KR20040006730A - 백바이어스 전압 발생장치 - Google Patents

백바이어스 전압 발생장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20040006730A
KR20040006730A KR1020020041087A KR20020041087A KR20040006730A KR 20040006730 A KR20040006730 A KR 20040006730A KR 1020020041087 A KR1020020041087 A KR 1020020041087A KR 20020041087 A KR20020041087 A KR 20020041087A KR 20040006730 A KR20040006730 A KR 20040006730A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
bias voltage
back bias
command
control signal
pumping
Prior art date
Application number
KR1020020041087A
Other languages
English (en)
Inventor
윤지윤
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR1020020041087A priority Critical patent/KR20040006730A/ko
Publication of KR20040006730A publication Critical patent/KR20040006730A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4074Power supply or voltage generation circuits, e.g. bias voltage generators, substrate voltage generators, back-up power, power control circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/143Detection of memory cassette insertion or removal; Continuity checks of supply or ground lines; Detection of supply variations, interruptions or levels ; Switching between alternative supplies
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/145Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
    • G11C5/146Substrate bias generators

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명의 백바이어스 전압 발생장치는 디램 셀이 액티브 및 프리차지 될 때 백바이어스 전압이 순간적으로 하강 또는 상승하므로 액티브 명령 및 프리차지 명령에 동기하여 액티브 및 프리차지시 발생되는 변화 방향과 반대로 미리 백바이어스 전압을 일정 수준 상승 또는 하강 시켜준다. 이로써, 두 백바이어스 전압 변화가 서로 상쇄되어 액티브 및 프리차지시 백바이어스 전압이 안정된 값을 가질 수 있게 된다.

Description

백바이어스 전압 발생장치{Back bias voltage generating device}
본 발명은 디램(DRAM)에서의 백바이어스 발생장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 디램 셀이 가지는 리키지 전류를 일정하게 하기 위해 디램 셀이 액티브시와 프리차지시에 백바이어스 전위(VBB)를 제어하는 백바이어스 발생장치에 관한 것이다.
도 1은 종래 백바이어스 발생장치의 구성을 나타내는 도면이다.
백바이어스 전압 검출부(12)(이하, 검출부라 함)가 백바이어스 전압 펌핑부(18)(이하, 펌핑부라 함)에서 발생되는 백바이어스 전압의 레벨을 검출하여 출력하면 백바이어스 전압 제어부(14)는 이를 근거로 백바이어 전압 발진부(16)(이하, 발진부라 함)의 출력을 제어하는 제어신호를 출력한다.
발진부(16)는 백바이어스 전압 제어부(14)의 제어신호에 따라 백바이어스 전압 펌핑용 주파수를 발생키시며, 발진부(16)에서 발진된 주파수에 의해 펌핑부(18)가 백바이어스 전압을 발생시킨다.
이러한 종래 백바이어스 발생장치는 수동적으로 백바이어스 전압 레벨을 감지하여 기 설정된 절대치를 기준으로 타켓대비 값이 떨어지면 백바이어스 전압을 펌핑해준다.
그런데 이러한 종래 백바이어스 발생장치를 사용하는 경우 도 2와 같이 디램이 액티브(active)시되어 워드라인의 전압이 상승할 때 백바이어스 전압도 상승하게 되어 오프 리키지(off leakage)가 발생하게 되고 프리차지(precharge)시에는 백바이어스 전압이 하강하게 되어 정션 리키지(junction leakage)가 발생되는 문제를 해결할 수 없다.
따라서, 상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 디램 셀의 액티브와 프리차지 명령에 동기하여 백바이어스 전압을 제어함으로써 데이터 로스를 최소화하는데 있다.
도 1은 종래 백바이어스 전압 발생장치의 구성도,
도 2는 디램 셀이 액티브 및 프리차지시 백바이어스 전압이 변화되는 모습을 보여주는 파형도,
도 3은 본 발명에 따른 백바이어스 전압 발생장치의 구성도,
도 4는 본 발명에 따른 백바이어스 전압 보정방법을 설명하기 위한 순서도,
도 5a는 본 발명에 따라 디램 셀의 액티브 및 프리차지 명령에 동기되어 미리 백바이어스 전압을 변화시키는 모습을 보여주는 파형도,
도 5b는 본 발명에 따른 디램 셀의 액티브 및 프리차지시 백바이어스 전압 파형도.
위와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 백바이어스 발생장치는 백바이어스 전압의 크기를 검출하는 검출부, 검출부에서 검출된 백바이어스 전압 레벨에 근거하여 백바이어스 전압 레벨을 제어하기 위한 제어신호을 출력하는 제 1제어부, 디램 셀의 트랜지션 명령에 동기되어 백바이어스 전압을 일정 수준 변화시키기 위한 제어신호를 출력하는 제 2제어부, 제어명령들에 따라 해당 백바이어스 전압 펌핑용 주파수를 발진하는 발진부 및 발진부에서 발진된 주파수에 의해 펌핑하여 백바이어스 전압을 출력하는 펌핑부를 구비한다.
본 발명의 백바이어스 보정방법은 트랜지션 명령을 인가받는 제 1단계 및 제 1단계의 트랜지션 명령에 동기되어 백바이어스 전압을 일정 시간 동안 일정 크기로 변화시키는 제 2단계를 포함한다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.
도 3은 본 발명에 따른 백바이어스 발생장치의 구성을 나타내는 구성도이다.
검출부(12)는 백바이어스 전압 레벨을 검출하여 출력하며, 제 1제어부(14)는 검출부(12)에서 검출된 백바이어스 전압 레벨에 따라 백바이어스 전압 레벨을 특정 레벨로 유지하기 위한 제 1제어신호를 출력한다. 본 실시예에서 제 1제어부(14)는 종래 제어부(14)와 동일한 기능을 수행하므로 동일한 참조번호를 사용한다.
제 2제어부(22)는 디램 셀의 워드라인 전압이 트랜지션(액티브 또는 프리차지)명령에 동기하여 백바이어스 전압을 미리 일정 수준 하강시키기 위한 제 2제어신호 또는 백바이어스 전압을 미리 일정 수준 상승시키기 위한 제 3제어신호를 출력한다.
발진부(24)는 제 1제어부(14)로부터의 제 1제어신호와 제 2제어부(22)로부터의 제 2제어신호 및 제 3제어신호에 따라 해당 백바이어스 펌핑용 주파수를 발생시킨다.
펌핑부(26)는 발진부(24)로부터 발진된 주파수에 따라 펌핑하여 백바이어스 전압을 발생시킨다.
도 4는 본 발명에 따른 백바이어스 전압 제어과정을 설명하기 위한 순서도이다.
워드라인의 저항과 디램 셀의 캐패시터와의 상호작용에 의해 캐패시터에 인가되는 백바이어스 전압 레벨이 타켓레벨에 비해 낮아지는 경우가 발생될 수 있다.
검출부(12)는 디램 셀에 인가되는 백바이어스 전압의 크기를 검출하여 이를 제 1제어부(14)로 전송한다(단계 401).
제 1제어부(14)는 검출된 백바이어스 전압 레벨의 크기를 타겟 레벨과 비교(단계 402)하여 이보다 낮거나 높은 경우에는 이를 원하는 레벨로 맞추기 위한 제 1제어명령을 발진부(24)로 인가한다(단계 403).
발진부(24)는 제 1제어부(14)로부터 인가받은 제 1제어명령에 따라 해당 백바이어스 전압 펌핑용 주파수를 발진한다.
제 2제어부(22)는 디램 셀에 액티브 명령이 인가되면(단계 404) 이와 동기되어 도 5a의 첫 번째 파형과 같이 백바이어스 전압을 강제적으로 일정 수준 낮추기위한 제 2제어명령을 발진부(24)로 인가한다(단계 405).
그리고, 제 2제어부(22)는 디램 셀에 프리차지 명령이 인가되면(단계 406) 역시 이와 동기되어 도 5a의 두 번째 파형과 같이 백바이어스 전압을 강제적으로 일정 수준 높이기 위한 제 2제어명령을 발진부(24)로 인가한다(단계 407).
이때, 제 2제어명령 및 제 3제어명령에 의해 발생되는 백바이어스 전압의 하강 및 상승 정도는 타겟 레벨을 기준으로 50% 이하가 되도록 설정하며, 발생시간(τ)은 워드라인의 저항 값과 캐패시터의 값을 곱한 값이 되도록 설정한다.
발진부(24)는 제 1제어명령 내지 제 3제어명령에 따라 해당 백바이어스 전압 펌핑용 주파수를 펌핑부(26)로 발진하고, 펌핑부(26)는 발진부(24)로부터의 발진 주파수에 의해 펌핑하여 백바이어스 전압을 발생시킨다
이처럼 디램 셀이 액티브 명령에 동기되어 미리 백바이어스 전압을 일정 수준 낮추어줌으로써 액티브 명령에 의해 상승되는 백 바이어스 전압 변화를 상쇄시켜주고 반대로 프리차지 명령에 동기되어 미리 백바이어스 전압을 일정 수준 높여줌으로써 액티브 명령에 의해 하강하는 백 바이어스 전압 변화를 상쇄시켜주게 된다.
도 5b는 도 2에서의 백바이어스 전압 변화와 도 5a에서 미리 발생시킨 백바이어스 전압 변화가 서로 상쇄되어 백바이어스 전압이 타켓 레벨로 안정화 되어 있는 파형을 보여준다.
이러한 동작들은 전원이 오프되기 전까지 계속 반복해서 진행된다(단계 408).
상술된 바와 같이, 본 발명은 디램 셀이 액티브 및 프리차지 될 때 액티브 및 프리차지에 의한 백바이어스 전압 변화와 반대방향으로 미리 백바이어스 전압을 변화시켜 서로 상쇄되도록 함으로써 액티브 및 프리차지시 백바이어스 전압이 안정된 값을 가지도록 하는 효과가 있다.

Claims (8)

  1. 백바이어스 전압의 크기를 검출하는 검출부;
    상기 검출부에서 검출된 백바이어스 전압 레벨에 근거하여 백바이어스 전압 레벨을 제어하기 위한 제어신호을 출력하는 제 1제어부;
    디램 셀의 트랜지션 명령에 동기되어 백바이어스 전압을 일정 수준 변화시키기 위한 제어신호를 출력하는 제 2제어부;
    상기 제어명령들에 따라 해당 백바이어스 전압 펌핑용 주파수를 발진하는 발진부; 및
    상기 발진부에서 발진된 주파수에 의해 펌핑하여 백바이어스 전압을 출력하는 펌핑부를 구비하는 백바이어스 전압 발생장치.
  2. 제 2 항에 있어서,
    상기 발진부는 상기 제 2제어부로부터의 제어신호에 따라 백바이어스 전압의 타겟 레벨의 절반보다 작은 크기로 백바이어스 전압을 일정 시간 변화시키는 것을 특징으로 하는 백바이어스 전압 발생장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 발진부는 상기 제 2제어부의 제어신호에 따라 워드라인의 저항 값과 디램 셀의 캐패시터 값을 곱한 시간 동안 백바이어스 전압을 일정 크기로 변화시키는것을 특징으로 하는 백바이어스 전압 발생장치.
  4. 트랜지션 명령을 인가받는 제 1단계; 및
    제 1단계의 트랜지션 명령에 동기되어 백바이어스 전압을 일정 시간 동안 일정 크기로 변화시키는 제 2단계를 포함하는 백바이어스 전압 발생방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 트랜지션 명령이 액티브 명령인 경우 상기 백바이어스 전압을 일정 시간 동안 일정 크기로 하강시키는 것을 특징으로 하는 백바이어스 전압 발생방법.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 트랜지션 명령이 프리차지 명령인 경우 상기 백바이어스 전압을 일정 시간 동안 일정 크기로 상승시키는 것을 특징으로 하는 백바이어스 전압 발생방법.
  7. 제 5 항 또는 제 6 항에 있어서,
    상기 백바이어스 전압은 타켓 레벨의 절반보다 작은 크기로 변화되는 것을 특징으로 하는 백바이어스 전압 발생방법.
  8. 제 5 항 또는 제 6 항에 있어서,
    상기 백바이어스 전압은 디램 셀의 워드라인의 저항값과 캐패시터값을 곱한시간 동안 변화되는 것을 특징으로 하는 백바이어스 전압 발생방법.
KR1020020041087A 2002-07-15 2002-07-15 백바이어스 전압 발생장치 KR20040006730A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020041087A KR20040006730A (ko) 2002-07-15 2002-07-15 백바이어스 전압 발생장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020041087A KR20040006730A (ko) 2002-07-15 2002-07-15 백바이어스 전압 발생장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20040006730A true KR20040006730A (ko) 2004-01-24

Family

ID=37316596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020020041087A KR20040006730A (ko) 2002-07-15 2002-07-15 백바이어스 전압 발생장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20040006730A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100913957B1 (ko) * 2007-12-27 2009-08-26 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100913957B1 (ko) * 2007-12-27 2009-08-26 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자
US7924073B2 (en) 2007-12-27 2011-04-12 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device having back-bias voltage in stable range

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4694089B2 (ja) 半導体メモリ装置のネガティブ電圧発生器
CN107465392B (zh) 振荡电路
JP7307530B2 (ja) 水晶振動子回路、及び水晶振動子の起動方法
US10218336B2 (en) Ring oscillator operation management method and apparatus
KR20140017221A (ko) 반도체 장치 및 반도체 장치의 동작방법
KR100264206B1 (ko) 내부전압 발생장치
KR20040006730A (ko) 백바이어스 전압 발생장치
EP1148507B1 (en) Supply voltage detection circuit
KR100379555B1 (ko) 반도체 소자의 내부 전원 발생기
JPH08249882A (ja) 半導体集積回路
KR20070002804A (ko) 내부전원 생성장치
KR20150007047A (ko) 어레이 이-퓨즈의 부트-업 방법 및 그를 이용한 반도체 장치
KR20130050795A (ko) 반도체 장치
JP2006180503A (ja) 周波数によって負荷キャパシタが可変される位相固定ループ装置
KR100350768B1 (ko) 내부 전원전압 발생장치
KR100335490B1 (ko) 음극 선관 구동용 전압 발생 장치 및 방법
KR100575881B1 (ko) 고전압 발생기용 고전압 검출기
KR100327568B1 (ko) 기판 바이어스 전압 제어회로
KR20040095893A (ko) 반도체 메모리의 고전압 발생장치
KR200266876Y1 (ko) 반도체 메모리 소자의 브이피피(vpp) 발생 장치
KR100258899B1 (ko) 번-인 전압 제어장치
KR100761372B1 (ko) 승압전압 생성기의 발진회로
KR20020010825A (ko) 반도체장치의 기판전압발생기
KR0146062B1 (ko) 내부전압 발생기의 전원발생 안정화 회로
KR100958799B1 (ko) 내부 전압 생성회로와 그의 구동 방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination