KR20060030689A - 기판 세정 장치 - Google Patents

기판 세정 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20060030689A
KR20060030689A KR1020040079547A KR20040079547A KR20060030689A KR 20060030689 A KR20060030689 A KR 20060030689A KR 1020040079547 A KR1020040079547 A KR 1020040079547A KR 20040079547 A KR20040079547 A KR 20040079547A KR 20060030689 A KR20060030689 A KR 20060030689A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cleaning
filter
tank
circulation line
cleaning solution
Prior art date
Application number
KR1020040079547A
Other languages
English (en)
Inventor
권영주
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020040079547A priority Critical patent/KR20060030689A/ko
Publication of KR20060030689A publication Critical patent/KR20060030689A/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/6704Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
    • H01L21/67057Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking

Abstract

본 발명은 기판을 습식 세정하는 기판 세정 장치에 관한 것으로, 본 발명의 기판 세정 장치는 세정용액을 가지고 웨이퍼를 세정하는 세정조; 상기의 세정조에 포함된 세정용액을 순환시키는 순환펌프가 설치된 제1순환라인과; 상기 순환라인에 설치되어 세정용액을 여과하는 여과기와; 상기 여과기는 세정용액이 유입되는 유입포트, 필터링된 세정용액이 배출되는 배출포트, 에어가 빠져나가는 벤트(vent)포트를 구비하고, 상기 여과기의 벤트포트와 상기 세정조를 연결하는 제2순환라인; 상기 제2순환라인에 설치되는 유량 감지 센서; 상기 유량감지센서로부터의 유량 검출 유무에 따라 상기 여과기가 막혔는지를 판단하는 제어부를 포함한다.

Description

기판 세정 장치{SUBSTRATE CLEANING APPARATUS}
도 1은 일반적인 웨트 스테이션 장비의 구성도;
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 웨트 스테이션 장비의 구성도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
110 : 세정조
120 : 제1순환라인
126 : 여과기
130 : 제2순환라인
132 : 유량감지센서
본 발명은 반도체 제조 장비에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 기판을 습식 세정하는 기판 세정 장치에 관한 것이다.
일반적으로 반도체 제조공정 내에서 웨이퍼는 사진, 이온확산, 식각, 화학기 상증착 및금속 증착 등의 공정을 반복하여 거치게 된다.
반도체 장치는 이러한 여러 가지 공정중에 식각공정을 비롯해 웨이퍼를 일정한 화학약품에 담가 웨이퍼의 표면에 부착된 일정성분을 제거하는 공정들이 있으며, 이러한 공정은 웨트 스테이션(wet-station)장비에서 이루어진다.
도 1을 참조하면, 웨트 스테이션 장비는 크게 세정조(12), 배관(14), 펌프(16) 및 여과기(18)로 구성된다.
세정조(12)는 내조(12a)와 외조(12b)로 분리 구성되며 내조(12a) 및 외조(12b)의 저면에는 배관(14)이 연결되어 설치된다. 배관(14)에는 펌프(16) 및 여과기(18)가 설치된다. 세정조(12)의 내조(12a)에는 세정될 기판들이 적재된 웨이퍼 가이드(미도시됨)가 장착되며 항상 청정한 상태를 유지시켜 주기 위해 세정 용액을 넘쳐흐르게 한다.
여기서 세정 용액은 외조(12b)로 오버플로우 된다. 외조(12b)로 흘러 넘친 세정용액은 배관(14)을 통해 흐르게 된다. 배관(14)을 통해 흐르는 세정용액을 여과기(16)로 공급하여 여과시킨 후 내조(12a)로 다시 공급하기 위해 펌프(16)가 작동하게 된다.
한편, 상기 여과기(18)가 입자가 큰 부유물이나 오염 물질에 의해 막힐 경우, 순환되는 액이 여과기(18)의 아웃 포트(18b)쪽으로 흐르지 못하고, 여과기의 에어벤트 포트(18c)쪽으로 흐르게 되고, 이 경우 약액이 순환되지 않음으로 인해 공정 이상이 발생하게 된다.
본 발명은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 여과기의 교체 시기를 알 수 있는 새로운 형태의 기판 세정 장비를 제공하는데 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 기판 세정 장치는 세정용액을 가지고 웨이퍼를 세정하는 세정조; 상기의 세정조에 포함된 세정용액을 순환시키는 순환펌프가 설치된 제1순환라인과; 상기 순환라인에 설치되어 세정용액을 여과하는 여과기와; 상기 여과기는 세정용액이 유입되는 유입포트, 필터링된 세정용액이 배출되는 배출포트, 에어가 빠져나가는 벤트(vent)포트를 구비하고, 상기 여과기의 벤트포트와 상기 세정조를 연결하는 제2순환라인; 상기 제2순환라인에 설치되는 유량 감지 센서; 상기 유량감지센서로부터의 유량 검출 유무에 따라 상기 여과기가 막혔는지를 판단하는 제어부를 포함한다.
예컨대, 본 발명의 실시예들은 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예들로 인해 한정되어 지는 것으로 해석되어져서는 안 된다. 본 실시예들은 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되어지는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면 도 2에 의거하여 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 기판 세정을 위한 웨트 스테이션 장비를 보여주는 구성도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 웨트 스테이션 장비(100)는 크게 세정조(110), 제1순환라인(120), 펌프(122), 히터(124), 여과기(126), 제2순환라인(130) 그리고 유량감지센서(132)를 포함하고 있다.
상기 세정조(110)는 내조(112a)와 외조(112b)로 분리 구성되며 내조(112a) 및 외조(112b)의 저면에는 제1순환라인(120)이 연결되어 설치된다. 외조(112b)의 저면에 설치된 제1순환라인(120)에는 펌프(122), 히터(124) 및 여과기(126)가 설치된다. 세정조(110)의 내조(112a)에는 세정될 기판들이 적재된 웨이퍼 가이드(미도시됨)가 장착되며 항상 청정한 상태를 유지시켜 주기 위해 세정 용액을 넘쳐흐르게 한다.
여기서 세정 용액은 외조(112b)로 넘쳐흐르게 된다. 외조(112b)로 흘러 넘친 세정용액은 제1순환라인(120)을 통해 흐르게 된다. 펌프(122)는 제2순환라인(120)을 통해 흐르는 세정용액을 여과기(126)로 공급하여 여과시킨 후 내조(112a)로 다시 공급하기 위해 작동된다.
펌프(122)의 작동에 의해 세정용액은 여과기(126)로 공급된다. 여과기(126)로 공급된 세정용액은 부유물이나 오염물질이 여과된 후 제1순환라인을 통해 내조(112a)로 공급하여 재순환된다. 일정 시간 동안 재순환시켜 사용된 세정용액은 완전히 제거한 후 다시 새로운 세정용액으로 교체 사용될 수 있다. 교체된 새로운 세정용액은 기판들을 세정하기 위해 순환되며 순환되는 세정용액에 포함된 부유물이나 오염 물질은 여과기(126)에 의해 여과된다.
한편, 상기 여과기(126)는 세정용액이 유입되는 유입포트(126a)와, 필터링된 세정용액이 배출되는 배출포트(126b) 그리고 에어가 빠져나가는 벤트(vent)포트 (126c)를 구비하며, 상기 여과기의 벤트포트(126c)에는 제2순환라인(130)이 연결된다. 이 제2순환라인(130)은 상기 세정조의 외조에 연결되어, 상기 여과기(126)가 막혔을 경우 세정용액을 상기 외조로 순환시킨다.
상기 유량감지센서(132)는 상기 제2순환라인(130)에 설치되어 제2순환라인으로 세정용액이 흐르는가는 감지하게 된다. 상기 유량감지센서(132)로부터의 유량이 검출되면, 상기 제어부(134)에서는 여과기가 막혀있다는 것을 알 수 있다.
본 발명의 웨트 스테이션 장비에 의한 세정 방법을 살펴보면 다음과 같다.
먼저, 별도의 유닛을 통해 약 25℃∼170℃의 온도로 유지된 세정용액은 제1순환 라인(120)을 통해 내조(112a)의 바닥 중앙부로 공급된다.
내조(112a)로 공급된 세정용액은 내조(112a)의 하부에서 상부로 순환되면서 웨이퍼(w)를 세정한다. 웨이퍼(w)를 세정한 세정용액은 내조(112a)에서 외조(112b)로 오버플로우(overflow)됨으로써, 웨이퍼(w)에 부착되어 있던 미립자 등의 오염 물질을 외조(112b)로 이탈시킨다. 이러한 방식으로 외조(112b)의 수위가 적정 레벨이 될 때까지 순환 라인을 통해 세정용액을 계속 공급하면서 웨이퍼(w)들의 세정을 계속 수행한다.
외조(112b)의 수위가 적정 레벨 이상이 될 때에는 외조(112b)의 바닥에 연결된 드레인 밸브(도시하지 않음)를 열고 펌프(122)를 작동시킨다. 외조(112b)의 밖으로 배출된 세정용액은 펌프(122)에 의해 펌핑되어 히터를 거친 후 여과기(126)로 보내진다. 상기 여과기(126)를 통해 여과된 세정용액은 다시 내조(112a)로 공급된다.
상술한 바와 같이 세정 방법에 의하면, 내조의 바닥 중앙부에 위치한 제1순환 라인을 통해 세정용액을 공급하고 내조의 하부에서 상부로 세정용액을 순환시키면서 웨이퍼를 세정한다.
한편, 상기 여과기(126)가 입자가 큰 부유물이나 오염 물질에 의해 막힐 경우, 순환되는 액이 여과기의 배출포트(126b)쪽으로 흐르지 못하고, 여과기의 에어벤트 포트(126c)를 통해 제2순환라인(130)으로 흐르게 되고, 이 경우 유량감지센서(132)가 이를 감지하게 되고, 제어부(134)에서는 여과기가 막혀 있다고 판단하게 되어 작업자에게 여과기의 교체가 필요함을 알려주게 된다.
이상에서, 본 발명에 따른 기판 세정 장비의 구성 및 작용을 상기한 설명 및 도면에 따라 도시하였지만 이는 예를 들어 설명한 것에 불과하며 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및 변경이 가능함은 물론이다.
이와 같은 본 발명에 의하면, 세정용액의 순환 불량으로 인한 공정 이상을 방지하고, 여과기의 교체 시기를 알 수 있다.


Claims (2)

  1. 기판 세정 장치에 있어서:
    세정용액을 가지고 웨이퍼를 세정하는 세정조;
    상기의 세정조에 포함된 세정용액을 순환시키는 순환펌프가 설치된 제1순환라인과;
    상기 순환라인에 설치되어 세정용액을 여과하는 여과기와;
    상기 여과기는 세정용액이 유입되는 유입포트, 필터링된 세정용액이 배출되는 배출포트, 에어가 빠져나가는 벤트(vent)포트를 구비하고,
    상기 여과기의 벤트포트와 상기 세정조를 연결하는 제2순환라인;
    상기 제2순환라인에 설치되는 유량 감지 센서;
    상기 유량감지센서로부터의 유량 검출 유무에 따라 상기 여과기가 막혔는지를 판단하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 세정 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 세정조는
    내조와, 내조로부터 오버플로우되는 세정용액을 받아내는 외조로 이루어지고,
    상기 제1순환라인은 상기 외조로부터 상기 내조로 세정용약이 순환되는 것을 특징으로 하는 기판 세정 장치.
KR1020040079547A 2004-10-06 2004-10-06 기판 세정 장치 KR20060030689A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040079547A KR20060030689A (ko) 2004-10-06 2004-10-06 기판 세정 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040079547A KR20060030689A (ko) 2004-10-06 2004-10-06 기판 세정 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20060030689A true KR20060030689A (ko) 2006-04-11

Family

ID=37140634

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020040079547A KR20060030689A (ko) 2004-10-06 2004-10-06 기판 세정 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20060030689A (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101388110B1 (ko) * 2007-10-22 2014-04-22 주식회사 케이씨텍 습식세정장치 및 그 운용방법
KR20150138928A (ko) * 2014-05-30 2015-12-11 세메스 주식회사 필터 유닛 및 그것을 갖는 약액 공급 장치
CN111760372A (zh) * 2019-04-02 2020-10-13 北京北方华创微电子装备有限公司 过滤装置及清洗设备

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101388110B1 (ko) * 2007-10-22 2014-04-22 주식회사 케이씨텍 습식세정장치 및 그 운용방법
KR20150138928A (ko) * 2014-05-30 2015-12-11 세메스 주식회사 필터 유닛 및 그것을 갖는 약액 공급 장치
CN111760372A (zh) * 2019-04-02 2020-10-13 北京北方华创微电子装备有限公司 过滤装置及清洗设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI616968B (zh) 基板液體處理裝置、基板液體處理裝置之清洗方法及記錄媒體
US20150020968A1 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
US20130220478A1 (en) Process liquid changing method and substrate processing apparatus
KR100202191B1 (ko) 반도체 웨이퍼 습식 처리장치
KR20060030689A (ko) 기판 세정 장치
KR100598914B1 (ko) 약액 재생 시스템 및 약액 재생 방법, 그리고 상기시스템을 가지는 기판 처리 설비
KR100598918B1 (ko) 반도체 제조 설비에서 사용되는 약액 공급 장치 및 방법
KR100626869B1 (ko) 반도체 웨이퍼 세정 시스템
JP2000173962A (ja) ウエハ洗浄装置及び洗浄方法
KR100801656B1 (ko) 처리액 공급 방법
KR100949096B1 (ko) 기판 세정 방법
KR100701395B1 (ko) 오토스트레이너의 약품세정 장치 및 방법
KR100794585B1 (ko) 습식 세정 장치 및 방법
KR101987810B1 (ko) 기판 처리 장치
KR100593672B1 (ko) 웨이퍼 세척 장치
KR100220382B1 (ko) 반도체 습식장치
JP3639154B2 (ja) バッチ式処理槽
KR100868538B1 (ko) 기판 처리 장치
KR100489652B1 (ko) 반도체장치 제조용 혼합형 웨이퍼 침지장치
KR20060015891A (ko) 반도체 제조설비의 화학약품 배출장치
KR19990081141A (ko) 반도체 세정장비의 부품세척장치
JPH11176793A (ja) 洗浄装置
KR20080021227A (ko) 세정수 공급장치
KR20050003896A (ko) 반도체 제조 설비의 세정액 순환 장치
KR20070069562A (ko) 웨이퍼 세정용 약액 공급 시스템

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination