KR200352328Y1 - 회로보드 테스트용 프로브 카드 - Google Patents

Abstract

이 고안은 프로브 카드 분야에 관한 것으로서,

중앙에 관통홀(11)이 형성된 인쇄회로기판(10)과; 상기 인쇄회로기판(10)의 상면 중앙에 결합되어 인쇄회로기판(10)의 변형을 방지하는 보강판(30)과; 상기 인쇄회로기판(10)의 관통홀(11)을 통해 직접 보강판(30)의 저면에 결합되는 고정판(50)과; 상기 인쇄회로기판(10)의 저면에 형성된 패턴과 상단이 결합되고, 소정의 각도로 하향 경사진후 끝단이 수직하게 절곡된 니들(70)과; 상기 니들(70)을 하부에서 받쳐주며서 상기 고정판(50)의 저면에 결합되는 고정구(80)와; 상기 보강판(30)과 상기 고정구(80)의 사이에 삽입되어 상기 니들(70)의 높낮이를 조절해주는 조절스프링(90)을 포함하여 이루어진다.

따라서 본 고안은 프로브 카드내에 평탄도를 조정할 수 있는 구조를 설치하여 일반 작업자들 손쉽게 평탄도 유지 작업을 할 수 있도록 함으로서 시간과 경비를 절감할 수 있도록 하는 효과를 갖는다.

Description

회로보드 테스트용 프로브 카드{PROBE CARD FOR TESTING PRINTED WIRING ASSEMBLY}

이 고안은 프로브 카드 분야에 관한 것으로서, 좀더 세부적으로 말하자면 프로브 카드내에 평탄도를 조정할 수 있는 구조를 설치하여 일반 작업자들 손쉽게 평탄도 유지 작업을 할 수 있도록 함으로써 시간과 경비를 절감할 수 있도록 하는, 회로보드 테스트용 프로브 카드에 관한 것이다.

일반적으로 전자기기의 내부에는, 다층배선이 형성되어 있는 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB)의 위에 여러가지의 애널로그 소자나 디지틀 소자가 조합되어 장착되어 있는 회로보드(PWA)를 구비하고 있다.

상기한 바와 같은 회로보드를 제조한 뒤에 출하하기 위해서는, 회로보드의 제품 품질에 대한 신뢰성을 높이기 위하여, 회로보드내의 회로의 단선 및 단락 유무를 검사하는 인-서키트 테스트(in-circuit test) 공정과, 회로보드의 기능이 정상적으로 동작되는지를 검사하는 펑션 테스트(function test) 공정을 거치게 된다. 상기한 인서키트 테스트 공정이나 펑션 테스트 공정을 효율적으로 수행하기 위해서는, 상기한 회로보드의 테스트 포인트들을 정확하게 찍을 수 있도록 하기 위하여상기한 회로보드의 테스트 포인트들과 일대일로 대응되는 위치에 핀들을 설치하여 놓은 프로브 카드(probe card)를 필요로 하게 된다.

상기한 회로보드 테스트용 프로브 카드는, 도 1 내지 도 3에 도시되어 있는 바와 같이, 테스트 회로가 형성된 인쇄회로기판(10')을 중심으로 윗면에는 인쇄회로기판(10')의 형상을 유지해주는 보강판(30')이 결합되고 아랫면에는 상기 인쇄회로기판(10')의 테스트 회로와 연결된 니들(70')를 절곡시킨후 정렬해주는 고정판(50')이 결합된다.

상기 회로보드 테스트용 프로브 카드 후면에 결합되는 고정판(50') 중심부에는 니들(70')의 일단이 하부로 절곡되어 핀형태로 형성되어 정렬된 구조로 이루어지는데, 이 니들(70')의 일단은 많은 테스트를 거치거나 사용상 부주의에 의하여 그 높낮이가 변하게 된다. 따라서 주기적으로 상기한 니들(70')의 일단을 그라인딩(GRINDING) 또는 샌딩(SANDING)을 함으로써 평탄도가 유지되도록 해주어야 한다.

그러나, 이와 같은 종래의 회로보드 테스트용 프로브 카드는, 평탄도를 유지하기 위한 니들(70') 일단의 그라인딩 또는 샌딩 작업을 일반 작업자들은 할 수가 없고 그라인딩 머신 또는 샌딩 머신을 구비하고 있는 제작업체에서만 작업이 가능하기 때문에, 제작업체에 프로브 카드를 가지고 가서 그라인딩 또는 샌딩 작업이 끝나면 가지고 와야 하기 때문에 상대적으로 시간과 경비가 많이 소요되는 문제점 등이 있었다.

이 고안의 목적은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 프로브 카드내에 평탄도를 조정할 수 있는 구조를 설치하여 일반 작업자들 손쉽게 평탄도 유지 작업을 할 있도록 함으로써 시간과 경비를 절감할 수 있도록 하는, 회로보드 테스트용 프로브 카드를 제공하는데 있다.

도 1은 종래의 회로보드 테스트용 프로브 카드의 윗면의 구성도이다.

도 2는 종래의 회로보드 테스트용 프로브 카드의 아랫면의 구성도이다.

도 3은 도 1의 A-A선 단면도이다.

도 4는 이 고안의 일 실시예에 따른 회로보드 테스트용 프로브 카드의 윗면의 구성도이다.

도 5는 이 고안의 일 실시예에 따른 회로보드 테스트용 프로브 카드의 아랫면의 구성도이다.

도 6은 이 고안의 일 실시예에 따른 회로보드 테스트용 프로브 카드의 분해 구성도이다.

도 7은 도 4의 B-B'선 단면도이다.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >

10 : 인쇄회로기판 11 : 관통홀

30 : 보강판 31 : 결합홀

31a : 결합너트삽입홀 31b : 조절스프링삽입홈

33 : 결합너트 50 : 고정판

53 : 결합볼트 70 : 니들

70a : 접촉단부 80 : 고정구

90 : 조절스프링

이하, 이 고안이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이 고안을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 이 고안의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조로 하여 상세히 설명하기로 한다. 이 고안의 목적, 작용, 효과를 포함하여 기타 다른 목적들, 특징점들, 그리고 동작상의 이점들이 바람직한 실시예의 설명에 의해 보다 명확해질 것이다.

참고로, 여기에서 개시되는 실시예는 여러가지 실시가능한 예중에서 당업자의 이해를 돕기 위하여 가장 바람직한 실시예를 선정하여 제시한 것일 뿐, 이 고안의 기술적 사상이 반드시 이 실시예에만 의해서 한정되거나 제한되는 것은 아니고, 본 고안의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 다양한 변화와 부가 및 변경이 가능함은 물론, 균등한 타의 실시예가 가능함을 밝혀 둔다.

이 고안의 일 실시예에 따른 회로보드 테스트용 프로브 카드의 구성은, 도 4 내지 도 7에 도시되어 있는 바와 같이, 중앙에 관통홀(11)이 형성된인쇄회로기판(10)과; 상기 인쇄회로기판(10)의 상면 중앙에 결합되어 인쇄회로기판(10)의 변형을 방지하는 보강판(30)과; 상기 인쇄회로기판(10)의 관통홀(11)을 통해 직접 보강판(30)의 저면에 결합되는 고정판(50)과; 상기 인쇄회로기판(10)의 저면에 형성된 패턴과 상단이 결합되고, 소정의 각도로 하향 경사진후 끝단이 수직하게 절곡된 니들(70)과; 상기 니들(70)을 하부에서 받쳐주며서 상기 고정판(50)의 저면에 결합되는 고정구(80)와; 상기 보강판(30)과 상기 고정구(80)의 사이에 삽입되어 상기 니들(70)의 높낮이를 조절해주는 조절스프링(90)을 포함하여 이루어진다.

상기 인쇄회로기판(10)의 관통홀(11)은 적어도 상기 고정판(50)의 크기보다 크게 형성되는 것이 바람직하다.

상기 보강판(30)의 중앙에는 수개의 결합홀(31)이 형성되고 결합홀(31)의 상부에는 결합너트가 삽입되는 결합너트삽입홈(31a)이 형성되고 하부에는 상기 조절스프링(90)이 개재될 수 있는 정도의 크기의 조절스프링삽입홈(31b)이 형성된다.

상기 보강판(30)과 상기 고정판(50)은 볼트에 의해 결합되는 것이 바람직하다.

상기한 구성에 의한, 이 고안의 일 실시예에 따른 회로보드 테스트용 프로브 카드의 작용은 다음과 같다.

먼저 인쇄회로기판(10)의 윗면에 보강판(30)이 나사결합에 의해 고정된다. 이어서, 상기 인쇄회로기판(10)의 관통홀(11)에 의해 노출된 보강판(30)의 하부에고정판(50)을 결합한다. 이때 보강판(30)의 조절스프링삽입홈(31b)에 조절스프링(90)이 개재시킨후 고정판(50)의 하부로부터 결합볼트(53)이 삽입되고 이 결합볼트(53)는 조절스프링(90)을 관통된후 결합너트(33)와 결합 및 고정된다.

이렇게 완성된 본 고안에 일 실시예에 따른 회로보드 테스트용 프로브 카드는, 검사장비(미도시)의 테스트 헤드 하부에 설치되며, 검사공정 진행시 테스트 헤드의 포고 핀이 인쇄회로기판(10)의 상면에 형성된 회로패턴에 접촉된 상태에서 각 니들(70)의 하향 절곡된 접촉단부(70a)를 웨이퍼의 상면에 형성된 검사용 패드에 접촉시킴으로서 웨이퍼의 각 반도체 칩에 전류가 통전되면서 전기적인 특성 검사를 수행하게 된다.

위와 같은 과정을 여러번 반복한후 만일 한쌍으로 이루어진 니들(70)의 접촉단부(70a)의 좌우높이가 차이가 생기면 상대적으로 고정판(50)의 내측으로 들어간 측의 결합볼트(53)를 조금씩 풀어준다. 이때 결합볼트(53)와 결합너트(33)의 조임이 약해지게 되고 약해지는 조임력에 의해 내측에 개재된 조절스프링(90)의 이완된다. 또한 조절스프링(90)이 이완되면서 상기 보강판(30)과 고정판(50)의 사이를 벌어지게 한다. 이때, 고정판(50)의 하부에 니들(70)이 고정구(80)에 의해 고정되어 있어 고정판(50)이 아래로 내려오면서 니들(70)도 함께 하강하게 된다.

따라서 원래 내측으로 들어간 측의 접촉단부(70a)는 결합볼트(53)의 풀림에 의해서 하강하게 되고 사용자는 좌우측의 접촉단부(70a)의 높이를 확인한후 좌우측의 높이가 같아지는 시점에서 결합볼트(53)의 풀림을 멈춰 접촉단부(70a)의 높이를 고정한다.

이상의 실시예에서 살펴 본 바와 같이 이 고안은, 프로브 카드내에 평탄도를 조정할 수 있는 구조를 설치하여 일반 작업자들 손쉽게 평탄도 유지 작업을 할 있록 함으로써 시간과 경비를 절감할 수 있도록 하는, 효과를 갖는다.

Claims (3)

1. 중앙에 관통홀(11)이 형성된 인쇄회로기판(10)과;

   상기 인쇄회로기판(10)의 상면 중앙에 결합되어 인쇄회로기판(10)의 변형을 방지하는 보강판(30)과;

   상기 인쇄회로기판(10)의 관통홀(11)을 통해 직접 보강판(30)의 저면에 결합되는 고정판(50)과;

   상기 인쇄회로기판(10)의 저면에 형성된 패턴과 상단이 결합되고, 소정의 각도로 하향 경사진후 끝단이 수직하게 절곡된 니들(70)과;

   상기 니들(70)을 하부에서 받쳐주며서 상기 고정판(50)의 저면에 결합되는 고정구(80)와;

   상기 보강판(30)과 상기 고정구(80)의 사이에 삽입되어 상기 니들(70)의 높낮이를 조절해주는 조절스프링(90)을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 회로보드 테스트용 프로브 카드.
2. 제 1항에 있어서, 상기 인쇄회로기판(10)의 관통홀(11)은

   적어도 상기 고정판(50)의 크기보다 크게 형성되는 것을 특징으로 하는 회로보드 테스트용 프로브 카드.
3. 제 1항에 있어서, 상기 보강판(30)의 중앙에는

   수개의 결합홀(31)이 형성되고 결합홀(31)의 상부에는 결합너트가 삽입되는 결합너트삽입홈(31a)이 형성되고 하부에는 상기 조절스프링(90)이 개재될 수 있는 정도의 크기의 조절스프링삽입홈(31b)이 형성되는 것을 특징으로 하는 회로보드 테스트용 프로브 카드.