KR20070021489A - Ｕｖ 조사를 이용한 실런트 경화방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 보다 효과적으로 실런트를 UV 경화시킬 수 있는 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법을 개시한다. 개시된 본 발명의 방법은 ODF(One Drop Fill) 기술을 적용한 액정표시장치의 제조시 제1유리기판과 제2유리기판을 상기 기판들 중 어느 하나의 기판에 도포한 실런트를 매개로 열압착시킨 후, 상기 열압착된 기판을 일정 방향으로 이동시키면서 상기 기판 상면 상부에 배치된 램프 하우징에 의해 둘러쌓인 UV 램프로부터 UV를 조사하여 상기 실런트를 경화시키는 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법으로서, 상기 열압착된 기판들의 저면 아래에 상기 UV 램프 및 램프 하우징으로부터 기판에 분산되어 조사된 빛을 기판의 특정 영역으로 집중되게 반사시키는 반사판을 설치한 상태로 상기 UV를 조사하는 것을 특징으로 한다.

Description

ＵＶ 조사를 이용한 실런트 경화방법{Method for curing sealant using ＵＶ irradiation}
도 1 및 도 2는 종래의 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법을 설명하기 위한 사시도 및 단면도.
도 3 및 도 4는 본 발명에 따른 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법을 설명하기 위한 사시도 및 단면도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 램프 하우징 2 : UV 램프
3 : UV 조사 영역 4 : 기판
5 : 기판 진행방향 6 : 반사판
7 : 반사된 UV 조사 영역
본 발명은 액정표시장치의 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는, ODF (One Drop Fill) 기술을 적용한 액정표시장치 제조시의 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법에 관한 것이다.
액정표시장치(Liquid Crystal Display)는 경량, 박형 및 저소비 전력 등의 특성을 갖는 것으로 인해 CRT를 대신하여 각종 정보기기의 단말기 또는 비디오 기기 등에 사용되고 있다. 특히, 각 화소마다 스위칭소자로서 박막트랜지스터(Thin Film Transistor)가 구비되는 소위 박막트랜지스터 액정표시장치는 CRT에 필적할만한 표시화면의 고화질화 및 대형화를 실현하였기에, 노트북 PC 및 모니터 시장에서 크게 각광 받고 있으며, 향후 TV 시장도 잠식할 것으로 예상되고 있다.
이러한 액정표시장치는 전형적으로 각종 금속라인들을 포함만 박막트랜지스터 및 화소전극이 형성된 하부기판(=박막트랜지스터 어레이 기판)과 공통전극 및 컬러필터가 형성된 상부기판(=컬러필터 기판)이 액정층의 개재하에 합착된 구조를 갖는다.
여기서, 상기 기판들간의 합착은 상기 기판들 중에서 어느 하나의 기판, 예컨데, 하부기판의 가장자리에 실런트(sealant)를 도포한 상태로 기판들간을 열압착시키고, 그리고나서, 상기 실런트를 경화시키는 것에 의해 이루어진다. 이때, 상기 실런트의 경화는 실런트에 UV를 조사하는 방식을 주로 이용하여 수행한다. 특별히, 상기 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법은 최근의 액정 적하주입(One Drop Fill)을 이용한 액정표시장치의 제조시 필수적으로 이용되고 있다.
도 1 및 도 2는 종래의 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법을 설명하기 위한 사시도 및 단면도로서, 여기서, 도면부호 1은 램프 하우징(housing)을, 2는 UV 램프를, 3은 UV 조사 면적을, 4는 기판을, 그리고, 5는 기판 진행방향을 각각 나타낸다.
도시된 바와 같이, UV 램프(2)로부터 나온 빛은 직접 또는 램프 하우징(1)에 의해 반사되어 실런트(도시안됨)를 매개로 열압착된 상태로 일정 방향을 따라 진행하는 기판(4)에 조사된다. 이때, 상기 UV 램프(2)로부터 나온 빛은 상당히 넓은 기판 면적을 조사하게 된다.
그런데, 종래의 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법에 따르면, UV 램프로부터 나온 빛의 경로가 분산되는 바, 상당히 넓은 면적이 조사됨으로써 실질적으로 충분한 UV 조사가 이루어지지 못하며, 이에 따라, UV 경화 후에 실런트의 흘러내림이 일어나 화소 오염이 발생됨은 물론 실런트에 의한 기판들간 합착미흡에 의해 액정 유출의 문제가 발생될 수 있다.
한편, 상당히 넓은 면적을 조사하면서 충분한 UV 조사가 이루어지도록 하기 위해서는 충분한 시간 동안 UV 조사를 진행하면 되겠지만, 이 경우에는 전체 실런트의 경화에 상당히 많은 시간이 요구되는 바, 생산성 측면에서 바람직하지 못하다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 실런트에의 UV 조사가 빠른 시간내에 충분히 이루어지도록 할 수 있는 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법을 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 실런트에의 UV 조사가 빠른 시간내에 충분히 이루어지도록 함으로써, 실런트의 경화 불량에 기인하는 결함 발생을 방지할 수 있는 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법을 제공함에 그 다른 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법은, ODF 기술을 적용한 액정표시장치의 제조시 제1유리기판과 제2유리기판을 상기 기판들 중 어느 하나의 기판에 도포한 실런트를 매개로 열압착시킨 후, 상기 열압착된 기판을 일정 방향으로 이동시키면서 상기 기판 상면 상부에 배치된 램프 하우징에 의해 둘러쌓인 UV 램프로부터 UV를 조사하여 상기 실런트를 경화시키는 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법으로서, 상기 열압착된 기판들의 저면 아래에 상기 UV 램프 및 램프 하우징으로부터 기판에 분산되어 조사된 빛을 기판의 특정 영역으로 집중되게 반사시키는 반사판을 설치한 상태로 상기 UV를 조사하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 반사판은 상기 램프 하우징과 반대 형상의 오목 거울 구조를 갖는 것을 특징으로 한다.
(실시예)
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명하도록 한다.
도 3 및 도 4는 본 발명에 따른 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법을 설명하기 위한 사시도 및 단면도이다. 여기서, 도 1 및 도 2와 동일한 부분은 동일한 도면부호로 나타낸다.
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법은 기판(4)의 상면 상부에 배치시킨 UV 램프(2)로부터 실런트(도시안됨)에 UV를 조사함 에 있어서 상기 기판(4)의 저면 아래에 특정 영역으로 빛을 집중시켜 반사시키는 반사판(6)을 배치시킨 상태로 상기 실런트에의 UV 조사를 진행한다. 도면부호 7은 반사된 UV 조사 영역을 나타낸다.
보다 자세하게, 본 발명은 ODF 기술을 적용한 액정표시장치 제조 공정에서의 실런트 경화방법에 관한 것으로, 우선, 박막트랜지스터 어레이가 형성된 제1유리기판과 컬러필터가 형성된 제2유리기판을 어느 하나의 기판, 예컨데, 제1유리기판에 도포한 실런트(도시안됨)를 매개로 열압착시킨 후, 도시된 바와 같이, 상기 열압착된 기판(4)을 일정 방향(5)을 따라 이동시키면서 상기 기판(4)의 상면 상부에 배치시킨 램프 하우징(1)에 의해 둘러쌓인 UV 램프(2)로부터 상기 실런트에 UV를 조사하되, 상기 열압착된 기판(4)의 저면 아래에 반사판(6)을 배치시킨 상태로 상기 UV 조사를 진행한다.
이렇게 하면, 상기 UV 램프(2) 및 램프 하우징(1)으로부터 기판(4)의 넓은 면적에 걸쳐 분산되어 조사된 빛은 실런트를 포함하여 기판(4)을 통과한 후, 반사판(6)에 도달하게 되며, 상기 반사판(6)에 도달된 빛은, 도시된 바와 같이, 반사되어 기판(4)의 특정 영역으로 집중하게 된다.
따라서, 본 발명의 경우는 상당히 넓은 기판 면적에 걸쳐 1차로 실런트에의 UV 조사가 이루어진 후, 반사판(6)으로부터 반사된 UV에 의해 1차 UV 조사가 진행된 면적에서의 특정 영역에 있는 실런트 부분에 2차로 다시 UV 조사가 이루어지는 바, 결과적으로 실런트를 보다 효과적으로 경화시킬 수 있게 된다. 특별히, 본 발명은 경화를 필요로 하는 영역으로 UV를 집중시켜 실런트의 경화를 진행하게 되므 로, 집중된 UV의 세기 증가를 통해 공정시간을 현저히 단축시킬 수 있다.
이상에서와 같이, 본 발명은 기판의 저면 아래에 반사판을 배치시킨 상태로 실런트에의 UV 조사를 행함으로써 실런트에의 UV 조사가 빠른 시간내에 충분히 이루어지도록 할 수 있음은 물론 상기 실런트의 경화가 효과적으로 이루어지도록 할 수 있다.
따라서, 본 발명은 실런트에의 충분한 UV 조사가 빠른 시간내에 진행될 수 있도록 하는 것과 관련해서 공정 시간을 감소시켜 생산성을 향상시킬 수 있으며, 또한, 실런트의 경화 불량을 방지함으로써 액정표시장치의 신뢰성 및 수율을 향상시킬 수 있다.
이상, 여기에서는 본 발명의 특정 실시예에 대하여 설명하고 도시하였지만, 당업자에 의하여 이에 대한 수정과 변형을 할 수 있다. 따라서, 이하, 특허청구의 범위는 본 발명의 진정한 사상과 범위에 속하는 한 모든 수정과 변형을 포함하는 것으로 이해할 수 있다.

Claims (2)

  1. ODF 기술을 적용한 액정표시장치의 제조시 제1유리기판과 제2유리기판을 상기 기판들 중 어느 하나의 기판에 도포한 실런트를 매개로 열압착시킨 후, 상기 열압착된 기판을 일정 방향으로 이동시키면서 상기 기판 상면 상부에 배치된 램프 하우징에 의해 둘러쌓인 UV 램프로부터 UV를 조사하여 상기 실런트를 경화시키는 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법으로서,
    상기 열압착된 기판들의 저면 아래에 상기 UV 램프 및 램프 하우징으로부터 기판에 분산되어 조사된 빛을 기판의 특정 영역으로 집중되게 반사시키는 반사판을 설치한 상태로 상기 UV를 조사하는 것을 특징으로 하는 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 반사판은 상기 램프 하우징과 반대 형상의 오목 거울 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 UV 조사를 이용한 실런트 경화방법.
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