KR20050030253A - Interface device for jtag i/o test - Google Patents

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KR20050030253A
KR20050030253A KR1020030066442A KR20030066442A KR20050030253A KR 20050030253 A KR20050030253 A KR 20050030253A KR 1020030066442 A KR1020030066442 A KR 1020030066442A KR 20030066442 A KR20030066442 A KR 20030066442A KR 20050030253 A KR20050030253 A KR 20050030253A
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KR
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jtag
test
terminal
cable
interface
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Application number
KR1020030066442A
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Korean (ko)
Inventor
이경구
김상윤
김유수
Original Assignee
삼성전자주식회사
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing

Abstract

An interface device for a JTAG(Joint Test Action Group) I/O test is provided to prevent a time for connecting with a JTAG interface from increasing, without comprising another pin/test points for outputting trace data in a terminal MSM, thereby shortening a development period. A cable connector(20) includes a charging port(22), and comprises as follows. A body(21) has JTAG plugs(23) for electrically connecting with a debugging test tool on one side. A plug(25) is ejected from the body(21) by a cable, and couples 5 JTAG signal lines in connection with an interface connector of a terminal. A USB plug(26) is ejected from the body(20) by a cable, and connects with a PC through a USB port.

Description

국제 공동 테스트 액션 그룹에 의한 입출력 테스트를 위한 인터페이스 장치{INTERFACE DEVICE FOR JTAG I/O TEST} Interface device for I / O test by international joint test action group {INTERFACE DEVICE FOR JTAG I / O TEST}

본 발명은 IEEE 표준 1149.1-1990 또는 IEEE 표준 1149.1-1990(IEEE 표준 1149.1a-1993 포함)에 따른 JTAG에 의한 단말기의 디버깅 테스트 장치에 관한 것으로서, 특히 단말기와 디버깅 테스트 툴간의 접속이 용이하도록 구성되는 JTAG 입출력 테스트를 위한 인터페이스 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a debugging test apparatus for a terminal by JTAG according to IEEE standard 1149.1-1990 or IEEE standard 1149.1-1990 (including IEEE standard 1149.1a-1993), and is particularly configured to facilitate connection between the terminal and the debugging test tool. Interface device for JTAG I / O testing.

통상적으로, 집적 회로(IC) 칩내에 구현되는 복잡한 집적 회로를 테스트하는 잘 알려진 방법은 국제 공동 테스트 액션 그룹(JTAG:Joint Test Action Group)에 의해 만들어진 IEEE 1149.1 경계-스캔 표준(boundary-scanned standard)이다. 이러한 표준의 한가지 구현예는 집적 회로 소자의 주변을 둘러싸는 경로를 형성하기 위해 데이지 형태로 연결된(daisy chained) 쉬프트-레지스터 소자들을 제공함으로써, 직렬 경계-스캔 테스트를 위한 소자들(예를 들어, 집적 회로)을 설계하는 것을 수반한다. Typically, well-known methods for testing complex integrated circuits implemented in integrated circuit (IC) chips are the IEEE 1149.1 boundary-scanned standard (JTAG) created by the International Joint Test Action Group (JTAG). to be. One implementation of this standard provides devices for serial boundary-scan testing by providing daisy chained shift-register elements to form a path that surrounds the periphery of the integrated circuit device. Designing an integrated circuit).

JTAG를 이용하여 직렬 테스트하는 일반적인 개념은 집적 회로 소자 내부의 회로를 자극하기 위해 즉, 회로로부터 소정의 출력 신호들을 발생시키기 위해 다수개의 집적회로 소자들 내부로 그리고 그들을 통하여 직렬 데이터를 쉬프트시키는 것이다. 그런후에, 집적 회로 소자들에 의해 발생되거나, 집적 회로 소자의 입력핀들로 받아들여지는 데이터는 집적회로 소자에서 JTAG 마스터 테스트 회로로 쉬프트된다.The general concept of serial testing using JTAG is to shift serial data into and through multiple integrated circuit devices to stimulate a circuit inside the integrated circuit device, i.e. generate certain output signals from the circuit. Then, the data generated by the integrated circuit elements or received by the input pins of the integrated circuit elements is shifted from the integrated circuit elements to the JTAG master test circuit.

만약, 마스터 테스트 회로로 돌아온 데이터 스트림이 기대된 것과 다르다면, 테스트 회로에 의해 회로 내의 오동작이 검출된다. 소프트 웨어의 제어하에 데이터 스트림에 존재하는 상기 편차들을 신중하게 분석하면, 회로내에 존재하는 어떠한 오동작도 분리해낼 수 있는 것이다.If the data stream returned to the master test circuit is different from what was expected, a malfunction in the circuit is detected by the test circuit. By carefully analyzing the deviations present in the data stream under software control, any malfunctions present in the circuit can be isolated.

상술한 JTAG 인터페이스에 의한 기존의 테스트 방법으로는 단말기의 RF 보드의 PBA상에 JTAG 신호를 위한 테스트 포인트를 5곳을 만들어서 점퍼로써 연결하여 사용하였다. In the existing test method using the JTAG interface described above, five test points for the JTAG signal were made on the PBA of the RF board of the terminal and used as a jumper.

도 1a 및 도 1b는 종래 기술에 따른 JTAG 신호를 위한 테스트 포인트의 위치를 도시한 PBA의 도면으로써, 기존에는 도 1a와 같이 PBA상에 ICD 케이블을 연결하여 테스트를 하거나, 도 1b와 같이 RF 보드상에 테스트 포인트를 만들어서 테스트를 수행하였다.1A and 1B are diagrams of a PBA showing the location of a test point for a JTAG signal according to the prior art, which is conventionally tested by connecting an ICD cable on the PBA as shown in FIG. 1A, or as shown in FIG. 1B. The test was performed by creating test points on the screen.

그러나 상술한 바와 같이, PBA상에 점퍼를 이용하여 연결하여 사용하게 되면 상당한 시간이 소요되며, 모델별로 JTAG 신호를 연결하기 위한 테스트 포인트의 순서 및 위치가 바뀌어야하는 불편한 문제점이 발생된다. However, as described above, when using a jumper on the PBA is used for a considerable time, there is an inconvenient problem that the order and position of the test point for connecting the JTAG signal for each model has to be changed.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로써 본 발명의 목적은 단말기의 표준 인터페이스 컨넥터를 이용하여 짧은 시간내에 테스트 준비를 수행할 수 있도록 구성되는 JTAG 입출력 테스트를 위한 인터페이스 장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an interface device for a JTAG input / output test configured to perform test preparation in a short time using a standard interface connector of a terminal.

본 발명의 다른 목적은 다양한 모델에 적용시 개발 시간을 단축시킬 수 있도록 구성되는 JTAG 입출력 테스트를 위한 인터페이스 장치를 제공하는데 있다 It is another object of the present invention to provide an interface device for JTAG input / output test configured to reduce development time when applied to various models.

상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명은 JTAG에 의한 입출력 테스트를 위하여 단말기와 디버깅 테스트 툴을 연결시키기 위한 인터페이스 장치에 있어서, JTAG 신호 라인을 위한 테스트 포인트들이 오픈된 접점 부분에 각각 연결되는 단말기의 인터페이스 컨넥터와 상기 단말기 인터페이스 컨넥터와 일측에서 접속하되 상기 JTAG 신호 라인들과 상응한 접점부가 형성되는 플러그를 구비하며, 타측에는 디버깅 테스트 툴에 연결되기 위한 JTAG 플러그를 구비하는 케이블 컨넥터를 포함함을 특징으로 한다.In order to solve the above object, the present invention provides an interface device for connecting a terminal and a debugging test tool for input / output testing by JTAG, wherein the test points for the JTAG signal line are connected to an open contact portion. A cable connector having a JTAG plug for connecting to an interface connector of the terminal to be connected to each other and the terminal interface connector on one side, the contact portion corresponding to the JTAG signal lines is formed, the other side is connected to the debugging test tool Characterized by including.

이하 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described.

도 2는 본 발명에 따른 휴대용 무선단말기의 인터페이스 컨넥터의 회로도로써, 단말기는 도시되지 않았으며, 인터페이스 컨넥터(10)만을 도시하였다. 상기 인터페이스 컨넥터(10)에는 전원 공급 라인, USB 데이터 라인, 그라운드 단자등이 연결되어 있다. 본 발명에서는 이 인터페이스 라인중 오픈된 라인 5곳을 JTAG 신호를 위한 테스트 포인트로써 사용하고, 이에 상응한 케이블 컨넥터를 연결하여 디버깅 테스트 툴에 연결하게 된다.2 is a circuit diagram of an interface connector of a portable wireless terminal according to the present invention. The terminal is not shown, and only the interface connector 10 is shown. The interface connector 10 is connected to a power supply line, a USB data line, a ground terminal, and the like. In the present invention, five open lines of the interface line are used as test points for the JTAG signal, and the corresponding cable connectors are connected to the debugging test tool.

도 2에 도시한 바와 같이, JTAG 신호 라인은 선택적 테스트 리셋 신호(TRST_)(11), 테스트 데이타 입력 신호(TDI)(12), 테스트 모드 선택 신호(TMS)(13), 테스트 클럭 신호(TCK)(14) 및 테스트 데이타 출력 신호(TDO)(15)를 포함한다.As shown in FIG. 2, the JTAG signal line includes an optional test reset signal (TRST_) 11, a test data input signal (TDI) 12, a test mode selection signal (TMS) 13, and a test clock signal (TCK). 14 and a test data output signal (TDO) 15.

도 3은 본 발명에 따른 단말기의 인터페이스 컨넥터(도 2의 10)와 디버깅 테스트 툴에 전기적으로 연결시켜주기 위한 케이블 컨넥터(20)의 개략적인 도면으로써, 본 발명에 따른 케이블 컨넥터(20)는 충전구(22)를 포함하며, 일측에 디버깅 테스트 툴에 전기적으로 접속하기 위한 JTAG 플러그(23)가 설치되는 바디(21)와, 상기 바디(21)상에서 일정 길이의 케이블에 의해 인출되며, 단부에 상기 단말기의 인터페이스 컨넥터(도 2의 10)와 접속하여, 상술한 5개의 JTAG신호 라인(11, 12, 13, 14, 15)을 연결시켜주는 플러그(25) 및 상기 바디(20)상에서 일정 길이 만큼 소정의 케이블에 의해 인출되며, 단부에 PC등이 USB 포트에 연결되는 USB 플러그(26)가 설치된다. 상기 플러그(25)는 바람직하게는 24핀 플러그가 될 수 있다.3 is a schematic diagram of a cable connector 20 for electrically connecting an interface connector (10 of FIG. 2) and a debugging test tool of a terminal according to the present invention, wherein the cable connector 20 according to the present invention is charged. It includes a sphere 22, the body 21 is provided with a JTAG plug 23 for electrically connecting to the debugging test tool on one side, and drawn out by a cable of a predetermined length on the body 21, the end It is connected to the interface connector (10 in FIG. 2) of the terminal, the plug 25 for connecting the above-mentioned five JTAG signal lines (11, 12, 13, 14, 15) and a predetermined length on the body 20 It is drawn out by a predetermined cable, and the end is provided with a USB plug 26 connected to a USB port such as a PC. The plug 25 may preferably be a 24-pin plug.

도 4는 본 발명에 따른 케이블 컨넥터의 회로도로써 바디에 설치되는 충전구(22)와, JTAG 플러그(23)를 도시하였다. 상기 JTAG 플러그(23)에는 역시 선택적 테스트 리셋 신호(TRST_), 테스트 데이타 입력 신호(TDI), 테스트 모드 선택 신호(TMS), 테스트 클럭 신호(TCK) 및 테스트 데이타 출력 신호(TDO)가 포함된다. 더욱이, 접속되는 장치의 데이터 전송부와 연결되는 USB D+, USB D-의 두 개의 데이터 전송 라인을 가지고 있으며, 하나의 접지 단자(ground terminal)와 전원을 공급하기 위한 vbus 라인으로 구성된다. 이는 공지된 USB구성 요소이므로 부호화하지 않았다.4 is a circuit diagram of a cable connector according to the present invention, which shows a charging port 22 installed in a body and a JTAG plug 23. The JTAG plug 23 also includes an optional test reset signal TRST_, a test data input signal TDI, a test mode select signal TMS, a test clock signal TCK, and a test data output signal TDO. Furthermore, it has two data transmission lines, USB D + and USB D-, which are connected to the data transmission part of the connected device, and consists of a ground terminal and a vbus line for supplying power. Since it is a known USB component, it is not encoded.

도 5는 본 발명에 따른 케이블 컨넥터의 케이블 연결 구조를 도시한 회로도로써, 케이블 컨넥터(20)의 24핀 컨넥터(T24 USB 케이블)(25)를 도시하고 있으며, 그 하측에 USB 플러그(26)를 도시하고 있다.FIG. 5 is a circuit diagram illustrating a cable connection structure of a cable connector according to the present invention, and shows a 24-pin connector (T24 USB cable) 25 of the cable connector 20, and shows a USB plug 26 on the lower side thereof. It is shown.

따라서, 단말기의 MSM에서 JTAG 인터페이스를 위한 신호들(TRST_, TDI, TMS, TCK,TDO)을 단말기의 인터페이스 컨넥터를 통해 이와 연결된 케이블 컨넥터의 플러그(T24 USB 케이블)로 보내면, 이 신호들은 케이블내에서 DSP JTAG(CON14)(21')처럼 만들어주어 연결되도록 한다. 그후, 외부에 돌출되어 있는 JTAG플러그에 ICD 케이블을 연결하여 테스트를 수행할 수 있는 것이다.Therefore, when the terminal's MSM sends signals for the JTAG interface (TRST_, TDI, TMS, TCK, TDO) to the plug of the cable connector (T24 USB cable) connected to it through the terminal's interface connector, these signals Make it like a DSP JTAG (CON14) (21 ') to be connected. After that, the test can be performed by connecting the ICD cable to the JTAG plug protruding from the outside.

즉, 본 발명에 의한 JTAG를 이용한 테스트를 위한 인터페이스 장치는 단말기에 구현된 24PIN IF CONNECTOR 입/출력용 핀들을 이용하여 트레이스 데이터를 출력할 수 있는 것이다.That is, the interface device for testing using the JTAG according to the present invention can output trace data using pins for 24PIN IF CONNECTOR input / output implemented in the terminal.

또한, 단말기의 제어부인 MSM의 발전에 따라 RTCK, RESET등의 단자를 추가하여 핀수가 늘어날 수 있다.In addition, with the development of MSM, which is a control unit of the terminal, the number of pins may increase by adding terminals such as RTCK and RESET.

분명히, 청구항들의 범위내에 있으면서 이러한 실시예들을 변형할 수 있는 많은 방식들이 있다. 다시 말하면, 이하 청구항들의 범위를 벗어남 없이 본 발명을 실시할 수 있는 많은 다른 방식들이 있을 수 있는 것이다. Apparently, there are many ways to modify these embodiments while remaining within the scope of the claims. In other words, there may be many other ways in which the invention may be practiced without departing from the scope of the following claims.

본 발명에 따른 인터페이스 장치를 사용하는 단말기의 MSM은 트레이스 데이터를 출력하기 위한 별도의 핀 / 테스트 포인트들을 구비하지 않아도 되며, 트레이스 데이터를 출력하기 위한 별도의 핀들을 PBA 구현함에 따른 PBA상의 공간 증가와 JTAG 인터페이스를 연결하는데 사용되는 시간 증가를 방지하여 개발기간을 단축하여 비용 절감 효과를 도모할 수 있다.The MSM of the terminal using the interface device according to the present invention does not need to have separate pins / test points for outputting trace data, and increases the space on the PBA by implementing PBA with separate pins for outputting trace data. By reducing the time spent connecting the JTAG interface, the development time can be shortened, resulting in cost savings.

도 1a 및 도 1b는 종래 기술에 따른 JTAG 신호를 위한 테스트 포인트의 위치를 도시한 PBA의 도면;1A and 1B are diagrams of a PBA showing the location of a test point for a JTAG signal in accordance with the prior art;

도 2는 본 발명에 따른 휴대용 무선단말기의 인터페이스 컨넥터의 회로도;2 is a circuit diagram of an interface connector of a portable radio terminal according to the present invention;

도 3은 본 발명에 따른 단말기의 인터페이스 컨넥터와 디버깅 테스트 툴에 전기적으로 연결시켜주기 위한 케이블 컨넥터의 개략적인 도면;3 is a schematic diagram of a cable connector for electrically connecting an interface connector and a debugging test tool of a terminal according to the present invention;

도 4는 본 발명에 따른 케이블 컨넥터의 충전구를 포함한 바디의 회로도; 및4 is a circuit diagram of a body including a charging port of a cable connector according to the present invention; And

도 5는 본 발명에 따른 케이블 컨넥터의 케이블 연결 구조를 도시한 회로도. 5 is a circuit diagram showing a cable connection structure of a cable connector according to the present invention.

Claims (2)

JTAG에 의한 입출력 테스트를 위하여 단말기와 디버깅 테스트 툴을 연결시키기 위한 인터페이스 장치에 있어서,An interface device for connecting a terminal and a debugging test tool for input / output testing by JTAG, JTAG 신호 라인을 위한 테스트 포인트들이 오픈된 접점 부분에 각각 연결되는 단말기의 인터페이스 컨넥터와;An interface connector of the terminal each having test points for the JTAG signal line connected to an open contact portion; 상기 단말기 인터페이스 컨넥터와 일측에서 접속하되 상기 JTAG 신호 라인들과 상응한 접점부가 형성되는 플러그를 구비하며, 타측에는 디버깅 테스트 툴에 연결되기 위한 JTAG 플러그를 구비하는 케이블 컨넥터를 포함함을 특징으로 하는 JTAG 입출력 테스트를 위한 인터페이스 장치. A JTAG cable connected to the terminal interface connector at one side, the plug having a contact portion corresponding to the JTAG signal lines, and a JTAG plug for connecting to a debugging test tool at the other side; Interface device for I / O testing. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 케이블 컨넥터는 별도의 USB 플러그를 더 구비함을 특징으로 하는 JTAG 입출력 테스트를 위한 인터페이스 장치. The cable connector further comprises a separate USB plug interface device for JTAG input and output testing.
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