KR20070068624A - 저장용 포토 다이오드를 이용한 cmos 이미지 센서의픽셀부 - Google Patents

저장용 포토 다이오드를 이용한 cmos 이미지 센서의픽셀부 Download PDF

Info

Publication number
KR20070068624A
KR20070068624A KR1020050130457A KR20050130457A KR20070068624A KR 20070068624 A KR20070068624 A KR 20070068624A KR 1020050130457 A KR1020050130457 A KR 1020050130457A KR 20050130457 A KR20050130457 A KR 20050130457A KR 20070068624 A KR20070068624 A KR 20070068624A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
image sensor
photo
diode
cmos image
pixel
Prior art date
Application number
KR1020050130457A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100752405B1 (ko
Inventor
전정범
Original Assignee
엠텍비젼 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엠텍비젼 주식회사 filed Critical 엠텍비젼 주식회사
Priority to KR1020050130457A priority Critical patent/KR100752405B1/ko
Publication of KR20070068624A publication Critical patent/KR20070068624A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100752405B1 publication Critical patent/KR100752405B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

본 발명은 저장용 포토 다이오드를 이용한 CMOS 이미지 센서의 픽셀부에 관한 것이다. 본 발명은 빛에 노출시켜 전하를 집적하기 위한 제1포토 다이오드와, 상기 제1포토 다이오드가 집적한 전하를 임시로 저장하기 위한 제2포토 다이오드를 포함하여 구성된다. 본 발명에 따르면, 각 컬럼별 노출이 같은 시간에 이루어지므로 이미지의 왜곡이 일어나지 않는다.
CMOS, SSD, 포토 다이오드, 컬럼, 노출, 저장

Description

저장용 포토 다이오드를 이용한 CMOS 이미지 센서의 픽셀부{pixel structure in CMOS image sensor by using photo diode for storage}
도 1은 본 발명이 적용되는 이미지 센서의 구조도,
도 2는 종래의 CMOS 이미지 센서의 픽셀부의 구조도,
도 3은 도 2의 동작 타이밍도,
도 4는 도 1의 픽셀 어레이에서 프레임 노출시간과 프레임 리드아웃 시간을 상대적으로 나타낸 타이밍도,
도 5는 본 발명에 따른 CMOS 이미지 센서의 동작을 설명하기 위한 일실시예 개념도,
도 6은 본 발명에 따른 CMOS 이미지 센서의 픽셀부의 일실시예 구조도,
도 7은 도 6의 동작 타이밍도,
도 8은 본 발명의 동작을 간단하게 설명하기 위한 일실시예 개념도,
도 9는 도 8의 동작을 설명하기 위한 타이밍도.
본 발명은 저장용 포토 다이오드를 이용한 CMOS 이미지 센서의 픽셀부에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 디지털 카메라 등에 사용하기 위한 저장용 포토 다이오드를 이용한 CMOS 이미지 센서의 픽셀부에 관한 것이다.
최근 디지털 카메라 등이 급속도로 발달되고 상용화되어가고 있다. 이러한 디지털 카메라는 반도체 센서를 이용하여 감광을 하게 되는데, 반도체 센서로 많이 쓰이는 것은 CMOS(complementary metal oxide semiconductor; 상보성 금속 산화물 반도체) 이미지 센서와 CCD(charge-coupled device; 전하 결합 소자) 이미지 센서이다.
CMOS 이미지 센서는 CMOS 제조 기술을 이용하여 광학적 이미지를 전기적 신호로 변환하는 소자로서, 픽셀 수만큼 MOS(metal oxide semiconductor) 트랜지스터(transistor)를 만들고, 이것을 이용하여 차례로 출력을 검출하는 스위칭 방식을 채용하고 있다. 현재 이미지 센서로 널리 사용되고 있는 CCD 이미지 센서에 비하여 CMOS 이미지 센서는 구동방식이 간편하고 다양한 스캐닝 방식의 구현이 가능하며, 신호 처리 회로를 단일 칩에 집적할 수 있어 제품의 소형화가 가능할 뿐 아니라, 호환성이 있는 CMOS 기술을 사용하므로 제조단가를 낮출 수 있고, 전력 소모 또한 크게 줄일 수 있는 장점이 있다.
기존의 대부분의 CMOS 이미지 센서는 포토 다이오드를 광 감지용으로 사용하고, 이를 로우(row) 별로 순차적으로 읽는(readout) 기법을 사용하는데, 이를 롤링-셔터(rolling-shutter) 기법이라 한다.
그러나, 이 기법을 사용하는 경우, 정지영상이나 동영상 촬영시 움직임이 있는 물체를 찍거나 사진기를 든 손이 이동할 때, 로우 별로 빛에 노출되는 시간이 다름으로 인해 발생하는 왜곡이 존재하는 문제점이 있다.
본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로, 추가적인 포토 다이오드를 저장용으로 사용함으로써, 픽셀별로 빛에 노출되는 시간을 동일하게 하여 왜곡을 없애기 위한, 저장용 포토 다이오드를 이용한 CMOS 이미지 센서를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, CMOS 이미지 센서의 픽셀 어레이를 구성하는 픽셀부에 있어서, 빛에 노출시켜 전하를 집적하기 위한 제1포토 다이오드; 및 상기 제1포토 다이오드가 집적한 전하를 임시로 저장하기 위한 제2포토 다이오드를 포함하는 CMOS 이미지 센서의 픽셀부가 제공된다.
이때, 상기 제2포토 다이오드가 상기 픽셀 어레이의 각 컬럼별 노출이 같은 시간에 이루어지도록 상기 제1포토 다이오드가 집적한 전하를 저장하며, 상기 제2포토 다이오드는, 차폐된 것이 바람직하다.
상술한 목적, 특징들 및 장점은 첨부된 도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통하여 보다 분명해 질 것이다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조 번호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 번호를 가지도록 하고 있음에 유의하여야 한다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 일실시예를 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명이 적용되는 이미지 센서의 구조도로서, 종래의 이미지 센서의 동작에 대하여 먼저 설명한 후, 본 발명에 대하여 설명하는 것으로 하자.
도면에 도시된 바와 같이, 종래의 CMOS 이미지 센서는, 2차원으로 배열된 다수의 픽셀을 포함하는 픽셀 어레이(pixel array)(110), 로우 디코더(row decoder)(120), 타이밍 제어부(timing controller)(130), 아날로그 신호를 읽어내기(readout) 위한 독출부(140), 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 변환부(analog-digital converter)(150) 및 컬럼 디코더(column decoder)(160)로 구성된다.
픽셀 어레이(110)에는 다수의 픽셀부(111)가 배열되어 있으며, 그 동작에 대해서는 추후 설명하기로 한다. 픽셀 어레이(110)를 중심으로 로우 어드레스(row address)를 지정할 로우 디코더(120)가 한쪽 방향에 배치되고, 이와는 직각의 위치에 픽셀부의 데이터 출력이 연결되며, 픽셀들의 컬럼 어드레스(column address)를 지정할 컬럼 디코더(160)가 배치된다.
구체적으로 이미지 센서로부터 데이터를 추출하는 과정은 다음과 같다. 로우 디코더(120)에서 첫 번째 로우를 선택한 다음, 컬럼 디코더(170)에서 선택된 첫번 째 로우의 각각의 픽셀에 대한 데이터를 추출한 후, 각각의 픽셀의 데이터를 증폭한다. 또한, 로우 디코더(120)에서 두 번째 로우를 선택한 다음, 컬럼 디코더(160)에서 선택된 두 번째 로우의 각각의 픽셀에 대한 데이터를 추출한 후 각각의 픽셀의 데이터를 증폭한다. 이와 같은 방법에 의해 전체 픽셀 어레이(110)의 데이터를 추출할 수 있다.
도 2는 종래의 CMOS 이미지 센서의 픽셀부의 구조도로서, 4-T(transistor) 방식을 설명한 것이며, 도 3은 도 2의 동작 타이밍도를 나타낸 것이다.
도면에 도시된 바와 같이, 각 픽셀부는 하나의 포토 다이오드(photo diode)(PD)와 이 PD에 모인 전하를 읽어내기 위한 MOS 트랜지스터(RST, PTG, VS 및 RSEL)로 이루어진다.
이와 같은 구조의 픽셀부에서, RST는 VS 노드('플로팅 확산(floating diffusion)'이라고 함)를 리셋(reset)하는 기능을 담당하는 것이다. PTG가 열리면 집적(integration)된 전하(charge)가 VS로 넘어와 전압 드랍(drop)을 발생시키고, 소스 팔로우어(source follower)에 의해 그 값이 읽히게 된다.
이때, 각 픽셀부는 저장소가 없으므로 연속적으로 이미지를 읽어내기 위해서는 컬럼별로 빛에 노출을 시키고 즉시 읽어내는 방법을 사용한다. 빛에 포토 다이오드를 노출시키는 시간 및 타이밍은 픽셀에 들어있는 리셋 메커니즘으로 포토 다이오드 내의 전하를 모두 제거하는 시점부터 이를 읽어내는 시점까지 결정된다. 이 타이밍을 도 4에 나타내었다.
도 4는 도 1의 픽셀 어레이에서 프레임 노출시간과 프레임 리드아웃 시간을 상대적으로 나타낸 타이밍도이다.
도면에 도시된 바와 같이, 빛에 포토 다이오드를 노출시키는 시간은 픽셀에 들어있는 리셋 메커니즘으로 포토 다이오드 내의 전하를 모두 제거하는 시점부터 이를 읽어내는 시점까지로 결정되는 것이다.
그러나, 이와 같은 롤링-셔터 기법은, 로우별로 노출되는 시간이 달라 왜곡이 발생하는 문제점이 있다.
이에 본 발명은 추가적인 포토 다이오드를 저장용으로 사용하여 픽셀별로 빛에 노출되는 시간을 동일하게 함으로써 왜곡을 없애고자 하는 것이다.
도 5는 본 발명에 따른 CMOS 이미지 센서의 동작을 설명하기 위한 일실시예 개념도이다.
도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따르면 각 컬럼별 노출이 같은 시간에 이루어지므로 이미지의 왜곡이 일어나지 않는다. 이런 구조를 위해서는 각 픽셀별로 노출 후에 모인 전하를 저장해 둘 저장소가 필요한데, 본 발명에서는 이 저장소를 포토 다이오드로 하는 것으로 한다.
도 6은 본 발명에 따른 CMOS 이미지 센서의 픽셀부의 일실시예 구조도이고, 도 7은 도 6의 동작 타이밍도이다.
도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 픽셀부는, 종래의 4개의 MOS 트랜지스 터(RST, PTG, VS 및 RSEL)에 더하여 2개의 MOS 트랜지스터(RST′, PTG′)와, 종래의 포토 다이오드(PD1)에 더하여, 전하를 저장하기 위한 PD2를 포함하여 구성된다.
RST 및 RST′는 각각 PD1 및 PD2의 전위를 리셋하는 기능을 담당하며, PTG 및 PTG′는 각각 PD1 및 PD2에 충전된 전자를 플로팅 확산 영역으로 전송하는 기능을 담당한다. VS는 플로팅 확산 영역의 전극 전압 변화에 따라 소스 팔로우어 회로의 전류를 변화시켜 단위 픽셀부의 출력 전압을 바꾸는 기능을 담당하며, RSEL은 플로팅 확산 영역의 전압 변화에 따라 발생된 단위 픽셀의 출력 전압을 출력하는 기능을 담당하게 된다.
본 발명의 PD2는 스스로 전하의 집적(integration)에 기여하는 것이 아닌, PD1이 집적한 것을 저장하는 것이다.
도 7을 참조로 하면, 도 3의 타이밍도와 동일하며, RST′, PTG′에서 집적 시간 및 리드아웃 딜레이(readout delay)가 있을 뿐이다.
도 8은 본 발명의 동작을 간단하게 설명하기 위한 일실시예 개념도이며, 도 9는 도 8의 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
PD1은 빛에 노출시켜 전하를 모으기 위한 포토 디텍터(photo detector)로서의 포토 다이오드이고, PD2는 빛에 노출되지 않도록 차폐(shielding)되어 있고, PD1이 모은 전하를 임시로 저장해 두기 위한 저장소의 기능을 담당하는 것이다.
한편 SW1과 SW2는 각 포토 다이오드를 리셋 시키기 위한 스위치로서, 각각 도 6의 RST′ 및 RST를 간단히 구현한 것이며, SW3은 PD1의 전하를 PD2로 넘기기 위한 스위치이고, SW4는 PD2의 전하를 읽어 내기 위한 스위치로서, 각각 도 6의 PTG′ 및 PTG를 간단히 구현한 것이다.
도 5의 한 행을 택하여 이를 도 9라 하고, 이를 참조하여 도 8의 동작을 설명하기로 하자.
t1에서는 SW1이 모두 닫혔다가 열려 PD1를 모두 리셋한다. t2에서는 먼저 SW2가 잠시 닫혔다가 열려서 PD2를 리셋한 후, SW3가 잠시 닫혔다가 열려 PD1의 전하가 PD2로 전달된다.
t3에서는 PD1이 다시 전하를 모으기 시작하는 타이밍으로 다시 SW1이 닫혔다가 열린다. t4는 리드아웃의 시작점으로, SW4가 닫힌다. t5는 리드아웃의 종료점으로 SW4가 열린다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
상기한 바와 같은 본 발명은, 본 발명에 따르면 각 컬럼별 노출이 같은 시간에 이루어지므로 이미지의 왜곡이 일어나지 않도록 하는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 CCD에 비해 단점으로 지적되는 CMOS 이미지 센서의 롤링-셔 터 왜곡 현상을 제거하므로, CMOS 이미지 센서가 CCD에 대한 비교우위를 점하는데 기여할 수 있도록 하는 효과가 있다.

Claims (3)

  1. CMOS 이미지 센서의 픽셀 어레이를 구성하는 픽셀부에 있어서,
    빛에 노출시켜 전하를 집적하기 위한 제1포토 다이오드; 및
    상기 제1포토 다이오드가 집적한 전하를 임시로 저장하기 위한 제2포토 다이오드를 포함하는 CMOS 이미지 센서의 픽셀부.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제2포토 다이오드가 상기 픽셀 어레이의 각 컬럼별 노출이 같은 시간에 이루어지도록 상기 제1포토 다이오드가 집적한 전하를 저장하는 CMOS 이미지 센서의 픽셀부.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제2포토 다이오드는, 차폐된 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 픽셀부.
KR1020050130457A 2005-12-27 2005-12-27 저장용 포토 다이오드를 이용한 cmos 이미지 센서의픽셀부 KR100752405B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050130457A KR100752405B1 (ko) 2005-12-27 2005-12-27 저장용 포토 다이오드를 이용한 cmos 이미지 센서의픽셀부

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050130457A KR100752405B1 (ko) 2005-12-27 2005-12-27 저장용 포토 다이오드를 이용한 cmos 이미지 센서의픽셀부

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070068624A true KR20070068624A (ko) 2007-07-02
KR100752405B1 KR100752405B1 (ko) 2007-08-28

Family

ID=38504503

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050130457A KR100752405B1 (ko) 2005-12-27 2005-12-27 저장용 포토 다이오드를 이용한 cmos 이미지 센서의픽셀부

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100752405B1 (ko)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010061311A (ko) * 1999-12-28 2001-07-07 박종섭 바이폴라트랜지스터를 이용한 이미지센서의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR100752405B1 (ko) 2007-08-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101945051B1 (ko) 전자 기기 및 전자 기기의 구동 방법
US9343500B2 (en) Solid-state imaging device, driving method thereof, and electronic device
US6380880B1 (en) Digital pixel sensor with integrated charge transfer amplifier
JP4194544B2 (ja) 固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法
TWI422221B (zh) 固體攝像裝置、固體攝像裝置之驅動方法及攝像裝置
US7326904B2 (en) In-pixel kTC noise suppression using circuit techniques
US8582011B2 (en) Simultaneous global shutter and correlated double sampling read out in multiple photosensor pixels
US20060158541A1 (en) Solid State Image Pickup Apparatus, Camera and Driving Method of Solid State Image Pickup Apparatus
JP4423112B2 (ja) 固体撮像装置および撮像システム
JP6120091B2 (ja) 固体撮像素子および駆動方法、並びに電子機器
EP1741287A1 (en) Low noise sample and hold circuit
JP2014060573A (ja) 固体撮像素子、制御方法、および電子機器
TW200838288A (en) Image sensors with output noise reduction mechanisms
JP3937716B2 (ja) 固体撮像装置及び撮像システム
US20170048469A1 (en) Imaging apparatus comprising 3d stacked global shutter
JP2005065184A (ja) 固体撮像装置及びその駆動方法、並びにそれを用いたビデオカメラ及びスチルカメラ
JP4761491B2 (ja) 固体撮像装置及びそれを用いた撮像システム
US20040239781A1 (en) Image capture apparatus
JP2001024948A (ja) 固体撮像装置及びそれを用いた撮像システム
US6697108B1 (en) Fast frame readout architecture for array sensors with integrated correlated double sampling system
JP4336508B2 (ja) 撮像装置
KR100752405B1 (ko) 저장용 포토 다이오드를 이용한 cmos 이미지 센서의픽셀부
JP2007143067A (ja) 撮像装置及び撮像システム
JP2006222762A (ja) 撮像装置
CN114268752A (zh) 利用多转移的图像传感器以及该图像传感器的操作方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120731

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130814

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140814

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150813

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160822

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170816

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee