KR100816239B1 - Portable terminal having testing interface - Google Patents

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KR100816239B1
KR100816239B1 KR1020060128396A KR20060128396A KR100816239B1 KR 100816239 B1 KR100816239 B1 KR 100816239B1 KR 1020060128396 A KR1020060128396 A KR 1020060128396A KR 20060128396 A KR20060128396 A KR 20060128396A KR 100816239 B1 KR100816239 B1 KR 100816239B1
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portable terminal
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pin
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KR1020060128396A
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신주용
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(주)케이티에프테크놀로지스
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Abstract

A mobile terminal having a test interface is provided to test a mobile terminal according to the conventional method even when the number of an input/output socket is changed to 20 pins from the standard 24 pins, and make the mobile terminal compact and thin. A test pad(160) is installed in a PCB(Printed Circuit Board) opening region(150) exposed to an opening portion(140) formed at a battery receiving part(110) of a mobile terminal, and performs testing based on a JTAG(Joint Test Action Group). The test pad(160) is connected with one end of an FPCB(Flexible PCB)(170) and the other end of the FPCB(170) is connected to a test socket(180). The test pad(160) includes a pad for performing 7 JTAG-based testing and two pads for supplying power. The test socket(180) is a standard 24-pin socket of the TTA(Telecommunication Technology Association).

Description

테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기{Portable Terminal Having Testing Interface}Portable terminal having testing interface

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기를 나타낸 사시도이다.1 is a perspective view showing a portable terminal having a test interface according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 테스트 인터페이스의 상세한 구성을 나타내는 개념도이다.FIG. 2 is a conceptual diagram illustrating a detailed configuration of a test interface illustrated in FIG. 1.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따라 JTAG 테스트 패드와 표준 24핀의 연결관계를 나타낸다.3 illustrates a connection relationship between a JTAG test pad and a standard 24 pin according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

120 : UICC 소켓 130 : UICC120: UICC socket 130: UICC

140 : 개방부 150 : PCB 개방영역140: open part 150: PCB open area

160 : 테스트 패드부 170 : FPCB160: test pad unit 170: FPCB

180 : 테스트 소켓180: test socket

본 발명은 휴대용 단말기에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 휴대용 단말기의 테스트에 이용될 수 있는 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기에 관한 것이다.The present invention relates to a portable terminal, and more particularly to a portable terminal having a test interface that can be used for testing the portable terminal.

최근 들어 휴대성 및 사용 편의성 등을 이유로 휴대용 단말기가 소형, 경량, 슬림(slim)화 되고, 휴대용 단말기의 형태도 플립형, 폴더형에서 슬라이드형으로 제조되고 있다.Recently, portable terminals have become small, lightweight, and slim due to portability and ease of use, and portable terminals have also been manufactured in a flip type, a folding type, and a slide type.

또한, 이동통신이 3.5세대로 접어들면서 음성 통화 위주의 이동 통신 서비스에서 상대의 모습을 보면서 통화할 수 있는 화상 통화 서비스가 상용화되고 영상 및 음성 등과 같은 멀티미디어 파일의 고속 송수신이 가능해졌다.In addition, as mobile communication enters the 3.5 generation, a video call service capable of making a call while viewing a partner's appearance in a voice call-oriented mobile communication service is commercialized, and high-speed transmission and reception of multimedia files such as video and voice is enabled.

그리고, 휴대용 단말기에 스마트 기능이 구비된 범용 가입자 식별 모듈(USIM: Universal Subscriber Identity Module, 이하 'USIM' 이라 약칭함)이 장착되어 금융, 메모리, 로밍, 단말 이동 등 다양한 분야에서 사용자의 요구를 충족시킬 수 있게 되었다.In addition, the mobile terminal is equipped with a universal subscriber identity module (USIM: abbreviated as "USIM") equipped with smart functions to meet the needs of users in various fields, such as finance, memory, roaming, mobile terminal, etc. I can do it.

상기와 같이 휴대용 단말기가 소형화 및 슬림화되면서 부품을 실장하기 위한 공간이 부족하게 되어 한국정보통신기술협회(TTA)의 입출력단자 접속 표준인 24핀 소켓과 이어폰 소켓(예를 들면 14핀)을 통합하여 20핀으로 구성된 입출력 소켓으로 변경하려고 하는 시도가 진행되고 있다.As the portable terminal becomes smaller and slimmer as described above, there is a lack of space for mounting components. By integrating a 24-pin socket and an earphone socket (for example, 14-pin) which are input / output terminal connection standards of the Korea Information and Communication Technology Association (TTA), Attempts to change to 20-pin input / output sockets are underway.

한국정보통신기술협회의 표준 24핀 소켓이 20핀을 가지는 소켓으로 변경될 경우 현재 표준 24핀 소켓을 통해 수행되고 있는 여러 부가 기능들에 대한 대안의 마련이 요구된다.If the Korea Telecommunications Technology Association's standard 24-pin socket is changed to a socket having 20 pins, it is necessary to prepare an alternative to various additional functions currently being performed through the standard 24-pin socket.

표준 24핀 소켓의 부가 기능의 예를 들면 JTAG(Joint Test Action Group) 인 터페이스를 들 수 있다. JTAG는 집적회로와 인쇄회로기판의 테스트를 목적으로 Joint Test Action Group에 의해 제정된 표준으로 IEEE 1149.1(Test Access Port and Boundary-Scan Architecture)로 지정되었다.An example of an add-on to a standard 24-pin socket is the Joint Test Action Group (JTAG) interface. JTAG is a standard established by the Joint Test Action Group for the testing of integrated circuits and printed circuit boards and is designated IEEE 1149.1 (Test Access Port and Boundary-Scan Architecture).

일반적으로 휴대용 단말기의 양산과정에서 휴대용 단말기를 테스트하기 위해 표준 24핀 소켓에 JTAG 에뮬레이터(emulator)를 연결하고 표준 24핀 중에서 사용하지 않는 핀을 이용하여 테스트 신호를 제공함으로써 소프트웨어의 디버깅(debugging)을 수행하거나 소프트웨어를 다운로드한다.In general, during the mass production of portable terminals, debugging of software is provided by connecting a JTAG emulator to a standard 24-pin socket and providing a test signal using an unused pin among the standard 24-pin sockets. Run or download the software.

그러나, 표준 24핀 소켓이 20핀 소켓으로 변경되면 20핀 소켓에 사용하지 않는 여분의 핀이 사라지게 되어 상기와 같은 소프트웨어 디버깅 및 소프트웨어 다운로드와 같은 휴대용 단말기의 테스트를 위한 JTAG 인터페이스를 사용할 수 없게 된다. 따라서, 휴대용 단말기의 테스트를 위한 JTAG 인터페이스의 설치가 요구된다.However, if the standard 24-pin socket is changed to a 20-pin socket, the extra pins that are not used in the 20-pin socket disappear, and the JTAG interface for testing the portable terminal such as software debugging and software download is not available. Therefore, the installation of a JTAG interface for testing a portable terminal is required.

따라서, 본 발명의 목적은 테스트를 위한 별도의 소켓을 구비하지 않고 용이하게 휴대용 단말기를 테스트할 수 있는 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기를 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a portable terminal having a test interface capable of easily testing the portable terminal without having a separate socket for testing.

상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일측면에 따른 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기는 상기 휴대용 단말기의 배터리 수납부에 형성된 개방부에 노출되어 있는 인쇄회로기판의 개방영역에 설치된 적어도 하나의 테스트 패드를 포함하되 상기 적어도 하나의 테스트 패드는 연성인쇄회로기판의 일측단과 연결되고 상기 연성인쇄회로기판의 타측단은 테스트 소켓과 연결되어 상기 휴대용 단말기의 테스트에 이용된다. 상기 테스트 패드는 JTAG(Joint Test Action Group) 기반의 테스트를 수행하기 위한 패드일 수 있다. 상기 테스트 패드는 7개의 JTAG 기반의 테스트를 수행하기 위한 패드와 전원을 공급하기 위한 2개의 패드를 포함할 수 있다. 상기 테스트 패드는 상기 연성인쇄회로기판의 일측단과 솔더(solder)를 통해 전기적으로 접촉될 수 있다. 상기 테스트 소켓은 한국정보통신기술협회의 표준 24핀 소켓일 수 있다. 상기 적어도 하나의 테스트 패드 각각은 상기 연성인쇄회로기판을 통해 상기 테스트 소켓에 구비된 적어도 하나 이상의 핀 중 대응되는 핀과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 휴대용 단말기의 배터리 수납부에 형성된 개방부에 노출되어 있는 인쇄회로기판에는 범용 IC 카드(UICC) 소켓이 설치될 수 있다. 상기 휴대용 단말기는 20핀을 가지는 입출력 소켓을 구비할 수 있다.At least one portable terminal having a test interface according to an aspect of the present invention for achieving the object of the present invention is provided in the open area of the printed circuit board exposed to the opening formed in the battery housing of the portable terminal. The test pad may include a test pad, wherein the at least one test pad is connected to one end of the flexible printed circuit board, and the other end of the flexible printed circuit board is connected to a test socket and used for a test of the portable terminal. The test pad may be a pad for performing a test based on Joint Test Action Group (JTAG). The test pad may include pads for performing seven JTAG-based tests and two pads for supplying power. The test pad may be in electrical contact with one end of the flexible printed circuit board through a solder. The test socket may be a standard 24-pin socket of the Korea Information and Communication Technology Association. Each of the at least one test pad may be electrically connected to a corresponding pin among at least one or more pins provided in the test socket through the flexible printed circuit board. A general purpose IC card (UICC) socket may be installed on the printed circuit board exposed to the opening formed in the battery accommodating part of the portable terminal. The portable terminal may include an input / output socket having 20 pins.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다.As the present invention allows for various changes and numerous embodiments, particular embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the written description.

그러나, 이는 본 발명의 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.However, this is not intended to be limited to the specific embodiment of the present invention, it should be understood to include all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 이하, 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, it will be described in detail a preferred embodiment of the present invention. Hereinafter, the same reference numerals are used for the same components in the drawings, and duplicate descriptions of the same components are omitted.

그리고, 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as the second component, and similarly, the second component may also be referred to as the first component. The term and / or includes a combination of a plurality of related items or any item of a plurality of related items.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기를 나타낸 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 테스트 인터페이스의 상세한 구성을 나타내는 개념도로서, 도 1 및 도 2에 도시된 본 발명의 일실시예에 따른 휴대용 단말기는 20핀을 가지는 입출력 소켓을 구비하는 것으로 가정한다.1 is a perspective view showing a portable terminal having a test interface according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a conceptual diagram showing a detailed configuration of the test interface shown in Figure 1, the present invention shown in Figures 1 and 2 It is assumed that a portable terminal according to an embodiment of the present invention includes an input / output socket having 20 pins.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 휴대용 단말기는 휴대용 단말기의 배면에 배터리(미도시)가 장착되는 배터리 수납부(110)가 형성되고, 배터리 수납부(110) 저면의 소정 영역에는 범용 IC 카드(UICC: Universal Integrated Circuit Card, 이하 'UICC'이라 약칭함) 소켓(120)이 외부로 노출되어 UICC(130)를 용이하게 착탈할 수 있도록 하는 개방부(140)가 형성된다.1 and 2, in a portable terminal according to an embodiment of the present invention, a battery accommodating part 110, in which a battery (not shown) is mounted, is formed on a rear surface of the portable terminal, and a bottom of the battery accommodating part 110 is formed. In the predetermined region of the universal IC card (UICC: Universal Integrated Circuit Card, hereinafter abbreviated as "UICC") socket 120 is exposed to the outside, the opening portion 140 to easily detach the UICC (130) Is formed.

배터리 수납부(110)의 저면에 형성된 개방부(140)의 크기는 UICC 소켓(120)에 UICC(130)를 용이하게 장착할 수 있도록 하기 위해 UICC(130)와 동일한 크기를 가질 수 있다. The size of the opening 140 formed at the bottom of the battery accommodating part 110 may have the same size as the UICC 130 in order to easily mount the UICC 130 to the UICC socket 120.

UICC(130)는 예를 들어, USIM 카드, SIM(Subscriber Identity Module) 카드, UIM(user Identity Module) 카드, RUIM(Removable User Identity Module) 카드 등 이 될 수 있다. 이하, 본 발명의 실시예에서는 UICC(130)로 USIM 카드가 사용되고, UICC 소켓(120)은 USIM 카드를 탈착하기 위한 USIM 카드 소켓인 것으로 가정한다.The UICC 130 may be, for example, a USIM card, a subscriber identity module (SIM) card, a user identity module (UIM) card, a removable user identity module (RUIM) card, or the like. Hereinafter, in the embodiment of the present invention, it is assumed that the USIM card is used as the UICC 130 and the UICC socket 120 is a USIM card socket for detaching the USIM card.

UICC 소켓(120)은 개방부(140)에 노출된 인쇄회로기판(PCB: Printed Circuit Board, 이하 'PCB'이라 약칭함)의 소정 영역에 설치되고 PCB는 휴대용 단말기의 내부에 설치되어 휴대용 단말기를 구성하는 다양한 구성요소들이 설치되도록 하고 설치된 구성요소들을 전기적으로 연결한다.The UICC socket 120 is installed in a predetermined area of a printed circuit board (PCB: hereinafter, abbreviated as 'PCB') exposed to the opening 140, and the PCB is installed inside the portable terminal to provide a portable terminal. Allow various components to be installed and connect the installed components electrically.

그리고 개방부(140)에 노출된 PCB 영역 중 UICC 소켓(120)이 설치된 영역을 제외한 나머지 영역인 PCB 개방 영역(150)에는 JTAG 기반의 테스트를 위한 테스트 패드부(160)가 설치된다.In addition, the test pad unit 160 for JTAG-based testing is installed in the PCB opening region 150, which is a region other than the region where the UICC socket 120 is installed among the PCB regions exposed to the opening 140.

테스트 패드부(160)는 9개의 패드로 구성되고 7개의 JTAG 기반의 테스트를 위한 패드와 2개의 외부 전원 입력을 위한 패드를 포함한다. 그리고 테스트 패드부(160)는 휴대용 단말기의 내부에 설치된 집적회로(예를 들면 MSM(Mobile Station Modem))의 JTAG 포트와 연결된다.The test pad unit 160 includes nine pads and includes seven pads for JTAG-based test and two pads for external power input. The test pad unit 160 is connected to a JTAG port of an integrated circuit (for example, mobile station modem (MSM)) installed in the portable terminal.

테스트 패드부(160)는 연성인쇄회로기판(FPCB: Flexible PCB, 이하 'FPCB'라 약칭함)(170)의 일측단과 연결되고, FPCB(170)의 타측단에는 테스트 소켓(180)이 설치된다. 테스트 소켓(180)은 예를 들어 한국정보통신기술협회의 표준 24핀 소켓이 될 수 있다. 이하 본 발명의 실시예에서는 테스트 소켓(180)으로 표준 24핀 소켓이 사용되는 것으로 예를 들어 설명한다. 테스트 패드부(160)와 FPCB(170)의 일측단은 예를 들어 솔더(solder)를 통해 연결될 수 있다.The test pad unit 160 is connected to one end of a flexible printed circuit board (FPCB: FPCB) hereinafter, and a test socket 180 is installed at the other end of the FPCB 170. . The test socket 180 may be, for example, a standard 24-pin socket of the Korea Information and Communication Technology Association. In the following embodiment of the present invention will be described with an example that a standard 24-pin socket is used as the test socket 180. One end of the test pad unit 160 and the FPCB 170 may be connected through, for example, a solder.

FPCB(170)의 타측단에 연결된 테스트 소켓(180)에는 JTAG 에뮬레이터(예를 들면, TRACE 32)가 연결되어 종래의 표준 24핀 소켓을 통해 JTAG 기반의 테스트를 수행하는 방법과 동일한 방법으로 JTAG 기반 테스트를 수행한다. 또한, JTAG을 통해 소프트웨어의 디버깅(debugging) 및 소프트웨어 다운로드시에는 UICC 소켓(120)에 USIM 등과 같은 UICC(130)를 장착한 후 수행할 수 있다. 그리고, JTAG 테스트가 종료된 후에는 FPCB(170)의 일부를 절단하거나 솔더를 해체하여 FPCB(170)를 제거할 수 있다.A JTAG emulator (for example, TRACE 32) is connected to the test socket 180 connected to the other end of the FPCB 170 to perform JTAG-based testing in the same way as a JTAG-based test through a standard 24-pin socket. Perform the test. In addition, when debugging and downloading software through JTAG, the UICC 130 such as USIM may be mounted on the UICC socket 120. After the JTAG test is completed, the FPCB 170 may be removed by cutting a part of the FPCB 170 or dismantling the solder.

본 발명의 일실시예에서 JTAG 테스트 인터페이스는 테스트 패드부(160), FPCB(170) 및 테스트 소켓(180)으로 구성된다.In one embodiment of the present invention, the JTAG test interface includes a test pad unit 160, an FPCB 170, and a test socket 180.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기에서는 배터리 수납부(110)의 개방부(140)에 노출된 PCB 영역중 UICC 소켓(120)이 설치된 영역을 제외한 나머지 영역인 PCB 개방 영역에 JTAG 테스트를 위한 테스트 패드부(160)를 설치하고 테스트 패드부(160)에 포함된 각각의 테스트 패드와 테스트 소켓(180)의 대응되는 핀을 FPCB(170)를 통해 연결하여 JTAG 테스트 인터페이스를 형성함으로써 표준 24핀 소켓이 20핀 소켓으로 변경된 경우에도 종래와 동일한 장치 및 방법을 사용하여 JTAG 테스트를 수행할 수 있고 휴대용 단말기의 소형화 및 슬림화를 유지할 수 있다.1 and 2, in the portable terminal having the test interface according to the exemplary embodiment of the present invention, the UICC socket 120 is installed in the PCB area exposed to the opening 140 of the battery accommodating part 110. The test pad unit 160 for the JTAG test is installed in the PCB open area other than the area, and the corresponding pins of the test pads and the test sockets 180 included in the test pad unit 160 are connected to the FPCB 170. By forming a JTAG test interface by connecting to the JTAG test interface, even when the standard 24-pin socket is changed to a 20-pin socket, the JTAG test can be performed using the same apparatus and method as in the related art, and the portable terminal can be kept small and slim.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 각각의 테스트 패드와 표준 24핀의 연결관계를 나타낸다.3 illustrates a connection relationship between each test pad and a standard 24 pin according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 휴대용 단말기의 PCB 개방 영역(150)에는 7개의 JTAG 테스트를 위한 패드와 2개의 전원을 공급하기 위한 패드가 설치된다.Referring to FIG. 3, seven pads for JTAG testing and two pads for supplying power are installed in the PCB open area 150 of the portable terminal according to the exemplary embodiment of the present invention.

7개의 JTAG 패드는 TDI(Test Data Input), TDO(Test Data Output), RTCK(Returned Test Clock Output), TCK(Test Clock Input), SRST(System Reset), TRST(Test Reset) 및 TMS(Test Mode Select) 이고, 상기 7개의 JTAG 패드는 테스트 액세스 포트(TAP: Test Access Port)라 불리운다. 2개의 전원 공급 패드는 POWER 및 GROUND 용으로 사용된다.Seven JTAG pads include Test Data Input (TDI), Test Data Output (TDO), Returned Test Clock Output (RTCK), Test Clock Input (TCK), System Reset (SRST), Test Reset (TRST), and Test Mode (TMS). Select, and the seven JTAG pads are called Test Access Ports (TAPs). Two power supply pads are used for POWER and GROUND.

TDI 패드는 테스트 데이터의 입력을 위한 패드로 표준 24핀의 2번 핀과 연결되고, TDO 패드는 테스트 데이터가 출력되는 패드로 표준 24핀의 3번 핀과 연결된다. RTCK 패드는 MSM(Mobile Station Modem)의 내부에서 되돌아오는 클럭이 출력되는 패드로 표준 24핀의 4번 핀과 연결된다. The TDI pad is a pad for test data input, and is connected to pin 2 of the standard 24 pin. The TDO pad is a pad for test data output and is connected to pin 3 of the standard 24 pin. The RTCK pad is a pad that outputs the clock returned from the inside of the mobile station modem (MSM) and is connected to pin 4 of the standard 24 pin.

또한, TCK 패드는 테스트 클럭을 입력하기 위한 패드로 표준 24핀의 5번 핀과 연결된다. SRST 패드는 JTAG 에뮬레이터에서 시스템을 초기화시키기 위한 패드로 표준 24핀의 7번 핀과 연결된다. TRST 패드는 전원 인가시 TAP를 초기화시키기 위한 패드로 표준 24핀의 8번 핀과 연결된다. TMS 패드는 테스트 모드를 선택 신호가 입력되기 위한 패드로 표준 24핀의 9번 핀과 연결된다.In addition, the TCK pad is used to input the test clock and is connected to pin 5 of the standard 24 pin. The SRST pad is a pad for initializing the system in the JTAG emulator and is connected to pin 7 of the standard 24 pin. The TRST pad is used to initialize the TAP when the power is applied. It is connected to pin 8 of the standard 24 pin. The TMS pad is a pad for inputting the test mode selection signal and is connected to pin 9 of the standard 24 pin.

POWER 패드는 4.2 Volt의 전압을 휴대용 단말기에 공급하기 위한 패드로 표준 24핀의 21 및 22번 핀과 공통으로 연결될 수 있다. GROUND 패드는 표준 24핀의 12번 및 19번과 공통으로 연결될 수 있다.The POWER pad is a pad for supplying 4.2 Volt of voltage to the portable terminal and can be commonly connected to pins 21 and 22 of the standard 24 pin. The GROUND pad can be connected in common with Nos. 12 and 19 of the standard 24-pin.

도 3에 도시된 바와 같이 본 발명의 일실시예에서는 JTAG TAP로 사용되는 7개의 패드 이외에 전원 공급을 위한 2개의 패드를 더 설치함으로써 JTAG 테스트시 배터리를 장착하지 않고도 테스트를 수행할 수 있다.As illustrated in FIG. 3, in addition to the seven pads used as the JTAG TAP, two pads for power supply may be installed in the embodiment of the present invention to perform the test without mounting a battery during the JTAG test.

상기와 같은 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기는 UICC 소켓이 설치되고 남은 유휴 공간인 PCB 개방영역에 테스트 패드부를 설치하고 FPCB를 통해 테스트 패드부와 테스트 소켓을 연결한다.In the portable terminal having the test interface as described above, the test pad unit is installed in the PCB open area, which is an idle space remaining after the UICC socket is installed, and connects the test pad unit and the test socket through the FPCB.

따라서, 입출력 소켓이 표준 24핀에서 20핀으로 변경되는 경우에도 JTAG 테스트를 위한 별도의 소켓을 휴대용 단말기에 설치하지 않고 종래와 동일한 방법을 통해 용이하게 휴대용 단말기를 테스트할 수 있고, 휴대용 단말기의 소형화 및 슬림화를 유지할 수 있다.Therefore, even if the input / output socket is changed from the standard 24 pin to the 20 pin, the portable terminal can be easily tested by the same method as the conventional method without installing a separate socket for the JTAG test, and miniaturization of the portable terminal And slimming.

이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described with reference to the embodiments above, those skilled in the art will understand that the present invention can be variously modified and changed without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. Could be.

Claims (8)

휴대용 단말기의 테스트 인터페이스에 있어서,In the test interface of the portable terminal, 상기 휴대용 단말기의 배터리 수납부에 형성된 개방부에 노출되어 있는 인쇄회로기판의 개방영역에 설치되고 JTAG(Joint Test Action Group) 기반의 테스트를 수행하기 위한 적어도 하나의 테스트 패드를 포함하되, 상기 적어도 하나의 테스트 패드는 연성인쇄회로기판의 일측단과 연결되고 상기 연성인쇄회로기판의 타측단은 테스트 소켓과 연결되어 상기 휴대용 단말기의 테스트에 이용되는 것을 특징으로 하는 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기.At least one test pad installed in an open area of a printed circuit board exposed to an opening formed in a battery accommodating part of the portable terminal and performing a test based on a joint test action group (JTAG), the at least one The test pad of the portable terminal having a test interface, characterized in that connected to one end of the flexible printed circuit board and the other end of the flexible printed circuit board is connected to the test socket is used for the test of the portable terminal. 삭제delete 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 적어도 하나의 테스트 패드는 7개의 JTAG 기반의 테스트를 수행하기 위한 패드와 전원을 공급하기 위한 2개의 패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기.The at least one test pad comprises a pad for performing seven JTAG-based tests and two pads for supplying power. 삭제delete 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 테스트 소켓은 한국정보통신기술협회의 표준 24핀 소켓인 것을 특징으로 하는 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기.The test socket is a portable terminal having a test interface, characterized in that the standard 24-pin socket of the Korea Information and Communication Technology Association. 삭제delete 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 휴대용 단말기의 배터리 수납부에 형성된 개방부에 노출되어 있는 인쇄회로기판에는 범용 IC 카드(UICC) 소켓이 설치되는 것을 특징으로 하는 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기.A portable terminal having a test interface, characterized in that a universal IC card (UICC) socket is installed on the printed circuit board exposed to the opening formed in the battery housing of the portable terminal. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 휴대용 단말기는 20핀을 가지는 입출력 소켓을 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 인터페이스를 가지는 휴대용 단말기.The portable terminal has a test interface, characterized in that it comprises an input and output socket having a 20-pin.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050030253A (en) * 2003-09-25 2005-03-30 삼성전자주식회사 Interface device for jtag i/o test
KR200393829Y1 (en) 2005-05-30 2005-08-31 에스케이텔레텍주식회사 JTAG Spring Contect-Type Connector for Used in Printed Circuit Board
KR20060021700A (en) * 2004-09-03 2006-03-08 엘지전자 주식회사 Jtag interface device of mboile phone using receptacle
KR20060132200A (en) * 2005-06-17 2006-12-21 주식회사 팬택 Jtag interface connecting structure for mobile communication terminal

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050030253A (en) * 2003-09-25 2005-03-30 삼성전자주식회사 Interface device for jtag i/o test
KR20060021700A (en) * 2004-09-03 2006-03-08 엘지전자 주식회사 Jtag interface device of mboile phone using receptacle
KR200393829Y1 (en) 2005-05-30 2005-08-31 에스케이텔레텍주식회사 JTAG Spring Contect-Type Connector for Used in Printed Circuit Board
KR20060132200A (en) * 2005-06-17 2006-12-21 주식회사 팬택 Jtag interface connecting structure for mobile communication terminal

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106790824A (en) * 2017-01-17 2017-05-31 维沃移动通信有限公司 A kind of mobile terminal

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