KR200475381Y1 - The pin for printedcircuit board inspection fixture and printedcircuit board inspection fixture thereof - Google Patents

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Abstract

본 고안은 인쇄회로기판 검사 픽스처에 사용되는 핀(100)에 관한 것으로서, 일정한 길이를 갖는 봉상의 본체부(110)와; 상기 본체부(110)의 선단에 연장 형성되되 상기 본체부(110)의 두께보다 두꺼운 두께를 갖는 확장부(120)와; 상기 본체부(110)의 후단에 연장 형성되되 상기 본체부(110)의 두께보다 얇은 두께를 갖는 축소부(130)를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다. 본 고안에 따르면, 인쇄회로기판 검사 픽스처 제작 시 핀과 와이어에 대한 결합 작업성을 크게 개선하여 제조 원가를 절감함으로써 제품 경쟁력? 확보할 수 있다. The present invention relates to a pin (100) used in a printed circuit board test fixture, comprising: a rod-shaped main body portion (110) having a predetermined length; An extension 120 extending from a front end of the main body 110 and having a thickness greater than the thickness of the main body 110; And a reduction unit 130 extending from a rear end of the main body 110 and having a thickness smaller than the thickness of the main body 110. According to the present invention, when manufacturing a printed circuit board inspection fixture, it is possible to greatly improve the bonding workability between the pin and the wire, thereby reducing the manufacturing cost. .

Description

인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀 및 이를 이용한 인쇄회로기판 검사 픽스처{THE PIN FOR PRINTEDCIRCUIT BOARD INSPECTION FIXTURE AND PRINTEDCIRCUIT BOARD INSPECTION FIXTURE THEREOF}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a pin fixing pin for a printed circuit board and a printed circuit board inspection pin fixture using the same,

본 고안은 인쇄회로기판 검사 픽스처에 관한 것으로서, 특히 인쇄회로기판에 형성된 다수의 검사 포인트에 신호를 가하거나 검사 포인트로부터 출력되는 신호를 수신하여 분석하는 인쇄회로기판 검사 픽스처에 사용되는 핀 및 이를 이용한 인쇄회로기판 검사 픽스처에 관한 것이다. The present invention relates to a printed circuit board inspection fixture and, more particularly, to a pin used in a printed circuit board inspection fixture for applying signals to a plurality of inspection points formed on a printed circuit board or receiving and analyzing signals outputted from the inspection points, To a printed circuit board inspection fixture.

전자회로의 진단 또는 유지 보수를 위한 각종 검사를 수행하기 위해서는 회로의 수많은 검사 포인트에 신호를 가하거나 이들로부터 출력되는 신호를 수신하여 분석해야 한다. 이에 따라, 인쇄회로기판에 회로 소자가 실장되기 전에 회로 패턴의 불량 여부를 검사하거나 회로 소자가 실장된 후에 정상적인 작동 여부를 자동적으로 검사할 수 있는 인쇄회로기판 검사용 픽스처가 개발되어 다량의 인쇄회로기판을 짧은 시간에 정확히 검사하고 있다.In order to perform various tests for the diagnosis or maintenance of electronic circuits, signals must be applied to or analyzed from a number of inspection points of the circuit. Accordingly, there has been developed a fixture for inspecting whether or not a circuit pattern is defective before a circuit element is mounted on a printed circuit board, or for checking whether or not the circuit element is normally operated after the circuit element is mounted, The substrate is inspected in a short time.

인쇄회로기판 검사 픽스처는 인쇄회로기판에 형성된 다수의 검사 포인트에 전기적으로 연결되어, 각각의 검사 포인트에 대해 동시에 전기적 신호를 가하거나 검사 포인트로부터 출력되는 신호를 수신하는 것이 가능하도록 제작된다.The printed circuit board check fixture is electrically connected to a plurality of check points formed on the printed circuit board so as to be capable of simultaneously applying an electrical signal to each check point or receiving a signal output from the check point.

도 1은 종래 인쇄회로기판 검사 픽스처의 개념도, 도 2는 종래 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀의 개념도, 도 3은 종래 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀의 사용 상태도이다. FIG. 1 is a conceptual view of a conventional printed circuit board check fixture, FIG. 2 is a conceptual view of a conventional printed circuit board check fixing pin, and FIG. 3 is a state of use of a conventional printed circuit board check fixing pin.

도 1에 도시한 바와 같이, 종래 인쇄회로기판 검사 픽스처는, 크게 순차적으로 배치되는 어댑터 플레이트(10), 그리드 플레이트(20) 및 베이스 플레이트(30)를 구비한다. 그리고, 상기 어댑터 플레이트(10)와 그리드 플레이트(20)에 걸쳐서 프로브(11)가 설치되고, 상기 베이스 플레이트(30)에는 프로브(11)에 연결된 와이어(40)에 결합된 상태에서 핀(50)이 설치된다. 이때, 상기 핀(50)은, 도 2에 도시한 바와 같이, 일정 길이를 갖는 봉상의 본체부(51), 상기 본체부(51)의 일측으로 본체부(51)의 두께보다 두꺼운 두께를 갖는 확장부(52) 및 내부를 관통하는 통공(53)을 포함하여 이루어진다.1, the conventional printed circuit board check fixture includes an adapter plate 10, a grid plate 20, and a base plate 30, which are arranged in a largely sequential manner. A probe 11 is installed on the adapter plate 10 and the grid plate 20. The pin 50 is coupled to the wire 40 connected to the probe 11, Respectively. 2, the pin 50 has a bar-shaped main body portion 51 having a predetermined length, a base portion 51 having a thickness larger than the thickness of the main body portion 51 at one side of the main body portion 51 And includes an enlarged portion 52 and a through hole 53 penetrating the inside thereof.

이러한 픽스처는 프로브(11)가 인쇄회로기판(1)에 형성된 회로 패턴 검사 포인트(12)에 접속되고, 핀(50)이 분석기(2)에 연결된 커넥터(3)에 접속되어, 궁극적으로는 분석기(2)에서 검사 포인트(12) 상호 간의 단락 등과 같은 전기적인 특성을 검사하게 된다.These fixtures are designed so that the probe 11 is connected to the circuit pattern inspection point 12 formed on the printed circuit board 1 and the pin 50 is connected to the connector 3 connected to the analyzer 2, (2) to a short circuit between the inspection points (12).

한편, 종래 인쇄회로기판 검사 픽스처 제작 시, 베이스 플레이트(30)에 형성된 미세공에 핀(50)을 삽입한 상태에서 납땜 방식으로 핀(50)에 와이어(40)를 결합하게 된다. 그런데, 베이스 플레이트(30)에는 수많은 핀(50)이 조밀하게 배치되게 되는데, 납땜 방식으로 핀(50)에 와이어(40)를 결합하는 경우 작업성이 크게 저하되는 문제점이 있다. Meanwhile, when a conventional printed circuit board inspection fixture is manufactured, the fin 40 is coupled to the fin 50 by a soldering method while inserting the pin 50 into the micropore formed in the base plate 30. A number of pins 50 are densely arranged on the base plate 30. However, when the wires 40 are connected to the pins 50 by the soldering method, there is a problem that the workability is greatly reduced.

참고적으로, 핀(50)에 형성된 통공(53)의 경우 납땜 작업 시 땜납이 통공(53)내로 유입되도록 하여 핀(50)과 와이어(40)의 결합력을 강화시키기 위함이다. For the reference, the through hole 53 formed in the fin 50 is intended to enhance the bonding force between the fin 50 and the wire 40 by allowing the solder to flow into the through hole 53 during the soldering work.

한편, 관련 분야 특허 기술로서, 전극부와; 상기 전극부에 적층되고, 내측에 공간부를 구비한 플레이트;및 상기 전극부와 전기적으로 연결되는 후단부와, 상기 플레이트를 관통하여 노출되고 상기 인쇄회로기판과 접촉하는 선단부와, 상기 선단부를 상기 후단부에 대해 편향되도록 연결하고 상기 공간부에 배치되는 몸체부를 포함하는 검사핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사 장치가 제안되어 있다(특허문헌 1 참조). On the other hand, as a related art patented technology, there is an electrode unit; A front end portion that is exposed through the plate and is in contact with the printed circuit board; and a front end portion that is exposed through the front end portion and is in contact with the printed circuit board, And a body portion that is connected to the end portion so as to be deflected and is disposed in the space portion. The apparatus for inspecting a printed circuit board has been proposed (see Patent Document 1).

국내등록특허 10-1083026호Korean Patent No. 10-1083026

이에 본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 인쇄회로기판 검사 픽스처 제작 시 핀과 와이어의 결합을 위한 작업성을 크게 개선할 수 있는 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀 및 이를 이용한 인쇄회로기판 검사 픽스처를 제공하는데 그 목적이 있다. The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a pin for fixing a printed circuit board inspection which can greatly improve the workability for combining a pin and a wire in the manufacture of a printed circuit board test fixture, The purpose is to provide a fixture.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 고안에 따른 인쇄회로기판 검사 픽스처에 사용되는 핀은, 일정한 길이를 갖는 봉상의 본체부와; 상기 본체부의 선단에 연장 형성되되 상기 본체부의 두께보다 두꺼운 두께를 갖는 확장부와; 상기 본체부의 후단에 연장 형성되되 상기 본체부의 두께보다 얇은 두께를 갖는 축소부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다. According to an aspect of the present invention, there is provided a pin for use in a printed circuit board test fixture according to the present invention, comprising: a bar-shaped main body having a predetermined length; An extension portion extending from a front end of the main body portion and having a thickness greater than a thickness of the main body portion; And a shrinking portion extending from a rear end of the body portion and having a thickness smaller than the thickness of the body portion.

여기에서, 상기 확장부는 선단면에 오목홈을 가질 수 있다. Here, the extending portion may have a concave groove on the end face.

또한, 상기 축소부는 다각 기둥 형상일 수 있다. In addition, the reduced portion may have a polygonal columnar shape.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 고안에 따른 인쇄회로기판 검사 픽스처는, 인쇄회로기판에 형성된 다수의 검사 포인트에 신호를 가하거나 검사 포인트로부터 출력되는 신호를 수신하여 분석하는데 사용되는 인쇄회로기판 검사 픽스처에 있어서, 어댑터 플레이트, 그리드 플레이트 및 베이스 플레이트가 순차적으로 배치되고, 상기 어댑터 플레이트와 그리드 플레이트에 걸쳐서 인쇄회로기판(1)에 형성된 검사 포인트와의 접속을 위한 프로브가 설치되고, 상기 베이스 플레이트에는 프로브에 연결된 와이어에 결합된 상태에서 분석기에 연결된 커넥터와의 접속을 위하여 상기 핀이 설치되는 것을 특징으로 한다. In order to achieve the above object, a printed circuit board check fixture according to the present invention is a printed circuit board check fixture according to an embodiment of the present invention. The fixture includes a printed circuit board In the inspection fixture, an adapter plate, a grid plate and a base plate are sequentially arranged, and a probe for connection between the adapter plate and a check point formed on the printed circuit board 1 across the grid plate is provided, The pin is installed for connection with a connector connected to the analyzer while being coupled to a wire connected to the probe.

여기에서, 상기 와이어와 핀은 상기 핀의 축소부에 와어어를 감아서 결합될 수 있다. Here, the wire and the pin can be coupled to each other by winding the wire around the reduced portion of the pin.

본 고안에 따르면, 인쇄회로기판 검사 픽스처 제작 시 핀과 와이어의 결합 을 위한 작업성을 크게 개선하여 제조 원가를 절감하여 궁극적으로 제품 경쟁력? 확보할 수 있다. According to the present invention, it is possible to greatly reduce the manufacturing cost by improving the workability for combining pin and wire when manufacturing a PCB inspection fixture, and ultimately, .

도 1은 종래 인쇄회로기판 검사 픽스처의 개념도.
도 2는 종래 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀의 개념도.
도 3은 종래 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀의 사용 상태도.
도 4는 본 고안에 따른 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀의 개념도.
도 5는 본 고안에 따른 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀의 사용 상태도. 1 is a conceptual view of a conventional printed circuit board test fixture.
2 is a conceptual view of a conventional pin for a printed circuit board inspection fix.
Fig. 3 is a state of use of a conventional pin for fixing a printed circuit board inspection. Fig.
FIG. 4 is a conceptual view of a pin for fixing a printed circuit board inspection according to the present invention; FIG.
Fig. 5 is a view showing a use state of a pin for inspection of a printed circuit board according to the present invention; Fig.

이하, 본 고안의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 본 고안을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 고안의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다. 아울러, 종래와 동일한 부분은 종래 도면을 참조하여 설명하기로 한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. In addition, the same parts as those of the prior art will be described with reference to the conventional drawings.

도 4는 본 고안에 따른 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀의 개념도, 도 5는 본 고안에 따른 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀의 사용 상태도이다. FIG. 4 is a conceptual view of a pin for inspection of a printed circuit board according to the present invention, and FIG. 5 is a state of use of the pin for inspection and fixation of a printed circuit board according to the present invention.

본 고안에 따른 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀 및 이를 이용한 인쇄회로기판 검사 픽스처는, 인쇄회로기판 검사 픽스처 제작 시 핀과 와이어의 결합을 위한 작업성을 크게 개선할 수 있도록 구성된 것을 그 기술적 요지로 한다. A pin for checking a printed circuit board according to the present invention and a printed circuit board check fixture using the same are configured to be capable of greatly improving workability for combining a pin and a wire when a printed circuit board check fixture is manufactured .

도면에 도시한 바와 같이, 본 고안에 따른 인쇄회로기판 검사 픽스처에 사용되는 핀(100)은, 일정한 길이를 갖는 봉상의 본체부(110), 상기 본체부(110)의 선단에 연장 형성되며 상기 본체부(110)의 두께보다 두꺼운 두께를 갖는 확장부(120)및 상기 본체부(110)의 후단에 연장 형성되며 상기 본체부(110)의 두께보다 얇은 두께를 갖는 축소부(130)를 포함하여 이루어진다. As shown in the drawing, a pin 100 used in a printed circuit board check fix according to the present invention includes a main body portion 110 having a predetermined length, a main body portion 110 extending from the tip of the main body portion 110, An enlarged portion 120 having a thickness greater than the thickness of the body portion 110 and a reduced portion 130 extending from a rear end of the body portion 110 and having a thickness thinner than the thickness of the body portion 110 .

상기 확장부(120)는 인쇄회로기판 검사 픽스처의 베이스 플레이트(30)에 형성된 미세공에 억지로 끼워지게 된다. 따라서, 핀(100)이 베이스 플레이트(30)에 설치되게 되면 견고하게 고정되게 되어 쉽게 이탈되지 않게 된다. The extension part 120 is forcedly inserted into the micro pores formed in the base plate 30 of the printed circuit board test fixture. Therefore, when the pin 100 is installed on the base plate 30, the pin 100 is firmly fixed and is not easily detached.

상기 축소부(130)에는 와어어(40)가 감겨져서 서로 결합되게 된다. The sharer 40 is wound on the shrinking portion 130 to be coupled to each other.

이때, 상기 확장부(120)는 커넥터(3)의 단자가 수용되어 상호간의 접속이 보다 더 잘 이루어질 수 있도록 선단면에 일정한 오목홈(121)을 갖는 것이 바람직하다. At this time, it is preferable that the extension part 120 has a predetermined concave groove 121 on the end face so that the terminal of the connector 3 is received and the mutual connection can be performed more easily.

그리고, 상기 축소부(130)는 와어어(40)가 감겨져서 이탈되지 않고 견고하게 결속될 수 있도록 각진 형태 즉, 삼각 기둥, 사각 기둥 등과 같이 다각 기둥 형상인 것이 바람직하다. The shrinking portion 130 may have a polygonal column shape such as a triangular column, a square column, or the like so that the wire 40 may be wound and tightly coupled without being separated.

본 고안에 따르면, 인쇄회로기판 검사 픽스처 제작 시, 베이스 플레이트(30)의 미세공에 핀(50)을 삽입한 상태에서 랩핑 방식으로 핀(100)의 축소부(130)에 와이어(40)를 감아 결합하게 된다. 즉, 작업자가 랩핑기를 이용하여 핀(100)의 축소부(130)에 와이어(40)를 감아 결합시키게 되는 것이다. According to the present invention, when a printed circuit board inspection fixture is manufactured, a wire (40) is wound on a reduced portion (130) of a fin (100) in a lapping manner while a pin (50) is inserted into a micropore of a base plate So that it is rolled up. That is, the worker uses the lapping machine to wind the wire 40 around the reduced portion 130 of the pin 100,

상술한 바와 같이, 본 고안을 적용하게 되면 종래 인쇄회로기판 검사 픽스처 제작 시, 베이스 플레이트(30)의 미세공에 핀(50)을 삽입한 상태에서 납땜 방식으로 핀(50)에 와이어(40)를 결합하는 종래의 방법보다 작업성을 크게 개선하여 제조 원가를 절감할 수 있다. 따라서, 인쇄회로기판 검사 픽스처의 제품 경쟁력? 확보할 수가 있다. As described above, when the present invention is applied, the pins 50 are inserted into the micro holes of the base plate 30 in the conventional PCB inspection fixture, The manufacturing cost can be reduced by greatly improving the workability. Therefore, the product competitiveness of printed circuit board inspection fixtures? .

한편, 본 고안에 따른 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀 및 이를 이용한 인쇄회로기판 검사 픽스처를 한정된 실시예에 따라 설명하였지만, 본 고안의 범위는 특정 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 고안과 관련하여 통상의 지식을 가진자에게 자명한 범위내에서 여러 가지의 대안, 수정 및 변경하여 실시할 수 있다. In the meantime, the printed circuit board inspection fix pin according to the present invention and the printed circuit board inspection fixture using the same are described according to the limited embodiments. However, the scope of the present invention is not limited to the specific embodiments, It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention.

따라서, 본 고안에 개시된 실시예 및 첨부된 도면들은 본 고안의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 본 고안의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 고안의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 고안의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention and the accompanying drawings are intended to illustrate and not to limit the technical idea of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments and the accompanying drawings . The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas which are within the scope of the same should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

1 : 인쇄회로기판 2 : 분석기
3 : 커넥터 10 : 어댑터 플레이트
11 : 프로브 12 : 검사 포인트
20 : 그리드 플레이트 30 : 베이스 플레이트
40 : 와이어 50,100 : 핀
110 : 본체부 120 : 확장부
121 : 오목홈 130 : 축소부1: printed circuit board 2: analyzer
3: Connector 10: Adapter plate
11: probe 12: check point
20: grid plate 30: base plate
40: wire 50, 100: pin
110: main body part 120:
121: concave groove 130:

Claims (5)

인쇄회로기판 검사 픽스처에 사용되는 핀(100)으로서,
일정한 길이를 갖는 봉상의 본체부(110)와;
상기 본체부(110)의 선단에 연장 형성되되 상기 본체부(110)의 두께보다 두꺼운 두께를 갖는 확장부(120)와;
상기 본체부(110)의 후단에 연장 형성되되 상기 본체부(110)의 두께보다 얇은 두께를 갖는 축소부(130)를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀. A pin (100) used in a printed circuit board test fixture,
A bar body 110 having a predetermined length;
An extension 120 extending from a front end of the main body 110 and having a thickness greater than the thickness of the main body 110;
And a shrinkage part (130) extending from a rear end of the body part (110) and having a thickness smaller than a thickness of the body part (110). 청구항 1에 있어서,
상기 확장부(120)는 선단면에 오목홈(121)을 갖는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀. The method according to claim 1,
Wherein the extension portion (120) has a concave groove (121) in the end surface. 청구항 1에 있어서,
상기 축소부(130)는 다각 기둥 형상인 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀. The method according to claim 1,
Wherein the shrinking portion (130) has a polygonal columnar shape. 인쇄회로기판(1)에 형성된 다수의 검사 포인트(12)에 신호를 가하거나 검사 포인트(12)로부터 출력되는 신호를 수신하여 분석하는데 사용되는 인쇄회로기판 검사 픽스처에 있어서,
어댑터 플레이트(10), 그리드 플레이트(20) 및 베이스 플레이트(30)가 순차적으로 배치되고,
상기 어댑터 플레이트(10)와 그리드 플레이트(20)에 걸쳐서 인쇄회로기판(1)에 형성된 검사 포인트(12)와의 접속을 위한 프로브(11)가 설치되고, 상기 베이스 플레이트(30)에는 프로브(11)에 연결된 와이어(40)에 결합된 상태에서 분석기(2)에 연결된 커넥터(3)와의 접속을 위하여 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 기재된 핀(100)이 설치되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사 픽스처. A printed circuit board check fixture used for applying signals to a plurality of check points (12) formed on a printed circuit board (1) or receiving and analyzing signals outputted from an inspection point (12)
The adapter plate 10, the grid plate 20, and the base plate 30 are sequentially arranged,
A probe 11 is provided for connection between the adapter plate 10 and the grid plate 20 and an inspection point 12 formed on the printed circuit board 1. A probe 11 is provided on the base plate 30, Characterized in that a pin (100) as claimed in any one of claims 1 to 3 is provided for connection with a connector (3) connected to the analyzer (2) in a state of being coupled to a wire (40) Fixtures. 청구항 4에 있어서,
상기 와이어(40)와 핀(100)은 상기 핀(100)의 축소부(130)에 와어어(40)를 감아서 결합되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사 픽스처. The method of claim 4,
Wherein the wire (40) and the pin (100) are coupled to the shrinking portion (130) of the pin (100) by winding the wire (40).
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR960032013A (en) * 1995-02-17 1996-09-17 배순훈 Vacuum adsorption printed circuit board inspection device
KR0135657B1 (en) * 1994-01-06 1998-05-15 윌리암 티. 엘리스 Printed circuit board test fixture and method
KR200407312Y1 (en) * 2005-11-15 2006-01-26 이롬테크 주식회사 Stability probe for fixture for inspecting of printed circuit board
KR101094782B1 (en) * 2011-07-12 2011-12-16 김응균 Testing apparatus for printed circuit board

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0135657B1 (en) * 1994-01-06 1998-05-15 윌리암 티. 엘리스 Printed circuit board test fixture and method
KR960032013A (en) * 1995-02-17 1996-09-17 배순훈 Vacuum adsorption printed circuit board inspection device
KR200407312Y1 (en) * 2005-11-15 2006-01-26 이롬테크 주식회사 Stability probe for fixture for inspecting of printed circuit board
KR101094782B1 (en) * 2011-07-12 2011-12-16 김응균 Testing apparatus for printed circuit board

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