KR20050021861A - Apparatus for driving plasma display panel - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A driving apparatus of a plasma display panel is provided to drive the PDP stably even though temperature is varied, by varying a driving waveform of the PDP adaptively to temperature variation. CONSTITUTION: A temperature sensor senses temperature of a plasma display panel(PDP). A controller generates a temperature control signal according to the temperature sensed by the temperature sensor. Voltage sources(-V1,-V2) generate a negative voltage. A voltage control circuit controls a voltage supplied to the plasma display panel in response to the temperature control signal.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치{APPARATUS FOR DRIVING PLASMA DISPLAY PANEL} Driving device for plasma display panel {APPARATUS FOR DRIVING PLASMA DISPLAY PANEL}

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널에 관한 것으로, 특히 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a plasma display panel, and more particularly to a method and apparatus for driving a plasma display panel.

플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : 이하 "PDP"라 한다)은 He+Xe, Ne+Xe, He+Xe+Ne 등의 불활성 혼합가스가 방전할 때 발생하는 자외선을 이용하여 형광체를 여기 발광시킴으로써 화상을 표시하게 된다. 이러한 PDP는 박막화와 대형화가 용이할 뿐만 아니라 최근의 기술 개발에 힘입어 화질이 향상되고 있다. Plasma Display Panel (hereinafter referred to as "PDP") is used to excite and emit phosphors by using ultraviolet rays generated when an inert mixed gas such as He + Xe, Ne + Xe, He + Xe + Ne is discharged. Will be displayed. Such PDPs are not only thin and large in size, but also have improved in image quality due to recent technology development.

도 1을 참조하면, 종래의 3전극 교류 면방전형 PDP의 방전셀은 스캔전극(Y1 내지 Yn) 및 서스테인전극(Z)과, 스캔전극(Y1 내지 Yn) 및 서스테인전극(Z)과 직교하는 어드레스전극(X1 내지 Xm)을 구비한다. Referring to FIG. 1, a discharge cell of a conventional three-electrode AC surface discharge type PDP has an address orthogonal to the scan electrodes Y1 to Yn and the sustain electrode Z, and the scan electrodes Y1 to Yn and the sustain electrode Z. Electrodes X1 to Xm are provided.

스캔전극(Y1 내지 Yn), 서스테인전극(Z) 및 어드레스전극(X1 내지 Xm)의 교차부에는 적색, 녹색 및 청색 중 어느 하나를 표시하기 위한 셀(1)이 형성된다. 스캔전극(Y1 내지 Yn) 및 서스테인전극(Z)은 도시하지 않은 상부기판 상에 형성된다. 상부기판에는 도시하지 않는 유전체층과 MgO 보호층이 적층된다. 어드레스전극(X1 내지 Xm)은 도시하지 않은 하부기판 상에 형성된다. 하부기판 상에는 수평으로 인접한 셀들 간에 광학적, 전기적 혼신을 방지하기 위한 격벽이 형성된다. 하부기판과 격벽 표면에는 진공자외선에 의해 여기되어 가시광을 방출하는 형광체가 형성된다. 상부기판과 하부기판 사이의 방전공간에는 He+Xe, Ne+Xe, He+Xe+Ne 등의 불활성 혼합가스가 주입된다. Cells 1 for displaying any one of red, green and blue are formed at the intersections of the scan electrodes Y1 to Yn, the sustain electrode Z and the address electrodes X1 to Xm. The scan electrodes Y1 to Yn and the sustain electrode Z are formed on an upper substrate (not shown). On the upper substrate, a dielectric layer and an MgO protective layer (not shown) are stacked. The address electrodes X1 to Xm are formed on the lower substrate (not shown). On the lower substrate, partition walls are formed to prevent optical and electrical interference between horizontally adjacent cells. Phosphors are excited on the lower substrate and the partition walls to be excited by vacuum ultraviolet rays and emit visible light. An inert mixed gas such as He + Xe, Ne + Xe, He + Xe + Ne is injected into the discharge space between the upper substrate and the lower substrate.

PDP는 화상의 계조를 구현하기 위하여, 한 프레임을 발광횟수가 다른 여러 서브필드로 나누어 시분할 구동하게 된다. 각 서브필드는 전화면을 초기화시키기 위한 리셋기간과, 주사라인을 선택하고 선택된 주사라인에서 셀을 선택하기 위한 어드레스기간과, 방전횟수에 따라 계조를 구현하는 서스테인기간으로 나뉘어진다. 예를 들어, 256 계조로 화상을 표시하고자 하는 경우에 1/60 초에 해당하는 프레임 기간(16.67ms)은 8개의 서브필드들(SF1 내지 SF8)로 나누어지게 된다. 8개의 서브 필드들(SF1 내지 SF8) 각각은 전술한 바와 같이, 초기화기간, 어드레스기간 및 서스테인기간으로 나누어지게 된다. 각 서브필드의 초기화기간과 어드레스 기간은 각 서브필드마다 동일한 반면에 서스테인 기간과 그에 할당되는 서스테인펄스의 수는 각 서브필드에서 2n(n=0,1,2,3,4,5,6,7)의 비율로 증가된다.The PDP is time-divisionally driven by dividing one frame into several subfields having different number of emission times in order to implement grayscale of an image. Each subfield is divided into a reset period for initializing the full screen, an address period for selecting a scan line and selecting a cell in the selected scan line, and a sustain period for implementing gray scale according to the number of discharges. For example, when the image is to be displayed with 256 gray levels, the frame period (16.67 ms) corresponding to 1/60 second is divided into eight subfields SF1 to SF8. As described above, each of the eight subfields SF1 to SF8 is divided into an initialization period, an address period, and a sustain period. The initialization period and the address period of each subfield are the same for each subfield, while the sustain period and the number of sustain pulses allocated thereto are 2 n (n = 0,1,2,3,4,5,6) in each subfield. , 7).

도 2는 도 1과 같은 PDP를 구동하기 위한 구동파형을 나타낸다. 2 illustrates a driving waveform for driving the PDP as shown in FIG. 1.

도 2를 참조하면, 리셋기간의 초기에는 전압이 서스테인전압(Vs)부터 셋업전압(Vsetup)까지 전압이 점진적으로 상승하는 상승 램프파형(Rup)이 모든 스캔전극들(Y)에 동시에 인가된다. 이 상승 램프파형(Rup)이 스캔전극들(Y)에 공급되는 동안, 서스테인전극들(Z)과 어드레스전극들(X)에는 0[V]가 인가된다. 상승 램프파형(Rup)에 의해 전화면의 셀들 내에서 스캔전극(Y)과 어드레스전극(X) 사이와 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에는 벽전하의 형성을 유발하는 셋업방전이 일어난다. 상승 램프파형(Rup)에 이어서, 전압이 서스테인전압(Vs)부터 부극성의 바이어스 전압(-Vy)까지 하강하는 하강 램프파형(Rdn)이 스캔전극들(Y)에 동시에 인가된다. 하강 램프파형(Rdn)이 스캔전극들(Y)에 공급되는 동안, 서스테인전극들(Z)에는 정극성의 서스테인전압(Vs)이 인가되고, 어드레스전극들(X)에는 0[V]가 인가된다. 하강 램프파형(Rdn)으로 인하여 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에는 빛이 거의 발생되지 않고 벽전하의 소거를 유발하는 소거 암방전으로 셋다운방전이 일어난다. 이러한 셋다운방전의 결과로, 셋업방전시 각 전극(X, Y, Z) 상에 쌓인 벽전하들 중에서 과도한 벽전하들이 소거되어 전셀들에서 벽전하들이 균일하게 잔류하게 된다. Referring to FIG. 2, at the beginning of the reset period, a rising ramp waveform Rup in which the voltage gradually rises from the sustain voltage Vs to the setup voltage Vsetup is applied to all the scan electrodes Y simultaneously. While the rising ramp waveform Rup is supplied to the scan electrodes Y, 0 [V] is applied to the sustain electrodes Z and the address electrodes X. The setup discharge causing the formation of wall charges between the scan electrode (Y) and the address electrode (X) and between the scan electrode (Y) and the sustain electrode (Z) in the cells of the full screen by the rising ramp waveform (Rup). Happens. Following the rising ramp waveform Rup, a falling ramp waveform Rdn is applied to the scan electrodes Y simultaneously, in which the voltage falls from the sustain voltage Vs to the negative bias voltage -Vy. While the falling ramp waveform Rdn is supplied to the scan electrodes Y, a positive sustain voltage Vs is applied to the sustain electrodes Z, and 0 [V] is applied to the address electrodes X. . Due to the falling ramp waveform Rdn, almost no light is generated between the scan electrode Y and the sustain electrode Z, and a set-down discharge occurs as an erase dark discharge that causes the wall charges to be erased. As a result of this set-down discharge, excess wall charges are erased among the wall charges accumulated on each electrode (X, Y, Z) during setup discharge, so that wall charges remain uniformly in all cells.

한편, 하강 램프파형(Rdn)의 하한전압인 부극성의 바이어스전압(-Vy)이 지나치게 낮지 않고 적절히 설정되면 셀 내에 잔류하는 벽전하들이 많아지기 때문에 고온에서도 낮은 어드레스전압으로 셀이 선택될 수 있다. On the other hand, if the negative bias voltage (-Vy), which is the lower limit voltage of the falling ramp waveform Rdn, is not set too low and is properly set, the wall charges remaining in the cell increase, so that the cell can be selected at a low address voltage even at high temperatures. .

어드레스기간에는 부극성의 스캔바이어스전압(Vsc-bias)까지 하강하는 스캔펄스(scp)가 스캔전극들(Y)에 순차적으로 인가됨과 동시에 그 스캔펄스(scp)에 동기되는 정극성 데이터전압(Vd)의 데이터펄스(dp)가 어드레스전극들(X)에 인가된다. 스캔펄스(scp)와 데이터펄스(dp)의 전압차와 리셋기간에서 초기화된 셀 내의 벽전압이 더해지면서 데이터펄스(dp)가 인가되는 셀 내에는 어드레스 방전이 발생된다. In the address period, the scan pulse scp that drops to the negative scan bias voltage Vsc-bias is sequentially applied to the scan electrodes Y and the positive data voltage Vd synchronized with the scan pulse scp. Is applied to the address electrodes (X). As the voltage difference between the scan pulse scp and the data pulse dp and the wall voltage in the cell initialized in the reset period are added, an address discharge is generated in the cell to which the data pulse dp is applied.

어드레스기간 동안 서스테인전극들(Z)에는 정극성의 서스테인전압(Vs)이 공급된다. During the address period, the sustain electrodes V are supplied with a positive sustain voltage Vs.

서스테인기간에는 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에 교번적으로 서스테인전압(Vs)의 서스테인펄스(sus)가 인가된다. 어드레스방전에 의해 선택된 셀은 셀 내의 벽전압과 서스테인전압(Vs)이 더해지면서 매 서스테인펄스(sus) 마다 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에 서스테인방전 즉, 표시방전이 일어나게 된다. In the sustain period, the sustain pulse sus of the sustain voltage Vs is applied to the scan electrodes Y and the sustain electrodes Z alternately. In the cell selected by the address discharge, as the wall voltage and the sustain voltage Vs in the cell are added, a sustain discharge, that is, a display discharge occurs between the scan electrode Y and the sustain electrode Z at each sustain pulse su.

이러한 서스테인방전이 완료된 후 소거기간 동안 전압이 서스테인전압(Vs)까지 점진적으로 상승하는 소거 램프파형(ers)이 서스테인전극들(Z)에 인가된다. 이 소거기간 동안 스캔전극들(Y)과 어드레스전극들(X)에는 0V가 인가된다. 소거 램프파형(ers)은 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에 소거 방전을 유발함으로써 서스테인방전에 의해 셀 내에 남아 있는 벽전하들을 소거시킨다. After the sustain discharge is completed, an erase ramp waveform ers gradually increasing to the sustain voltage Vs during the erase period is applied to the sustain electrodes Z. 0V is applied to the scan electrodes Y and the address electrodes X during this erase period. The erase ramp waveform ers erases wall charges remaining in the cell by the sustain discharge by causing an erase discharge between the scan electrode Y and the sustain electrode Z. FIG.

PDP는 온도 변화에 따라 방전특성이 불완정하게 되는 문제점이 있다. 이는 온도 변화로 인한 셀 내의 압력이 변하게 되고 그 압력 변화로 인하여 방전전압이 변하는 것에 기인한다. 방전전압(Firing Voltage : Vf)은 아래의 수학식 1과 같이 정의될 수 있다. PDP has a problem in that the discharge characteristics become incomplete as the temperature changes. This is due to the change in the pressure in the cell due to the temperature change and the discharge voltage due to the pressure change. The discharge voltage Vf may be defined as in Equation 1 below.

Vf = p × dVf = p × d

여기서, p는 압력이며 d는 전극간 거리이다. Where p is pressure and d is the distance between electrodes.

PDP의 온도가 정상 구동파형에 대응하는 최적온도보다 높아지면 방전셀 내의 압력이 상승하고 그 압력 상승으로 인하여 방전전압(Vf)이 높아진다. 이 경우 정상적인 구동전압으로 PDP를 구동하면 방전이 일어나지 않는 미스방전이 일어나기 쉽다. 이와 달리 PDP의 온도가 낮아지면 방전셀 내의 압력이 하강하고 그 압력 하강으로 인하여 방전전압(Vf)이 낮아진다. 이렇게 온도가 낮아지는 경우에 정상적인 구동전압으로 PDP를 구동하면 방전이 일어나지 않아야할 방전셀에서 방전이 일어나는 오방전이 일어나기 쉽다. When the temperature of the PDP is higher than the optimum temperature corresponding to the normal driving waveform, the pressure in the discharge cell rises and the discharge voltage Vf increases due to the pressure rise. In this case, when the PDP is driven with a normal driving voltage, it is easy to cause a miss discharge in which no discharge occurs. On the contrary, when the temperature of the PDP is lowered, the pressure in the discharge cell drops and the discharge voltage Vf decreases due to the pressure drop. In this case, when the temperature is lowered, driving the PDP with a normal driving voltage is likely to cause an erroneous discharge in which a discharge occurs in a discharge cell in which discharge should not occur.

온도에 따른 방전특성의 변화는 다음과 같은 원인에 의해서 기인하는 것으로 해석될 수 있다. PDP의 주위온도가 상승하면 셀 내의 공간전하가 활발하게 활동하여 다른 공간전하 또는 벽전하와의 재결합(Recombination)이 많이 일어나게 된다. 공간전하와 벽전하의 재결합량이 많아지면 셀의 벽전압이 감소된다. 벽전압의 감소는 방전전압의 상승을 초래한다. 이와 반대로 PDP의 주위온도가 낮아지면 공간전하와 벽전하와의 재결합량이 감소하므로 셀의 벽전압이 상승하게 된다. 벽전압의 상승은 방전전압의 하강을 초래한다. The change in discharge characteristics with temperature can be interpreted as due to the following causes. As the ambient temperature of the PDP rises, the space charge in the cell becomes active, and recombination with other space charge or wall charge occurs. As the amount of recombination of space charge and wall charge increases, the wall voltage of the cell decreases. The decrease in the wall voltage causes an increase in the discharge voltage. On the contrary, when the ambient temperature of the PDP decreases, the amount of recombination between the space charge and the wall charge decreases, so that the wall voltage of the cell increases. An increase in the wall voltage causes a drop in the discharge voltage.

한편, 격벽의 높이가 불균일하게 도어 셀들의 균일성(uniformity)가 떨어지면 상온과 고온에서 안정된 구동을 할 수 없다. On the other hand, if the height of the partition wall is uneven, the uniformity (uniformity) of the door cells falls (stable drive at room temperature and high temperature can not be performed.

이러한 온도변화에 대하여 방전특성이 불안정하게 되는 문제점을 해결하고자 온도변화에 대응하여 구동파형의 구동전압을 가변하는 방법들이 제안된 바 있다. 그 중 하나는 도 3과 같이 스캔펄스(scp)와 데이터펄스(dp)의 펄스폭을 온도에 따라 증감하는 방법이다. 이와 다른 방법으로는 도 4와 같이 상승 램프파형(Rup)의 전압(Vsetup)을 온도에 따라 증감하는 방법이다. In order to solve the problem that the discharge characteristics become unstable with respect to the temperature change, methods for changing the driving voltage of the driving waveform in response to the temperature change have been proposed. One of them is a method of increasing or decreasing the pulse widths of the scan pulse scp and the data pulse dp as shown in FIG. 3. As another method, as shown in FIG. 4, the voltage Vsetup of the rising ramp waveform Rup is increased or decreased with temperature.

그런데 도 3과 같이 스캔타임(tsc)을 증가시키면 어드레스기간이 길어지게 되므로 표시기간인 서스테인기간이 상대적으로 짧아지게 되어 휘도가 감소되는 또 다른 문제점 있다. 또한, 어드레스기간이 길어지게 되면 구동시간이 부족하게 되므로 도 3과 같은 방법은 고해상도에 대응할 수가 없고 동화상 콘터 노이즈 등의 화질 저하요인을 줄이기 위하여 서브필드를 분할하거나 추가하기가 곤란하게 된다. However, when the scan time tsc is increased as shown in FIG. 3, the address period becomes longer, so that the sustain period, which is the display period, becomes relatively short, and thus the luminance is reduced. In addition, if the address period becomes longer, the driving time is insufficient, so that the method shown in FIG. 3 cannot cope with high resolution, and it is difficult to divide or add subfields in order to reduce image quality deterioration factors such as moving picture noise.

도 4와 같이 셋업전압(Vsetup)을 온도에 따라 가변하는 방법은 셋업전압(Vsetup)의 가변으로 셋업방전시 각 전극들(X, Y, Z) 상에 쌓여지는 벽전하양이 변화되지만 셋다운전압(-Vy)이 고정되어 있으므로 셋다운 방전시 소거되는 양이 일정하게 된다. 그 결과, 도 4와 같은 방법에 의해서는 셀들의 초기화가 불균일하게 될 수 있다. 특히, 셀 내의 벽전하 초기화가 셋다운방전에 의해 좌우되기 때문에 도 4와 같이 셋업전압(Vsetup)만이 가변되면 오히려 방전특성이 더 불안정하게 될 수 있다. As shown in FIG. 4, the method of varying the setup voltage Vsetup according to temperature changes the wall charges accumulated on the electrodes X, Y, and Z during setup discharge due to a change in the setup voltage Vsetup. Since -Vy) is fixed, the amount of erasing during set-down discharge becomes constant. As a result, the initialization of the cells may be uneven by the method as shown in FIG. 4. In particular, since the wall charge initialization in the cell depends on the set-down discharge, if only the setup voltage Vsetup is changed as shown in FIG. 4, the discharge characteristic may become more unstable.

따라서, 본 발명의 목적은 PDP의 구동파형을 온도 변화에 적응적으로 가변하여 온도가 변화하더라도 상기 PDP를 안정하게 구동하도록 한 구동방법 및 장치를 제공함에 있다. Accordingly, an object of the present invention is to provide a driving method and apparatus for stably driving the PDP even when the temperature is changed by adaptively varying the driving waveform of the PDP.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 PDP의 구동장치는 PDP의 온도를 감지하기 위한 온도센서와; 상기 온도센서에 의해 감지된 온도에 따라 온도제어신호를 발생하기 위한 제어기와; 부극성의 전압을 발생하기 위한 전압원과; 상기 온도제어신호에 응답하여 상기 PDP에 공급되는 전압을 조정하기 위한 전압 제어회로를 구비한다. In order to achieve the above object, the driving device of the PDP according to an embodiment of the present invention and the temperature sensor for sensing the temperature of the PDP; A controller for generating a temperature control signal in accordance with the temperature sensed by the temperature sensor; A voltage source for generating a negative voltage; And a voltage control circuit for adjusting the voltage supplied to the PDP in response to the temperature control signal.

상기 전압원은 제1 전압을 발생하기 위한 제1 전압원과; 제2 전압을 발생하기 위한 제2 전압원을 구비한다.The voltage source comprises a first voltage source for generating a first voltage; And a second voltage source for generating a second voltage.

이 PDP의 구동장치는 상기 전압 제어회로의 제어 하에 상기 전압원들로부터의 전압을 상기 PDP에 공급하기 위한 구동소자를 더 구비한다.The driving device of the PDP further includes a driving element for supplying a voltage from the voltage sources to the PDP under the control of the voltage control circuit.

상기 제1 전압원과 상기 제2 전압원은 상기 구동소자에 직렬 접속되는 것을 특징으로 한다.The first voltage source and the second voltage source are connected in series with the drive element.

상기 전압 제어회로는 상기 제1 전압원과 상기 제2 전압원 중 어느 하나의 양단 사이의 전류패스를 선택적으로 형성하기 위한 스위치소자를 구비하고, 상기 구동소자와 상기 스위치소자를 제어하기 위한 제어신호를 발생하는 것을 특징으로 한다. The voltage control circuit includes a switch element for selectively forming a current path between any one of the first voltage source and the second voltage source, and generates a control signal for controlling the drive element and the switch element. Characterized in that.

상기 제1 전압원과 상기 제2 전압원은 상기 구동소자에 병렬 접속되는 것을 특징으로 한다. The first voltage source and the second voltage source are connected in parallel to the driving element.

상기 전압 제어회로는 상기 제1 전압원과 상기 구동소자 사이의 전류패스를 선택적으로 형성하기 위한 제1 스위치소자와; 상기 제2 전압원과 상기 구동소자 사이의 전류패스를 선택적으로 형성하기 위한 제2 스위치소자를 구비하고, 상기 구동소자와 상기 스위치소자를 제어하기 위한 제어신호를 발생하는 것을 특징으로 한다.The voltage control circuit includes a first switch element for selectively forming a current path between the first voltage source and the driving element; And a second switch element for selectively forming a current path between the second voltage source and the drive element, and generating a control signal for controlling the drive element and the switch element.

상기 PDP에 공급되는 전압은 초기화를 위한 초기화전압인 것을 특징으로 한다.The voltage supplied to the PDP may be an initialization voltage for initialization.

상기 초기화전압은 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프파형으로 상기 PDP에 공급되는 것을 특징으로 한다. The initialization voltage is supplied to the PDP as a falling ramp waveform in which the voltage gradually falls.

상기 전압원 각각은 제너다이오드인 것을 특징으로 한다.Each of the voltage sources is a zener diode.

이 PDP의 구동장치는 상기 제너다이오드에 부극성 전압을 공급하는 부극성 전압원을 더 구비한다. The driving device of the PDP further includes a negative voltage source for supplying a negative voltage to the zener diode.

이하, 도 5 내지 도 8을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들에 대하여 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 5 to 8.

도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 PDP의 구동방법은 한 프레임기간을 다수의 서브필드로 시분할하여 PDP를 구동하며, 적어도 어느 하나의 서브필드에서 셋다운방전을 유도하는 하강 램프파형(Rdn)의 전압을 온도에 따라 가변하게 된다. Referring to FIG. 5, in the driving method of the PDP according to the embodiment of the present invention, the PDP is driven by time-dividing one frame period into a plurality of subfields, and a falling ramp waveform for inducing set-down discharge in at least one subfield ( The voltage of Rdn) changes with temperature.

리셋기간의 초기에는 전압이 서스테인전압(Vs)부터 셋업전압(Vsetup)까지 점진적으로 상승하는 상승 램프파형(Rup)이 모든 스캔전극들(Y)에 동시에 인가된다. 이 상승 램프파형(Rup)이 스캔전극들(Y)에 공급되는 동안, 서스테인전극들(Z)과 어드레스전극들(X)에는 0[V]가 인가된다. 상승 램프파형(Rup)에 의해 전화면의 셀들 내에서 스캔전극(Y) 및 어드레스전극(X) 사이와 스캔전극(Y) 및 서스테인전극(Z) 사이에는 빛이 거의 발생되지 않고 벽전하의 형성을 유발하는 쓰기 암방전으로 셋업방전이 일어난다. 이 셋업방전의 결과로, 어드레스전극(X)과 서스테인전극(Z) 상에는 정극성(+)의 벽전하가 쌓이게 되며, 스캔전극(Y) 상에는 부극성(-)의 벽전하가 쌓이게 된다. At the beginning of the reset period, a rising ramp waveform Rup in which the voltage gradually rises from the sustain voltage Vs to the setup voltage Vsetup is applied to all the scan electrodes Y simultaneously. While the rising ramp waveform Rup is supplied to the scan electrodes Y, 0 [V] is applied to the sustain electrodes Z and the address electrodes X. Due to the rising ramp waveform Rup, almost no light is generated between the scan electrode Y and the address electrode X and between the scan electrode Y and the sustain electrode Z in the cells of the full screen. A setup discharge occurs with a write dark discharge that causes As a result of this setup discharge, positive wall charges are accumulated on the address electrode X and the sustain electrode Z, and negative wall charges are accumulated on the scan electrode Y.

상승 램프파형(Rup)에 이어서, PDP의 온도에 따라 전압(-Vy1, -Vy2)이 달라지는 하강 램프파형(Rdn)이 스캔전극들(Y)에 동시에 인가된다. 이러한 하강 램프파형(Rdn)이 스캔전극들(Y)에 공급되는 동안, 어드레스전극들(X)에는 0V가 인가되고 서스테인전극들(Z)에는 온도에 따라 가변되는 정극성의 전압(Vz1, Vs, Vz2)이 인가된다. 하강 램프파형(Rdn)으로 인하여 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에는 빛이 거의 발생되지 않고 벽전하의 소거를 유발하는 소거 암방전으로 셋다운방전이 일어난다. 이러한 셋다운방전의 결과로, 셋업방전시 각 전극(X, Y, Z) 상에 쌓인 벽전하들 중에서 과도한 벽전하들이 소거되어 전셀들에서 벽전하들이 균일하게 잔류하게 된다. Following the rising ramp waveform Rup, the falling ramp waveform Rdn, in which the voltages -Vy1 and -Vy2 vary depending on the temperature of the PDP, is simultaneously applied to the scan electrodes Y. While the falling ramp waveform Rdn is supplied to the scan electrodes Y, 0V is applied to the address electrodes X, and positive voltages Vz1, Vs, which vary with temperature to the sustain electrodes Z. Vz2) is applied. Due to the falling ramp waveform Rdn, almost no light is generated between the scan electrode Y and the sustain electrode Z, and a set-down discharge occurs as an erase dark discharge that causes the wall charges to be erased. As a result of this set-down discharge, excess wall charges are erased among the wall charges accumulated on each electrode (X, Y, Z) during setup discharge, so that wall charges remain uniformly in all cells.

셋업방전과 셋다운방전시 벽전하 분포의 변화를 살펴보면, 셋업방전시 형성되었던 어드레스전극(X) 상의 정극성 벽전하들은 셋다운 방전시에 거의 변화가 없다. 셋업방전시 형성되었던 스캔전극(Y) 상의 부극성 벽전하들은 셋다운방전에 의해 일부 감소된다. 그리고 서스테인전극(Z) 상의 벽전하들은 셋업방전시에서 정극성 벽전하들이 형성되었으나 셋다운방전시 스캔전극(Y)의 부극성 벽전하의 감소분만큼 자신에게 부극성 벽전하가 쌓이면서 극성이 부극성으로 반전된다. Looking at the change in the wall charge distribution during the setup discharge and the setdown discharge, the positive wall charges on the address electrode X formed during the setup discharge are almost unchanged during the setdown discharge. The negative wall charges on the scan electrode Y, which were formed during the setup discharge, are partially reduced by the setdown discharge. The wall charges on the sustain electrode (Z) have positive wall charges at the time of setup discharge, but the negative polarity of the wall charges is accumulated as the decrease of the negative wall charge of the scan electrode (Y) during the set-down discharge. Is reversed.

셋다운 방전시 온도에 따라 가변되는 하강 램프파형(Rdn)의 전압인가기간과 그 전압레벨은 온도가 변할 때 불안정하게 되는 PDP의 방전특성을 보정한다. PDP의 온도가 정상 사용온도보다 높아지면 셀 내의 압력이 높아지고 방전전압(Vf)이 높아지며 셀 내의 공간전하와 벽전하 사이에 재결합량이 많아지게 된다. 이렇게 벽전하들이 작아지게 되면 어드레스 전압 즉, 데이터전압과 스캔전압이 인가되는 셀에서 방전이 일어나지 않는 미스방전이 일어나기 쉽다. 본 발명의 실시예에 따른 PDP의 구동방법은 고온환경에서 하강 램프파형(Rdn)의 전압을 -Vy1 전압까지만 낮춤으로써 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이의 소거 방전을 약하게 유도한다. 즉, 고온환경에서 하강 램프파형(Rdn)의 하한전압과 스캔바이어스전압(Vsc-bias) 사이의 셋다운 바이어스전압은 -Vy1 전압으로 높게 조정된다. 소거방전이 약하게 발생되면 셀 내에 잔류하는 벽전하양과 공간전하양이 많아지게 되므로 고온환경에서 방전이 안정되게 일어날 수 있다. The voltage application period and the voltage level of the falling ramp waveform Rdn varying with temperature during setdown discharge correct the discharge characteristics of the PDP that become unstable when the temperature changes. When the temperature of the PDP is higher than the normal use temperature, the pressure in the cell increases, the discharge voltage Vf increases, and the amount of recombination between the space charge and the wall charge in the cell increases. As the wall charges become smaller in this way, misdischarge that does not occur in a cell to which an address voltage, that is, a data voltage and a scan voltage are applied, is likely to occur. The driving method of the PDP according to the embodiment of the present invention weakens the discharge discharge between the scan electrode (Y) and the sustain electrode (Z) by lowering the voltage of the falling ramp waveform (Rdn) to only -Vy1 voltage in a high temperature environment. That is, in the high temperature environment, the set-down bias voltage between the lower limit voltage of the falling ramp waveform Rdn and the scan bias voltage Vsc-bias is adjusted to -Vy1 voltage. When the erase discharge is weakly generated, the wall charge and the space charge remaining in the cell increase, so that the discharge can be stably generated in a high temperature environment.

이와 반대로 PDP의 온도가 정상 사용온도보다 낮아지면 셀 내의 압력이 낮아지고 방전전압(Vf)이 낮아지며 셀 내의 공간전하와 벽전하 사이에 재결합량이 작아지게 된다. 본 발명의 실시예에 따른 PDP의 구동방법은 저온환경에서 하강 램프파형(Rdn)의 전압인가기간을 늘리거나 전압레벨을 -Vy2로 낮춤으로써 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이의 소거 방전을 강하게 유도한다. 이렇게 소거방전이 강하게 발생되면 셀 내의 벽전압과 공간전하의 양이 낮아짐으로써 저온과 상온에서 방전전압이 낮아지더라도 방전이 안정되게 일어날 수 있다. On the contrary, when the temperature of the PDP is lower than the normal use temperature, the pressure in the cell is lowered, the discharge voltage Vf is lowered, and the amount of recombination between the space charge and the wall charge in the cell is reduced. The driving method of the PDP according to the embodiment of the present invention erases between the scan electrode (Y) and the sustain electrode (Z) by increasing the voltage application period of the falling ramp waveform (Rdn) or lowering the voltage level to -Vy2 in a low temperature environment. Strongly induce discharge. When the erase discharge is strongly generated, the wall voltage and the space charge in the cell are lowered, so that the discharge can be stably generated even when the discharge voltage is lowered at low and room temperature.

어드레스기간에는 스캔 바이어스전압(Vsc-bias)까지 하강하는 스캔전압(Vsc)의 스캔펄스(scp)가 스캔전극들(Y)에 순차적으로 인가됨과 동시에 그 스캔펄스(scp)에 동기되는 정극성 데이터전압(Vd)의 데이터펄스(dp)가 어드레스전극들(X)에 인가된다. 스캔펄스(scp)와 데이터펄스(dp)의 전압차와 리셋기간에서 초기화된 셀 내의 벽전압이 더해지면서 데이터펄스(dp)가 인가되는 셀 내에는 어드레스 방전이 발생된다. 어드레스방전에 의해 선택된 셀들 내에는 서스테인전압(Vs)이 인가될 때 방전이 일어날 수 있는 정도의 벽전하가 형성된다. In the address period, the scan pulse scp of the scan voltage Vsc, which falls to the scan bias voltage Vsc-bias, is sequentially applied to the scan electrodes Y, and the positive data synchronized with the scan pulse scp. The data pulse dp of the voltage Vd is applied to the address electrodes X. As the voltage difference between the scan pulse scp and the data pulse dp and the wall voltage in the cell initialized in the reset period are added, an address discharge is generated in the cell to which the data pulse dp is applied. In the cells selected by the address discharge, wall charges are generated to the extent that discharge can occur when the sustain voltage Vs is applied.

어드레스기간 동안 서스테인전극들(Z)에 부극성 벽전하들이 소멸되지 않도록 서스테인전극들(Z)에는 정극성의 서스테인전압(Vs)이 공급된다. The positive sustain voltage Vs is supplied to the sustain electrodes Z so that the negative wall charges do not disappear on the sustain electrodes Z during the address period.

서스테인기간에는 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에 교번적으로 서스테인전압(Vs)의 서스테인펄스(sus)가 인가된다. 어드레스방전에 의해 선택된 셀은 셀 내의 벽전압과 서스테인전압(Vs)이 더해지면서 매 서스테인펄스(sus) 마다 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에 서스테인방전이 일어나게 된다. In the sustain period, the sustain pulse sus of the sustain voltage Vs is applied to the scan electrodes Y and the sustain electrodes Z alternately. In the cell selected by the address discharge, as the wall voltage and the sustain voltage Vs in the cell are added, a sustain discharge occurs between the scan electrode Y and the sustain electrode Z at each sustain pulse su.

이러한 서스테인방전이 완료된 후 소거기간 동안 전압이 서스테인전압(Vs)까지 점진적으로 상승하는 소거 램프파형(ers)이 서스테인전극들(Z)에 인가된다. 이 소거기간 동안 스캔전극들(Y)과 어드레스전극들(X)에는 0V가 인가된다. 소거 램프파형(ers)은 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에 소거 방전을 유발함으로써 서스테인방전의 결과로 셀 내에 남아 있는 벽전하들을 소거시킨다. After the sustain discharge is completed, an erase ramp waveform ers gradually increasing to the sustain voltage Vs during the erase period is applied to the sustain electrodes Z. 0V is applied to the scan electrodes Y and the address electrodes X during this erase period. The erase ramp waveform ers erases wall charges remaining in the cell as a result of the sustain discharge by causing an erase discharge between the scan electrode Y and the sustain electrode Z. FIG.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 PDP의 구동장치를 나타낸다. 6 shows an apparatus for driving a PDP according to an embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 PDP의 구동장치는 PDP의 온도를 감지하기 위한 온도센서(6)와, PDP의 어드레스전극들(X1 내지 Xm)에 데이터를 공급하기 위한 데이터구동부(2)와, 스캔전극들(Y1 내지 Yn)을 구동하기 위한 스캔구동부(3)와, PDP의 온도에 따라 서스테인전극들(Z)을 다르게 구동하기 위한 서스테인구동부(4)와, 각 구동부(2, 3, 4)를 제어하기 위한 타이밍콘트롤러(1)와, 각 구동부(2, 3, 4)에 구동전압들을 공급하기 위한 구동전압 발생부(5)를 구비한다. Referring to FIG. 6, a driving apparatus of a PDP according to an embodiment of the present invention includes a temperature sensor 6 for sensing a temperature of the PDP, and a data driver for supplying data to address electrodes X1 to Xm of the PDP. (2), the scan driver 3 for driving the scan electrodes Y1 to Yn, the sustain driver 4 for driving the sustain electrodes Z differently according to the temperature of the PDP, and each driver ( A timing controller 1 for controlling 2, 3, and 4 and a driving voltage generator 5 for supplying driving voltages to the driving units 2, 3, and 4 are provided.

온도센서(6)는 PDP에 근접한 위치에 설치되어 PDP의 온도를 실시간적으로 감지한다. 이 온도센서(66)를 구동하기 위한 온도센서 구동회로(도시하지 않음)는 온도 감지신호(St)를 발생하고 그 온도 감지신호(St)를 타이밍 콘트롤러(1)에 공급한다. The temperature sensor 6 is installed at a position close to the PDP to sense the temperature of the PDP in real time. A temperature sensor driving circuit (not shown) for driving the temperature sensor 66 generates a temperature sensing signal St and supplies the temperature sensing signal St to the timing controller 1.

데이터구동부(2)에는 도시하지 않은 역감마보정회로, 오차확산회로 등에 의해 역감마보정되고 오차확산 된 후, 서브필드 맵핑회로에 의해 각 비트별로 서브필드 패턴에 맵핑된 데이터가 공급된다. 이 데이터구동부(2)는 타이밍콘트롤러(1)의 제어 하에 데이터를 샘플링하고 래치한 다음, 그 데이터를 어드레스전극들(X1 내지 Xm)에 공급하게 된다. The data driver 2 is subjected to inverse gamma correction and error diffusion by an inverse gamma correction circuit, an error diffusion circuit, and the like not shown, and then data mapped to the subfield pattern for each bit is supplied by the subfield mapping circuit. The data driver 2 samples and latches data under the control of the timing controller 1, and then supplies the data to the address electrodes X1 to Xm.

스캔구동부(3)는 타이밍 콘트롤러(1)의 제어 하에 리셋기간 동안 도 5와 같이 상승 램프파형(Rup)을 공급한 후에 온도에 따라 전압이 달라지는 하강 램프파형(Rdn)을 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 공급한다. 스캔구동부(3)는 어드레스기간 동안 스캔펄스(scp)를 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 순차적으로 공급한다. 그리고 스캔구동부(3)는 타이밍 콘트롤러(1)의 제어 하에 서스테인기간 동안 서스테인펄스(sus)를 스캔전극들(Y1 내지 Ym)에 공급하게 된다. The scan driver 3 supplies the rising ramp waveform Rup during the reset period as shown in FIG. 5 under the control of the timing controller 1, and then scans the falling ramp waveform Rdn whose voltage varies depending on temperature. Yn). The scan driver 3 sequentially supplies the scan pulse scp to the scan electrodes Y1 to Yn during the address period. The scan driver 3 supplies the sustain pulse sus to the scan electrodes Y1 to Ym during the sustain period under the control of the timing controller 1.

서스테인구동부(4)는 타이밍 콘트롤러(1)의 제어 하에 하강 램프파형(Rdn)의 인가기간과 어드레스기간 동안 정극성 바이어스전압을 서스테인전극들(Z)에 공급한다. 그리고 서스테인구동부(4)는 타이밍 콘트롤러(1)의 제어 하에 서스테인기간 동안 스캔구동부(3)와 교대로 동작하여 서스테인펄스(sus)를 서스테인전극들(Z)에 공급한다. The sustain driver 4 supplies the positive bias voltage to the sustain electrodes Z during the application period and the address period of the falling ramp waveform Rdn under the control of the timing controller 1. The sustain driver 4 alternately operates with the scan driver 3 during the sustain period under the control of the timing controller 1 to supply the sustain pulse su to the sustain electrodes Z. FIG.

타이밍 콘트롤러(1)는 수직/수평 동기신호를 입력받아 각 구동부(62, 63, 64)에 필요한 타이밍제어신호(CTRX, CTRY, CTRZ)를 발생하고 그 타이밍제어신호(CTRX, CTRY, CTRZ)를 해당 구동부(2, 3, 4)에 공급함으로써 각 구동부(2, 3, 4)를 제어하게 된다. 특히, 타이밍 콘트롤러(1)는 온도센서(6)로부터의 온도감지신호(St)에 응답하여 하강 램프파형(Rdn)의 전압이 PDP의 온도에 따라 달라지도록 스캔구동부(3)를 제어한다. 데이터구동부(2)에 공급되는 타이밍제어신호(CTRX)에는 데이터를 샘플링하기 위한 샘플링클럭, 래치제어신호, 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함된다. 스캔구동부(3)에 인가되는 타이밍제어신호(CTRY)에는 스캔구동부(3) 내의 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함된다. 서스테인구동부(4)에 인가되는 타이밍제어신호(CTRZ)에는 서스테인구동부(4) 내의 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함된다. The timing controller 1 receives the vertical / horizontal synchronization signals and generates timing control signals CTRX, CTRY, and CTRZ required for each of the driving units 62, 63, and 64, and generates the timing control signals CTRX, CTRY, and CTRZ. Each of the driving units 2, 3, and 4 is controlled by supplying the driving units 2, 3, and 4 to the corresponding driving units. In particular, the timing controller 1 controls the scan driver 3 so that the voltage of the falling ramp waveform Rdn varies depending on the temperature of the PDP in response to the temperature sensing signal St from the temperature sensor 6. The timing control signal CTRX supplied to the data driver 2 includes a sampling clock for sampling data, a latch control signal, a switch control signal for controlling on / off time of the energy recovery circuit and the driving switch element. The timing control signal CTRY applied to the scan driver 3 includes a switch control signal for controlling the on / off time of the energy recovery circuit and the drive switch element in the scan driver 3. The timing control signal CTRZ applied to the sustain driver 4 includes a switch control signal for controlling the on / off time of the energy recovery circuit and the drive switch element in the sustain driver 4.

구동전압 발생부(5)는 상승 램프파형의 셋업전압(Vsetup), 스캔 바이어스전압(Vsc-bias), 스캔전압(Vsc), 데이터전압(Vd) 및 서스테인전압(Vs) 등을 발생한다. 이러한 구동전압들은 방전가스의 조성이나 방전셀 구조에 따라 변할 수 있다. The driving voltage generator 5 generates a setup voltage Vsetup, a scan bias voltage Vsc-bias, a scan voltage Vsc, a data voltage Vd, a sustain voltage Vs, and the like of the rising ramp waveform. These driving voltages may vary depending on the composition of the discharge gas or the structure of the discharge cell.

도 7 내지 도 10은 스캔구동부(3)에 포함된 하강 램프신호 발생회로의 실시예들을 나타내는 회로도이다. 7 to 10 are circuit diagrams illustrating embodiments of the falling ramp signal generation circuit included in the scan driver 3.

도 7을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 하강 램프신호 발생회로는 N채널 MOSFET(T)의 게이트단자에 접속된 가변저항(VR) 및 캐패시터(C)와, N채널 MOSFET(T)와 기저전압원(GND) 사이에 직렬로 접속된 제1 및 제2 전압원(-V1, -V2)과, 제2 전압원(V2)의 양단에 접속된 스위치소자(SW)를 구비한다. 7, the falling ramp signal generation circuit according to the first embodiment of the present invention includes a variable resistor VR and a capacitor C connected to the gate terminal of the N-channel MOSFET T, and an N-channel MOSFET T. ) And the first and second voltage sources (-V1, -V2) connected in series between the base voltage source (GND) and the switch element (SW) connected at both ends of the second voltage source (V2).

가변저항(VR)은 N채널 MOSFET(T)의 게이트단자와 셋다운 제어신호(Sd(CTRY))가 공급되는 제1 제어신호단자(71) 사이에 접속된다. 캐패시터(C)는 N채널 MOSFET(T)의 게이트단자와 소스단자 사이에 접속된다. 이들 가변저항(VR)과 캐패시터(C)의 조합으로 인한 RC 시정수에 의해 N채널 MOSFET(T)의 게이트단자에는 전압이 점진적으로 변하는 셋다운 제어신호(Sd(CTRY))가 인가된다. 따라서 셋다운제어신호가 제1 제어단자(71)에 인가되는 동안 N채널 MOSFET(T)의 채널을 통해 소스단자와 드레인단자 사이에 흐르는 전류는 RC 시정수로 인하여 점진적으로 커지게 된다. The variable resistor VR is connected between the gate terminal of the N-channel MOSFET T and the first control signal terminal 71 to which the set-down control signal Sd (CTRY) is supplied. The capacitor C is connected between the gate terminal and the source terminal of the N-channel MOSFET T. The set-down control signal Sd (CTRY) whose voltage gradually changes is applied to the gate terminal of the N-channel MOSFET T by the RC time constant due to the combination of the variable resistor VR and the capacitor C. FIG. Therefore, while the setdown control signal is applied to the first control terminal 71, the current flowing between the source terminal and the drain terminal through the channel of the N-channel MOSFET T gradually increases due to the RC time constant.

제1 및 제2 전압원(V1, V2)는 각각 직류 전압원으로써 N채널 MOSFET(T)와 기저전압원(GND) 사이에 직렬로 접속된다. The first and second voltage sources V1 and V2 are respectively connected in series between the N-channel MOSFET T and the ground voltage source GND as direct current voltage sources.

스위치소자(SW)는 제2 제어단자(72)를 통해 인가되는 온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 제2 전압원(-V2)의 양단을 선택적으로 단락시킴으로써 하강 램프파형(Rdn)의 하한전압을 조정한다. The switch element SW selectively short-circuits both ends of the second voltage source -V2 in response to the temperature control signal St (CTRY) applied through the second control terminal 72, thereby reducing the falling ramp waveform Rdn. Adjust the lower limit voltage.

스위치소자(SW)가 열리게 되면 N채널 MOSFET(T)의 소스단자에는 제1 전압원(-V1)의 전압과 제2 전압원(-V2)의 전압의 합전압이 공급된다. 제1 전압원(-V1)과 제2 전압원(-V2)은 합전압이 -Vy1 전압으로 나타나도록 그 출력전압이 설정된다. 예컨대, 제1 전압원(-V1)은 -Vy2 전압으로 설정되면 제2 전압원(-V2)은 Vy1-Vy2로 설정된다. 이 때 셋다운제어신호(Sd(CTRY))가 제1 제어단자(71)에 인가되면 N채널 MOSFET(T)의 소스단자와 드레인단자 사이에는 RC 시정수에 대응하여 점진적으로 형성되는 채널을 통해 전류가 흐르게 된다. 그 결과, 스캔전극(Y)에는 -Vy1 전압까지 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프파형(Rdn)이 N채널 MOSFET(T)의 드레인단자에 접속된 출력단자(73)를 통하여 공급된다. When the switch element SW is opened, a sum voltage of the voltage of the first voltage source -V1 and the voltage of the second voltage source -V2 is supplied to the source terminal of the N-channel MOSFET T. The output voltage of the first voltage source -V1 and the second voltage source -V2 is set such that the sum voltage is represented by the voltage -Vy1. For example, when the first voltage source -V1 is set to the -Vy2 voltage, the second voltage source -V2 is set to Vy1-Vy2. At this time, if the set-down control signal Sd (CTRY) is applied to the first control terminal 71, a current is gradually formed between the source terminal and the drain terminal of the N-channel MOSFET T in correspondence with the RC time constant. Will flow. As a result, the falling ramp waveform Rdn is gradually supplied to the scan electrode Y through the output terminal 73 connected to the drain terminal of the N-channel MOSFET T.

스위치소자(SW)가 온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 닫히면 N채널 MOSFET(T)의 소스단자에는 제1 전압원(-V1)의 전압이 인가된다. 이 때, 셋다운제어신호(Sd(CTRY))가 제1 제어단자(71)에 인가되면 N채널 MOSFET(T)의 소스단자와 드레인단자 사이에는 RC 시정수에 대응하여 점진적으로 형성되는 채널을 통해 전류가 흐르게 된다. 그 결과, 스캔전극(Y)에는 -Vy2 전압까지 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프파형(Rdn)이 N채널 MOSFET(T)의 드레인단자에 접속된 출력단자(73)를 통하여 공급된다. When the switch element SW is closed in response to the temperature control signal St (CTRY), the voltage of the first voltage source -V1 is applied to the source terminal of the N-channel MOSFET T. At this time, when the set-down control signal Sd (CTRY) is applied to the first control terminal 71, a channel is gradually formed between the source terminal and the drain terminal of the N-channel MOSFET T in correspondence to the RC time constant. Current will flow. As a result, the falling ramp waveform Rdn is gradually supplied to the scan electrode Y through the output terminal 73 connected to the drain terminal of the N-channel MOSFET T.

도 8을 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 하강 램프신호 발생회로는 N채널 MOSFET(T)의 게이트단자에 접속된 가변저항(VR) 및 캐패시터(C)와, N채널 MOSFET(T)와 기저전압원(GND) 사이에 병렬로 접속된 제3 및 제4 전압원(-V3, -V4)과, 제3 전압원(-V3)과 N채널 MOSFET(T) 사이에 접속된 제1 스위치소자(SW1)와, 제4 전압원(-V4)과 N채널 MOSFET(T) 사이에 접속된 제2 스위치소자(SW2)를 구비한다. Referring to FIG. 8, the falling ramp signal generation circuit according to the second embodiment of the present invention includes a variable resistor VR and a capacitor C connected to the gate terminal of the N-channel MOSFET T, and an N-channel MOSFET T. ) And the first switch element connected between the third and fourth voltage sources (-V3, -V4) connected in parallel between the ground voltage source (GND) and the third voltage source (-V3) and the N-channel MOSFET (T). (SW1) and a second switch element (SW2) connected between the fourth voltage source (-V4) and the N-channel MOSFET (T).

제3 및 제4 전압원(V3, V4) 각각은 직류 전압원이다. 제3 전압원(-V3)은 -Vy1 전압을 발생하며, 제4 전압원(-V4)은 -Vy2 전압을 발생한다. Each of the third and fourth voltage sources V3 and V4 is a DC voltage source. The third voltage source -V3 generates a -Vy1 voltage, and the fourth voltage source -V4 generates a -Vy2 voltage.

제1 스위치소자(SW1)는 제2 제어단자(72)를 통해 인가되는 온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 제3 전압원(-V3)과 N채널 MOSFET(T) 사이의 전류패스를 선택적으로 형성함으로써 하강 램프파형(Rdn)의 하한전압을 -Vy1 전압으로 조정한다. The first switch device SW1 receives a current path between the third voltage source -V3 and the N-channel MOSFET T in response to the temperature control signal St (CTRY) applied through the second control terminal 72. By selectively forming, the lower limit voltage of the falling ramp waveform Rdn is adjusted to the -Vy1 voltage.

제2 스위치소자(SW2)는 제2 제어단자(72)를 통해 인가되는 온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 제4 전압원(-V4)과 N채널 MOSFET(T) 사이의 전류패스를 선택적으로 형성함으로써 하강 램프파형(Rdn)의 하한전압을 -Vy2 전압으로 조정한다. The second switch element SW2 performs a current path between the fourth voltage source -V4 and the N-channel MOSFET T in response to the temperature control signal St (CTRY) applied through the second control terminal 72. By selectively forming, the lower limit voltage of the falling ramp waveform Rdn is adjusted to -Vy2 voltage.

온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 제1 스위치소자(SW1)가 닫히고 제2 스위치소자(SW2)가 열리게 되면 제3 전압원(-V3)으로부터 발생되는 -Vy1 전압은 N채널 MOSFET(T)의 소스단자에 인가된다. 이 때, 셋다운제어신호가 제1 제어단자(71)에 인가되면 N채널 MOSFET(T)는 RC 시정수에 대응하여 소스단자와 드레인단자 사이의 채널을 형성하게 된다. 그 결과, 스캔전극(Y)에는 -Vy1 전압까지 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프파형(Rdn)이 N채널 MOSFET(T)의 드레인단자에 접속된 출력단자(73)를 통하여 공급된다. When the first switch element SW1 is closed and the second switch element SW2 is opened in response to the temperature control signal St (CTRY), the -Vy1 voltage generated from the third voltage source -V3 is an N-channel MOSFET (T). Is applied to the source terminal of). At this time, when the set-down control signal is applied to the first control terminal 71, the N-channel MOSFET (T) forms a channel between the source terminal and the drain terminal corresponding to the RC time constant. As a result, the falling ramp waveform Rdn is gradually supplied to the scan electrode Y through the output terminal 73 connected to the drain terminal of the N-channel MOSFET T.

온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 제1 스위치소자(SW1)가 열리고 제2 스위치소자(SW2)가 닫히면 제4 전압원(-V4)으로부터 발생되는 -Vy2 전압은 N채널 MOSFET(T)의 소스단자에 인가된다. 이 때, 셋다운제어신호가 제1 제어단자(71)에 인가되면 N채널 MOSFET(T)는 RC 시정수에 대응하여 소스단자와 드레인단자 사이의 채널을 형성하게 된다. 그 결과, 스캔전극(Y)에는 -Vy2 전압까지 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프파형(Rdn)이 N채널 MOSFET(T)의 드레인단자에 접속된 출력단자(73)를 통하여 공급된다. When the first switch element SW1 is opened and the second switch element SW2 is closed in response to the temperature control signal St (CTRY), the -Vy2 voltage generated from the fourth voltage source -V4 is N-channel MOSFET T. Is applied to the source terminal of. At this time, when the set-down control signal is applied to the first control terminal 71, the N-channel MOSFET (T) forms a channel between the source terminal and the drain terminal corresponding to the RC time constant. As a result, the falling ramp waveform Rdn is gradually supplied to the scan electrode Y through the output terminal 73 connected to the drain terminal of the N-channel MOSFET T.

도 9를 참조하면, 본 발명의 제3 실시예에 따른 하강 램프신호 발생회로는 N채널 MOSFET(T)의 게이트단자에 접속된 가변저항(VR) 및 캐패시터(C)와, N채널 MOSFET(T)와 스캔 바이어스전압원(Vsc-bias) 사이에 직렬로 접속된 제1 및 제2 제너다이오드(D1, D2)와, 제2 제너다이오드(D2)의 양단에 접속된 스위치소자(SW)를 구비한다. 9, the falling ramp signal generation circuit according to the third embodiment of the present invention includes a variable resistor VR and a capacitor C connected to the gate terminal of the N-channel MOSFET T, and an N-channel MOSFET T. ) And first and second zener diodes D1 and D2 connected in series between the scan bias voltage source Vsc-bias and a switch element SW connected to both ends of the second zener diode D2. .

가변저항(VR)은 N채널 MOSFET(T)의 게이트단자와 셋다운신호(Sd(CTRX))가 공급되는 제1 제어신호단자(71) 사이에 접속된다. 캐패시터(C)는 N채널 MOSFET(T)의 게이트단자와 소스단자 사이에 접속된다. 이들 가변저항(VR)과 캐패시터(C)의 조합으로 인한 RC 시정수에 의해 N채널 MOSFET(T)의 게이트단자에는 전압이 점진적으로 변하는 셋다운제어신호(Sd(CTRX))가 인가된다. 따라서 셋다운제어신호(Sd(CTRX))가 제1 제어단자(71)에 인가되는 동안 N채널 MOSFET(T)의 채널이 RC 시정수로 인하여 점진적으로 형성된다. The variable resistor VR is connected between the gate terminal of the N-channel MOSFET T and the first control signal terminal 71 to which the set down signal Sd (CTRX) is supplied. The capacitor C is connected between the gate terminal and the source terminal of the N-channel MOSFET T. The set-down control signal Sd (CTRX) is gradually applied to the gate terminal of the N-channel MOSFET T by the RC time constant due to the combination of the variable resistor VR and the capacitor C. FIG. Therefore, the channel of the N-channel MOSFET T is gradually formed due to the RC time constant while the set down control signal Sd (CTRX) is applied to the first control terminal 71.

제1 및 제2 제너다이오드(D1, D2) 각각은 정전압원으로써 자신의 항복전압보다 큰 전압이 역바이어스로 인가되면 일정한 전압을 출력함으로써 하강 램프신호(Rdn)의 하한전압을 일정하게 한다. Each of the first and second zener diodes D1 and D2 is a constant voltage source and outputs a constant voltage when a voltage greater than its breakdown voltage is applied to the reverse bias so that the lower limit voltage of the falling ramp signal Rdn is constant.

스위치소자(SW)는 제2 제어단자(72)를 통해 인가되는 온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 제2 제너다이오드(D2)의 양단을 선택적으로 단락시킴으로써 하강 램프파형(Rdn)의 하한전압을 조정한다. The switch element SW selectively short-circuits both ends of the second zener diode D2 in response to the temperature control signal St (CTRY) applied through the second control terminal 72, thereby reducing the falling ramp waveform Rdn. Adjust the lower limit voltage.

스위치소자(SW)가 열리게 되면 스캔바이어스전압(Vsc-bias)은 제1 및 제2 제너다이오드(D1, D2)를 통하여 N채널 MOSFET(T)의 소스단자에 인가된다. 이 때, 셋다운제어신호(Sd(CTRX))가 제1 제어단자(71)에 인가되면 N채널 MOSFET(T)는 RC 시정수에 대응하여 소스단자와 드레인단자 사이의 채널을 형성하게 된다. 그 결과, 스캔전극(Y)에는 -Vy1 전압까지 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프파형(Rdn)이 N채널 MOSFET(T)의 드레인단자에 접속된 출력단자(73)를 통하여 공급된다. When the switch element SW is opened, the scan bias voltage Vsc-bias is applied to the source terminal of the N-channel MOSFET T through the first and second zener diodes D1 and D2. At this time, when the set-down control signal Sd (CTRX) is applied to the first control terminal 71, the N-channel MOSFET T forms a channel between the source terminal and the drain terminal corresponding to the RC time constant. As a result, the falling ramp waveform Rdn is gradually supplied to the scan electrode Y through the output terminal 73 connected to the drain terminal of the N-channel MOSFET T.

스위치소자(SW)가 온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 닫히면 스캔바이어스전압(Vsc-bias)은 제1 제너다이오드(D1)만을 통하여 N채널 MOSFET(T)의 소스단자에 인가된다. 이 때, 셋다운제어신호(Sd(CTRX))가 제1 제어단자(71)에 인가되면 N채널 MOSFET(T)는 RC 시정수에 대응하여 소스단자와 드레인단자 사이의 채널을 형성하게 된다. 그 결과, 스캔전극(Y)에는 -Vy2 전압까지 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프파형(Rdn)이 N채널 MOSFET(T)의 드레인단자에 접속된 출력단자(73)를 통하여 공급된다. When the switch element SW is closed in response to the temperature control signal St (CTRY), the scan bias voltage Vsc-bias is applied to the source terminal of the N-channel MOSFET T only through the first zener diode D1. At this time, when the set-down control signal Sd (CTRX) is applied to the first control terminal 71, the N-channel MOSFET T forms a channel between the source terminal and the drain terminal corresponding to the RC time constant. As a result, the falling ramp waveform Rdn is gradually supplied to the scan electrode Y through the output terminal 73 connected to the drain terminal of the N-channel MOSFET T.

도 10을 참조하면, 본 발명의 제4 실시예에 따른 하강 램프신호 발생회로는 N채널 MOSFET(T)의 게이트단자에 접속된 가변저항(VR) 및 캐패시터(C)와, N채널 MOSFET(T)와 스캔 바이어스전압원(Vsc-bias) 사이에 병렬로 접속된 제3 및 제4 제너다이오드(D3, D4)와, 제3 제너다이오드(D3)와 N채널 MOSFET(T) 사이에 접속된 제1 스위치소자(SW1)와, 제4 제너다이오드(D4)와 N채널 MOSFET(T) 사이에 접속된 제2 스위치소자(SW2)를 구비한다. Referring to FIG. 10, the falling ramp signal generation circuit according to the fourth embodiment of the present invention includes a variable resistor VR and a capacitor C connected to a gate terminal of an N-channel MOSFET T, and an N-channel MOSFET T. ) And the third and fourth zener diodes D3 and D4 connected in parallel between the scan bias voltage source Vsc-bias and the first Zener diode D3 and the first channel connected between the N-channel MOSFET T. The switch element SW1 and the second switch element SW2 connected between the fourth zener diode D4 and the N-channel MOSFET T are provided.

제3 및 제4 제너다이오드(D3, D4) 각각은 자신의 항복전압보다 큰 전압이 역바이어스로 인가되면 일정한 전압을 출력함으로써 하강 램프신호(Rdn)의 하한전압을 일정하게 한다. 제3 제너다이오드(D3)의 항복전압은 -Vy1 전압만큼 설정되며 제4 제너다이도드(D4)의 항복전압은 -Vy2 전압만큼 설정된다. Each of the third and fourth zener diodes D3 and D4 outputs a constant voltage when a voltage greater than its breakdown voltage is applied to the reverse bias, thereby making the lower limit voltage of the falling ramp signal Rdn constant. The breakdown voltage of the third zener diode D3 is set by -Vy1 voltage and the breakdown voltage of the fourth zener diode D4 is set by -Vy2 voltage.

제1 스위치소자(SW1)는 제2 제어단자(72)를 통해 인가되는 온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 제3 제너다이오드(D3)와 N채널 MOSFET(T) 사이의 전류패스를 선택적으로 단락시킴으로써 하강 램프파형(Rdn)의 하한전압을 -Vy1 전압으로 조정한다. The first switch element SW1 receives a current path between the third zener diode D3 and the N-channel MOSFET T in response to the temperature control signal St (CTRY) applied through the second control terminal 72. By selectively shorting, the lower limit voltage of the falling ramp waveform Rdn is adjusted to -Vy1 voltage.

제2 스위치소자(SW2)는 제2 제어단자(72)를 통해 인가되는 온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 제4 제너다이오드(D4)와 N채널 MOSFET(T) 사이의 전류패스를 선택적으로 단락시킴으로써 하강 램프파형(Rdn)의 하한전압을 -Vy2 전압으로 조정한다. The second switch element SW2 receives a current path between the fourth zener diode D4 and the N-channel MOSFET T in response to the temperature control signal St (CTRY) applied through the second control terminal 72. By selectively shorting, the lower limit voltage of the falling ramp waveform Rdn is adjusted to -Vy2 voltage.

온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 제1 스위치소자(SW1)가 닫히고 제2 스위치소자(SW2)가 열리게 되면 스캔바이어스전압(Vsc-bias)은 제3 제너다이오드(D3)를 통하여 N채널 MOSFET(T)의 소스단자에 인가된다. 이 때, 셋다운제어신호가 제1 제어단자(71)에 인가되면 N채널 MOSFET(T)는 RC 시정수에 대응하여 소스단자와 드레인단자 사이의 채널을 형성하게 된다. 그 결과, 스캔전극(Y)에는 -Vy1 전압까지 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프파형(Rdn)이 N채널 MOSFET(T)의 드레인단자에 접속된 출력단자(73)를 통하여 공급된다. When the first switch element SW1 is closed and the second switch element SW2 is opened in response to the temperature control signal St (CTRY), the scan bias voltage Vsc-bias is N through the third zener diode D3. It is applied to the source terminal of the channel MOSFET (T). At this time, when the set-down control signal is applied to the first control terminal 71, the N-channel MOSFET (T) forms a channel between the source terminal and the drain terminal corresponding to the RC time constant. As a result, the falling ramp waveform Rdn is gradually supplied to the scan electrode Y through the output terminal 73 connected to the drain terminal of the N-channel MOSFET T.

온도제어신호(St(CTRY))에 응답하여 제1 스위치소자(SW1)가 열리고 제2 스위치소자(SW2)가 닫히면 스캔바이어스전압(Vsc-bias)은 제4 제너다이오드(D4)를 통하여 N채널 MOSFET(T)의 소스단자에 인가된다. 이 때, 셋다운제어신호가 제1 제어단자(71)에 인가되면 N채널 MOSFET(T)는 RC 시정수에 대응하여 소스단자와 드레인단자 사이의 채널을 형성하게 된다. 그 결과, 스캔전극(Y)에는 -Vy2 전압까지 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프파형(Rdn)이 N채널 MOSFET(T)의 드레인단자에 접속된 출력단자(73)를 통하여 공급된다. When the first switch element SW1 is opened and the second switch element SW2 is closed in response to the temperature control signal St (CTRY), the scan bias voltage Vsc-bias is N-channel through the fourth zener diode D4. It is applied to the source terminal of the MOSFET (T). At this time, when the set-down control signal is applied to the first control terminal 71, the N-channel MOSFET (T) forms a channel between the source terminal and the drain terminal corresponding to the RC time constant. As a result, the falling ramp waveform Rdn is gradually supplied to the scan electrode Y through the output terminal 73 connected to the drain terminal of the N-channel MOSFET T.

스위치소자들(SW, SW1, SW2) 각각은 어떠한 종류의 트랜지스터소자로도 구현될 수 있다.Each of the switch elements SW, SW1, and SW2 may be implemented as any kind of transistor element.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 PDP의 구동방법 및 장치는 PDP의 온도를 실시간으로 감지하고 그 PDP의 온도변화에 따라 소거를 일으키기 위한 셋다운전압을 별도의 전압원이나 제너다이오드를 포함한 정전압회로를 이용하여 조정함으로써 온도가 변할 때 발생되는 셀의 방전특성의 불안정을 최소화하여 PDP에서 미스방전이나 오방전을 최소화할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 PDP의 구동방법 및 장치는 PDP의 구동파형을 온도 변화에 적응적으로 가변하여 온도가 변화하더라도 PDP를 안정하게 구동시킬 수 있다. As described above, the method and apparatus for driving a PDP according to the present invention uses a constant voltage circuit including a separate voltage source or a zener diode to set-down voltage for sensing the temperature of the PDP in real time and causing erasing according to the temperature change of the PDP. By minimizing the instability of the discharge characteristics of the cell generated when the temperature is changed, it is possible to minimize the miss discharge or mis-discharge in the PDP. Therefore, the driving method and apparatus of the PDP according to the present invention can stably drive the PDP even if the temperature changes by adaptively varying the driving waveform of the PDP in response to the temperature change.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

도 1은 종래의 3전극 교류 면방전형 플라즈마 디스플레이 패널의 전극배치를 개략적으로 나타내는 평면도이다. 1 is a plan view schematically showing an electrode arrangement of a conventional three-electrode AC surface discharge type plasma display panel.

도 2는 도 1과 같은 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 설명하기 위한 파형도이다. FIG. 2 is a waveform diagram illustrating a driving method of the plasma display panel shown in FIG. 1.

도 3은 온도변화에 따라 발생되는 방전특성의 열화를 해결하기 위한 종래의 한 방법을 설명하기 위한 파형도이다. 3 is a waveform diagram illustrating a conventional method for solving the deterioration of the discharge characteristic caused by the temperature change.

도 4는 온도변화에 따라 발생되는 방전특성의 열화를 해결하기 위한 종래의 다른 방법을 설명하기 위한 파형도이다. 4 is a waveform diagram illustrating another conventional method for solving the deterioration of the discharge characteristic caused by the temperature change.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 설명하기 위한 파형도이다. 5 is a waveform diagram illustrating a method of driving a plasma display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 6은 도 5에 도시된 구동파형을 발생하기 위한 구동장치를 나타내는 블록도이다. FIG. 6 is a block diagram illustrating a driving device for generating the driving waveform shown in FIG. 5.

도 7은 도 6에 도시된 스캔 구동부의 제1 실시예를 나타내는 회로도이다. FIG. 7 is a circuit diagram illustrating a first embodiment of the scan driver illustrated in FIG. 6.

도 8은 도 6에 도시된 스캔 구동부의 제2 실시예를 나타내는 회로도이다. FIG. 8 is a circuit diagram illustrating a second embodiment of the scan driver shown in FIG. 6.

도 9는 도 6에 도시된 스캔 구동부의 제3 실시예를 나타내는 회로도이다. FIG. 9 is a circuit diagram illustrating a third embodiment of the scan driver illustrated in FIG. 6.

도 10은 도 6에 도시된 스캔 구동부의 제4 실시예를 나타내는 회로도이다. FIG. 10 is a circuit diagram illustrating a fourth embodiment of the scan driver illustrated in FIG. 6.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

1 : 타이밍콘트롤러 2 : 데이터구동부1: timing controller 2: data driver

3 : 스캔구동부 4 : 서스테인구동부3: scan drive unit 4: sustain drive unit

5 : 구동전압 발생부 6 : 온도센서5: driving voltage generator 6: temperature sensor

D1 내지 D4 : 제너다이오드 SW, SW1, SW2 : 스위치소자D1 to D4: Zener diodes SW, SW1, SW2: Switch element

Claims (11)

플라즈마 디스플레이 패널의 온도를 감지하기 위한 온도센서와;A temperature sensor for sensing a temperature of the plasma display panel; 상기 온도센서에 의해 감지된 온도에 따라 온도제어신호를 발생하기 위한 제어기와;A controller for generating a temperature control signal in accordance with the temperature sensed by the temperature sensor; 부극성의 전압을 발생하기 위한 전압원과;A voltage source for generating a negative voltage; 상기 온도제어신호에 응답하여 상기 플라즈마 디스플레이 패널에 공급되는 전압을 조정하기 위한 전압 제어회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. And a voltage control circuit for adjusting a voltage supplied to the plasma display panel in response to the temperature control signal. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 전압원은,The voltage source is 제1 전압을 발생하기 위한 제1 전압원과;A first voltage source for generating a first voltage; 제2 전압을 발생하기 위한 제2 전압원을 구비하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. And a second voltage source for generating a second voltage. 제 2 항에 있어서, The method of claim 2, 상기 전압 제어회로의 제어 하에 상기 전압원들로부터의 전압을 상기 플라즈마 디스플레이 패널에 공급하기 위한 구동소자를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. And a driving element for supplying a voltage from the voltage sources to the plasma display panel under the control of the voltage control circuit. 제 3 항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 제1 전압원과 상기 제2 전압원은 상기 구동소자에 직렬 접속되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. And the first voltage source and the second voltage source are connected in series to the drive element. 제 4 항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 전압 제어회로는,The voltage control circuit, 상기 제1 전압원과 상기 제2 전압원 중 어느 하나의 양단 사이의 전류패스를 선택적으로 형성하기 위한 스위치소자를 구비하고,A switch element for selectively forming a current path between both ends of the first voltage source and the second voltage source, 상기 구동소자와 상기 스위치소자를 제어하기 위한 제어신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. And a control signal for controlling the drive element and the switch element. 제 3 항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 제1 전압원과 상기 제2 전압원은 상기 구동소자에 병렬 접속되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. And the first voltage source and the second voltage source are connected in parallel to the driving element. 제 6 항에 있어서, The method of claim 6, 상기 전압 제어회로는,The voltage control circuit, 상기 제1 전압원과 상기 구동소자 사이의 전류패스를 선택적으로 형성하기 위한 제1 스위치소자와;A first switch element for selectively forming a current path between the first voltage source and the drive element; 상기 제2 전압원과 상기 구동소자 사이의 전류패스를 선택적으로 형성하기 위한 제2 스위치소자를 구비하고,A second switch element for selectively forming a current path between the second voltage source and the driving element, 상기 구동소자와 상기 스위치소자를 제어하기 위한 제어신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. And a control signal for controlling the drive element and the switch element. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 플라즈마 디스플레이 패널에 공급되는 전압은 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 초기화를 위한 초기화전압인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. And a voltage supplied to the plasma display panel is an initialization voltage for initializing the plasma display panel. 제 8 항에 있어서, The method of claim 8, 상기 초기화전압은,The initialization voltage is, 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프파형으로 상기 플라즈마 디스플레이 패널에 공급되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. A driving device of a plasma display panel, characterized in that the voltage is supplied to the plasma display panel in a falling ramp waveform in which the voltage gradually falls. 제 2 항에 있어서, The method of claim 2, 상기 전압원 각각은,Each of the voltage sources, 제너다이오드인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. A drive device of a plasma display panel, characterized in that the zener diode. 제 10 항에 있어서, The method of claim 10, 상기 제너다이오드에 부극성 전압을 공급하는 부극성 전압원을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치. And a negative voltage source for supplying a negative voltage to the zener diode.
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