KR20060082097A - Ｖｉ검사 장치 - Google Patents

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KR20060082097A
KR20060082097A KR1020050002536A KR20050002536A KR20060082097A KR 20060082097 A KR20060082097 A KR 20060082097A KR 1020050002536 A KR1020050002536 A KR 1020050002536A KR 20050002536 A KR20050002536 A KR 20050002536A KR 20060082097 A KR20060082097 A KR 20060082097A
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정지영
주선규
정유현
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삼성전자주식회사
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Abstract

본 발명은 VI(visual inspection) 검사용 기판에 온도 센서를 형성하여 액정 표시 장치에서 방출되는 빛의 파장에 따른 온도를 감지하거나, VI(visual inspection) 검사용 기판에 광센서를 형성하고 액정 표시 장치에서 방출되는 빛을 프리즘으로 분해하여 VI(visual inspection) 검사용 기판에 입사시켜 특정 위치이외의 위치에 빛이 도달하는지를 감지하는 VI(visual inspection) 검사 장치에 대한 것이다.
별도의 VI(visual inspection) 검사용 기판에 온도 센서를 형성하여 액정 표시 장치에서 방출되는 빛의 파장에 따른 온도를 감지하거나, VI(visual inspection) 검사용 기판에 광센서를 형성하고 액정 표시 장치에서 방출되는 빛을 프리즘으로 분해하여 VI(visual inspection) 검사용 기판에 입사시켜 특정 위치이외의 위치에 빛이 도달하는지를 감지하여 VI(visual inspection) 검사를 행함으로써 보다 신속하고 정확하게 VI(visual inspection) 검사를 할 수 있다. 또한, 불량률이 감소한다.
VI(visual inspection) 검사, 프리즘, 센서

Description

ＶＩ검사 장치{APPARATUS FOR VISUAL INSPECTION}
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 화소에 대한 등가 회로도이다.
도 3은 본 발명에 따른 한 실시예인 VI(visual inspection)검사 장치와 VI(visual inspection) 검사를 도시하고 있는 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 또 다른 실시예인 VI(visual inspection)검사 장치와 VI(visual inspection) 검사를 도시하고 있는 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 또 다른 실시예인 VI(visual inspection)검사 장치와 VI(visual inspection) 검사를 도시하고 있는 도면이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
3: 액정 10: 액정 표시 장치
40: 집광 렌즈 45: 프리즘
50: VI검사용 기판 55: 온도 센서
56: 빛 도달 지점 57: 광센서
100: 하부 표시판 190: 화소 전극
200: 상부 표시판 230: 색필터
270: 공통 전극
300: 액정 표시판 조립체 400: 게이트 구동부
500: 데이터 구동부 600: 신호 제어부
800: 계조 전압 생성부
본 발명은 VI(visual inspection) 검사 장치에 대한 발명이다.
일반적으로 LCD(liquid crystal display) 장치는 게이트선, 데이터선, 박막 트랜지스터 및 화소 전극 등이 형성되어 있는 박막 트랜지스터 표시판과 이에 대향하며 색필터 및 공통 전극 등이 형성되어 있는 색필터 표시판 및 이들 박막 트랜지스터 표시판과 색필터 표시판의 사이에 채워져 있는 액정층 등으로 구성된다.
LCD 장치는 화소 전극과 공통 전극 사이에 형성되는 전계로 인하여 액정이 회전하면서 빛의 투과율이 변하게 되며, 이러한 투과율의 변화에 따라서 화상이 표시된다. 화소 전극과 공통 전극 사이에 형성되는 전계는 화소 전극에 의하여 조절되며, 화소 전극의 전압을 제어하는 것은 박막 트랜지스터라는 스위칭 소자를 통하여 이루어진다. 여기서, 박막 트랜지스터는 게이트선을 따라 전송되는 주사 신호에 의하여 데이터선을 따라 전송되는 화상 신호를 화소 전극에 전달 또는 차단한다.
액정층은 화소 전극과 공통 전극에 전압이 가해지지 않는 경우에는 박막 트랜지스터 표시판과 색필터 표시판의 표면에 형성된 배향막에 의하여 일정한 방향으 로 배열되어 있다가 전압이 가해지면 전계의 방향에 따라서 액정이 회전하게 된다.
이러한 액정 표시 장치가 생산되면, 액정 표시 장치에 불량 화소는 없는 지를 검사하게된다. 이를 VI(visual inspection) 검사라고 하며, 현재 불량 화소의 여부는 사람의 눈에 의존하여 검사한다. 이로 인하여 검사자가 장시간 검사시 눈의 피로로 인하여 검사에 오류가 발생하게 되며 불량률이 높아지게 된다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 사람의 눈에 의존하지 않고 액정 표시 장치의 VI(visual inspection) 검사를 할 수 있는 장치를 제공하기 위한 발명이다.
이러한 과제를 해결하기 위하여 본 발명에서는 VI(visual inspection) 검사용 기판에 온도 센서를 형성하여 액정 표시 장치에서 방출되는 빛의 파장에 따른 온도를 감지하거나, VI(visual inspection) 검사용 기판에 광센서를 형성하고 액정 표시 장치에서 방출되는 빛을 프리즘으로 분해하여 VI(visual inspection) 검사용 기판에 입사시켜 특정 위치이외의 위치에 빛이 도달하는지를 감지하는 VI(visual inspection) 검사 장치를 제공한다.
구체적으로는, 액정 표시 장치에서 방출되는 빛이 입사되는 면에 상기 액정 표시 장치에서 표시하는 색의 온도 외의 온도가 감지된 경우 불량으로 인식하는 온도 센서를 부착하고 있는 VI(visual inspection) 검사 장치에 대한 것이며,
상기 온도 센서는 상기 액정 표시 장치에서 표시하는 빛의 파장이 달라지는 경우에 불량으로 인식하는 온도를 변경할 수 있는 것이 바람직하며,
액정 표시 장치에서 방출되는 빛을 파장 별로 광로를 나누어주는 광로 분할 장치, 상기 광로 분할 장치를 통하여 광로가 나뉘어진 빛이 입사하는 면에 광센서를 포함하는 VI(visual inspection) 검사용 기판을 포함하며, 상기 광센서는 액정 표시 장치에서 표시하는 각 색의 빛이 입사하지 않는 영역에 형성되어 있는 VI(visual inspection) 검사 장치에 대한 것이며,
상기 VI(visual inspection) 검사 장치는 상기 액정 표시 장치에서 상기 광로 분할 장치 사이에 형성되며, 상기 액정 표시 장치에서 방출되는 빛을 모아서 상기 광로 분할 장치에 제공하는 집광 렌즈를 더 포함하는 것이 바람직하며,
상기 광로 분할 장치는 프리즘인 것이 바람직하며,
상기 광로 분할 장치는 펠린브로카(Pellin Broca) 프리즘인 것이 바람직하다.
첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함 한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.
이제 본 발명의 실시예에 따른 VI(visual inspection)검사용 장치에 대하여 도면을 참고로 하여 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 블록도이고, 도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 화소에 대한 등가 회로도이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치(10)는 액정 표시판 조립체(liquid crystal panel assembly)(300)와 이에 연결된 게이트 구동부(400) 및 데이터 구동부(500), 데이터 구동부(500)에 연결된 계조 전압 생성부(800) 그리고 이들을 제어하는 신호 제어부(600)를 포함한다.
액정 표시판 조립체(300)는 등가 회로로 볼 때 복수의 표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm)과 이에 연결되어 있으며 대략 행렬의 형태로 배열된 복수의 화소(pixel)를 포함한다.
표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm)은 게이트 신호("주사 신호"라고도 함)를 전달하는 복수의 게이트선(G1-Gn)과 데이터 신호를 전달하는 데이터선(D1-Dm )을 포함한다. 게이트선(G1-Gn)은 대략 행 방향으로 뻗어 있으며 서로가 거의 평행하고 데이터선(D 1-Dm)은 대략 열 방향으로 뻗어 있으며 서로가 거의 평행하다.
각 화소는 표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm)에 연결된 스위칭 소자(Q)와 이에 연결 된 액정 축전기(liquid crystal capacitor)(CLC) 및 유지 축전기(storage capacitor)(CST)를 포함한다. 유지 축전기(CST)는 필요에 따라 생략할 수 있다.
박막 트랜지스터 등 스위칭 소자(Q)는 하부 표시판(100)에 구비되어 있으며, 삼단자 소자로서 그 제어 단자 및 입력 단자는 각각 게이트선(G1-Gn) 및 데이터선(D1-Dm)에 연결되어 있으며, 출력 단자는 액정 축전기(CLC) 및 유지 축전기(C ST)에 연결되어 있다.
액정 축전기(CLC)는 하부 표시판(100)의 화소 전극(190)과 상부 표시판(200)의 공통 전극(270)을 두 단자로 하며 두 전극(190, 270) 사이의 액정층(3)은 유전체로 기능한다. 화소 전극(190)은 스위칭 소자(Q)에 연결되며 공통 전극(270)은 상부 표시판(200)의 전면에 형성되어 있고 공통 전압(Vcom)을 인가 받는다. 도 2에서와는 달리 공통 전극(270)이 하부 표시판(100)에 구비되는 경우도 있으며 이때에는 두 전극(190, 270) 중 적어도 하나가 선형 또는 막대형으로 만들어질 수 있다.
액정 축전기(CLC)의 보조적인 역할을 하는 유지 축전기(CST)는 하부 표시판(100)에 구비된 별개의 신호선(도시하지 않음)과 화소 전극(190)이 절연체를 사이에 두고 중첩되어 이루어지며 이 별개의 신호선에는 공통 전압(Vcom) 따위의 정해진 전압이 인가된다. 그러나 유지 축전기(CST)는 화소 전극(190)이 절연체를 매개로 바로 위의 전단 게이트선과 중첩되어 이루어질 수 있다.
한편, 색 표시를 구현하기 위해서는 각 화소가 삼원색 중 하나를 고유하게 표시하거나(공간 분할) 각 화소가 시간에 따라 번갈아 삼원색을 표시하게(시간 분할) 하여 이들 삼원색의 공간적, 시간적 합으로 원하는 색상이 인식되도록 한다. 도 2는 공간 분할의 한 예로서 각 화소가 화소 전극(190)에 대응하는 영역에 적색, 녹색, 또는 청색의 색 필터(230)를 구비함을 보여주고 있다. 도 2와는 달리 색 필터(230)는 하부 표시판(100)의 화소 전극(190) 위 또는 아래에 형성할 수도 있다.
액정 표시판 조립체(300)의 두 표시판(100, 200)은 각각 가장 아래쪽에 위치한 하부 기판(110) 및 상부 기판(210)을 포함하고, 그 바깥 면에는 빛을 편광시키는 편광판이 부착되어 있다.
계조 전압 생성부(800)는 화소의 투과율과 관련된 두 벌의 복수 계조 전압을 생성한다. 두 벌 중 한 벌은 공통 전압(Vcom)에 대하여 양의 값을 가지고 다른 한 벌은 음의 값을 가진다.
게이트 구동부(400)는 액정 표시판 조립체(300)의 게이트선(G1-Gn)에 연결되어 외부로부터의 게이트 온 전압(Von)과 게이트 오프 전압(Voff)의 조합으로 이루어진 게이트 신호를 게이트선(G1-Gn)에 인가하며 통상 복수의 집적 회로로 이루어진다.
데이터 구동부(500)는 액정 표시판 조립체(300)의 데이터선(D1-Dm)에 연결되어 계조 전압 생성부(800)로부터의 계조 전압을 선택하여 데이터 신호로서 화소에 인가하며 통상 복수의 집적 회로로 이루어진다.
복수의 게이트 구동 집적 회로 또는 데이터 구동 집적 회로는 칩의 형태로 TCP(tape carrier package)(도시하지 않음)에 실장하여 TCP를 액정 표시판 조립체(300)에 부착할 수도 있고, TCP를 사용하지 않고 유리 기판 위에 이들 집적 회로 칩을 직접 부착할 수도 있으며(chip on glass, COG 실장 방식), 이들 집적 회로 칩과 같은 기능을 수행하는 회로를 액정 표시판 조립체(300)에 직접 형성할 수도 있다.
신호 제어부(600)는 게이트 구동부(400) 및 데이터 구동부(500) 등의 동작을 제어한다.
그러면 이러한 액정 표시 장치의 표시 동작에 대하여 상세하게 설명한다.
신호 제어부(600)는 외부의 그래픽 제어기(도시하지 않음)로부터 입력 영상 신호(R, G, B) 및 이의 표시를 제어하는 입력 제어 신호, 예를 들면 수직 동기 신호(Vsync)와 수평 동기 신호(Hsync), 메인 클록(MCLK), 데이터 인에이블 신호(DE) 등을 제공받는다. 신호 제어부(600)는 입력 영상 신호(R, G, B)와 입력 제어 신호를 기초로 영상 신호(R, G, B)를 액정 표시판 조립체(300)의 동작 조건에 맞게 적절히 처리하고 게이트 제어 신호(CONT1) 및 데이터 제어 신호(CONT2) 등을 생성한 후, 게이트 제어 신호(CONT1)를 게이트 구동부(400)로 내보내고 데이터 제어 신호(CONT2)와 처리한 영상 신호(DAT)는 데이터 구동부(500)로 내보낸다.
게이트 제어 신호(CONT1)는 게이트 온 전압(Von)의 출력 시작을 지시하는 수직 동기 시작 신호(STV), 게이트 온 전압(Von)의 출력 시기를 제어하는 게이트 클록 신호(CPV) 및 게이트 온 전압(Von)의 지속 시간을 한정하는 출력 인에이블 신호(OE) 등을 포함한다.
데이터 제어 신호(CONT2)는 영상 데이터(DAT)의 입력 시작을 알리는 수평 동기 시작 신호(STH)와 데이터선(D1-Dm)에 해당 데이터 전압을 인가하라는 로드 신호(LOAD), 공통 전압(Vcom)에 대한 데이터 전압의 극성(이하 "공통 전압에 대한 데이터 전압의 극성"을 줄여 "데이터 전압의 극성"이라 함)을 반전시키는 반전 신호(RVS) 및 데이터 클록 신호(HCLK) 등을 포함한다.
데이터 구동부(500)는 신호 제어부(600)로부터의 데이터 제어 신호(CONT2)에 따라 한 행의 화소에 대한 영상 데이터(DAT)를 차례로 입력받아 시프트시키고, 계조 전압 생성부(800)로부터의 계조 전압 중 각 영상 데이터(DAT)에 대응하는 계조 전압을 선택함으로써 영상 데이터(DAT)를 해당 데이터 전압으로 변환한 후, 이를 해당 데이터선(D1-Dm)에 인가한다.
게이트 구동부(400)는 신호 제어부(600)로부터의 게이트 제어 신호(CONT1)에 따라 게이트 온 전압(Von)을 게이트선(G1-Gn)에 인가하여 이 게이트선(G 1-Gn)에 연결된 스위칭 소자(Q)를 턴온시키며, 이에 따라 데이터선(D1-Dm)에 인가된 데이터 전압이 턴온된 스위칭 소자(Q)를 통하여 해당 화소에 인가된다.
화소에 인가된 데이터 전압과 공통 전압(Vcom)의 차이는 액정 축전기(CLC)의 충전 전압, 즉 화소 전압으로서 나타난다. 액정 분자들은 화소 전압의 크기에 따라 그 배열을 달리하며, 이에 따라 액정층(3)을 통과하는 빛의 편광이 변화한다. 이러한 편광의 변화는 표시판(100, 200)에 부착된 편광판(12, 22)에 의하여 빛의 투과율 변화로 나타난다.
1 수평 주기(또는 "1H")[수평 동기 신호(Hsync), 데이터 인에이블 신호(DE), 게이트 클록(CPV)의 한 주기]가 지나면 데이터 구동부(500)와 게이트 구동부(400)는 다음 행의 화소에 대하여 동일한 동작을 반복한다. 이러한 방식으로, 한 프레임(frame) 동안 모든 게이트선(G1-Gn)에 대하여 차례로 게이트 온 전압(Von)을 인가하여 모든 화소에 데이터 전압을 인가한다. 한 프레임이 끝나면 다음 프레임이 시작되고 각 화소에 인가되는 데이터 전압의 극성이 이전 프레임에서의 극성과 반대가 되도록 데이터 구동부(500)에 인가되는 반전 신호(RVS)의 상태가 제어된다("프레임 반전"). 이때, 한 프레임 내에서도 반전 신호(RVS)의 특성에 따라 한 데이터선을 통하여 흐르는 데이터 전압의 극성이 바뀌거나("라인 반전"), 한 화소행에 인가되는 데이터 전압의 극성도 서로 다를 수 있다("도트 반전").
이상과 같이 동작하는 액정 표시 장치(10)가 액정 주입 공정까지 완료하여 완성되면, 액정 표시 장치(10)의 화소에 불량이 있는지 VI(visual inspection) 검사를 하게 된다.
검사 장치의 프로브를 게이트선 및 데이터선의 검사용 패드(도시하지 않음)에 연결하고 게이트 온 전압(Von)과 데이터 검사 신호를 전송한다. 게이트 온 전압 (Von)이 공급된 게이트선에 연결된 화소는 데이터 검사 신호의 전압값에 대응하는 밝기를 표시한다. 이때, VI 검사를 용이하게 하기 위하여 각 화소가 가지는 색(적색(R), 녹색(G) 또는 청색(B))을 표시하도록 한다.
그 후, VI(visual inspection) 검사 장치를 이용하여 불량 화소가 없는지를 검사한다. VI(visual inspection) 검사 장치는 도 3 내지 도 5에 도시되어 있다. 이에 대해서는 자세하게 후술한다.
도 3은 본 발명에 따른 한 실시예인 VI(visual inspection)검사용 장치와 VI(visual inspection) 검사를 도시하고 있는 도면이고, 도 4는 본 발명에 따른 또 다른 실시예인 VI(visual inspection)검사용 장치와 VI(visual inspection) 검사를 도시하고 있는 도면이고, 도 5는 본 발명에 따른 또 다른 실시예인 VI(visual inspection)검사용 장치와 VI(visual inspection) 검사를 도시하고 있는 도면이다.
도 3은 온도 센서를 이용한 VI(visual inspection) 검사 장치에 대한 실시예이며, 도 4 및 도 5는 광 센서를 이용한 VI(visual inspection) 검사 장치에 대한 실시예이다.
우선 도 3에는 VI(visual inspection) 검사 장치의 제1 실시예가 도시되어 있다.
도 3에는 VI(visual inspection) 검사용 기판(50)의 표면에 온도 센서(55)가 부착되어 있다. 온도 센서(55)는 액정 표시 장치(10)에서 표시하는 적색(R), 녹색(G) 및 청색(B)의 각 빛의 파장에 따른 온도를 감지할 수 있으며, 상기 적색(R), 녹색(G) 및 청색(B) 이외의 파장에 대한 온도를 감지하는 경우에 불량으로 표시하도록 형성되어 있다.
VI(visual inspection) 검사용 기판(50)의 하부에 VI(visual inspection) 검사를 하고자 하는 액정 표시 장치(10)를 위치시키고, 게이트선 및 데이터선의 검사용 패드(도시하지 않음)에 게이트 온 전압(Von)과 데이터 검사 신호를 전송한다.
이렇게 하면 액정 표시 장치(10)의 모든 화소에서 각 화소가 적색(R), 녹색(G) 또는 청색(B)을 표시하게 되며, 표시된 적색(R), 녹색(G) 또는 청색(B)의 빛이 VI(visual inspection) 검사용 기판(50)의 온도 센서(55)에 의하여 감지된다. 온도 센서(55)에서는 액정 표시 장치(10)에서 표시하는 파장의 빛이 나타내는 온도이외의 온도를 감지하면 불량으로 인식하여 불량 신호를 사용자가 인식할 수 있도록 한다.
도 3에는 VI용 검사 기판(50)에 하나의 온도 센서(55)가 형성되어 있는 것으로 도시되어 있으나, 각 색깔 별로 하나씩의 온도 센서(55)를 형성할 수도 있다.
또한, 본 실시예에서는 액정 표시 장치의 모든 화소를 한꺼번에 VI(visual inspection) 검사를 하도록 형성하였으나, 적색(R), 녹색(G) 및 청색(B) 중 하나의 색만을 표시하여 VI(visual inspection) 검사한 후 다른 색에 대해서도 각각 검사하는 방법을 이용할 수도 있다. 이때 온도 센서(55)는 해당 색깔의 파장에 따른 온도 외의 온도가 감지되면 불량으로 인식하도록 형성한다.
또한, 온도 센서(55)는 VI(visual inspection) 검사를 받는 액정 표시 장치 (10)가 교체되어 액정 표시 장치(10)에서 표시하는 빛의 파장이 달라지는 경우에는 이에 따라서 감지하지 않는 온도를 변경할 수 있도록 형성하는 것이 바람직하다.
한편, 도 4 및 도 5에서는 프리즘(45) 및 광센서(57)을 이용하여 VI(visual inspection) 검사를 하는 VI(visual inspection) 검사 장치를 도시하고 있다.
프리즘(45)은 빛을 파장 별로 분리하여 빛의 광로가 파장에 따라 달라지도록 하는 장치이다. 그러므로 액정 표시 장치(10)에서 방출되는 빛도 파장별로 분리하여 광로를 다르게 한다. 여기서 프리즘(45)은 빛의 파장에 따라서 광로를 분할하는 광로 분할 장치를 대표하여 표현한 것으로, 이하에서는 광로 분할 장치를 대표하여 프리즘으로 표현한다.
한편, 광센서(57)는 빛이 들어오는 지를 감지하는 센서로 빛이 입사하는 경우에 불량을 인식하도록 형성되어 있다.
VI(visual inspection) 검사용 기판(50)의 하부에 프리즘(45)을 형성하고 그 하부에 VI(visual inspection) 검사를 하고자 하는 액정 표시 장치(10)를 위치시킨다. 그 후, 액정 표시 장치(10)의 게이트선 및 데이터선의 검사용 패드(도시하지 않음)에 게이트 온 전압(Von)과 데이터 검사 신호를 전송한다.
이렇게 하면 액정 표시 장치(10)에서 게이트 온 전압(Von)과 데이터 검사 신호를 인가받은 화소는 적색(R), 녹색(G) 또는 청색(B)을 표시하게 되며, 표시된 적색(R), 녹색(G) 또는 청색(B)의 빛이 프리즘(45)을 거치면서 빛의 광로가 색 별로 분리되어 VI(visual inspection) 검사용 기판(50)에 입사한다.
검사용 기판(50)에는 액정 표시 장치(10)에서 표시하는 색이 정상적으로 표시될 경우에 표시되는 빛이 입사하는 영역에는 광센서(57)를 형성하지 않고, 그 외의 영역에 광센서(57)를 형성한다. 그러므로 광센서(57)로 빛이 입사하는 경우에는 액정 표시 장치(10)에서 방출되는 빛이 원하지 않는 색을 표시하는 것이므로 광센서(57)는 불량으로 인식하게되고, 이를 사용자가 인식할 수 있도록 한다.
다만 도 4에서 도시하고 있는 실시예는 액정 표시 장치(10) 전체에 대하여 적용하기 어려운 점이 있다. 즉, 액정 표시 장치(10)에서 동일한 파장의 빛이 프리즘(45)으로 입사하는 경우에도 입사 경로가 서로 달라서 VI(visual inspection) 검사용 기판(50)에 입사하는 위치도 서로 다르게 된다. 이러한 결점을 보완하는 실시예가 도 5에 도시되어 있다.
도 5에서는 프리즘(45)과 액정 표시 장치(10)의 사이에 집광 렌즈(40)를 형성한다. 집광 렌즈(40)는 액정 표시 장치(10)에서 방출되는 빛을 모아서 프리즘(45)으로 전달한다. 프리즘(45)은 입사된 빛을 파장 별로 광로를 다르게 하여 VI(visual inspection) 검사용 기판(50)에 입사하도록 한다. 이때, 검사용 기판(50)에는 액정 표시 장치(10)에서 표시하는 색이 정상적으로 표시될 경우에 표시되는 빛이 입사하는 영역에는 광센서(57)를 형성하지 않고, 그 외의 영역에 광센서(57)를 형성한다. 그 결과 광센서(57)로 빛이 입사하는 경우에는 액정 표시 장치(10)에서 방출되는 빛이 원하지 않는 색을 표시하는 것이므로 광센서(57)는 불량으로 인식하게되고, 이를 사용자가 인식할 수 있도록 한다.
도 5에서 도시하고 있는 실시예에서 정확성을 높이기 위해서는 VI(visual inspection) 검사용 기판(50), 프리즘(45), 집광 렌즈(40) 및 액정 표시 장치(10)의 거리를 조절하여야 한다. 프리즘(45)과 VI(visual inspection) 검사용 기판(50)간의 거리가 멀수록 미세한 파장의 차이도 검사할 수 있다.
빛의 미세한 파장 차이를 보다 짧은 거리에서 인식하기 위해서는 프리즘(45)의 파장 분해능이 향상되어야 한다. 이를 위하여 펠린브로카(Pellin Broca) 프리즘을 사용할 수 있다. 펠린브로카(Pellin Broca) 프리즘은 두 개의 삼각형 프리즘을 겹쳐 놓아 사각형의 형상을 가지도록 형성한 프리즘으로 빛을 두 번 굴절시켜 한번 굴절로서는 분리하기 힘든 미세한 파장 차이를 분리하는데 사용되는 프리즘이다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 별도의 VI(visual inspection) 검사용 기판에 온도 센서를 형성하여 액정 표시 장치에서 방출되는 빛의 파장에 따른 온도를 감지하거나, VI(visual inspection) 검사용 기판에 광센서를 형성하고 액정 표시 장치에서 방출되는 빛을 프리즘으로 분해하여 VI(visual inspection) 검사용 기판에 입사시켜 특정 위치이외의 위치에 빛이 도달하는지를 감지하여 VI(visual inspection) 검사를 행함으로써 보다 신속하고 정확하게 VI(visual inspection) 검사를 할 수 있다. 또한, 불량률이 감소한다.

Claims (6)

  1. 액정 표시 장치에서 방출되는 빛이 입사되는 면에 상기 액정 표시 장치에서 표시하는 색의 온도 외의 온도가 감지된 경우 불량으로 인식하는 온도 센서를 부착하고 있는 VI(visual inspection) 검사 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 온도 센서는 상기 액정 표시 장치에서 표시하는 빛의 파장이 달라지는 경우에 불량으로 인식하는 온도를 변경할 수 있는 VI(visual inspection) 검사 장치.
  3. 액정 표시 장치에서 방출되는 빛을 파장 별로 광로를 나누어주는 광로 분할 장치,
    상기 광로 분할 장치를 통하여 광로가 나뉘어진 빛이 입사하는 면에 광센서를 포함하는 VI(visual inspection) 검사용 기판을 포함하며,
    상기 광센서는 액정 표시 장치에서 표시하는 각 색의 빛이 입사하지 않는 영역에 형성되어 있는 VI(visual inspection) 검사 장치.
  4. 제3항에서,
    상기 VI(visual inspection) 검사 장치는 상기 액정 표시 장치에서 상기 광 로 분할 장치 사이에 형성되며, 상기 액정 표시 장치에서 방출되는 빛을 모아서 상기 광로 분할 장치에 제공하는 집광 렌즈를 더 포함하는 VI(visual inspection) 검사 장치.
  5. 제3항에서,
    상기 광로 분할 장치는 프리즘인 VI(visual inspection) 검사 장치.
  6. 제3항에서,
    상기 광로 분할 장치는 펠린브로카(Pellin Broca) 프리즘인 VI(visual inspection) 검사 장치.
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