KR101012161B1

KR101012161B1 - 디지털 레이더의 안테나 패턴을 측정하기 위한 시스템 및 방법

Info

Publication number: KR101012161B1
Application number: KR1020100082295A
Authority: KR
Inventors: 전상미
Original assignee: 엘아이지넥스원 주식회사
Priority date: 2010-08-25
Filing date: 2010-08-25
Publication date: 2011-02-07

Abstract

본 발명에 따른 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템은, 측정 대상이 되는 디지털 레이더의 안테나부; 시험치구; 및 프로브를 구비하는 근접전계 측정 장치를 포함하고, 상기 안테나부는 복수 개의 배열 안테나와 복수 개의 배열 모듈을 구비하고, 상기 배열 모듈은 제1 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고, 송신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 송신하고 수신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 수신하며, 상기 시험치구는, 제2 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 상기 프로브를 통해 신호를 송신하고 수신 모드에서 상기 프로브를 통해 신호를 수신하는 배열 모듈과, 상기 제1 제어 신호와 상기 제2 제어 신호를 발생시키는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 한다.

Description

디지털 레이더의 안테나 패턴을 측정하기 위한 시스템 및 방법{System and method for measuring antenna patterns of digital radar}

본 발명은 안테나 패턴 측정 시스템 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 디지털 레이더의 안테나 패턴을 측정하기 위한 시스템 및 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 위상배열안테나와 같이 자유자재로 빔조향하는 안테나 또는 방위각/고각 방향으로의 2D 패턴을 얻기 위한 안테나 패턴을 측정하기 위해서는 근접전계 측정 시스템이 주로 이용된다.

도 1은 근접전계 측정 시스템의 일반적인 구성을 나타낸다.

근접전계 측정 시스템에서 안테나의 송신 패턴의 측정은 다음과 같이 수행한다. 계측기를 사용하여 측정하려고 하는 안테나에 RF 신호를 인가하고, 안테나로부터 방사된 신호를 안테나 개구면의 복사 근접전계(radiating near field) 영역인, 안테나 개구면으로부터 측정 파장의 3 내지 5배의 거리에서 구형 도파관 안테나인 프로브(probe)를 이용하여 수신하여 계측기로 전달한다. 이때 프로브를 안테나 개구면보다 큰 영역 내에서 이동시키면서 여러 위치에서 측정하게 된다.

근접전계 측정 시스템에서 안테나의 수신 패턴의 측정은, 이와 반대로, 계측기를 사용하여 프로브에 RF 신호를 인가하고, 프로브로부터 방사된 신호를 안테나를 이용하여 수신하여 계측기로 전달한다.

상기와 같이 측정된 근접전계 측정 결과를 푸리에 트랜스폼을 통해 원전계로 변환함으로써 안테나 패턴을 얻는다.

최근에 빔 형성을 아날로그 방식이 아닌 디지털 방식으로 하는 디지털 레이더가 주목받고 있는데, 디지털 레이더 안테나의 경우 입력/출력이 모두 RF가 아니므로 상기된 안테나 패턴 측정 시스템은 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정에는 적합하지 않다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 디지털 레이더의 안테나 패턴을 효과적으로 측정할 수 있는 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템 및 방법을 제공하는 데 있다.

상기 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명에 따른 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템은, 측정 대상이 되는 디지털 레이더의 안테나부; 시험치구; 및 프로브를 구비하는 근접전계 측정 장치를 포함하고, 상기 안테나부는 복수 개의 배열 안테나와 복수 개의 배열 모듈을 구비하고, 상기 배열 모듈은 제1 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고, 송신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 송신하고 수신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 수신하며, 상기 시험치구는, 제2 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 상기 프로브를 통해 신호를 송신하고 수신 모드에서 상기 프로브를 통해 신호를 수신하는 배열 모듈과, 상기 제1 제어 신호와 상기 제2 제어 신호를 발생시키는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 한다.

상기 제1 제어 신호가 송신 모드를 지시할 때 상기 제2 제어 신호는 수신 모드를 지시할 수 있다.

상기 제1 제어 신호가 수신 모드를 지시할 때 상기 제2 제어 신호는 송신 모드를 지시할 수 있다.

상기 안테나부에 구비되는 배열 모듈은 상기 제1 제어 신호에 응답하여 디지털 파형을 발생시키는 파형 발생기를 구비할 수 있다.

상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈은 상기 제2 제어 신호에 응답하여 디지털 파형을 발생시키는 파형 발생기를 구비할 수 있다.

상기 시험치구는, 상기 안테나부에 구비되는 배열 모듈에서 수신된 신호를 저장하거나 상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈에서 수신된 신호를 저장하기 위한 저장부를 더 구비할 수 있다.

상기 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명에 따른 디지털 레이더의 안테나 송신 패턴 측정 방법은, 측정 대상이 되는 디지털 레이더의 안테나부와, 시험치구, 및 프로브를 구비하는 근접전계 측정 장치를 마련하는 단계-여기서, 상기 안테나부는 복수 개의 배열 안테나와 복수 개의 배열 모듈을 구비하고, 상기 배열 모듈은 제1 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 송신하고 수신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 수신하며, 상기 시험치구는, 제2 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 파형 신호를 발생시켜 신호를 송신하고 수신 모드에서 수신된 신호를 주파수 하향 변환하는 배열 모듈과, 상기 제1 제어 신호와 상기 제2 제어 신호를 발생시키는 제어부를 구비함; 상기 제1 제어 신호가 송신 모드를 지시하도록 하고, 상기 제2 제어 신호가 수신 모드를 지시하도록 설정하는 단계; 및 상기 제1 제어 신호에 따라 상기 안테나부에 구비되는 배열 안테나를 통해 송신된 신호를 상기 프로브를 통해 수신하고, 상기 프로브를 통해 상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈에서 수신되는 신호를 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 안테나부에 구비되는 배열 안테나를 통해 송신되는 신호는 상기 안테나부에 구비되는 배열 모듈의 파형 발생기에서 생성되는 신호이다.

상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈에서 수신되는 신호를 저장하는 단계는, 상기 수신되는 신호를 광신호로 변환하여 저장할 수 있다.

상기 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명에 따른 디지털 레이더의 안테나 수신 패턴 측정 방법은, 측정 대상이 되는 디지털 레이더의 안테나부와, 시험치구, 및 프로브를 구비하는 근접전계 측정 장치를 마련하는 단계-여기서, 상기 안테나부는 복수 개의 배열 안테나와 복수 개의 배열 모듈을 구비하고, 상기 배열 모듈은 제1 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 송신하고 수신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 수신하며, 상기 시험치구는, 제2 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 파형 신호를 발생시켜 신호를 송신하고 수신 모드에서 수신된 신호를 주파수 하향 변환하는 배열 모듈과, 상기 제1 제어 신호와 상기 제2 제어 신호를 발생시키는 제어부를 구비함; 상기 제1 제어 신호가 수신 모드를 지시하도록 하고, 상기 제2 제어 신호가 송신 모드를 지시하도록 설정하는 단계; 및 상기 제2 제어 신호에 따라 상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈에서 송신되어, 상기 배열 안테나를 통해 상기 안테나부에 구비되는 배열 모듈에서 수신되는 신호를 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈에서 발생되는 상기 파형 신호는 상기 프로브를 통해서 방사될 수 있다.

상기 안테나부에 구비되는 배열 모듈에서 수신되는 신호를 저장하는 단계는, 상기 수신되는 신호를 광신호로 변환하여 저장할 수 있다.

상기된 본 발명에 의하면, 디지털 레이더의 안테나 패턴을 효과적으로 측정할 수 있는 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템 및 방법을 제공한다.

도 1은 근접전계 측정 시스템의 일반적인 구성을 나타낸다.
도 2는 디지털 레이더의 안테나부(100) 구성의 일 예를 나타낸다.
도 3은 배열 모듈(20) 구성의 일 예를 나타낸다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템에 사용하기 위한 시험치구(200)의 구성을 나타낸다.
도 5와 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 디지털 레이더의 안테나 패턴을 측정하기 위한 시스템의 구성으로, 도 5는 송신 패턴을 측정하기 위한 구성을, 도 6은 수신 패턴을 측정하기 위한 구성을 나타낸다.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 이하 설명 및 첨부된 도면들에서 실질적으로 동일한 구성요소들은 각각 동일한 부호들로 나타냄으로써 중복 설명을 생략하기로 한다. 또한 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 2는 디지털 레이더의 안테나부(100) 구성의 일 예를 나타낸다.

도 2를 참조하면, 디지털 레이더의 안테나부(100)는 복수 개의 배열 안테나(10)와, 각 배열 안테나(10)에 연결되어 있는 배열 모듈(20)과, 신호 분배기(30)와, 광신호 전송기(40)를 포함하여 이루어진다. 디지털 레이더는 각 배열 모듈(20) 별로 신호를 송신하고 수신함으로써 빔 형성이 수행되도록 한다. 신호 분배기(30)는 주어지는 로컬 신호(LO)와 제어/타이밍 신호를 각 각 배열 모듈(20)로 분배한다. 로컬 신호(LO)는 각 배열 모듈(20)에서 주파수 변환 등에 사용되고, 제어/타이밍 신호는 송수신 모드의 결정 및 각 배열 모듈(20)에서 생성하는 파형을 결정하는 역할을 한다. 각 배열 모듈(20)은 수신된 신호를 광신호로 변환하고, 이를 광신호 전송기(40)로 전달하면, 광신호 전송기(40)는 이 광신호를 묶어 후단의 신호처리부(미도시)로 전송한다.

도 3은 배열 모듈(20) 구성의 일 예를 나타낸다.

배열 모듈(20)은 파형 발생기(21), 주파수 상향 변환기(23), 전력 증폭기(24), 저잡음 증폭기(25), 주파수 하향 변환기(26), 디지털복조처리기(27), 광 변환기(28)를 포함하여 이루어진다. 또한, 배열 모듈(20)은 제어 신호에 응답하여 송신 모드와 수신 모드의 두 가지 모드로 동작한다. 송신 모드 시에는 파형 발생기(21), 주파수 상향 변환기(23), 전력 증폭기(24)를 통하여 송신 신호를 배열 안테나(10)에 인가하고, 수신 모드시에는 배열 안테나(10)를 통하여 수신된 신호를 저잡음 증폭기(25), 주파수 하향 변환기(26), 디지털복조처리기(27), 광 변환기(28)를 통하여 광 신호로 변환한다.

파형 발생기(21)는 제어 신호에 응답하여 기저 대역의 파형 신호를 발생시키고, 주파수 상향 변환기(23)는 로컬 신호를 이용하여 상기 발생된 파형 신호를 주파수 상향 변환하고, 전력 증폭기(24)는 주파수 상향 변환된 신호를 배열 안테나(10)를 통해 송신할 수 있도록 증폭시킨다.

저잡음 증폭기(25)는 배열 안테나(10)를 통해 수신된 신호를 저잡음 증폭시키고, 주파수 하향 변환기(26)는 로컬 신호를 이용하여 기저 대역 신호로 주파수 하향 변환시킨다. 디지털복조처리기(27)는 기저 대역의 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하고, 광 변환기(28)는 이를 광신호로 변환한다.

상기와 같은 디지털 레이더의 경우, 안테나부의 각 배열 모듈(20)에 파형 발생기(21)가 구비되기 때문에, 도 1에 도시된 바와 같은 종래의 근접전계 측정 시스템을 가지고는 안테나 패턴을 측정할 수 없는 문제점이 있다.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템에 사용하기 위한 시험치구(200)의 구성을 나타낸다.

시험치구(200)는 디지털 레이더의 안테나부(100)의 배열 모듈(20)에 구비되는 것과 동일하게, 파형 발생기(21′), 주파수 상향 변환기(23′), 전력 증폭기(24′), 저잡음 증폭기(25′), 주파수 하향 변환기(26′), 디지털복조처리기(27′), 광 변환기(28′)로 구성되며, 이와 더불어 디지털 레이더의 안테나부(100)의 배열 모듈(20)에 인가할 제어/타이밍 신호(C1) 또는 시험치구(200)에 구비되는 배열 모듈(20′)에 인가할 제어 신호(C2)를 생성하는 제어부(50)와, 디지털 레이더의 안테나부(100)로부터 입력되는 광신호를 저장하거나 또는 시험치구(200)에 구비되는 배열 모듈(20′)로부터 입력되는 광신호를 저장하기 위한 저장부(60)를 포함하여 이루어진다.

시험치구(200)에 구비되는 배열 모듈(20′) 역시 디지털 레이더의 안테나부(100)에 구비되는 배열 모듈(20)과 마찬가지로, 송신 모드와 수신 모드의 두 가지 모드로 동작한다.

송신 모드시에 파형 발생기(21′)는 제어 신호에 응답하여 기저대역에서의 파형 신호를 발생시키고, 주파수 상향 변환기(23′)는 로컬 신호를 이용하여 이 파형 신호를 주파수 상향 변환하고, 전력 증폭기(24′)는 주파수 상향 변환된 신호를 송신할 수 있도록 증폭시킨다.

그리고 수신 모드 시에는 저잡음 증폭기(25′)는 입력되는 신호를 저잡음 증폭시키고, 주파수 하향 변환기(26′)는 로컬 신호를 이용하여 기저 대역 신호로 주파수 하향 변환시키고, 디지털복조처리기(27′)는 기저 대역의 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하고, 광 변환기(28′)는 이를 광신호로 변환한다.

제어부(50)에서, 제어 신호(C1)가 송신 모드를 지시할 때 제어 신호(C2)는 수신 모드를 지시하고, 반대로 제어 신호(C1)가 수신 모드를 지시할 때 제어 신호(C2)는 수신 모드를 지시한다.

도 5와 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 디지털 레이더의 안테나 패턴을 측정하기 위한 시스템의 구성으로, 도 5는 송신 패턴을 측정하기 위한 구성을, 도 6은 수신 패턴을 측정하기 위한 구성을 나타낸다.

본 실시예에 따른 안테나 패턴 측정 시스템은, 측정 대상이 되는 디지털 레이더의 안테나부(100)와, 시험치구(200)와, 근접전계 측정 장치(300)와, NF 제어기(400)와, 분석 장치(500)를 포함하여 이루어진다.

디지털 레이더의 안테나부(100)와 시험치구(200)는 이미 설명한 바와 같다.

근접전계 측정 장치(300)는 RF 신호를 수신하거나 방사하기 위한 프로브가 구비되며, 프로브의 이동 수단을 구비한다. 그리고 프로브는 시험치구(200)의 배열 모듈(20′)과 연결된다. 프로브는 NF 제어기(400)의 제어에 따라서 디지털 레이더의 안테나부의 개구면보다 큰 영역 내에서 이동한다. NF 제어기(400)는 미리 설정된 프로그램 또는 사용자 명령에 따라서 프로브의 이동을 제어한다. 분석 장치(500)는 저장부(60)에 저장된 광신호(근접전계 측정 신호)를 입력받고, 이를 원전계 변환하여 안테나 패턴을 획득한다.

이하에서는 도 5를 참조하여 디지털 레이더의 안테나의 송신 패턴을 측정하는 방법을 설명한다.

송신 패턴 측정시에, 시험치구(200)의 제어부(50)의 제어 신호(C1)은 송신 모드를 지시하고, 제어 신호(C2)는 수신 모드를 지시하도록 설정한다. 따라서 디지털 레이더의 안테나부(100)의 배열 모듈(20)은 송신 모드로 동작하고, 시험치구(200)의 배열 모듈(20′)은 수신 모드로 동작한다.

디지털 레이더의 안테나부(100)의 배열 모듈(20)이 송신 모드로 동작하므로, 배열 모듈(20)은 제어 신호(C1)에 응답하여 기저 대역의 파형 신호를 발생시키고, 이 파형 신호는 주파수 상향 변환을 거치고 증폭되어 배열 안테나(10)를 통해 방사된다. 그러면 근접전계 측정 장치(300)의 프로브는 이를 수신하고, 수신된 신호는 시험치구(200)의 배열 모듈(20′)로 입력된다. 시험치구(200)의 배열 모듈(20′)은 수신 모드로 동작하므로, 입력된 신호는 배열 모듈(20′)에서 저잡음 증폭 및 주파수 하향 변환되고, 디지털 신호로 변환된 후 광신호로 변환된 다음 저장부(60)에 저장된다.

프로브가 여러 위치를 이동하면서 각 위치마다 저장부(60)에 저장된 근접전계 측정 데이터는 분석 장치(500)로 전달되고, 분석 장치(500)는 이를 원전계 변환하여 안테나의 송신 패턴을 획득한다.

이하에서는 도 6을 참조하여 디지털 레이더의 안테나의 수신 패턴을 측정하는 방법을 설명한다.

수신 패턴 측정시에, 시험치구(200)의 제어부(50)의 제어 신호(C1)은 수신 모드를 지시하고, 제어 신호(C2)는 송신 모드를 지시하도록 설정한다. 따라서 디지털 레이더의 안테나부(100)의 배열 모듈(20)은 수신 모드로 동작하고, 시험치구(200)의 배열 모듈(20′)은 송신 모드로 동작한다.

시험치구(200)의 배열 모듈(20′)은 송신 모드로 동작하므로, 배열 모듈(20′)은 제어 신호(C2)에 응답하여 기저 대역의 파형 신호를 발생시키고, 이 파형 신호는 주파수 상향 변환을 거치고 증폭되어 근접전계 측정 장치(300)의 프로브를 통해 방사된다. 그러면 디지털 레이더의 안테나부(100)의 배열 안테나(10)는 이를 수신하고, 수신된 신호는 배열 모듈(20)로 입력된다. 디지털 레이더의 안테나부(100)의 배열 모듈(20)은 수신 모드로 동작하므로, 입력된 신호는 배열 모듈(20)에서 저잡음 증폭 및 주파수 하향 변환되고, 디지털 신호로 변환된 후 광신호로 변환된 다음 저장부(60)에 저장된다.

프로브가 여러 위치를 이동하면서 각 위치마다 저장부(60)에 저장된 각 배열 안테나(10)의 근접전계 측정 데이터는 분석 장치(500)로 전달되고, 분석 장치(500)는 이를 원전계 변환하여 각 배열 안테나(10)의 수신 패턴을 획득한다.

이제까지 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예들을 중심으로 살펴보았다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 실시예들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims

디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템으로서,
측정 대상이 되는 디지털 레이더의 안테나부;
시험치구; 및
프로브를 구비하는 근접전계 측정 장치를 포함하고,
상기 안테나부는 복수 개의 배열 안테나와 복수 개의 배열 모듈을 구비하고,
상기 배열 모듈은 제1 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고, 송신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 송신하고 수신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 수신하며,
상기 시험치구는, 제2 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 상기 프로브를 통해 신호를 송신하고 수신 모드에서 상기 프로브를 통해 신호를 수신하는 배열 모듈과, 상기 제1 제어 신호와 상기 제2 제어 신호를 발생시키는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템.
제1항에 있어서,
상기 제1 제어 신호가 송신 모드를 지시할 때 상기 제2 제어 신호는 수신 모드를 지시하는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템.
제1항에 있어서,
상기 제1 제어 신호가 수신 모드를 지시할 때 상기 제2 제어 신호는 송신 모드를 지시하는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템.
제1항에 있어서,
상기 안테나부에 구비되는 배열 모듈은 상기 제1 제어 신호에 응답하여 파형 신호를 발생시키는 파형 발생기를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템.
제1항에 있어서,
상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈은 상기 제2 제어 신호에 응답하여 파형 신호를 발생시키는 파형 발생기를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템.
제1항에 있어서,
상기 시험치구는, 상기 안테나부에 구비되는 배열 모듈에서 수신된 신호를 저장하거나 상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈에서 수신된 신호를 저장하기 위한 저장부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 패턴 측정 시스템.
디지털 레이더의 안테나 송신 패턴 측정 방법으로서,
측정 대상이 되는 디지털 레이더의 안테나부와, 시험치구, 및 프로브를 구비하는 근접전계 측정 장치를 마련하는 단계-여기서, 상기 안테나부는 복수 개의 배열 안테나와 복수 개의 배열 모듈을 구비하고, 상기 배열 모듈은 제1 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 송신하고 수신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 수신하며, 상기 시험치구는, 제2 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 파형 신호를 발생시켜 신호를 송신하고 수신 모드에서 수신된 신호를 주파수 하향 변환하는 배열 모듈과, 상기 제1 제어 신호와 상기 제2 제어 신호를 발생시키는 제어부를 구비함;
상기 제1 제어 신호가 송신 모드를 지시하도록 하고, 상기 제2 제어 신호가 수신 모드를 지시하도록 설정하는 단계; 및
상기 제1 제어 신호에 따라 상기 안테나부에 구비되는 배열 안테나를 통해 송신된 신호를 상기 프로브를 통해 수신하고, 상기 프로브를 통해 상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈에서 수신되는 신호를 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 송신 패턴 측정 방법.
제7항에 있어서,
상기 안테나부에 구비되는 배열 안테나를 통해 송신되는 신호는 상기 안테나부에 구비되는 배열 모듈의 파형 발생기에서 생성되는 신호인 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 송신 패턴 측정 방법.
제7항에 있어서,
상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈에서 수신되는 신호를 저장하는 단계는, 상기 수신되는 신호를 광신호로 변환하여 저장하는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 송신 패턴 측정 방법.
디지털 레이더의 안테나 수신 패턴 측정 방법으로서,
측정 대상이 되는 디지털 레이더의 안테나부와, 시험치구, 및 프로브를 구비하는 근접전계 측정 장치를 마련하는 단계-여기서, 상기 안테나부는 복수 개의 배열 안테나와 복수 개의 배열 모듈을 구비하고, 상기 배열 모듈은 제1 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 송신하고 수신 모드에서 상기 배열 안테나를 통해 신호를 수신하며, 상기 시험치구는, 제2 제어 신호에 따라 송신 모드 또는 수신 모드로 동작하고 송신 모드에서 파형 신호를 발생시켜 신호를 송신하고 수신 모드에서 수신된 신호를 주파수 하향 변환하는 배열 모듈과, 상기 제1 제어 신호와 상기 제2 제어 신호를 발생시키는 제어부를 구비함;
상기 제1 제어 신호가 수신 모드를 지시하도록 하고, 상기 제2 제어 신호가 송신 모드를 지시하도록 설정하는 단계; 및
상기 제2 제어 신호에 따라 상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈에서 송신되어, 상기 배열 안테나를 통해 상기 안테나부에 구비되는 배열 모듈에서 수신되는 신호를 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 수신 패턴 측정 방법.
제10항에 있어서,
상기 시험치구에 구비되는 배열 모듈에서 발생되는 상기 파형 신호는 상기 프로브를 통해서 방사되는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 수신 패턴 측정 방법.
제10항에 있어서,
상기 안테나부에 구비되는 배열 모듈에서 수신되는 신호를 저장하는 단계는, 상기 수신되는 신호를 광신호로 변환하여 저장하는 것을 특징으로 하는 디지털 레이더의 안테나 수신 패턴 측정 방법.