KR20070015391A - 광제어 필름 및 그것을 사용한 백라이트 장치 - Google Patents

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Abstract

정면휘도의 향상을 도모할 수 있음과 동시에, 적당한 광확산성을 갖추어, 간섭형상 패턴이나 번쩍임의 문제가 없는 광제어 필름을 제공한다.
요철면을 갖는 광제어 필름(10)이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 면적 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서, 27도 이상 70도 이하가 되도록 구성한다.
정면휘도, 광확산성, 광제어 필름, 요철면

Description

광제어 필름 및 그것을 사용한 백라이트 장치{Light control film and backlight device using it}
본 발명은, 액정 디스플레이 등의 백라이트 장치 등에 사용하는 광제어 필름, 및 그것을 사용한 백라이트 장치에 관한 것이다.
종래부터 액정 디스플레이 등에는, 에지라이트형(edge light) 또는 직하형의 백라이트 장치가 사용되고 있다. 에지라이트형의 백라이트 장치는, 백라이트 그 자체의 두께를 얇게 할 수 있기 때문에 노트북 등에 사용되고 있고, 직하형의 백라이트 장치는, 대형 액정 TV 등에 사용되고 있는 경우가 많다.
이들 종래의 백라이트 장치에 있어서는, 정면에서 기울어 출사하는 빛의 성분이 존재한다. 특히, 에지라이트형의 백라이트 장치에 있어서는, 정면에서 크게 기울어 출사하는 빛의 성분이 많아, 높은 정면휘도(輝度)를 얻기 어렵다.
종래의 백라이트 장치에서는 정면휘도를 향상하기 위해서, 프리즘 시트 등의 광학 필름이나 광확산 필름을 여러장 조합(組合)시켜 사용하고, 출사광을 정면에 세워 놓고 있다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).
일반적으로, 프리즘 시트는, 기하 광학에 근거한 표면 설계에 의해서 정면(필름면과 직교하는 면)에 출사하는 빛의 비율을 많게 할 수 있지만, 규칙적으로 배열되는 볼록부에 기인해서 간섭형상 패턴이 나타나기 쉽고, 또한, 그것만으로는 번쩍임이 생겨, 보기 어려워진다고 하는 결점이 있다. 또한, 정면에 빛을 너무 모으는 결과, 시야각(視野角)을 넓게 할 수 없다.
한편, 확산 필름 단독으로 사용했을 경우에는, 상기 문제는 생기지 않기는 하지만, 정면휘도가 불충분하다.
특허 문헌 1에 기재된 기술에서는 프리즘 시트와 광확산 필름이 병용되고 있지만, 광확산 필름을 사용함으로써, 프리즘 시트에 의해 높일 수 있었던 정면휘도는 저하되어 버린다. 또한, 필름을 적층(積層)함으로써 각 부재간에 뉴턴링이 발생하거나, 경우에 따라서는, 부재끼리의 접촉에 의한 흠집 등이 발생하기도 할 수 있다.
[특허 문헌 1] 일본국 특허공개 제(평)9-127314호 공보(청구항 1, 단락번호 0034)
발명의 개시
발명이 해결하고자 하는 과제
따라서, 본 발명은, 단독으로 또는 프리즘 시트와의 병용으로, 확실히 정면휘도의 향상을 도모할 수 있음과 동시에, 적당한 광확산성을 갖추어, 간섭형상 패턴이나 번쩍임의 문제가 없는 광제어 필름, 및 그것을 사용한 백라이트 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
과제를 해결하기 위한 수단
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명자는 광제어 필름의 표면 형상에 대해서, 요철 형상, 필름면(기준면)에 대한 경사, 요철 높이, 피치 등의 표면 형상을 규정하는 여러 가지의 요소에 대해 예의(銳意) 연구를 실시한 결과, 요철면을 구성하는 곡면의, 기준면에 대한 경사를 적절히 제어함으로써, 필름에 입사한 빛을 효율적으로 필름의 정면 방향(출사 방향)에 세워 놓으므로써, 정면휘도를 향상시킬 수 있는 것을 발견하였다.
보다 구체적으로는, 본 발명의 제1~제4의 양태(樣態)에서는, 기준면(요철이 형성된 면과 반대쪽 면)에 대한 요철면 위의 곡면의 경사(이하, 이것을 곡면의 경사라고 한다)를, 특정의 면적 이상(1 ㎟ 이상)에 걸쳐서 평균화했을 때의 곡면의 경사의 평균(θnv(도))이 소정의 범위에 있을 때, 우수한 정면휘도를 달성할 수 있는 것을 발견하였다.
또한, 곡면의 경사의 평균(θnv(도))을 요철면의 경사의 지표로 해서, 요철면 위의 거의 정방형 영역의 면적(요철면의 정사영(正射影)의 면적)(A1)과 요철면을 구성하는 곡면의 표면적(A2)과의 비(Ar=A2/A1)를 요철의 높이의 지표로 사용함으로써, 정면휘도의 변화와의 상관을 나타내는 특정의 관계식으로 기술할 수 있는 것, 그리고 이 값이 특정의 범위에 있을 때 우수한 정면휘도를 달성할 수 있는 것을 발견하고, 본 발명의 제1~제4의 양태에 이른 것이다.
즉, 본 발명의 제1의 양태의 광제어 필름은, 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 면적 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격 마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사(近似)된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서, 27도 이상 70도 이하인 것을 특징으로 하는 것이다(이하, θnv가 27도 이상 70도 이하가 되는 조건을, 「조건 1」이라고 한다).
또한, 본 발명의 제2의 양태의 광제어 필름은, 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 면적 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격 마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서, (59-20 n)도 이상 70도 이하인 것을 특징으로 하는 것이다(이하, θnv가 (59-20 n)도 이상 70도 이하가 되는 조건을, 「조건 2」라고 한다」.
또한, 본 발명의 제3의 양태의 광제어 필름은, 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 면적 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격 마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)과, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, 실질적으로 전체 지점에서, 다음 식(1) 또는 (2)를 만족하는 것을 특징으로 하는 것이다(이하, 「θnv÷Ar≥22) 또는「30≤θnv×Ar≤140」이 되는 조건을, 「조건 3」이라고 한다).
θnv÷Ar≥22 …(1)
30≤θnv×Ar≤140 …(2)
또한, 본 발명의 제4의 양태의 광제어 필름은, 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 면적 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)과, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, 실질적으로 전체 지점에서, 다음 식(3) 또는 (4)를 만족하는 것을 특징으로 하는 것이다(이하, 「θnv÷Ar×n2≥35」또는「60≤θnv×Ar×n2≤350」이 되는 조건을, 「조건 4」라고 한다」.
θnv÷Ar×n2≥35 …(3)
60≤θnv×Ar×n2≤350 …(4)
또한, 상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명의 제5~제8의 양태에서는, 기준면(요철이 형성된 면과 반대쪽 면)에 대한 요철면 위의 곡면의 경사(이하, 이것을 곡면의 경사라고 한다)를, 특정의 면적 이상(1 ㎟ 이상)에 걸쳐서 평균화했을 때의 곡면의 경사의 평균(θnv(도))이 소정의 범위에 있으며, 또한, 상기 면적에 포함되는 전체 표면 높이 데이터로부터 구할 수 있는, 높이 방향의 확률 밀도 함수의 비대칭성의 척도가 되는 수치Ask[식(5)], 또는, 상기 전체 표면 높이 데이터로부터 구할 수 있는 확률 밀도 함수의 높이 방향의 날카로움의 척도가 되는 수치 Aku[식(6)]이, 특정의 범위에 있을 때 우수한 정면휘도를 달성할 수 있는 것을 발견하였다.
[수학식 1]
Figure 112006070863598-PCT00001
[식(5) 중, zi는 측정된 표면 높이로부터 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
[수학식 2]
Figure 112006070863598-PCT00002
[식(6) 중, zi는 측정된 표면 높이로부터 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
즉, 본 발명의 제5의 양태의 광제어 필름은, 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, 27도 이상 70도 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 상기 식(5)에 의해 산출되는 수치(Ask)의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 것이다(이하, θnv가 27도 이상 70도 이하가 되고, Ask의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 「조건 5」라고 한다).
또한, 본 발명의 제6의 양태의 광제어 필름은, 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 전기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, (59-20 n)도 이상 70도 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 상기 식(5)에 의해 산출되는 수치(Ask)의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 것이다(이하, θnv가 (59-20 n)도 이상 70도 이하가 되고, Ask의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 「조건 6」이라고 한다).
또한, 본 발명의 제7의 양태의 광제어 필름은, 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, 27도 이상 70도 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 상기 식(6)에 의해 산출되는 수치(Aku)가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 것이다(이하, θnv가 27도 이상 70도 이하가 되어, Aku가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 조건을, 「조건 7」이라고 한다).　
또한, 본 발명의 제8의 양태의 광제어 필름은, 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, (59-20 n)도 이상 70도 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 상기 식(6)에 의해 산출되는 수치(Aku)가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 것이다(이하, θnv가 (59-20 n)도 이상 70도 이하가 되고, Aku가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 조건을, 「조건 8」이라고 한다).
또한, 상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명의 제9~제12의 양태는, 요철면을 구성하는 곡면의 표면적(A2)과 요철면 위의 거의 정방형 영역의 면적(요철면의 정사영의 면적)(A1)의 비(Ar=A2/A1, 이하 표면적비라고 한다)가 소정의 범위에 있으며, 또한, 상기 면적(A1)에 포함되는 전체 표면 높이 데이터로부터 구할 수 있는, 높이 방향의 확률 밀도 함수의 비대칭성의 척도가 되는 수치 Ask[식(5)], 또는, 상기 모든 표면 높이 데이터로부터 구할 수 있는 확률 밀도 함수의 높이 방향의 날카로움의 척도가 되는 수치 Aku[식(6)]이, 특정의 범위에 있을 때 우수한 정면휘도를 달성할 수 있는 것을 발견하였다.
[수학식 3]
Figure 112006070863598-PCT00003
[식(5) 중, zi는 측정된 표면 높이로부터 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
[수학식 4]
Figure 112006070863598-PCT00004
[식(6) 중, zi는 측정된 표면 높이로부터 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
즉, 본 발명의 제9의 양태의 광제어 필름은, 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, 1.2 이상 2.5 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 상기 식(5)에 의해 산출되는 수치(Ask)의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 것이다((이하, Ar이 1.2 이상 2.5 이하가 되고, Ask의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 「조건 9」라고 한다).
또한, 본 발명의 제10의 양태의 광제어 필름은, 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, (2-0.5 n) 이상 2.5 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 상기 식(5)에 의해 산출되는 수치(Ask)의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 것이다((이하, Ar이 (2-0.5 n) 이상 2.5 이하가 되고, Ask의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 「조건 10」이라고 한다).
또한, 본 발명의 제11의 양태의 광제어 필름은, 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, 1.2 이상 2.5 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 상기 식(6)에 의해 산출되는 수치(Aku)가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 것이다((이하, Ar이 1.2 이상 2.5 이하가 되고, Aku가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 조건을, 「조건 11」이라고 한다).
또한, 본 발명의 제12의 양태의 광제어 필름은, 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, (2-0.5 n) 이상 2.5 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 상기 식(6)에 의해 산출되는 수치(Aku)가 1.5 이상 5.0 이하인 것을 특징으로 하는 것이다((이하, Ar이 (2-0.5 n) 이상 2.5 이하가 되고, Aku가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 조건을, 「조건 12」라고 한다).
본 발명의 제1~제12의 양태에 있어서, 요철면 위의 거의 정방형 영역의 면적이란, 요철면의 정사영의 면적을 말한다.
본 발명의 제1~제12의 양태에 있어서, 필름의 기준면이란, 필름을 거의 평면으로 보았을 때의 그 평면을 의미하며, 본 발명의 광제어 필름의 요철이 형성되는 면과 반대쪽 면이 평활한 경우에는 그 면을 기준면으로 볼 수 있다. 또한, 반대쪽 면이 평활하지 않고 요철면인 경우에는, 그 상이한 2 방향의 중심선을 포함한 면을 기준면으로 볼 수 있다.
본 발명의 제1~제8의 양태에서는, 곡면의 경사의 평균(θnv(도))을 사용하지만, 일반적으로, 상기 기준면에 대한, 요철면을 구성하는 곡면의 경사의 평균(Ｃｆｃ)은, 요철면의 곡면을 일반적인 함수 z=f(x, y)로 나타낼 수 있으면, 상기 평균을 구하는 영역을 D로 하면 다음 식(7)로 나타낼 수 있다.
[수학식 5]
Figure 112006070863598-PCT00005
또한, 이 경사를 각도 표시한 곡면의 경사의 평균(θfc(도))는, 다음 식(8)로 나타낼 수 있다.
[수학식 6]
　
Figure 112006070863598-PCT00006
그러나 제품 설계로서 이와 같은 함수를 사용하는 것은 가능하지만, 실제의 제품에 대해 요철면을 일반적인 함수로 기술하는 것은 거의 불가능하며, 또한, 곡면의 경사의 평균(θfc(도))을 얻을 수도 없다. 따라서, 본 발명의 제1~제8의 양태에서는 다음과 같이 하여 구한 값을, 곡면의 경사의 평균(θnv(도))으로서 정의한다.
우선, 표면 형상 측정 장치를 사용하여, 요철면 위의 임의의 지점에서, 특정의 면적 이상(1 ㎟ 이상)의 거의 정방형 영역에 대해서, 세로 및 가로 방향에 각각 기준면 위의 소정의 간격(△dL, △dH)으로 격자 형상으로 분할한 위치의 표면 높이 데이터를 측정한다. 측정된 기준면 위의 상기 거의 정방형의 영역의 표면 높이 데이터가 세로 방향에 r점, 가로 방향에 s점이 있었을 경우, 그들의 높이 데이터는, 전부(r×s) 점의 데이터가 되며, 각 데이터점은,｛(H11,H12,H13,…,H1s）,（H21,H22,H23,…,H2s）,…, （Hr1,Hr2,Hr3,…,Hrs）｝로 표시할 수 있다. 또한, 세로 및 가로 방향의 측정점 수인 r 및 s는, 거의 정방형이면, r=s여도, r≠s여도 된다. 또한, 세로 및 가로 방향의 측정 간격에 대해서도, △dL=△dH여도, △dL≠△dH여도 된다.
여기서, 가로 세로 각각 △dL, △dH 길이를 갖는 기준면 위의 단위 격자에 1개의 대각선을 긋고, 2개의 삼각형으로 분할한다. 기준면 위의 이 2개의 삼각형의 3개의 정점(頂點)의 위치에 있어서의 높이 데이터로부터, 기준면 위의 삼각형에 대해서, 각각「1개의 삼각형 형상의 평면(이하, 미소(微小)한 삼각형 형상의 평면이라고 한다)」이 일의적(一義的)으로 정해져, 이 미소한 삼각형 형상의 평면의 법선(法線)과 기준면의 법선의 이루는 각을 계산에 의해 구함으로써, 이 미소한 삼각형 형상의 평면의 기준면에 대한 경사를 얻을 수 있다. 여기서, △dL 및 △dH가 충분히 작으면, 이 미소한 삼각형 형상의 평면은, 요철면을 구성하는 곡면을 평면에서 근사하다고 볼 수 있다. 따라서, 높이 데이터를 측정한 거의 정방형내의 전체 단위격자에 이 방법을 적용하여, 요철면을 구성하는 곡면을 미소한 삼각형 형상의 평면에서 근사하며, 이 미소한 삼각형 형상의 평면의 경사를 구하여, 이것을 평균함으로써, 곡면의 경사의 평균(θnv(도))을 얻을 수 있다.
상술한 측정 간격(△dL 및 △dH)의 길이는, 측정 영역에 포함되는 요철면의 형상을 충분히 올바르게 반영할 수 있는 정도의 길이이며, 구체적으로는 둘 다 1.0 ㎛ 이하 정도의 간격이다.
한편, 본 발명의 제3~제4의 양태 및 제9~제12의 양태에서는, 요철면을 구성하는 곡면의 표면적(A2)을 사용하지만, 일반적으로, 요철면을 구성하는 곡면의 표면적(A2)은, 요철면의 곡면을 일반적인 함수 z=f(x, y)로 나타낼 수 있으면, 상기 평균을 구하는 영역을 D로 하면 다음 식(9)로 나타낼 수 있다.
[수학식 7]
Figure 112006070863598-PCT00007
그러나 제품 설계로서 이와 같은 함수를 사용하는 것은 가능하지만, 실제의 제품에 대해 요철면을 일반적인 함수로 기술하는 것은 거의 불가능하며, 따라서, 표면적(A2)을 얻을 수도 없다. 따라서, 본 발명의 제3~제4의 양태 및 제9~제12의 양태에서는 다음과 같이 하여 구한 값을, 곡면의 표면적(A2)로서 정의한다.
우선, 표면 형상 측정 장치를 사용하여, 요철면 위의 임의의 지점에서, 특정의 면적 이상(1 ㎟ 이상)의 거의 정방형 영역에 대해서, 세로 및 가로 방향에 각각 기준면 위의 소정의 간격(△dL, △dH)으로 격자 형상으로 분할한 위치의 표면 높이 데이터를 측정한다. 측정된 기준면 위의 상기 거의 정방형의 영역의 표면 높이 데이터가 세로 방향에 r점, 가로 방향에 s점에 있었을 경우, 그들의 높이 데이터는, 전부(r×s) 점의 데이터가 되며, 각 데이터점은,｛（H11,H12,H13,…,H1s）,（H21,H22,H23,…,H2s）,…, （Hr1,Hr2,Hr3,…,Hrs）｝로 표시할 수 있다. 또한, 세로 및 가로 방향의 측정점 수인 r 및 s는, 거의 정방형이면, r=s여도, r≠s여도 된다. 또한, 세로 및 가로 방향의 측정 간격에 대해서도, △dL=△dH여도, △dL≠△dH여도 된다.
여기서, 가로 세로 각각 △dL, △dH의 길이를 갖는 기준면 위의 단위격자에 1개의 대각선을 긋고, 2개의 삼각형에 분할한다. 기준면 위의 이 2개의 삼각형의 3개 정점의 위치에 있어서의 높이 데이터로부터, 기준면 위의 삼각형에 대해서, 각각「1개의 삼각형 형상의 평면(이하, 미소한 삼각형 형상의 평면이라고 한다)」이 일의적으로 정해져, 이 미소한 삼각형 형상의 평면의 면적을 계산에 의해 얻을 수 있다. 여기서, △dL 및 △dH가 충분히 작으면, 이 미소한 삼각형 형상의 평면은, 요철면을 구성하는 곡면을 평면에서 근사하다고 볼 수 있다. 따라서, 높이 데이터를 측정한 거의 정방형내의 전체 단위격자에 이 방법을 적용하여, 요철면을 구성하는 곡면을 미소한 삼각형 형상의 평면에서 근사하며, 이 미소한 삼각형 형상의 평면의 면적을 구하여, 이것을 합계함으로써, 곡면 표면적(A2)을 얻을 수 있다.
상술한 측정 간격(△dL 및△dH)의 길이는, 측정 영역에 포함되는 요철면의 형상을 충분히 올바르게 반영할 수 있는 정도의 길이며, 구체적으로는 둘 다 1. 0 ㎛ 이하 정도의 간격이다.
또한, 본 발명의 제13의 양태의 광제어 필름은, 상술해 온 제1~제12의 양태의 광제어 필름에 있어서, 요철면 상의 곡면의 법선을 기준면에 투영했을 경우의 정사영과, 거의 정방형 영역의 1개의 변(邊)의 이루는 각도(φ)(-180도<φ≤180도)의 평균(φave)의 절대치가, 거의 정방형 영역을 요철면내의 어떠한 방향으로 설정하여 취득했을 경우여도, 5도 이하인 것을 특징으로 하는 것이다(이하, φave의 평균의 절대치가 5도 이하가 되는 조건을, 「조건 13」이라고 한다). φave가, 거의 정방형 영역을 요철면내의 어떠한 방향으로 설정하여 취득했을 경우에 있어서도 조건 13을 만족하는 것으로, 광제어 필름의 번쩍거림을 보다 한층 방지할 수 있다. 이와 같은 조건 13을 만족하는 광제어 필름으로 하기 위해서는, 요철면을 구성하는 복수의 볼록부가 서로 거의 독립하고 있으며, 또한, 볼록부가 후술하는 도 2-2와 같은 회전체인 것이 바람직하다.
또한, 본 발명의 제14의 양태의 백라이트 장치는, 적어도 일단부에 광원이 배치되며, 상기 일단부에 거의 직교하는 면을 광출사면으로 하는 도광판과, 상기 도광판의 광출사면에 배치되는 광제어 필름을 갖춘 백라이트 장치에 있어서, 상기 광제어 필름으로서 상기 광제어 필름을 사용한 것을 특징으로 하는 것이다. 본 발명의 제15의 양태의 백라이트 장치는, 상기 백라이트 장치의 상기 광제어 필름과 상기 도광판과의 사이에, 프리즘 시트를 사용한 것을 특징으로 하는 것이다.
본 발명의 제16의 양태의 백라이트 장치는, 광원과, 상기 광원의 한쪽에 배치되는 광확산판과, 상기 광확산판의, 상기 광원과는 다른 쪽에 배치되는 광제어 필름을 갖춘 백라이트 장치에 있어서, 상기 광제어 필름으로서, 상기 광제어 필름을 사용한 것을 특징으로 하는 것이다.
발명의 효과
본 발명의 제1~제13의 양태의 광제어 필름은, 특정 형상의 요철면을 갖는 것으로서, 요철면과 반대쪽으로부터 입사되어 요철면쪽에서 출사하는 빛 중, 정면, 특히 출사각 0~30도의 범위의 성분을 증가시킬 수 있어, 통상의 확산 필름보다 훨씬 높은 정면 휘도를 달성할 수 있다. 더구나, 적당한 광확산성도 갖추어, 번쩍임이나 간섭 패턴을 일으키지 않는다.
또한, 본 발명의 제14 및 제15의 양태의 백라이트 장치는, 특정의 광제어 필름을 사용하고 있으므로, 정면휘도가 높고, 더구나 적당한 광확산성을 갖춰 번쩍임이나 간섭 패턴을 일으키지 않는 백라이트 장치이다. 또한, 프리즘 시트와 다른 부재와의 접촉에 의한 프리즘 시트의 흠집의 발생 등을 억제할 수 있다.
발명을 실시하기 위한 최선의 형태
이하, 본 발명의 광제어 필름 및 백라이트 장치에 대해 도면을 참조해 상세하게 설명한다. 또한, 본 발명의 설명에 사용하는 도면에 있어서, 각 요소의 사이즈(두께, 폭, 높이 등)는 설명을 위해서 필요에 따라 확대 또는 축소된 것이며, 실제의 광제어 필름 및 백라이트 장치의 각 요소의 사이즈를 반영한 것은 아니다.
도 1(a)~(c)는, 본 발명의 광제어 필름의 실시 형태를 모식적으로 나타내는 그림이다. 도시하는 바와 같이, 본 발명의 광제어 필름은, 거의 평면형상의 필름의 한쪽 면에 미세한 요철이 형성된 것이며, 그 요철의 형상에 특징을 갖고 있다. 요철은, (a) 및 (b)에 나타내는 바와 같이, 기재(基材)가 되는 필름의 한쪽 면에 형성된 층에 형성되어 있어도 되고, (c)에 나타내는 바와 같이, 요철이 형성된 층만으로 광제어 필름을 구성해도 된다.
본 발명의 광제어 필름은, 요철이 형성된 면과 반대쪽 면에서 입사한 빛이 요철면에서 출사될 때에, 출사광 중 정면에서 소정의 각도 범위내로 향하는 빛의 성분이 보다 많아지도록 빛의 방향을 제어하고, 이것에 의해서 정면휘도를 높임과 동시에 번쩍임을 방지할 수 있는 광확산성을 부여하는 것이다. 요철이 형성된 면과 반대쪽 면은, 전형적으로는 평활면이지만 평활면으로 한정되지 않는다. 예를 들면, 매트화 되어 있거나, 소정의 도트 패턴 등이 형성되고 있어도 된다.
이어서, 상술한 빛의 방향을 제어하기 위한 요철의 형상에 관한 조건에 대해 설명한다.
본 발명에서는, 최초에 도 2-1에 나타내는 바와 같은, xy평면을 기준면으로 하고, 그것과 직교하는 면에 묘출한 임의의 곡선을 z축에 대해 회전한 회전체로 되는 단일의 볼록부 형상(도 2-2)에 대해서, 볼록형상, 높이, 입사광의 입사각 등을 바꾸고, 입사광과 출사광과의 관계를 3 차원 공간내에서 시뮬레이트 하여, 최적인 출사광을 얻을 수 있는 조건을 검토하였다. 그리고, 이 볼록부의 저면(底面)에서, 실제의 백라이트 장치의 도광판에서 출사되는 빛의 분포와 같은 분포를 갖는 빛이 입사했을 경우에 볼록부 쪽에서 출사하는 빛의 분포(출사각 특성)를 계산에 의해 구하였다. 여기서 볼록부의 내부의 굴절률 n은, 일반적인 아크릴계 수지의 굴절률인 1.5로서 계산하였다.
도 3은, 도 2-2에 나타내는 형상의 볼록부에 대해 시뮬레이트 한 결과인 출사광 분포를 나타내는 그래프이다. 도 중, 실선(實線)이 출사광 분포, 점선(点線)이 입사광 분포를 나타낸다. 여기서, 정면휘도가 양호하고, 또한, 어느 정도의 광산란성을 갖추기 위해서는, 정면(0도)에서 ±30도의 범위에 출사되는 빛의 성분이 많은 것이 바람직하다.
이어서 복수의 볼록부가 형성된 요철면에 대해서, 이와 같은 조건의 출사광 특성을 얻기 위한 조건을 찾아내기 위해서, 상술한 볼록부가 복수 존재하는 계에 대해서, 볼록부의 형상 및 높이를 여러 가지로 변경했을 때의 출사광 분포의 변화를 시뮬레이트 하였다. 구체적으로는, 볼록부의 저면적은 일정(一定)으로 하고, 높이를 5~6점 변경하여, 각 높이 마다 곡선 형상을 100점 정도 변경함으로써, 합계 500~600 종류의 볼록부 형상을 정하여, 동일한 볼록부 형상이 평면 위에 복수 존재하는 합계 500~600 종류의 샘플에 대해서, 출사광 분포의 변화를 시뮬레이트 하였다. 그 결과를 도 4의 그래프에 나타낸다. 도 중, 가로축은 곡면의 경사의 평균(θnv), 세로축은 출사광 에너지이며, 그래프내에서 △, □, ○로 나타낸 점 중, △로 나타낸 제1의 그룹(601)은, 각 샘플에 대한 z축에 대해 6도의 범위내의 출사광 에너지(이하, 출사광6이라고 한다)를, □로 나타낸 제2의 그룹(602)는, 각 샘플에 대한 z축에 대해 18도의 범위에 포함되는 출사광 에너지(이하, 출사광18이라고 한다)를, ○ 로 나타낸 제3의 그룹(603)은, 각 샘플에 대한 z축에 대해 30도의 범위에 포함되는 출사광 에너지(이하, 출사광30이라고 한다)를 나타내고 있다.
도 4의 시뮬레이션 결과에서, 곡면의 경사의 평균(θnv)을 27도 이상 70도 이하로, 바람직하게는 27도 이상 65도 이하, 보다 바람직하게는 27도 이상 60도 이하로 함으로써, 출사광30의 비율이 증가하는 것을 알았다.
또한, 도 4의 시뮬레이션 결과에서, 곡면의 경사의 평균(θnv)이 커짐에 따라, 출사광30의 비율이 증가하지만, 어느 정도까지 커지면 오히려 감소하는 경향을 볼 수 있었다. 거기서 출사광30과의 상관이 얻어지는 요철 형상의 종합적인 지표를 검토해 본 결과, 곡면의 경사의 평균(θnv)과, 요철면을 구성하는 곡면의 표면적(A2)의 요철면 위의 거의 정방형 영역의 면적(요철면의 정사영(正射影)의 면적)(A1)에 대한 비(Ar=A2/A1, 이하, 표면적비라고 한다)와의 몫 또는 곱(적(積))을 이용했을 경우에, 출사광30과의 관련을 가장 잘 기술할 수 있는 것을 알 수 있었다. 여기서, A2는 높이 데이터에 의해 얻어진 미소한 삼각형상의 평면의 면적을 합계함으로써 구할 수 있었다.
도 5 및 도 6은, θnv및 Ar의 지표를 사용하여 도 4의 시뮬레이션 데이터를 표시한 그래프이며, 도 5는, 곡면의 경사의 평균(θnv)을 표면적비(Ar)로 나눈 값을 가로축으로 취했을 때의 출사광 에너지의 변화, 도 6은 곡면의 경사의 평균(θnv)에 표면적비(Ar)를 곱한 값을 가로축으로 취했을 때의 출사광 에너지의 변화를 나타내고 있다.
도 5 및 도 6에서, 곡면의 경사의 평균(θnv)을 표면적비(Ar)로 나눈 값(몫)이 22 이상일 때, 곡면의 경사의 평균(θnv)에 표면적비(Ar)를 곱한 값(곱)이 30 이상 140 이하일 때에, 출사각 30도의 범위의 출사광 에너지가 큰폭으로 증가하는 것을 알 수 있었다. 즉, 다음의 조건(식(1) 또는 식(2))을 만족하는 것으로, 정면휘도가 높고 더구나 적당한 확산성을 갖는 광제어 필름이 구성되는 것을 알 수 있다.
θnv÷Ar≥22 …(1)
30≤θnv×Ar≤140 …(2)
또한, 식(1)의, 곡면의 경사의 평균(θnv)을 표면적비(Ar)로 나눈 값은, 보다 바람직하게는 25 이상이며, 식(2)의, 곡면의 경사의 평균(θnv)과 표면적비(Ar)와의 곱은, 보다 바람직하게는 하한(下限)이 35 이상, 상한(上限)이 130 이하이다.
이와 같은 조건은, 실질적으로 전체 위치에서 만족할 필요가 있다. 「실질적으로 전체 위치」란, 특정의 광제어 필름에 대해 복수의 측정 위치에 대해 관찰했을 때에, 관찰한 대부분의 위치에 있어서 만족하고 있으면 된다고 하는 의미이며, 상기 조건을 만족하지 않는 1, 2의 위치를 포함하고 있는 경우도 포함한 의미이다.
그러나 본 발명의 요철면이 만족해야 할 조건을 찾아내기 위한 상기 시뮬레이션에서는, 볼록부가 굴절률 1.5의 재질로 되는 것으로 가정하고 있지만, 본 발명의 광제어 필름의 요철층은, 일반적으로 광학 필름에 사용되는 재료를 채용할 수 있고, 그 굴절률은 1.5로 한정되지 않는다. 굴절률 n을 고려해 일반화하기 위해서, 굴절률을 소정 범위에서 변경하면서, 상기 시뮬레이션을 반복해 실시한 결과, 곡면의 경사의 평균(θnv)은, (59-20 n)도 이상, 70도 이하일 때에 상기 효과를 얻을 수 있는 것을 알 수 있었다.
동일하게, 굴절률 n을 고려해 상기 식(1), (2)를 일반화하면, 다음 식(3), (4) 와 같이 나타낼 수 있다.
θnv÷Ar×n2≥35 …(3)
60≤θnv×Ar×n2≤350 …(4)
또한, 식(3)의 값은, 보다 바람직하게는 40 이상이며, 식(4)의 값은, 보다 바람직하게는 하한이 70 이상, 상한이 340 이하이다. 이와 같이 요철을 구성하는 재료의 굴절률을 고려하고, 요철 형상을 설계함으로써, 보다 정면 방향에의 휘도를 향상할 수 있다.
또한, 상기 시뮬레이션 결과에서, 출사광30과의 상관을 얻을 수 있는 요철 형상의 종합적인 다른 지표를 검토해 본 결과, 곡면의 경사의 평균을 구하는데 사용한 전체 표면 높이 데이터로부터 구할 수 있는, 높이 방향의 확률 밀도 함수의 비대칭성의 척도가 되는 수치 Ask 또는, 상기 전체 표면 높이 데이터로부터 구할 수 있는 확률 밀도 함수의 높이 방향의 날카로움의 척도가 되는 수치 Aku를 이용했을 경우에, 출사광30과의 관련을 가장 잘 기술할 수 있는 것을 알 수 있었다.
도 7 및 도 8은, θnv의 지표를 사용하여 도 4의 시뮬레이션 데이터를 표시한 그래프이며, 둘 다 곡면의 경사의 평균(θnv)을 가로 축으로 취했을 때의 출사광 에너지의 변화를 나타내고 있다. 도 7에 있어서「●」점(704)는, 상기 식(5)에서 나타내는 Ask의 절대치가 1.2 이하가 되는 샘플의 데이터를 나타내고 있다. 도 8에 있어서「●」점(804)는, 상기 식(6)에서 나타내는 Aku가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 샘플의 데이터를 나타내고 있다.
도 7 및 도 8에서, 곡면의 경사의 평균(θnv)이 27도 이상 70도 이하일 때에, 출사각 30도의 범위의 출사광 에너지가 큰폭으로 증가하는 경향을 볼 수 있지만, 곡면의 경사의 평균(θnv)이 이 범위에 있어도 출사광30의 비율이 높아지지 않는 경우(도 7의「○」점(703) 및 도 8의「○」점(803))를 볼 수 있는 것을 알 수 있었다. 그러나, 상기 식(5)에서 나타내는 Ask의 절대치가 1.2 이하가 되는 결과(도 7의「●」점(704))에만 주목하면, 출사광30의 비율이 반드시 높은 것을 알 수 있었다. 또한, 상기 식(6)에서 나타내는 Aku가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 결과(도 6의「●」점(804))에만 주목하면, 출사광30의 비율이 반드시 높은 것을 알 수 있었다.
이 곡면의 경사의 평균(θnv(도))가, 27도 이상 70도 이하, 바람직하게는 27도 이상 65도 이하, 보다 바람직하게는 27도 이상 60도 이하일 때에 있어서, 식(5)에서 나타내는 Ask의 절대치가 1.2 이하, 바람직하게는 1.1 이하에 있을 때, 또한, 식(6)에서 나타내는 Aku가 1.5 이상 5.0 이하, 바람직하게는 1.5 이상 4.5 이하일 때 특히 우수한 효과를 얻을 수 있다.
이와 같은 조건은, 실질적으로 전체 위치에서 만족할 필요가 있다. 「실질적으로 전체 위치」란, 특정의 광제어 필름에 대해 복수의 측정 위치에 대해 관찰했을 때에, 관찰한 대부분의 위치에 있어 만족하고 있으면 된다고 하는 의미이며, 상기 조건을 만족하지 않는 1, 2의 위치를 포함하고 있는 경우도 포함한 의미이다.
그러나 본 발명의 요철면이 만족해야 할 조건을 찾아내기 위한 상기 시뮬레이션에서는, 볼록부가 굴절률 1.5의 재질로 되는 것으로 가정하고 있지만, 본 발명의 광제어 필름의 요철층은, 일반적으로 광학 필름에 사용되는 재료를 채용할 수 있고, 그 굴절률은 1.5로 한정되지 않는다. 굴절률 n을 고려해 일반화했을 경우, 곡면의 경사의 평균(θnv)은, (59-20 n)도 이상, 70도 이하일 때 상기 효과를 얻을 수 있다.
이와 같이 요철층을 구성하는 재료의 굴절률을 고려하여, 요철면의 형상을 설계함으로써, 보다 정면 방향에의 휘도를 향상할 수 있다.
한편, 도 9 및 도 10은, 표면적비(Ar)의 지표를 사용하여 도 4의 시뮬레이션 데이터를 표시한 그래프이며, 둘 다 표면적비(Ar)를 가로 축으로 취했을 때의 출사광 에너지의 변화를 나타내고 있다. 도 9에 있어서「●」점(904)는, 상기 식(5)에서 나타내는 Ask의 절대치가 1.2 이하가 되는 샘플의 데이터를 나타내고 있다. 도 10에 있어서「●」점(1004)는, 상기 식(6)에서 나타내는 Aku가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 샘플의 데이터를 나타내고 있다.
도 9 및 도 10에서, 표면적비(Ar)가 1.2 이상 2.5도 이하일 때에, 출사각 30도의 범위의 출사광 에너지가 큰폭으로 증가하는 경향을 볼 수 있지만, 표면적비(Ar)가 이 범위에 있어도 출사광30이 높아지지 않는 경우(도 9의「○」점(903) 및 도 10의「○」점(1003))를 볼 수 있는 것을 알 수 있었다. 그러나, 상기 식(5)에서 나타내는 Ask의 절대치가 1.2 이하가 되는 결과(도 9의「●」점(904))에만 주목하면, 출사광30의 비율이 반드시 높은 것을 알 수 있었다. 또한, 상기 식(6)에서 나타내는 Aku가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 결과(도 10의「●」점(1004))에만 주목하면, 출사광30의 비율이 반드시 높은 것을 알 수 있었다.
이 표면적비(Ar)가, 1.2 이상 2.5 이하, 바람직하게는 1.3 이상 2.4 이하, 보다 바람직하게는 1.4 이상 2.3 이하일 때에 있어서, 상기 식(5)에서 나타내는 Ask의 절대치가 1.2 이하, 바람직하게는 1.1 이하에 있을 때, 또는 상기 식(6)에서 나타내는 Aku가 1.5 이상 5.0 이하, 바람직하게는 1.5 이상 4.5 이하일 때 특히 우수한 효과를 얻을 수 있다.
이와 같은 조건은, 실질적으로 전체 위치에서 만족할 필요가 있다. 「실질적으로 전체 위치」란, 특정의 광제어 필름에 대해 복수의 측정 위치에 대해 관찰했을 때에, 관찰한 대부분의 위치에 있어서 만족하고 있으면 된다고 하는 의미이며, 상기 조건을 만족하지 않는 1, 2의 위치를 포함하고 있는 경우도 포함한 의미이다.
그러나 본 발명의 요철면이 만족해야 할 조건을 찾아내기 위한 상기 시뮬레이션에서는, 볼록부가 굴절률 1.5의 재질로 되는 것으로 가정하고 있지만, 본 발명의 광제어 필름의 요철층은, 일반적으로 광학 필름에 사용되는 재료를 채용할 수 있고, 그 굴절률은 1.5로 한정되지 않는다. 굴절률 n을 고려하여 일반화했을 경우, 표면적비(Ar)는, (2-0.5 n) 이상, 2.5 이하일 때 상기 효과를 얻을 수 있다.
이와 같이 요철층을 구성하는 재료의 굴절률을 고려하여, 요철면의 형상을 설계함으로써, 보다 정면 방향에의 휘도를 향상할 수 있다.
본 발명의 광제어 필름은, 그 요철면을 상술한 조건을 만족할 수 있도록 설계함으로써, 정면 휘도가 높고, 어느 정도의 확산성을 갖는 것으로 할 수 있다. 이와 같은 특성을 갖는 본 발명의 광제어 필름은, 예를 들어, 에지라이트형의 백라이트 장치의 도광판 위에 직접, 또는 직하형의 백라이트 장치의 광원 위에 광확산재 등을 매개로 하여 배치되어, 그 출사광의 방향을 제어하는 필름으로서 사용된다.
본 발명의 광제어 필름은, 「요철면의 곡면의 경사의 평균(θnv)」또는「표면적비(Ar)」가 상술한 조건 1~12를 만족하는 한, 볼록부의 형상이나 배치는 특별히 한정되지 않는다. 즉, 볼록부 및 오목부가 무작위로 배치되어 있어도 되고, 또한, 볼록부 및 오목부가 규칙적으로 배치되어 있어도 된다. 그러나, 무작위한 배치로 함으로써, 규칙적인 패턴을 갖고 있는 다른 부재와 조합해도, 간섭 패턴의 발생을 용이하게 방지할 수 있다. 개개의 볼록부 및 오목부의 형상은 동일해도 되며 상이해도 되며, 서로 겹쳐지도록 배치해도, 일부 또는 전부의 볼록부 및 오목부를 겹치도록 배치해도 된다. 볼록부의 높이, 오목부의 깊이는 모두 3~100 ㎛ 정도, 볼록부 또는 오목부의 배치 밀도는 10개~20만개/㎟ 정도인 것이 바람직하다. 상기 조건을 만족하는 전형적인 광제어 필름의 요철면을 도11에 나타낸다.
이어서, 상술한 요철면을 갖는 광제어 필름을 제조하기 위한 구체적 구성에 대해 설명한다.
본 발명의 광제어 필름(10)의 기재(11) 및 요철층(12)를 구성하는 재료로서는, 일반적으로 광학 필름에 사용되는 재료를 사용할 수 있다. 구체적으로는, 기재(11)은, 광투과성이 양호한 것이면 특별히 제한되지 않으며, 폴리에틸렌 테레프탈레이트, 폴리부틸렌 테레프탈레이트, 폴리에틸렌 나프탈레이트, 폴리카보네이트, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리스타이렌, 트라이 아세틸셀룰로오스, 아크릴, 폴리염화바이닐 등의 플라스틱 필름 등을 사용할 수 있다.
요철층(12)를 구성하는 재료로서도, 광투과성이 양호한 것이면 특별히 제한되지 않고, 유리, 고분자 수지 등을 사용할 수 있다. 유리로서는, 규산염유리, 인산염유리, 붕산염유리 등의 산화 유리 등을 들 수 있다. 고분자 수지로서는, 폴리에스테르계 수지, 아크릴계 수지, 아크릴 우레탄계 수지, 폴리에스테르 아크릴레이트계 수지, 폴리우레탄 아크릴레이트계 수지, 에폭시 아크릴레이트계 수지, 우레탄계 수지, 에폭시계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 셀룰로오스계 수지, 아세탈계 수지, 바이닐계 수지, 폴리에틸렌계 수지, 폴리스타이렌계 수지, 폴리프로필렌계 수지, 폴리아미드계 수지, 폴리이미드계 수지, 멜라민계 수지, 페놀계 수지, 실리콘계 수지, 불소계 수지 등의 열가소성 수지, 열경화성 수지, 전리 방사선 경화성 수지 등을 들 수 있다.
이들 재료 중, 가공성, 취급성의 관점에서 고분자 수지가 매우 적합하고, 특히 굴절률(JIS K7142：1996)이 1.3~1.7 정도의 것을 사용하는 것이 바람직하다. 요철층을 형성하는 재료로서 굴절률 n이 상기 범위 이외의 것을 사용했을 경우에서도, 조건 1, 3, 5, 7, 9 또는 11을 만족함으로써, 양호한 휘도를 실현할 수 있지만, 이와 같은 범위의 것을 사용함으로써 높은 휘도를 얻을 수 있다. 특히, 재료의 굴절률에 따라, 요철면이 조건 2, 4, 6, 8, 10 또는 12를 만족하도록 함으로써, 보다 더 정면휘도를 향상시킬 수 있다.
요철층(12)에는, 일반적인 광확산성 시트와 같이, 유기 비드나 무기 안료 등의 광확산제를 함유 시켜도 되지만, 필수는 아니다. 본 발명의 광제어 필름에 있어서는, 광확산제를 함유 시키지 않아도 요철면 자체로 어느 정도의 광확산 효과를 발휘할 수 있다. 따라서, 광확산제를 원인으로 다른 부재를 손상시키거나, 광확산제가 벗겨져 떨어져 쓰레기가 발생할 일도 없다.
요철층(12)의 형성 방법으로서는, 예를 들어, 1) 엠보스 롤을 사용한 방법, 2) 에칭 처리, 3) 형(型)에 의한 성형을 채용할 수 있지만, 재현성 좋게 소정의 요철층을 갖는 광제어 필름을 제조할 수 있는 점에서, 형을 사용해 제조하는 방법이 바람직하다. 구체적으로는, 요철면과 상보적(相補的)인 형상으로 되는 형을 제작하여, 해당 형에 고분자 수지 등의 요철층을 구성하는 재료를 주입하여 넣어 경화시킨 후, 형에서 꺼냄으로써 제조할 수 있다. 기재를 사용하는 경우에는, 형에 고분자 수지 등을 주입하여 넣어, 그 위에 투명기재를 중합시킨 후, 고분자 수지 등을 경화시켜, 투명기재 채로 형에서 꺼냄으로써 제조할 수 있다.
형에 요철면과 상보적인 형상을 형성하는 방법으로서는, 특별히 한정되지 않지만, 다음과 같은 방법을 채용할 수 있다. 예를 들어, 레이저 미세 가공 기술에 의해, 특정 형상의 볼록부를 평판 위에 배치 밀도가 예를 들어 수천개/㎟가 되도록 형성하여, 이것을 웅형(雄型)으로서 성형용의 형(자형(雌型))을 제작한다. 특정 형상의 볼록부란, 1개의 볼록부 전체를 그 형상이 올바르게 반영되는 폭(1.0 ㎛ 이하)으로 등간격으로 높이 데이터를 측정한 결과, 해당 볼록부가 조건 1 또는 조건 3을 만족하는 것이다. 또는 소정의 입자경의 입자를 분산시킨 수지를 경화하여 요철층을 갖는 수지판을 제작하고, 이들 요철층의 표면을 표면 측정 장치로 측정하여, 상기 조건에 합치하는 수지판을 선택해, 이것을 웅형으로서 성형용의 형(자형)을 제작한다.
또한, 광제어 필름의 요철면과는 반대쪽 면은 평활해도 되지만, 도광판이나 수지판과 접할 때에 뉴턴 링을 일으키지 않도록 미(微)세매트 처리를 실시하거나, 광투과율을 향상시키기 위해 반사 방지 처리를 실시하여도 된다.
또한, 양호한 정면휘도를 얻기 위해, 광제어 필름의 광학 특성으로서, 헤이즈가 60% 이상, 바람직하게는 70% 이상인 것이 바람직하다. 여기서, 헤이즈란, JIS K7136：2000에 있어서의 헤이즈의 값이며, 헤이즈(%)=[(τ4/τ2)-τ3(τ2/τ1)]×100의 식으로 구할 수 있는 값이다(τ1: 입사광의 광속(光束), τ2: 시험편(試驗片)을 투과 한 전광속, τ3: 장치로 확산한 광속, τ4: 장치 및 시험편으로 확산한 광속).
광제어 필름 전체의 두께는 특별히 제한되지는 않지만, 통상 20~300 ㎛ 정도이다.
이상의 설명한 본 발명의 광제어 필름은, 주로, 액정 디스플레이, 전식 간판 등을 구성하는 백라이트의 일부품으로서 사용된다.
이어서, 본 발명의 백라이트에 대해 설명한다. 본 발명의 백라이트는, 적어도 광제어 필름과, 광원으로 구성된다. 광제어 필름으로서는 상술한 광제어 필름을 사용한다. 백라이트 중에 있어서의 광제어 필름의 방향은 특별히 제한되지는 않지만, 바람직하게는 요철면을 광출사면 쪽이 되도록 하여 사용한다. 백라이트는, 이른바 에지라이트형, 직하형이라 불리는 구성을 채용하는 것이 바람직하다.
에지라이트형의 백라이트는, 도광판과 도광판의 적어도 한쪽 끝에 배치된 광원과, 도광판의 광출사면 쪽에 배치된 광제어 필름 등으로 구성된다. 여기서, 광제어 필름은, 요철면을 광출사면이 되도록 하여 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 도광판과 광제어 필름과의 사이에 프리즘 시트를 사용하는 것이 바람직하다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 정면휘도, 시야각의 밸런스가 뛰어남과 동시에, 프리즘 시트 특유의 문제인 번쩍임이 없는 백라이트 장치로 할 수 있다.
도광판은, 적어도 하나의 측면을 광입사면으로 하고, 이것과 거의 직교하는 한쪽 면을 광출사면으로 하도록 성형된 거의 평판 형상으로 되는 것이고, 주로 폴리 메틸 메타크릴레이트 등의 고투명한 수지로부터 선택되는 매트릭스 수지로 된다. 필요에 따라 매트릭스 수지와 굴절률이 상이한 수지 입자가 첨가되어 있어도 된다. 도광판의 각면은, 동일한 평면은 아니고 복잡한 표면 형상을 하고 있는 것이어도, 도트 패턴 등의 확산 인쇄가 설치되어 있어도 된다.
광원은 도광판의 적어도 한쪽 끝에 배치되는 것이며, 주로 냉음극관이 사용된다. 광원의 형상으로서는 선상, L자 형상의 것 등을 들 수 있다.
에지라이트형 백라이트는, 상술한 광제어 필름, 도광판, 광원 외에, 목적에 따라 반사판, 편광 필름, 전자파 실드 필름 등을 갖출 수 있다.
본 발명의 에지라이트형의 백라이트의 하나의 실시 형태를 도 12에 나타낸다. 이 백라이트(140)은, 도광판(141)의 양쪽에 광원(142)를 갖춘 구성을 가지며, 도광판(141)의 위쪽에, 요철면이 바깥 쪽이 되도록 광제어 필름(143)이 재치(載置)되고 있다. 광원(142)는 광원에서의 빛이 효율적으로 도광판(141)에 입사 되도록, 도광판(141)과 대향하는 부분을 제외하고 광원 리플렉터(144)로 덮여 있다. 또한, 도광판(141)의 아래 쪽에는, 섀시(145)에 수납된 반사판(146)이 갖춰져 있다. 이것에 의해 도광판(141)의 출사쪽과 반대쪽에 출사된 빛을 다시 도광판(141)에 돌려, 도광판(141)의 출사면에서의 출사광을 많게 하도록 하고 있다.
직하형의 백라이트는, 광제어 필름과, 광제어 필름의 광출사면과는 반대쪽 면에 순서대로 갖추어진, 광확산재, 광원 등으로 구성된다. 여기서, 광제어 필름은, 요철면을 광출사면이 되도록 하여 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 광확산재와 광제어 필름과의 사이에 프리즘 시트를 사용하는 것이 바람직하다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 정면휘도, 시야각의 밸런스가 뛰어남과 동시에, 프리즘 시트 특유의 문제인 번쩍임이 없는 백라이트 장치로 할 수 있다.
광확산재는 광원의 패턴을 지우기 위한 것이며, 유백색의 수지판, 광원에 대응하는 부분에 도트 패턴을 형성한 투명 필름(라이팅 커텐) 외, 투명기재 위에 요철의 광확산층을 갖는 이른바 광확산 필름 등을 단독 또는 적절히 조합하여 사용할 수 있다.
광원은 주로 냉음극관이 사용된다. 광원의 형상으로서는 선상, L자 형상의 것 등을 들 수 있다. 직하형의 백라이트는, 상술한 광제어 필름, 광확산재, 광원 외에, 목적에 따라, 반사판, 편광 필름, 전자파 실드 필름 등을 갖추고 있어도 된다.
본 발명의 직하형의 백라이트의 하나의 실시 형태를 도 13에 나타낸다. 이 백라이트(150)은, 도시하는 바와 같이, 섀시(155)안에 수납한 반사판(156) 위에 광원(152)를 복수 배치하여, 그 위에 광확산재(157)을 매개로 하여, 광제어 필름(153)이 재치된 구조를 갖고 있다.
본 발명의 백라이트는, 광원 또는 도광판에서 출사되는 빛의 방향을 제어하는 광제어 필름으로, 특정의 요철면을 갖는 광제어 필름을 사용함으로써, 종래의 백라이트에 비해 정면휘도를 향상할 수 있고, 더구나 프리즘 시트를 단체(單體)로 사용했을 경우와 같은 번쩍임의 문제나 흠집의 발생이 적다.
이하, 실시예를 통해 본 발명를 자세히 설명한다.
[실시예 1~4]
레이저 미세 가공 기술에 의해 소정의 요철을 형성한 4 종류의 형(1)~(4)를 제작하고, (1)~(3)의 형에는 굴절률 1.50의 자외선 경화형 수지를, (4)의 형에는, 굴절률 1.40의 실리콘 수지를 주입하여 넣었다. 이어서, 주입하여 넣은 수지를 경화시킨 후, 형에서 꺼내어, 23 ㎝(광원과 수직 방향)×31 ㎝(광원과 평행 방향)의 광제어 필름(1)~(4)(실시예 1~4의 광제어 필름)를 얻었다.
이어서, 레이저 현미경(VK-9500： 키엔스샤)에 의해 광제어 필름(1)~(4)의 요철면(광출사면)의 높이 데이터를 50배의 대물렌즈를 사용하여 측정하였다. 평면내의 측정 간격은 약 0.26 ㎛이다. 50배의 대물렌즈의 1 시야는 270 ㎛×202 ㎛이기 때문에, 자동 연결 기능을 이용하여, 1 ㎜×1 ㎜의 영역의 표면 높이 데이터를 얻었다. 측정은, 각 광제어 필름 위의 임의의 5개의 위치에서 측정하고, 이 표면 높이 데이터를 사용하여, 기준면에 대한 곡면의 경사의 평균(θnv)을 산출하였다(단위는「도」). 광제어 필름(1)~(4)에 대해서 얻어진 결과를 표 1에 나타낸다. 또한, 탁도계(NDH2000： 일본전색공업사)에 의해, 광제어 필름(1)~(4)의 헤이즈를 JIS K7136：2000에 따라 측정한 결과를 함께 표 1에 나타낸다.
θnv(도) 헤이즈(%)
실시예1 43.0 82.7
43.0
43.7
41.4
41.9
실시예2 34.1 82.6
35.6
33.8
34.8
32.7
실시예3 29.6 79.1
28.2
28.4
28.3
31.0
실시예4 33.4 79.7
34.4
32.8
34.9
33.7
표 1에서 알 수 있듯이, 실시예 1~4의 광제어 필름은, 전체 측정점에 있어서 곡면의 경사의 평균이 27도 이상 70도 이하였다. 또한, 실시예 1~4의 각 광제어 필름의 헤이즈는 모두 70% 이상이며, 양호한 정면휘도를 얻기 위해 필요한 광학 특성을 만족하고 있었다.
이어서, 광제어 필름(1)~(4)를 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등(燈))에 끼어넣어, 정면휘도를 측정하였다. 즉, 광제어 필름(1)~(4)의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하여, 백라이트 장치 위의 중앙에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사 각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 광제어 필름(1)~(4)에 대해서 얻어진 결과를 표 2에 나타낸다(단위는「cd／㎡」).
휘도(cd/㎡)
실시예1 실시예2 실시예3 실시예4
평 행 방 향 좌45도 1050 1130 1150 1140
좌30도 2100 1730 1630 1680
0도 2300 1810 1680 1740
우30도 2070 1710 1620 1660
우45도 1060 1130 1150 1140
수 직 방 향 상45도 1040 1240 1290 1270
상30도 2370 1950 1840 1890
0도 2300 1810 1680 1740
하30도 2350 1940 1830 1880
하45도 1010 1230 1290 1260
표 2의 결과로 부터, 실시예 1~4의 광제어 필름은, 백라이트 장치에 1 장 끼워 넣은 것만으로, 출사각 30도 이내의 휘도를 높게 할 수 있고, 정면 방향에 대해 높은 출사광을 얻을 수 있는 것이 나타났다.
[실시예５~８]
레이저 미세 가공 기술에 의해 소정의 요철을 형성한 4 종류의 형(5)~(8)을 제작하고, 형(5)~(7)에는 굴절률 1.50의 자외선 경화형 수지를, 1개의 형(8)에는 굴절률 1.40의 실리콘 수지를 주입하여 넣었다. 이어서, 주입하여 넣은 수지를 경화시킨 후, 형에서 꺼내어, 23 ㎝×31 ㎝의 광제어 필름(5)~(8)(실시예 5~8의 광제어 필름)을 얻었다.
이어서, 실시예 1~4와 동일하게 광제어 필름(5)~(8)의 요철면(광출사면)의 표면 높이 데이터를 측정하였다. 측정은, 각 광제어 필름 위의 임의의 5개의 위치에서 실시하고, 얻어진 높이 데이터를 사용하여 곡면의 경사의 평균(θnv)을 산출하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터에서, 요철면의 표면적(A2)을 구하고, 측정한 요철면의 정사영의 면적(A1)과의 비(Ar=A2/A1)를 산출하여, 곡면의 경사의 평균(θnv)과 표면적의 비(Ar)와의 곱(적) 또는 몫을 구하였다. 광제어 필름(5)~(8)에 대해 얻어진 결과를 표 3에 나타낸다(경사의 단위는「도」). 또한, 탁도계(NDH2000： 일본전색공업사)에 의해, 광제어 필름(5)~(8)의 헤이즈를 JIS K7136：2000에 따라 측정한 결과를 함께 표 3에 나타낸다.
θnv(도) Ar θnv÷Ar θnv×Ar 헤이즈(%)
실시예5 42.6 1.552 27.4 66.1 82.7
42.2 1.573 26.9 66.4
41.1 1.613 25.5 66.3
43.1 1.500 28.8 64.7
43.6 1.594 27.3 69.4
실시예6 50.9 2.080 24.5 105.9 82.6
52.4 2.046 25.6 107.2
51.7 2.168 23.9 112.2
53.1 2.032 26.2 108.0
48.9 2.022 24.2 98.9
실시예7 36.5 1.389 26.3 50.7 82.0
36.7 1.393 26.4 51.2
35.0 1.399 25.0 48.9
35.7 1.427 25.0 50.9
36.9 1.414 26.1 52.2
실시예8 44.0 1.735 25.4 76.3 82.1
44.8 1.809 24.7 81.0
44.6 1.713 26.1 76.5
42.0 1.732 24.2 72.7
43.8 1.749 25.1 76.7
표 3에 나타내는 바와 같이, 실시예 5~8의 광제어 필름에서는, 측정한 전체의 위치에서, 곡면의 경사의 평균 및 표면적의 비의 변동이 적고, 필름 전체적으로 균일한 요철 특성을 갖고 있었다. 또한, 실시예 5~8의 각 광제어 필름의 헤이즈는 모두 70% 이상이며, 양호한 정면휘도를 얻기 위해 필요한 광학 특성을 만족하고 있었다.
이어서, 광제어 필름(5)~(8)을 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼어넣어, 정면휘도를 측정하였다. 즉, 광제어 필름(5)~(8)의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중심에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 광제어 필름(5)~(8)에 대해 얻어진 결과를 표 4에 나타낸다(단위는「cd/㎡」).
휘도(cd/㎡)
실시예5 실시예6 실시예7 실시예8
평 행 방 향 좌45도 1060 1100 1130 1110
좌30도 2040 1850 1710 1800
0도 2220 1970 1780 1900
우30도 2020 1830 1690 1780
우45도 1080 1110 1140 1120
수 직 방 향 상45도 1070 1170 1250 1200
상30도 2310 2090 1930 2030
0도 2220 1970 1780 1900
하30도 2280 2070 1910 2010
하45도 1040 1160 1240 1190
표 4의 결과로부터, 실시예 5~8의 광제어 필름은, 백라이트 장치에 1 장 끼워 넣은 것만으로, 출사각 30도 이내의 휘도를 높게 할 수 있고, 정면 방향에 대해 높은 출사광을 얻을 수 있는 것이 나타났다.　
[비교예 1~３]
시판의 광확산성 시트(비교예 1~3)에 대해서, 실시예와 동일하게 필름 위의 5개의 위치에서 요철면(광출사면)의 표면 형상을 측정하고, 곡면의 경사의 평균(θnv)을 구하였다. 비교예 1~3의 광확산성 시트에 대해 얻어진 결과를 순서대로 표 5에 나타낸다.
θnv(도) 헤이즈(%)
비교예1 25.2 89.2
25.3
25.0
26.2
26.0
비교예2 16.8 85.7
16.3
17.2
16.7
16.1
비교예3 10.7 65.5
10.3
10.6
10.7
11.2
표 5로부터 알 수 있듯이, 비교예 1~3의 광확산성 시트는, 전체의 측정점에 있어서, 곡면의 경사의 평균(θnv)이 27도 이상 70도 이하가 되지 않는 것이었다.
이어서, 비교예 1~3의 광확산성 시트를 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워넣어, 정면휘도를 측정하였다. 즉, 비교예 1~3의 광확산성 시트의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중심에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사 각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 결과를 표 6에 나타낸다.
휘도(cd/㎡)
비교예1 비교예2 비교예3
평 행 방 향 좌45도 1170 1310 1250
좌30도 1540 1310 1170
0도 1560 1220 1070
우30도 1510 1310 1170
우45도 1170 1310 1240
수 직 방 향 상45도 1340 1620 1540
상30도 1740 1500 1320
0도 1560 1220 1070
하30도 1700 1470 1370
하45도 1340 1580 1600
표 6의 결과로부터도 알 수 있듯이, 종래의 광확산성 시트를 백라이트 장치에 끼워 넣은 경우에는, 양호한 정면휘도를 얻을 수 없었다.
이상의 실시예로부터도 명백하듯이, 실시예의 광제어 필름은, 요철면을 특정의 구성을 만족하게 함으로써, 정면휘도가 우수하며, 적당한 광확산성을 갖춘 것이었다. 또한, 이와 같은 광제어 필름을 백라이트 장치에 끼워 넣음으로써, 정면 휘도가 높고, 번쩍임이나 간섭 패턴의 발생이 없는 백라이트 장치로 할 수 있었다.
[실시예９~1２]
레이저 미세 가공 기술에 의해 소정의 요철을 형성한 4 종류의 형(9)~(12)를 제작하고, (9)~(11)의 형에는 굴절률 1.50의 자외선 경화형 수지를, (12)의 형에는, 굴절률 1.40의 실리콘 수지를 주입하여 넣었다. 이어서, 주입하여 넣은 수지를 경화시킨 후, 형에서 꺼내어, 23 ㎝(광원과 수직 방향)×31 ㎝(광원과 평행 방향)의 광제어 필름(9)~(12)(실시예 9~12의 광제어 필름)를 얻었다.
이어서, 레이저 현미경(VK-9500： 키엔스샤)에 의해 광제어 필름(9)~(12)의 요철면(광출사면)의 높이 데이터를 50배의 대물렌즈를 사용하여 측정하였다. 평면내의 측정 간격은 약 0.26 ㎛이다. 50배의 대물렌즈의 1 시야는 270 ㎛×202 ㎛이기 때문에, 자동 연결 기능을 이용하여, 1 ㎜×1 ㎜의 영역의 표면 높이 데이터를 얻었다. 측정은, 각 광제어 필름 위의 임의의 5개의 위치에서 측정하고, 이 표면 높이 데이터를 사용하여, 기준면에 대한 곡면의 경사의 평균(θnv)을 산출하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터를 사용하여 상기 식(5)에 의해 Ask를 산출하였다. 광제어 필름(9)~(12)에 대해서 얻어진 결과를 표 1에 나타낸다(경사의 단위는「도」). 또한, 탁도계(NDH2000： 일본전색공업사)에 의해, 광제어 필름(9)~(12)의 헤이즈를 JIS K7136：2000에 따라 측정한 결과를 함께 표 7에 나타낸다.
θnv(도) │Ask│ 헤이즈(%)
실시예9 42.0 0.661 82.5
43.8 0.655
41.0 0.644
40.9 0.652
41.0 0.631
실시예10 34.1 0.661 82.6
35.2 0.667
35.6 0.683
35.6 0.671
33.9 0.654
실시예11 29.6 0.010 79.1
28.2 0.038
28.6 0.104
30.5 0.098
29.7 0.103
실시예12 36.5 0.366 82.0
34.9 0.369
35.9 0.368
35.7 0.351
38.1 0.370
표 7에서 알 수 있듯이, 실시예 9~12의 광제어 필름은, 전체의 측정점에 있어서 곡면의 경사의 평균(θnv)이 27도 이상 70도 이하였다. 또한, 모든 Ask의 절대치가 1.2 이하였다. 또한, 실시예 9~12의 각 광제어 필름의 헤이즈는 모두 70%이상이며, 양호한 정면 휘도를 얻기 위해 필요한 광학 특성을 만족하고 있었다.
이어서, 광제어 필름(9)~(12)를 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워 넣고, 정면휘도를 측정하였다. 즉, 광제어 필름(9)~(12)의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중앙에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 광제어 필름(9)~(12)에 대해서 얻어진 결과를 표 8에 나타낸다(단위는「cd/㎡」).
휘도(cd/㎡)
실시예9 실시예10 실시예11 실시예12
평 행 방 향 좌45도 1040 1120 1150 1130
좌30도 1960 1740 1650 1720
0도 2110 1810 1680 1780
우30도 1930 1720 1630 1700
우45도 1060 1130 1150 1130
수 직 방 향 상45도 903 1150 1250 1170
상30도 2070 1870 1790 1850
0도 2110 1810 1680 1780
하30도 2060 1870 1800 1860
하45도 948 1170 1270 1200
표 8의 결과로부터, 실시예 9~12의 광제어 필름은, 백라이트 장치에 1 장 끼워 넣은 것만으로, 출사각 30도 이내의 휘도를 높게 할 수 있고, 정면 방향에 대해 높은 출사광을 얻을 수 있는 것이 나타났다.
[실시예1３~1６]
레이저 미세 가공 기술에 의해 소정의 요철을 형성한 4 종류의 형(13)~(16)을 제작하여, 형(13)~(15)에는 굴절률 1.50의 자외선 경화형 수지를, 1개의 형(16)에는 굴절률 1.40의 실리콘 수지를 주입하여 넣었다. 이어서, 주입하여 넣은 수지를 경화시킨 후, 형에서 꺼내어, 23 ㎝×31 ㎝의 광제어 필름(13)~(16)을 얻었다.
이어서, 실시예 9~12와 동일하게 광제어 필름(13)~(16)의 요철면(광출사면)의 표면 높이 데이터를 측정하였다. 측정은, 각 광제어 필름 위의 임의의 5개의 위치에서 실시하고, 얻어진 표면 높이 데이터를 사용하여 곡면의 경사의 평균(θnv)을 산출하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터를 사용하여 상기 식(6)으로 Aku를 산출하였다. 광제어 필름(13)~(16)에 대해서 얻어진 결과를 표 9에 나타낸다(경사의 단위는「도」). 또한, 탁도계(NDH2000： 일본전색공업사)에 의해, 광제어 필름(13)~(16)의 헤이즈를 JIS K7136：2000에 따라 측정한 결과를 함께 표 9에 나타낸다.
θnv(도) Aku 헤이즈(%)
실시예13 49.6 2.072 82.8
48.2 2.018
44.9 2.151
45.8 2.113
46.7 2.044
실시예14 40.1 4.023 76.2
41.1 3.910
38.2 4.005
38.5 4.102
38.9 4.146
실시예15 34.0 2.063 82.7
35.2 2.034
32.8 1.990
33.0 2.131
34.2 2.150
실시예16 41.5 1.710 82.6
42.3 1.661
40.4 1.723
42.9 1.774
43.0 1.726
표 9에서 알 수 있듯이, 실시예 13~16의 광제어 필름은, 전체의 측정점에 있어서 곡면의 경사의 평균(θnv)이 27도 이상 70도 이하였다. 또한, 모든 Aku가 1.5 이상 5.0 이하였다. 또한, 실시예 13~16의 각 광제어 필름의 헤이즈는 모두 70% 이상이며, 양호한 정면 휘도를 얻기 위해 필요한 광학 특성을 만족하고 있었다.
이어서, 광제어 필름(13)~(16)을 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워 넣고, 정면휘도를 측정하였다. 즉, 광제어 필름(13)~(16)의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중앙에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사 각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 광제어 필름(13)~(16)에 대해 얻어진 결과를 표 10에 나타낸다(단위는「cd/㎡」).
휘도(cd/㎡)
실시예13 실시예14 실시예15 실시예16
평 행 방 향 좌45도 1050 1130 1150 1120
좌30도 1950 1690 1630 1740
0도 2100 1740 1650 1810
우30도 1920 1670 1610 1720
우45도 1060 1140 1160 1130
수 직 방 향 상45도 911 1200 1270 1150
상30도 2070 1830 1770 1870
0도 2100 1740 1650 1810
하30도 2050 1830 1780 1880
하45도 956 1220 1300 1170
표 10의 결과로부터, 실시예 13~16의 광제어 필름은, 백라이트 장치에 1 장 끼워 넣은 것만으로, 출사각 30도 이내의 휘도를 높게 할 수 있어, 정면 방향에 대해 높은 출사광을 얻을 수 있는 것이 나타났다.
[비교예 4~6]
레이저 미세 가공 기술에 의해 소정의 요철을 형성한 3 종류의 형(17)~(19)를 제작하여, 형에 굴절률 1.50의 자외선 경화형 수지를 주입하여 넣었다. 이어서, 주입하여 넣은 수지를 경화시킨 후, 형에서 꺼내어, 23 ㎝×31 ㎝의 광제어 필름(17)~(19)(비교예 4~6의 광제어 필름)를 얻었다.
이어서, 실시예 9~12와 동일하게 광제어 필름(17)~(19)의 요철면(광출사면)의 표면 높이 데이터를 측정하였다. 측정은 각 광제어 필름 위의 임의의 5개의 위치에서 실시하고, 얻어진 표면 높이 데이터를 사용하여 곡면의 경사의 평균(θnv)을 산출하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터를 사용하여 상기 식(5)으로 Ask를 산출하였다. 광제어 필름(17)~(19)에 대해 얻어진 결과를 표 11에 나타낸다(경사의 단위는「도」).
θnv(도) |Ask| 헤이즈(%)
비교예4 33.8 1.272 81.2
33.0 1.258
35.5 1.286
34.8 1.269
32.2 1.269
비교예5 41.5 1.479 81.3
40.2 1.435
42.1 1.452
40.8 1.450
40.2 1.456
비교예6 47.7 1.408 74.5
45.7 1.398
50.1 1.388
49.8 1.429
48.5 1.404
표 11에서 알 수 있듯이, 비교예 4~6의 광제어 필름(17)~(19)는, 전체의 측정 위치에서 곡면의 경사의 평균(θnv)이 27도 이상 70도 이하이다. 그러나, 모든 Ask의 절대치가 1.2보다 크다.
이어서, 광제어 필름(17)~(19)를 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워 넣고, 정면휘도를 측정하였다. 즉, 광제어 필름(17)~(19)의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중심에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 광제어 필름(17)~(19)에 대해 얻어진 결과를 표 12에 나타낸다(단위는「cd/㎡」).
휘도(cd/㎡)
비교예4 비교예5 비교예6
평 행 방 향 좌45도 1230 1210 1200
좌30도 1420 1460 1500
0도 1370 1420 1480
우30도 1420 1450 1500
우45도 1220 1210 1200
수 직 방 향 상45도 1500 1460 1420
상30도 1590 1620 1660
0도 1370 1420 1480
하30도 1600 1630 1670
하45도 1500 1470 1420
표 12의 결과로부터, 비교예 4~6의 광제어 필름은, 백라이트 장치에 끼워 넣었을 경우의 정면 휘도가 충분하지 않은 것을 알 수 있었다.
[비교예 7~9]
레이저 미세 가공 기술에 의해 소정의 요철을 형성한 3 종류의 형(20)~(22)를 제작하여, 형에 굴절률 1.50의 자외선 경화형 수지를 주입하여 넣었다. 이어서, 주입하여 넣은 수지를 경화시킨 후, 형에서 꺼내어, 23 ㎝×31 ㎝의 광제어 필름(20)~(22)(비교예 7~9의 광제어 필름)를 얻었다.
이어서, 실시예 9~12와 동일하게 광제어 필름(20)~(22)의 요철면(광출사면)의 표면 높이 데이터를 측정하였다. 측정은 각 광제어 필름 위의 임의의 5개의 위치에서 실시하고, 얻어진 표면 높이 데이터를 사용하여 곡면의 경사의 평균(θnv)을 산출하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터를 사용하여 상기식(6)으로 Aku를 산출하였다. 광제어 필름(20)~(22)에 대해 얻어진 결과를 표 13에 나타낸다(경사의 단위는「도」).
θnv(도) Aku 헤이즈(%)
비교예7 28.3 1.312 70.3
28.8 1.258
29.0 1.281
27.7 1.338
29.2 1.361
비교예8 33.4 1.395 76.9
34.6 1.302
33.6 1.391
34.8 1.400
34.9 1.393
비교예9 38.7 7.198 70.6
37.4 7.270
39.6 7.165
39.9 7.053
38.6 7.197
표 13에서 알 수 있듯이, 비교예 7~9의 광제어 필름(20)~(22)는, 모든 측정 위치에서 곡면의 경사의 평균(θnv)이 27도 이상 70도 이하였다. 그러나, 모든 Aku가 1.5보다 작거나 5.0보다 컸다.
이어서, 광제어 필름(20)~(22)를 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워 넣고, 정면 휘도를 측정하였다. 즉, 광제어 필름(20)~(22)의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중심에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 광제어 필름(20)~(22)에 대해 얻어진 결과를 순서대로 표 14에 나타낸다(단위는「cd／㎡」).
휘도(cd/㎡)
비교예7 비교예8 비교예9
평 행 방 향 좌45도 1270 1220 1240
좌30도 1310 1450 1390
0도 1210 1400 1320
우30도 1310 1440 1390
우45도 1260 1210 1230
수 직 방 향 상45도 1630 1480 1550
상30도 1480 1610 1550
0도 1210 1400 1320
하30도 1500 1620 1570
하45도 1620 1480 1540
표 14의 결과로부터, 비교예 7~9의 광제어 필름은, 백라이트 장치에 끼워 넣었을 경우의 정면휘도가 충분하지 않은 것을 알 수 있었다.
[비교예 10~11]
시판의 광확산성 시트(비교예 10~11)에 대해서, 실시예와 동일하게 필름 위의 임의의 5점에서 요철면(광출사면)의 표면 높이 데이터를 측정하여, 곡면의 경사의 평균(θnv)을 구하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터를 사용하여 상기 식(5)에 나타낸 Ask와 상기 식(6)에 나타낸 Aku를 구하였다. 비교예 10~11의 광확산성 시트에 대해 얻어진 결과를 표 15에 나타낸다.
θnv(도) |Ask| Aku
비교예10 25.3 0.131 3.321
26.3 0.134 3.282
26.3 0.128 3.409
24.8 0.125 3.259
24.2 0.135 3.353
비교예11 16.8 0.730 3.661
16.6 0.733 3.803
17.4 0.741 3.823
17.5 0.759 3.808
17.0 0.704 3.688
표 15로부터 알 수 있듯이, 비교예 10~11의 광확산성 시트는, 모든 측정점에 있어서, 곡면의 경사의 평균(θnv)이 27도 이상 70도 이하가 되지 않는 것이었다.
이어서, 비교예 10~11의 광확산성 시트를 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워 넣고, 정면휘도를 측정하였다. 즉, 비교예 7~8의 광확산성 시트의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중심에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사 각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 결과를 표 16에 나타낸다.
휘도(cd/㎡)
비교예10 비교예11
평 행 방 향 좌45도 1180 1260
좌30도 1560 1330
0도 1560 1240
우30도 1550 1330
우45도 1180 1250
수 직 방 향 상45도 1350 1610
상30도 1710 1500
0도 1560 1240
하30도 1720 1520
하45도 1360 1600
표 16의 결과에서 알 수 있듯이, 종래의 광확산성 시트를 백라이트 장치에 끼워 넣었을 경우에는, 양호한 정면휘도를 얻을 수 없었다.
이상의 실시예에서 명백하듯이, 실시예의 광제어 필름은, 요철면을 특정의 구성을 만족하도록 함으로써, 정면휘도가 우수하고, 적당한 광확산성을 갖춘 것이었다. 또한, 이러한 광제어 필름을 백라이트 장치에 끼워 넣음으로써, 정면휘도가 높고, 번쩍임이나 간섭 패턴의 발생이 없는 백라이트 장치로 할 수 있었다.
[실시예 17~20]
레이저 미세 가공 기술에 의해 소정의 요철을 형성한 4 종류의 형(23)~(26)을 제작하고, (23)~(25)의 형에는 굴절률 1.50의 자외선 경화형 수지를, (26)의 형에는, 굴절률 1.40의 실리콘 수지를 주입하여 넣었다. 이어서, 주입하여 넣은 수지를 경화시킨 후, 형에서 꺼내어, 23 ㎝(광원과 수직 방향)×31 ㎝(광원과 평행 방향)의 광제어 필름(23)~(26)(실시예 17~20의 광제어 필름)을 얻었다.
이어서, 레이저 현미경(VK-9500：키엔스샤)에 의해 광제어 필름(23)~(26)의 요철면(광출사면)의 높이 데이터를 50배의 대물렌즈를 사용하여 측정하였다. 평면내의 측정 간격은 약 0.26 ㎛이다. 50배의 대물렌즈의 1 시야는 270 ㎛×202 ㎛이기 때문에, 자동 연결 기능을 이용하여, 1 ㎜×1 ㎜의 영역의 표면 높이 데이터를 얻었다. 측정은, 각 광제어 필름 위의 임의의 5개의 위치에서 실시하여, 얻어진 표면 높이 데이터를 사용하여 요철면의 표면적(A2)을 구하고, 측정한 요철면의 정사영의 면적(A1)과의 비(Ar=A2/A1)를 산출하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터를 사용하여 상기 식(5)으로 Ask를 산출하였다. 광제어 필름(23)~(26)에 대해 얻어진 결과를 표 17에 나타낸다. 또한, 탁도계(NDH2000: 일본전색공업사)에 의해, 광제어 필름(23)~(26)의 헤이즈를 JIS K7136：2000에 따라 측정한 결과도 함께 표 17에 나타낸다.
Ar |Ask| 헤이즈(%)
실시예17 2.239 0.097 82.8
2.144 0.124
2.241 0.109
2.306 0.049
2.208 0.117
실시예18 1.780 0.792 82.8
1.834 0.820
1.705 0.761
1.708 0.798
1.801 0.826
실시예19 1.432 0.260 81.0
1.489 0.255
1.389 0.248
1.423 0.260
1.500 0.254
실시예20 1.843 0.020 81.7
1.773 0.028
1.816 0.027
1.894 0.018
1.823 0.012
표 17에서 알 수 있듯이, 실시예 17~20의 광제어 필름(23)~(26)은, 모든 측정점에 있어서 면적의 비 Ar이 1.2 이상 2.5 이하였다. 또한, 모든 Ask의 절대치가 1.2 이하였다. 또한, 실시예 17~20의 각 광제어 필름의 헤이즈는 모두 70% 이상이며, 양호한 정면휘도를 얻기 위해 필요한 광학 특성을 만족하고 있었다.
이어서, 광제어 필름(23)~(26)을 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워 넣고, 정면휘도를 측정하였다. 즉, 광제어 필름(23)~(26)의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중앙에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 광제어 필름(23)~(26)에 대해 얻어진 결과를 표 18에 나타낸다(단위는「cd／㎡」).
휘도(cd/㎡)
실시예17 실시예18 실시예19 실시예20
평 행 방 향 좌45도 1110 1100 1070 1110
좌30도 1750 1790 1870 1760
0도 1830 1880 1990 1840
우30도 1740 1770 1850 1740
우45도 1120 1110 1090 1120
수 직 방 향 상45도 1130 1090 1000 1120
상30도 1890 1920 1990 1890
0도 1830 1880 1990 1840
하30도 1890 1920 1990 1900
하45도 1160 1120 1040 1150
표 18의 결과로부터, 실시예 17~20의 광제어 필름(23)~(26)은, 백라이트 장치에 1장 끼워 넣은 것만으로, 출사각 30도 이내의 휘도를 높게 할 수 있고, 정면 방향에 대해 높은 출사광을 얻을 수 있는 것이 나타났다.
[실시예２1~２４]
레이저 미세 가공 기술에 의해 소정의 요철을 형성한 4 종류의 형(27)~(30)을 제작하여, 형(27)~(29)에는 굴절률 1.50의 자외선 경화형 수지를, 1개의 형(30)에는 굴절률 1.40의 실리콘 수지를 주입하여 넣었다. 이어서, 주입하여 넣은 수지를 경화시킨 후, 형에서 꺼내어, 23 ㎝×31 ㎝의 광제어 필름(27)~(30)(실시예 21~24의 광제어 필름)을 얻었다.
이어서, 실시예 17~20과 동일하게 광제어 필름(27)~(30)의 요철면(광출사면)의 표면 높이 데이터를 측정하였다. 측정은, 각 광제어 필름 위의 임의의 5개의 위치에서 실시하고, 얻어진 표면 높이 데이터를 사용하여 요철면의 표면적(A2)을 구하여, 측정한 요철면의 정사영의 면적(A1)과의 비(Ar=A2/A1)를 산출하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터를 사용하여 상기 식(6)으로 Aku를 산출하였다. 광제어 필름(27)~(30)에 대해 얻어진 결과를 표 19에 나타낸다(경사의 단위는「도」). 또한, 탁도계(NDH2000： 일본전색공업사)에 의해, 광제어 필름(27)~(30)의 헤이즈를 JIS K7136：2000에 따라 측정한 결과를 함께 표 19에 나타낸다.
Ar Aku 헤이즈(%)
실시예21 1.452 1.594 78.4
1.403 1.536
1.446 1.590
1.500 1.548
1.408 1.593
실시예22 1.622 1.925 82.6
1.686 1.946
1.683 1.837
1.554 1.960
1.584 1.890
실시예23 2.239 1.747 82.0
2.229 1.728
2.179 1.787
2.217 1.783
2.257 1.830
실시예24 1.780 2.590 82.8
1.727 2.562
1.848 2.638
1.863 2.592
1.861 2.480
표 19에서 알 수 있듯이, 실시예 21~24의 광제어 필름은, 모든 측정점에 있어서 면적의 비 Ar이 1.2 이상 2.5 이하였다. 또한, 모든 Aku가 1.5 이상 5.0 이하였다. 또한, 실시예 21~24의 각 광제어 필름(27)~(30)의 헤이즈는 모두 70% 이상이며, 양호한 정면휘도를 얻기 위해 필요한 광학 특성을 만족하고 있었다.
이어서, 광제어 필름(27)~(30)을 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워 넣고, 정면휘도를 측정하였다. 즉, 광제어 필름(27)~(30)의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중앙에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 광제어 필름(27)~(30)에 대해 얻어진 결과를 표 20에 나타낸다(단위는「cd／㎡」).
휘도(cd/㎡)
실시예21 실시예22 실시예23 실시예24
평 행 방 향 좌45도 1060 1100 1110 1110
좌30도 1890 1790 1740 1780
0도 2030 1880 1830 1860
우30도 1870 1770 1730 1760
우45도 1080 1110 1120 1110
수 직 방 향 상45도 968 1090 1130 1110
상30도 2020 1920 1890 1900
0도 2030 1880 1830 1860
하30도 2010 1900 1890 1910
하45도 1000 1110 1160 1120
표 20의 결과로부터, 실시예 21~24의 광제어 필름은, 백라이트 장치에 1 장 끼워 넣은 것만으로, 출사각 30도 이내의 휘도를 높게 할 수 있고, 정면 방향에 대해 높은 출사광을 얻을 수 있는 것이 나타났다.
[비교예 12~14]
레이저 미세 가공 기술에 의해 소정의 요철을 형성한 3 종류의 형(31)~(33)을 제작하여, 형에 굴절률 1.50의 자외선 경화형 수지를 주입하여 넣었다. 이어서, 주입하여 넣은 수지를 경화시킨 후, 형에서 꺼내어, 23 ㎝×31 ㎝의 광제어 필름(31)~(33)(비교예 12~14의 광제어 필름)을 얻었다.
이어서, 실시예 17~20과 동일하게 광제어 필름(31)~(33)의 요철면(광출사면)의 표면 높이 데이터를 측정하였다. 측정은, 각 광제어 필름 위의 임의의 5개의 위치에서 실시하여, 얻어진 표면 높이 데이터를 사용하여, 요철면의 표면적(A2)을 구하고, 측정한 요철면의 정사영의 면적(A1)과의 비(Ar=A2/A1)를 산출하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터를 사용하여 상기 식(5)으로 Ask를 산출하였다. 광제어 필름(31)~(33)에 대해서 얻어진 결과를 표 21에 나타낸다(경사의 단위는「도」).
Ar |Ask| 헤이즈(%)
비교예12 1.413 2.159 78.7
1.386 2.246
1.434 2.146
1.462 2.091
1.448 2.056
비교예13 1.658 1.479 81.2
1.625 1.518
1.578 1.493
1.716 1.456
1.639 1.447
비교에14 2.401 1.755 70.4
2.469 1.637
2.294 1.749
2.498 1.824
2.342 1.758
표 21에서 알 수 있듯이, 비교예 12~14의 광제어 필름(31)~(33)은, 모든 측정점에 있어서 면적의 비 Ar이 1.2 이상 2.5 이하였다. 그러나, 모든 Ask의 절대치가 1.2보다 컸다.
이어서, 광제어 필름(31)~(33)을 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워 넣고, 정면 휘도를 측정하였다. 즉, 광제어 필름(31)~(33)의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중심에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사 각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 광제어 필름(31)~(33)에 대해서 얻어진 결과를 표 22에 나타낸다(단위는「cd／㎡」).
휘도(cd/㎡)
비교예12 비교예13 비교예14
평 행 방 향 좌45도 1240 1210 1220
좌30도 1380 1470 1430
0도 1320 1430 1380
우30도 1380 1460 1420
우45도 1230 1210 1210
수 직 방 향 상45도 1540 1450 1490
상30도 1550 1620 1590
0도 1320 1430 1380
하30도 1570 1630 1600
하45도 1540 1450 1490
표 22의 결과로부터, 비교예 12~14의 광제어 필름은, 백라이트 장치에 끼워 넣었을 경우의 정면휘도가 충분하지 않은 것을 알 수 있었다.
[비교예 15~17]
레이저 미세 가공 기술에 의해 소정의 요철을 형성한 3 종류의 형(34)~(36)을 제작하고, 형에 굴절률 1.50의 자외선 경화형 수지를 주입하여 넣었다. 이어서, 주입하여 넣은 수지를 경화시킨 후, 형에서 꺼내어, 23 ㎝×31 ㎝의 광제어 필름(34)~(36)(비교예 15~17의 광제어 필름)을 얻었다.
이어서, 실시예와 동일하게 광제어 필름(34)~(36)의 요철면(광출사면)의 표면 높이 데이터를 측정하였다. 측정은, 각 광제어 필름 위의 임의의 5개의 위치에서 실시하고, 얻어진 표면 높이 데이터를 사용하여, 요철면의 표면적(A2)을 구하고, 측정한 요철면의 정사영의 면적(A1)과의 비(Ar=A2/A1)를 산출하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터를 사용하여 상기 식(6)으로 Aku를 산출하였다. 광제어 필름(34)~(36)에 대해서 얻어진 결과를 표 23에 나타낸다(경사의 단위는「도」).
Ar Aku 헤이즈(%)
비교예15 2.034 7.270 71.0
2.025 7.576
2.003 7.249
2.042 6.935
2.118 7.475
비교예16 1.565 1.351 72.8
1.519 1.301
1.571 1.334
1.595 1.403
1.612 1.307
비교예17 1.392 1.312 72.2
1.441 1.310
1.348 1.319
1.413 1.349
1.404 1.250
표 23에서 알 수 있듯이, 비교예 15~17의 광제어 필름은, 모든 측정점에 있어서 면적의 비 Ar이 1.2 이상 2.5 이하였다. 그러나, 모든 Aku가 1.5보다 작거나 5.0보다 컸다.
이어서, 광제어 필름(34)~(36)을 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워 넣고, 정면 휘도를 측정하였다. 즉, 광제어 필름(34)~(36)의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중심에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 광제어 필름(34)~(36)에 대해서 얻어진 결과를 표 24에 나타낸다(단위는「cd/㎡」).
휘도(cd/㎡)
비교예15 비교예16 비교예17
평 행 방 향 좌45도 1220 1210 1270
좌30도 1460 1480 1310
0도 1410 1440 1210
우30도 1450 1470 1310
우45도 1220 1210 1260
수 직 방 향 상45도 1480 1450 1640
상30도 1620 1640 1480
0도 1410 1440 1210
하30도 1630 1650 1510
하45도 1470 1450 1630
표 24의 결과로부터, 비교예 15~17의 광제어 필름은, 백라이트 장치에 끼워 넣었을 경우의 정면 휘도가 충분하지 않은 것을 알 수 있었다.
[비교예 18~19]
시판의 광확산성 시트(비교예 18~19)에 대해서, 실시예와 동일하게 필름 위의 임의의 5점에서 요철면(광출사면)의 표면 높이 데이터를 측정하고, 요철면의 표면적(A2)을 구하여, 측정한 요철면의 정사영의 면적(A1)과의 비(Ar=A2/A1)를 산출하였다. 또한, 같은 표면 높이 데이터를 사용하여 상기 식(5)에 나타낸 Ask와, 상기 식(6)에 나타낸 Aku를 구하였다. 비교예 18~19의 각 광확산성 시트에 대해서 얻어진 결과를 표 25에 나타낸다.
Ar |Ask| Aku
비교예18 1.157 0.178 3.441
1.107 0.170 3.559
1.166 0.179 3.578
1.117 0.184 3.584
1.156 0.186 3.309
비교예19 1.069 0.722 3.671
1.029 0.707 3.721
1.081 0.748 3.697
1.109 0.718 3.508
1.098 0.724 3.740
표 25에서 알 수 있듯이, 비교예 18~19의 광확산성 시트는, 모든 측정점에 있어서, 면적의 비 Ar이 1.2 이상 2.5 이하가 되지 않는 것이었다.
이어서, 비교예 18~19의 광확산성 시트를 15 인치 에지라이트형 백라이트 장치(냉음극관 상하 각 1등)에 끼워 넣고, 정면휘도를 측정하였다. 즉, 비교예 18~19의 광확산성 시트의 요철면이 광출사면이 되도록 하여 도광판 위에 설치하고, 백라이트 장치의 중심에 있어서의 광원(냉음극관)과 평행 방향과 수직 방향에 있어서의 출사각도마다의 휘도를 측정하였다(1 인치=2.54 ㎝). 결과를 표 26에 나타낸다.
휘도(cd/㎡)
비교예18 비교예19
평 행 방 향 좌45도 1180 1260
좌30도 1560 1330
0도 1560 1240
우30도 1550 1330
우45도 1180 1250
수 직 방 향 상45도 1350 1610
상30도 1710 1500
0도 1560 1240
하30도 1720 1520
하45도 1360 1600
표 26의 결과에서 알 수 있듯이, 종래의 광확산성 시트를 백라이트 장치에 끼워 넣었을 경우에는, 양호한 정면휘도를 얻을 수 없었다.
또한, 실시예 1~24의 광제어 필름에 대해서, 요철면 위의 곡면의 법선을 기준면에 투영 했을 경우의 정사영과 설정한 거의 정방형 영역의 1개의 변과의 이루는 각도(φ)(-180도<φ≤180도)의 평균(φave)의 절대치를 측정하였다. 구체적으로는, 실시예 1~24의 광제어 필름 위의 임의의 1개의 위치의 설정한 정방형 영역(1 ㎜×1 ㎜)에 대해서, 실시예 1~24와 동일하게 하여 표면 형상을 측정하고, 측정된 높이 데이터를 기초로 요철면의 곡면을 근사하였다. 이 곡면의 미리 정한 소정의 복수 지점의 법선을 기준면에 투영했을 경우의 정사영과, 설정한 정방형 영역의 미리 정한 1개의 변과의 이루는 각φ를 각각 구하여, 그 평균φave를 산출하고, 또한, 그 절대치를 구하였다. 실시예 1~24의 어느 광제어 필름도, φave의 절대치가 5도 이하가 되었다. 또한, 설정한 정방형 영역을 그 중심을 회전축으로서 필름내에서 회전시켜 측정한 높이 데이터에 있어서도, 정방형 영역의 방향에 따르지 않고 φave의 절대치가 5도 이하였다.
대표예로서, 실시예 1, 9, 17의 광제어 필름에 있어서, 설정한 정방형 영역의 방향을 10도씩 1회전 시켰을 경우의 φave의 절대치의 변화를 도 14의 그래프에 나타낸다. 도 14에 있어서, 세로축은 φave의 절대치, 가로축은 정방 영역의 처음의 위치에서의 방향(도)을 나타내며, 굵은선(1401)이 실시예 1, 가는선(1402)가 실시예 9, 파선(1403)이 실시예 17의 광제어 필름을 나타낸다. 도 14의 그래프에서 알 수 있듯이, 실시예 1, 9, 17의 광제어 필름의 φave의 절대치는 모두, 최대에서도 0.5도 미만이며, φave의 절대치는 5도 이하였다.
이와 같이, 실시예 1~24의 광제어 필름에 있어서는, 설정한 정방형 영역이 어떠한 방향이어도 φave의 절대치가 5도 이하가 됨으로써, 백라이트 장치에 끼워 넣었을 때도, 번쩍임을 일으키지 않았다.
이상의 실시예로부터도 명백하듯이, 실시예의 광제어 필름은, 요철면을 특정의 구성을 만족하도록 함으로써, 정면휘도가 우수하고, 적당한 광확산성을 갖춘 것이었다. 또한, 이와 같은 광제어 필름을 백라이트 장치에 끼워 넣음으로써, 정면휘도가 높고, 번쩍임이나 간섭 패턴의 발생이 없는 백라이트 장치로 할 수 있었다.
도면의 간단한 설명
도 1은 본 발명의 광제어 필름의 실시 형태를 나타내는 단면도이다.
도 2-1은 본 발명에 있어서, 형상에 의한 출사각 특성의 차이를 시뮬레이트 하는데 사용한 3차원 볼록부 형상의 단면도이다.
도 2-2는 본 발명에 있어서, 형상에 의한 출사각 특성의 차이를 시뮬레이트 하는데 사용한 3차원 볼록부 형상의 일례를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시의 형태에 있어서, 볼록부의 형상을 바꾸어 실시한 3차원 시뮬레이션의 결과를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시의 형태에 있어서, 볼록부의 형상을 바꾸어 실시한 3차원 시뮬레이션의 결과를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시의 형태에 있어서, 볼록부의 형상을 바꾸어 실시한 3차원 시뮬레이션의 결과를 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시의 형태에 있어서, 볼록부의 형상을 바꾸어 실시한 3차원 시뮬레이션의 결과를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시의 형태에 있어서, 볼록부의 형상을 바꾸어 실시한 3차원 시뮬레이션의 결과를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시의 형태에 있어서, 볼록부의 형상을 바꾸어 실시한 3차원 시뮬레이션의 결과를 나타내는 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시의 형태에 있어서, 볼록부의 형상을 바꾸어 실시한 3차원 시뮬레이션의 결과를 나타내는 도면이다.
도 10은 본 발명의 실시의 형태에 있어서, 볼록부의 형상을 바꾸어 실시한 3차원 시뮬레이션의 결과를 나타내는 도면이다.
도 11은 본 발명의 광제어 필름의 요철면의 일례를 나타내는 사시도이다.
도 12는 본 발명의 백라이트 장치의 하나의 실시형태를 나타내는 도면이다.
도 13은 본 발명의 백라이트 장치의 하나의 실시형태를 나타내는 도면이다.
도 14는 실시예 1, 9, 17의 광제어 필름에 대해 측정한 φave의 절대치와 설정한 정방형 영역의 방향과의 관계를 나타내는 그래프이다.
[부호의 설명]
10…광제어 필름
11…기재
12…요철층
140…에지라이트형 백라이트 장치
150…직하형 백라이트 장치

Claims (16)

  1. 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 면적 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서, 27도 이상 70도 이하인 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
  2. 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 면적 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서, (59-20 n)도 이상 70도 이하인 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
  3. 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 면 적 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)과, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, 실질적으로 전체 지점에서, 다음 식(1) 또는 (2)를 만족하는 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
    θnv÷Ar≥22 …(1)
    30≤θnv×Ar≤140 …(2)
  4. 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 면적 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)과, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, 실질적으로 전체 지점에서
    다음 식(3) 또는 (4)를 만족하는 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
    θnv÷Ar×n2≥35 …(3)
    60≤θnv×Ar×n2≤350 …(4)
  5. 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, 27도 이상 70도 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 식(5)에 의해 산출되는 수치(Ask)의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
    [수학식 1]
    Figure 112006070863598-PCT00008
    [식(5) 중, zi는 측정된 표면 높이에서 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
  6. 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, (59-20 n)도 이상 70도 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 식(5)에 의해 산출되는 수치(Ask)의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
    [수학식 2]
    Figure 112006070863598-PCT00009
    [식(5) 중, zi는 측정된 표면 높이에서 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
  7. 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상 기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, 27도 이상 70도 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 식(6)에 의해 산출되는 수치(Aku)가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
    [수학식 3]
    Figure 112006070863598-PCT00010
    [식(6) 중, zi는 측정된 표면 높이에서 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
  8. 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 필름의 기준면에 대한 상기 요철면 위의 곡면의 경사의 평균(θnv)이, (59-20 n)도 이상 70도 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 식(6)에 의해 산출되는 수치(Aku)가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
    [수학식 4]
    Figure 112006070863598-PCT00011
    [식(6) 중, zi는 측정된 표면 높이에서 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
  9. 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, 1.2 이상 2.5 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 식(5)에 의해 산출되는 수치(Ask)의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
    [수학식 5]
    Figure 112006070863598-PCT00012
    [식(5) 중, zi는 측정된 표면 높이에서 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
  10. 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, (2-0.5 n) 이상 2.5 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 식(5)에 의해 산출되는 수치(Ask)의 절대치가 1.2 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
    [수학식 6]
    Figure 112006070863598-PCT00013
    [식(5) 중, zi는 측정된 표면 높이에서 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
  11. 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, 1.2 이상 2.5 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 식(6)에 의해 산출되는 수치(Aku)가 1.5 이상 5.0 이하가 되는 조건을, 상기 광제어 필름의 실질적으로 전체 지점에서 만족하는 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
    [수학식 7]
    Figure 112006070863598-PCT00014
    [식(6) 중, zi는 측정된 표면 높이에서 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
  12. 소정의 굴절률 n의 재료로 되는 요철층에 의해 형성된 요철면을 갖는 광제어 필름이며, 상기 요철면 위의 임의의 지점에 설정한 1 ㎟ 이상의 거의 정방형 영역에 있어서, 상기 거의 정방형 영역의 세로 및 가로 방향에 각각 소정의 간격마다 측정한 상기 요철면의 높이 데이터를 사용하여 근사된 상기 요철면 위의 곡면에 대해서, 상기 거의 정방형 영역의 면적(A1)과 상기 근사된 요철면 위의 곡면의 표면적(A2)의 비(Ar=A2/A1)가, (2-0.5 n) 이상 2.5 이하이며, 또한, 상기 요철면의 높이 데이터 전체를 사용하여 식(6)에 의해 산출되는 수치(Aku)가 1.5 이상 5.0 이하인 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
    [수학식 8]
    Figure 112006070863598-PCT00015
    [식(6) 중, zi는 측정된 표면 높이에서 요철면의 평균면의 높이를 뺀 값, m은 측정점의 수를 나타낸다.]
  13. 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항의 광제어 필름에 있어서, 상기 요철면 위의 곡면의 법선의 상기 기준면에의 정사영과, 상기 거의 정방형 영역의 하나의 변과의 이루는 각도(φ)(-180도<φ≤180도)의 평균(φave)의 절대치가, 상기 거의 정방형 영역을 상기 요철면내의 어떠한 방향으로 설정하여 취득했을 경우에도, 5도 이하인 것을 특징으로 하는 광제어 필름.
  14. 적어도 하나의 단부에 광원이 배치되어, 상기 하나의 단부에 거의 직교하는 면을 광출사면으로 하는 도광판과, 상기 도광판의 광출사면에 배치되는 광제어 필름을 갖춘 백라이트 장치에 있어서, 상기 광제어 필름으로서, 제1항 내지 제13항 중 어느 한 항의 광제어 필름을 사용한 것을 특징으로 하는 백라이트 장치.
  15. 제14항에 있어서, 상기 광제어 필름과 상기 도광판의 사이에, 프리즘 시트를 사용한 것을 특징으로 하는 백라이트 장치.
  16. 광원과, 상기 광원의 한쪽에 배치되는 광확산판과, 상기 광확산판의, 상기 광원과는 다른 쪽에 배치되는 광제어 필름을 갖춘 백라이트 장치에 있어서, 상기 광제어 필름으로서, 제1항 내지 제13항 중 어느 한 항의 광제어 필름을 사용한 것을 특징으로 하는 백라이트 장치.
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