상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은, 수냉 몰드에 투입되고 산화붕소를 함유한 슬래그 중에 수 mm 침적된 보론함유 고크롬강 소모전극이, 용융 슬래그의 주울열에 의하여 물방울 형태로 재용해되고, 슬래그 중을 적하 침강한 용강을 수냉 몰드 내에 연속적으로 응고시킴으로써, 목표 보론 함량이 균일하게 분포된 고크롬 강괴를 제조하는 일렉트로 슬래그 재용해(ESR)에 의한 보론함유 고크롬 강괴 제조방법에 있어서: 상기 슬래그 내의 실리카 활동도를 소정의 범위로 설정하는 단계와; 상기 수냉 몰드 내의 임계산소농도를 소정의 범위로 제어하는 단계와; 그리고, 상기 소모전극 내의 실리콘 활동도 및 강괴내 목표 보론 농도와의 관계에 따라 슬래그 내에 산화붕소를 소정량 첨가하는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상기 슬래그 내의 실리카 활동도는 0.0005∼0.005인 것이 바람직하다.
또한, 상기 임계산소농도는 1% 이하인 것이 바람직하다.
또한, 상기 소모전극 내의 실리콘 활동도를 aSi라 하고, 강괴내 목표 보론 농도를 [Bppm]Ingot이라 할 때, 상기 산화붕소 첨가량(wt%B2O3)
Slag은,
log[Bppm]Ingot = 0.38log(aSi) + K
log(K)=0.109log(wt%B2O3)Slag + 0.384
의 관계에 의하여 결정될 수 있으며, 상기 슬래그 내 첨가하는 산화붕소의 함량은 0∼10wt%인 것이 바람직하다.
또한, 상기 소모전극은, 실리콘(Si):0.5wt% 이하, 크롬(Cr):5∼30wt%, 보론(B):0∼500ppm, 탄소(C):0.05∼0.30wt%, 망간(Mn):0.05∼1.0wt%, 니켈(Ni):0.10∼10.0wt%, 바나듐(V):0.01∼0.20wt%, 알루미늄(Al):0.10wt%이하, 니오브(Nb):0.01∼0.30wt%, 텅스텐(W):0.10∼4.0wt%이고, 나머지가 철 및 기타 제어 불가능한 불순원소인 인(P), 황(S), 비소(As), 안티몬(Sb), 주석(Sn)의 화학조성으로 이루어질 수 있다.
또한, 상기 슬래그 조성은, 형석(CaF2)을 제외한 CaO-Al2O3-SiO2
3원계 슬래그 내에서, 실리카 활동도 범위가 0.0005∼0.005로 제어된 CaF2-CaO-Al2O3-SiO
2 4원계 슬래그 조성을 기본으로 하며, 상기 형석의 함량은 12∼54wt%, 생석회(CaO)+알루미나(Al2O3)의 함량은 80wt% 이하로 하는 것이 바람직하다.
본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는, 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
도 3에는, 대기중 보론 함유 고크롬강의 ESR 공정에서의 용융금속과 슬래그의 반응과정이 개략적으로 도시되어 있다.
그 과정을 살펴보면, 대기중에서, ESR 정련을 할 경우, 수냉 몰드에 산화붕소를 함유한 슬래그를 투입하고, 그 슬래그 중에 수 mm 침적된 보론함유 고크롬강 소모전극을, 용융 슬래그의 주울열에 의하여 물방울 형태로 재용해하며, 슬래그 중을 적하 침강한 용강을 수냉 몰드 내에 연속적으로 응고시킴으로써, 목표 보론 함량이 균일하게 분포된 고크롬 강괴를 제조하게 된다. 이 때, 소모전극중 온도가 가장 높은 슬래그의 침적부에서 소모전극에 포함된 철(Fe), 망간(Mn)이 산화됨으로써, 저급 산화물인 산화철(Iron Oxide, FeO) 및 산화망간(Manganese Oxide, MnO)가 가장 많이 생성된다. 이로 인해, 소모전극의 실리콘(Si) 및 보론(B) 회수율이 감소하게 되므로, 수냉 몰드내 임계산소농도 및 분위기 제어가 어렵지만 이는 대단히 중요한 인자이다.
또한, 슬래그로 이동한 실리카(SiO2) 및 산화붕소(B2O3)를 환원시켜, 실리콘과 보론의 회수율을 증가시키기 위하여, 알루미늄(Al) 탈산을 실시할 경우, 회수율이 다소 향상될 수 있으나, 적정 탈산 조건을 설정하지 못하면 강괴 내의 알루미늄 농도가 불균일하게 된다.
따라서, 보론 함유 고크롬강을 CaF2-CaO-Al2O3-SiO2 4원계 슬래그 조성으로 ESR 정련할 경우, 실리콘 및 보론의 산화에 의한 손실을 방지하여 목표하는 보론 농도를 균일하게 함유하는 강괴를 제조하기 위해서는, 수냉 몰드내 임계산소농도, 소모전극내 실리콘 농도, 슬래그내 실리카 및 산화붕소의 농도의 관계를 적절하게 설정할 필요가 있다.
즉, 본 발명의 특징은, 슬래그 내의 실리카 활동도를 소정의 범위로 설정하고, 상기 수냉 몰드 내의 임계산소농도를 소정의 범위로 제어하며, 상기 소모전극 내의 실리콘 활동도 및 강괴내 목표 보론 농도와의 관계에 따라 슬래그 내에 산화붕소를 소정량 첨가함으로써, 목표 보론 함량이 균일하게 분포된 고크롬 강괴를 제조하는 것이다.
먼저, 슬래그내 적정 실리카 농도(실리카 활동도, aSiO2)를 결정하기 위하여, 슬래그내 실리카 활동도(aSiO2)에 따른 강괴내 실리콘 농도분포에 대해 ESR 시험하였다. 즉, 형석(CaF2)을 제외한 CaO-Al2O3-SiO2 3원계 슬래그 내에서 실리카 활동도(aSiO2)는, 도 4를 기준으로 하였다. 또한, 실리카 활동도(aSiO2)에 따른 강괴내 실리콘 농도 분포를 다음의 표 3에 나타내었다. 이 때, 소모전극내 실리콘 농도는 0.10wt%이다.
슬래그 내 실리카 활동도 (aSiO2) |
0.0005 |
0.001 |
0.0026 |
0.005 |
0.2 |
ESR후 강괴 높이에 따른 실리콘 농도 변화 (wt%) |
0.10 |
0.10 |
0.12 |
0.12 |
0.21 |
0.09 |
0.09 |
0.11 |
0.11 |
0.18 |
0.09 |
0.09 |
0.11 |
0.11 |
0.18 |
0.09 |
0.09 |
0.10 |
0.10 |
0.16 |
0.09 |
0.09 |
0.10 |
0.10 |
0.13 |
0.09 |
0.09 |
0.09 |
0.10 |
0.13 |
0.09 |
0.09 |
0.09 |
0.10 |
0.13 |
0.08 |
0.09 |
- |
0.10 |
0.12 |
0.08 |
0.09 |
- |
0.10 |
0.12 |
도 4 및 표 3에 나타나는 바와 같이, 실리카 활동도(aSiO2)가 0.0005 이하가 되면, 실리콘 농도가 마이너스(-) 편석, 0.005 이상이 되면 플러스(+) 편석이 되는 것을 알 수 있다. 또한, 실리카 활동도(aSiO2)가 0.2 정도가 되면, 강괴내 실리콘 농도가 심각한 플러스 편석이 발생된다는 것을 알 수 있다. 따라서, ESR후 강괴내 균일하면서 양호한 실리콘 회수율을 얻을 수 있는 슬래그내 실리카 활동도(aSiO2) 범위는 0.0005∼0.005인 것이 적절하다.
도 5에는, 적정 실리카 활동도(aSiO2)로 조절된 CaF2-CaO-Al2O3-SiO
2-B2O3 5원계 슬래그 조성에서 불활성 가스인 아르곤(Ar) 가스로 수냉 몰드내 분위를 제어하면서, 실리콘 회수율을 90% 이상 유지할 수 있는 수냉 몰드내 임계산소농도를 도출하기 위해 실시한 시험결과가 나타나 있다.
도 5의 그래프에 나타나는 바와 같이, 수냉 몰드내 임계산소농도가 1% 이하인 경우, 강괴 높이에 따라 실리콘 농도가 일정한 값을 나타내는 것을 알 수 있다. 또한, 아르곤(Ar) 가스 취입을 중단하여 수냉 몰드내 산소농도가 증가함에 따라 실리콘 및 보론 회수율이 급격히 감소한다는 것을 알 수 있다. 이는, 실리콘 회수율 및 보론 회수율의 직선적 관계를 나타내는 도 6의 그래프에서도 확인할 수 있다.
한편, 표 4 내지 표 11에서는, 수냉 몰드내 임계산소농도가 1% 이하인 분위기에서 소모전극내 실리콘 농도 및 적정 실리카 활동도(aSiO2)로 조절된 CaF2-CaO-Al2O3-SiO2 4원계 슬래그에 첨가한 산화붕소 농도에 따른 강괴내 보론 농도 변화를 조사하기 위하여, ESR 설비(독일 ALD사, 용해중량 100Kg)로 시험한 실시예를 나타내었다.
(산화붕소 0.3wt%)
분류 |
Si(wt%) |
Al(wt%) |
B(wt%) |
Si회수율(%) |
B회수율(%) |
전극내 성분 |
0.10 |
0.003 |
0.0090 |
- |
- |
ESR후 강괴 높이에 따른 성분변화 |
0.09 |
0.003 |
0.0053 |
90 |
59 |
0.09 |
0.003 |
0.0060 |
90 |
67 |
0.09 |
0.002 |
0.0059 |
90 |
66 |
0.09 |
0.003 |
0.0054 |
90 |
60 |
0.08 |
0.002 |
0.0058 |
80 |
64 |
0.08 |
0.002 |
0.0060 |
80 |
67 |
0.08 |
0.002 |
0.0055 |
80 |
61 |
0.08 |
0.002 |
0.0057 |
80 |
63 |
0.08 |
0.002 |
0.0060 |
80 |
67 |
0.08 |
0.002 |
0.0064 |
80 |
71 |
(산화붕소 0.6wt%)
분류 |
Si(wt%) |
Al(wt%) |
B(wt%) |
Si회수율(%) |
B회수율(%) |
전극내 성분 |
0.10 |
0.003 |
0.0090 |
- |
- |
ESR후 강괴 높이에 따른 성분변화 |
0.09 |
0.003 |
0.0083 |
90 |
92 |
0.09 |
0.003 |
0.0084 |
90 |
93 |
0.08 |
0.003 |
0.0080 |
80 |
89 |
0.08 |
0.003 |
0.0081 |
80 |
90 |
0.08 |
0.003 |
0.0081 |
80 |
90 |
0.08 |
0.002 |
0.0080 |
80 |
89 |
0.08 |
0.002 |
0.0079 |
80 |
88 |
0.08 |
0.002 |
0.0083 |
80 |
92 |
0.08 |
0.002 |
0.0081 |
80 |
90 |
(산화붕소 1.6wt%)
분류 |
Si(wt%) |
Al(wt%) |
B(wt%) |
Si회수율(%) |
B회수율(%) |
전극내 성분 |
0.10 |
0.003 |
0.0090 |
- |
- |
ESR후 강괴 높이에 따른 성분변화 |
0.09 |
0.003 |
0.0136 |
90 |
151 |
0.09 |
0.003 |
0.0138 |
90 |
153 |
0.09 |
0.003 |
0.0137 |
90 |
152 |
0.08 |
0.003 |
0.0144 |
80 |
160 |
0.08 |
0.003 |
0.0145 |
80 |
161 |
0.08 |
0.002 |
0.0143 |
80 |
159 |
0.08 |
0.002 |
0.0135 |
80 |
150 |
0.08 |
0.002 |
0.0136 |
80 |
151 |
0.08 |
0.002 |
0.0145 |
80 |
161 |
(산화붕소 1.9wt%)
분류 |
Si(wt%) |
Al(wt%) |
B(wt%) |
Si회수율(%) |
B회수율(%) |
전극내 성분 |
0.14 |
0.003 |
0.0130 |
- |
- |
ESR후 강괴 높이에 따른 성분변화 |
0.123 |
0.002 |
0.0203 |
88 |
156 |
0.124 |
0.003 |
0.0194 |
89 |
149 |
0.127 |
0.003 |
0.0192 |
91 |
148 |
0.122 |
0.002 |
0.0206 |
87 |
158 |
0.126 |
0.003 |
0.0197 |
90 |
152 |
0.128 |
0.002 |
0.0192 |
91 |
148 |
0.122 |
0.003 |
0.0189 |
87 |
145 |
0.120 |
0.003 |
0.0190 |
86 |
146 |
0.125 |
0.003 |
0.0185 |
89 |
142 |
(산화붕소 1.2wt%)
분류 |
Si(wt%) |
Al(wt%) |
B(wt%) |
Si회수율(%) |
B회수율(%) |
전극내 성분 |
0.14 |
0.003 |
0.0130 |
- |
- |
ESR후 강괴 높이에 따른 성분변화 |
0.135 |
0.003 |
0.0155 |
96 |
119 |
0.125 |
0.002 |
0.0153 |
89 |
118 |
0.124 |
0.003 |
0.0157 |
89 |
120 |
0.127 |
0.003 |
0.0164 |
91 |
126 |
0.123 |
0.002 |
0.0150 |
88 |
115 |
0.131 |
0.003 |
0.0154 |
94 |
118 |
0.136 |
0.003 |
0.0156 |
97 |
120 |
0.136 |
0.003 |
0.0153 |
97 |
117 |
0.134 |
0.003 |
0.0150 |
96 |
115 |
(산화붕소 0.9wt%)
분류 |
Si(wt%) |
Al(wt%) |
B(wt%) |
Si회수율(%) |
B회수율(%) |
전극내 성분 |
0.14 |
0.003 |
0.0130 |
- |
- |
ESR후 강괴 높이에 따른 성분변화 |
0.135 |
0.003 |
0.0134 |
96 |
103 |
0.128 |
0.003 |
0.0131 |
91 |
101 |
0.128 |
0.003 |
0.0131 |
91 |
101 |
0.128 |
0.003 |
0.0132 |
91 |
102 |
0.130 |
0.003 |
0.0135 |
93 |
104 |
0.128 |
0.002 |
0.0135 |
91 |
104 |
0.128 |
0.002 |
0.0130 |
91 |
100 |
0.128 |
0.002 |
0.0132 |
91 |
102 |
0.129 |
0.002 |
0.0133 |
92 |
102 |
(산화붕소 0.3wt%)
분류 |
Si(wt%) |
Al(wt%) |
B(wt%) |
Si회수율(%) |
B회수율(%) |
전극내 성분 |
0.14 |
0.003 |
0.0130 |
- |
- |
ESR후 강괴 높이에 따른 성분변화 |
0.125 |
0.002 |
0.0068 |
89 |
52 |
0.128 |
0.003 |
0.0065 |
91 |
50 |
0.126 |
0.002 |
0.0070 |
90 |
54 |
0.125 |
0.002 |
0.0068 |
89 |
52 |
0.130 |
0.003 |
0.0072 |
93 |
55 |
0.124 |
0.002 |
0.0071 |
89 |
55 |
0.128 |
0.002 |
0.0075 |
91 |
58 |
0.126 |
0.002 |
0.0073 |
90 |
56 |
0.129 |
0.002 |
0.0076 |
92 |
58 |
(산화붕소 0.3wt%)
분류 |
Si(wt%) |
Al(wt%) |
B(wt%) |
Si회수율(%) |
B회수율(%) |
전극내 성분 |
0.27 |
0.005 |
0.0093 |
- |
- |
ESR후 강괴 높이에 따른 성분변화 |
0.265 |
0.011 |
0.0082 |
98 |
89 |
0.265 |
0.012 |
0.0083 |
98 |
90 |
0.265 |
0.013 |
0.0083 |
98 |
90 |
0.268 |
0.012 |
0.0085 |
99 |
92 |
0.268 |
0.013 |
0.0083 |
99 |
90 |
0.263 |
0.012 |
0.0086 |
97 |
93 |
0.266 |
0.012 |
0.0085 |
98 |
92 |
0.266 |
0.011 |
0.0089 |
98 |
96 |
0.265 |
0.013 |
0.0086 |
98 |
93 |
0.265 |
0.011 |
0.0089 |
98 |
96 |
0.260 |
0.010 |
0.0087 |
96 |
94 |
0.268 |
0.011 |
0.0080 |
99 |
86 |
보론 산화 관련 용융금속(강괴) 및 슬래그의 주반응은,
3(SiO2) + 4B = 2(B2O3) + 3Si
log K = {(aB2O3
2)(aSi
3)}/{(aSiO2
3)(a
B
4)}
으로 나타낼 수 있는데, 상기 식에서 aB2O3는 슬래그내 산화붕소의 활동도, aSi는 소모전극내 실리콘 활동도, aSiO2는 슬래그내 실리카 활동도, aB는 소모전극내 보론 활동도를 각각 나타내며, K는 상기 활동도에 따라 결정되는 상수이다.
위 식에서, 슬래그내 산화물인 실리카 및 산화붕소의 활동도 비 및 소모전극내 실리콘 활동도에 따라, ESR후 강괴내 보론 농도가 변화한다는 것을 알 수 있다. 즉, 도 7에 도시된 바와 같이, 슬래그내 산화붕소 농도가 증가할수록 ESR 정련후 강괴내 보론 농도가 직선적으로 증가한다는 알 수 있다. 또한, 슬래그내 산화붕소 농도가 동일한 조건에서, 소모전극내 실리콘 농도가 증가할수록 강괴내 보론 농도가 증가함을 알 수 있다. 이는, ESR 정련후, 강괴내 균일한 보론 함량을 얻기 위해서 소모전극내 보론 농도보다는 실리콘 농도(실리콘 활동도(aSi))가 중요하며, 적정 실리카 활동도(aSiO2)로 조절된 슬래그내 산화붕소 농도가 상당히 중요한 인자임을 나타낸다.
분류 |
Si |
Al |
B |
기타 주요원소 |
aSi
|
전극내 성분 |
0.10 |
0.003 |
0.0090 |
Ni, Cr, Mo, V, Nb, Co, N |
0.11 |
0.14 |
0.003 |
0.0130 |
Ni, Cr, Mo, V, Nb, Co, N |
0.16 |
0.27 |
0.005 |
0.0093 |
Ni, Cr, Mo, V, Nb, W, N |
0.31 |
이를 확인하기 위하여, 상기 표 12에 나타낸, 소모전극내 화학조성에 따른 실리콘 활동도(aSi) 및 슬래그내 첨가된 산화붕소의 농도에 따른 ESR후 강괴내 보론 농도 관계를 조사한 결과를 도 8에 나타내었다. 즉, 표 12 및 도 8에 나타나는 바와 같이, 소모전극내 실리콘 활동도(aSi) 및 슬래그내 첨가된 산화붕소 농도가 증가함에 따라, ESR 정련후 강괴내 보론 농도가 증가한다는 것을 알 수 있다. 따라서, 소모전극내 실리콘 활동도(aSi) 및 슬래그내 첨가되는 산화붕소의 농도를 조절함으로써, 목표로 하는 보론 농도를 균일하게 함유하는, ESR에 의한 고크롬 강괴의 제조가 가능함을 알 수 있다.
산화붕소의 첨가량을 결정하기 하기 위하여, 소모전극 내의 실리콘 활동도를 aSi라 하고, 강괴내 목표 보론 농도를 [Bppm]Ingot이라 할 때, 산화붕소 첨가량 (wt%B2O3)Slag은,
log[Bppm]Ingot = 0.38log(aSi) + K
log(K)=0.109log(wt%B2O3)Slag + 0.384
의 관계에 의하여 결정될 수 있다.
즉, 소모전극내 실리콘 활동도(aSi)와 목표로 하는 강괴내 보론 농도에 의하여 상수 K를 구할 수 있으며, 상기 식과 도 9에 나타나는 바와 같이 상수 K의 증감에 따라 산화붕소의 첨가량이 증감되어야 함을 알 수 있다.
상기 식과 시험결과로부터, 상기 슬래그 내 첨가하는 산화붕소의 함량은 0∼10wt%인 것이 바람직한 것을 알 수 있었다.
한편, 소모전극은, 실리콘(Si):0.5wt% 이하, 크롬(Cr):5∼30wt%, 보론(B):0∼500ppm, 탄소(C):0.05∼0.30wt%, 망간(Mn):0.05∼1.0wt%, 니켈(Ni):0.10∼10.0wt%, 바나듐(V):0.01∼0.20wt%, 알루미늄(Al):0.10wt%이하, 니오브(Nb):0.01∼0.30wt%, 텅스텐(W):0.10∼4.0wt%이고, 나머지가 철 및 기타 제어 불가능한 불순원소인 인(P), 황(S), 비소(As), 안티몬(Sb), 주석(Sn)의 화학조성으로 이루어질 수 있다.
또한, 상기 슬래그 조성은, 형석(CaF2)을 제외한 CaO-Al2O3-SiO2
3원계 슬래그 내에서, 실리카 활동도 범위가 0.0005∼0.005로 제어된 CaF2-CaO-Al2O3-SiO
2 4원계 슬래그 조성을 기본으로 하며, 상기 형석의 함량은 12∼54wt%, 생석회(CaO)+알 루미나(Al2O3)의 함량은 80wt% 이하로 하는 것이 바람직하다.