KR20040055671A - 안테나 방사특성 측정 시스템 및 그 방법 - Google Patents
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Description
Claims (12)
- 소스 안테나로부터 일정한 거리를 두고 설치되는 측정체와,상기 측정체에 소정의 패턴으로 배열되어 설치되고 위치에 대한 정보 및 측정된 값을 처리하여 신호를 발생하는 IC칩과 IC칩으로부터 발생하는 신호를 송출하고 소스 안테나로부터 송신되는 주파수신호를 수신하여 IC칩이 구동전력으로 사용하기 위한 유도전력을 발생시키며 수신되는 주파수신호를 측정한 값을 IC칩으로 전송하는 측정 안테나로 이루어지는 다수의 측정모듈과,상기 측정모듈의 측정 안테나로부터 송신되는 신호를 수신하여 각 측정모듈의 위치정보와 측정값을 처리하는 측정제어기를 포함하는 안테나 방사특성 측정 시스템.
- 청구항 1에 있어서,상기 측정체는 평면형상, 구면형상, 반구면형상, 육면체형상, 밑면이 없는 육면체형상 중의 어느 하나의 형상으로 형성하는 안테나 방사특성 측정 시스템.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,상기 측정체를 제조하는 과정에서 설정된 각 측정 지점에 상기 측정모듈을 설치하는 안테나 방사특성 측정 시스템.
- 청구항 1에 있어서,상기 측정모듈은 한변의 길이 또는 최대 지름이 수 미크론(㎛)인 사각형이나 원형 또는 타원형으로 형성되는 기판에 IC칩과 측정 안테나를 장착하여 이루어지는 안테나 방사특성 측정 시스템.
- 청구항 1 또는 청구항 4에 있어서, 상기 측정 안테나는2층이상으로 이루어지는 복수의 가상평면에 각각 나선형으로 감기는 형상으로 도선을 형성하고,하나의 선을 이루도록 이웃하는 가상평면에 형성된 나선형 도선을 중앙쪽 끝부분 또는 가장자리쪽 끝부분끼리 서로 연결하여 이루어지는 안테나 방사특성 측정 시스템.
- 청구항 5에 있어서,상기 맨아래쪽 가상평면에 형성되는 나선형 도선의 가장자리쪽 끝부분 또는 중앙쪽 끝부분에는 급전선을 연결하는 안테나 방사특성 측정 시스템.
- 청구항 5에 있어서,상기 가상평면에 형성하는 도선은 사각형, 원형, 타원형, 육각형, 팔각형 중에서 선택하여 감아 들어가거나 나오는 나선형으로 형성하는 안테나 방사특성 측정 시스템.
- 청구항 5에 있어서,상기 도선 사이에 서로의 단락을 방지하기 위하여 절연층을 형성하는 안테나 방사특성 측정 시스템.
- 청구항 1 또는 청구항 4에 있어서, 상기 측정 안테나는복수의 유전체 박막 한쪽면에 나선형의 도선을 각각 형성하고,각 유전체 박막에는 교대로 도선의 중앙쪽 끝부분 또는 가장자리쪽 끝부분에 연결되는 관통구멍을 형성하고,상기 유전체 박막을 적층하면서 상기 관통구멍에 도체를 채워서 각 도선과 연결하고,맨 아랫층에 위치하는 유전체 박막의 밑면에는 관통구멍에 연결되는 급전선을 형성하여 이루어지는 안테나 방사특성 측정 시스템.
- 위치에 대한 정보 및 측정된 값을 처리하여 신호를 발생하는 IC칩과 상기 IC칩으로부터 발생하는 신호를 송출하고 소스 안테나로부터의 주파수 신호를 수신하여 IC칩의 구동전력으로 사용하기 위한 유도전력을 발생시키고 수신되는 주파수 신호를 측정하여 IC칩으로 전송하는 측정 안테나로 이루어지는 다수의 측정모듈을 측정체에 소정의 패턴으로 배열하여 설치하고,소스 안테나로부터 일정한 거리를 두고 상기 소스 안테나의 중심축과 수직한평면을 이루도록 상기 측정체를 설치하고,소스 안테나를 작동시킨 상태에서 측정제어기를 작동시켜 측정체에 설치된 각 측정모듈의 측정 안테나로부터 전송되는 위치에 대한 정보 및 측정된 값을 측정제어기에서 수신하여 데이터처리하는 과정으로 이루어지는 안테나 방사특성 측정 방법.
- 위치에 대한 정보 및 측정된 값을 처리하여 신호를 발생하는 IC칩과 상기 IC칩으로부터 발생하는 신호를 송출하고 소스 안테나로부터의 주파수 신호를 수신하여 IC칩의 구동전력으로 사용하기 위한 유도전력을 발생시키고 수신되는 주파수 신호를 측정하여 IC칩으로 전송하는 측정 안테나로 이루어지는 다수의 측정모듈을 측정체에 소정의 패턴으로 배열하여 설치하고,상기 측정체의 내부 중앙지점에 소스 안테나를 설치하고,소스 안테나를 작동시킨 상태에서 측정제어기를 작동시켜 측정체에 설치된 각 측정모듈의 측정 안테나로부터 전송되는 위치에 대한 정보 및 측정된 값을 측정제어기에서 수신하여 데이터처리하는 과정으로 이루어지는 안테나 방사특성 측정 방법.
- 청구항 11에 있어서,상기 측정체는 구면형상, 반구면형상, 육면체형상, 밑면이 없는 육면체형상 중의 어느 하나의 형상으로 형성하는 안테나 방사특성 측정 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20020081538 | 2002-12-20 | ||
KR1020020081538 | 2002-12-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040055671A true KR20040055671A (ko) | 2004-06-26 |
KR100543725B1 KR100543725B1 (ko) | 2006-01-20 |
Family
ID=32677739
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030093537A KR100543725B1 (ko) | 2002-12-20 | 2003-12-19 | 안테나 방사특성 측정 시스템 및 그 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7280077B2 (ko) |
KR (1) | KR100543725B1 (ko) |
AU (1) | AU2003286971A1 (ko) |
WO (1) | WO2004057349A1 (ko) |
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- 2003-12-19 KR KR1020030093537A patent/KR100543725B1/ko active IP Right Grant
- 2003-12-19 US US10/540,333 patent/US7280077B2/en active Active
- 2003-12-19 WO PCT/KR2003/002788 patent/WO2004057349A1/en not_active Application Discontinuation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060057985A1 (en) | 2006-03-16 |
US7280077B2 (en) | 2007-10-09 |
KR100543725B1 (ko) | 2006-01-20 |
AU2003286971A8 (en) | 2004-07-14 |
AU2003286971A1 (en) | 2004-07-14 |
WO2004057349A1 (en) | 2004-07-08 |
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Legal Events
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A201 | Request for examination | ||
N231 | Notification of change of applicant | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
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