KR200404789Y1 - 초대형 영상 장치의 화질 검사 장치 - Google Patents

초대형 영상 장치의 화질 검사 장치 Download PDF

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KR200404789Y1
KR200404789Y1 KR20-2005-0028212U KR20050028212U KR200404789Y1 KR 200404789 Y1 KR200404789 Y1 KR 200404789Y1 KR 20050028212 U KR20050028212 U KR 20050028212U KR 200404789 Y1 KR200404789 Y1 KR 200404789Y1
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Abstract

본 고안은 초대형 영상 장치의 화질 검사 장치에 관한 것으로, 특히 초대형 평판 디스플레이(display) 장치의 화질과 품질을 기계적인 방법과 영상 계측 방법을 복합적으로 사용하여 효과적으로 검사할 수 있는 장치에 대한 것이다.
개시된 장치는 영상 계측용 카메라(305)와 상기 카메라를 통해 계측된 이미지를 제어하기 위한 디지털 이미지 프로세싱용 이미지 취득(Image Grabber) 및 제어 장치 수단(112)과 상기 카메라를 위치 제어 및 이동시키기 위한 다축 직선 이동 기계 장치 수단(301, 302, 303, 304)과 상기 직선 이동 장치를 제어하기 위한 컨트롤러(131,132,133)수단으로 구성되는 것을 특징으로 하며, 피 시험 대상 영상 장치의 크기에 제한을 받지 않고 전체 및 특정 영역에 대하여 정확한 화질을 검사 할 수 있는, 초대형 영상 장치의 화질 검사 장치에 관한 것이다.
특히, 초대형 영상 장치의 화질 평가 요소 가운데 수평 및 수직 직선성(horizontal and vertical linearity)을 검사하는데 있어서, 초대형 영상 장치가 필연적으로 가지는 화면 크기 속성 때문에 일반 영상 계측 방식으로 검사하는데 발생하는 문제점과 한계점을 다수의 직선 이동 기계 장치 수단(301, 302, 303, 304)과 영상 계측 장치 수단 및 디지털 이미지 프로세싱(Digital Image Processing)수단을 복합적으로 사용하여 효과적으로 해결할 수 있다.

Description

초대형 영상 장치의 화질 검사 장치{EXTRA-LARGE DISPLAY DEFINITION TEST SYSTEM}
본 고안은 초대형 영상장치의 화질 검사 장치에 관한 것으로, 특히 초대형 평판 디스플레이(display)장치의 화질과 품질을 기계적인 방법과 영상 계측 방법을 복합적으로 사용하여 효과적으로 검사할 수 있는 장치에 대한 것이다.
영상 장치 화면의 화질 시험 항목은 색감(colour), 색도(chromaticity), 밝기(Brightness), 화소, 패턴 직선성(linearity)등 여러 가지가 있다. 한편, 평판 디스플레이 장치의 크기는 나날이 대형화되어 가는 추세에 있으며, 초대형 평판 디스플레이 장치의 대량 생산 체제에 맞추어 제품 검사 방법에 대한 자동화 연구가 활발히 이루어지고 있으나, 종래의 영상 화질 검사 방법은 이러한 시험 항목을 육안으로 직접 검사하거나, 고가의 특수 카메라와 고배율 렌즈를 사용하여 반자동화하는 방식을 취하여 검사하였다.
하지만 육안으로 검사하는 경우, 개개인의 주관성이 간섭되어 시험에 있어서 객관성 및 신뢰성을 확보하기 어려울뿐더러, 많은 인력과 시간 및 비용이 소요되기 때문에 비효율적이었다.
반면, 고배율 렌즈를 장착한 카메라를 이용하여 검사하는 종래의 방법(도7)은 작은 영상 장치에서 화질을 검사하는데, 객관성을 갖추고 어느 정도 자동화를 이루었다고 할 수 있으나, 60인치 이상의 초대형 디스플레이 장치의 화질을 검사하는데 있어서 문제점과 한계점이 있었다.
이러한 문제점은 초대형 영상 장치의 크기 속성을 카메라 및 카메라 렌즈가 수용하지 못해서 생기는 문제점으로, 초대형 영상 장치의 크기를 카메라의 시야 거리(701)가 수용하지 못하는 점과 렌즈의 곡률에 의한 왜곡(distortion) 현상으로 인해, 초대형 영상 장치의 전체적인 색감, 패턴,등의 여러 가지 화질 평가 요소, 특히 수직 및 수평 직선성(horizontal and vertical linearity)을 정확히 검사 할 수 없었다.
제한된 시야거리(701)를 가지고 있는 카메라 및 렌즈를 통해서 취득되는 피 시험 대상 영상 장치 화면의 일부분만으로 전체 영역의 직선성(linearity)을 판단 할 수 없으며, 시야거리(701)를 넓히기 위하여 고배율의 렌즈를 사용하는 것도 한계가 있을뿐더러, 고배율 렌즈를 사용하여 확대하면 렌즈의 곡률에 의한 왜곡(distortion) 현상으로 인해 직선성(linearity)을 정확하게 판단 할 수 없다.
그래서, 한편으로 대단히 고가의 특수 카메라와 고배율 렌즈를 다수 사용하기도 하나, 이 경우는 카메라 렌즈가 가지는 곡률에 의한 왜곡(distortion) 현상으로 인해서 정확한 수직 및 수평 패턴 직선성(horizontal and vertical linearity)을 평가하기에는 근본적인 문제를 가지고 있으며, 무엇보다 고가의 가격이 문제가 되어 대량 생산 체제의 산업현장에 적용할 수 없었다.
따라서, 본 장치는 상술한 바와 같은 문제점을 감안하여 고안된 것으로서, 그 첫 번째 목적은 단일의 일반 영상 계측 장비를 사용하여, 초대형 영상 장치를 포함한 피 시험 대상 영상 장치의 크기 및 표시 영역에 제한을 받지 않는 화질 검사 장치를 제공하는 데 있다. 상기 화질 검사 및 평가 요소로는 색상, 색감, 명암, 밝기, 화소, 패턴 등이 포함될 수 있다.
본 고안의 두 번째 목적은 단일의 일반 영상 계측 장치를 사용하여 초대형 영상장치의 수평 및 수직 패턴 직선성(horizontal and vertical linearity)을 피 시험 대상 영상 장치의 크기에 제한을 받지 않고 효과적으로 정확하게 평가할 수 있는 장치를 제공하는 데 있다.
본 고안의 세 번째 목적은 디지털 이미지 프로세싱 및 그 제어 수단과 직선 위치 이동 제어 수단이 복합적으로 적용되는 화질 검사 장치 및 그 영상 계측 제어 장치를 제공하는 데 있다.
본 고안의 네 번째 목적은 초대형 평판 디스플레이 장치의 화질과 품질을 검사 및 평가하는데 있어서 객관성을 갖춘 자동화 수단과 대량 생산 체제에 적합한 저가의 산업 적용 가능한 장치를 제공하는 데 있다.
상기와 같은 목적들을 달성하기 위하여, 본 고안은 위치 이동 제어부와 영상 계측 제어부와 연산 처리부로 구성되는 것을 특징으로 하는 초대형 영상장치의 화질 검사 장치를 제공한다.
이하, 도면을 참고하여 본 고안을 보다 상세하게 설명한다.
도1은 본 고안의 바람직한 실시 예에 따른 초대형 영상장치의 화질 검사 장치의 개략적인 구성도이다.
도1 및 도3을 참조하면, 상기의 위치 이동 제어부(130)는, 쌍을 이루는 다수의 X축 방향의 수평 직선 이동 기구부(301, 302)와, 다수의 Y축 방향의 수직 직선 이동 기구부(303)와, 다수의 Z축 방향의 높이 직선 이동 기구부(304)와, 상기 직선 이동 기구부의 동력을 전달하는 다수의 엑츄에이터 수단(301-a, 303-a, 304-a )과, 상기 엑츄에이터 수단을 전기적 신호로 제어하는 제어부(131,132,133)와, 다수의 위치 감지 센서와, 베어링(307-a)과 직선이동가이드 구조물(307-b)로 구성되어 있으며 레일형식을 갖춘 수평을 이루는 전체 검사 장치의 이동용 장치(307,308)가 다수 개 설치되어 있다.
이 위치 이동 제어부(130)는 궁극적으로 연산 처리부(120)의 명령에 따라 카메라의 위치를 정밀하게 이동 시키는 목적을 가지고 있다.
상기의 영상 계측 제어부(110)는 단일의 영상 계측용 카메라 수단(305)과 다수의 조명 수단과 단일의 디지털 이미지 취득 장치(Image Grabber)(112) 로 구성되어 있다.
상기의 연산 처리부(120)는 상기의 영상 계측 제어부(110)를 통하여 취득된 디지털 이미지를 검사 조건과 비교하여 결과를 판단하는 판단부(122)(Digital Image Processing)와, 각 분할영역에 따라 디지털 이미지 처리 결과 및 그 판단 결과의 정보를 저장하는 메모리 수단으로 구성된 메모리부(124)와, 그 판단에 따라 카메라의 위치를 이동시키기 위해 상기의 위치 이동 제어부에 전기적인 제어 신호로서 위치 이동 명령을 계산하는 연산부(125)와, 검사 조건에 맞는 검사 패턴을 발생시키는 패턴 발생부(123)로 구성되어 있다. 또한 상기 연산 처리부(120)는 컴퓨터와 컴퓨터 소프트웨어 수단으로 적용할 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 고안에 따른 바람직한 실시 예를 상세하게 설명한다.
도2는 본 고안의 바람직한 실시 예에 따른 초대형 영상장치의 화질 검사 장치의 실행 순서도 이다.
바람직한 실시 예1을 설명함에 있어서, 도2에서 보는 바와 같이, 검사조건 설정 단계202에서 초대형 영상장치의 화질 검사 장치가 피 시험 대상 영상 장치의 화질을 검사하고자 하는 조건을 설정한다. 이 설정은 장치 운영자가 직접 할 수 도 있고, 데이터 구조화 하여 자동으로 입력 받을 수도 있다. 자동으로 입력 받는 방법은 XML, 데이터 파일, 데이터 베이스, 데이터 통신, 등을 통한 방법을 포함 할 수 있다.
단계202의 조건으로는 피 시험 대상 영상 장치의 크기, 검사 화질 항목, 카메라 속성 등이 포함 될 수 있다.
단계203에서 연산 처리부(120)는 단계202의 조건 중에서 피 시험 대상 영상 장치의 검사 영역의 크기와 카메라의 시야거리(601)에 따라 검사 단위로 검사 영역을 분할할 위치를 산출하며, 이 결과로 피 시험 대상 영상 장치의 전체 검사 영역은 여러 개의 검사 단위(200-a)로 분할되어 배열 형식을 형성한다. 여기서 산출된 분할 위치 데이터는 메모리부의 일부에 저장된다.
단계204에서 상기 단계203의 결과로 산출된 검사 단위의 분할 위치 데이터를 이용하여 메모리부(124)의 메모리 맵을 재정의한다. 메모리의 시작 번지를 시작으로 카메라의 시야거리에 해당하는 분할 위치 데이터가 옵셋 번지로 변환되어 메모리 배열(213)을 형성하도록 메모리 번지를 재정의한다. 이로서 실제 검사 단위(200-a)는 메모리 배열 요소(213-a)에 대응되며, 향후 실제 검사 단위 영역(200-a)의 영상을 취득하여 디지털 이미지로 변환하여 메모리 배열 요소(213-a)에 저장하게 된다. 상기 과정을 반복함으로서 실제 피 시험 대상 영상 장치의 전체 검사 영역(200)을 메모리 수단을 통하여 추상화할 수 있으며, 이것은 디지털 이미지 프로세싱 (Digital Image Processing) 기술을 통하여 피 시험 대상 영상 장치의 크기에 관계없이 전체 영역 또는 부분 영역 모두를 검사 및 판단하기 위함이다.
단계203과 단계204를 수행함으로서, 피 시험 대상의 영상 장치 전체 검사 영역의 화면(200)은, 다수의 단위 검사 영역(200-a)에 대응되는 다수의 메모리 배열 요소(213-a)로 구성되는 메모리 수단(213)으로 추상화된다.
단계205에서 상기 단계202에서 설정된 검사 방법에 따라 패턴 신호를 발생시키고, 그 발생 신호를 피 시험 대상 영상 장치에게 전송한다. 피 시험 대상 영상 장치 자체적으로 패턴 신호를 발생할 수 있는 경우는, 원하는 패턴 발생을 유도한다.
단계206에서 상기 연산처리부(120)에서 연산된 위치 제어 이동 명령에 따라 다수의 X, Y, Z 방향으로 카메라를 직선 위치 이동시킨다.
단계207에서 상기 단계203에서 분할된 단위 검사 영역(200-a)에 대하여 영상을 취득한다.
단계208에서 상기 단계207에서 취득된 영상 데이터를 디지털 데이터로 변환한다.
단계209에서는 상기 단계208에서 변환된 디지털 영상 데이터와 상기 단계202에서 설정된 검사 조건에 따라 검사 및 판단한다.
단계210에서는 상기 단계208에서 디지털 이미지 프로세싱 (Digital Image Processing)된 검사 단위 영역(200-a)의 영상 데이터와 단계209에서 판단된 검사 결과를 메모리 배열 요소(213-a)에 저장한다.
단계211에서 검사 영역의 전체 수행 여부를 판단한다. 피 시험 대상 영상 장치의 전체 검사 영역을 완수할 때 까지, 연산처리부(120)에서는 다음 단위 검사 영역을 검사하기 위하여 이동할 위치를 연산하며, 상기 단계(206,207,208,209,210)를 반복한다.
단계212에서 전체 메모리 수단(213)의 메모리 번지와 저장된 디지털 화상 데이터를 이용하여, 상기 단계202에서 설정된 검사 조건에 따라, 전체 화면 영역 또는 특정 화면 영역에 대하여 판단함으로서 상기 본 고안의 첫 번째 목적이 달성될 수 있다.
도5는 본 고안의 바람직한 실시 예에 따른 초대형 영상장치의 수평 및 수직 직선성(horizontal and vertical linearity) 검사에 대한 개략적인 순서도 이다.
바람직한 실시 예2를 설명함에 있어서, 도5에서 보는 바와 같이, 검사조건 설정 단계502에서 초대형 영상장치의 화질 검사 장치가 피 시험 대상 영상 장치의 수평 및 수직 직선성(horizontal and vertical linearity)을 검사하고자 하는 조건을 설정한다. 이 설정은 장치 운영자가 직접 할 수 도 있고, 데이터 구조화 하여 자동으로 입력 받을 수도 있다. 자동으로 입력 받는 방법은 XML, 데이터 파일, 데이터 베이스, 데이터 통신 등을 통한 방법을 포함 할 수 있다.
단계503에서 연산 처리부(120)는 단계502의 조건 중에서 피 시험 대상 영상 장치의 검사 영역의 크기와 카메라의 시야거리(601)에 따라 검사 단위로 검사 영역을 분할할 위치를 산출하며, 이 결과로 피 시험 대상 영상 장치의 전체 검사 영역은 여러 개의 검사 단위(500-a)로 분할되어 배열 형식을 형성한다. 여기서 산출된 분할 위치 데이터는 메모리부의 일부에 저장된다.
단계504에서 상기 단계503의 결과로 산출된 분할 위치 데이터를 이용하여 수평 및 수직 직선성(horizontal and vertical linearity) 평가에 사용 될 메모리 수단의 영역을 재정의한다.
카메라의 시야거리(601)에 해당하는 분할 위치 데이터에 따라서 단위 검사 영역(500-a)에 대응하는 메모리 영역(514)를 할당하고, 향후 실제 단위 검사 영역(500-a)의 영상을 취득하여 디지털 이미지로 변환하여 메모리 수단(514)에 저장하게 된다.
피 시험 대상의 영상 장치 전체 검사 영역의 화면(500)을 검사하는데 있어서, 다수의 단위 검사 영역을 반복 검사 하게 되고, 그 때마다 같은 메모리 영역(514)에 할당하여 메모리를 절약할 수 있다.
단계505에서 상기 단계502에서 설정된 검사 방법에 따라 수평 및 수직 직선성(horizontal and vertical linearity) 패턴 신호(505-a)를 발생시키고, 그 발생 신호를 피 시험 대상 영상 장치에게 전송한다. 피 시험 대상 영상 장치 자체적으로 패턴 신호를 발생할 수 있는 경우는, 원하는 패턴 발생을 유도한다.
단계506에서 상기 연산처리부(120)에서 연산된 위치 제어 이동 명령에 따라 카메라를 다수의 X, Y, Z 방향으로 직선 위치 이동시킨다.
단계507에서 상기 단계503에서 분할된 단위 검사 영역(500-a)에 대하여 영상을 취득한다.
단계508에서 상기 단계507에서 취득된 영상 데이터를 디지털 데이터로 변환 한다.
단계509와 단계510에서는 514에서 보는 바와 같이 상기 단계508에서 변환된 디지털 영상 데이터와 상기 단계502에서 설정된 검사 조건에 따라 다음과 같은 순서로 검사 및 판단하고 그 결과를 저장한다. 디지털 이미지 프로세싱 (Digital Image Processing) 기법을 활용하여 각 기준선(514-h,514-i)과 각 패턴 라인(514-f,514-g)를 인식하고, 거리를 자동으로 측정 할 수 있다.
첫째, 디지털 영상 데이터로 변환된 단위 검사 영역에서 X 방향의 직선성을 평가하기 위해, X 방향 기준선(514-h)과 다수의 X방향 패턴 라인(514-f) 과의 거리(514-a, 514-b, 514-c, 514-d)를 각각 측정한다.
둘째. 다수의 상기 X 방향의 거리 데이터를 배열 형식 메모리 수단(515)에 저장한다.
상기에서 측정한 514-a, 514-b, 514-c, 514-d 를 515의 배열 요소 515-a, 515-b, 515-c, 515-d 에 각각 저장한다.
셋째. 디지털 영상 데이터로 변환된 단위 검사 영역에서 Y 방향의 직선성을 평가하기 위해, Y 방향 기준선(514-i)과 다수의 Y방향 패턴 라인(514-g)과의 거리(514-e)를 각각 측정한다.
넷째, 상기 Y 방향의 거리 데이터를 배열 형식 메모리 수단(516)에 저장한다.
상기에서 측정한 514-e를 516의 배열 요소 516-a 에 각각 저장한다.
상기 X, Y방향의 거리 측정과 측정 데이터의 수는 피 시험 대상 영상 장치와 수평 및 수직 직선성(horizontal and vertical linearity) 패턴 신호(505-a)의 종류에 따라서 변동 될 수 있다.
다섯째, 상기 X, Y방향의 거리를 측정한 배열 데이터(515, 516)의 각 배열 요소들 간의 편차를 산출하고 그 편차를 이용하여 단위 검사 영역의 수평 및 수직 직선성(horizontal and vertical linearity)을 평가하고, 그 결과를 별도의 메모리 수단(517,518)에 각각 저장한다.
단계511에서 검사 영역의 전체 수행 여부를 판단한다. 피 시험 대상 영상 장치의 전체 검사 영역을 완수할 때 까지, 연산처리부(120)에서는 다음 단위 검사 영역을 검사하기 위하여 이동할 위치를 연산하며, 상기 단계(506,507,508,509,510)를 반복한다.
각 단위 검사 영역에 대하여 평가를 반복함에 있어서, X, Y 방향의 누적 편차 데이터(517,518)가 상기 단계502에서 설정된 평가 한계값을 이미 벗어나게 되면 그 즉시 검사를 멈추고, 전체 영역의 검사를 수행 할 필요 없이, 피 시험 대상 영상 장치를 불합격 판정을 내릴 수 있다.
전체 화면의 검사를 마치게 되면, 단계512에서 전체 화면에 대한 X 방향 기준선과 다수의 X 방향 패턴 라인의 과의 거리를 측정한 배열 데이터 (515)의 전체 배열 요소들 간의 편차와, 전체 화면에 대한 Y 방향 기준선과 다수의 Y 방향 패턴 라인과의 거리를 측정한 배열 데이터 (516)의 전체 배열 요소들 간의 편차를 산출 할 수 있다.
이 전체 편차 데이터와 상기 단계502에서 설정된 검사 조건을 비교하여, 전체 화면 영역에 대한 수평 및 수직 직선성(horizontal and vertical linearity)을 재판정함으로서 상기 본 고안의 두 번째 목적이 달성될 수 있다.
상술한 바와 같이 본 고안은 초대형 영상 장치의 화면 크기에 관계없이 다양한 화질 평가 요소를 검사하고 평가 할 수 있다.
특히, 초대형 영상장치의 수평 및 수직 패턴 직선성(horizontal and vertical linearity)을 피 시험 대상 영상 장치의 크기에 제한을 받지 않고 효과적으로 정확하게 평가할 수 있다.
또한, 초대형 평판 디스플레이 장치의 화질과 품질을 검사 및 평가하는데 있어서 객관성을 갖춘 자동화 수단과 대량 생산 체제에 적합한 저가의 산업 적용 가능한 장치를 제공할 수 있다.
따라서, 초대형 영상 장치를 대량 생산하는데 있어서, 생산 시간 및 인건비를 절감할 수 있으며, 품질을 객관적으로 향상시킬 수 있다.
제1도는 본 고안 장치의 구성도
제2도는 본 고안 장치의 화질 검사 실행에 대한 순서도
제3도는 본 고안 장치의 평면도
제4도는 본 고안 장치의 측면도
제5도는 본 고안 장치의 수직 및 수평 직선성 검사 실행에 대한 순서도
제6도는 일반 카메라의 시야 거리 속성
제7도는 고배율 렌즈를 사용하는 카메라의 시야 거리 속성
제8도는 영상장치의 수직 및 수평 직선성(horizontal and vertical linearity)과 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)의 사례
*도면의 주요 부분에 사용된 부호의 설명*
100 : 단위 검사 영역으로 분할된 피 시험 대상 영상 장치의 전체 화면의 개념도
100-a : 단위 검사 영역으로 분할된 제1 검사 단위
110: 영상 계측 제어부의 구성도
120: 연산 처리부의 구성도
130: 위치 이동 제어부의 구성도
124 :피시험 대상 영상 장치의 전체 화면에 대응되는 메모리 의 개념도
124-a :단위 검사 영역으로 분할된 제1 검사 단위에 대응되는 제1 메모리 배열 요소
301 : 제1 X 방향의 직선 이동 기구부
301-a : 엑츄에이터, 모터
301-b : 케이블 체인
301-c : 피 이송물에 대한 취부대
301-d : 커플링
301-e : 볼 스크류
301-f : LM 가이드
302 : 제2 X 방향의 직선 이동 기구부
303 : Y 방향의 직선 이동 기구부
303-b : 케이블 체인
303-c : 피 이송물에 대한 취부대
304 : Z 방향의 직선 이동 기구부
304-b : 케이블 체인
304-c : 피 이송물에 대한 취부대
305 : 카메라
305-a : 카메라의 렌즈
307: 전체 시험 장치의 이동용 제1 레일 장치
307-a : 베어링
307-b : 베어링 연결 장치
308: 전체 시험 장치의 이동용 제2 레일 장치
309 : 피 시험 대상 영상 장치
3010 : 벽체 및 건물 구조물
505-a : 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)
514: 단위 검사 영역의 수직 및 수평 직선성(horizontal and vertical linearity) 검사를 위한 메모리 영역 개념도
514-a : X 방향 기준선과 제 1 X 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)선 과의 거리
514-b : X 방향 기준선과 제 2 X 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)선 과의 거리
514-c : X 방향 기준선과 제 3 X 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)선 과의 거리
514-d : X 방향 기준선과 제 4 X 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)선 과의 거리
514-e : Y 방향 기준선과 제 1 Y 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)선 과의 거리
514-f : X 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)선
514-g : Y 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)선
514-h : X 방향 기준선
514-i : Y 방향 기준선
515: X 방향 기준선과 다수의 X 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)선 과의 거리를 측정한 데이터 메모리의 개념도
515-a : 515의 제1 메모리 배열 요소
516: Y 방향 기준선과 다수의 Y 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern)선 과의 거리를 측정한 데이터 메모리의 개념도
516-a : 516의 제1 메모리 배열 요소
517: 515의 각 메모리 배열요소들의 편차를 저장하는 메모리 개념도
518: 516의 각 메모리 배열요소들의 편차를 저장하는 메모리 개념도
601 : 일반 카메라의 시야 거리
701 : 렌즈를 작착한 카메라의 시야 거리
800 : 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern) 화면
801 : Y 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern) 선
802 : X 방향의 크로스 해치 패턴(cross-hatch pattern) 선

Claims (6)

  1. 전체 검사 장치를 수평 이동하기 위하여 사용되는 다수의 쌍을 이루는 기초 이동 기구부 수단(307,308)과;
    그 기초 이동 기구부 위에 설치되고, 카메라를 정밀하게 위치 제어하기 위한
    쌍을 이루는 다수의 X 방향의 수평 직선 이동 기구부 수단(301,302)과, 다수의 Y 방향의 수직 직선 이동 기구부 수단(303)과, 다수의 Z 방향의 높이 직선 이동 기구부 수단(304)과;
    고배율의 카메라 렌즈를 대체하기 위하여 사용되는
    쌍을 이루는 다수의 X 방향의 수평 직선 이동 기구부 수단(301,302)과, 다수의 Y 방향의 수직 직선 이동 기구부 수단(303)과, 다수의 Z 방향의 높이 직선 이동 기구부 수단(304)
    으로 구성되는 것을 특징으로 하며,
    카메라 수단을 위치 이동하여 피 시험 대상 영상 장치의 크기에 관계없이 화질 평가 요소를 검사할 수 있는 초대형 영상장치의 화질 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서, 피 시험 대상 영상 장치의 크기에 관계없이 화질 평가 요소를 검사할 수 있는 수단은,
    피 시험 대상 영상 장치의 전체 화면 크기를 카메라의 시야거리가 수용할 수 있는 크기로 다수의 단위 검사 영역으로 나누고, 그 각 단위 검사 영역을, 분할 위치 데이터에 따라서 카메라가 정밀하게 위치 이동하여 반복 검사하는 것을 특징으로 하는 초대형 영상장치의 화질 검사 장치.
  3. 제1항에 있어서, 피 시험 대상 영상 장치의 크기에 관계없이 화질 평가 요소를 검사할 수 있는 수단은,
    피 시험 대상 영상 장치의 화면을 디지털 이미지 프로세싱 단계를 통하여 디지털 신호로 바꾸는 단계와;
    그 디지털 데이터를 메모리 수단에 할당하는 단계와;
    검사 조건 정보를 참고로 화질 평가 요소를 평가하는 단계를 반복함으로서, 카메라가 수용할 수 없는 크기의 피 시험 대상 초대형 영상 장치의 전체 화면을 메모리 수단에 추상화하는 단계
    를 실행하는 것을 특징으로 하되,
    피 시험 대상 영상 장치의 전체 화면에 대응되는, 메모리 수단에 할당된 디지털 영상 데이터와 그 메모리 수단의 주소를 이용하여, 화면 전체 또는 일부분을 포함한, 위치 영역에 관계없이 화질 평가 요소를 검사 하는 것을 특징으로 하는 초대형 영상장치의 화질 검사 장치.
  4. 제3항에 있어서, 디지털 데이터를 메모리 수단에 할당하는 단계는,
    피 시험 대상 영상 장치의 전체 화면 크기를 카메라의 시야거리가 수용할 수 있는 단위 검사 영역으로 나누고, 그 단위 검사 분할 영역의 크기 데이터에 따라서 메모리 수단의 시작 번지와 옵셋 번지를 정의하는 단계와;
    재정의된 메모리의 시작 번지와 옵셋 번지에 따라서 단위 검사 영역에 대응하는 단위 메모리 배열 요소를 형성하는 단계와;
    그 형성된 단위 메모리 배열 요소에, 단위 검사 영역의 검사를 반복 함에 따라 수취되는 단위 검사 영역의 디지털 화상 데이터를 할당하는 단계와;
    그 단위 메모리 배열 요소로 구성되어 있으며, 상기 단계를 반복함으로서, 피 시험 대상 영상 장치의 전체 화면에 대응되는 2차 배열 데이터를 형성하는 단계
    를 실행하는 것을 특징으로 하는 초대형 영상장치의 화질 검사 장치.
  5. 디지털 이미지 프로세싱을 위한 카메라 수단을 다수의 X,Y,Z 방향의 직선 이동 기구부 수단의 조합 운동에 의해 정밀 위치 이동하여, 초대형 영상 장치의 화면에 대한 수평 및 수직 직선성(horizontal and vertical linearity)을 피 시험 대상 영상 장치의 크기에 제한을 받지 않고 효과적으로 정확하게 평가할 수 있는 초대형 영상장치의 화질 검사 장치.
  6. 제5항에 있어서, 초대형 영상장치의 화면에 대한 수평 및 수직 직선성(horizontal and vertical linearity)을 피 시험 대상 영상 장치의 크기에 제한을 받지 않고 효과적으로 정확하게 평가할 수 있는 수단은,
    카메라 수단이 수용할 수 있는 분할된 단위 검사 영역을 디지털 이미지 프로세싱 과정을 통하여 디지털 화상 데이터로 바꾸는 단계와;
    그 디지털 화상 데이터를 메모리로 할당하는 단계와;
    단위 검사 영역의 화면에 대응하는 메모리 수단의 디지털 화상 데이터를 분석하여, 기준선과 다수의 검사용 패턴(pattern)선 과의 수평 거리 및 수직거리를 각각 측정하고 저장하는 단계와;
    단위 검사 영역을 반복 검사 및 측정함으로서 형성된 다수의 수평거리와 수직거리의 배열 요소 데이터들 간의 편차 크기를 산출하여, 전체 화면에 대응하는 수평 및 수직 직선성을 평가하는 단계
    를 실행하는 것을 특징으로 하는 초대형 영상장치의 화질 검사 장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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