JPH05238772A - 光ファイバの線引き方法 - Google Patents
光ファイバの線引き方法Info
- Publication number
- JPH05238772A JPH05238772A JP7215892A JP7215892A JPH05238772A JP H05238772 A JPH05238772 A JP H05238772A JP 7215892 A JP7215892 A JP 7215892A JP 7215892 A JP7215892 A JP 7215892A JP H05238772 A JPH05238772 A JP H05238772A
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- light
- bubbles
- drawn
- optical
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- Pending
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B37/00—Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
- C03B37/01—Manufacture of glass fibres or filaments
- C03B37/02—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor
- C03B37/025—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor from reheated softened tubes, rods, fibres or filaments, e.g. drawing fibres from preforms
- C03B37/0253—Controlling or regulating
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Manufacture, Treatment Of Glass Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 線引きされた光ファイバ内のアワの存在を容
易に見いだすことができる光ファイバの線引き方法を提
供する。 【構成】 線引き直後の光ファイバ２を取囲んで光ファ
イバアレイ４を位置させ、この光ファイバアレイ４を構
成する各光ファイバの先端が線引き中の光ファイバ２の
方向に向かうようにする。光ファイバアレイ４を構成す
る多数の光ファイバの他端は集束されて光強度検出器６
に接続される。線引き炉３で発生した光は光ファイバプ
リフォーム１から線引き中の光ファイバ２に伝達され、
この光ファイバ２内にアワが存在すると、この光は散乱
光となって光ファイバ外に飛出し、光ファイバアレイ４
を経て光強度検出器６に出力として現れる。この出力を
モニタすることによりアワの存在を知ることができる。
易に見いだすことができる光ファイバの線引き方法を提
供する。 【構成】 線引き直後の光ファイバ２を取囲んで光ファ
イバアレイ４を位置させ、この光ファイバアレイ４を構
成する各光ファイバの先端が線引き中の光ファイバ２の
方向に向かうようにする。光ファイバアレイ４を構成す
る多数の光ファイバの他端は集束されて光強度検出器６
に接続される。線引き炉３で発生した光は光ファイバプ
リフォーム１から線引き中の光ファイバ２に伝達され、
この光ファイバ２内にアワが存在すると、この光は散乱
光となって光ファイバ外に飛出し、光ファイバアレイ４
を経て光強度検出器６に出力として現れる。この出力を
モニタすることによりアワの存在を知ることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光ファイバの線引き
方法に関するもので、線引き時に光ファイバ内のアワの
存在を検出して、それを除去することにより高品質の光
ファイバを得るようにしたものである。
方法に関するもので、線引き時に光ファイバ内のアワの
存在を検出して、それを除去することにより高品質の光
ファイバを得るようにしたものである。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバプリフォームを線引きして光
ファイバとする際にアワが発生することがある。このア
ワの発生は、プリフォーム中の微小な空隙が線引き時の
高熱（例えば１９００℃）で膨張してしまうことによる
と考えられている。アワが発生すると当然のことながら
光ファイバの光学特性、機械特性が劣化する。従来のア
ワの検出方法は、光ファイバの外径をモニタし、その変
動から検出していた。
ファイバとする際にアワが発生することがある。このア
ワの発生は、プリフォーム中の微小な空隙が線引き時の
高熱（例えば１９００℃）で膨張してしまうことによる
と考えられている。アワが発生すると当然のことながら
光ファイバの光学特性、機械特性が劣化する。従来のア
ワの検出方法は、光ファイバの外径をモニタし、その変
動から検出していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、線引き速度
の高速化、各種ファイバの登場により検出が困難になっ
てきた。例えば、外径が１０００μｍぐらいの大径ファ
イバではアワが発生しても、その外径は数μｍしか変動
しないためほとんど検出されないということである。
の高速化、各種ファイバの登場により検出が困難になっ
てきた。例えば、外径が１０００μｍぐらいの大径ファ
イバではアワが発生しても、その外径は数μｍしか変動
しないためほとんど検出されないということである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明は、以上の観点
にたってなされたもので、その特徴とする請求項１記載
の発明は、線引き直後の光ファイバからの散乱光を取出
し、その強度変化を測定しつつ線引きする光ファイバの
線引き方法にある。また、その特徴とする請求項２記載
の発明は、線引き直後の光ファイバを取囲んで光ファイ
バアレイを配置させて、各光ファイバの先端が線引きさ
れた光ファイバの方向を向くようになすとともに、それ
らの他端を集束して光強度検出器に接続し、得られる光
強度の変化を測定しつつ線引きする光ファイバの線引き
方法にある。
にたってなされたもので、その特徴とする請求項１記載
の発明は、線引き直後の光ファイバからの散乱光を取出
し、その強度変化を測定しつつ線引きする光ファイバの
線引き方法にある。また、その特徴とする請求項２記載
の発明は、線引き直後の光ファイバを取囲んで光ファイ
バアレイを配置させて、各光ファイバの先端が線引きさ
れた光ファイバの方向を向くようになすとともに、それ
らの他端を集束して光強度検出器に接続し、得られる光
強度の変化を測定しつつ線引きする光ファイバの線引き
方法にある。
【０００５】
【作用】アワが発生すると、この部分は発光する。それ
は線引き炉の熱で発生する光がプリフォームから光ファ
イバに伝えられ、アワの部分で散乱するためであるが、
この散乱光を取出すことにより、アワの存在が確認され
る。
は線引き炉の熱で発生する光がプリフォームから光ファ
イバに伝えられ、アワの部分で散乱するためであるが、
この散乱光を取出すことにより、アワの存在が確認され
る。
【０００６】
【実施例】図１は、この発明による線引き方法を説明す
るための概略図である。図において、１は光ファイバプ
リフォームで、線引き炉３により加熱溶融され線引きさ
れて光ファイバ２となる。４は光ファイバアレイで多数
の光ファイバからなり、こりら光ファイバの一端は円筒
体５の側壁に形成された多数の孔にそれぞれ嵌挿固着さ
れて、各光ファイバの先端部が円筒体５の中心を向くよ
うになされており、また、各光ファイバの他端は集束さ
れて光強度検出器６に接続されている。そして、線引き
された光ファイバ２は円筒体５の中心を通過し、次いで
図示しないがＵＶ樹脂などによって被覆された後、ボビ
ンに巻き取られる。
るための概略図である。図において、１は光ファイバプ
リフォームで、線引き炉３により加熱溶融され線引きさ
れて光ファイバ２となる。４は光ファイバアレイで多数
の光ファイバからなり、こりら光ファイバの一端は円筒
体５の側壁に形成された多数の孔にそれぞれ嵌挿固着さ
れて、各光ファイバの先端部が円筒体５の中心を向くよ
うになされており、また、各光ファイバの他端は集束さ
れて光強度検出器６に接続されている。そして、線引き
された光ファイバ２は円筒体５の中心を通過し、次いで
図示しないがＵＶ樹脂などによって被覆された後、ボビ
ンに巻き取られる。
【０００７】こうした光ファイバの線引き中、線引き炉
３の熱によって発光した光はプリフォーム１から光ファ
イバ２内を伝搬するが、光ファイバ２内にアワが存在す
ると、このアワによって散乱する。この散乱光は線引き
された光ファイバ２が円筒体５の中心を通過したときに
光ファイバアレイ４に伝わり光強度検出器６に出力され
る。
３の熱によって発光した光はプリフォーム１から光ファ
イバ２内を伝搬するが、光ファイバ２内にアワが存在す
ると、このアワによって散乱する。この散乱光は線引き
された光ファイバ２が円筒体５の中心を通過したときに
光ファイバアレイ４に伝わり光強度検出器６に出力され
る。
【０００８】（実験例）光ファイバアレイ４用として、
外径１２５μｍ、コア径１００μｍ、比屈折率差１％の
ＧＩ型光ファイバ１０００本を用意した。一方、内径５
０ｍｍ、外径６０ｍｍの円筒体５の側壁に１０００個の
孔をあけて、この孔に上記光ファイバを嵌挿して接着剤
で固定して各光ファイバの先端が線引きされた光ファイ
バ２の方を向くようにした。そして各光ファイバの他端
を集束させ光強度検出器６に接続した。この円筒体５の
中心に線引き直後の光ファイバ２を通過させて、光ファ
イバからの光を光ファイバアレイ４を介して光強度検出
器６に取出すようにした。線引き中、光強度検出器６の
出力は、通常は−４０ｄＢ程度であったが、−３０〜−
１５ｄＢに変動することがあり、この出力低下部分を調
べたところアワが発生していた。
外径１２５μｍ、コア径１００μｍ、比屈折率差１％の
ＧＩ型光ファイバ１０００本を用意した。一方、内径５
０ｍｍ、外径６０ｍｍの円筒体５の側壁に１０００個の
孔をあけて、この孔に上記光ファイバを嵌挿して接着剤
で固定して各光ファイバの先端が線引きされた光ファイ
バ２の方を向くようにした。そして各光ファイバの他端
を集束させ光強度検出器６に接続した。この円筒体５の
中心に線引き直後の光ファイバ２を通過させて、光ファ
イバからの光を光ファイバアレイ４を介して光強度検出
器６に取出すようにした。線引き中、光強度検出器６の
出力は、通常は−４０ｄＢ程度であったが、−３０〜−
１５ｄＢに変動することがあり、この出力低下部分を調
べたところアワが発生していた。
【０００９】
【発明の効果】この発明による線引き方法は、線引き炉
の高熱によって発生する光が光ファイバプリフォームか
ら光ファイバに伝達され、光ファイバ内にアワが存在す
ると、この光が散乱光として光ファイバ外に飛出すこと
を利用して、この散乱光の強度を測定し、その強度の程
度からアワの存在を見いだすので高い確率でアワを認識
できる。
の高熱によって発生する光が光ファイバプリフォームか
ら光ファイバに伝達され、光ファイバ内にアワが存在す
ると、この光が散乱光として光ファイバ外に飛出すこと
を利用して、この散乱光の強度を測定し、その強度の程
度からアワの存在を見いだすので高い確率でアワを認識
できる。
【図１】この発明による光ファイバの線引き方法を示す
説明図である。
説明図である。
１ 光ファイバプリフォーム ２ 光ファイバ ３ 線引き炉 ４ 光ファイバアレイ ５ 円筒体 ６ 光強度検出器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 社本 尚樹 千葉県佐倉市六崎1440番地 藤倉電線株式 会社佐倉工場内 (72)発明者 真田 和夫 千葉県佐倉市六崎1440番地 藤倉電線株式 会社佐倉工場内 (72)発明者 李 順吉 千葉県佐倉市六崎1440番地 藤倉電線株式 会社佐倉工場内
Claims (2)
- 【請求項１】 線引き直後の光ファイバからの散乱光を
取出し、その強度変化を測定しつつ線引きすることを特
徴とする光ファイバの線引き方法。 - 【請求項２】 線引き直後の光ファイバを取囲んで光フ
ァイバアレイを配置させて、各光ファイバの先端が線引
きされた光ファイバの方向を向くようになすとともに、
それらの他端を集束して光強度検出器に接続し、得られ
る光強度の変化を測定しつつ線引きすることを特徴とす
る光ファイバの線引き方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7215892A JPH05238772A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 光ファイバの線引き方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7215892A JPH05238772A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 光ファイバの線引き方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05238772A true JPH05238772A (ja) | 1993-09-17 |
Family
ID=13481173
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7215892A Pending JPH05238772A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 光ファイバの線引き方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05238772A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100516653B1 (ko) * | 2002-07-29 | 2005-09-22 | 삼성전자주식회사 | 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치 |
| KR100877647B1 (ko) * | 2007-02-02 | 2009-01-09 | 엘에스전선 주식회사 | 광섬유 인선공정에서 광섬유 클래드층의 보이드 결함 감시장치 및 그 방법 |
-
1992
- 1992-02-24 JP JP7215892A patent/JPH05238772A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100516653B1 (ko) * | 2002-07-29 | 2005-09-22 | 삼성전자주식회사 | 광섬유 인출 시스템을 위한 산란 감지 장치 |
| KR100877647B1 (ko) * | 2007-02-02 | 2009-01-09 | 엘에스전선 주식회사 | 광섬유 인선공정에서 광섬유 클래드층의 보이드 결함 감시장치 및 그 방법 |
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