KR20060069396A - 인쇄회로기판 검사장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 인쇄회로기판 검사장치에 관한 것으로, 유니버설지그핀과 전선을 연결하는 보조지그핀의 구성을 유니버설지그핀이 전기적으로 접촉되는 핀헤드와 핀헤드의 하부에 구성되어지되 그 하단에 전선이 전기적으로 연결되는 압축스프링의 구조로 구성함으로써 압축스프링에 의해 핀헤드 부분이 탄력적으로 지지될 수 있도록 하여 핀헤드와 유니버설지그핀의 결합력을 향상시킬 수 있도록 함에 그 목적이 있다. 이를 위해 구성되는 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치는 유니버설지그핀과 전선을 전기적으로 연결하는 보조지그핀을 개선하여 유니버설지그핀과 보조지그핀의 전기적인 접촉력을 향상시킨 기술로, 그 구성을 살펴보면 보호판이 설치된 보조지그핀 고정판의 이면에 설치되어 보조지그핀 하단을 지지하되 전선이 관통되는 전선 삽입공이 형성된 보조지그핀 지지판; 일정 두께의 원형으로 형성되어 보조지그핀 헤드공에 안착되어지되 그 외측면으로 유니버설지그핀의 일단이 전기적으로 접촉되는 핀헤드; 핀헤드의 하부면 중심에 일정길이 연장 형성되어지되 보조지그핀 결합공의 내경에 비해 작은 외경으로 형성된 결합단; 및 결합단에 일단이 전기적으로 결합 고정되고 타단은 전선과 전기적으로 연결되어 보조지그핀 결합공에 삽입되는 한편 핀헤드를 탄력적으로 지지하여 핀헤드와 유니버설지그핀의 전기적인 접촉이 보다 용이하게 이루어질 수 있도록 하는 압축스프링을 포함하여 이루어진다.

인쇄회로기판, 검사장치, 지그핀, 지그침, 보조지그, 유니버설지그

Description

인쇄회로기판 검사장치{Examination apparatus for Printed Circuit Board}

도 1 은 종래의 기술에 따른 인쇄회로기판 검사장치를 보인 종단면도.

도 2 는 도 1 에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 보조지그핀 구조를 보인 확대 단면도.

도 3 은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치를 보인 종단면도.

도 4 는 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 보조지그핀 연결구조를 보인 분리 사시도.

도 5 는 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 보조지그핀 연결구조를 보인 확대 단면도.

[도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명]

100. 검사장치 110, 110a. 상·하부 지지판

120, 120a. 상·하부 보조지그 130, 130a. 상·하부지그

140. 유니버설지그핀 150. 보조지그핀

152. 핀헤드 154. 결합단

156. 압축스프링 160, 160a. 상·하부 커넥터

162. 전선

본 발명은 인쇄회로기판 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 보조지그핀 고정판 상에 설치되어지되 지그핀이 그 상부에 전기적으로 연결되는 핀헤드와 핀헤드의 하부에 구성되어 그 하단에 전선이 전기적으로 연결되는 압축스프링의 구조로 이루어진 인쇄회로기판 검사장치의 보조지그핀에 관한 것이다.

일반적으로 인쇄회로기판(Printed Circuit Board으로, PCB기판이라고도 한다)에 있어서 각종 부품의 실장 및 적절한 회로의 구성 여부는 제품의 신뢰성과 직결되므로 인쇄회로기판은 물론 부품실장이 완료된 후에는 트레이스(traces) 및 접합점 사이의 단락(shorts)이 있는지 없는지를 검사하기 위해 인쇄회로기판의 요소요소에 지그핀을 접촉시켜 회로의 상태를 검사하는 여러 장치가 사용되고 있다.

전술한 바와 같이 인쇄회로기판을 전기적으로 검사하여 트레이스(traces) 및 접합점 사이의 단락(shorts)이 있는지 없는지를 검사하는 장비로는 데디케이트형(dedicate type)과 유니버설형(universal type)이 주로 사용되고 있다. 이때, 인쇄회로기판 검사장비 중 데디케이트형의 경우 핀의 보유수가 2046∼16384개 내외이나 사용되는 모델의 지그 제작비가 고가인 단점이 있으며, 또한 지그핀을 스프링 등으로 제작하는 관계로 재사용이 불가능한 문제는 물론, 원자재의 낭비가 있게 된다.

한편, 유니버설형 인쇄회로기판 검사장비의 경우 지그핀의 수가 30,000∼ 100,000개 내외로 각 인쇄회로기판에 단지 지그핀을 끼움 결합하는 방식이어서 제조가 용이하다는 장점과 모델당 지그의 제작비용이 저렴하다는 장점이 있으나, 그리드핀이 인식 가능한 핀의 피치가 0.5mm 보다 작으면 검사가 불가능하여 고밀도의 회로는 검사할 수 없다는 문제가 있다.

전술한 바와 같이 데디케이트형(dedicate type)과 유니버설형(universal type) 인쇄회로기판 검사장비의 문제를 개선하기 위하여 데디케이트형 검사장비에 사용되는 지그와 유니버설형 검사장비에 사용되는 지그 사이에 데디케이트지그의 핀과 유니버설지그에 설치되어 있는 핀의 간격을 조절하는 연결지그를 설치하여 유니버설형 검사장비와 데디케이트형 검사장비가 호환되도록 한 기술이 개발되었으나, 이러한 방식은 단순히 지그 만의 호환을 가능하도록 한 것이어서 기존의 장비에 사용하는데 모델별로 연결지그를 각각 만들어야 하므로 원가상승의 원인이 되는 문제가 있다.

한편, 종래 기술에 따른 데디케이트형(dedicate type)과 유니버설형(universal type) 인쇄회로기판 검사장비의 문제를 개선하기 위하여 유니버설지그를 사용 가능하도록 하는 복합형 데디케이트 검사장비가 개발되어 사용되고 있다. 이러한 복합형 데디케이트 검사장비는 도 1 및 도 2 에 도시된 바와 같다

도 1 은 종래의 기술에 따른 인쇄회로기판 검사장치를 보인 종단면도, 도 2 는 도 1 에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 보조지그핀 구조를 보인 확대 단면도이다.

도 1 및 도 2 에 도시된 바와 같이 인쇄회로기판 검사장치(10)는 상하로 대 향 설치되는 데디케이트형 상·하부 지지판(20, 20a), 데디케이트형 상·하부 지지판(20, 20a)의 대향면 각각에 설치되어지되 유니버설지그핀(12)과 전기적으로 접촉되도록 그리드핀의 배열을 가지는 보조지그핀(60)이 다수 설치된 상·하부 보조지그(30, 30a), 상·하부 보조지그(30, 30a) 대향면 각각에 결합되어 검사할 인쇄회로기판(70)을 사이에 안치시키는 유니버설형 상·하부지그(40, 40a) 및 상·하부 보조지그(30, 30a) 각각의 보조지그핀(60) 후단에 전선(52)을 통해 접속되어 기기의 제어부에서 정위치를 인식토록 하는 상·하부 커넥터(50, 50a)의 구성으로 이루어진다.

전술한 바와 같은 구성에서 상·하부 보조지그(30, 30a) 각각은 각 보조지그핀(60)을 수용하는 보조지그핀 고정공(32-1)을 가지는 보조지그핀 고정판(32), 보조지그핀 고정판(32) 일면에 안착되며 보조지그핀(60)의 상단이 수평면 위로 노출되지 않도록 하는 깊이로 핀헤드공(34-1)이 형성된 보호판(34)으로 구성된다.

한편, 보조지그핀(60)은 보조지그핀 고정판(32)의 보조지그핀 고정공(32-1)에 상하 이동 가능토록 결합되며 하단은 전선(52)이 접속되는 핀단(62) 및 핀단(62)보다 큰 직경으로 보조지그핀 고정판(32) 상에 노출되는 핀헤드(64)로 이루어진다. 미설명 부호 66은 전선(52)을 끼워 결합하는 전선공이다.

그러나, 전술한 바와 같이 구성된 도 1 및 도 2 의 종래 기술에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 보조지그핀은 보조지그핀 고정판 상의 보조지그핀 고정공에 상하로 이동 가능하게 삽입 결합되는 구성으로 이루어져 있어 보조지그핀은 유버서셜지그핀과의 결합력이 저하되는 문제가 발생할 수 있다.

따라서, 전술한 바와 같이 유버서셜지그핀과 보조지그핀의 결합력 저하로 인하여 유버서셜지그핀과 보조지그핀의 전기적인 접촉이 이루어지지 않게 됨으로써 인쇄회로기판의 트레이스(traces) 및 접합점 사이의 단락(shorts)이 있는지 없는지에 검사에 오류가 발생할 수 있는 문제가 있다.

본 발명의 전술한 바와 같은 종래 기술의 제반 문제점을 해결하기 위한 창안된 것으로, 유니버설지그핀과 전선을 연결하는 보조지그핀의 구성을 유니버설지그핀이 전기적으로 접촉되는 핀헤드와 핀헤드의 하부에 구성되어지되 그 하단에 전선이 전기적으로 연결되는 압축스프링의 구조로 구성함으로써 압축스프링에 의해 핀헤드 부분이 탄력적으로 지지될 수 있도록 하여 핀헤드와 유니버설지그핀의 결합력을 향상시킬 수 있도록 한 인쇄회로기판 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.

아울러, 본 발명에 따른 기술은 유니버설지그핀이 전기적으로 접촉되는 핀헤드와 핀헤드의 하부에 구성되어지되 전선이 전기적으로 연결되는 압축스프링 구조의 보조지그핀을 제공함으로써 핀헤드와 유니버설지그핀의 결합력 향상을 통해 핀헤드와 유니버설지그핀의 전기적인 접촉력을 향상시켜 검사의 오류를 방지할 수 있도록 함에 있다.

전술한 목적을 달성하기 위해 구성되는 본 발명은 다음과 같다. 즉, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치는 상하로 일정거리 이격되어 대향 설치되는 데디케이트형 상·하부 지지판, 다수의 보조지그핀 결합공이 형성된 핀고정판과 다수의 핀헤드공이 형성된 보호판으로 이루어져 데디케이트형 상·하부 지지판의 대향면 각각에 설치되어지되 유니버설지그핀과 전기적으로 접촉되도록 그리드핀의 배열을 가지는 보조지그핀이 다수 설치된 상·하부 보조지그, 상·하부 보조지그 대향면 각각에 대향되게 설치되어 검사할 인쇄회로기판을 사이에 안치시키는 유니버설형 상·하부지그 및 상·하부 보조지그에 설치된 각각의 보조지그핀 후단에 전선을 통해 접속되어 기기의 제어부에서 정위치를 인식토록 하는 상·하부 커넥터로 이루어진 구조의 인쇄회로기판 검사장치에 있어서, 보호판이 설치된 보조지그핀 고정판의 이면에 설치되어 상기 보조지그핀 하단을 지지하되 전선이 관통되는 전선 삽입공이 형성된 보조지그핀 지지판; 보조지그핀 각각은 일정 두께의 원형으로 형성되어 보조지그핀 헤드공에 안착되어지되 그 외측면으로 유니버설지그핀의 일단이 전기적으로 접촉되는 핀헤드; 핀헤드의 하부면 중심에 일정길이 연장 형성되어지되 보조지그핀 결합공의 내경에 비해 작은 외경으로 형성된 결합단; 및 결합단에 일단이 전기적으로 결합 고정되고 타단은 전선과 전기적으로 연결되어 보조지그핀 결합공에 삽입되는 한편 핀헤드를 탄력적으로 지지하여 핀헤드와 유니버설지그핀의 전기적인 접촉이 보다 용이하게 이루어질 수 있도록 하는 압축스프링을 포함하여 이루어진다.

한편, 본 발명에 따른 구성에서 유니버설지그핀이 전기적으로 접촉되는 핀헤드의 외측면에는 규칙적이거나 불규칙한 형태의 요철(凹凸)이 더 형성되어 핀헤드의 외측면과 유니버설지그핀의 전기적인 접촉력을 강화할 수 있도록 할 수 있다.

전술한 바와 같은 구성에서 압축스프링은 전선의 일부가 코일 형태로 이루어 진 구성으로 이루어질 수도 있고, 또한 압축스프링은 코일 형태로 형성된 스프링을 전선의 타단에 연결한 구성으로 이루어질 수도 있다.

이하에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 검사장치에 대하여 상세하게 설명하기로 한다.

도 3 은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치를 보인 종단면도, 도 4 는 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 보조지그핀 연결구조를 보인 분리 사시도, 도 5 는 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 보조지그핀 연결구조를 보인 확대 단면도이다.

도 3 내지 도 5 에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치(100)는 종래의 기술과 마찬가지로 데디케이트형(dedicate type)과 유니버설형(universal type) 인쇄회로기판 검사장치의 문제를 개선하기 위하여 유니버설지그를 사용 가능하도록 한 복합형 데디케이트 검사장치와 마찬가지의 구성으로 이루어진다. 다만, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치(100)는 유니버설지그핀(140)과 전선(162)을 전기적으로 연결하는 보조지그핀(150)을 개선하여 유니버설지그핀(140)과 보조지그핀(150)의 전기적인 접촉력을 향상시킨 기술이다.

즉, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치(100)는 보호판(124, 124a)이 설치된 보조지그핀 고정판(122, 122a)의 이면에 설치되어 보조지그핀(150) 하단을 지지하되 전선(162)이 관통되는 전선 삽입공(126-1, 126a-1)이 형성된 보조지그핀 지지판(126, 126a)의 구성과 보조지그핀(150)의 구성을 개선하여 유니버설지그핀(140)과 보조지그핀(150)의 전기적인 접촉력을 향상시킨 기술이다. 이때, 보조 지그핀(150)은 일정 두께의 원형으로 형성되어 보조지그핀 헤드공(124-1, 124a-1)에 안착되어지되 그 외측면으로 유니버설지그핀(140)의 일단이 전기적으로 접촉되는 핀헤드(152), 핀헤드(152)의 하부면 중심에 일정길이 연장 형성되어지되 보조지그핀 결합공(122-1, 122a-1)의 내경에 비해 작은 외경으로 형성된 결합단(154) 및 결합단(154)에 일단이 전기적으로 결합 고정되고 타단은 전선(162)과 전기적으로 연결되어지되 핀헤드(152)를 탄력적으로 지지하여 핀헤드(152)와 유니버설지그핀(140)의 접촉이 보다 용이하게 이루어질 수 있도록 하는 압축스프링(156)의 구성으로 이루어진다.

전술한 바와 같은 보조지그핀(150)의 구성에서 결합단(154)과 압축스프링(156)의 결합시 그 결합력을 더욱 강화하여 분리를 방지하기 위해 결합단(154)의 외주면 상에는 나사산이 형성되고, 결합단(154)의 외경은 압축스프링(156)의 내경에 대응하는 직경으로 형성되어 결합단(154)에 압축스프링(156)을 결합하는 경우 타이트하게 결합된다. 이처럼 외주면 상에 나사산이 형성된 결합단(154)에 압축스프링(156)을 결합하는 경우 나사산에 의한 걸림과 타이트 한 결합으로 인해 결합단(154)과 압축스프링(156)의 결합력이 강화되어 결합단(154)과 압축스프링(156)의 분리가 방지된다.

그리고, 전술한 보조지그핀(150)의 구성에서 압축스프링(156)은 보조지그핀 결합공(122-1, 122a-1)에 삽입 결합된 상태로 그 후단이 보조지그핀 지지판(126, 126a)에 의해 지지된다. 이때, 압축스프링(156)의 후단에는 전선(162)이 전기적으로 연결되고, 전선(162)은 보조지그핀 지지판(126, 126a)의 전선 삽입공(126-1, 126a-1)을 통해 관통되어 있다. 따라서, 압축스프링(156)의 상단에 결합단(154)을 통해 전기적으로 연결되는 핀헤드(152)는 압축스프링(156)에 의해 탄력적으로 지지된다.

전술한 구성에서 압축스프링(156)은 전선(162)의 일부가 코일 형태로 이루어진 구성으로 이루어질 수도 있고, 또한 압축스프링(156)은 코일 형태로 형성된 스프링을 전선의 타단에 연결한 구성으로 이루어질 수도 있다.

전술한 바와 같이 구성된 보조지그핀(150)은 핀헤드(152) 하부면 중심에 일정 길이로 형성된 결합단(154)을 통해 일정 길이의 압축스프링(156)이 연결된 구조로 이루어져 보조지그핀 고정판(122, 122a)과 보호판(124, 124a)의 구조로 이루어진 상·하부 보조지그(120, 120a)의 보조지그핀 결합공(122-1, 122a-1) 각각에 삽입 결합된다. 이때, 보조지그핀 결합공(122-1, 122a-1)과 보조지그핀 헤드공(124-1, 124a-1)의 직경은 핀헤드(152)나 압축스프링(156)이 이루는 직경에 비해 큰 직경으로 이루어지고, 보조지그핀 결합공(122-1, 122a-1)은 압축스프링(156)이 이루는 직경에 비해 보다 작은 직경으로 이루어진다.

한편, 전술한 바와 같이 구성되어 상·하부 보조지그(120, 120a)의 보조지그핀 결합공(122-1, 122a-1) 각각에 삽입 결합된 보조지그핀(150)은 결합단(154) 상에 결합되어 하부를 이루는 압축스프링(156)의 탄성력에 의해 핀헤드(152) 부분이 탄력적으로 지지되어 핀헤드(152) 외측면과 유니버설지그핀(140)의 전기적인 접촉시 압축스프링(156)의 탄성력에 의해 핀헤드(152) 부분이 유니버설지그핀(140)에 탄력적으로 접촉되기 때문에 핀헤드(152) 외측면과 유니버설지그핀(140)의 전기적 인 접촉력이 보다 향상된다.

본 발명에 따른 보조지그핀(150)에는 전술한 바와 같은 구성에 더하여 유니버설지그핀(140)과 핀헤드(152) 상부면과의 전기적인 접촉력을 보다 강화하기 위해 핀헤드(152)의 상부면 상에 요철(凹凸, 152a)이 더 형성된다. 이때, 핀헤드(152) 상부면 상에 형성되는 요철(凹凸, 152a)은 규칙적이거나 불규칙적으로 형성된다.

전술한 바와 같이 보조지그핀(150)의 핀헤드(152) 상부면 상에 요철(凹凸, 152a)을 규칙적이거나 불규칙적으로 형성함으로써 핀헤드(152) 상부면으로 전기적인 접촉을 하는 유니버설지그핀(140)은 핀헤드(152)가 압축스프링(156)에 의해 탄력적으로 지지되는 상태에서 핀헤드(152) 상부면의 요철(152a)면 상에 접촉함과 아울러 걸림이 유지되기 때문에 유니버설지그핀(140)과 핀헤드(152)의 접촉력이 더욱 강화된다.

본 발명에 따른 보조지그핀(150)이 적용되는 인쇄회로기판 검사장치(100)의 전체적인 구성을 살펴보면 상하로 대향 설치되는 데디케이트형 상·하부 지지판(110, 110a), 데디케이트형 상·하부 지지판(110, 110a)의 대향면 각각에 설치되어지되 유니버설지그핀(140)과 전기적으로 접촉되도록 그리드핀의 배열을 가지는 보조지그핀(150)이 다수 설치된 상·하부 보조지그(120, 120a), 상·하부 보조지그(120, 120a) 대향면 각각에 결합되어 검사할 인쇄회로기판(70)을 사이에 안치시키는 유니버설형 상·하부지그(130, 130a) 및 상·하부 보조지그(120, 120a) 각각의 보조지그핀(150) 후단에 전선(162)을 통해 접속되어 기기의 제어부에서 정위치를 인식토록 하는 상·하부 커넥터(160, 160a)의 구성으로 이루어진다.

전술한 바와 같이 본 발명에 따른 보조지그핀(150)이 적용되는 인쇄회로기판 검사장치(100)의 구성에서 보조지그핀(150)이 삽입 결합되는 상·하부 보조지그(120, 120a)의 구성을 살펴보면 상·하부 보조지그(120, 120a)는 각 보조지그핀(150)을 수용하는 보조지그핀 결합공(122-1, 122a-1)을 가지는 보조지그핀 고정판(122, 122a), 보조지그핀 고정판(122, 122a) 일면에 안착되며 보조지그핀(150)의 상단이 안착되는 보조지그핀 헤드공(124-1, 124a-1)이 형성된 보호판(124, 124a) 및 보호판(124, 124a)이 설치된 보조지그핀 고정판(122, 122a)의 이면에 설치되어 보조지그핀(150) 하단을 지지하되 전선(162)이 관통되는 전선 삽입공(126-1, 126a-1)이 형성된 보조지그핀 지지판(126, 126a)의 구성으로 이루어진다.

그리고, 상·하부 보조지그(120, 120a) 대향면 각각에 대향 설치되어 검사할 인쇄회로기판(70)을 사이에 안치시키는 유니버설형 상·하부지그(130, 130a)는 상하의 등간격으로 결합구(132-1, 132a-1)가 다수 형성된 결합부재(132, 132a), 결합부재(132, 132a)의 상·하부에 설치되는 상·하부지그 상판(134-1, 134a-1)과 상·하부지그 하판(134-2, 134a-2), 결합부재(132, 132a)에 형성된 결합구(132-1, 132a-1) 상에 횡방향으로 결합되는 상·하부지그 중간판(134-3, 134a-3), 상·하부지그 하판(134-2, 134a-2)과 상·하부지그 중간판(134-3, 134a-3) 및 상·하부지그 상판(134-1, 134a-1)을 관통하여 상단을 통해 인쇄회로기판(70)을 지지하는 지지봉(136)으로 이루어진다.

전술한 바와 같이 구성된 유니버설형 상·하부지그(130, 130a) 각각에는 유니버설지그핀(140)이 다수 관통되어 상하로 그 끝단이 돌출되어진다. 보다 상세하 게 설명하면 유니버설지그핀(140)을 상·하부지그 하판(134-2, 134a-2)과 상·하부지그 중간판(134-3, 134a-3) 및 상·하부지그 상판(134-1, 134a-1)을 관통하여 설치하되 상·하부지그 상판(134-1, 134a-1)으로 돌출되는 유니버설지그핀(140)의 피치는 데디케이트형 지그의 피치에 맞게 하고, 상·하부지그 하판(134-2, 134a-2)에 돌출되는 유니버설지그핀(140)의 피치는 유니버설형 지그의 피치에 맞도록 구성된다.

한편, 본 발명에 따른 보조지그핀(150)은 앞서도 설명한 바와 같이 핀헤드(152)와 압축스프링(156)이 결합단(154)을 통해 결합된 상태에서 상·하부 보조지그(120, 120a) 각각의 보조지그핀 결합공(122-1, 122a-1) 상에 삽입 결합되어 그 상부의 유니버설지그핀(140)과 하부의 전선(162)을 통해 전기적으로 연결된다. 이때, 보조지그핀(150)은 압축스프링(156)의 하단을 통해 보조지그핀 지지판(126, 126a) 상에 지지된다.

전술한 바와 같이 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치(100)는 핀헤드(152)와 압축스프링(156)을 결합단(154)을 통해 결합한 구조의 보조지그핀(150)을 적용하여 핀헤드(152) 부분이 압축스프링(156)에 의해 탄력적으로 지지되도록 함으로써 유니버설지그핀(140)과 보조지그핀(150)의 전기적인 접촉력을 보다 향상시킬 수가 있다.

본 발명은 전술한 실시 예에 국한되지 않고 본 발명의 기술사상이 허용하는 범위 내에서 다양하게 변형하여 실시할 수가 있다.

이상에서와 같이 본 발명에 따르면 유니버설지그핀과 전선을 연결하는 보조지그핀의 구성을 유니버설지그핀이 전기적으로 접촉되는 핀헤드와 핀헤드의 하부에 구성되어지되 그 하단에 전선이 전기적으로 연결되는 압축스프링의 구조로 구성함으로써 압축스프링에 의해 핀헤드 부분이 탄력적으로 지지될 수 있도록 하여 핀헤드와 유니버설지그핀의 결합력을 향상시킬 수가 있다.

아울러, 본 발명의 기술은 유니버설지그핀이 전기적으로 접촉되는 핀헤드와 핀헤드의 하부에 구성되어지되 전선이 전기적으로 연결되는 압축스프링 구조의 보조지그핀을 제공함으로써 핀헤드와 유니버설지그핀의 결합력 향상을 통해 핀헤드와 유니버설지그핀의 전기적인 접촉력을 향상시켜 검사의 오류를 방지할 수 있는 효과가 있다.

Claims (4)

1. 상하로 일정거리 이격되어 대향 설치되는 데디케이트형 상·하부 지지판, 다수의 보조지그핀 결합공이 형성된 핀고정판과 다수의 보조지그핀 헤드공이 형성된 보호판으로 이루어져 상기 데디케이트형 상·하부 지지판의 대향면 각각에 설치되어지되 유니버설지그핀과 전기적으로 접촉되도록 그리드핀의 배열을 가지는 보조지그핀이 다수 설치된 상·하부 보조지그, 상기 상·하부 보조지그 대향면 각각에 대향되게 설치되어 검사할 인쇄회로기판을 사이에 안치시키는 유니버설형 상·하부지그 및 상기 상·하부 보조지그에 설치된 각각의 보조지그핀 후단에 전선을 통해 접속되어 기기의 제어부에서 정위치를 인식할 수 있도록 하는 상·하부 커넥터로 이루어진 구조의 인쇄회로기판 검사장치에 있어서,

   상기 보호판이 설치된 보조지그핀 고정판의 이면에 설치되어 상기 보조지그핀 하단을 지지하되 상기 전선이 관통되는 전선 삽입공이 형성된 보조지그핀 지지판;

   상기 보조지그핀 각각은 일정 두께의 원형으로 형성되어 상기 보조지그핀 헤드공에 안착되어지되 그 외측면으로 상기 유니버설지그핀의 일단이 전기적으로 접촉되는 핀헤드;

   상기 핀헤드의 하부면 중심에 일정길이 연장 형성되어지되 상기 보조지그핀 결합공의 내경에 비해 작은 외경으로 형성된 결합단; 및

   상기 핀헤드 하단의 결합단에 일단이 전기적으로 결합되어지되 타단은 상기 전선과 전기적으로 연결되어 상기 보조지그핀 결합공에 삽입되는 한편 상기 핀헤드를 탄력적으로 지지하여 상기 핀헤드와 유니버설지그핀의 전기적인 접촉이 보다 용이하게 이루어질 수 있도록 하는 압축스프링을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 유니버설지그핀이 전기적으로 접촉되는 상기 핀헤드의 상부면에는 규칙적이거나 불규칙한 형태의 요철(凹凸)이 더 형성되어 상기 핀헤드의 외측면과 유니버설지그핀의 전기적인 접촉력을 강화할 수 있도록 한 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 압축스프링은 전선의 일부가 코일 형태로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 압축스프링은 코일 형태로 형성된 스프링을 전선의 타단에 연결한 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.

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