KR20070071269A - 액정표시소자의 에지검사장치 - Google Patents

Abstract

본 발명에 따른 액정패널 에지검사장치는 다양한 크기의 액정패널의 에지를 검사하기 위한 것으로, 액정패널이 놓이는 테이블과, 상기 테이블에 형성되어 액정패널의 에지를 촬영하는 촬영영역과, 상기 액정패널의 에지를 촬영하는 촬영기로 구성된다. 촬영기는 광원과 카메라로 구성되어, 테이블 외부에 위치하는 에지나 촬영영역에 위치하는 에지를 촬영함으로써 액정패널의 에지를 검사한다.

액정패널, 에지, 검사, 유리, 카메라, 뜯김현상

Description

액정표시소자의 에지검사장치{APPARATUS FOR INSPECTING EDGE OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}

도 1은 일반적인 액정패널의 구조를 나타내는 평면도.

도 2는 복수의 액정패널이 형성된 기판의 단면도.

도 3은 종래 액정절단장치를 나타내는 도면.

도 4a는 본 발명의 제1실시예에 따른 액정패널 에지검사장치의 구조를 나타내는 도면.

도 4b는 본 발명의 제1실시예에 따른 액정패널 에지검사장치의 테이블 구조를 나타내는 평면도.

도 5a 및 도 5b는 본 발명의 제1실시예에 따른 액정패널 에지검사장치로 소형 및 대형 액정패널의 에지를 검사하는 방법을 나타내는 도면.

도 6a는 본 발명의 제2실시예에 따른 액정패널 에지검사장치의 구조를 나타내는 도면.

도 6b는 본 발명의 제2실시예에 따른 액정패널 에지검사장치의 테이블 구조를 나타내는 평면도.

도 7a 및 도 7b는 본 발명의 제2실시예에 따른 액정패널 에지검사장치로 소형 및 대형 액정패널의 에지를 검사하는 방법을 나타내는 도면.

도 8은 본 발명의 제2실시예에 따른 액정패널 에지검사장치의 테이블 구조의 다른 예를 나타내는 평면도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *

110 : 액정패널 162 : 베이스

164 : 테이블 166 : 촬영기

본 발명은 액정표시소자의 에지검사장치에 관한 것으로, 특히 다양한 크기의 액정패널의 에지를 신속하고 저렴하게 검사할 수 있는 액정표시소자의 에지검사장치에 관한 것이다.

일반적으로, 액정표시소자는 매트릭스(matrix) 형태로 배열된 액정셀에 화상정보에 따른 데이터신호를 개별적으로 공급하여, 그 액정셀의 광투과율을 조절함으로써, 원하는 화상을 표시할 수 있도록 한 표시소자이다.

따라서, 상기 액정표시소자는 액정셀이 매트릭스 형태로 배열되는 액정패널과; 상기 액정패널의 액정셀을 구동하기 위한 드라이버 집적회로(integrated circuit : IC)를 구비한다.

상기 액정패널은 서로 대향하는 컬러필터(color filter)기판 및 박막트랜지스터 어레이(thin film transistor array)기판과, 상기 컬러필터기판 및 박막트랜지스터 어레이기판 사이에 형성된 액정층(liquid crystal layer)으로 구성된다.

그리고, 상기 액정패널의 박막트랜지스터 어레이기판 상에는 데이터드라이버 집적회로로부터 공급되는 데이터신호를 액정셀에 전송하기 위한 다수의 데이터라인과, 게이트드라이버 집적회로로부터 공급되는 주사신호를 액정셀에 전송하기 위한 다수의 게이트라인이 서로 직교하며, 이들 데이터라인과 게이트라인의 교차부마다 액정셀이 정의된다.

상기 게이트드라이버 집적회로는 다수의 게이트라인에 순차적으로 주사신호를 공급함으로써, 매트릭스형태로 배열된 액정셀이 1개 라인씩 순차적으로 선택되도록 하고, 그 선택된 1개 라인의 액정셀에는 데이터드라이버 집적회로로부터 다수의 데이터라인을 통해 데이터신호가 공급된다.

한편, 상기 컬러필터기판 및 박막트랜지스터 어레이기판의 대향하는 내측 면에는 각각 공통전극과 화소전극이 형성되어 상기 액정층에 전계를 인가한다. 이때, 화소전극은 박막트랜지스터 어레이기판 상에 액정셀 별로 형성되는 반면에 공통전극은 컬러필터기판의 전면에 일체화되어 형성된다. 따라서, 공통전극에 전압을 인가한 상태에서 화소전극에 인가되는 전압을 제어함으로써, 액정셀의 광투과율을 개별적으로 조절할 수 있게 된다.

이와 같이 화소전극에 인가되는 전압을 액정셀 별로 제어하기 위하여 각각의 액정셀에는 스위칭소자로 사용되는 박막트랜지스터가 형성된다.

한편, 액정표시소자는 대면적의 모기판(mother substrate)에 다수개의 박막트랜지스터 어레이기판을 형성하고, 별도의 모기판에 다수개의 컬러필터기판을 형성한 다음 두개의 모기판을 합착함으로써, 다수개의 액정패널을 동시에 형성하여 수율 향상을 도모하고 있으므로, 모기판을 단위 액정패널로 절단하는 공정이 요구된다.

통상, 상기 단위 액정패널의 절단은 유리에 비해 경도가 높은 다이아몬드 재질의 휠로 모기판의 표면에 절단예정선(scribing line)을 형성하는 스크라이브(scribe)공정과, 상기 절단예정선에 기계적 힘을 인가하여 모기판을 절단하는 브레이크(break)공정을 통해 실시된다. 이하에서는 첨부한 도면을 참조하여 일반적인 액정 표시패널을 상세히 설명한다.

도 1은 액정표시소자의 박막트랜지스터 어레이기판과 컬러필터기판이 대향하여 합착된 단위 액정패널의 개략적인 평면 구조를 나타내는 도면이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 액정패널(10)은 액정셀이 매트릭스 형태로 배열되는 화상표시부(13)와, 상기 화상표시부(13)의 게이트라인(16)과 접속되는 게이트패드부(14) 및 데이터라인(17)과 접속되는 데이터패드부(15)로 구성된다. 이때, 게이트패드부(14)와 데이터패드부(15)는 컬러필터기판(2)과 중첩되지 않는 박막트랜지스터 어레이기판(1)의 가장자리영역에 형성되며, 게이트패드부(14)는 게이트드라이버 집적회로로부터 공급되는 주사신호를 화상표시부(13)의 게이트라인(16)에 공급하고, 데이터패드부(15)는 데이터드라이버 집적회로로부터 공급되는 화상정보를 화상표시부(13)의 데이터라인(17)에 공급한다.

상기 화상표시부(13)의 박막트랜지스터 어레이기판(1)에는 화상정보가 인가되는 데이터라인(17)과 주사신호가 인가되는 게이트라인(16)이 서로 수직 교차하여 배치되고, 상기 게이트라인(16)과 데이터라인(17)의 교차부에 형성되어 액정셀을 스위칭하기 위한 박막트랜지스터와, 상기 박막트랜지스터에 접속되어 액정셀을 구동하는 화소전극과, 상기 전극과 박막트랜지스터를 보호하기 위해 전면에 형성된 보호층이 구비된다.

또한, 상기 화상표시부(13)의 컬러필터기판(2)에는 블랙매트릭스에 의해 셀영역별로 분리되어 도포된 칼러필터와, 상기 박막트랜지스터 어레이기판(1)에 형성된 투명한 공통전극이 구비된다.

상기한 바와 같이 구성된 박막트랜지스터 어레이기판(1)과 컬러필터기판(2)은 대향하여 일정한 셀갭(cell gap)을 유지하고 화상표시부(13)의 외곽에 형성된 실링부(도면상에 도시되지 않음)에 의해 합착되며, 박막트랜지스터 어레이기판(1)과 컬러필터기판(2)의 이격된 공간에 액정층(도면상에 도시되지 않음)이 형성된다.

도 2는 상기한 바와 같은 박막트랜지스터 어레이기판(1)이 형성된 제1모기판과 컬러필터기판(2)이 형성된 제2모기판이 합착되어 다수의 액정패널을 이루는 단면 구조를 보인 예시도이다.

도 2에 도시된 바와 같이, 단위 액정패널은 박막트랜지스터 어레이기판(1)의 일측이 컬러필터기판(2)에 비해 돌출되도록 형성된다. 이는 상기 도 1을 참조하여 설명한 바와 같이 컬러필터기판(2)과 중첩되지 않는 박막트랜지스터 어레이기판(1)의 가장자리에 게이트패드부(14)와 데이터패드부(15)가 형성되기 때문이다.

따라서, 제2모기판(30) 상에 형성된 컬러필터기판(2)은 제1모기판(20) 상에 형성된 박막트랜지스터 어레이기판(1)이 돌출되는 면적에 해당하는 제1더미영역(dummy region;31) 만큼 이격되어 형성된다.

또한, 각각의 단위 액정패널은 제1,제2모기판(20,30)을 최대한 이용할 수 있도록 적절히 배치되며, 모델(model)에 따라 다르지만 일반적으로 단위 액정패널은 제2더미영역(32) 만큼 이격되도록 형성된다.

상기 박막트랜지스터 어레이기판(1)이 형성된 제1모기판(20)과 컬러필터 기판(2)이 형성된 제2모기판(30)이 합착된 후에는 스크라이브공정과 브레이크공정을 통해 액정패널들을 개별적으로 절단하게 된다.

상기한 바와 같은 단위 액정패널의 절단공정을 간략하게 설명하면 다음과 같다.

도 3은 스크라이브공정에서 사용되던 절단장치의 구조를 나타내는 도면이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 종래 액정패널 절단장치는 테이블(42)과, 상기 이전의 공정이 종료되어 테이블(42)에 로딩된 제1 및 제2모기판(20,30)과, 상기 제1 및 제2모기판(20,30)을 가공하여 그 표면에 절단예정선(58)을 형성하는 절단휠(51)로 구성된다.

이러한 종래 액정패널 절단장치에서는 복수의 액정패널을 포함하는 대향 합착된 제1 및 제2모기판(20,30)이 테이블(42) 위에 로딩되면, 상기 제1 및 제2모기판(20,30) 상부에 위치하는 절단휠(51)이 하강하여 상기 제2모기판(30)에 일정한 압력을 인가한 상태에서 회전함으로써 제2모기판(30)의 표면에 홈 형태의 절단예정선(58)을 동시에 형성한다.

이러한 절단예정선은 제1모기판(20)에도 형성된다. 즉, 상기 제1모기판(20)을 절단휠(51)로 가공하여 제2모기판(30)의 절단예정선(58)과 동일한 위치에 절단 예정선을 형성하는 것이다. 따라서, 종래 액정패널 절단장치에서는 제1모기판(20) 및 제2모기판(30)을 별도로 가공하여 절단예정선을 형성해야만 하기 때문에, 제2모기판(30)을 절단휠로 가공한 후 액정패널을 반전하여 제1모기판(20)을 위로 향한 상태에서 절단휠로 제1모기판(20)을 가공하는 것이다.

이후, 상기 절단예정선(즉, 제1모기판(20) 및 제2모기판(30)에 형성된 절단예정선)에 압력을 가함으로써 상기 제1 및 제2모기판(20,30)을 분리하는 것이다.

상기와 같이 분리된 액정패널은 에지영역의 이상 여부를 검사해야만 한다. 가장 이상적인 경우는 압력에 의해 절단예정선을 따라 액정패널이 매끄럽게 절단되는 것이지만, 현실적으로 절단휠이 제1모기판(20)과 제2모기판(30)에 인가되는 압력이 불균일하기 때문에 균일한 깊이의 절단예정선을 형성하기 힘드므로, 압력을 인가하여 절단예정선을 따라 액정패널을 분리할 때 절단예정선, 즉 액정패널의 에지영역이 파손되거나 뜯기는 현상이 발생하게 된다. 더욱이, 절단예정선에 인가되는 압력도 균일하게 인가하기 힘들기 때문에, 액정패널 에지영역의 파손이나 뜯김현상이 더욱 자주 발생하게 된다.

상기와 같이, 액정패널의 에지영역이 파손되거나 뜯김현상이 발생하면, 심할 경우 액정패널 자체가 불량으로 되며 경미한 경우에도 작업시 파손되거나 뜯긴 에지영역에 의해 사용자가 부상을 당하는 위험이 있었다.

본 발명은 상기한 점을 감안하여 이루어진 것으로, 절단된 기판의 에지의 검사하여 에지에 이상이 있는 액정패널을 검출하는 액정표시소자의 에지검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 다른 목적은 다양한 크기의 기판의 에지를 검사함으로써 신속하고 저렴한 검사가 가능한 액정표시소자의 에지검사장치를 제공하는 것이다.

상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 일실시예에 따른 액정표시소자의 에직검사장치는 액정패널이 놓이는 제1테이블과, 상기 제1테이블의 둘레 외부 영역에 설치되어 액정패널이 놓이는 투명한 제2테이블과, 상기 액정패널의 에지를 촬영하는 촬영기로 구성된다.

상기 촬영기는 광을 발광하는 광원과 상기 광원으로부터 발광되어 액정패널의 에지를 투과하는 광이 입사되어 에지를 촬영하는 카메라로 이루어져, 대형 액정패널의 경우 제2테이블 외부로 돌출된 에지를 촬영하고 소형 액정패널의 경우 제2테이블 위에 위치한 에지를 촬영한다.

또한, 본 발명의 제2실시예에 따른 액정패널 에지검사장치는 액정패널이 놓이는 제1테이블과, 상기 제1테이블의 외부에 상기 제1테이블과 일정 간격으로 형성되어 액정패널이 놓이는 복수의 제2테이블과, 상기 액정패널의 에지를 촬영하는 촬영기로 구성된다.

액정패널 에지영역의 파손이나 뜯김현상에 의해 발생하는 문제들, 예를 들면 사용자의 부상과 같은 해결하기 가장 좋은 방법은 액정패널을 모기판으로부터 분리하는 절단 공정 후 액정패널 에지영역의 파손이나 뜯긴 부분을 제거하기 위해서 분리된 모든 액정패널을 연마하여 에지영역의 파손부위나 뜯긴 부위를 제거하는 것이 다. 그러나, 이와 같이 모든 액정패널을 연마하는 경우 별도의 연마라인이 필요하기 때문에, 제조비용이 대폭 증가할 뿐만 아니라 제조시간도 증가하게 된다.

따라서, 제조비용과 제조시간을 절약하는 가장 좋은 방법은 에지영역에 파손이나 뜯김현상이 발생한 액정패널만을 연마하는 것이다. 본 발명은 이러한 관점에서 제안된 것으로, 액정패널을 에지영역을 검사하여 파손이나 뜯김현상이 발생한 경우에만 연마공정을 진행하게 함으로써 액정패널 에지영역의 파손이나 뜯김을 제거하는 것이다.

본 발명에서는 다양한 크기의 액정패널의 에지를 검사하기 위해, 액정패널을 놓는 테이블에 다양한 크기의 액정패널의 에지를 촬영할 수 있는 공간을 마련한다. 즉, 테이블에 투과영역(즉, 촬영영역)을 형성하여 에지를 상기 투과영역에 위치시킴으로써 액정패널의 에지를 검사하는 것이다.

한편, 본 발명의 에지검사장치는 액정패널에만 한정되는 것이 아니라 박막트랜지스터가 형성되는 박막트랜지스터기판이나 컬러필터가 형성된 컬러필터기판에도 적용될 수 있다. 따라서, 이하의 설명에서는 비록 액정패널의 에지검사에 대해서 구체적으로 설명하고 있지만, 이는 박막트랜지스터기판과 컬러필터기판을 대표하여 설명하는 것이다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정패널 에지검사장치에 대해 상세히 설명한다.

도 4a는 본 발명의 제1실시예에 따른 액정패널 에지검사장치(160)의 구조를 나타내는 도면이고 도 4b는 상기 에지검사장치(160)의 테이블구조를 나타내는 평면 도이다.

도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 액정패널 에지검사장치(160)는 베이스(162)와, 상기 베이스(162) 위에 설치되어 액정패널이 놓이는 테이블(164)과, 상기 베이스(162) 위에 놓이는 액정패널의 에지를 촬영하여 에지의 파손이나 뜯김현상을 검출하는 촬영기(166)로 구성된다.

상기 테이블(164)은 알루미늄과 같은 불투명한 금속으로 이루어진 제1테이블(164a)과 유리와 같은 투명한 물질로 이루어져 상기 제1테이블(164)의 외곽둘레에 형성된 제2테이블(164b)로 이루어진다.

또한, 촬영기(166)는 광을 발광하는 부분과 액정패널의 에지를 투과한 광을 수광하여 에지에 대한 화상을 형성하는 영역으로 이루어진다. 다시 말해서, 촬영기(166)는 광을 발광하는 광원(166a)과, 광원(166a)로부터 발광한 후 에지를 투과한 광이 입사되어 화상을 형성하는 카메라(166b)로 구성된다.

상기와 같이, 본 발명에서는 테이블(164)을 불투명한 영역(164a)과 투명한 영역(164b)으로 구성하는데, 그 이유는 다음과 같다.

근래, 액정표시소자 제조기술이 발달함과 아울러 액정표시소자가 적용되는 분야가 증가함에 따라 다양한 크기의 액정표시소자가 제작되고 있다. 이와 같이 다양한 크기의 액정표시소자가 제작됨에 따라 액정패널의 절단 후 액정패널의 에지를 검사할 때 액정패널이 놓이는 테이블의 면적이 고정되어 있기 때문에, 서로 다른 면적의 액정패널을 검사하는 경우 작은 액정패널의 면적이 테이블의 면적보다 작게 되어 에지영역을 검사할 수 없게 된다. 따라서, 검사되는 액정패널의 모델이 변경 되면 액정패널 에지장치 자체를 변경하거나 액정패널이 위치하는 테이블을 변경해야만 하므로 검사비용이 상승할 뿐만 아니라 검사시간도 증가하게 된다.

물론, 작은 면적을 갖는 테이블을 구비하고 상기 테이블 위에는 테이블보다 넓은 면적을 갖는 다양한 크기의 액정패널을 위치시킨 후 액정패널의 에지를 검사할 수도 있다. 그러나, 이 경우 테이블의 면적보다 액정패널의 면적이 훨씬 큰 경우 액정패널이 테이블 외부에 휘어지게 되어 에지검사를 실시할 수 없을 뿐만 아니라 심지어는 액정패널이 파손될 수도 있다.

따라서, 본 발명과 같이 테이블(164)을 불투명한 제1테이블(164a)과 투명한 제2테이블(164b)로 형성하면, 제2테이블(164b) 면적보다 넓은 면적의 액정패널은 그 에지가 제2테이블(164b) 외부로 돌출되므로 에지의 촬영이 가능하게 되고 제2테이블(164b)의 면적보다 작고 제1테이블(164a)의 면적보다 큰 면적의 액정패널은 에지가 투명한 제2테이블(164b)에 위치하므로 촬영기(166)에 의한 촬영이 가능하게 되어 에지를 검사할 수 있게 되나.

이와 같은 구조의 액정패널 에지검사장치를 이용한 액정패널 에지검사방법이 도 5a 및 도 5b에 도시되어 있다.

우선, 도 5a에 도시된 바와 같이, 작은 면적의 액정패널(110)을 테이블(164) 위에 올려놓으면, 액정패널(110)의 에지가 투명한 제2테이블(164b)에 위치하게 된다. 이 상태에서 촬영기(166)를 상기 제2테이블(164b)로 이동시켜 서로 대향하는 광원(164a)과 카메라(164b)를 액정패널(110)의 에지에 정렬한 후 촬영하여 에지를 검사한다. 즉, 촬영기(166)의 광원(166a)으로부터 방출된 광이 제2테이블(164b) 및 액정패널(110)의 에지영역을 투과한 후 카메라(166b)로 입력되어 에지가 촬영되는 것이다.

도면에는 도시하지 않았지만, 촬영된 영상은 컴퓨터와 같은 제어장치에 전송되어 영상처리된 후 에지의 불량여부가 판별된다. 즉, 에지에 파손이나 뜯김현상이 발생했는지를 판별한다. 이때, 에지의 파손이나 뜯김현상이 발생하지 않은 액정패널(110)은 이후의 공정으로 이송되고 파손이나 뜯김현상이 발생한 액정패널(110)은 연마공정으로 이송되어 해당 에지가 연마된다. 물론, 파손이나 뜯김현상이 과도하게 되면 이 액정패널(110)은 완전한 불량으로 판단되어 폐기된다.

도 5b에 도시된 바와 같이, 대면적의 액정패널(110)의 에지를 검사하는 경우에는 테이블(164)에 액정패널(110)을 놓을 경우 액정패널(110)의 에지가 제2테이블(164b)의 외부로 돌출된다. 따라서, 촬영기(166)의 광원(166a)에서 방출된 광은 액정패널(110)의 에지영역을 투과한 후 카메라(166b)에 입력되어 에지가 촬영되는 것이다. 이 경우에도 촬영된 영상은 컴퓨터와 같은 제어장치에 전송되어 영상처리된 후 에지의 불량여부가 판별된다.

도 6a 및 도 6b는 본 발명의 제2실시예에 따른 액정패널의 에지검사장치(260)를 나타내는 도면이다. 도 6a 및 도 6b에 도시된 에지검사장치는 도 5a 및 도 5b에 도시된 에지검사장치와는 액정패널(210)이 놓이는 테이블(264)을 제외하고는 그 구성이 동일하다. 따라서, 이하의 설명에서는 동일한 구성에 대해서는 설명을 생략하고 테이블(264)에 대해서만 주로 설명한다.

도 6a 및 도 6b에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 액정패널 에지검사장 치(260)의 테이블(264)은 메인테이블인 제1테이블(264a)과 상기 제1테이블(264a)로부터 일정 간격을 두고 네모서리 영역에 형성된 보조테이블인 제2테이블(264b)로 이루어져 있다. 이때, 제1테이블(264a) 및 제2테이블(264b)은 모두 알루미늄과 같은 동일한 재질로 이루어진다.

제1테이블(264a)은 베이스(262)에 지지되어 있고 제2테이블(264b)는 지지부재(264c)를 통해 제1테이블(264a)에 지지된다. 상기와 같이, 제1테이블(264a)과 제2테이블(264b)는 일정 간격을 두고 형성되기 때문에, 상기 제1테이블(264a)과 제2테이블(264b) 사이에는 공간이 형성된다. 이때, 상기 지지부재(264c)는 연장 가능하게 형성되어 상기 제1테이블(264a)와 제2테이블(264b) 사이의 간격을 조사되는 액정패널의 크기에 따라 조절할 수 있게 된다.

상기 제1테이블(264a) 및 제2테이블(264b) 사이의 공간은 소형 액정패널의 에지를 검사하기 위한 것이다. 즉, 대형 액정패널을 검사할 때에는 액정패널이 제1테이블(264a) 및 제2테이블(264b)에 놓이고 에지영역이 상기 제2테이블(264b) 외부로 돌출되지만, 소형 액정패널을 검사할 때에는 액정패널이 제1테이블(264a) 위에만 놓여 에지영역이 제1테이블(264a)과 제2테이블(264b) 사이의 공간에 위치하게 된다.

도 7a에 도시된 바와 같이, 소형 액정패널(210)의 에지를 검사하기 위해 액정패널(210)을 테이블(264) 위에 놓으면, 상기 액정패널(210)의 에지가 제1테이블(264a) 및 제2테이블(264b)의 공간에 위치하게 된다. 이 상태에서 촬영기(266)를 상기 공간으로 이동시켜 서로 대향하는 광원(266a)과 카메라(266b)를 액정패널 (210)의 에지에 정렬한 후 촬영하여 에지를 검사한다.

도 7b에 도시된 바와 같이, 대형 액정패널(210)의 에지를 검사하기 위해 액정패널(210)을 테이블(264) 위에 놓으면, 상기 액정패널(210)의 에지가 제2테이블(264b) 외부로 돌출하게 된다. 따라서, 상기 돌출된 액정패널(210)의 에지에 광원(266a)과 카메라(266b)를 촬영하여 에지를 검사한다.

상기한 바와 같이, 이 실시예에서는 액정패널이 놓이는 테이블을 메인테이블과 보조테이블로 구성하여 다양한 크기의 액정패널의 에지를 검사할 수 있게 된다. 그런데, 본 발명이 도시된 구조에만 한정되는 것은 아니다. 도면에서는 보조테이블이 비록 메인테이블 모서리에 4개 설치되는 구성으로 이루어져 있지만, 보조테이블이 2개만 설치되는 구성도 가능할 것이다. 즉, 대형 액정패널의 에지검사시 해당 액정패널의 효과적으로 지지할 수만 있다면 어떠한 구성이라도 가능한 것이다.

또한, 메인테이블과 보조테이블을 분리하여 공간을 형성하는 이유는 이 공간에 액정패널의 에지가 위치하도록 하기 위한 것이다. 이런 의미에서 본 발명에 따른 액정패널 에지검사장치의 테이블 구조는 도 8에 도시된 바와 같이 하나의 테이블(264)에 에지가 위치하는 투과부(265a,265b)가 형성되어 있다고 간주해도 될 것이다. 이 투과부(265a,265b)는 테이블의 일부가 제거되어 형성되는 것으로, 액정패널이 놓이는 대면적 테이블(264)의 검사되는 액정패널의 크기에 대응하는 위치에 적어도 하나의 홈(265a,265b)을 일정한 폭으로 형성하여 다양한 크기의 액정패널 에지를 검사할 수도 있을 것이다.

상술한 바와 같이, 본 발명에서는 액정패널이 놓이는 테이블의 일부를 투명한 유리로 형성하거나 그 중간에 공간을 형성함으로써 다양한 크기의 액정패널의 에지를 효과적으로 검사할 수 있게 된다. 따라서, 다양한 크기의 액정패널의 에지를 검사하기 위해 테이블을 변경하는 종래에 비해 검사비용을 절감할 수 있고 검사시간을 단축할 수 있게 된다.

Claims (20)

1. 기판이 놓이는 제1테이블;

   상기 제1테이블의 둘레 외부 영역에 형성된 투명한 제2테이블; 및

   상기 기판의 에지를 촬영하는 촬영기로 구성된 액정표시소자 에지검사장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 촬영기는,

   광을 발광하는 광원; 및

   상기 광원으로부터 발광되어 기판의 에지를 투과하는 광이 입사되어 에지를 촬영하는 카메라로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
3. 제1항에 있어서, 상기 기판의 에지는 제2테이블 외부로 돌출되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
4. 제1항에 있어서, 상기 기판의 에지는 제2테이블 위에 위치하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
5. 제1항에 있어서, 상기 제1테이블은 알루미늄으로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
6. 제1항에 있어서, 상기 제2테이블은 유리로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
7. 제1항에 있어서, 상기 기판은 박막트랜지스터기판 또는 컬러필터기판인 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
8. 제1항에 있어서, 상기 기판은 박막트랜지스터기판 및 컬러필터기판이 합착된 액정패널인 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
9. 기판이 놓이는 제1테이블;

   상기 제1테이블의 외부에 상기 제1테이블과 일정 간격으로 형성된 복수의 제2테이블; 및

   상기 기판의 에지를 촬영하는 촬영기로 구성된 액정표시소자 에지검사장치.
10. 제9항에 있어서, 상기 촬영기는,

    광을 발광하는 광원; 및

    상기 광원으로부터 발광되어 기판의 에지를 투과하는 광이 입사되어 에지를 촬영하는 카메라로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
11. 제9항에 있어서, 상기 기판의 에지는 제2테이블 외부로 돌출되는 것을 특징 으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
12. 제9항에 있어서, 상기 기판의 에지는 제1테이블과 제2테이블 사이의 공간에 위치하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
13. 제9항에 있어서, 상기 제2테이블을 제1테이블에 지지시키는 지지부재를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
14. 제9항에 있어서, 상기 제2테이블은 제1테이블의 모서리에 형성되는 것을 특징으로 액정표시소자 에지검사장치.
15. 제9항에 있어서, 상기 기판은 박막트랜지스터기판 또는 컬러필터기판인 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
16. 제9항에 있어서, 상기 기판은 박막트랜지스터기판 및 컬러필터기판이 합착된 액정패널인 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
17. 제9항에 있어서, 제1테이블과 제2테이블의 간격은 가변되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.
18. 기판이 놓이는 테이블;

    상기 테이블에 형성되어 기판의 에지를 촬영하는 촬영영역; 및

    상기 기판의 에지를 촬영하는 촬영기로 구성된 액정표시소자 에지검사장치.
19. 제18항에 있어서, 상기 기판의 에지는 상기 테이블의 외부로 돌출되는 것을 특징으로 액정표시소자 에지검사장치.
20. 제18항에 있어서, 상기 촬영영역은 기판의 에지가 위치하는 투과부인 것을 특징으로 하는 액정표시소자 에지검사장치.

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