KR20040034081A - Array substrate and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An array substrate, and a method for manufacturing the same are provided to prevent data lines from being opened by alien substances, and prevent a cell reaction between a conductive film for a pad and a second metal film. CONSTITUTION: An array substrate(100) includes a display area(D) on which a plurality of unit pixels are formed, and a pad area(P) placed at an outline of the display area for receiving picture signals applied to the unit pixels. A wire layer includes first to third pad metal films(127a-127c) accumulated on the pad area, wherein the third metal film covers exposed surfaces of the first and second metal pad films. A passivation film(130) is formed on the substrate and the wire layer, and has contact holes(136) exposing a part of the third pad metal film. A conductive film(145) is formed on side walls of the contact holes and the exposed third metal film so that the conductive film is electrically connected with the wire layer.

Description

어레이 기판 및 이의 제조 방법{ARRAY SUBSTRATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME}ARRAY SUBSTRATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

본 발명은 어레이 기판 및 이의 제조 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는불량률을 감소시킬 수 있는 어레이 기판 및 이의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an array substrate and a method for manufacturing the same, and more particularly, to an array substrate and a method for manufacturing the same that can reduce the defective rate.

최근 들어 정보 처리 기기는 사용자가 정보처리 장치에서 처리된 정보를 육안으로 확인할 수 있도록 인터페이스 역할을 하는 디스플레이 장치를 필요로 한다. 액정 표시 장치는 디스플레이 장치의 대표적인 것으로써, 액정의 특정한 분자배열에 전압을 인가하여 다른 분자배열로 변환시키고, 광학적 성질의 변화를 시각 변화로 변환하는 것으로, 액정에 의한 빛의 변조를 이용한 디스플레이 장치이다.Recently, an information processing device requires a display device that serves as an interface so that a user may visually check the information processed by the information processing device. A liquid crystal display is a typical display device. A liquid crystal display is a display device that uses a modulation of light by liquid crystal by applying a voltage to a specific molecular array of liquid crystal to convert it into another molecular array and converting a change in optical properties into a visual change. to be.

구체적으로, 액정표시장치는 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하, TFT) 및 화소전극이 형성된 어레이 기판, 상기 어레이 기판과 마주보는 컬러필터기판 및 상기 어레이 기판과 컬러필터기판과의 사이에 개재된 액정층으로 이루어진다.Specifically, a liquid crystal display device includes an array substrate on which a thin film transistor (TFT) and a pixel electrode are formed, a color filter substrate facing the array substrate, and a liquid crystal interposed between the array substrate and the color filter substrate. Consists of layers.

액정표시장치는 TFT의 구조에 따라서 비정질 실리콘 액정표시장치(amorphous-silicon Liquid Crystal Display; 이하, a-si LCD)와 다결정 실리콘 액정표시장치(polycrystalline-silicon Liquid Crystal Display; 이하, poly-si LCD)로 구분된다. 구체적으로, a-si LCD는 a-si로 만든 TFT로 이루어지고, poly-si LCD는 poly-si로 만든 TFT로 이루어진다.According to the structure of the TFT, the liquid crystal display includes an amorphous-silicon liquid crystal display (a-si LCD) and a polycrystalline-silicon liquid crystal display (hereinafter, poly-si LCD). Separated by. Specifically, the a-si LCD is made of TFT made of a-si, and the poly-si LCD is made of TFT made of poly-si.

상기 poly-si TFT는 a-si LCD에 비하여 제조 공정이 복잡하다는 단점이 있지만, 상기 a-si TFT에 비하여 전하 이동 속도가 빠르기 때문에 구동회로를 별도로장착하지 않고 기판 위에 내장할 수 있다. 따라서, 상기 poly-si LCD는 상기 a-si LCD보다 실장 비용에 따른 원가 절감의 효과, 회로 내장으로 인한 박형화 및 경량화를 구현할 수 있다. 또한, 대화면 및 고해상도의 화면을 구현하는데 사용되는 스위칭 소자로써 적합하다는 장점이 있어서 최근에 많이 개발되고 있다.The poly-si TFT has a disadvantage in that the manufacturing process is more complicated than that of the a-si LCD. However, since the poly-si TFT has a higher charge transfer rate than the a-si TFT, the poly-si TFT can be embedded on a substrate without separately mounting a driving circuit. Therefore, the poly-si LCD can realize a cost reduction effect, a thinner and lighter weight due to the built-in circuit than the a-si LCD. In addition, there is an advantage that it is suitable as a switching element used to implement a large screen and a high resolution screen has been recently developed a lot.

상기 poly-si LCD에서는 게이트 배선 및 데이터 배선을 크롬(Cr)으로 형성하는 구조가 일반적이다. 여기서, 상기 게이트 배선은 상기 어레이 기판에 형성되는 게이트 라인, 상기 게이트 라인으로부터 분기된 게이트 전극 및 상기 게이트 라인의 일단부에 형성된 게이트 패드 전극을 포함한다. 또한, 상기 데이터 배선은 상기 어레이 기판에 형성되는 데이터 라인, 상기 데이터 라인으로부터 분기된 소오스 및 드레인 전극, 상기 데이터 라인의 일단부에 형성된 데이터 패드 전극을 포함한다.In the poly-si LCD, a gate wiring and a data wiring are generally formed of chromium (Cr). The gate line may include a gate line formed on the array substrate, a gate electrode branched from the gate line, and a gate pad electrode formed at one end of the gate line. The data line may include a data line formed on the array substrate, a source and drain electrode branched from the data line, and a data pad electrode formed at one end of the data line.

상기 게이트 패드 전극 및 상기 데이터 패드 전극은 보호막을 사이에 두고 인듐 아연 산화물(Indium Tin Oxide; 이하, ITO)로 이루어진 도전막과 전기적으로 접속된다.The gate pad electrode and the data pad electrode are electrically connected to a conductive film made of indium tin oxide (hereinafter referred to as ITO) with a protective film therebetween.

그러나, 상기 poly-si LCD가 점차 대형화됨에 따라서 상기 게이트 및 데이터 배선에서의 지연을 최소화하기 위하여 상기 게이트 및 데이터 배선을 구성하는 물질에 저항이 낮을 물질을 적용하는 추세에 있다. 따라서, 최근에는 상기 게이트 배선에는 상기 크롬(Cr)보다 저항이 낮은 알루미늄-네오디뮴(AlNd)이 사용된다.However, as the poly-si LCD becomes larger in size, in order to minimize delays in the gate and data lines, a material having a low resistance is applied to the materials constituting the gate and data lines. Therefore, recently, aluminum-neodymium (AlNd) having a lower resistance than chromium (Cr) is used for the gate wiring.

그러나, 상기 데이터 배선에 상기 알루미늄-네오디뮴(AlNd)을 사용할 경우, 상기 데이터 패드 전극과 상기 도전막에 이용되는 ITO가 접촉되면서 알루미늄과 ITO 사이에서 전지 반응(battery effect)이 유발된다. 이로써, 상기 데이터 패드전극이 부식되는 문제가 발생된다. 따라서, 상기 데이터 배선에는 상기 알루미늄-네오디뮴(AlNd)보다 저항은 크지만은 부식 발생의 위험이 적은 몰디브덴 텅스텐(MoW)이 적용된다.However, when the aluminum-neodymium (AlNd) is used for the data line, a battery effect is caused between aluminum and ITO as the data pad electrode is in contact with ITO used for the conductive film. As a result, the data pad electrode may be corroded. Therefore, the molybdenum tungsten (MoW) is applied to the data line with a higher resistance than the aluminum-neodymium (AlNd) but less risk of corrosion.

그러나, 상기 poly-si LCD의 화면이 대형화됨에 따라서 고속 동작이 이루어져야하기 때문에 상기 데이터 배선에는 상기 몰디브덴 텅스텐(MoW)보다 저항이 작으면서 부식 발생의 위험이 적은 물질에 대한 요구가 커지고 있다. 또한, 상기 몰디브덴 텅스텐(MoW)을 사용할 경우, 상기 데이터 배선을 형성하는 과정에서 이물질이 발생되어 상기 데이터 배선이 오픈되는 경우가 종종 발생된다.However, as the screen of the poly-si LCD increases in size, high-speed operation is required, and thus there is a greater demand for materials having less resistance to corrosion and less corrosion than the molybdenum tungsten (MoW). In addition, in the case of using the molybdenum tungsten (MoW), a foreign material is often generated in the process of forming the data line, so that the data line is often opened.

따라서, 본 발명의 제1 목적은 불량률을 감소시키기 위한 어레이 기판을 제공하는 것이다.Accordingly, a first object of the present invention is to provide an array substrate for reducing the defective rate.

또한, 본 발명의 제2 목적은 이러한 어레이 기판을 제조하는 방법을 제공하는 것이다.It is also a second object of the present invention to provide a method of manufacturing such an array substrate.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 어레이 기판을 구체적으로 나타낸 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing in detail an array substrate according to an embodiment of the present invention.

도 2a 내지 도 2d는 도 1에 도시된 어레이 기판의 제조 공정을 나타낸 도면들이다.2A to 2D are diagrams illustrating a manufacturing process of the array substrate illustrated in FIG. 1.

도 3은 도 1에 도시된 어레이 기판을 갖는 액정표시장치를 나타낸 단면도이다.FIG. 3 is a cross-sectional view of a liquid crystal display having the array substrate shown in FIG. 1.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

100 : 어레이 기판 110 : 기판100: array substrate 110: substrate

120 : poly-si TFT 127c : 제3 패드 금속막120: poly-si TFT 127c: third pad metal film

127 : 데이터 패드 전극 127a : 제1 패드 금속막127: data pad electrode 127a: first pad metal film

127b : 제2 패드 금속막 130 : 보호막127b: second pad metal film 130: protective film

140 : 화소전극 145 : 패드용 도전막140 pixel electrode 145 pad conductive film

200 : 컬러필터기판 300 : 액정층200: color filter substrate 300: liquid crystal layer

400 : 액정표시장치400: liquid crystal display

상술한 본 발명의 제1 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 어레이 기판은, 다수의 단위 화소가 형성되는 표시 영역 및 상기 표시 영역의 외곽에 위치한 패드 영역을 포함하는 기판; 상기 표시 영역 및 상기 패드 영역에서 제1 내지 제3 금속막으로 이루어지고, 상기 제3 금속막이 상기 패드 영역에서 상기 제1 및 제2 금속막의 노출된 면을 커버하는 배선층; 상기 기판 및 배선층 상에 형성되고, 상기 제3 금속막의 일부분을 노출하는 콘택홀을 갖는 보호막; 및 상기 콘택홀의 측벽 및 노출된 상기 제3 금속막 상에 형성되어 상기 배선층과 전기적으로 접속되는 도전막을 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided an array substrate including: a substrate including a display area in which a plurality of unit pixels are formed and a pad area disposed outside the display area; A wiring layer formed of first to third metal films in the display area and the pad area, wherein the third metal film covers exposed surfaces of the first and second metal films in the pad area; A protective film formed on the substrate and the wiring layer and having a contact hole exposing a portion of the third metal film; And a conductive film formed on the sidewall of the contact hole and the exposed third metal film and electrically connected to the wiring layer.

또한, 본 발명의 제2 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 어레이 기판의 제조 방법은, 다수의 단위화소가 형성되는 표시 영역 및 상기 표시 영역의 외곽에 위치한 패드 영역으로 구분되는 기판 상에 제1 내지 제3 금속막으로 이루어지고, 상기 제3 금속막이 상기 패드 영역에서 상기 제1 및 제2 금속막의 노출된 면을 둘러싸는 배선층을 형성하는 단계; 상기 기판 및 배선층 상에 상기 제3 금속막의 일부분을 노출하는 콘택홀을 갖는 보호막을 형성하는 단계; 및 상기 콘택홀의 측벽 및 노출된 상기 제3 금속막 상에 상기 배선층과 전기적으로 접속되는 도전막을 형성하는 단계를 포함한다.In addition, a method of manufacturing an array substrate according to the present invention for achieving a second object of the present invention, the first substrate on a substrate divided into a display area in which a plurality of unit pixels are formed and a pad area located outside the display area Forming a wiring layer comprising a third metal film, wherein the third metal film surrounds exposed surfaces of the first and second metal films in the pad region; Forming a passivation layer on the substrate and the wiring layer, the passivation layer having a contact hole exposing a portion of the third metal layer; And forming a conductive film electrically connected to the wiring layer on the sidewall of the contact hole and the exposed third metal film.

이러한 어레이 기판 및 이의 제조 방법에 따르면, 데이터 패드 전극은 제1 금속막과 그 위에 적층된 제2 금속막 및 제1 및 제2 금속막의 노출된 면을 완전하게 둘러싸는 제3 금속막으로 이루어져 패드용 도전막과 제2 금속막 사이에서 발생되는 전지 반응을 방지하여 어레이 기판의 불량률을 감소시킬 수 있다.According to such an array substrate and a method of manufacturing the same, the data pad electrode includes a first metal film, a second metal film stacked thereon, and a third metal film completely surrounding the exposed surfaces of the first and second metal films. The failure rate of the array substrate can be reduced by preventing the battery reaction generated between the conductive film and the second metal film.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, it will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 어레이 기판을 구체적으로 나타낸 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing in detail an array substrate according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 어레이 기판(100)은 영상을 표시하는 표시 영역(D)과 표시 영역(D)의 주변에 형성된 패드 영역(P)으로 구분된다. 상기 표시 영역(D)은 기판(110) 상에 형성된 게이트 라인(미도시)과 데이터 라인(미도시)에 연결된 poly-si TFT(120) 및 상기 poly-si TFT(120)에 연결된 투명한 화소 전극(140)으로 이루어진 다수의 단위 화소를 구비한다. 상기 단위 화소는 상기 기판(110) 상에 매트릭스 형태로 형성된다.Referring to FIG. 1, an array substrate 100 according to an embodiment of the present invention is divided into a display area D displaying an image and a pad area P formed around the display area D. FIG. The display area D includes a poly-si TFT 120 connected to a gate line (not shown) and a data line (not shown) formed on the substrate 110 and a transparent pixel electrode connected to the poly-si TFT 120. A plurality of unit pixels consisting of 140 are provided. The unit pixel is formed in a matrix form on the substrate 110.

구체적으로, 상기 표시 영역(D)에 대응하여 상기 기판(110) 상에는 poly-si층(121), 그 위에 형성된 게이트 절연막(122) 및 상기 게이트 절연막(122) 상에 형성된 게이트 전극(123)이 구비된다. 이후, 상기 poly-si층(121)을 붕소(B) 또는 인(P)을 이용하여 도핑하여 n 또는 p 채널을 형성한다. 또한, 상기 게이트 전극(123)이 형성된 상기 게이트 절연막(122) 상에는 상기 poly-si층(121)의 일부분을 노출시키는 제1 및 제2 콘택홀(126a, 126b)이 형성된 층간 절연막(126)이 적층된다. 상기 층간 절연막(126) 상에는 상기 제1 콘택홀(126a)을 통해 상기 poly-si층(121)과 전기적으로 연결된 소오스 전극(124)과 상기 제2 콘택홀(126b)을 통해 상기 poly-si층(121)과 전기적으로 연결된 드레인 전극(125)이 형성된다.In detail, a poly-si layer 121, a gate insulating layer 122 formed on the gate insulating layer 122, and a gate electrode 123 formed on the gate insulating layer 122 are formed on the substrate 110 to correspond to the display area D. It is provided. Thereafter, the poly-si layer 121 is doped with boron (B) or phosphorus (P) to form an n or p channel. In addition, an interlayer insulating layer 126 having first and second contact holes 126a and 126b exposing portions of the poly-si layer 121 is formed on the gate insulating layer 122 on which the gate electrode 123 is formed. Are stacked. The poly-si layer on the interlayer insulating layer 126 through the source electrode 124 and the second contact hole 126b electrically connected to the poly-si layer 121 through the first contact hole 126a. A drain electrode 125 electrically connected to the 121 is formed.

여기서, 상기 소오스 및 드레인 전극(124, 125)은 3 중막 구조를 갖는다. 즉, 상기 소오스 전극(124)은 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어진 제1 금속막(124a), 알루미늄-네오디뮴(AlNd)으로 이루어진 제2 금속막(124b) 및 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어진 제3 금속막(124c)을 구비한다. 또한, 상기 드레인 전극(125)은 제4 내지 제6 금속막(125a, 125b, 125c)이 순차적으로 적층된 구조를 갖는다. 상기 제4 내지 제6 금속막(125a, 125b, 125c)은 각각 몰디브덴 텅스텐(MoW), 알루미늄-네오디뮴(AlNd), 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어진다.Here, the source and drain electrodes 124 and 125 have a triple layer structure. That is, the source electrode 124 is formed of a first metal film 124a made of tungsten molybdenum (MoW), a second metal film 124b made of aluminum-neodymium (AlNd), and a tungsten made of tungsten molybdenum (MoW). Three metal films 124c are provided. In addition, the drain electrode 125 has a structure in which the fourth to sixth metal films 125a, 125b, and 125c are sequentially stacked. The fourth to sixth metal layers 125a, 125b, and 125c each include molybdenum tungsten (MoW), aluminum-neodymium (AlNd), and molybdenum tungsten (MoW).

이후, 소오스 및 드레인 전극(124, 125)이 형성된 상기 기판(110) 상에는 상기 드레인 전극(125)의 일부분을 노출시키는 제3 콘택홀(135)이 형성된 보호막(130)이 형성된다. 상기 보호막(130)은 감광성 아크릴계 수지와 같은 유기 절연막으로 형성된다. 상기 보호막(130) 상에는 상기 제3 콘택홀(135)을 통해 상기 드레인 전극(125)과 전기적으로 연결되는 투명 전극인 화소 전극(140)이 형성된다. 여기서, 상기 화소 전극(140)은 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide; 이하, ITO) 또는 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide; 이하, IZO)로 이루어진다.Thereafter, a passivation layer 130 is formed on the substrate 110 on which the source and drain electrodes 124 and 125 are formed, and the third contact hole 135 is formed to expose a portion of the drain electrode 125. The passivation layer 130 is formed of an organic insulating layer such as a photosensitive acrylic resin. The pixel electrode 140 is formed on the passivation layer 130, which is a transparent electrode electrically connected to the drain electrode 125 through the third contact hole 135. The pixel electrode 140 is formed of indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO).

한편, 상기 패드 영역(P)은 상기 데이터 라인의 일단부에 형성되고 상기 어레이 기판(100)의 외부로부터 영상신호를 제공받는 데이터 패드 영역과, 상기 게이트 라인의 일단부에 형성되고 상기 어레이 기판(100)의 외부로부터 구동신호를 제공받는 게이트 패드 영역으로 각각 구분된다. 본 발명의 도면에서 제시된 패드 영역(P)은 데이터 패드 영역이다.The pad region P may be formed at one end of the data line and receive an image signal from the outside of the array substrate 100, and may be formed at one end of the gate line, and the array substrate ( Each of the gate pads receives a driving signal from the outside. In the drawing of the present invention, the pad area P is a data pad area.

상기 패드 영역(P)에 대응하여 상기 기판(110) 상에는 소오스 및 드레인 전극(124, 125)을 구성하는 상기 제1 및 제2 금속막(124a, 124b) 또는 제4 및 제5 금속막(125a, 125b)과 동일한 공정 상에서 형성되는 제1 및 제2 패드 금속막(127a, 127b)이 형성된다. 이후, 상기 제2 패드 금속막(127b) 및 상기 기판(100) 상에는 상기 제1 및 제2 패드 금속막(127a, 127b)의 노출된 면을 완전하게 커버하는 제3 패드 금속막(127c)이 형성된다. 이로써, 데이터 패드 전극(127)이 형성된다.The first and second metal layers 124a and 124b or the fourth and fifth metal layers 125a constituting source and drain electrodes 124 and 125 on the substrate 110 corresponding to the pad region P. Referring to FIG. , The first and second pad metal films 127a and 127b formed on the same process as 125b are formed. Thereafter, on the second pad metal layer 127b and the substrate 100, a third pad metal layer 127c completely covering the exposed surfaces of the first and second pad metal layers 127a and 127b is formed. Is formed. As a result, the data pad electrode 127 is formed.

이후, 상기 데이터 패드 전극(127)이 형성된 상기 패드 영역(P)에는 상기 표시 영역(D)에 형성되는 상기 보호막(130)이 연장하여 형성되고, 상기 보호막(130)에는 상기 제3 패드 금속막(127c)의 일부분을 노출시키는 제4 콘택홀(136)이 형성된다. 다음, 상기 보호막(130) 상에는 상기 제4 콘택홀(136)을 통해 상기 데이터 패드 전극(127)과 전기적으로 연결된 패드용 도전막(145)이 형성된다. 이로써, 액정표시장치에 이용되는 어레이 기판(100)이 완성된다.Thereafter, the passivation layer 130 formed in the display area D extends in the pad region P where the data pad electrode 127 is formed, and the third pad metal layer is formed on the passivation layer 130. A fourth contact hole 136 is formed to expose a portion of 127c. Next, a pad conductive layer 145 electrically connected to the data pad electrode 127 through the fourth contact hole 136 is formed on the passivation layer 130. Thus, the array substrate 100 used for the liquid crystal display device is completed.

도시된 바와 같이, 상기 제3 패드 금속막(127c)이 상기 제2 패드 금속막(127b)은 완전하게 커버함으로써, 상기 패드용 도전막(145)과 상기 제2 패드 금속막(127b)이 직접 접촉되지 않게 된다. 따라서, 케미컬 또는 습기 등의 침투에 의해 상기 패드용 도전막(145)과 상기 제2 패드 금속막(127b) 사이에서 전지 반응이 일어나는 것을 방지할 수 있다.As shown in the drawing, the third pad metal film 127c completely covers the second pad metal film 127b, so that the pad conductive film 145 and the second pad metal film 127b directly contact each other. No contact is made. Therefore, the battery reaction can be prevented from occurring between the pad conductive film 145 and the second pad metal film 127b due to penetration of chemical or moisture.

이상의 본 발명의 실시예에서는 데이터 패드 영역에 대응하는 패드 영역을 도시하였으나, 게이트 패드 영역에 대응하는 패드 영역에도 동일하게 적용할 수 있을 것이다. 즉, 상기 게이트 배선을 상기 데이터 배선과 같이 3 중막으로 형성할 경우, 상기 게이트 패드 전극의 구조를 상기 데이터 패드 전극(127)의 구조와 동일하게 형성할 수 있다.Although the pad region corresponding to the data pad region is illustrated in the above embodiment of the present invention, the same applies to the pad region corresponding to the gate pad region. That is, when the gate wiring is formed in a triple layer like the data wiring, the gate pad electrode may have the same structure as that of the data pad electrode 127.

도 2a 내지 도 2d는 도 1에 도시된 어레이 기판을 제조하는 공정을 나타낸 도면들이다.2A to 2D are views illustrating a process of manufacturing the array substrate illustrated in FIG. 1.

도 2a를 참조하면, 기판(110)의 표시 영역(D)에는 a-si층을 저온 플라즈마 화학기상증착(Low Plasma Chemical Vapor Deposition; LPCVD) 방법으로 540℃ 정도에서 증착한다. 이후, a-si층을 600℃ 정도에서 장시간 열처리하여 결정화하여 poly-si 층을 형성한다. 결정성을 높이기 위하여 결정화 전에 실리콘 이온 주입을하기도 한다. 이후, 건식 식각(dry etching) 공정을 통해 상기 poly-si층(121)으로 패터닝 한다.Referring to FIG. 2A, the a-si layer is deposited on the display region D of the substrate 110 at about 540 ° C. by using Low Plasma Chemical Vapor Deposition (LPCVD). After that, the a-si layer is heat-treated at about 600 ° C. for a long time to form a poly-si layer. In order to increase crystallinity, silicon ion implantation may be performed before crystallization. Subsequently, the poly-si layer 121 is patterned through a dry etching process.

다음, 상기 poly-si층(121)을 산소와 반응시켜 산화막을 형성한다. 상기 산화막은 게이트 절연막(122)으로써 사용된다. 이후, 상기 게이트 절연막(122) 상에 게이트 전극층을 형성한 후, 이를 패터닝하여 게이트 전극(123)을 형성한다.Next, the poly-si layer 121 is reacted with oxygen to form an oxide film. The oxide film is used as the gate insulating film 122. Thereafter, a gate electrode layer is formed on the gate insulating layer 122, and then patterned to form a gate electrode 123.

상기 게이트 전극(123)이 형성된 상기 기판(110)에는 상기 poly-si층(121)을 도핑하기 위한 이온 주입 공정이 이루어진다. 즉, p형 TFT를 만들려면 붕소(B)으로 도핑하고, n형 TFT를 만들려면 인(P)으로 도핑한다. 붕소(B) 또는 인(P)을 주입하여 n 채널 또는 p 채널을 결정하면, 상기 기판(110) 상에는 층간 절연막(126)이 증착된다. 상기 층간 절연막(126)에는 상기 n 채널층 또는 p 채널층을 노출시키는 제1 및 제2 콘택홀(126a, 126b)이 형성된다.An ion implantation process for doping the poly-si layer 121 is performed on the substrate 110 on which the gate electrode 123 is formed. In other words, it is doped with boron (B) to make a p-type TFT, and doped with phosphorus (P) to make an n-type TFT. When the n or p channel is determined by injecting boron (B) or phosphorus (P), an interlayer insulating layer 126 is deposited on the substrate 110. First and second contact holes 126a and 126b exposing the n-channel layer or the p-channel layer are formed in the interlayer insulating layer 126.

이후 도 2b를 참조하면, 상기 기판(110)의 상기 표시 영역(D)에는 상기 제1 콘택홀(126a)을 통해 도핑된 상기 poly-si층(121)과 전기적으로 연결된 제1 및 제2 금속막(124a, 124b)이 형성되고, 상기 제2 콘택홀(126b)을 통해 도핑된 상기 poly-si층(121)과 전기적으로 연결된 제4 및 제5 금속막(125a, 125b)이 형성된다. 여기서, 제1 및 제4 금속막(124a, 125a)은 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어지고, 상기 제2 및 제5 금속막(124b, 125b)은 알루미늄-네오디뮴(AlNd)으로 이루어진다.2B, first and second metals electrically connected to the poly-si layer 121 doped through the first contact hole 126a may be formed in the display area D of the substrate 110. Films 124a and 124b are formed, and fourth and fifth metal films 125a and 125b electrically connected to the poly-si layer 121 doped through the second contact hole 126b are formed. Here, the first and fourth metal layers 124a and 125a are made of molybdenum tungsten (MoW), and the second and fifth metal layers 124b and 125b are made of aluminum-neodymium (AlNd).

한편, 상기 기판(110)의 상기 패드 영역(P)에는 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어진 제1 패드 전극층(127a)이 형성되고, 알루미늄-네오디뮴(AlNd)으로 이루어진 제2 패드 전극층(127b)이 형성된다. 이후, 상기 제1 및 제2 패드 금속막(127a,127b)을 패터닝하기 위하여 상기 제2 패드 금속막(127b) 상에 제1 포토 레지스터막(128)을 형성한 후, 상기 제1 포토 레지스터막(128)을 패터닝한 다음, 상기 제1 및 제2 패드 금속막(127a, 127b)을 습식 시각한다. 습식 시각공정에서 오버 에칭 비율을 10% 내지 60% 정도로 조절하여 상기 제1 및 제2 패드 금속막(127a, 127b)의 폭을 상기 제1 포토 레지스터막(128)의 폭보다 1㎛ 정도 작게 조절한다.Meanwhile, a first pad electrode layer 127a made of tungsten molybdenum (MoW) is formed in the pad region P of the substrate 110, and a second pad electrode layer 127b made of aluminum-neodymium (AlNd) is formed. Is formed. Thereafter, a first photoresist film 128 is formed on the second pad metal film 127b to pattern the first and second pad metal films 127a and 127b, and then the first photoresist film is formed. After patterning 128, the first and second pad metal films 127a and 127b are wet-viewed. In the wet vision process, the over-etching ratio is adjusted to about 10% to 60% to adjust the width of the first and second pad metal layers 127a and 127b to be 1 μm smaller than the width of the first photoresist layer 128. do.

예를 들어, 상기 제1 포토 레지스터막(128)의 폭이 8.0㎛로 형성하면, 제1 및 제2 패드 금속막(127a, 127b)의 폭을 6.4㎛로 형성한다.For example, when the width of the first photoresist film 128 is 8.0 μm, the widths of the first and second pad metal films 127a and 127b are formed to 6.4 μm.

다음 도 2c를 참조하면, 상기 기판(110)의 상기 표시 영역(D)에는 상기 제2 금속막(124b) 상에 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어진 제3 금속막(124c)이 형성되고, 상기 제5 금속막(125b) 상에는 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어진 제6 금속막(125c)이 형성된다. 이로써, 상기 기판(110) 상에는 상기 제1 내지 제3 금속막(124a, 124b, 124c)으로 이루어진 3 중막 구조의 소오스 전극(124)이 형성되고, 상기 제4 내지 제6 금속막(125a, 125b, 125c)으로 이루어진 3 중막 구조의 드레인 전극(125)이 형성된다. 따라서, 상기 기판(110) 상에는 poly-si TFT(120)가 완성된다.Next, referring to FIG. 2C, a third metal film 124c made of tungsten molybdenum (MoW) is formed on the second metal film 124b in the display area D of the substrate 110. A sixth metal film 125c made of tungsten molybdenum (MoW) is formed on the fifth metal film 125b. As a result, a source electrode 124 having a triple layer structure including the first to third metal layers 124a, 124b, and 124c is formed on the substrate 110, and the fourth to sixth metal layers 125a and 125b are formed. , A drain electrode 125 having a triple film structure consisting of 125c is formed. Thus, the poly-si TFT 120 is completed on the substrate 110.

또한, 상기 패드 영역(P)에는 상기 제1 및 제2 패드 금속막(127a, 127b) 위로 제3 패드 금속막(127c)이 형성되고, 이후 상기 제3 패드 금속막(127c) 상에 제2 포토 레지스터막(129)이 형성된다. 상기 제2 포토 레지스터막(129)은 상기 제1 포토 레지스터막(129)보다 노광량을 적게하여 상기 제1 포토 레지스터막(128)의 폭보다 크게 패터닝된다. 예를 들어, 상기 제1 포토 레지스터막(128)의 폭이 8.0㎛일경우, 상기 제2 포토 레지스터막(129)의 폭은 9.0㎛로 형성되는 것이 바람직하다.In addition, a third pad metal layer 127c is formed on the first and second pad metal layers 127a and 127b in the pad region P, and then a second pad layer is formed on the third pad metal layer 127c. The photoresist film 129 is formed. The second photoresist layer 129 is patterned to be larger than the width of the first photoresist layer 128 by lowering an exposure amount than the first photoresist layer 129. For example, when the width of the first photoresist film 128 is 8.0 μm, the width of the second photoresist film 129 is preferably 9.0 μm.

상기 제2 포토 레지스터막(129)이 형성된 상태에서 상기 제3 패드 금속막(127c)을 습식 식각(wet etching)하면, 상기 제1 및 제2 패드 금속막(127a, 127b)의 노출된 면을 완전하게 커버하는 상기 제3 패드 금속막(127c)이 형성된다. 여기서, 상기 제3 패드 금속막(127c)은 8.4㎛ 정도의 폭을 갖는다. 이후, 상기 제2 포토 레지스터막(129)을 제거하면, 상기 기판(110)의 상기 패드 영역(P)에는 제1 내지 제3 패드 금속막(127a, 127b, 127c)으로 이루어진 데이터 패드 전극(127)이 형성된다.When the third pad metal layer 127c is wet etched while the second photoresist layer 129 is formed, exposed surfaces of the first and second pad metal layers 127a and 127b are formed. The third pad metal film 127c is formed to completely cover. Here, the third pad metal film 127c has a width of about 8.4 μm. Subsequently, when the second photoresist layer 129 is removed, the pad region P of the substrate 110 includes data pad electrodes 127 including first to third pad metal layers 127a, 127b, and 127c. ) Is formed.

도 2d를 참조하면, 상기 poly-si TFT(120)가 형성된 상기 표시 영역(D) 및 상기 데이터 패드 전극(127)이 형성된 상기 패드 영역(P)의 전면에 걸쳐서 유기 절연막으로 이루어진 보호막(130)이 형성된다. 상기 보호막(130)에는 상기 poly-si TFT(120)의 상기 드레인 전극(125)을 노출시키는 제3 콘택홀(135)이 형성되고, 상기 데이터 패드 전극(127)을 노출시키는 제4 콘택홀(136)이 형성된다.Referring to FIG. 2D, a passivation layer 130 made of an organic insulating layer is formed over the entire surface of the display area D in which the poly-si TFT 120 is formed and the pad area P in which the data pad electrode 127 is formed. Is formed. A third contact hole 135 exposing the drain electrode 125 of the poly-si TFT 120 is formed in the passivation layer 130, and a fourth contact hole exposing the data pad electrode 127. 136 is formed.

따라서, 도 1에 도시된 바와 같이 상기 보호막(130) 상에 형성되는 투명 전극은 상기 제3 콘택홀(135)을 통해 상기 드레인 전극(125)과 연결되어 화소 전극(140)으로 이용되고, 상기 제4 콘택홀(136)을 통해 상기 데이터 패드 전극(127)과 연결되어 패드용 도전막(145)으로 이용된다. 이로써, 액정표시장치에 이용되는 어레이 기판(100)이 완성된다.Accordingly, as shown in FIG. 1, the transparent electrode formed on the passivation layer 130 is connected to the drain electrode 125 through the third contact hole 135 and used as the pixel electrode 140. The pad is connected to the data pad electrode 127 through the fourth contact hole 136 and used as the pad conductive layer 145. Thus, the array substrate 100 used for the liquid crystal display device is completed.

도 3은 도 1에 도시된 어레이 기판을 갖는 액정표시장치를 나타낸 단면도이다.FIG. 3 is a cross-sectional view of a liquid crystal display having the array substrate shown in FIG. 1.

도 3을 참조하면, 액정표시장치(400)는 어레이 기판(100), 상기 어레이 기판(100)과 마주보는 컬러필터기판(200) 및 상기 어레이 기판(100)과 상기 컬러필터기판(200)과의 사이에 개재되는 액정층(300)으로 이루어진다. 상기 액정표시장치(400)는 상기 어레이 기판(100)과 상기 컬러필터기판(200)이 마주보고 상기 액정층(300)이 개재되어 있는 표시 영역(D)과 상기 어레이 기판(100)만 존재하는 패드 영역(P)으로 구분된다.Referring to FIG. 3, the liquid crystal display device 400 includes an array substrate 100, a color filter substrate 200 facing the array substrate 100, an array substrate 100, and a color filter substrate 200. It consists of a liquid crystal layer 300 interposed between. The liquid crystal display device 400 includes only the display area D and the array substrate 100 in which the array substrate 100 and the color filter substrate 200 face each other and the liquid crystal layer 300 is interposed therebetween. The pad area P is divided.

상기 어레이 기판(100)은 제1 기판(110) 상에 상기 표시 영역(D)과 대응하여 poly-si TFT(120) 및 화소전극(140)으로 이루어진 단위 화소가 매트릭스 형태로 형성된 기판이다. 구체적으로, 상기 기판(110) 상에는 poly-si층(121), 게이트 절연막(122) 및 게이트 전극(123)이 순차적으로 적층된다. 상기 게이트 전극(123)이 형성된 상기 게이트 절연막(122) 상에는 상기 poly-si층(121)의 일부분을 노출시키는 제1 및 제2 콘택홀(126a, 126b)이 형성된 층간 절연막(126)이 형성된다. 이후, 상기 층간 절연막(126) 상에는 상기 제1 및 제2 콘택홀(126a, 126b)을 통해 상기 poly-si층(121)과 전기적으로 연결된 소오스 및 드레인 전극(124, 125)이 각각 형성된다.The array substrate 100 is a substrate on which a unit pixel including a poly-si TFT 120 and a pixel electrode 140 is formed in a matrix form on the first substrate 110 to correspond to the display area D. FIG. In detail, the poly-si layer 121, the gate insulating layer 122, and the gate electrode 123 are sequentially stacked on the substrate 110. An interlayer insulating layer 126 having first and second contact holes 126a and 126b exposing portions of the poly-si layer 121 is formed on the gate insulating layer 122 on which the gate electrode 123 is formed. . Thereafter, source and drain electrodes 124 and 125 electrically connected to the poly-si layer 121 are formed on the interlayer insulating layer 126 through the first and second contact holes 126a and 126b, respectively.

여기서, 상기 소오스 및 드레인 전극(124, 125)은 3 중막 구조를 갖는다. 즉, 상기 소오스 전극(124)은 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어진 제1 금속막(124a), 알루미늄-네오디뮴(AlNd)으로 이루어진 제2 금속막(124b) 및 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어진 제3 금속막(124c)을 구비한다. 또한, 상기 드레인 전극(125)은 제4 내지 제6 금속막(125a, 125b, 125c)이 순차적으로 적층된 구조를 갖는다. 상기 제4 내지 제6 금속막(125a, 125b, 125c)은 각각 몰디브덴 텅스텐(MoW), 알루미늄-네오디뮴(AlNd), 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어진다.Here, the source and drain electrodes 124 and 125 have a triple layer structure. That is, the source electrode 124 is formed of a first metal film 124a made of tungsten molybdenum (MoW), a second metal film 124b made of aluminum-neodymium (AlNd), and a tungsten made of tungsten molybdenum (MoW). Three metal films 124c are provided. In addition, the drain electrode 125 has a structure in which the fourth to sixth metal films 125a, 125b, and 125c are sequentially stacked. The fourth to sixth metal layers 125a, 125b, and 125c each include molybdenum tungsten (MoW), aluminum-neodymium (AlNd), and molybdenum tungsten (MoW).

이후, 소오스 및 드레인 전극(124, 125)이 형성된 상기 기판(110) 상에는 상기 드레인 전극(125)의 일부분을 노출시키는 제3 콘택홀(135)이 형성된 보호막(130)이 형성된다. 다음, 상기 보호막(130) 상에는 상기 제3 콘택홀(135)을 통해 상기 드레인 전극(125)과 전기적으로 연결되는 투명 전극인 화소 전극(140)이 형성된다.Thereafter, a passivation layer 130 is formed on the substrate 110 on which the source and drain electrodes 124 and 125 are formed, and the third contact hole 135 is formed to expose a portion of the drain electrode 125. Next, the pixel electrode 140 is formed on the passivation layer 130, which is a transparent electrode electrically connected to the drain electrode 125 through the third contact hole 135.

또한, 상기 제1 기판(110) 상에는 상기 패드 영역(P)에 대응하여 데이터 패드 전극(127) 또는 게이트 패드 전극이 형성된다. 여기서는, 상기 데이터 패드 전극(127) 만을 도시하였다. 구체적으로, 상기 제1 기판(110) 상에는 상기 제1 및 제2 금속막(124a, 124b) 또는 제4 및 제5 금속막(125a, 125b)과 동일한 공정 상에서 형성되는 제1 및 제2 패드 금속막(127a, 127b)이 형성된다. 이후, 상기 제2 패드 금속막(127b)이 형성된 상기 제1 기판(100) 상에는 상기 제1 및 제2 패드 금속막(127a, 127b)의 노출된 면을 완전하게 커버하는 제3 패드 금속막(127c)이 형성된다. 이로써, 데이터 패드 전극(127)이 형성된다.In addition, a data pad electrode 127 or a gate pad electrode is formed on the first substrate 110 to correspond to the pad region P. FIG. Here, only the data pad electrode 127 is shown. Specifically, the first and second pad metals are formed on the first substrate 110 in the same process as the first and second metal films 124a and 124b or the fourth and fifth metal films 125a and 125b. Films 127a and 127b are formed. Subsequently, a third pad metal layer (not shown) may completely cover exposed surfaces of the first and second pad metal layers 127a and 127b on the first substrate 100 on which the second pad metal layer 127b is formed. 127c) is formed. As a result, the data pad electrode 127 is formed.

이후, 상기 데이터 패드 전극(127)이 형성된 상기 패드 영역(P)에는 상기 제3 패드 금속막(127c)의 일부분을 노출시키는 제4 콘택홀(136)이 형성된 보호막(130)이 형성된다. 다음, 상기 보호막(130) 상에는 상기 제4 콘택홀(136)을 통해 상기 데이터 패드 전극(127)과 전기적으로 연결된 패드용 도전막(145)이 형성된다. 이로써, 어레이 기판(100)이 완성된다.Thereafter, a passivation layer 130 having a fourth contact hole 136 exposing a portion of the third pad metal layer 127c is formed in the pad region P on which the data pad electrode 127 is formed. Next, a pad conductive layer 145 electrically connected to the data pad electrode 127 through the fourth contact hole 136 is formed on the passivation layer 130. Thus, the array substrate 100 is completed.

도시된 바와 같이, 상기 제3 패드 금속막(127c)이 상기 제2 패드 금속막(127b)은 완전하게 커버함으로써, 상기 패드용 도전막(145)과 상기 제2 패드 금속막(127b)이 직접 접촉되지 않게 된다. 따라서, 케미컬 또는 습기 등의 침투에 의해 상기 패드용 도전막(145)과 상기 제2 패드 금속막(127b) 사이에서 전지 반응이 일어나는 것을 방지할 수 있다.As shown in the drawing, the third pad metal film 127c completely covers the second pad metal film 127b, so that the pad conductive film 145 and the second pad metal film 127b directly contact each other. No contact is made. Therefore, the battery reaction can be prevented from occurring between the pad conductive film 145 and the second pad metal film 127b due to penetration of chemical or moisture.

한편, 상기 컬러필터기판(200)은 제2 기판(210) 상에 상기 표시 영역(D)과 대응하여 R, G, B 색화소로 이루어진 컬러필터(220) 및 상기 컬러필터(220) 상에 균일하게 형성되어 상기 화소 전극(140)과 마주보는 공통 전극(230)이 형성된 기판이다.Meanwhile, the color filter substrate 200 is formed on the color filter 220 and the color filter 220 formed of R, G, and B color pixels corresponding to the display area D on the second substrate 210. The substrate is uniformly formed to form the common electrode 230 facing the pixel electrode 140.

상기 어레이 기판(100)과 상기 컬러필터기판(200)이 완성되면, 상기 화소 전극(140)과 상기 공통 전극(230)이 마주보도록 상기 어레이 기판(100)과 상기 컬러필터기판(200)이 결합된다. 이후, 상기 어레이 기판(100)과 상기 컬러필터기판(200)과의 사이에는 상기 액정층(300)이 개재된다. 이로써, 상기 액정표시장치(400)가 완성된다.When the array substrate 100 and the color filter substrate 200 are completed, the array substrate 100 and the color filter substrate 200 are coupled to face the pixel electrode 140 and the common electrode 230. do. Thereafter, the liquid crystal layer 300 is interposed between the array substrate 100 and the color filter substrate 200. As a result, the liquid crystal display device 400 is completed.

이와 같은 어레이 기판 및 이의 제조 방법에 따르면, 데이터 라인, 소오스/드레인 전극 및 데이터 패드 전극을 포함하는 데이터 배선은 제1 금속막과 그 위에 적층된 제2 금속막 및 제1 및 제2 금속막의 노출된 면을 완전하게 둘러싸는 제3 금속막으로 이루어진다. 또한, 패드용 도전막은 제3 금속막의 일부분을 노출하는 패드 콘택홀을 통해 제3 금속막과 접속된다.According to such an array substrate and a method of manufacturing the same, a data line including a data line, a source / drain electrode, and a data pad electrode may be configured to expose the first metal film, the second metal film stacked thereon, and the first and second metal films. And a third metal film completely surrounding the surface. In addition, the pad conductive film is connected to the third metal film through a pad contact hole exposing a portion of the third metal film.

따라서, 상기 데이터 라인이 이물질에 의해서 오픈되는 현상을 방지할 수 있다. 또한, 상기 패드용 도전막과 제2 금속막 사이의 전지 반응을 방지함으로써 상기 어레이 기판의 불량률을 감소시킬 수 있다.Therefore, the phenomenon in which the data line is opened by the foreign matter can be prevented. In addition, a failure rate of the array substrate may be reduced by preventing a battery reaction between the pad conductive film and the second metal film.

이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described with reference to the embodiments above, those skilled in the art will understand that the present invention can be variously modified and changed without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. Could be.

Claims (6)

다수의 단위 화소가 형성되는 표시 영역 및 상기 표시 영역의 외곽에 위치하여 상기 단위 화소에 인가되는 화상 신호를 입력받기 위한 패드 영역을 포함하는 기판;A substrate including a display area in which a plurality of unit pixels are formed and a pad area positioned outside the display area to receive an image signal applied to the unit pixels; 상기 표시 영역 및 패드 영역에서 순차적으로 적층된 제1 내지 제3 금속막으로 이루어지고, 상기 패드 영역에서 상기 제3 금속막이 상기 제1 및 제2 금속막의 노출면을 커버하도록 적층된 배선층;A wiring layer including first to third metal films sequentially stacked in the display area and the pad area, wherein the third metal film is laminated on the pad area to cover the exposed surfaces of the first and second metal films; 상기 기판 및 배선층 상에 형성되고, 상기 제3 금속막의 일부분을 노출하는 콘택홀이 형성된 보호막; 및A passivation layer formed on the substrate and the wiring layer and having a contact hole exposing a portion of the third metal layer; And 상기 콘택홀의 측벽 및 노출된 상기 제3 금속막 상에 형성되어 상기 배선층과 전기적으로 접속되는 도전막을 포함하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.And a conductive film formed on the sidewalls of the contact hole and the exposed third metal film and electrically connected to the wiring layer. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제3 금속막은 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어지고, 상기 제2 금속막은 알루미늄-네오디뮴(AlNd)으로 이루어진 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 1, wherein the first and third metal films are made of molybdenum tungsten (MoW), and the second metal film is made of aluminum-neodymium (AlNd). 제1항에 있어서, 상기 표시 영역에는 폴리 실리콘층, 게이트 절연막, 게이트 전극 및 층간 절연막이 순차적으로 구비되고, 상기 제1 내지 제3 금속막으로 이루어져 상기 폴리 실리콘층과 접속되는 소오스/드레인 전극이 구비되며,The display device of claim 1, wherein a polysilicon layer, a gate insulating film, a gate electrode, and an interlayer insulating film are sequentially provided in the display area, and a source / drain electrode connected to the polysilicon layer is formed of the first to third metal films. Equipped, 상기 배선층은 상기 소오스/드레인 전극, 데이터 패드 전극 및 상기 소오스 전극 및 데이터 패드 전극을 연결하기 위한 데이터 라인으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.And the wiring layer includes the source / drain electrode, the data pad electrode, and a data line for connecting the source electrode and the data pad electrode. 다수의 단위화소가 형성되는 표시 영역 및 상기 표시 영역의 외곽에 위치한 패드 영역으로 구분되는 기판 상에 제1 내지 제3 금속막으로 이루어지고, 상기 제3 금속막이 상기 패드 영역에서 상기 제1 및 제2 금속막의 노출된 면을 둘러싸는 배선층을 형성하는 단계;A first to third metal film formed on a substrate divided into a display area in which a plurality of unit pixels are formed and a pad area positioned outside the display area, wherein the third metal film is formed in the pad area. Forming a wiring layer surrounding the exposed surface of the metal film; 상기 기판 및 배선층 상에 상기 제3 금속막의 일부분을 노출하는 콘택홀을 갖는 보호막을 형성하는 단계; 및Forming a passivation layer on the substrate and the wiring layer, the passivation layer having a contact hole exposing a portion of the third metal layer; And 상기 콘택홀의 측벽 및 노출된 상기 제3 금속막 상에 상기 배선층과 전기적으로 접속되는 도전막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판의 제조 방법.Forming a conductive film electrically connected to the wiring layer on the sidewalls of the contact hole and the exposed third metal film. 제4항에 있어서, 상기 제1 및 제3 금속막은 몰디브덴 텅스텐(MoW)으로 이루어지고, 상기 제2 금속막은 알루미늄-네오디뮴(AlNd)으로 이루어진 것을 특징으로 하는 어레이 기판의 제조 방법.The method of claim 4, wherein the first and third metal films are made of tungsten molybdenum (MoW), and the second metal film is made of aluminum-neodymium (AlNd). 제4항에 있어서, 상기 패드 영역 상에 상기 배선층을 형성하는 단계는,The method of claim 4, wherein the forming of the wiring layer on the pad area comprises: 상기 제1 금속막을 형성하는 단계;Forming the first metal film; 상기 제1 금속막 상에 상기 제2 금속막을 형성하는 단계;Forming the second metal film on the first metal film; 상기 제1 및 제2 금속막을 패터닝하는 단계; 및Patterning the first and second metal films; And 패터닝된 상기 제1 및 제2 금속막이 형성된 상기 기판 상에 상기 제1 및 제2 금속막의 노출된 면을 둘러싸는 상기 제3 금속막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판의 제조 방법.And forming the third metal film on the substrate on which the patterned first and second metal films are formed, surrounding the exposed surfaces of the first and second metal films.
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