KR20040054245A - 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명에 의한 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치는, 본 발명에 의한 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치는, 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치에 있어서, 상기 액정표시장치의 어레이부 하단에 형성된 공통전극 라인과 게이트 라인 및 공통전극 라인과 데이터 라인 사이에 접속되는 정전기 방지회로와, 홀수번째 상기 게이트 라인과 홀수번째 상기 데이터 라인에 공통 접속된 쇼팅바와, 짝수번째 상기 게이트 라인과 짝수번째 상기 데이터 라인에 공통 접속된 쇼팅바가 포함되는 것을 특징으로 한다. 이와 같은 본 발명에 의하면, 데이터/ 게이트 라인의 불량에 대한 검출력을 향상시켜 누출방지를 통한 생산단가를 절감하여 불량 방지를 통한 수율을 향상시키며, 어레이부 하단에서 과도한 정전기가 발생한 경우에도 액정표시장치가 전기적으로 손상(damage)되는 것을 방지할 수 있는 장점이 있다.

Description

신호 라인 검사를 위한 액정표시장치{liquid crystal display for signal line test}
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 박막트랜지스터 기판 완성 검사시 데이터/ 게이트 라인의 불량에 대한 검출력을 향상시킬 수 있는 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치에 관한 것이다.
통상의 액정표시장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여 상기 액정표시장치는 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정패널과, 상기 액정패널을 구동하기 위한 구동회로를 구비하게 된다. 상기 액정패널에는 액정셀들 각각에 전계를 인가하기 위한 화소전극들과, 공통전극이 마련되게 되며, 상기 화소전극들 각각은 스위칭 소자로 사용되는 박막트랜지스터(TFT)의 소스 및 드레인 전극을 경유하여 데이터 라인들 중 어느 하나에 접속되게 한다. 또한, 상기 박막트랜지스터들 각각의 게이트 전극은 화소전압 신호가 1라인분씩의 화소전극들에게 인가되게끔 하는 게이트 라인들 중 어느 하나에 접속되게 한다.
상기의 구성을 가지는 액정표시장치가 완성되면 신호 라인, 즉 게이트 라인과 데이터 라인의 쇼트, 단선 및 박막트랜지스터의 불량을 검출하기 위한 검사과정을 거치게 된다. 이를 위하여 상기 액정표시장치에는 게이트 라인 및 데이터 라인의 각각 홀수번째와 짝수번째를 구분하여 서로 다른 구조를 가지게 한 검사용 패드를 통해 라인 불량을 검출하게 된다.
또한, 상기 과정을 거치기 전에 상기 액정표시장치의 제조공정 중에서 정전기 등으로부터 화상표시부인 박막트랜지스터 어레이와 패널을 보호하고, 정상적인 구동환경에서는 구동신호 체계에 간섭이나 교란이 야기되지 않도록 하기 위해 정전기 방지회로가 구비된다.
상기 정전기 방지회로는 이를 위해 전압영역에 따라 적합한 특성을 가지고있어야 하며, 이는 곧 고전압에서는 낮은 임피던스를 갖고 저전압에서는 높은 임피던스를 갖고 있어야 한다는 의미이다.
또한, 상기 다수의 패드에는 공통으로 접속되는 쇼팅바(12)를 구비하는데, 상기 쇼팅바(12)는 제조공정 중에 기저전압원(GND)에 접속되어 액정패널에 인가되는 정전기를 제거하는 역할을 하며, 상기 다수의 패드(6)들에 대한 IPT(In Processing Test)검사를 위해 형성되는 것이다.
상기 쇼팅바(12)는 스크라이빙 공정과 그라인딩 공정 시 커팅 라인을 따라 하판의 가장자리가 연삭됨으로써 하판 상에서 제거된다. 상기와 같이 쇼팅바(12)가 제거되면 상기 패드부에는 테이프 오토메이티드 본딩(Tape Automated Bonding : 이하 'TAB') 방식의 드라이브 회로 실장방법에 의해 테이프 캐리어 패키지(Tape Carrier Package : 이하 'TCP')가 부착된다. 즉, 상기 TCP의 출력패드가 상기 하부기판 상의 패드부(6)에 접속되는 것이며, TCP의 입력패드는 인쇄회로기판(PCB)에 접속된다.
도 1은 종래의 신호라인 검사를 위한 액정표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, 종래의 신호라인 검사를 위한 액정표시장치는 액정셀(11)들이 매트릭스 형태로 배열된 어레이부(12)와, 상기 어레이부(12)에 배치된 게이트 라인(G)들에 각각 접속된 게이트 패드(14, 14')와, 상기 어레이부(12)에 배치된 데이터 라인(D)들에 각각 접속된 데이터 패드(14, 14')와, 상기 게이트/ 데이터 패드(14, 14') 중 홀수번째 게이트/ 데이터 패드(14)와 짝수번째 게이트/ 데이터패드(14')는 각각 상기 IPT(In Processing Test) 검사 공정을 하기 위하여 게이트 신호와 데이터 신호를 공급 받기 위해 형성된 쇼팅바(Shorting Bar)(16, 16')와 접속되어 있다. 이러한 쇼팅바(16, 16')는 테스트 공정이 완료 된 후 커팅(Cutting) 된다.
또한, 상기 어레이부(12)의 외곽부에는 공통전극 라인(C)과 게이트 라인(G) 및 공통전극 라인(C)과 데이터 라인(D) 사이에 접속된 정전기 방지회로(10)가 각각 형성되어 있다.
상기와 같이 공통전압(Vcom)이 공급되는 공통전극 라인(C)과 각각의 데이터 라인(D)들 사이에 접속되어진 정전기 방지회로(10)는 통상 다수개의 박막트랜지스터로 구성되며, 정전기 등에 의한 고전압영역에서는 낮은 임피던스를 가져 과전류가 방전되게 하고, 정상적인 구동환경에서는 높은 임피던스를 가져 신호라인을 통해 공급되는 구동신호에 영향을 주지 않게 한다.
이러한 정전기 방지회로는 상기 어레이부(12)의 하단 및 상단에 각각 정전기 방지회로(10)가 구비될 수 있으며, 상단 또는 하단 중 어느 한 쪽에만 형성하는 것도 무방하다. 여기서, 어레이부(12)의 하단이라 함은 상기 게이트 라인(G) 및 데이터 라인(D)에 신호를 공급하는 패드부(14)가 형성된 영역의 반대 영역을 말한다.
또한, 상기 어레이부(12)는 게이트 라인(G)들 및 데이터 라인(D)들과, 게이트 라인들(G) 및 데이터(D)들의 교차부에 각각 형성된 박막트랜지스터(TFT)와, 상기 박막트랜지스터에 연결된 액정용량 캐패시터(Clc)를 구비한다. 상기 액정용량 캐패시터는 액정을 사이에 두고 대면하는 공통전극(미도시)과 박막트랜지스터 어레이 패널에 형성된 화소전극(미도시) 사이에 형성되는 캐패시터로 데이터 라인(D)을 통해 입력되는 데이터 전압을 충전하여 액정을 구동 시킴으로써 액정의 광 투과율을 조절할 수 있게 한다.
또한, 홀수번째 게이트/ 데이터 패드(14)들에 각각 공통 접속되어진 쇼팅바(16)와, 짝수번째 게이트/ 데이터 패드(14')들에 각각 공통 접속되어진 쇼팅바(16')에 특정 패턴의 신호를 각각 접속된 패드(14, 14')를 통해 공급하여 상기 홀수번째의 쇼팅바(16)와 짝수번째의 쇼팅바(16') 사이의 저항차를 검출함으로써, 신호라인 즉, 데이터/ 게이트 라인(G, D)들의 쇼트, 단선 등과 같은 라인 불량을 검사하게 된다.
그러나, 종래의 신호라인 검사를 위한 액정표시장치에 있어서, 상기 어레이부의(12) 상측과 하측, 즉 상기 어레이부(12) 내에 있어서 패드(14, 14')에서 가까운 영역과 패드(14, 14')에서 먼 영역에 대해 입력되는 검사 신호가 RC 딜레이(delay)에 의해 상기 영역간 차이가 발생하게 되는 단점이 있으며, 또한, 어레이부(12) 하단에서 정전기 발생시, 상기 어레이부(12) 하단에 형성된 정전기 방지회로(10)의 Vth 불안정으로 인해 상기 액정표시장치가 전기적으로 손상(damage)가 발생될 수 있는 단점이 있다.
즉, 상기 정전기 방지회로들(10)은 정전기가 과도하게 발생하였을 경우 정전기 방지회로의 전류 패스량이 작기 때문에 실제로 방전패스의 역할을 제대로 못하고 절연 파괴가 일어날 수 있으며, 결국 상기 공통전극 라인과 게이트/ 데이터 라인간의 쇼트 불량이 발생되는 것이다.
본 발명은 어레이부 하단에 정전기 방지회로 뿐 아니라, 홀수번째 게이트/ 데이터 라인 및 짝수번째 게이트/ 데이터 라인에 각각 쇼팅바를 접속시킴으로써, 신호 라인 검사 시 데이터/ 게이트 라인의 불량에 대한 검출력을 향상시킬 수 있는 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치를 제공함에 그 목적이 있다.
도 1은 종래의 신호라인 검사를 위한 액정표시장치를 개략적으로 나타내는 도면.
도 2는 본 발명에 의한 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치를 개략적으로 나타내는 도면.
도 3은 도 2의 특정부분(A, A')에 대한 평면도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
10 : 정전기 방지회로 11 : 액정셀
12 : 어레이부 14 : 홀수번째 패드
14' : 짝수번째 패드 16, 18 : 홀수번째 쇼팅바
16', 18' : 짝수번째 쇼팅바
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치는, 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치에 있어서, 상기 액정표시장치의 어레이부 하단에 형성된 공통전극 라인과 게이트 라인 및 공통전극 라인과 데이터 라인 사이에 접속되는 정전기 방지회로와, 홀수번째 상기 게이트 라인과 홀수번째 상기 데이터 라인에 공통 접속된 쇼팅바와, 짝수번째 상기 게이트 라인과 짝수번째 상기 데이터 라인에 공통 접속된 쇼팅바가 포함되는 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 액정표시장치의 어레이부 하단은 상기 게이트 라인과 상기 데이터 라인에 신호를 공급하는 각각의 패드부가 형성된 영역의 반대 영역임을 특징으로 한다.
또한, 상기 쇼팅바는 상기 정전기 방지회로의 하단에 형성되며, 상기 쇼팅바는 상기 정전기 방지회로를 통과하는 홀수번째, 짝수번째 게이트 라인과 홀수번째, 짝수번째 데이터 라인에 각각 접속됨을 특징으로 한다.
또한, 상기 쇼팅바는 신호 라인 검사가 종료된 후 제거됨을 특징으로 한다.
이와 같은 본 발명에 의하면, 데이터/ 게이트 라인의 불량에 대한 검출력을 향상시켜 누출방지를 통한 생산단가를 절감하여 불량 방지를 통한 수율을 향상시키며, 어레이부 하단에서 과도한 정전기가 발생한 경우에도 액정표시장치가 전기적으로 손상(damage)되는 것을 방지할 수 있는 장점이 있다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 의한 실시예를 상세히 설명하도록 한다.
도 2는 본 발명에 의한 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2를 참조하면, 본 발명에 의한 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치는 액정셀(11)들이 매트릭스 형태로 배열된 어레이부(12)와, 상기 어레이부(12)에 배치된 게이트 라인(G)들에 각각 접속된 게이트 패드(14, 14')와, 상기 어레이부(12)에 배치된 데이터 라인(D)들에 각각 접속된 데이터 패드(14, 14')와, 상기 게이트/ 데이터 패드(14, 14') 중 홀수번째 게이트/ 데이터 패드(14)와 짝수번째 게이트/ 데이터 패드(14')에 접속되어 각각 IPT(In Processing Test) 검사, 즉 신호 라인 검사 공정을 하기 위하여 게이트 신호와 데이터 신호를 공급 받기 위해 형성된 쇼팅바(Shorting Bar) 및, 상기 어레이부(12)의 외곽부에 형성된 공통전극 라인(C)과 게이트 라인(G) 및 공통전극 라인(C)과 데이터 라인(D) 사이에 접속된 정전기 방지회로(10)가 포함되어 형성된다.
또한, 본 발명에 의한 액정표시장치는 어레이부(12) 상단에 형성된 상기 다수의 패드부(14, 14')에 접속되는 쇼팅바(16, 16')가 상기 어레이부(12) 하단에도 형성되어 있음을 그 특징으로 한다.
상기와 같이 공통전압(Vcom)이 공급되는 공통전극 라인(C)과 각각의 데이터라인(D)들 사이에 접속되어진 상기 정전기 방지회로(10)는 통상 다수개의 박막트랜지스터로 구성되며, 정전기 등에 의한 고전압영역에서는 낮은 임피던스를 가져 과전류가 방전되게 하고, 정상적인 구동환경에서는 높은 임피던스를 가져 신호라인을 통해 공급되는 구동신호에 영향을 주지 않게 한다.
단, 도 2에 도시된 액정표시장치는 어레이부(12)의 하단 및 상단에 각각 정전기 방지회로(10)가 구비되어 있는데, 상단 또는 하단 중 어느 한 쪽에만 형성하는 것도 무방하다.
여기서, 어레이부(12)의 하단이라 함은 상기 게이트 라인(G) 및 데이터 라인(D)에 신호를 공급하는 패드부(14, 14')가 형성된 영역의 반대 영역을 말하며, 즉, 도 2에서의 A 및 A' 영역을 의미한다.
또한, 상기 어레이부(12)는 게이트 라인들 및 데이터 라인들과, 게이트 라인들 및 데이터들의 교차부에 각각 형성된 박막트랜지스터(TFT)와, 상기 박막트랜지스터에 연결된 액정용량 캐패시터(Clc)를 구비한다. 상기 액정용량 캐패시터는 액정을 사이에 두고 대면하는 공통전극과 박막트랜지스터 어레이 패널에 형성된 화소전극 사이에 형성되는 캐패시터로 데이터 라인을 통해 입력되는 데이터 전압을 충전하여 액정을 구동 시킴으로써 액정이 광 투과율을 조절할 수 있게 한다.
또한, 상기 어레이부(12) 상단에 위치한 홀수번째 게이트/ 데이터 패드(14)들에 각각 공통 접속되어진 쇼팅바(16)와, 짝수번째 게이트/ 데이터 패드(14 )들에 각각 공통 접속되어진 쇼팅바(16')에 특정 패턴의 신호를 공급하여 상기 홀수번째의 쇼팅바(16)와 짝수번째의 쇼팅바(16') 사이의 저항차를 검출함으로써, 신호라인즉, 데이터/ 게이트 라인(G, D)들의 쇼트, 단선 등과 같은 라인 불량을 검사하게 된다.
이러한 상기 쇼팅바(16, 16')는 앞서 설명한 바와 같이 액정표시장치의 제조공정 중에 기저전압원(GND)에 접속되어 액정패널에 인가되는 정전기를 제거하는 역할 및, 상기 다수의 패드(14, 14')들에 대한 IPT(In Processing Test)검사 즉, 신호 라인 검사를 위해 형성되는 것이고, 종래의 경우에는 상기 쇼팅바(16, 16')가 상기 패드부 상단에만 접속되어 형성되었으며, 이러한 상기 쇼팅바(16, 16')는 테스트 공정이 완료 된 후 커팅(Cutting) 된다.
이 때 상기 쇼팅바(16, 16')는 스크라이빙 공정과 그라인딩 공정 시 커팅 라인을 따라 하판의 가장자리가 연삭 됨으로써 하판 상에서 제거되는 것이며, 종래의 경우는 상기 쇼팅바(16, 16')가 상기 패드부(14, 14') 상단에만 형성되어 있으므로 상기와 같이 쇼팅바(16, 16')가 제거되면 상기 패드부(14, 14')에는 테이프 오토메이티드 본딩(Tape Automated Bonding : 이하 'TAB') 방식의 드라이브 회로 실장방법에 의해 테이프 캐리어 패키지(Tape Carrier Package : 이하 'TCP')가 부착된다. 즉, 상기 TCP의 출력패드가 상기 하부기판 상의 패드부(6)에 접속되고, TCP의 입력패드는 인쇄회로기판(PCB)에 접속되는 것이다.
그러나, 본 발명은 상기 쇼팅바(18, 18')가 상기 액정표시장치의 어레이부(12) 하단에도 형성되는 것으로 좀 더 상세히 설명하면 상기 어레이부(12) 하단에 형성된 정전기 방지회로(10)를 통과하는 홀수번째, 짝수번째 게이트 라인 및/ 또는 데이터 라인에 각각 접속되어 형성된다.
즉, 상기 어레이부 하단에 위치한 홀수번째 게이트/ 데이터 라인들에 각각 공통 접속되어진 쇼팅바(18)와, 짝수번째 게이트/ 데이터 라인들에 각각 공통 접속되어진 쇼팅바(18')에 상기 어레이부 상단에 위치한 각각의 쇼팅바(16, 16')에 공급되는 신호와 동일한 특정 패턴의 신호를 공급하여 상기 홀수번째의 쇼팅바(16, 18)와 짝수번째의 쇼팅바(16', 18') 사이의 저항차를 검출함으로써, 신호라인 즉, 데이터/ 게이트 라인들의 쇼트, 단선 등과 같은 라인 불량을 검사하게 되는 것이다.
이를 통해 상기 어레이부(12) 내의 상측과 하측, 즉 상기 어레이부에 있어서 패드(14, 14')에서 가까운 영역과 패드(14, 14')에서 먼 영역에 대해 입력되는 검사 신호가 RC 딜레이(delay)에 의해 상기 영역간 차이가 발생되어 신호 라인 불량의 검출력이 저하되는 것을 개선할 수 있다.
좀 더 상세히 설명하면, 상기 어레이부의 상단과 하단에 형성된 홀수번째 쇼팅바(16, 18), 짝수번째 쇼팅바(16', 18')에 각각 특정 패턴의 검사 신호를 동시에 인가하여 신호라인 즉, 데이터/ 게이트 라인들의 쇼트, 단선 등과 같은 라인 불량을 검사함으로써 상기 어레이부 내부 RC 딜레이 또는 신호왜곡으로 발생되는 검출력의 감소를 해결할 수 있는 것이다.또한, 어레이부 하단에서 과도한 정전기 발생시, 상기 어레이부 하단에 형성된 정전기 방지회로의 Vth 불안정으로 인해 상기 액정표시장치가 전기적으로 손상(damage)가 발생되는 것을 상기 정전기 방지회로 하단에 쇼팅바를 추가로 형성함으로써 방지할 수 있게 된다.
도 3은 도 2의 특정부분(A, A')에 대한 평면도이다.
도 3을 참조하면, 상기 A영역은 액정표시장치의 하단부로서 데이터 라인(D)과 공통전극 라인(C)이 교차되고 상기 데이터 라인(D)과 공통전극 라인(C) 사이에 정전기 방지회로(10)가 연결되어 있으며, 또한, 상기 A'영역에는 게이트 라인(G)과 공통전극 라인(C)이 교차되고 상기 게이트 라인(G)과 공통전극 라인(C)사이에 정전기 방지회로(10)가 연결되어 있다.
이 때, 상기 A영역에서의 공통전극 라인(C)은 게이트 라인(G)이 형성되는 층에서 상기 게이트 라인(G)과 동일한 재료로 형성되며, 상기 A'영역에서의 공통전극 라인(C)은 데이터 라인(D)이 형성되는 층에서 상기 데이터 라인(D)과 동일한 재료로 형성된다.
또한, 상기 A 및 A'영역에 형성된 정전기 방지회로(10)를 통과하는 각각의 데이터 라인(D) 및 게이트 라인(G)의 끝단에는 쇼팅바(18, 18')가 접속되어 있다.
좀 더 상세히 설명하면, 상기 쇼팅바(18, 18')는 상기 어레이부 하단에 형성된 정전기 방지회로(10)를 통과하는 홀수번째 데이터 라인 또는 게이트 라인에 접속된 쇼팅바(18)와, 상기 어레이부 하단에 형성된 정전기 방지회로(10)를 통과하는 짝수번째 데이터 라인 또는 게이트 라인에 접속된 쇼팅바(18')로 이루어진다.
이렇게 형성된 각각의 쇼팅바(18, 18')에 상기 어레이부 상단에 위치한 각각의 쇼팅바(도 2의 16, 16')에 공급되는 신호와 동일한 특정 패턴의 신호를 공급하여 상기 홀수번째의 쇼팅바(16, 18)와 짝수번째의 쇼팅바(16', 18') 사이의 저항차를 검출함으로써, 신호라인 즉, 데이터/ 게이트 라인들의 쇼트, 단선 등과 같은 라인 불량을 검사하게 된다.
이를 통해 상기 어레이부 내의 상측과 하측, 즉 상기 어레이부에 있어서 패드에서 가까운 영역과 패드에서 먼 영역에 대해 입력되는 검사 신호가 상기 어레이 내부 RC 딜레이 없이 입력되므로 종래에 있어서의 신호 라인 불량의 검출력 저하를 극복할 수 있다.
즉, 상기 어레이부의 상단과 하단에 형성된 홀수번째, 짝수번째 쇼팅바에 각각 특정 패턴의 검사 신호를 동시에 인가하여 신호라인 즉, 데이터/ 게이트 라인들의 쇼트, 단선 등과 같은 라인 불량을 검사함으로써 종래의 경우 패드부에 접속된 쇼팅바를 통해서만 입력되는 검사 신호에 의해 상기 어레이 내의 RC 딜레이 또는 신호왜곡으로 발생되는 검출력의 감소를 해결할 수 있게 되는 것이다.
또한, 어레이부 하단에서 과도한 정전기 발생시, 상기 어레이부 하단에 형성된 정전기 방지회로(10)의 Vth 불안정으로 인해 상기 액정표시장치가 전기적으로 손상(damage)가 발생되는 것을, 상기 정전기 방지회로(10) 하단에 쇼팅바(18, 18')를 추가로 형성함으로써, 상기 과도한 정전기 발생시 방전패스의 역할을 상기 정전기 방지회로(10) 뿐 아니라 상기 쇼팅바(18, 18')를 통해 이루어 짐으로 과도한 정전기 발생에 따른 액정표시장치의 전기적 손상을 방지할 수 있게 된다.
이상의 설명에서와 같이 본 발명에 의한 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치에 의하면, 데이터/ 게이트 라인의 불량에 대한 검출력을 향상시켜 누출방지를 통한 생산단가를 절감하여 불량 방지를 통한 수율을 향상시키는 장점이 있다.
또한, 어레이부 하단에서 과도한 정전기가 발생한 경우에도 액정표시장치가전기적으로 손상(damage)되는 것을 방지할 수 있는 장점이 있다.

Claims (5)

  1. 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치에 있어서,
    상기 액정표시장치의 어레이부 하단에 형성된 공통전극 라인과 게이트 라인 및 공통전극 라인과 데이터 라인 사이에 접속되는 정전기 방지회로와,
    홀수번째 상기 게이트 라인과 홀수번째 상기 데이터 라인에 공통 접속된 쇼팅바와,
    짝수번째 상기 게이트 라인과 짝수번째 상기 데이터 라인에 공통 접속된 쇼팅바가 포함되는 것을 특징으로 하는 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 액정표시장치의 어레이부 하단은 상기 게이트 라인과 상기 데이터 라인에 신호를 공급하는 각각의 패드부가 형성된 영역의 반대 영역임을 특징으로 하는 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 쇼팅바는 상기 정전기 방지회로의 하단에 형성됨을 특징으로 하는 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 쇼팅바는 상기 정전기 방지회로를 통과하는 홀수번째, 짝수번째 게이트 라인과 홀수번째, 짝수번째 데이터 라인에 각각 접속됨을 특징으로 하는 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 쇼팅바는 신호 라인 검사가 종료된 후 제거됨을 특징으로 하는 신호 라인 검사를 위한 액정표시장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100237670B1 (ko) * 1992-12-28 2000-01-15 윤종용 정전기 방지 기능을 구비한 액정 디스플레이 판넬의 신호라인 배선 구조체 및 이를 사용한 검사방법
KR100576629B1 (ko) * 1999-04-08 2006-05-04 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의 tft어레이 기판 및 그 검사방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103149713A (zh) * 2013-03-05 2013-06-12 深圳市华星光电技术有限公司 阵列面板检测电路结构
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