KR20060059396A - 소자 테스트용 지그 - Google Patents

Abstract

본 발명은 유기 전계 발광 소자의 테스트 공정 중에 소자의 데이터 라인 및 스캔 라인에 손상을 입히지 않으며 또한 소자와의 얼라인먼트가 요구되지 않는 소자 테스트용 지그를 개시한다. 본 발명에 따른 소자 테스트용 지그는 테이블에 장착된 다수의 스프링 검사 핀들; 각 스프링 검사 핀들 상단에 부착된 도전성 고무; 및 각 스프링 검사 핀에 전원을 공급하는 전원부를 포함하여 테이블에 로딩된 소자의 데이터 라인들 및 그 양측의 스캔 라인들을 도전성 고무와 각각 접촉시켜 각 라인에 전원을 인가하게 된다. 본 발명에 사용된 각 스프링 검사 핀은 하우징 내에 일부가 수용된 상부 부재 및 하부 부재 그리고 상부 부재와 하부 부재 사이에 위치한 스프링으로 이루어지며, 하우징과 하부 부재는 테이블 내에 고정된 상태이며, 상부 부재는 하우징 내에서 상하 이동이 가능한 상태로 위치하며, 하부 부재는 전원부에 연결되어 있다.

소자 테스트용 지그

Description

소자 테스트용 지그{Jig for testing a device}

도 1은 유기 전계 발광 소자의 기본적인 구조를 개략적으로 도시한 단면도.

도 2는 도 1에 도시된, 캡을 제거한 상태의, 유기 전계 발광 소자의 평면도.

도 3은 본 발명에 따른 소자 테스트용 지그의 횡단면도.

도 4는 도 3의 선 4-4를 따라 절취한 상태의 단면도.

본 발명은 소자 테스트용 지그에 관한 것으로서, 특히 테스트시 소자의 라인에 손상을 주지 않도록 구성된 소자 테스트용 지그에 관한 것이다.

유기 전계 발광은 유기물(저분자 또는 고분자) 박막에 음극과 양극을 통하여 주입된 전자와 정공(hole)이 재결합하여 여기자(exciton)를 형성하고, 형성된 여기자로부터의 에너지에 의해 특정한 파장의 빛이 발생되는 현상이다.

이러한 현상을 이용한 유기 전계 발광 소자는 도 1에 도시된 바와 같은 기본적인 구조를 갖고 있다. 유기 전계 발광 소자의 기본적인 구성은, 유리 기판(1), 유리 기판(1) 상부에 형성되어 애노드(anode) 전극으로 사용되는 인듐 주석 산화물층(2; Indium Tin Oxide film ; 이하, "ITO 층"이라 칭함), 절연층과 유기물층(3) 및 캐소드(cathode) 전극인 금속 전극(4)이 순서적으로 적층된 구조이다.

도 2는 도 1에 도시된 유기 전계 발광 소자의 평면도로서, 편의상 캡을 제거한 상태를 도시하였다. 도 2에서 도시된 바와 같이, 액티브 영역(A)에 형성된 다수의 ITO층(2; 데이터 라인)과 금속층(4; 스캔 라인)은 액티브 영역(A) 외곽으로 연장되며, 각 단부가 기판(1)의 한 부분으로 집중되어 패드부(P)를 형성하게 된다.

상술한 바와 같은 각 요소들(2, 3, 4 및 W)로 이루어진 액티브 영역(A)을 형성한 후, 실란트(5; sealant)를 이용하여 금속 캡(6)을 기판(1)의 외곽부에 부착한다. 캡(6)이 부착되는 영역은 기판 외곽부, 즉 액티브 영역(A) 외측 영역이다. 금속 캡(6)에 의하여 액티브 영역(A)은 외부와 완전히 격리되며, 데이터 라인과 스캔 라인이 집중된 패드부(P)만이 캡(6)의 외부로 노출된 상태이다.

미설명 부호 8은 캡(6)의 중앙부 저면에 (유기 물질로 이루어진) 테이프(7)에 의하여 부착된 흡습(吸濕)제인 게터이다.

이상과 같은 구성을 갖는 소자의 제조 공정이 완료된 후, 소자가 정상적으로 구동되는지 여부를 테스트한다. 즉, 소자의 실제 사용 조건과 동일하게 데이터 라인과 스캔 라인에 전원을 인가함으로서 소자가 정상적으로 발광하는지를 판별하게 된다.

유기 전계 발광 소자에서는, 일반적으로 패드부(도 2의 P)의 선단에는 스캔 라인과 데이터 라인이 각각 일체화되어 있는 쇼트 바(short bar)가 일체로 구성되어 있으며, 이 쇼트 바를 통하여 소자의 구동을 테스트하게 된다. 즉, 쇼트 바에 소자 테스트용 지그의 전원 인가용 핀을 접촉시킨 상태에서 전원을 인가함으로서 소자가 발광하게 되며, 소자의 발광 상태를 통하여 소자의 불량 여부를 판별하게 된다.

한편, 소자의 소형화 및 공정의 단순화를 위하여 최근 들어 쇼트 바를 형성하지 않는 것이 일반적이며, 따라서 소자의 테스트 공정시 소자 테스트용 지그의 전원 인가 핀들이 패드부에 구성된 스캔 라인과 데이터 라인에 접촉하게 된다.

금속성 재질의 스캔 라인 및 데이터 라인이 역시 금속성 재질의 전원 인가 핀들과 접촉할 때 그리고 소자 테스트용 지그에 소자의 장착시 핀들이 데이터 라인과 스캔 라인을 가압할 때, 스캔 라인과 데이터 라인에 손상이 발생할 수 있으며, 이러한 스캔 라인 및 데이터 라인의 손상은 제품으로서의 소자의 기능에 심각한 영향을 미치게 된다.

또한 미세한 간격을 두고 패드부에 형성된 다수의 데이터 라인과 스캔 라인에 전원 인가 핀들을 접촉시키기 위해서는 지그와 소자 간의 정밀한 얼라인먼트(alignment)가 요구되며, 또한 소자의 신속한 테스트를 실현하기 어려운 문제가 있다.

따라서 본 발명은 유기 전계 발광 소자의 테스트 공정중, 테스트 지그의 구성 부재인 전원 인가 핀들에 의하여 발생되는 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 소자의 데이터 라인 및 스캔 라인에 손상을 입히지 않으며 또한 소자와의 얼라인먼트가 요구되지 않는 소자 테스트용 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.

상술한 목적을 실현하기 위한 본 발명에 따른 소자 테스트용 지그는 테이블 에 장착된 다수의 스프링 검사 핀들; 각 스프링 검사 핀들 상단에 부착된 도전성 고무; 및 각 스프링 검사 핀에 전원을 공급하는 전원부를 포함하여 테이블에 로딩된 소자의 데이터 라인들 및 그 양측의 스캔 라인들을 도전성 고무와 각각 접촉시켜 각 라인에 전원을 인가하게 된다.

본 발명에 사용된 각 스프링 검사 핀은 하우징 내에 일부가 수용된 상부 부재 및 하부 부재 그리고 상부 부재와 하부 부재 사이에 위치한 스프링으로 이루어지며, 하우징과 하부 부재는 테이블 내에 고정된 상태이며, 상부 부재는 하우징 내에서 상하 이동이 가능한 상태로 위치하며, 하부 부재는 전원부에 연결되어 있다.

이하, 본 발명에 따른 푸셔를 첨부한 도면을 참고하여 상세히 설명한다.

도 3은 본 발명에 따른 소자 테스트용 지그의 횡단면도, 도 4는 도 3의 선 4-4를 따라 절취한 상태의 단면도로서, 편의상 지그를 구성하는 한 부재인 테이블(30)의 내부 구성은 도시하지 않았다.

본 발명에 따른 소자 테스트용 지그의 가장 큰 특징은 소자(D)의 패드부(P)와 대응하는 전원 인가부를 다수의 검사용 프로브 핀(10; 또는 스프링 검사 핀)들과 도전성 고무(20)로 구성한 것이다.

한편, 검사용 프로브 핀(10; 또는 스프링 검사 핀)은 기판의 테스트용으로 널리 사용되고 있는 핀으로서, 상업적으로 리노 핀(leeno pin)으로 불리우며, 따라서 이하의 설명에서는 편의상 "리노 핀"으로 언급한다.

테이블(30) 선단부에 형성된 전원 인가부는 테이블(30)에 일렬로 장착된 다 수의 리노 핀들(10)과 각 리노 핀(10)의 상단에 부착된 도전성 고무(20) 및 각 리노 핀(10)에 전원을 공급하는 전원부(도시되지 않음)를 포함한다.

리노 핀(10)은 하우징(14) 내에 일부가 수용된 상부 부재(12) 및 하부 부재(11) 그리고 상부 부재(12)와 하부 부재(11) 사이에 위치한 스프링(13)으로 이루어진다. 하우징(14)과 하부 부재(11)는 테이블(30) 내에 고정된 상태이며, 상부 부재(12)는 하우징(14) 내에서 상하 이동이 가능한 상태로 위치한다.

또한 전원부는 하부 부재(11)와 연결되어 있어 리노 핀(10)에 전원을 공급한다. 이러한 구성을 갖는 리노 핀(10)은 테이블(30) 상에 로딩되는 소자(D)의 패드부(P)에 대응한다.

한편, 리노 핀(10)의 상부 부재(12) 상단에는 소정 길이의 도전성 고무(20)가 고정되어 있다. 본 발명에 따른 지그에는 3개의 도전성 고무들(20)이 설치된다. 도 2에 도시된 바와 같이, 패드부(P)의 중앙부에는 데이터 라인들(2; 데이터 라인군(群))이 위치하며, 그 양측에는 스캔 라인들(4 ;스캔 라인군(群))이 각각 위치한다. 따라서 3개의 도전성 고무들(20)은 데이터 라인군과 2개의 스캔 라인군에 각각 대응한다.

이상과 같이 구성된 소자 테스트용 지그의 기능을 도 2, 도 3 및 도 4를 통하여 설명하면 다음과 같다.

테이블(30)의 소정 위치에 소자(D)를 로딩한다. 작업자가 소자의 발광 상태를 시각적으로 알 수 있도록 소자(D)는 캡(6)이 테이블(30) 표면을 향하도록 로딩된다. 따라서 기판(D) 선단부에 형성된 패드부(P)는 테이블(30) 표면, 즉, 테이블 (30)에 장착된 리노 핀(10)들에 대응한다.

도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 각 리노 핀(10)의 상단에 도전성 고무(20)들이 고정되어 있기 때문에 위와 같이 소자(D)가 로딩되는 과정에서 소자 패드부(P)의 데이터 라인군과 그 양측의 스캔 라인군은 도전성 고무(20)와 각각 접촉하게 된다.

따라서 고무와 접촉하는 박막 형태의 소자의 데이터 라인들과 스캔 라인들에 손상이 발생되지 않는다. 또한, 도전성 고무(20)들이 소정 길이를 갖고 있기 때문에 소자와 지그 간에 정렬이 이루어지지 않은 상태에서도 각 리노 핀(10)들과 데이터라인 및 스캔 라인들의 전기적인 접촉이 이루어질 수 있다.

위와 같이 테이블(30) 상에 소자(D)가 로딩된 후 각 리노 핀(10)에 전원을 인가하면, 전원은 각 리노 핀(10)과 도전성 고무(20)를 통하여 소자(D)의 스캔 라인군 및 데이터 라인군으로 공급되며, 따라서 소자는 발광하게 된다. 작업자는 기판(1)을 투과하는 소자의 발광 상태를 통하여 소자의 불량 여부를 판별할 수 있다.

이상과 같은 본 발명에 따른 소자 테스트용 지그는 소자의 데이터 라인과 스캔 라인에 대응 접촉하는 다수의 핀들 대신에 도전성 고무 및 스프링 검사핀들을 사용함으로서 데이터 라인 및 스캔 라인들과의 정밀한 정렬이 요구되지 않으며, 또한 도전성 고무와 접촉하는 박막 형태의 데이터 라인과 스캔 라인에 손상을 입히지 않는 효과를 얻을 수 있다.

특히, 스프링 검사 핀의 구조적 특징, 즉 상부 부재와 하부 부재 사이에 스 프링이 위치하기 때문에 스프링이 소자가 로딩하는 과정에서 도전성 고무에 가해지는 충격을 흡수함으로서 소자, 특히 스캔 라인과 데이터 라인에 영향을 미치지 않는다.

위에서 설명한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

Claims (2)

1. 제조 완료된 소자를 테스트하는 소자 테스트용 지그에 있어서,

   테이블에 장착된 다수의 스프링 검사 핀들;

   각 스프링 검사 핀들 상단에 부착된 도전성 고무; 및

   각 스프링 검사 핀에 전원을 공급하는 전원부를 포함하여 테이블에 로딩된 소자의 데이터 라인들 및 그 양측의 스캔 라인들을 도전성 고무와 각각 접촉시켜 각 라인에 전원을 인가하는 소자 테스트용 지그.
2. 제 1 항에 있어서, 각 스프링 검사 핀은 하우징 내에 일부가 수용된 상부 부재 및 하부 부재 그리고 상부 부재와 하부 부재 사이에 위치한 스프링으로 이루어지며, 하우징과 하부 부재는 테이블 내에 고정된 상태이며, 상부 부재는 하우징 내에서 상하 이동이 가능한 상태로 위치하며, 하부 부재는 전원부에 연결되어 있는 소자 테스트용 지그.

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