KR20040076072A - 마이콤 테스트 장치 - Google Patents

마이콤 테스트 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20040076072A
KR20040076072A KR1020030011401A KR20030011401A KR20040076072A KR 20040076072 A KR20040076072 A KR 20040076072A KR 1020030011401 A KR1020030011401 A KR 1020030011401A KR 20030011401 A KR20030011401 A KR 20030011401A KR 20040076072 A KR20040076072 A KR 20040076072A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
virtual
microcomputer
data
test
signal
Prior art date
Application number
KR1020030011401A
Other languages
English (en)
Inventor
이호남
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020030011401A priority Critical patent/KR20040076072A/ko
Publication of KR20040076072A publication Critical patent/KR20040076072A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/25Testing of logic operation, e.g. by logic analysers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

본발명은 마이콤을 테스트하고자 할 경우에 필요로 하는 테스트 장치를 실제 세트가 아닌 가상의 세트로 구성한 마이콤 테스트 장치를 제공하기 위한 것이다.
마이콤을 테스트하기 위하여 실제의 제품에 탑재될 IC와 동일한 규격의 데이터를 구비한 복수 개의 가상 IC로 구성된 IC 블록과 상기 IC 블록에서 상기 마이콤이 실제 제어하기 위한 IC를 선택하기 위한 선택부와 상기 마이콤의 동작상태를 테스트하기 위한 신호를 상기 IC블록으로 출력하여 상기 신호에 대한 상기 가상 IC의 동작상태를 판단하고 그 테스트결과를 화면에 표시하기 위한 디스플레이 장치를 포함하는 제어부로 구성되어 이루어진다.
상기한 구성의 마이콤 테스트장치에 의하면, PC를 통하여 자동으로 마이콤을 테스트할 수가 있으므로 수작업에 의한 휴먼 에러(Humen Error)를 방지할 수가 있으며 또 모든 경우의 수를 테스트할 수 있는 효과가 있다. 모델에 따라 마이콤모듈이 서로 다른 경우에도 간단히 프로그램만 수정하여 가장 적합한 가상 IC를 선택할 수 가 있으므로 새로운 테스트 세트 제작비용 없이 테스트를 할 수가 있는 것이다.

Description

마이콤 테스트 장치 {MICOM TEST APPARATUS}
본발명은 마이콤을 테스트하고자 할 경우에 필요로 하는 테스트 장치를 실제 세트가 아닌 가상의 세트로 구성한 마이콤 테스트 장치를 제공하기 위한 것으로서, 특히, 제품생산공정상에서 제품에 실장될 마이콤의 정상동작여부에 대한 판단 및 확인이 보다 쉽게 이루어질 수 있도록 한 마이콤 테스트 기능을 구비한 가상 마이콤 테스트 장치에 관한 것이다.
최근들어 각종 제품에는 제품의 기능을 제어하기 위하여 제어 프로그램이 내장된 마이크로 콘트롤러(이하, "마이콤"이라 한다)가 사용되고 있다. 즉, 마이콤은 제품이 정상적인 기능을 발휘할 수 있도록 하는 핵심요소로서 제품에서 차지하는 비중이 크지고 있는 실정이다. 이러한 마이콤은 제품과는 별도로 개발되어 제품에 실장되고 있기 때문에 통상 별도의 마이콤 테스트 장치를 사용하게 된다. 상기와 같은 종래기술의 마이콤 테스트 장치(10)가 도 1에 도시되어 있다. 도면에서와 같이 종래에는 작업자(12)가 테스트할 마이콤 모듈(11)을 테스트할 마이콤모듈테스트장치(12), 통상 마이콤 모듈이 실장될 세트와 동일한 장치,에 장착하고 정상적인 동작 여부를 리모콘(도면 미도시)등의 검사 장비를 이용하여 직접 눈으로 확인하면서 마이콤 모듈(11)의 여러가지 동작을 측정한다. 동일한 마이콤 모듈이 복수개라면 작업자는 상기와 같은 일련의 과정을 복수번 반복하여 테스트하게 되는 것이다.
또한, 테스트할 마이콤 모듈(11)이 다른 모델에 적용될 마이콤 모듈이라면 기존의 마이콤모듈테스트장치(12)가 아닌 테스트할 마이콤모듈에 적합한 마이콤모듈테스트장치를 이용하여 상기와 같이 동일한 방법으로 테스트를 하여야 한다. 즉, 실질적으로 각 모델에 해당하는 테스트 환경을 별도로 구성한 세트(set)를 구비하여 테스트를 하여야 한다.
상기와 같은 종래의 마이콤 모듈 테스트 방법은 작업자가 모든 동작을 수작업으로 실행하고 눈으로 보면서 확인하는 방법이기때문에 실제 발생할 수 있는 모든 가능성에 대한 검증이 불가능하며 또한, 인위적인 작업자의 검사에 따른 휴먼 에러(Humen Error)를 유발할 수도 있다. 그리고 모델에 따라 마이콤모듈이 서로 다르기때문에 각각의 모델에 따른 검사 세트를 별도로 제작하여야 하므로 모델 변경 시 새로운 테스트 세트 제작비용이 추가되는 문제점이 발생한다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 마이콤을 테스트하고자 할 경우에 필요로 하는 세트를 실제가 아닌 가상의 세트로 구성하여 세트를 배제한 마이콤 테스트 장치를 제공하기 위한 것이다.
도 1은 종래기술의 마이콤 모듈 테스트 장치의 블럭도,
도 2는 본발명의 마이콤 모듈 테스트 장치를 도시한 개략적 블럭도,
도 3은 본발명의 가상테스트장치의 세부 블럭도,
도 4는 I2C 버스 프로토콜의 인터페이스회로,
도 5는 본발명의 휘도신호와 색신호 분리 IC의 데이터 전송 포멧,
도 6은 본발명의 CRT 드라이버의 데이터 전송 포멧,
그리고,
도 7은 본발명의 칼러 디코더의 데이터 전송 포멧이다.
*도면의 주요 부분에 대한 부호 설명*
110 : 마이콤 모듈 120 : PC
130 : 가상 테스트장치 131~N : 가상 IC군
134 : MUX 200 : Master IC
250 : Slave IC
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 마이콤 테스트 장치의 바람직한 일실시예로는, 마이콤을 테스트하기 위하여 실제의 제품에 탑재될 IC와 동일한 규격의 데이터를 구비한 복수 개의 가상 IC로 구성된 IC 블록, 상기 IC 블록에서 상기 마이콤이 실제 제어하기 위한 IC를 선택하기 위한 선택부, 그리고 상기 마이콤의 동작상태를 테스트하기 위한 신호를 상기 IC블록으로 출력하여 상기 신호에 대한 상기 가상 IC의 동작상태를 판단하고 그 테스트결과를 화면에 표시하기 위한 디스플레이 장치를 포함하는 제어부로 구성된다.
또한, 상기 가상 IC는 상기 마이콤에서 전송되는 데이터를 디코딩하는 프로토콜부와 레지스터로 구성되어 있는 것을 특징으로 하여 이루어진다.
상기 마이콤 테스트 장치에서의 데이터의 송수신은 I²C 버스 프로토콜로 송수신되는 것으로 하면 더욱 바람직하다.
한편, 상기 선택부는 송신되어지는 주소(ADDRESS)에 의하여 소정 IC를 선택하는 먹스(MUX)로 구성하는 것이 바람직하다.
이하 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 일실시예에 대하여 상세히 설명하기로 한다.
도 2는 본발명의 마이콤 모듈 테스트 장치를 도시하는 개략적인 블럭도이며, 도 3은 본발명의 가상테스트장치의 세부 블럭도이고, 도 4는 I2C 버스 프로토콜의 인터페이스회로, 도 5는 고유주소가 88h인 휘도신호와 색신호 분리 IC의 데이터 전송 포멧이며, 도 6은 고유주소가 84h인 CRT 드라이버의 데이터 전송 포멧, 그리고, 도 7은 고유주소가 B0h인 칼러 디코더의 데이터 전송 포멧이다.
도 2에서와 같이 본발명의 마이콤 테스트 장치(100)는 테스트할 마이콤 모듈(110)과 퍼스널컴퓨터(PC;120), 그리고 가상 테스트장치(130)로 구성된다. 가상 테스트장치(130)는 도 3에서와 같이 I2C 블럭으로 마이콤 모듈(110)을 테스트하기 위하여 실제 마이콤이 제어할 세트의 IC와 동일한 동작을 하는 가상의 IC로 구성하며 먹스(MUX:MULTIPLEXOR; 134)부와 가상 IC군(131~N)으로 구성된다. 바람직하게는 HDL(Hardware Description Language)을 이용하여 가상의 IC설계를 하고 FPGA(Field Programmable Gate Array)를 이용하여 구현을 할 수 가 있다. HDL은 문서화, 모의시험 및 논리합성을 위해 전자회로의 기능을 묘사하는데 사용되는 언어로서 업체별로 많은 HDL들이 개발되어 왔지만 Verilog와 VHDL이 주요 표준이다. 또한, FPGA는 프로그램이 가능한 로직 칩의 한 형태로서 PLD와 비슷하지만, PLD가 일반적으로 수백 개의 게이트에 제한되는데 반해, FPGA는 수천 개의 게이트를 지원한다. 통상 집적회로 설계의 프로토타입 제작용으로 인기가 높으며 FPGA는 일단 설계가 확정되면, 성능을 더 높이기 위해 영구 전자회로를 가진 칩들로 생산된다. 본발명의 일실시예에서 사용되는 가상 IC들은 FPGA로 구성하며 I2C버스로 전송되는 데이터들을 디코딩하는 프로토콜부와 데이터들을 저장하는 레지스터로 구성되도록 설계를 한 것이다.
즉, 도 3과 같이 테스트에 필요한 IC와 동일한 규격(SPEC:Specification)으로 구성함으로써 실제 세트와 동일한 역활을 할 수 있게 되는 것이다. 즉, 마이콤 테스트 장치(100)는 실제 세트의 동작을 검증하기 위한 것이 아니라 마이콤의 동작 유무를 테스트하기 위한 것이기 때문에 상기와 같은 방법이 가능한 것이다.
도 3에서 가상 IC 1(131)의 예를 들어 설명하면 가상IC-1(131)에서 규정하는 I2C규격(SPEC)과 동일한 프로토콜-1(PROTOCOL)과 레지스터-1(REGISTER)로 구성이 된다. 따라서 마이콤모듈(110)에서 보내지는 직렬 데이터(Serial Data)를 I2C 프로토콜-1에서 디코딩하고 각 레지스터에 데이터를 저장하고 읽어오는 통신을 하게 되는 것이다. 상기 가상 IC군을 실제 제품에서 사용될 각각의 IC 규격(Spec)과 일치하게 구성하면 마이콤 모듈(110)의 테스트가 가능하게 되는 것이다. 즉, 각각의 가상 IC군(131~N)은 실제 제품에서 사용될 각각의 IC 규격(Spec)과 일치되게 프로그램되는 것이다.
먹스(MUX;140)블럭은 마이콤 모듈(110)을 테스트하기 위하여 각각의 가상 IC 블록에서 출력된 데이타 중에서 마이콤 모듈(110)이 실제 제어하는 데이터를 선택하기 위한 블록이다. 즉, 가상 IC군(131~N)에서 대응 가능한 가상 IC를 선택하는 기능을 하는 것이다.
PC(120)는 마이콤 모듈(110)의 동작 유무를 최종 검사하는 블럭으로서, 마이콤 모듈(110)의 테스트 통과/실패의 여부를 결정하기 위한 블럭이다. 즉, 기존에 작업자가 육안으로 테스트하는 방법을 PC의 소프트웨어(S/W)를 이용하여 가능하게 하는 것이다. 바람직하게는 작업자가 검사를 하고자 할 경우 검사 시작키를 입력하면 마이콤 모듈(110)이 순차적으로 해당되는 가상 IC군을 선택하고 특정 주소에 데이터를 저장하고 읽어오는 동작을 수행하도록 하여 마이콤 모듈(110)과 가상 IC군의 정상적인 데이터의 송수신 가능 여부를 확인하여 테스트 통과 여부를 디스플레이장치에 표시하도록 하는 것이다.
도 4는 I2C 버스 프로토콜의 일반적인 인터페이스회로로을 I2C 버스 프로토콜은 마스터(Master) IC(200)와 슬레이브(Slave) IC(250~n)들로 구성되며 Master IC(200)의 데이터 라인(SDA;201)과 Slave IC(250~n)의 데이터라인(251~n1)이 상호 연결되어 있다. 또한, Master IC(200)의 클럭 라인(SCL;202)과 Slave IC(250~n)의 클럭라인(252~n2)이 상호 연결되어 있으며 상기 각 라인에는 전원라인에 연결된 저항(220)이 각각 연결되어 있다. 상기 Slave IC(250~n)들은 각각 고유한 주소(Slave Address)를 갖고 있으며 마스터 IC(200)가 특정 슬레이브(Slave) IC와 통신을 하고자 할 때는 상기 슬레이브(Slave) IC의 고유 주소(Slave Address)를 이용하여 송수신을 하게 된다. 본발명의 실시예에서는 마스터(Master) IC로서는 테스트할 마이콤 모듈을, 슬레이브(Slave) IC로서는 가상 IC군에 해당하는 각각의 IC로 설명을 한다.
도 5a, 5b, 5c는 고유주소(Slave Address)가 "88h"인 휘도신호와 색신호 분리 IC의 데이터 전송 포멧이다. 도면에서 음영친 부분의 대문자들은 I2C버스 프로토콜로 데이터를 송수신하기 위하여 마스터(Master) IC(110)와 슬레이브(Slave) IC(가상 IC)간에 서로 주고 받는 약속의 신호들이다. 즉, "S"의 표기는 송수신을 하기 위한 스타트 컨디션(Start Condition)으로써 마스터(Master) IC가 클럭라인(SCL)을 "high level"로 유지하면서 데이터라인(SDA)을 "high level"에서 "low level"로 변화시키면 송수신을 시작하자는 의미의 신호가 되는 것이다. 표기 "A"는 데이터를 주고 받을 때 상대측에서 인식(Acknowledgment)했다는 신호이며 "P" 표기는 송수신을 중단하기 위한 스탑 컨디션(Stop Condition)으로써 "Acknowledgment" 와 동시에 Master IC가 클럭라인(SCL)을 "high level"로 유지하면서 데이터라인(SDA)을 "low level"에서 "high level"로 변화시키면 송수신을 종료하자는 의미의 신호가 되는 것이다.
또한, 데이터의 전송은 클럭라인(SCL)을 "low level"에서 "high level"로 변화시키면서 데이터라인(SDA)의 값을 유지하면 되는 것이다. 통상 데이터 전송은 9 비트(bits)단위로 수행되며 8 비트의 데이터와 1 비트의 인식신호(Acknowledgment)인 "A"로 구성된다. 즉, 선택된 Slave IC가 데이터의 9 비트째를 수신할 때 데이터라인(SDA)을 "low level"로 유지하여 데이터를 송수신하였다는인식신호(Acknowledgment)인 "A"를 Master IC로 송신하면 정상적으로 데이타의 송수신이 이루어졌음을 인식하게 되는 것이다.
표기 "W"는 쓰기 모드(Write Mode)신호이며 해당 비트를 "low level"로 표시하며 표기 "R"는 읽기모드(Read Mode)신호로서 통상 해당 비트를 "high level"로 표시하여 송수신하는 것이다.
상기 복수개의 가상 IC군 중에서 도 5의 휘도신호와 색신호 분리 IC는 가상 IC 1(131)로, 도 6의 CRT 드라이버 IC는 가상 IC 2(132)로, 그리고 도 7의 칼러 디코더 IC는 가상 IC N(N)으로 하여 마이콤 모듈(110)과의 데이터 송수신 동작에 대하여 도 8을 참조하여 설명한다.
먼저 가상 IC들은 각각 해당 IC 규격(Spec)과 일치하게 구성을 하고 I2C 버스로 송수신을 하기 위한 각 가상 IC들에게 고유주소를 배정하게 된다. 일반적으로 이러한 고유주소는 각 IC마다 기설정되어 있으며 다른 IC와 중복을 피하기 위하여 통상 옵션에 의하여 2가지 주소 중 하나의 주소를 선택하도록 구비된다.
작업자가 테스트하고자 하면(단계 S300) PC(120)는 마이콤 모듈(110)에게 저장용 데이터를 전송하라고 신호를 전송하게 된다. 마이콤 모듈(110)은 먼저 송수신하고자 하는 가상 IC의 고유주소(Slave address)를 선택하고, 선택된 IC의 지정 주소에 소정의 데이터를 저장하라는 신호를 I2C 버스 프로토콜에 맞추어 전송하게 된다(단계 S310). 본실시예에서는 먼저 가상 IC 1(131)인 도 5의 휘도신호와 색신호 분리 IC를 선택하고 "5"번지에 "31"이라는 데이터를 저장하고 읽어오는 동작을 하는 것으로 설명한다. 마이콤 모듈(110)은 도 5a에서와 같이 스타트 컨디션(StartCondition)을 생성하고 8비트 주소(Slave address)란에 해당되는 "88h"라는 데이터를 입력하여 휘도신호와 색신호 분리 IC가 선택되도록 하다. 그 다음 데이터를 저장한다는 "low level"의 "W"신호를 입력하여 클럭에 동기하여 전송한다. 가상 테스트장치(130)의 MUX(134)는 전송되는 신호를 각각 가상 IC군(131~N)의 각 I2C프로토콜-1에서 I2C프로토콜-N에게 전송을 하게 된다. 가상 IC군(131~N)에서는 전송 받은 고유주소가 지정되어 있는 가상 IC(131)만 응답을 하게 되는 것이다. 즉, 고유주소가 "88h"인 휘도신호와 색신호 분리 IC가 응답을 하게 되며 그 응답은 상기 데이터를 수신하였다는 인식신호(Acknowledge)인 "A"신호를 전송한다. 상기 인식신호(Acknowledge)인 "A"신호를 받은 마이콤모듈(110)은 이후 데이터를 저장할 주소인 5번지를 지정하여 송신하게 되고, 휘도신호와 색신호 분리 IC부터 인식신호(Acknowledge)인 "A"신호를 확인하여 송신여부를 판단한다. 그런 다음 저장할 데이터에 해당하는 값(31h)을 송신하고 다시 인식신호(Acknowledge)인 "A"신호를 확인하는 것이다. 즉, 송신측과 수신측이 상호 데이터를 송신하면 상대측으로부터 인식신호(Acknowledge)인 "A"신호를 수신하여 정상적으로 신호가 송수신되었음을 확인하는 것이다. 상기 단계에서 데이터를 전송받은 가상 IC-1(131)은 전송된 데이터값(31h)을 레지스터-1의 지정 주소인 5번지 주소에 저장하는 것이다. 모든 데이터의 송수신이 완료되면 스톱 컨디션(Stop Condition)으로 데이터의 전송을 종료하게 된다. PC(120)에서는 상기에서와 같이 마이콤 모듈(110)이 가상 테스트 장치(130)의 가상 IC-1(131)인 휘도신호와 색신호 분리 IC로 데이터가 정상적으로 송신되어 저장되었는지를 화면에서 확인이 가능하도록 표시하는 것이 바람직하다.
상기에서와 같이 마이콤 모듈(110)이 휘도신호와 색신호 분리 IC로의 데이터 전송이 완료되면 PC(120)에서 마이콤 모듈(110)이 다시 가상 IC로부터 지정된 주소에 저장된 데이터를 수신하도록 명령을 내리면 상기 휘도신호와 색신호 분리 IC로부터 지정된 주소에 저장되어 있는 데이터를 불러오게 되는 것이다(단계 S320). 그 구체적인 전송 데이터는 상기 데이터 저장모드에서와 같이 스타트 컨디션(Start Condition)을 생성하고 고유주소(Slave address)란에 "88h"라는 데이터를 입력하고 "W"신호를 송신한 다음 인식신호(Acknowledge)인 "A"신호를 받고 데이터가 저장되어 있는 주소인 5번지를 지정하게 된다. 마이콤 모듈(110)은 인식신호(Acknowledge)인 "A"신호를 확인하고 스탑 컨디션(Stop Condition)으로 데이터의 전송을 종료하게 되면 휘도신호와 색신호 분리 IC는 해당되는 주소와 함께 그 주소에 저장된 데이터를 읽어 전송한다는 "high level"의 "R"신호를 전송하게 되면 마이콤 모듈(110)은 주소가 일치한다는 인식신호(Acknowledge)인 "A"신호를 전송하게 된다. 마이콤 모듈(110)로부터 인식신호(Acknowledge)를 전송받은 휘도신호와 색신호 분리 IC는 해당 주소에 저장되어 있는 데이터값(31h)을 레지스터에서 독취하여 전송을 하게 되고 스탑 컨디션(Stop Condition)으로 데이터의 전송을 완료하게 되는 것이다. 이때 PC(120)는 마이콤 모듈(110)이 전송한 데이터와 전송받은 데이터를 비교하고(단계 S330) 일치하면 합격판정(단계 S340)을 하며 일치하지 않는 경우는 불합격판정(단계 S350)을 내리게 되는 것이다. 상기와 같은 과정으로 가상 IC와의 테스트가 완료되면 또 다른 테스트할 가상 IC가 존재하는지를 판단하고(단계 S360) 존재하면 단계 S310에서 단계 S360까지를 반복 동작하게 되고 더이상 테스트할 가상 IC가 존재하지 않으면 종료하게 되는 것이다. 또한, 도 5c에서와 같이 복수개의 주소에 각각 데이터를 전송하도록 하여 보다 더 정확하게 데이터의 송수신 유무를 확인할 수도 있다. 한편, 도 6은 CRT 드라이버의 데이터 전송 포멧으로서 상기의 휘도신호와 색신호 분리 IC와 동일한 포멧으로 송수신이 되며 단지 고유주소가 "84h"로 상이하다는 것을 도시하고 있으며, 도 7의 칼러 디코더의 데이터 전송 포멧도 상기의 휘도신호와 색신호 분리 IC와 동일한 포멧으로 송수신이 되며 단지 고유 주소가 "B0h"로 상이할 뿐이다. 즉, 마이콤 모듈(110)이 제2, 제3의 IC와 전송을 하고자 할 경우에는 고유주소(Slave Address)만 "84h"와 "B0h"로 지정하면 각각 CRT 드라이버 IC 및 칼러 디코더 IC와 송수신을 할 수가 있으며 상기 과정을 반복하여 테스트할 수 도 있는 것이다. 즉, 상기에서와 같이 휘도신호와 색신호 분리 IC와의 테스트가 끝나면 PC(120)는 마이콤 모듈(110)에게 고유주소(Slave Address)를 "84h"로 하여 CRT 드라이브 IC와 일정한 주소에 데이터를 저장하고 판독하는 상기에서와 같은 과정으로 테스트하는 것이다. 또한, 고유주소(Slave Address)를 "B0h"로 하여 칼러 디코더 IC와도 테스트를 하도록 하면 가상의 테스트장치로 마이콤 모듈의 테스트를 완료할 수가 있는 것이다. 도면에서 각 레지스터의 맵은 초기에 각 레지스터에 저장되어 있는 값으로 정의한다.
이상에서 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허 청구범위에 속함은 당연한 것이다.
상기에서와 같이 본 발명에 따른 마이콤 테스트장치에 의하면, PC를 통하여 자동으로 마이콤을 테스트할 수가 있으므로 수작업에 의한 휴먼 에러(Humen Error)를 방지할 수가 있으며 또 모든 경우의 수를 테스트할 수 있는 효과가 있다. 모델에 따라 마이콤모듈이 서로 다른 경우에도 간단히 프로그램만 수정하여 가장 적합한 가상 IC를 선택할 수 가 있으므로 새로운 테스트 세트 제작비용 없이 테스트를 할 수가 있는 것이다.

Claims (4)

  1. 마이콤을 테스트하기 위하여 실제의 제품에 탑재될 IC와 동일한 규격의 데이터를 구비한 복수 개의 가상 IC로 구성된 IC 블록;
    상기 IC 블록에서 상기 마이콤이 실제 제어하기 위한 IC를 선택하기 위한 선택부;
    상기 마이콤의 동작상태를 테스트하기 위한 신호를 상기 IC블록으로 출력하여 상기 신호에 대한 상기 가상 IC의 동작상태를 판단하고 그 테스트결과를 화면에 표시하기 위한 디스플레이 장치를 포함하는 제어부;로 구성된 가상 IC를 이용한 마이콤 테스트 장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 가상 IC는
    상기 마이콤에서 전송되는 데이터를 디코딩하는 프로토콜부와 레지스터로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 가상 IC를 이용한 마이콤 테스트 장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 마이콤 테스트 장치에서 데이터의 송수신은 I²C 버스 프로토콜로 송수신되는 것을 특징으로 하는 가상 IC를 이용한 마이콤 테스트 장치.
  4. 제 3항에 있어서, 상기 선택부는
    송신되어지는 주소(ADDRESS)에 의하여 소정 IC를 선택하는 먹스(MUX)로 구성된 것을 특징으로 하는 가상 IC를 이용한 마이콤 테스트 장치.
KR1020030011401A 2003-02-24 2003-02-24 마이콤 테스트 장치 KR20040076072A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030011401A KR20040076072A (ko) 2003-02-24 2003-02-24 마이콤 테스트 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030011401A KR20040076072A (ko) 2003-02-24 2003-02-24 마이콤 테스트 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20040076072A true KR20040076072A (ko) 2004-08-31

Family

ID=37362068

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020030011401A KR20040076072A (ko) 2003-02-24 2003-02-24 마이콤 테스트 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20040076072A (ko)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070036338A (ko) * 2005-09-29 2007-04-03 엘지전자 주식회사 데이터 방송 수신기의 기능 테스트 시스템
KR100812290B1 (ko) * 2000-06-07 2008-03-10 모치다 쇼코 가부시키가이샤 방열 시트 및 그 제조 방법
KR20200041668A (ko) 2018-10-12 2020-04-22 주식회사 엘지화학 실리콘 이형 코팅 조성물, 이형 필름, 방열 부재 및 방열 패드 제조 방법
KR20200041683A (ko) 2018-10-12 2020-04-22 주식회사 엘지화학 실리콘계 방열 패드 제조 방법 및 실리콘계 방열 패드를 포함하는 방열 부재
KR20200046356A (ko) 2018-10-24 2020-05-07 주식회사 엘지화학 (메트)아크릴레이트계 열전도 시트, 방열 필름 및 방열 필름의 제조 방법

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100812290B1 (ko) * 2000-06-07 2008-03-10 모치다 쇼코 가부시키가이샤 방열 시트 및 그 제조 방법
KR20070036338A (ko) * 2005-09-29 2007-04-03 엘지전자 주식회사 데이터 방송 수신기의 기능 테스트 시스템
KR20200041668A (ko) 2018-10-12 2020-04-22 주식회사 엘지화학 실리콘 이형 코팅 조성물, 이형 필름, 방열 부재 및 방열 패드 제조 방법
KR20200041683A (ko) 2018-10-12 2020-04-22 주식회사 엘지화학 실리콘계 방열 패드 제조 방법 및 실리콘계 방열 패드를 포함하는 방열 부재
KR20200046356A (ko) 2018-10-24 2020-05-07 주식회사 엘지화학 (메트)아크릴레이트계 열전도 시트, 방열 필름 및 방열 필름의 제조 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7571400B2 (en) Chip design verifying and chip testing apparatus and method
KR101149270B1 (ko) 집적 회로 디바이스를 테스트하는 시스템 및 방법
CN103472748A (zh) 时序控制电路的验证系统和验证方法
CN109298266B (zh) 测试系统、测试方法、测试装置及存储介质
JP2002123562A (ja) テスタ構築データの生成方法およびテスタの構築方法並びにテスト回路
KR19990023805A (ko) 압축된 디지털 테스트데이터를 이용한 ic칩 검사장치 및 이 검사장치를 이용한 ic칩 검사방법
US7739562B2 (en) Programmable diagnostic memory module
JPH06505105A (ja) 最小メモリインサーキットデジタルテスタ方法および装置
KR100716733B1 (ko) 반도체 장치 및 그 테스트 방법
US7730369B2 (en) Method for performing memory diagnostics using a programmable diagnostic memory module
KR20040076072A (ko) 마이콤 테스트 장치
US7484156B2 (en) Apparatus and method for testing PS/2 interface
JP2002340987A (ja) 集積回路のパッドレシーバの試験を容易にする為のシステム及び方法
US20190197929A1 (en) Driving apparatus of display panel and operation method thereof
JPH08161476A (ja) インターフェース用検査装置
TW201807583A (zh) 自動控制系統與應用於其上之儀器自動搜尋方法
KR100745081B1 (ko) 버너제어시스템의 제어카드 시험장치 및 방법
CN113820588B (zh) 一种空调控制主板显示、通讯接口一体化的检测方法
WO2008144574A1 (en) Systems and methods for validating power integrity of integrated circuits
KR970004259B1 (ko) 집적회로 인터페이스 버스 제어 장치 및 그 방법
US10935594B1 (en) Curve trace analysis testing apparatus controller
CN115686977A (zh) 快速选择输出的现场可编程门阵列芯片与设置方法
JPH04213739A (ja) 時分割インタフェース回路および電子部品試験装置
JPH0450784A (ja) 半導体集積回路
CN116258119A (zh) 一种SoC芯片GPIO引脚验证系统与方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application