KR20040011233A - 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치 - Google Patents
광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20040011233A KR20040011233A KR1020020044758A KR20020044758A KR20040011233A KR 20040011233 A KR20040011233 A KR 20040011233A KR 1020020044758 A KR1020020044758 A KR 1020020044758A KR 20020044758 A KR20020044758 A KR 20020044758A KR 20040011233 A KR20040011233 A KR 20040011233A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- optical fiber
- scattering
- optical
- fiber drawing
- bare
- Prior art date
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B37/00—Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
- C03B37/01—Manufacture of glass fibres or filaments
- C03B37/02—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor
- C03B37/025—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor from reheated softened tubes, rods, fibres or filaments, e.g. drawing fibres from preforms
- C03B37/027—Fibres composed of different sorts of glass, e.g. glass optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/35—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides in which light is transversely coupled into or out of the fibre or waveguide, e.g. using integrating spheres
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B37/00—Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
- C03B37/01—Manufacture of glass fibres or filaments
- C03B37/02—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor
- C03B37/025—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor from reheated softened tubes, rods, fibres or filaments, e.g. drawing fibres from preforms
- C03B37/0253—Controlling or regulating
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P40/00—Technologies relating to the processing of minerals
- Y02P40/50—Glass production, e.g. reusing waste heat during processing or shaping
- Y02P40/57—Improving the yield, e-g- reduction of reject rates
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Surface Treatment Of Glass Fibres Or Filaments (AREA)
- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
본 발명에 따른 광섬유 모재로부터 광섬유를 인출하는 시스템의 광섬유 인출 중 산란 감지 장치는, 상기 광섬유의 인출 경로 상에 설치되며, 상기 광섬유가 그 내부를 관통할 수 있도록 그 상단 및 하단에 각각 홀을 구비하는 감지 상자와; 상기 감지 상자 내에 상기 광섬유를 감싸도록 설치되며, 상기 광섬유로부터 산란된 광을 반사시키는 반사판과; 상기 반사판으로부터 입사된 광을 수렴시키는 집광기와; 상기 수렴된 광을 전기 신호로 변환하는 광검출기를 포함한다.
Description
본 발명은 광섬유에 관한 것으로서, 특히 광섬유 모재로부터 광섬유를 인출하기 위한 광섬유 인출 시스템에 관한 것이다.
광섬유 인출 공정은 대구경의 광섬유 모재를 용융시켜서 소구경의 광섬유를 고속으로 인출하는 공정이며, 상기 광섬유 모재를 용융시켜서 생성된 고온의 베어 광섬유(bare optical fiber 또는 bare glass)는 외부 요인에 의해 쉽게 영향을 받으므로, 상기 베어 광섬유의 측면으로 공기를 불어서 먼지 및 기타 이물질을 제거한다. 또한, 상기 베어 광섬유를 냉각 장치 내로 통과시켜서 온도를 낮추고, 상기 냉각된 베어 광섬유에 피복을 코팅한다.
도 1은 종래에 따른 광섬유 인출 시스템을 나타내는 측면도이다. 도 1에는 용융로(furnace, 120), 냉각기(140), 코팅기(coater, 150), 자외선 경화기(170) 및 캡스턴(capstan, 180)이 도시되어 있다.
상기 용융로(120)는 그 내부에 약 2000 ℃ 이상의 온도를 나타내는 고온 영역을 형성하며, 상기 고온 영역에 위치한 상기 광섬유 모재(110)의 일단을 용융시켜서 그로부터 베어 광섬유(130)가 생성되도록 한다.
상기 냉각기(140)는 상기 베어 광섬유(130)를 코팅하기에 적합한 온도로 냉각시키며, 냉각 튜브(tube, 미도시)를 구비하며 그 내부로 헬륨(helium) 등의 냉각 가스를 흘려준다. 또한, 상기 냉각 튜브의 내, 외벽 사이의 공간에는 냉각수 또는 액체 질소 등을 순환시켜서, 상기 냉각기(140)를 외부 환경과 단열시킨다.
상기 코팅기(150)는 그 내부에 상기 베어 광섬유(130)가 관통할 수 있는 경로가 형성되어 있으며, 상기 경로는 분위기 가스로 채워져 있다. 상기 코팅기(150)는 코팅액 저장 탱크(미도시)로부터 공급된 코팅액이 고여있는 곳을 가지며, 상기 베어 광섬유(130)는 상기 코팅액이 고여있는 곳을 관통하면서 코팅된다. 또한, 상기 코팅액은 자외선 경화수지로서 자외선이 조사되면 경화되는 특성을 가지며, 선택적으로 가열에 의해 경화되는 열경화성 수지를 사용할 수도 있다.
상기 자외선 경화기(170)는 상기 코팅된 베어 광섬유, 즉 광섬유(160)의 외주면에 자외선을 조사하여, 피복된 자외선 경화수지를 경화시킨다.
상기 캡스턴(180)은 상기 광섬유(160)를 소정의 힘으로 잡아 당겨서, 상기 광섬유 모재(110)로부터 상기 광섬유(160)가 일정 직경을 유지하면서 연속적으로 인출될 수 있도록 한다.
상기 광섬유(160)의 직경은 125±0.2㎛ 정도로 매우 작으며, 고속 인출시 순간적인 긁힘 현상, 광섬유 모재의 미세 품질 불량, 피복 압력 불안정 등으로 인한 광섬유 구성이 불균일해질 경우에 산란(scattering) 현상이 발생된다. 이러한 산란 현상이 심할 경우에 작업자가 육안으로 확인하고 이에 대한 조치를 할 수 있지만, 미세한 산란 현상은 육안으로 관찰하기 어려우므로 품질 불량의 요인이 된다. 또한, 이러한 산란 현상은 보는 각도에 따라 정도의 차이가 발생하므로 판별의 어려움이 있다는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 본 발명의 목적은 광섬유 인출시 발생되는 광섬유 구성의 불균일에 기인한 산란 현상을 감지함으로써, 품질 향상 및 생산성 향상을 도모할 수 있는 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치를 제공함에 있다.
상기한 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명에 따른 광섬유 모재로부터 광섬유를 인출하는 시스템의 광섬유 인출 중 산란 감지 장치는,
상기 광섬유의 인출 경로 상에 설치되며, 상기 광섬유가 그 내부를 관통할수 있도록 그 상단 및 하단에 각각 홀을 구비하는 하우징과;
상기 하우징 내에 상기 광섬유를 감싸도록 설치되며, 상기 광섬유로부터 산란된 광을 반사시키는 반사판과;
상기 반사판으로부터 입사된 광을 집속시키는 집광기와;
상기 집속된 광을 전기 신호로 변환하는 광검출기를 포함한다.
도 1은 종래에 따른 광섬유 인출 시스템을 나타내는 측면도,
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광섬유 인출 시스템의 구성을 나타내는 측면도,
도 3은 도 2에 도시된 감지 상자의 내부 구성을 나타내는 평면도,
도 4는 도 2에 도시된 감지 상자의 내부 구성을 나타내는 정면도.
이하에서는 첨부도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지기능이나 구성에 대한 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 모호하지 않게 하기 위하여 생략한다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광섬유 인출 시스템의 구성을 나타내는 측면도이며, 도 3은 도 2에 도시된 감지 상자의 내부 구성을 나타내는 평면도이고, 도 4는 도 2에 도시된 감지 상자의 내부 구성을 나타내는 정면도이다.
상기 광섬유 인출 시스템은 용융로(220), 냉각기(240), 코팅기(250), 감지 상자(270), 자외선 경화기(320) 및 캡스턴(330), 제어부(310)가 도시되어 있다.
상기 용융로(220)는 그 내부에 약 2000 ℃ 이상의 온도를 나타내는 고온 영역을 형성하며, 상기 고온 영역에 위치한 상기 광섬유 모재(210)의 일단을 용융시켜서 그로부터 베어 광섬유(230)가 생성되도록 한다.
상기 냉각기(240)는 상기 베어 광섬유(230)를 코팅하기에 적합한 온도로 냉각시키며, 냉각 튜브(tube, 미도시)를 구비하며 그 내부로 헬륨(helium) 등의 냉각가스를 흘려준다. 또한, 상기 냉각 튜브의 내, 외벽 사이의 공간에는 냉각수 또는 액체 질소 등을 순환시켜서, 상기 냉각기(240)를 외부 환경과 단열시킨다.
상기 코팅기(250)는 그 내부에 상기 베어 광섬유(230)가 관통할 수 있는 경로가 형성되어 있으며, 상기 경로는 분위기 가스로 채워져 있다. 상기 코팅기(250)는 코팅액 저장 탱크(미도시)로부터 공급된 코팅액이 고여있는 곳을 가지며, 상기 베어 광섬유(230)는 상기 코팅액이 고여있는 곳을 관통하면서 코팅된다. 또한, 상기 코팅액은 자외선 경화수지로서 자외선이 조사되면 경화되는 특성을 가지며, 선택적으로 가열에 의해 경화되는 열경화성 수지를 사용할 수도 있다.
상기 감지 상자(270)는 상부 홀(272)과 하부 홀(274)을 통해서만 외부와 통하는 밀폐된 박스 구조를 가지며, 상기 상부 홀(272)과 하부 홀(274)을 통해서 상기 코팅된 베어 광섬유, 즉 광섬유(260)가 상기 감지 상자(270)를 관통하게 된다. 상기 상부 홀(272) 및 하부 홀(274)의 직경은 상기 광섬유(260)의 직경보다 근소하게 크도록 설정함으로써 상기 상부 홀(272) 및 하부 홀(274)을 통하여 그 내부로 외부의 빛이 침투하지 못하도록 한다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 상기 감지 상자(270)는 그 내부에 반사판(280)과, 집광기(290)와, 광검출기(300)를 실장하고 있다.
상기 반사판(280)은 측면 일부가 개방된 실린더 형태, 즉 측면 개구를 갖는 C형 고리 형태를 가지며, 그 내측면에는 반사막(285)이 형성되어 있다. 상기 반사판(280)은 상기 광섬유(260)를 감싸도록 설치되며, 상기 광섬유(260)의 측면으로부터 방사되는 산란광을 그 측면 개구 방향으로 반사시킨다.
상기 집광기(290)는 상기 반사판(280)으로부터 입사된 산란광을 수렴시키며, 상기 집광기(290)로는 볼록 렌즈, 비구면 렌즈 등과 이들의 조합을 사용할 수 있다.
상기 광검출기(300)는 상기 수렴된 산란광을 검출, 즉 입사된 산란광을 전기 신호로 변환하는 기능을 수행하며, 상기 광검출기(300)로는 포토다이오드(photodiode), CCD 카메라, CdS 셀(CdS cell) 등을 사용할 수 있다.
상기 제어부(310)는 상기 전기 신호의 파워로부터 산란 정도를 파악하고, 이로부터 상기 광섬유(260)의 구성 불균일을 인식하게 된다. 상기 제어부(310)는 허용된 기준 파워값을 설정하고, 측정된 파워값이 상기 기준 파워값을 초과할 경우에 광섬유 인출 공정을 중지하거나 경보 장치(미도시)를 이용하여 이상 발생을 알리는 기능을 수행할 수 있다. 또는, 작업자가 실시간으로 공정 이상 유무를 파악할 수 있도록 모니터(미도시) 상에 상기 전기 신호의 파워값을 표시할 수 있다.
상기 자외선 경화기(320)는 상기 광섬유(260)의 외주면에 자외선을 조사하여, 피복된 자외선 경화수지를 경화시킨다. 또한, 상기 광섬유(260) 내로 입사된 자외선은 상기 광섬유(260)의 구성 불균일로 인하여 외부로 산란된다.
상기 캡스턴(330)은 상기 광섬유(260)를 소정의 힘으로 잡아 당겨서, 상기 광섬유 모재(210)로부터 상기 광섬유(260)가 일정 직경을 유지하면서 연속적으로 인출될 수 있도록 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치는 광섬유 인출시 발생되는 광섬유 구성의 불균일에 기인한 산란 현상을 감지함으로써, 품질 향상 및 생산성 향상을 도모할 수 있다는 이점이 있다.
Claims (2)
- 광섬유 모재로부터 광섬유를 인출하는 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치에 있어서,상기 광섬유의 인출 경로 상에 설치되며, 상기 광섬유가 그 내부를 관통할 수 있도록 그 상단 및 하단에 각각 홀을 구비하는 감지 상자와;상기 감지 상자 내에 상기 광섬유를 감싸도록 설치되며, 상기 광섬유로부터 산란된 광을 반사시키는 반사판과;상기 반사판으로부터 입사된 광을 수렴시키는 집광기와;상기 수렴된 광을 전기 신호로 변환하는 광검출기를 포함함을 특징으로 하는 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치.
- 제1항에 있어서,상기 전기 신호의 파워로부터 산란 정도를 파악하고, 이로부터 상기 광섬유의 구성 불균일을 인식하는 제어부를 더 포함함을 특징으로 하는 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2002-0044758A KR100516653B1 (ko) | 2002-07-29 | 2002-07-29 | 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치 |
US10/620,135 US6937326B2 (en) | 2002-07-29 | 2003-07-15 | Scattering monitor in optical fiber drawing systems |
EP03016593A EP1387159A3 (en) | 2002-07-29 | 2003-07-28 | Light scattering monitor in optical fiber drawing system |
CNB031436390A CN1203331C (zh) | 2002-07-29 | 2003-07-28 | 在光纤拉伸系统中的散射控制 |
JP2003281086A JP2004059427A (ja) | 2002-07-29 | 2003-07-28 | 光ファイバ線引きシステムのためのモニタリングシステム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2002-0044758A KR100516653B1 (ko) | 2002-07-29 | 2002-07-29 | 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040011233A true KR20040011233A (ko) | 2004-02-05 |
KR100516653B1 KR100516653B1 (ko) | 2005-09-22 |
Family
ID=30113206
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2002-0044758A KR100516653B1 (ko) | 2002-07-29 | 2002-07-29 | 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6937326B2 (ko) |
EP (1) | EP1387159A3 (ko) |
JP (1) | JP2004059427A (ko) |
KR (1) | KR100516653B1 (ko) |
CN (1) | CN1203331C (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9442007B2 (en) * | 2013-05-06 | 2016-09-13 | Phoseon Technology, Inc. | Method and system for monitoring ultraviolet light for a fiber cure system |
US11136256B2 (en) * | 2017-07-25 | 2021-10-05 | Made In Space, Inc. | System and method for manufacturing optical fiber |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4021217A (en) * | 1975-07-08 | 1977-05-03 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Detecting optical fiber defects |
JPS56155828A (en) * | 1980-05-07 | 1981-12-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Detector for fault of optical fiber |
DE3104076A1 (de) * | 1981-02-06 | 1982-10-21 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | "vorrichtung zur kontinuierlichen untersuchung von lichtleitfasern" |
JPS5913905A (ja) * | 1982-07-16 | 1984-01-24 | Mitsubishi Electric Corp | 反射受光装置 |
JPS61204535A (ja) * | 1984-12-24 | 1986-09-10 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバの検査装置 |
US4924087A (en) * | 1988-12-19 | 1990-05-08 | Hughes Aircraft Company | Optic fiber buffer defect detection system |
JPH05238772A (ja) * | 1992-02-24 | 1993-09-17 | Fujikura Ltd | 光ファイバの線引き方法 |
JPH05310447A (ja) * | 1992-05-13 | 1993-11-22 | Fujikura Ltd | 光ファイバの気泡検出装置 |
JPH08166356A (ja) * | 1994-12-15 | 1996-06-25 | Fujikura Ltd | 光ファイバの異常検出方法 |
JPH10282016A (ja) * | 1997-03-31 | 1998-10-23 | Fujikura Ltd | 光ファイバ紡糸装置 |
BR9809858A (pt) * | 1997-05-22 | 2000-06-27 | Corning Inc | Processos e aparelho para detectar defeitos superficiais de uma fibra ótica. |
EP0905477A3 (en) * | 1997-09-25 | 2000-08-09 | Corning Incorporated | Methods and apparatus for detecting core/cladding interfaces in optical waveguide blanks |
JPH11223574A (ja) * | 1998-02-05 | 1999-08-17 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 散乱光の測定方法および測定装置 |
-
2002
- 2002-07-29 KR KR10-2002-0044758A patent/KR100516653B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-07-15 US US10/620,135 patent/US6937326B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-07-28 CN CNB031436390A patent/CN1203331C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-07-28 EP EP03016593A patent/EP1387159A3/en not_active Withdrawn
- 2003-07-28 JP JP2003281086A patent/JP2004059427A/ja not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100516653B1 (ko) | 2005-09-22 |
CN1203331C (zh) | 2005-05-25 |
US6937326B2 (en) | 2005-08-30 |
EP1387159A3 (en) | 2006-06-14 |
CN1483688A (zh) | 2004-03-24 |
JP2004059427A (ja) | 2004-02-26 |
US20040017558A1 (en) | 2004-01-29 |
EP1387159A2 (en) | 2004-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6614516B2 (en) | Inspection system for optical components | |
US20200033188A1 (en) | Divergence angle measurement device, divergence angle measurement method, laser apparatus, and laser system | |
KR960006193B1 (ko) | 반도체 칩 위치 검출 장치 | |
KR100516653B1 (ko) | 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치 | |
CN212207144U (zh) | 用于检测玻璃片上的表面缺陷的设备 | |
CN114113113A (zh) | 一种用于表面微缺陷定位与识别的三光源显微系统装置 | |
KR20160101317A (ko) | 표면 검사 장치 | |
JPH10267859A (ja) | 光ファイバ被覆層内の欠陥検出装置及び検査方法 | |
US6424409B1 (en) | Methods and apparatus for detecting surface defects of an optical fiber | |
JP2010139441A (ja) | 光ファイバの異常部検出装置、光ファイバ製造装置、光ファイバの異常部検出方法 | |
SE515480C2 (sv) | Metod och anordning för att mäta förlusteffekten i ett fiberoptiskt kontaktdon | |
JP4774246B2 (ja) | 光分散を用いた熱ガラス体厚の無接触光学測定方法及び装置 | |
KR20180012359A (ko) | 유리기판 미세 결함 검출 장치 | |
KR102539446B1 (ko) | 배터리 셀에 대한 온도 측정 장치 및 그 방법 | |
KR101690598B1 (ko) | 발열체 크기측정장치 | |
JPS63502613A (ja) | 製造中の連続紙の縁裂け目を検知する装置 | |
JPH11271175A (ja) | 被覆層で包囲された光ファイバ内の欠陥検出装置及び方法 | |
WO2022139410A1 (ko) | 배터리 셀에 대한 온도 측정 장치 및 그 방법 | |
KR101237528B1 (ko) | 디스플레이 장치의 광특성 분석장치 | |
KR100357620B1 (ko) | 자외선 경화장치 감시 시스템 | |
JP5274634B2 (ja) | 光ファイバ紡糸ノズル及びそれを用いた光ファイバの検査方法 | |
JP2000028481A (ja) | 光ファイバ上の表面特性を検出するための方法及び装置 | |
CA2391373C (en) | Inspection system for optical components | |
JP2000321167A (ja) | 光ファイバの異物検知方法 | |
KR20190106830A (ko) | 카메라 일체형 광학 센서 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |