KR20040106045A - Method and apparatus for wafer bake apparatus - Google Patents

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KR20040106045A
KR20040106045A KR1020030037226A KR20030037226A KR20040106045A KR 20040106045 A KR20040106045 A KR 20040106045A KR 1020030037226 A KR1020030037226 A KR 1020030037226A KR 20030037226 A KR20030037226 A KR 20030037226A KR 20040106045 A KR20040106045 A KR 20040106045A
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cooling
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arm
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KR1020030037226A
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강희영
김태수
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한국디엔에스 주식회사
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    • F41WEAPONS
    • F41HARMOUR; ARMOURED TURRETS; ARMOURED OR ARMED VEHICLES; MEANS OF ATTACK OR DEFENCE, e.g. CAMOUFLAGE, IN GENERAL
    • F41H9/00Equipment for attack or defence by spreading flame, gas or smoke or leurres; Chemical warfare equipment
    • F41H9/04Gas-blowing apparatus, e.g. for tear gas

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Abstract

PURPOSE: A substrate bake apparatus and a baking method thereof are provided to reduce a time for transferring a substrate by performing a heating process and a cooling process within a single unit. CONSTITUTION: A substrate gate(112) is formed on one side of a case(110). A cooling unit(120) is installed in the inside of the case. A substrate is loaded on the cooling unit through the substrate gate. A heating unit(130) is installed nearly to the cooling unit. The substrate is loaded on the heating unit. A carrier mechanism(150) is installed between the cooling unit and the heating unit in order to transfer the substrate between the cooling unit and the heating unit.

Description

기판 베이크 장치 및 그 방법{METHOD AND APPARATUS FOR WAFER BAKE APPARATUS}Substrate Bake Apparatus and Method therefor {METHOD AND APPARATUS FOR WAFER BAKE APPARATUS}

본 발명은 기판 베이크 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate baking apparatus.

반도체 제조 단계 중에 약간의 단계는 기판 등의 반도체 기판 재료를 베이킹 하는 단계와, 계속적으로 이를 냉각시키는 단계를 필요로 한다. 예를 들어, 반도체 제조의 포토레지스트 처리 공정은 베이킹 및 냉각, 또는 열 사이클링을 필요로 한다. 본 발명에 따른 일체식 회로 분야에 적합한 고 품질의 기판을 생성하기 위해서는, 열 사이클링 중에 기판의 온도는 베이크 및 냉각 주기의 일시적인 온도 프로파일, 및 기판을 가로지른 온도의 균일도에 대해 정확하게 제어되어져야 한다.Some steps during the semiconductor fabrication step require baking a semiconductor substrate material, such as a substrate, and subsequently cooling it. For example, photoresist processing processes in semiconductor manufacturing require baking and cooling, or thermal cycling. In order to produce a high quality substrate suitable for the field of integrated circuits according to the invention, the temperature of the substrate during thermal cycling must be precisely controlled with respect to the temporal temperature profile of the bake and cooling cycles and the uniformity of the temperature across the substrate. .

일반적으로 포토레지스트 처리 공정에서 기판을 베이킹하고 냉각하기 위한 방법은 먼저 30 초 내지 90초 사이의 시간동안 70도 내지 250도 사이의 온도에서 기판을 베이킹한다. 기판을 베이킹 한 후에, 기판은 상온으로(0도 내지 30도 사이의 온도) 냉각되는 냉각 플레이트로 기계식으로 이동된다.In general, a method for baking and cooling a substrate in a photoresist processing process first bakes the substrate at a temperature between 70 degrees and 250 degrees for a time between 30 seconds and 90 seconds. After baking the substrate, the substrate is mechanically moved to a cooling plate that is cooled to room temperature (temperature between 0 degrees and 30 degrees).

그러나, 전술한 설비에는 몇 가지 단점을 갖는다.However, the above mentioned installation has some disadvantages.

첫째, 포토레지스트 처리 설비에서의 가열과 냉각 처리를 개별로 행하는 베이크 유닛(HP(히팅 플레이트), CP(쿨링 플레이트))들은 공정 진행 조건에 따라 상하로 배치되고, 각 유닛에 대한 기판 반입 및 반출은 이송통로에 설치된 반송로봇에 의해 행하여진다. 그러다 보니, 반송로봇에 많은 부하가 걸림으로써 처리시간(tact time) 관리가 어렵고 또한 로봇의 스피드를 올리는데도 한계점에 도달되어 공정 처리량이 떨어지는 현상이 발생되고 있다.First, baking units (HP (heating plate), CP (cooling plate)) which individually perform heating and cooling treatments in a photoresist processing facility are arranged up and down according to the process progress conditions, and the substrate loading and unloading for each unit is carried out. Is carried out by a transport robot installed in the transport passage. Therefore, it is difficult to manage the tact time due to the heavy load on the transport robot, and the process throughput is lowered because the limit is reached even when the speed of the robot is increased.

둘째, 히팅 플레이트에서 가열처리된 기판은 신속하고 일정한 시간으로 냉각되는 것이 바람직하다. 하지만, 히팅 플레이트와 가열 플레이트가 개별 유닛으로 설치되어 있으므로, 기판을 히팅 플레이트로부터 반출하여 냉각 플레이트로 반입하는데 시간이 걸린다. 패턴의 미세화가 진행되는 지금은, 종래에서는 문제가 되지 않았던 유닛사이의 이동시간도 패턴변형이나 재현성의 악화 등을 초래할 염려가 있고, 이 점에 관해서도 개선할 필요성이 있는 것이다.Second, it is preferable that the substrate heated in the heating plate is cooled quickly and at a constant time. However, since the heating plate and the heating plate are provided as separate units, it takes time to take out the substrate from the heating plate and carry it into the cooling plate. As the pattern is further refined, the movement time between units, which has not been a problem in the past, may cause pattern deformation, deterioration of reproducibility, etc., and there is a need for improvement in this regard as well.

셋째, 또 다른 문제는 반송로봇이 고온의 기판을 반송한 직후에 상온의 기판을 반송하는 경우, 이 상온의 기판에 불균일한 온도 변화를 유발시키게 된다.Third, another problem is that when the transport robot transports the substrate at room temperature immediately after transporting the substrate at a high temperature, a nonuniform temperature change is caused to the substrate at this temperature.

본 발명은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 기판의 가열과 냉각을 단일 유닛에서 진행할 수 있는 새로운 형태의 기판 베이크 장치를 제공하는데 있다. 본 발명의 또 다른 목적은 공정 시간을 단축시키고, 공정의 안정화를 꾀하도록 하는 반도체 기판 베이크 장치에 관한 것이다. 또 다른 목적은 로봇 구동영역(기판 반송 통로)으로의 온도 영향을 최소화시킬 수 있는 새로운 형태의 기판 베이크 장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a conventional problem, and an object thereof is to provide a new type of substrate baking apparatus capable of performing heating and cooling of a substrate in a single unit. Another object of the present invention relates to a semiconductor substrate baking apparatus for shortening the process time and stabilizing the process. Still another object is to provide a new type of substrate baking apparatus capable of minimizing the effect of temperature on the robot drive region (substrate conveyance passage).

도 1은 본 발명의 장치 구성을 설명하기 위한 사시도;1 is a perspective view for explaining a device configuration of the present invention;

도 2는 본 발명의 장치 구성을 설명하기 위한 평면 구성도;2 is a plan view for explaining the device configuration of the present invention;

도 3은 도 2에 표시된 a-a 선 방향에서 바라본 측면도;FIG. 3 is a side view as seen in the a-a line direction shown in FIG. 2; FIG.

도 4는 본 발명의 장치의 측면도;4 is a side view of the apparatus of the present invention;

도 5 및 도 6은 반송 메카니즘의 다른 실시예를 설명하기 위한 도면;5 and 6 illustrate another embodiment of the transport mechanism;

도 7은 본 발명에 따른 기판 베이크 장치에서의 기판 가열/냉각 방법에 관한 플로우챠트이다.7 is a flowchart of the substrate heating / cooling method in the substrate baking apparatus according to the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings

110 : 케이스110: case

112 : 기판 출입구112: substrate entrance

120 : 기판냉각부120: substrate cooling unit

130 : 기판가열부130: substrate heating unit

150 : 반송 메카니즘150: conveyance mechanism

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 의하면, 기판 베이크 장치는 일면에 기판 출입구를 갖는 케이스, 상기 케이스 내부에 설치되는 그리고 상기 기판 출입구를 통해 반입/반출되는 기판이 놓여지는 기판냉각부, 상기 기판가열부와 인접하게 배치되는 그리고 기판이 놓여지는 기판가열부 및 상기 기판냉각부와 기판가열부 사이에서 기판을 반송하는 반송 메카니즘을 포함한다.According to a feature of the present invention for achieving the above object, the substrate baking apparatus includes a case having a substrate entrance and exit on one surface, a substrate cooling unit which is placed inside the case and the substrate is carried in and out through the substrate entrance, A substrate heating unit disposed adjacent to the substrate heating unit and on which the substrate is placed, and a transport mechanism for transferring the substrate between the substrate cooling unit and the substrate heating unit.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 기판냉각부와 상기 기판가열부는 기판의 반입 방향을 기준으로 일직선상에 배치된다. 상기 기판냉각부는 상기 기판 출입구에 인접하게 배치된다.According to an embodiment of the present invention, the substrate cooling unit and the substrate heating unit are disposed in a straight line with respect to the loading direction of the substrate. The substrate cooling unit is disposed adjacent to the substrate entrance and exit.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 반송 메카니즘은 상기 기판냉각부에 위치한 기판을 상기 기판가열부로, 그리고 상기 기판가열부에 위치한 기판을 상기 기판냉각부로 동시에 서로 반송시킬 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the transfer mechanism may simultaneously transfer the substrate located in the substrate cooling unit to the substrate heating unit and the substrate located in the substrate heating unit to the substrate cooling unit.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 반송 메카니즘은 어느 하나가 상기 기판냉각부에 위치한 기판을 상기 기판가열부로 반송할때, 또 다른 하나는 상기 기판가열부에 위치한 기판을 상기 기판냉각부로 반송하기 위한 한 쌍의 제1,2아암을 포함한다. 상기 제1아암과 제2아암은 서로 교호적으로 직선 이동된다. 상기 반송 메카니즘은 상기 제1아암과 제2아암을 서로 교호적으로 이동시키기 위한 이동부를 더 포함한다.According to an embodiment of the present invention, the conveying mechanism is one of the conveyance of the substrate located in the substrate cooling unit to the substrate heating unit, the other is to convey the substrate located in the substrate heating unit to the substrate cooling unit And a pair of first and second arms. The first arm and the second arm are alternately linearly moved with each other. The conveying mechanism further includes a moving part for alternately moving the first arm and the second arm.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 이동부는 모터와; 상기 모터에 의해 회전하는 타이밍 밸트; 상기 제1스윙 아암과 제2스윙 아암이 각각 결합되는 그리고 상기 타이밍 벨트에 설치되어 상기 타이밍 벨트의 회전에 따라 서로 반대방향으로 직선 이동되는 상부 브라켓 및 하부 브라켓을 포함한다.According to an embodiment of the invention, the moving unit and the motor; A timing belt rotated by the motor; And an upper bracket and a lower bracket to which the first swing arm and the second swing arm are respectively coupled and installed in the timing belt so as to linearly move in opposite directions as the timing belt rotates.

본 발명에서 상기 이동부는 상기 상부, 하부 브라켓의 직선 이동을 가이드해주는 가이드 레일을 더 포함한다. 본 발명에서 상기 반송 메카니즘은 상기 제1아암과 제2아암을 서로 반대되는 방향으로 회전시키기 위한 이동부를 더 포함한다. 본 발명에서 상기 이동부는 모터와; 상기 모터와 연결되는 회전축을 포함한다. 본 발명에서 상기 제1아암과 제2아암은 서로 다른 높이에서 이동되는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.In the present invention, the moving part further includes a guide rail for guiding the linear movement of the upper and lower brackets. In the present invention, the conveying mechanism further includes a moving part for rotating the first arm and the second arm in opposite directions. In the present invention, the moving unit and the motor; It includes a rotating shaft connected to the motor. In the present invention, the first arm and the second arm is a substrate baking apparatus, characterized in that moved at different heights.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 기판 베이크 장치에서의 기판 가열/냉각 방법은 기판을 가열 플레이트에서 가열하는 단계; 가열처리된 기판을 냉각 플레이트로 이송하고, 이와 동시에 냉각 플레이트에서 대기중인 기판을 가열 플레이트로 이송하는 단계; 상기 가열 플레이트로 이송된 기판을 가열하는 단계; 가열 처리를 진행하는 동안, 냉각 플레이트로 이송된 기판을 냉각한 후, 외부로 반출하고, 새로운 기판을 반입 받아서 상기 냉각 플레이트에서 대기시키는 단계를 포함한다.According to another feature of the invention, a substrate heating / cooling method in a substrate baking apparatus comprises the steps of heating a substrate in a heating plate; Transferring the heated substrate to the cooling plate, and simultaneously transferring the substrate waiting in the cooling plate to the heating plate; Heating the substrate transferred to the heating plate; During the heat treatment, the substrate transferred to the cooling plate is cooled, then taken out, and a new substrate is brought in and waited on the cooling plate.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 기판 가열/냉각 방법은 외부로부터 반입된 기판을 냉각 플레이트에서 대기하는 단계; 상기 기판을 가열 플레이트로 이송하는 단계; 상기 가열 플레이트에서 기판을 가열하는 단계; 외부로부터 기판을 반입하여 그 기판을 비어있는 냉각 플레이트로에서 대시시키는 단계; 가열처리된 기판을 냉각 플레이트로 이송하고, 이와 동시에 냉각 플레이트에서 대기중인 기판을 가열 플레이트로 이송하는 단계; 상기 냉각 플레이트에서 가열처리된 기판을 냉각하는 단계; 냉각처리된 기판을 외부로 반출하고, 외부로부터 반입되는 기판을 상기 냉각 플레이트에서 대기시키는 단계를 포함한다.According to another feature of the invention, the substrate heating / cooling method comprises the steps of waiting for the substrate loaded from the outside in a cooling plate; Transferring the substrate to a heating plate; Heating a substrate in the heating plate; Importing the substrate from the outside and dashing the substrate into the empty cooling plate; Transferring the heated substrate to the cooling plate, and simultaneously transferring the substrate waiting in the cooling plate to the heating plate; Cooling the heat treated substrate in the cooling plate; Carrying out the cooled substrate to the outside, and waiting the substrate to be brought in from the outside in the cooling plate.

본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예들로 인해 한정되어 지는 것으로 해석되어져서는 안 된다. 본 실시예들은 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되어지는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다.The embodiments of the present invention may be modified in various forms, and the scope of the present invention should not be construed as being limited by the embodiments described below. These examples are provided to more fully explain the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shape of the elements in the drawings and the like are exaggerated to emphasize a clearer description.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부도면 도 1 내지 도 5에 의거하여 상세히 설명한다. 또, 상기 도면들에서 동일한 기능을 수행하는 구성요소에 대해서는 동일한 참조번호를 병기한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 5. In addition, in the drawings, the same reference numerals are denoted together for components that perform the same function.

본 발명은 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 도 1은 본 발명의 장치 구성을 보여주기 위한 사시도이고, 도 2는 평면 구성도이다. 도 3은 도2에 표시된 a-a 선 방향에서 바라본 측면도이고, 도 4는 본 발명의 장치의 측면도이다.1 and 2, Figure 1 is a perspective view for showing the device configuration of the present invention, Figure 2 is a plan view. 3 is a side view as seen in the a-a line direction shown in FIG. 2, and FIG. 4 is a side view of the apparatus of the present invention.

본 발명의 기판 베이크 유닛(100)은 반도체 제조 공정중에서도 포토레지스트 처리 공정에서의 기판 베이킹 및 냉각에 주로 적용될 수 있다.The substrate bake unit 100 of the present invention can be mainly applied to substrate baking and cooling in a photoresist processing process even during a semiconductor manufacturing process.

도 1내지 도 4를 참조하여 본 발명의 구성을 살펴보면, 일측으로 기판 출입구(112)를 갖는 케이스(110), 상기 케이스(110) 내부에 설치되는 기판가열부(130)와 기판냉각부(120) 그리고 이들 기판가열부(130)와 기판냉각부(120)간의 기판 반송을 위한 반송 메카니즘(150)을 포함한다.Looking at the configuration of the present invention with reference to Figures 1 to 4, the case 110 having a substrate entrance 112 to one side, the substrate heating unit 130 and the substrate cooling unit 120 installed inside the case 110 And a transfer mechanism 150 for transferring the substrate between the substrate heating unit 130 and the substrate cooling unit 120.

상기 기판냉각부(120)는 상기 케이스(110)의 기판 출입구(112)와 인접하게 배치된다. 이 기판냉각부(120)는 기판(w)을 올려놓고 소정온도로 냉각처리하도록 구성된 냉각 플레이트(122)와, 이 냉각 플레이트(122) 위쪽에 위치하여 상하 이동 가능한 커버(124)(도 2에 도시됨)를 갖는다. 참조부호 125는 상기 커버(124)를 상하 이동시키기 위한 승강부이다. 상기 커버(124)는 상기 냉각 플레이트(122)를 덮어 열분위기가 주위로 확산되는 것을 방지하기 위한 것이다. 본 장치에서 상기 기판냉각부(120)를 기판 출입구와 인접하게 배치한 이유는, 냉각처리된 기판을 신속하게 밖으로 반출시킬 수 있고, 다음 처리대상이 되는 기판을 신속하게 반입 받아 대기시킬 수 있기 때문이다.The substrate cooling unit 120 is disposed adjacent to the substrate entrance 112 of the case 110. The substrate cooling unit 120 includes a cooling plate 122 configured to place a substrate w on the substrate and cool the glass to a predetermined temperature, and a cover 124 positioned above the cooling plate 122 and movable up and down (Fig. 2). Shown). Reference numeral 125 is a lifting unit for moving the cover 124 up and down. The cover 124 covers the cooling plate 122 to prevent the heat atmosphere from spreading around. The reason why the substrate cooling unit 120 is disposed adjacent to the substrate entrance and exit in the apparatus is that the cooled substrate can be quickly taken out, and the substrate to be processed next can be quickly brought in and waited for. to be.

한편, 상기 냉각 플레이트(122)에는 3개의 관통공이 형성되어 있다. 각 관통공에는 기판의 이면을 지지하는 리프트핀(126)이 각각 삽입되어 있다. 이들 3개의 리프트핀은 승강기구(미도시됨)에 의해 상하 이동된다. 기판(w)은 상기 리프트핀들에 의해 업(기판을 주고받기 위한 언로딩 위치;도 2에서 점선으로 표시함)/다운(기판을 냉각하기 위한 로딩 위치; 도2에서 실선으로 표시됨)된다.Meanwhile, three through holes are formed in the cooling plate 122. Lift pins 126 supporting the back surface of the substrate are inserted in the respective through holes. These three lift pins are moved up and down by a lifting mechanism (not shown). The substrate w is up (unloading position for exchanging the substrate; indicated by dotted lines in FIG. 2) / down (loading position for cooling the substrate; indicated in solid lines in FIG. 2) by the lift pins.

상기 기판가열부(130)와 상기 기판냉각부(120)는 상기 기판의 반입방향을 기준으로 일직선상에 배치된다. 즉, 기판가열부(130)는 상기 기판 출입구(112)에서 보았을 때 상기 기판냉각부(120)의 후단(뒤쪽)에 배치된다. 이처럼, 기판가열부(130)는 기판 출입구(112)로부터 멀리 떨어져 배치됨으로써, 열이 기판 출입구(112)를 통해 밖으로 방출되어, 주변 환경에 영향을 주는 것을 최소화시킬 수 있는 이점이 있다.The substrate heating unit 130 and the substrate cooling unit 120 are disposed in a straight line with respect to the loading direction of the substrate. That is, the substrate heating unit 130 is disposed at the rear end (back side) of the substrate cooling unit 120 when viewed from the substrate entrance and exit 112. As such, since the substrate heating unit 130 is disposed far away from the substrate entrance 112, heat is released through the substrate entrance 112, thereby minimizing the influence on the surrounding environment.

상기 기판가열부(130)는 기판을 올려놓고 소정온도로 가열처리하도록 구성된 가열 플레이트(132)와, 이 가열 플레이트(132) 위쪽에 위치하여 상하 이동 가능한 커버(134)를 갖는다. 상기 기판가열부의 커버는 도2에 도시된 기판냉각부의 커버와 동일한 구성으로 이루어진다. 참조부호 135은 상기 커버(134)를 상하 이동시키기 위한 승강부이다. 상기 커버는 상기 가열 플레이트를 덮어 열 분위기가 기판(w)을 빨리 안정시키고 내부의 열이 주위로 확산되는 것을 방지하기 위한 것이다.The substrate heating unit 130 has a heating plate 132 configured to place a substrate and heat-process at a predetermined temperature, and a cover 134 that is positioned above the heating plate 132 and moves up and down. The cover of the substrate heating part has the same configuration as the cover of the substrate cooling part shown in FIG. Reference numeral 135 is a lifting unit for moving the cover 134 up and down. The cover covers the heating plate to prevent the thermal atmosphere from stabilizing the substrate w quickly and to prevent heat therein from spreading around.

한편, 상기 가열 플레이트(132)에는 3개의 관통공이 형성되어 있다. 각 관통공에는 기판의 이면을 지지하는 리프트핀(136)이 각각 삽입되어 있다. 이들 3개의 리프트핀(136)은 승강기구(미도시됨)에 의해 상하 이동된다. 기판은 상기 리프트핀(136)들에 의해 업(기판을 주고받기 위한 언로딩 위치)/다운(기판을 가열하기 위한 로딩 위치)된다.Meanwhile, three through holes are formed in the heating plate 132. Lift pins 136 supporting the back surface of the substrate are inserted in each through hole. These three lift pins 136 are moved up and down by a lifting mechanism (not shown). The substrate is lifted up (unloading position for exchanging substrate) / down (loading position for heating the substrate) by the lift pins 136.

상기 반송 메카니즘(150)은 상기 기판냉각부(120)에 위치한 기판을 상기 기판가열부(130)로, 그리고 상기 기판가열부(130)에 위치한 기판을 상기 기판냉각부(120)로 동시에 서로 맞바꾸기 위한 것이다.The transfer mechanism 150 simultaneously fits the substrates positioned on the substrate cooling unit 120 to the substrate heating unit 130 and the substrates positioned on the substrate heating unit 130 to the substrate cooling unit 120. It is to change.

상기 반송 메카니즘(150)은 제1아암(152)과 제2아암(154) 그리고 이동부(156)를 포함하며, 이 반송 메카니즘(150)은 기판의 이송을 위해 제1아암(152)과 제2아암(154)의 직선 이동만을 제공하기 때문에 그 구성이 단순하고, 구현이 간단하다.The conveying mechanism 150 includes a first arm 152, a second arm 154, and a moving part 156. The conveying mechanism 150 includes the first arm 152 and the first to convey the substrate. Since only the linear movement of the two arms 154 is provided, the configuration is simple and the implementation is simple.

상기 제1아암(152)과 제2아암(154)은 어느 하나가 상기 기판냉각부(120)에 위치한 기판을 상기 기판가열부(130)로 이송할 때, 다른 하나는 상기 기판가열부(130)에 위치한 기판을 상기 기판냉각부(120)로 이송한다. 이처럼, 상기 제1아암(152)과 제2아암(154)은 서로 반대방향으로 직선 이동된다.When one of the first arm 152 and the second arm 154 transfers the substrate positioned on the substrate cooling unit 120 to the substrate heating unit 130, the other of the first arm 152 and the second arm 154 is the substrate heating unit 130. The substrate located at) is transferred to the substrate cooling unit 120. As such, the first arm 152 and the second arm 154 are linearly moved in opposite directions.

상기 이동부(156)는 이 제1아암(152)과 제2아암(154)을 서로 반대방향으로 직선 이동시키기 위한 것으로, 모터(158), 2개의 벨트 풀리(160), 이 벨트 풀리(160)에 감겨져 돌아가는 벨트(162), 상부 브라켓(164)과 하부 브라켓(166) 그리고 가이드 레일(168)을 포함한다.The moving part 156 is used to linearly move the first arm 152 and the second arm 154 in opposite directions, and includes a motor 158, two belt pulleys 160, and the belt pulley 160. And a belt 162 wound around the belt 162, an upper bracket 164 and a lower bracket 166, and a guide rail 168.

상기 2개의 벨트 풀리(160)에는 벨트(162)가 감겨지고, 하나의 벨트 풀리에는 상기 모터(158)의 축이 연결되어, 상기 모터(158)로부터 회전력을 전달받아 정/역 회전된다. 상기 상부 브라켓(164)과 하부 브라켓(166)은 상기 벨트(162)의 상부와 하부에 각각 결합된다. 따라서, 상기 벨트(162)가 돌아가면 이들 브라켓(164,166)은 서로 반대 방향으로 이동된다. 상기 상부 브라켓(164)에는 제2아암(154)이, 상기 하부 브라켓(166)에는 제1아암(152)이 각각 결합된다. 그리고 이들 브라켓들(164,166)은 직선 이동시 가이드 레일(168)에 의해 안내받는다.The belt 162 is wound around the two belt pulleys 160, and a shaft of the motor 158 is connected to one belt pulley 160 so as to receive a rotational force from the motor 158 to be rotated forward and reverse. The upper bracket 164 and the lower bracket 166 are coupled to the upper and lower portions of the belt 162, respectively. Thus, when the belt 162 is rotated, these brackets 164 and 166 are moved in opposite directions. The second arm 154 is coupled to the upper bracket 164, and the first arm 152 is coupled to the lower bracket 166, respectively. And these brackets (164, 166) are guided by the guide rail 168 during linear movement.

상기 구동부(150)의 모터는 정방향과 역방향으로 구동된다. 이 모터는 상기 브라켓들(또는 이 브라켓들에 결합된 아암들)이 상기 기판냉각부(120)의 리프트핀(126)들로부터 기판을 주고받을 수 있는 제1포지션과, 상기 기판가열부의 리프트핀들로부터 기판을 주고받을 수 있는 제2포지션 사이를 왕복 이동되도록 구동된다.The motor of the driving unit 150 is driven in the forward and reverse directions. The motor has a first position through which the brackets (or arms coupled to the brackets) can exchange substrates from the lift pins 126 of the substrate cooling unit 120, and the lift pins of the substrate heating unit. It is driven to reciprocate between the second positions that can exchange the substrate from.

상기 제1아암(152)과 제2아암(154)이 서로 교차될 때 기판끼리 충돌이 발생되지 않도록 상기 제1아암(152)과 제2아암(154)은 서로 다른 높이에서 상기 상부 브라켓(164)과 상기 하부 브라켓(166)에 각각 설치된다.When the first arm 152 and the second arm 154 intersect with each other, the first arm 152 and the second arm 154 may have the upper bracket 164 at different heights. ) And the lower bracket 166, respectively.

도 5 및 도 6에는 반송 메카니즘의 다른 실시예가 도시되어 있다.5 and 6 show another embodiment of a conveying mechanism.

도 5 및 도 6를 참조하면, 상기 반송 메카니즘(170)은 상기 기판냉각부(120)에 위치한 기판을 상기 기판가열부(130)로, 그리고 상기 기판가열부(130)에 위치한 기판을 상기 기판냉각부(120)로 동시에 서로 맞바꾸기 위한 것이다.Referring to FIGS. 5 and 6, the transfer mechanism 170 may include a substrate located on the substrate cooling unit 120 as the substrate heating unit 130, and a substrate located on the substrate heating unit 130. The cooling unit 120 is to exchange with each other at the same time.

상기 반송 메카니즘(170)은 제1아암(172)과 제2아암(174) 그리고 이동부(176)를 포함하며, 이 반송 메카니즘(170)은 기판의 이송을 위해제1아암(172)과 제2아암(174)의 회전 이동만을 제공하기 때문에 그 구성이 매우 단순하다.The conveying mechanism 170 includes a first arm 172, a second arm 174, and a moving part 176, which conveys the first arm 172 and the first arm 172 to transfer the substrate. The configuration is very simple because it only provides rotational movement of the two arms 174.

상기 제1아암(172)과 제2아암(174)은 어느 하나가 상기 기판냉각부(120)에 위치한 기판을 상기 기판가열부(130)로 이송할 때, 다른 하나는 상기 기판가열부(130)에 위치한 기판을 상기 기판냉각부로 이송한다. 이처럼, 상기 제1아암(172)과 제2아암(174)은 서로 반대방향으로 회전 이동된다.When one of the first arm 172 and the second arm 174 transfers the substrate located at the substrate cooling unit 120 to the substrate heating unit 130, the other of the first arm 172 and the second arm 174 is the substrate heating unit 130. The substrate located at) is transferred to the substrate cooling unit. As such, the first arm 172 and the second arm 174 are rotated in opposite directions.

상기 이동부(176)는 이 제1아암(172)과 제2아암(174)을 서로 반대방향으로 회전 이동시키기 위한 것으로, 모터(178)와, 회전축(180)들을 포함한다.The moving part 176 is used to rotate the first arm 172 and the second arm 174 in opposite directions, and includes a motor 178 and rotation shafts 180.

이와 같이, 본 발명에 따른 기판 베이크 장치(100)는 포토리소그라피 공정을 위한 스피너 설비에 적용할 수 있다. 스피너 설비에 본 장치를 적용할 경우, 반송 통로에 설치된 반송로봇의 기판 이송작업이 기존 대비 절반으로 줄어듦으로써, 처리시간(tact time) 관리가 쉬워지고, 또한 공정 처리량도 향상시킬 수 있는 것이다.As such, the substrate baking apparatus 100 according to the present invention may be applied to a spinner facility for a photolithography process. When the device is applied to the spinner facility, the substrate transfer operation of the transfer robot installed in the transfer passage is reduced by half compared to the conventional one, thereby making it easy to manage the tact time and improve the process throughput.

즉, 공정 FLOW 스텝이 HP/CP 기준으로 4스텝에서 2스텝으로 줄고 나머지 2스텝은 베이크 장치 내부의 반송 메카니즘이 동시에 이송처리 함으로써, 기존 대비 반송로봇의 이송 부하를 절반으로 줄일 수 있다.In other words, the process flow step is reduced from 4 steps to 2 steps on the basis of HP / CP and the remaining 2 steps are simultaneously transported by the transfer mechanism inside the baking apparatus, thereby reducing the transfer load of the transfer robot by half.

한편, 상기 기판 베이크 장치는 처리목적에 맞추어 여러 가지 설정이 가능하다. 예컨대 상기 베이크 장치는 감광액 도포후의 가열처리인 프리베이크(prebake)와, 그 후의 냉각처리를 위한 장치, 노광처리후의 가열처리인 포스트익스포저베이크(PEB)(postbake)와, 그 후의 냉각처리를 위한 장치, 현상처리후의 가열처리인 하드보드베이크(hardbrad bake)와, 그 후의 냉각처리를 위한 장치로 사용될 수 있다. 본 실시예에서는 감광액 도포후에 사용되는 베이크 장치를 예를 들어 설명한다.On the other hand, the substrate baking apparatus can be set in various ways according to the purpose of processing. For example, the baking device may be a prebake, which is a heat treatment after application of a photosensitive liquid, a device for subsequent cooling treatment, a postbake that is a heat treatment after exposure, and a device for subsequent cooling treatment. It can be used as a device for hardbrad bake, which is a heat treatment after development, and for a subsequent cooling treatment. In this embodiment, the baking apparatus used after application | coating of a photosensitive liquid is demonstrated to an example.

본 실시예에 대한 기판 베이크 장치에서의 기판 처리 과정은 다음과 같다.The substrate processing procedure in the substrate baking apparatus for this embodiment is as follows.

도 2 및 도 8을 참조하면, 노광 공정을 마친 기판은 반송 로봇(200)에 의해 상기 케이스의 기판 출입구(112)를 통해 내부로 반입된다.(S12)Referring to FIGS. 2 and 8, the substrate after the exposure process is carried in by the transfer robot 200 through the substrate entrance and exit 112 of the case.

반입된 기판(W1)은 냉각 플레이트에 놓여진다.(S14) 그 후 기판(W1)은 반송 메카니즘의 제1아암(152)에 의해 기판가열부(130)로 반송된다.(S16) 상기 기판가열부(130)의 커버는 들어올려지고, 리프트핀(136)들이 기판(W1)의 이면을 지지한다. 반송 메카니즘의 제1아암(152)이 대기 위치로 이동되면 리프트핀(136)들이 다운되면서 기판(W1)은 가열 플레이트(132)에 놓여진다. 기판(W1)은 가열 플레이트에서 가열된다.(S18) 상기 가열 플레이트 상의 열분위기는 커버에 의해 빨리 안정시켜주며 열이 케이스 내부로 확산되지 않도록 한다.The loaded substrate W1 is placed on a cooling plate. (S14) Subsequently, the substrate W1 is transferred to the substrate heating unit 130 by the first arm 152 of the transfer mechanism. (S16) The substrate heating The cover of the unit 130 is lifted up, and the lift pins 136 support the rear surface of the substrate W1. When the first arm 152 of the transport mechanism is moved to the standby position, the lift pins 136 are down and the substrate W1 is placed on the heating plate 132. The substrate W1 is heated in the heating plate (S18). The heat atmosphere on the heating plate is stabilized quickly by the cover and the heat does not diffuse into the case.

한편, 기판(W1)이 상기 가열 플레이트에서 가열되는 동안, 상기 냉각 플레이트(122)는 비어 있기 때문에, 노광 공정을 마친 다음 기판(W2)이 반입되어 냉각 플레이트(122)에 놓여진다(S20). 그 후, 소정시간(예컨대, 80초)이 경과하여 기판(W1)의 가열처리가 종료하면, 상기 반송 메카니즘의 제1아암(152)은 기판가열부(130)에서 기판(W1)을 인계받아 기판냉각부(120)로 반송하고, 제2아암(154)은 기판냉각부(120)에서 대기중인 기판(W2)을 인계받아 기판가열부(130)로 반송한다(S22).Meanwhile, since the cooling plate 122 is empty while the substrate W1 is heated in the heating plate, the substrate W2 is loaded and placed on the cooling plate 122 after finishing the exposure process (S20). After that, when a predetermined time (for example, 80 seconds) elapses and the heat treatment of the substrate W1 ends, the first arm 152 of the transfer mechanism receives the substrate W1 from the substrate heating unit 130. The substrate cooler 120 is transferred to the substrate cooling unit 120, and the second arm 154 takes over the substrate W2 that is waiting in the substrate cooling unit 120 and transfers the substrate W2 to the substrate heating unit 130 (S22).

상기 기판가열부(130)에서는 새로 반송된 기판(W2)을 소정시간동안 가열처리한다(S23). 이렇게 기판(W2)이 가열처리되는 동안, 상기 기판냉각부로 반송된 기판(W1)은 소정시간(에컨대, 40초) 동안 냉각처리 되고(S24), 냉각 처리를 마친 기판(W1)은 반송 로봇(200)에 의해 외부로 반출되며(S26), 이 반송 로봇에 의해 다음 처리대상이 되는 기판(W3)이 반입되며, 상기 냉각 플레이트(122)에서 대기하게 된다.(S28) 그리고, 기판(W2)의 가열처리가 완료되면, 상기 반송 메카니즘의 제1아암(152)은 기판가열부(130)에서 기판(W2)을 인계받아 기판냉각부(120)로 반송하고, 제2아암(154)은 기판냉각부(120)에서 대기중인 기판(W3)을 인계받아 기판가열부(130)로 반송한다(S22). 본 장치에서는 이러한 과정을 반복하면서 기판의 가열/냉각 공정을 수행한다.The substrate heating unit 130 heats the newly conveyed substrate W2 for a predetermined time (S23). In this way, while the substrate W2 is heat treated, the substrate W1 conveyed to the substrate cooling unit is cooled for a predetermined time (for example, 40 seconds) (S24), and the substrate W1 that has finished the cooling process is a transfer robot. The substrate W3 to be carried out to the outside by the 200 (S26), which is to be processed next, is brought in by the transfer robot, and is waited on the cooling plate 122. (S28) Then, the substrate W2 ) Is completed, the first arm 152 of the transfer mechanism takes over the substrate W2 from the substrate heating unit 130 and transfers the substrate W2 to the substrate cooling unit 120, and the second arm 154 The substrate cooling unit 120 takes over the waiting substrate W3 and transfers the substrate W3 to the substrate heating unit 130 (S22). In this apparatus, the heating / cooling process of the substrate is performed while repeating this process.

이처럼, 본 장치에서는 기판이 기판가열부에서 가열처리되는 소정시간 동안, 기판냉각부에서 기판을 냉각시킨 후 외부로 반출시키고, 새로운 기판을 반입 받는 과정이 이루어지기 때문에, 연속적인 생산수율의 향상을 도모할 수 있다. 그 뿐만 아니라, 본 장치에서는 기판가열부와 기판냉각부 사이에서의 기판 이송을 동시에 행하기 때문에, 기판 이송에 따른 시간을 단축시킬 수 있다.As described above, in the present apparatus, the substrate is cooled in the substrate heating unit, and then the substrate is cooled in the substrate cooling unit and then taken out, and a new substrate is brought in, thereby improving continuous production yield. We can plan. In addition, in this apparatus, the substrate transfer between the substrate heating unit and the substrate cooling unit is simultaneously performed, so that the time required for the substrate transfer can be shortened.

특히, 온도변화에 민감한 화학증폭형 레지스트를 사용하는 경우, 노광 처리후의 가열처리인 포스트익스포저 베이크(PEB)후에, 레지스트의 증촉반응이 진행하지 않는 온도로 기판을 신속하고 일정한 시간으로 냉각시킬 필요가 있을 때, 본 장치를 사용하면 기존 장치보다도 빠르고 일정하게 기판 냉각을 처리하여 패턴의 변형이나 재현성의 악화를 방지할 수 있다.In particular, in the case of using a chemically amplified resist sensitive to temperature change, after the post exposure bake (PEB), which is a heat treatment after the exposure treatment, it is necessary to cool the substrate quickly and at a constant time to a temperature at which the resist reaction does not proceed. When present, the device can be treated with cooling of the substrate faster and more consistently than the existing device, thereby preventing deformation of the pattern and deterioration of reproducibility.

이상에서, 본 발명에 따른 장치의 구성 및 작용을 상기한 설명 및 도면에 따라 도시하였지만 이는 예를 들어 설명한 것에 불과하며 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및 변경이 가능함은 물론이다.In the above, the configuration and operation of the apparatus according to the present invention is shown in accordance with the above description and drawings, but this is merely an example, and various changes and modifications are possible without departing from the spirit of the present invention. .

이와 같은 본 발명을 적용하면, 기판의 가열과 냉각을 단일 유닛내에서 진행하므로 써 공정 시간을 단축시키고, 공정의 안정화를 꾀할 수 있다. 기판이 동시에 이송 처리함으로써, 기판 이송에 필요한 시간을 줄일 수 있다. 로봇 구동영역(기판 반송 통로)으로의 온도 영향을 최소화시킬 수 있다.According to the present invention, heating and cooling of the substrate are performed in a single unit, thereby shortening the process time and stabilizing the process. By carrying out the transfer process at the same time, the time required for transferring the substrate can be reduced. The influence of temperature on the robot driving region (substrate conveying passage) can be minimized.

Claims (16)

기판 베이크 장치에 있어서:In the substrate baking apparatus: 일면에 기판 출입구를 갖는 케이스;A case having a substrate entrance on one surface; 상기 케이스 내부에 설치되는 그리고 상기 기판 출입구를 통해 반입/반출되는 기판이 놓여지는 기판냉각부;A substrate cooling unit installed inside the case and having a substrate loaded / exported through the substrate entrance and exit; 상기 기판가열부와 인접하게 배치되는 그리고 기판이 놓여지는 기판가열부 및;A substrate heating part disposed adjacent to the substrate heating part and on which the substrate is placed; 상기 기판냉각부와 기판가열부 사이에서 기판을 반송하는 반송 메카니즘을 포함하는 것을 특징으로 하는 베이크 장치.And a conveying mechanism for conveying the substrate between the substrate cooling portion and the substrate heating portion. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판냉각부와 상기 기판가열부는 기판의 반입 방향을 기준으로 일직선상에 배치되는 것을 특징으로 하는 베이크 장치.And the substrate cooling unit and the substrate heating unit are disposed in a straight line with respect to the carrying direction of the substrate. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판냉각부는 상기 기판 출입구에 인접하게 배치되는 것을 특징으로 하는 베이크 장치.And the substrate cooling unit is disposed adjacent to the substrate entrance and exit. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 반송 메카니즘은The conveying mechanism 상기 기판냉각부에 위치한 기판을 상기 기판가열부로, 그리고 상기 기판가열부에 위치한 기판을 상기 기판냉각부로 동시에 서로 맞바꾸는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.And substrates positioned at the substrate cooling unit to the substrate heating unit and substrates positioned at the substrate heating unit to the substrate cooling unit at the same time. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 반송 메카니즘은The conveying mechanism 어느 하나가 상기 기판냉각부에 위치한 기판을 상기 기판가열부로 반송할때, 또 다른 하나는 상기 기판가열부에 위치한 기판을 상기 기판냉각부로 반송하기 위한 한 쌍의 제1,2아암을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.When one conveys the substrate located in the substrate cooling unit to the substrate heating unit, the other includes a pair of first and second arms for conveying the substrate located in the substrate heating unit to the substrate cooling unit. The substrate baking apparatus characterized by the above-mentioned. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 제1아암과 제2아암은 서로 교호적으로 직선 이동되는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.And the first arm and the second arm are moved linearly alternately with each other. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 반송 메카니즘은The conveying mechanism 상기 제1아암과 제2아암을 서로 교호적으로 이동시키기 위한 이동부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.And a moving unit for alternately moving the first arm and the second arm with each other. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 이동부는The moving part 모터와;A motor; 상기 모터에 의해 회전하는 타이밍 밸트;A timing belt rotated by the motor; 상기 제1스윙 아암과 제2스윙 아암이 각각 결합되는 그리고 상기 타이밍 벨트에 설치되어 상기 타이밍 벨트의 회전에 따라 서로 반대방향으로 직선 이동되는 상부 브라켓 및 하부 브라켓을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.And an upper bracket and a lower bracket to which the first swing arm and the second swing arm are respectively coupled and installed on the timing belt so as to linearly move in opposite directions as the timing belt rotates. . 제8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 이동부는The moving part 상기 상부, 하부 브라켓의 직선 이동을 가이드해주는 가이드 레일을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.And a guide rail for guiding linear movement of the upper and lower brackets. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 반송 메카니즘은The conveying mechanism 상기 제1아암과 제2아암을 서로 반대되는 방향으로 회전시키기 위한 이동부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.And a moving unit for rotating the first arm and the second arm in directions opposite to each other. 제10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 이동부는The moving part 모터와;A motor; 상기 모터와 연결되는 회전축을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.And a rotation shaft connected to the motor. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 제1아암과 제2아암은 서로 다른 높이에서 이동되는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.And the first arm and the second arm are moved at different heights. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판냉각부는The substrate cooling unit 냉각 플레이트와;A cooling plate; 상기 냉각 플레이트 상부를 덮기 위한 커버;A cover for covering an upper portion of the cooling plate; 상기 냉각 플레이트로부터 기판을 로딩/언로딩하기 위한 리프트 핀들을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.And lift pins for loading / unloading the substrate from the cooling plate. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판가열부는The substrate heating unit 가열 플레이트와;A heating plate; 상기 가열 플레이트 상부를 덮기 위한 커버;A cover for covering an upper portion of the heating plate; 상기 가열 플레이트로부터 기판을 로딩/언로딩하기 위한 리프트 핀들을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 베이크 장치.And lift pins for loading / unloading the substrate from the heating plate. 기판 베이크 장치에서의 기판 가열/냉각 방법에 있어서:In a substrate heating / cooling method in a substrate baking apparatus: 기판을 가열 플레이트에서 가열하는 단계;Heating the substrate in a heating plate; 가열처리된 기판을 냉각 플레이트로 이송하고, 이와 동시에 냉각 플레이트에서 대기중인 기판을 가열 플레이트로 이송하는 단계;Transferring the heated substrate to the cooling plate, and simultaneously transferring the substrate waiting in the cooling plate to the heating plate; 상기 가열 플레이트로 이송된 기판을 가열하는 단계;Heating the substrate transferred to the heating plate; 가열 처리를 진행하는 동안, 냉각 플레이트로 이송된 기판을 냉각한 후, 외부로 반출하고, 새로운 기판을 반입 받아서 상기 냉각 플레이트에서 대기시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 가열/냉각 방법.During the heat treatment, after cooling the substrate transferred to the cooling plate, taking it out, receiving a new substrate and waiting in the cooling plate. 기판 베이크 장치에서의 기판 가열/냉각 방법에 있어서:In a substrate heating / cooling method in a substrate baking apparatus: 외부로부터 반입된 기판을 냉각 플레이트에서 대기하는 단계;Waiting for the substrate loaded from the outside in a cooling plate; 상기 기판을 가열 플레이트로 이송하는 단계;Transferring the substrate to a heating plate; 상기 가열 플레이트에서 기판을 가열하는 단계;Heating a substrate in the heating plate; 외부로부터 기판을 반입하여 그 기판을 비어있는 냉각 플레이트로에서 대시시키는 단계;Importing the substrate from the outside and dashing the substrate into the empty cooling plate; 가열처리된 기판을 냉각 플레이트로 이송하고, 이와 동시에 냉각 플레이트에서 대기중인 기판을 가열 플레이트로 이송하는 단계;Transferring the heated substrate to the cooling plate, and simultaneously transferring the substrate waiting in the cooling plate to the heating plate; 상기 냉각 플레이트에서 가열처리된 기판을 냉각하는 단계;Cooling the heat treated substrate in the cooling plate; 냉각처리된 기판을 외부로 반출하고, 외부로부터 반입되는 기판을 상기 냉각 플레이트에서 대기시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 가열/냉각 방법.Removing the cooled substrate to the outside, and waiting the substrate to be brought in from the outside in the cooling plate.
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