 상기 고정부(138)의 전면에는 전방을 향해 고정핀(138a)이 돌출 형성된다. 상기 고정핀(138a)은 상기 탭 아이씨 블록(140)을 고정시키기 위한 것으로서, 상기 탭 아이씨 블록(140)의 고정홀(140a)이 상기 고정핀(138a)에 끼워지며 고정된다. 또한, 상기 탭 아이씨 블록(140)의 전면에 위치된 인쇄회로기판(142)의 전면 일측부에는 상기 검사팁(132)의 타단이 연결되기 위한 접속단자(144)가 형성된다. 여기서, 상기 접속단자(144)는 상기 프로브 장치(110)의 외측 방향인 상기 인쇄회로기판(142)의 전면에 형성되는 것이 바람직하다. 이때, 상기 고정부(138)의 전면에 장착되는 프로브 블록(139)의 검사팁(132)이 상기 인쇄회로기판(142)의 접속단자(144)와 접속되는 동시에 상기 고정부(138)의 상기 고정핀(138a)에 고정홀(140a)이 끼워지며 고정된 상기 탭 아이씨 블록(140)이 이탈되지 않도록 상기 인쇄회로기판(142)의 접속단자(144)를 압착한다.One end of the flexible printed circuit board 142 includes a tab IC block 140 having a fixing hole 140a, and a fixing pin 138a protrudes toward the front of the fixing part 138. . The fixing pin 138a is for fixing the tab IC block 140, and the fixing hole 140a of the tab IC block 140 is fitted into the fixing pin 138a and is fixed. In addition, a connection terminal 144 for connecting the other end of the test tip 132 is formed at one side of the front side of the printed circuit board 142 located on the front side of the tab IC block 140. Here, the connection terminal 144 is preferably formed on the front surface of the printed circuit board 142 in the outward direction of the probe device 110. At this time, the inspection tip 132 of the probe block 139 mounted on the front of the fixing part 138 is connected to the connection terminal 144 of the printed circuit board 142 and at the same time the The fixing hole 140a is inserted into the fixing pin 138a and the connection terminal 144 of the printed circuit board 142 is compressed so that the fixed tab IC block 140 is not separated.

또한, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 타단에는 상기 가요성 인쇄회로기판(142)을 상기 프로브 유닛 설치판(122)에 고정시키며 상기 프로브 검사장치(110)로부터 검사신호를 입력받기 위한 포고핀(147)이 마련된 포고핀 블록(146)이 설치된다.
이에 따라 상기 가요성 인쇄회로기판(142)은 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이 "Γ"형상을 취하여 상기 몸체부(134) 외측에 위치하며 , 일단은 상기 검사부(136)의 검사팁과 접속 결합되며, 타단은 상기 프로브 유닛 설치판의 외부신호 접속단자와 접속 결합되게 된다.
상기 "Γ"형상의 몸체부(134) 외측 결합에 따라 프로브 유닛(130)으로부터 가요성 인쇄회로기판(142)의 분리 교체가 용이하게 되는 것이다.In addition, at the other end of the flexible printed circuit board 142, the flexible printed circuit board 142 is fixed to the probe unit mounting plate 122, and a declaration for receiving an inspection signal from the probe inspection device 110 is provided. Pogo pin block 146 provided with a pin 147 is installed.
Accordingly, the flexible printed circuit board 142 has a “Γ” shape as illustrated in FIGS. 7 and 8, and is positioned outside the body portion 134, and one end of the flexible printed circuit board 142 is provided with an inspection tip of the inspection unit 136. It is connected and coupled, the other end is connected to the external signal connection terminal of the probe unit mounting plate.
According to the outer coupling of the body portion 134 of the "Γ" shape it is easy to separate and replace the flexible printed circuit board 142 from the probe unit 130.

한편, 상기 프로브 유닛 설치판(122)의 상부면 일측에는 상기 포고핀 블록(146)이 고정되기 위한 외부신호 접속블록(126)이 설치된다. 여기서, 상기 외부신호 접속블록(126)에는 상기 프로브 장치(110)의 제어부와 (도시되지 않은) 배선을 통해 연결된 외부신호 접속단자(127)가 형성되고, 상기 외부신호 접속단자(127)는 상기 포고핀 블록(146)의 포고핀(147)과 접지되며 검사신호를 전달하도록 이루어진다.On the other hand, an external signal connection block 126 for fixing the pogo pin block 146 is installed on one side of the upper surface of the probe unit mounting plate 122. Here, the external signal connection block 126 is formed with an external signal connection terminal 127 connected to a control unit of the probe apparatus 110 through a wire (not shown), and the external signal connection terminal 127 is formed as described above. The pogo pin 147 of the pogo pin block 146 is grounded and made to transmit a test signal.

이를 위해, 상기 포고핀 블록(146)의 저면에는 포고핀 블록 고정돌기(146a)가 형성되고, 상기 외부신호 접속블록(126)에는 상기 포고핀 블록 고정돌기(146a)가 삽취되기 위한 고정돌기 삽입홀(126a)이 형성된다.To this end, a pogo pin block fixing protrusion 146a is formed on a bottom surface of the pogo pin block 146, and a fixing protrusion for inserting the pogo pin block fixing protrusion 146a is inserted into the external signal connection block 126. The hole 126a is formed.

전술된 바와 같이, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)은 상기 프로브 유닛(130)의 전면을 거쳐 상기 몸체부(134)를 감싸안은 형상으로 일단에 연결된 상기 탭 아이씨 블록(140)이 상기 고정부(138)에 고정되고, 타단에 연결된 포고핀 블록(146)이 상기 외부신호 접속블록(126)에 고정되며 상기 포고핀(147)이 상기 외부신호 접속단자(127)와 연결된다.As described above, the flexible printed circuit board 142 has a shape surrounding the body portion 134 through the front surface of the probe unit 130, and the tab IC block 140 connected to one end thereof is fixed to the fixed portion. The pogo pin block 146 fixed at 138 and connected to the other end is fixed to the external signal connection block 126, and the pogo pin 147 is connected to the external signal connection terminal 127.

상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 접속단자(144)에는 상기 프로브 장치(110)로부터 전달된 검사신호를 통하여 피검사소자(P)를 검사할 수 있도록 상기 검사팁(132)이 연결된다. 즉, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)은 일단이 접속단자(144)에 의해 상기 검사팁(132)과 연결되고, 상기 프로브 유닛(130)의 외측을 둘러싸며 상기 포고핀 블록(146)을 통해 상기 외부신호 접속단자(127)에 연결됨으로서, 상기 피검사소자(P)를 검사하기 위한 검사신호가 상기 검사팁(132)을 통해 피검사소자(P)의 검사단자로 공급된다.The test tip 132 is connected to the connection terminal 144 of the flexible printed circuit board 142 so that the device under test P can be inspected through a test signal transmitted from the probe device 110. That is, one end of the flexible printed circuit board 142 is connected to the test tip 132 by the connection terminal 144 and surrounds the outside of the probe unit 130 to cover the pogo pin block 146. By being connected to the external signal connection terminal 127, a test signal for inspecting the device under test P is supplied to the test terminal of the device under test P through the test tip 132.

전술된 바와 같이 구성된 프로브 유닛의 취부구조는 상기 프로브 유닛(130)을 수리 또는 교체할 경우 프로브 유닛 설치판(122)의 전면에 고정된 고정볼트(B)를 풀어 상기 프로브 유닛(130)을 분리하거나, 상기 프로브 유닛(130)의 몸체부(134)를 감싸안는 가요성 인쇄회로기판(142)을 분리함으로서 용이하게 작업을 할 수 있다. 이를 위해, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)은 상기 프로브 유닛(130)의 상부를 둘러싸며 연결되는 것이 바람직하다. 물론, 본 발명의 프로브 유닛의 취부구조에 있어서, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 일측을 접은 후 상기 프로브 유닛(130)의 측부를 둘러싸며 연결되도록 변형할 수 있다.Mounting structure of the probe unit configured as described above is to remove the probe unit 130 by loosening the fixing bolt (B) fixed to the front of the probe unit mounting plate 122 when repairing or replacing the probe unit 130 Alternatively, by separating the flexible printed circuit board 142 surrounding the body portion 134 of the probe unit 130 can be easily performed. To this end, the flexible printed circuit board 142 is preferably connected surrounding the upper portion of the probe unit 130. Of course, in the mounting structure of the probe unit of the present invention, after folding one side of the flexible printed circuit board 142 may be modified so as to surround the side of the probe unit 130 connected.

상기와 같이 구성된 본 발명에 의한 프로브 유닛의 취부구조의 작용을 살펴보면 다음과 같다. 본 발명에 있어서, 프로브 장치는 소형 텔레비전이나 노트북과 같은 영상 표시장치로 주로 사용되는 LCD와 같은 피검사소자(P)를 검사하기 위해 사용된다. 이러한 피검사소자(P)는 작동신호의 입력이나 제작시 검사신호를 입력받을 수 있도록 가장자리 부분에 검사신호가 인가되는 복수의 검사단자가 형성된다. 상기한 피검사소자(P)의 검사단자에는 상기 피검사소자(P)의 상태를 검사할 수 있도록 피검사소자(P)를 점등시키는 프로브 유닛(130)이 접촉된다.Looking at the operation of the mounting structure of the probe unit according to the present invention configured as described above are as follows. In the present invention, the probe device is used to inspect the device under test P, such as an LCD, which is mainly used as an image display device such as a small television or a notebook. The inspected device P is provided with a plurality of test terminals to which test signals are applied at the edges thereof so as to receive test signals when the operation signal is input or manufactured. The probe terminal 130 for lighting the device under inspection P is in contact with the inspection terminal of the device under inspection P so that the state of the device under inspection P can be inspected.

상기 프로브 유닛(130)은 상기 프로브 장치(110)와 가요성 인쇄회로기판(142)을 통하여 전송된 검사신호를 상기 피검사소자(P)의 검사단자에 접속시켜 상기 피검사소자(P)의 점등검사를 실시하게 된다. 이때, 상기 검사팁(132)은 상기 프로브 장치(110)의 제어부로부터 전달된 검사신호가 상기 외부신호 접속블록(126)의 외부신호 접속단자(127)를 통해 상기 포고핀 블록(146)의 포고핀(147)으로 전달되고, 상기 포고핀(147)을 통해 전달된 검사신호는 상기 가요성 인쇄회로기판(142)을 거쳐 상기 접속단자(144)를 통해 상기 검사팁(132)으로 전달된 후, 피검사소자(P)의 검사단자와 접속되며 검사를 수행한다.The probe unit 130 connects the test signal transmitted through the probe device 110 and the flexible printed circuit board 142 to the test terminal of the device under test P, so that The lighting test will be performed. In this case, the test tip 132 is a test signal transmitted from the control unit of the probe device 110 through the external signal connection terminal 127 of the external signal connection block 126 pogo pin of the pogo pin block 146 The test signal transmitted to the pin 147 and the pogo pin 147 is transmitted to the test tip 132 through the connection terminal 144 via the flexible printed circuit board 142. It is connected to the test terminal of the device under test (P) and performs the test.

한편, 전술된 프로브 유닛(130)은 상기 프로브 장치(110)와 연결된 가요성 인쇄회로기판(142)에 꼬임, 단선 또는 단락이 발생될 경우, 상기 피검사소자(P)의 검사단자에 정확한 검사신호를 전달하지 못하므로 이를 수리 또는 교체한다.On the other hand, the above-described probe unit 130, when twisting, disconnection, or short circuit occurs in the flexible printed circuit board 142 connected to the probe device 110, the correct inspection on the test terminal of the device under test (P) Repair or replace because no signal is delivered.

일예로서, 작업자가 사용 중 고장이 발생된 프로브 유닛(130)을 수리 또는 교체할 경우, 먼저, 프로브 유닛 설치판(122)의 전면에 연결되어 프로브 장치(110)로부터 검사신호를 공급하는 가요성 회로기판(142)을 분리한다. 이를 위해 먼저, 상기 프로브 유닛(130)의 고정부(138)와 프로브 블록(139)을 고정시키는 프로브 블록 체결볼트(139a)를 풀러 상기 프로브 블록(139)을 분리한다. 이와 같이 상기 프로브 블록(139)이 분리되면, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 접속단자(144)를 가압하던 검사팁(132)의 압력이 제거되어 상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 일단이 연결된 탭 아이씨 블록(140)을 분리할 수 있다. 다음으로 상기 가요성 회로기판(142)의 일단에 연결된 포고핀 블록(146)을 분리하는데, 상기 포고핀 블록(146)을 당겨 상기 포고핀 블록(146)의 배면에 형성되어 포고핀 블록 고정돌기(146a)가 고정돌기 삽입홀(126a)로부터 빠지게 하여 프로브 검사장치(110)의 제어부와 연결된 외부신호 접속단자(127)와 상기 가요성 인쇄회로기판(142)과 연결된 포고핀(147)이 단락되도록 분리한다. 전술된 바와 같이, 상기 가요성 회로기판(142)이 상기 프로브 유닛(130)으로부터 분리되면, 분리된 가요성 회로기판(142)의 꼬임을 풀거나, 단선 또는 단락된 부분을 수리한 후, 양품의 제품으로 수리 또는 교체된 가요성 회로기판(142)을 분리의 역순으로 재조립한다. 여기서, 본 발명의 구성부품은 분리 및 조립되는 순서를 상황에 맞추어 변경할 수 있음은 당연하다.For example, when a worker repairs or replaces a probe unit 130 in which a failure occurs during use, it is first connected to the front surface of the probe unit mounting plate 122 to supply a test signal from the probe device 110. The circuit board 142 is separated. To this end, first, the probe block fastening bolt 139a for fixing the fixing unit 138 and the probe block 139 of the probe unit 130 is loosened to separate the probe block 139. When the probe block 139 is separated as described above, the pressure of the test tip 132 that presses the connection terminal 144 of the flexible printed circuit board 142 is removed to remove the pressure of the flexible printed circuit board 142. One end of the tab IC block 140 may be separated. Next, the pogo pin block 146 connected to one end of the flexible circuit board 142 is separated. The pogo pin block 146 is formed on the rear surface of the pogo pin block 146 by pulling the pogo pin block 146. The external signal connection terminal 127 connected to the control unit of the probe inspection device 110 and the pogo pin 147 connected to the flexible printed circuit board 142 are short-circuited by removing the 146a from the fixing protrusion insertion hole 126a. Separate if possible. As described above, when the flexible circuit board 142 is separated from the probe unit 130, after the twist of the separated flexible circuit board 142 or repairing a disconnected or shorted part, Reassemble or replace the flexible circuit board 142 repaired or replaced with a product in the reverse order of separation. Here, it is obvious that the components of the present invention may be changed in order of separation and assembly according to the situation.

한편, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)이 심하게 파손, 손상된 경우 상기 가요성 인쇄회로기판(142)과 상기 프로브 유닛(130)을 상기 프로브 유닛 설치판(122)으로부터 분리하여 정밀검사를 수행한다. 이를 위해 상기 프로브 장치(110)의 전면패널(120)과 프로브 유닛 설치판(122)을 체결하는 고정볼트(B)를 풀러 프로브 유닛(130)을 분리한다. 상기와 같이 상기 프로브 유닛 설치판(122)으로부터 분리된 프로브 유닛(130)은 이상 부위를 수리하거나 양품의 프로브 유닛(130)으로 교체된 후 상기 프로브 유닛(130)을 분리한 역순으로 재조립한다.On the other hand, if the flexible printed circuit board 142 is severely damaged or damaged, the flexible printed circuit board 142 and the probe unit 130 are separated from the probe unit mounting plate 122 to perform an overhaul. . To this end, the probe unit 130 is separated by loosening the fixing bolt B for fastening the front panel 120 and the probe unit mounting plate 122 of the probe device 110. As described above, the probe unit 130 separated from the probe unit mounting plate 122 is repaired or replaced with a good quality probe unit 130, and then reassembled in the reverse order of separating the probe unit 130. .

이와 같이, 작업자는 상기 전면패널(120)을 열지 않고도 상기 프로브 유닛(130)을 교체하거나 상기 가요성 인쇄회로기판(142), 상기 프로브 블록(139) 또는 프로브 유닛(130)을 수리 또는 교체한다.As such, the operator replaces the probe unit 130 or repairs or replaces the flexible printed circuit board 142, the probe block 139, or the probe unit 130 without opening the front panel 120. .

이상과 같이 본 발명에 따른 프로브 유닛의 취부구조를 예시된 도면을 참조하여 설명하였으나, 본 발명은 이상에서 설명된 실시예와 도면에 의해 한정되지 않 으며, 특허청구범위 내에서 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자들에 의해 다양한 수정 및 변형될 수 있음은 물론이다.As described above, the mounting structure of the probe unit according to the present invention has been described with reference to the illustrated drawings, but the present invention is not limited to the above-described embodiments and drawings, and the present invention belongs to the claims. Of course, various modifications and variations can be made by those skilled in the art.

전술된 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 프로브 유닛의 취부구조는 피검사소자와 접촉되는 검사팁 및 프로브 장치로부터 전달된 신호를 상기 검사팁으로 연결하는 가요성 인쇄회로기판이 상기 프로브 유닛의 외측으로 연결되어, 상기 프로브 장치의 전면패널을 열지 않고도 프로브 유닛 또는 가요성 인쇄회로기판을 용이하게 수리 또는 교환할 수 있다.The mounting structure of the probe unit according to the present invention configured as described above is connected to the outside of the probe unit by a flexible printed circuit board which connects the test tip and the signal transmitted from the probe device to the device under test to the test tip. Thus, the probe unit or the flexible printed circuit board can be easily repaired or replaced without opening the front panel of the probe device.

Claims (4)

프로브 장치의 본체에 체결되는 프로브 유닛 설치판과,A probe unit mounting plate fastened to the main body of the probe device, 상기 프로브 유닛 설치판에 장착된 몸체부와,A body portion mounted to the probe unit mounting plate, 상기 몸체부의 일단에 상하방향으로 이동가능하게 장착되고 전면에 검사팁이 구비된 프로브 블록이 장착된 검사부와,An inspection unit mounted on one end of the body to be movable in the vertical direction and equipped with a probe block having an inspection tip on the front surface thereof; 일정부분이 "Γ"형상을 형성하여 몸체부 외측을 감싸는 형태로 위치되며, 일단은 상기 검사부의 검사팁과 접속 결합되며, 타단은 상기 프로브 유닛 설치판의 외부신호 접속단자와 접속 결합되는 가요성 인쇄회로기판을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛의 취부구조.A certain portion is formed in a form forming a "Γ" shape surrounding the outside of the body portion, one end is connected to the inspection tip of the inspection unit, the other end is connected to the external signal connection terminal of the probe unit mounting plate flexible Mounting structure of the probe unit, characterized in that comprising a printed circuit board. 청구항 1에 있어서, 상기 검사부는 상기 몸체부의 전면에 가이드 수단에 의해 상하로 이동가능하게 설치된 가동부와, 상기 가동부의 전면에 고정되어 검사팁이 구비된 상기 프로브 블록을 고정하기 위한 고정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛의 취부구조.The method of claim 1, wherein the inspection unit comprises a movable part installed on the front surface of the body to be movable up and down by a guide means, and a fixing portion for fixing the probe block is fixed to the front surface of the movable part is provided with a test tip Mounting structure of the probe unit, characterized in that. 청구항 2에 있어서, 상기 가요성 회로기판의 일단은 고정홀이 형성된 탭 아이씨 블록을 포함하고, 상기 고정부의 전면에는 상기 탭 아이씨 블록이 고정되도록 상기 고정홀이 결합되는 고정핀이 형성되며, 상기 프로브 블록은 상기 검사팁이 상기 가요성 인쇄회로기판에 형성되어 상기 검사팁이 접속되는 접속단자의 전면을 압착하도록 상기 고정부의 전면에 체결되는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛의 취부 구조.3. The fixing circuit of claim 2, wherein one end of the flexible circuit board includes a tab IC block having a fixing hole, and a fixing pin to which the fixing hole is coupled to fix the tab IC block on a front surface of the fixing part is formed. The probe block mounting structure of the probe unit, characterized in that the test tip is fastened to the front of the fixing portion is formed on the flexible printed circuit board to compress the front of the connection terminal to which the test tip is connected. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서, 상기 프로브 블록은 전면을 향해 소정각도 경사진 경사면을 포함하고, 상기 프로브 블록의 경사면에는 상기 검사팁이 고정되는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛의 취부구조.The mounting structure of the probe unit according to any one of claims 1 to 3, wherein the probe block includes an inclined surface inclined at a predetermined angle toward the front surface, and the inspection tip is fixed to the inclined surface of the probe block.
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