KR20030041724A - 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치 - Google Patents

레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20030041724A
KR20030041724A KR1020010072795A KR20010072795A KR20030041724A KR 20030041724 A KR20030041724 A KR 20030041724A KR 1020010072795 A KR1020010072795 A KR 1020010072795A KR 20010072795 A KR20010072795 A KR 20010072795A KR 20030041724 A KR20030041724 A KR 20030041724A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
laser
ray
plating
unit
mini
Prior art date
Application number
KR1020010072795A
Other languages
English (en)
Inventor
서호석
이진우
신선휴
Original Assignee
주식회사 포스코
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 포스코 filed Critical 주식회사 포스코
Priority to KR1020010072795A priority Critical patent/KR20030041724A/ko
Publication of KR20030041724A publication Critical patent/KR20030041724A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076X-ray fluorescence
    • G01N2223/0766X-ray fluorescence with indicator, tags
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/301Accessories, mechanical or electrical features portable apparatus
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/306Accessories, mechanical or electrical features computer control
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/313Accessories, mechanical or electrical features filters, rotating filter disc
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/34Accessories, mechanical or electrical features sensing means for gap between source and detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/50Detectors
    • G01N2223/502Detectors ionisation chamber
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/50Detectors
    • G01N2223/507Detectors secondary-emission detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60Specific applications or type of materials
    • G01N2223/61Specific applications or type of materials thin films, coatings

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

본 발명은 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치에 관한 것으로, 본 발명은 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치에 있어서, 본체부(100)에 내장되어, 제어에 따라 X-레이를 발사시킨 후 반사되는 X-레이를 검출하는 X-레이 측정기(200); 레이저를 측정대상에 발사한 후 반사된 레이저를 검출하여 레이저 발사 및 검출시간과 레이저 속도로 측정대상과의 거리를 측정하는 레이저 거리측정부(500); 상기 레이저 거리측정부(500)에 의해 측정된 거리에 따라 도금량의 보상값을 산출하는 보상값 산출기(600); 각부의 동작을 제어하는 제어부와, 상기 X-레이 측정기(200)에서 검출한 X-레이 검출값으로 도금량을 산출하고, 이 도금량을 상기 보상값 산출기(600)에 의한 보상값으로 보상하여 연산하는 연산부(700)와, 이러한 도금량 관련 정보를 저장 및 표시하는 정보 저장부 및 화면 표시부를 포함하는 마이크로 컴퓨터(800); 및 상기 각 부에 전원을 공급하며, 상기 레이저 거리측정부(500)에 의해 측정된 거리에 따른 세기에 해당하는 전압 및 전류를 공급하는 전원 콘트롤(900)을 구비하는 것을 요지로 한다.

Description

레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치{MEASURING APPARATUS FOR PORTABLE PLATING QUANTITY USING LASER AND MINI-X RAY}
본 발명은 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치에 관한 것으로, 특히, 강판에 도금된 도금량을 측정하기 위해, 간단하게 구현하여 휴대가 간편하고, 측정용 시편 절취없이, 아연뿐만 아니라 얇은 도금층등 다양한 도금층을 갖는 제품에 대해 도금량을 측정할 수 있도록 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치에 관한 것이다.
일반적으로, 제철소에서는 다양한 종류의 강판을 제조 및 생산하는데, 이러한 각 강판의 제품별 측정부분에 대한 예시가 도 1에 도시되어 있다.
종래, 강판에 부착된 도금량을 측정하는 장치로서는, 생산공정에 설치하여 측정하는 고정식 도금량측정기와, 시편을 채취하여 측정하는 실험분석기와, 자기유도센서를 이용하여 측정하는 휴대용 아연도금량 측정기등이 있다.
먼저, 상기 도금량 측정장치중에서, 종래 고정식 도금량 측정기에 대해서 설명하면, 이 고정식 도금량 측정기는 도 2에 도시되어 있으며, 도 2를 차조하면, r-레이를 이용하며 주로 생산현장에 고정 설치하여 많은 에너지를 사용하는 대형으로서 측정속도가 빠른 것이 특징이다. 그러나, 이러한 종래 고정식 계측기는 조업특성상 도금강판이 계측기를 통과해버린 지점을 다시 되돌려서 재측정하기가 어렵고, 또한, 고정식이기 때문에 야드에 적재된 코일은 측정할 수 없으며, 냉각장치와 판넬등 부대시설을 필요로 하는 문제점이 있다.
종래 실험분석기에 대해서 설명하면, 이 실험분석기는 도 3에 도시되어 있으며, 도 3을 참조하면, X-레이를 이용하여 주로 분석실에서 사용하고 측정정밀도와 안정성이 뛰어나며 측정 신뢰도가 매우 높은 것이 특징이다. 그러나, 이러한 종래 실험 분석기는 제품에서 시편을 절취해야 하고 절취된 시편을 분석기의 특성에 맞게 가공해야하며 측정작업전에 시편의 표면을 전처리해야 하는 등의 문제점이 있다.
그리고, 종래 휴대용 아연도금량 측정기에 대해서 설명하면, 이 휴대용 아연도금량 측정기는 도 4에 도시되어 있으며, 도 4를 참조하면, 자기유도센서를 이용하며 휴대가 간편하고 신속하게 측정할 수 있는 특징이 있다.
이와 같이 자기유도센서를 이용한 휴대용 아연도금량 측정기는 자력선의 특성상 도금층의 두께가 일정량 이상으로 두꺼워야 측정이 가능하므로 도금층이 얇은 자동차 강판등의 도금량은 측정이 되지 않으며 아연도금측정용이므로 크롬, 니켈등 다른 도금층의 두께측정용으로는 부적합하고, 미량이라도 자성을 띠고 있는 물질이 있으면 오차가 발생되는 등의 문제점이 있다
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 따라서, 본 발명의 목적은 강판에 도금된 도금량을 측정하기 위해, 간단하게 구현하여 휴대가 간편하고, 측정용 시편 절취없이, 아연뿐만 아니라 얇은 도금층등 다양한 도금층을 갖는 제품에 대해 도금량을 측정할 수 있도록 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치를 제공하는데 있다.
도 1은 일반 도금량 측정이 요구되는 제품의 측정부분 예시도이다.
도 2는 종래 고정식 도금량 측정기의 사시도이다.
도 3은 종래 자기유도센서를 이용한 휴대용 도금량측정기의 구성도이다.
도 4는 종래 자기유도센서를 이용한 휴대용 도금량 측정기의 구성도이다.
도 5는 본 발명에 따른 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치의 구성도이다.
도 6은 도 5의 도금량 측정장치의 본체부의 구성도이다.
도 7은 도 6의 X-레이 측정기의 구성도이다.
도 8은 도 7의 필터부의 사시도이다.
도 9는 본 발명에 따른 레이저 거리 측정부의 구성도이다.
도 10은 본 발명에 따른 보상값 산출기의 구성도이다.
도 11은 본 발명에 따른 거리에 따른 도금량 보상값 그래프이다.
도 12a,12b는 모든 원소 및 특정 금속원소에 대한 산출 상태 그래프이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 도금강판 2 : 코일
10 : 고정식 도금량 측정기11 : 콘트롤 판넬
20 : 도금량 실험분석기 21 : X-레이
22 : 검출23 : 증폭기전원카드
30 : 휴대용 아연도금량 측정기31 : 자기유도센서
100 : 본체부101 : 도금장치케이스
102 : 방폭커버 103 : 투명창
104 : 손잡이 105 : 지지판
106 : 측정버튼 107 : 도금량 표시기
200 : X-레이 측정기 201 : 미니X-레이발생기
202 : 미니X-레이튜브203 : X-레이 셔터
204 : X-레이셔터모터205 : 발생기전원카드
206 : 튜브 전원카드 230 : 필터부
231 : 로타리필터 232 : 로타리필터구동모터
233 : 필터모터전원카드 234 : 로타리필터받침대
250 : 도금량검출부 251 : 도금측정 이온챔버
253 : 증폭기전원카드 254 : 전원공급기
500 : 레이저거리 측정부 501 : 레이저발생기
502 : 레이저검출기 503 : 거리 연산기
504 : 측정거리표시기 600 : 보상값산출기
601 : 표준도금판 602 : 거리측정자
700 : 연산기 800 : 마이크로 컴퓨터
900 : 전원 콘트롤
상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 기술적인 수단으로써, 본 발명의 장치는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치에 있어서, 본체부에 내장되어, 제어에 따라 X-레이를 발사시킨 후 반사되는 X-레이를 검출하는 X-레이 측정기; 레이저를 측정대상에 발사한 후 반사된 레이저를 검출하여 레이저 발사 및 검출시간과 레이저 속도로 측정대상과의 거리를 측정하는 레이저 거리측정부; 상기 레이저 거리측정부에 의해 측정된 거리에 따라 도금량의 보상값을 산출하는 보상값 산출기; 각부의 동작을 제어하는 제어부와, 상기 X-레이 측정기에서 검출한 X-레이검출값으로 도금량을 산출하고, 이 도금량을 상기 보상값 산출기에 의한 보상값으로 보상하여 연산하는 연산부와, 이러한 도금량 관련 정보를 저장 및 표시하는 정보 저장부 및 화면 표시부를 포함하는 마이크로 컴퓨터; 및 상기 각 부에 전원을 공급하며, 상기 레이저 거리측정부에 의해 측정된 거리에 따른 세기에 해당하는 전압 및 전류를 공급하는 전원 콘트롤을 구비함을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 따른 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치에 대하여 첨부도면을 참조하여 그 구성 및 작용을 상세하게 설명한다. 본 발명에 참조된 도면에서 실질적으로 동일한 구성과 기능을 가진 구성요소들은 동일한 부호를 사용할 것이다.
도 5는 본 발명에 따른 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치의 구성도로서, 도 5를 참조하면, 본 발명에 따른 휴대용 도금량 측정장치는 본체부(100)에 내장되어, 제어에 따라 X-레이를 발사시킨 후 반사되는 X-레이를 검출하는 X-레이 측정기(200)과, 레이저를 측정대상에 발사한 후 반사된 레이저를 검출하여 레이저 발사 및 검출시간과 레이저 속도로 측정대상과의 거리를 측정하는 레이저 거리측정부(500)와, 상기 레이저 거리측정부(500)에 의해 측정된 거리에 따라 도금량의 보상값을 산출하는 보상값 산출기(600)와, 각부의 동작을 제어하는 제어부와, 상기 X-레이 측정기(200)에서 검출한 X-레이 검출값으로 도금량을 산출하고, 이 도금량을 상기 보상값 산출기(600)에 의한 보상값으로 보상하여 연산하는연산부(700)와, 이러한 도금량 관련 정보를 저장 및 표시하는 정보 저장부 및 화면 표시부를 포함하는 마이크로 컴퓨터(800); 및 상기 각 부에 전원을 공급하며, 상기 레이저 거리측정부(500)에 의해 측정된 거리에 따른 세기에 해당하는 전압 및 전류를 공급하는 전원 콘트롤(900)로 구성한다.
도 6은 도 5의 도금량 측정장치의 본체부의 구성도로서, 도 6을 참조하면, 상기 본체부(100)는 각 구성요소를 수용하는 케이스(101)와, 상기 케이스(101)에 내부에 형성하여, 발사되는 방사선의 누출을 막기 위한 방폭커버(102)와, 레이저를 발사 및 검출하는 입구에 설치하여 이물질의 투입을 막기 위한 투명창(103)과, 상기 케이스(101)에 설치한 손잡이(104)와, 상기 케이스(101)를 착탈할 수 있는 지지판(105)과, 전원을 온.오프하는 측정전원스위치(106)와, 그리고 상기 마이크로 컴퓨터(800)에 의한 검출 도금량을 지시하는 도금량표시계(107)를 포함한다.
도 7은 도 6의 X-레이 측정기의 구성도로서, 도 7을 참조하면, 상기 X-레이 측정기(200)는 상기 마이크로 컴퓨터(800)의 제어에 의해 X-레이를 발생하는 미니X-레이 발생기(201)와, 프레온가스를 포함하여 상기 미니X-레이 발생기(201)에 의해 발생된 X-레이를 발사하는 미니X-레이 튜브(202)와, 상기 미니X-레이 튜브(202)에 설치하여 상기 X-레이의 발사량을 단속하기 위한 셔터(203)와, 상기 셔터(202)를 동작시키는 셔터모터(204)와, 상기 X-레이 발생기(201)에 전원을 공급하는 발생기전원카드(205)와, 상기 X-레이 튜브(202)에 전원을 공급하는 튜브전원카드(206)와, 특정한 에너지대의 형광 X-레이를 통과시키는 필터부(230)와, 그리고, 상기 필터부(230)를 통한 형광 X-레이에 대한 에너지 크기를 검출하는 도금량 검출부(250)를 포함한다.
도 8은 도 7의 필터부의 사시도로서, 도 8을 참조하면, 상기 필터부(230)는 다양한 필터가 장착될 수 있는 필터받침대(234)와, 각 도금 성분에 해당하는 에너지대를 통과시키기 위한 복수의 필터를 갖는 로타리 필터(231)와, 로타리 필터 받침대(234)를 회전하도록 하는 로타리 필터모터(232)와, 로타리 필터 구동모터에 전원을 공급하는 필터모터전원(233)을 포함한다.
도 8을 참조하면, 상기 도금량 검출부(250)는 상기 필터부(230)를 통한 형광 X-레이에 대한 에너지 크기를 검출하는 도금측정 이온챔버(251)와, 상기 도금측정 이온챔버(251)에 의해 검출된 값을 증폭하는 증폭기전원카드(253)와, 상기 도금측정이온챔버(251)에 고전압을 공급하는 전원공급기(254)를 포함한다.
도 9는 본 발명에 따른 레이저 거리 측정부의 구성도로서, 도 10을 참조하면, 상기 레이저 거리측정부(500)는 레이저를 발생하는 레이저 발생기(501)와, 레이저가 발사되어 반사되어오는 레이저를 검출하는 레이저 수신기(502)와, 검출된 레이저 속도를 거리로 환산해주는 거리계산기(503)와, 이를 디지털로 표시하는 거리지시계(504)를 포함한다.
도 10은 본 발명에 따른 보상값 산출기의 구성도로서, 도 10을 참조하면, 상기 보상값 산출기(600)는 거리눈금이 표시된 표준도금판(601)을 포함한다.
이와 같이 구성된 본 발명의 바람직한 실시예에 동작을 첨부도면에 의거하여 하기에 상세히 설명한다.
본 발명은 강판에 도금된 도금량을 측정하기 위해, 간단하게 구현하여 휴대가 간편하고, 측정용 시편 절취없이, 아연뿐만 아니라 얇은 도금층등 다양한 도금층을 갖는 제품에 대해 도금량을 측정할 수 있도록 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치를 제안하는데, 이에 대해서 하기에 상술한다.
도 5 내지 도12를 참조하면, 본 발명에 따른 휴대용 도금량 측정장치의 동작 개시를 선택하면, 전원 콘트롤(900)은 및 상기 각 부에 전원을 공급하며, 상기 레이저 거리측정부(500)에 의해 측정된 거리에 따른 세기에 해당하는 전압 및 전류를 공급하며, 또한, 측정전원스위치(106)를 온시킴으로서, 본 발명의 X-레이 측정기(200)가 동작 상태로 되는데, 상기 전원 콘트롤(900)에 의한 전원을 받아 해당 전원을 발생기전원카드(205)가 상기 X-레이 발생기(201)에 공급하고, 또한, 튜브전원카드(206)가 상기 X-레이 튜브(202)에 공급한다.
먼저, 본 발명의 휴대용 도금량 측정장치의 레이저 거리측정부(500)는 레이저를 측정대상에 발사한 후 반사된 레이저를 검출하여 레이저 발사 및 검출시간과 레이저 속도로 측정대상과의 거리를 측정한다.
본 발명의 휴대용 도금량 측정장치의 보상값 산출기(600)는 상기 레이저 거리측정부(500)에 의해 측정된 거리에 따라 도금량의 보상값을 산출하는데, 이에 대해서 구체적으로 설명하면, 강판의 도금량을 측정하기 전에 도 10에 도시한 바와 같이, 보상값 산출기(600)의 전면에 도금량 측정기를 설치한다.
상기 보상값 산출기(600)는 표준도금판(601) 및 거리측정자(602)를 이용하여 거리에 따른 도금량 보상값을 산출하는데, 이는 하기 표 1에 보인 바와 같으며, 이를 그래프로 나타내면 도 11에 도시한 바와 같다. 도 11에 도시한 바와 같이, 거리에 따른 도금량 보상치를 산출하고 그 값을 마이크로컴퓨터(800)에 저장하여 보정값으로 사용한다.
거리에 따른 도금량 보상값 산출표
표준값(g) 거리(mm) 검출 세기(V) 도금량(g) 보상값(g)
100g/m2 5 18.840 93.0 7.0
6 18.956 95.7 4.3
7 19.033 97.5 2.5
8 19.063 98.2 1.8
9 19.089 99.5 0.5
10 19.145 100.0 0.0
11 19.092 99.4 0.6
12 19.059 98.3 1.7
13 19.031 97.2 2.8
14 18.948 95.3 4.7
15 18.836 92.7 7.3
도 10에 도시한 상기 보상값 산출기(600)에서 보상값을 산출한 후, 본체부(100)를 측정대상으로부터 수 mm이내 적절한 거리로 근접한 상태에서 손이나 지지대를 이용하여 고정한다. 이후, 전원콘트롤(900)을 통하여 각 요소에 전원이 공급시키고, 상기 마이크로 컴퓨터(800)에 측정조건과 측정대상을 입력하고 실행시키면 프로그램에 의해 측정하고자 하는 금속원소 즉 아연, 크롬, 니켈등 그 성분에 적합한 로타리 필터(231)가 선택된다.
그 다음, 본 발명의 휴대용 도금량 측정장치의 X-레이 측정기(200)는 제어에 따라 X-레이를 발사시킨 후 반사되는 X-레이를 검출하는데, 이에 대해서 구체적으로 설명하면, 먼저, 미니X-레이 발생기(201)가 상기 마이크로 컴퓨터(800)의 제어에 의해 X-레이를 발생하고, 프레온가스를 포함하는 미니X-레이 튜브(202)가 상기 미니X-레이 발생기(201)에 의해 발생된 X-레이를 발사한다. 이후, 상기 발사된 X-레이는 측정대상에 의해 반사되고, 이 반사된 형광 X-레이중 특정한 에너지대의 형광 X-레이가 필터부(230)에 의해 통과된 후 도금량 검출부(250)로 제공된다.
여기서, 상기 마이크로 컴퓨터(800)의 제어에 의해 셔터모터(204)가 동작하여, 상기 미니X-레이 튜브(202)에 설치한 셔터(203)를 동작시켜, 상기 X-레이의 발사량을 단속할 수 있다.
상기 필터부(230)에 대해서 구체적으로 설명하면, 먼저, 상기 전원 콘트롤(900)에 의한 전원을 해당 전원으로 필터모터전원(233)이 로타리 필터 구동모터에 공급하고, 이후, 상기 마이크로 컴퓨터(800)의 제어에 의해 로타리 필터모터(232)가 동작하여 로타리 필터 받침대(234)를 회전시켜 로타리 필터(231)에 포함된 복수의 필터중 임의의 필터를 선택하면, 이 선택된 필터에 의해서 도금 성분에 해당하는 특정 에너지대를 통과시키게 된다.
또한, 상기 도금량 검출부(250)에 대해서 구체적으로 설명하면, 먼저, 전원공급기(254)는 상기 도금측정이온챔버(251)에 고전압을 공급하며, 상기 도금량 검출부(250)는 상기 필터부(230)를 통한 형광 X-레이에 대한 에너지 크기를 검출하는데, 상기 도금량 검출부(250)의 도금측정 이온챔버(251)는 상기 필터부(230)를 통한 형광 X-레이에 대한 에너지 크기를 검출하고, 증폭기전원카드(253)가 상기 도금측정 이온챔버(251)에 의해 검출된 값을 증폭한다.
그 다음, 마이크로 컴퓨터(800)의 제어부는 상기한 바와 같이, 각부의 동작을 제어하면서, 이 마이크로 컴퓨터(800)의 연산부(700)는 상기 X-레이 측정기(200)에서 검출한 X-레이 검출값으로 도금량을 산출하고, 이 도금량을 상기 보상값 산출기(600)에 의한 보상값으로 보상하여 연산하며, 이러한 도금량 관련 정보를 저장부에 저장하고, 또한 표시부를 통해 화면으로 표시한다.
전술한 바와같이, 상기 본체부(100)의 측정버튼(106)을 누르면, 레이저 거리 측정부(500)에서 도금량 측정기와 도금강판과의 거리를 측정하여 상기 마이크로 컴퓨터(800)에 전송하고, 또한, X-레이 측정기(200)의 X-레이 셔터모타(204)가 동작하여 X-레이셔터(203)가 열리면 X-레이가 발사되며 도금강판에 조사되고 그로부터 2차 형광 X-레이가 반사된다. 이때 2차 형광 X-레이는 로타리 필터(231)를 통과하여 도금량 검출부(250)의 도금측정 이온챔버(251)에 도달하게되며 도금측정 이온챔버(251)는 검출된 값을 마이크로 컴퓨터(800)에 전송한다.
이때, 상기 로타리 필터(231)는 도 12a,12b에 도시한 바와 같이, 측정하고자 하는 금속원소만 통과시키고 불필요한 잡음은 제거하는 역할을 하는데, 상기 본체부(100) 후단에 조립되어 있는 도금량 표시기(107) 및 측정거리 표시기(504)는 상기 마이크로 컴퓨터(800)와 동시에 측정값을 보여주는 역할을 한다.
상술한 바와 같은 본 발명에 따르면, 강판에 도금된 도금량을 측정하기 위해, 간단하게 구현하여 휴대가 간편하고, 측정용 시편 절취없이, 아연뿐만 아니라 얇은 도금층등 다양한 도금층을 갖는 제품에 대해 도금량을 측정할 수 있도록 합으로서, 휴대하면서 보다 간편하고, 정밀하게 강판의 도금량을 측정할 수 있도록 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치에 관한 것이다.
이상의 설명은 본 발명의 구체적인 실시 예에 대한 설명에 불과하고, 본 발명은 이러한 구체적인 실시 예에 한정되지 않으며, 또한, 본 발명에 대한 상술한 구체적인 실시 예로부터 그 구성의 다양한 변경 및 개조가 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 쉽게 알 수 있다.

Claims (7)

  1. 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치에 있어서 ,
    본체부(100)에 내장되어, 제어에 따라 X-레이를 발사시킨 후 반사되는 X-레이를 검출하는 X-레이 측정기(200);
    레이저를 측정대상에 발사한 후 반사된 레이저를 검출하여 레이저 발사 및 검출시간과 레이저 속도로 측정대상과의 거리를 측정하는 레이저 거리측정부(500);
    상기 레이저 거리측정부(500)에 의해 측정된 거리에 따라 도금량의 보상값을 산출하는 보상값 산출기(600);
    각부의 동작을 제어하는 제어부와, 상기 X-레이 측정기(200)에서 검출한 X-레이 검출값으로 도금량을 산출하고, 이 도금량을 상기 보상값 산출기(600)에 의한 보상값으로 보상하여 연산하는 연산부(700)와, 이러한 도금량 관련 정보를 저장 및 표시하는 정보 저장부 및 화면 표시부를 포함하는 마이크로 컴퓨터(800); 및
    상기 각 부에 전원을 공급하며, 상기 레이저 거리측정부(500)에의해 측정된 거리에 따른 세기에 해당하는 전압 및 전류를 공급하는 전원 콘트롤(900)을 구비함을 특징으로 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치
  2. 제1항에 있어서, 상기 본체부(100)는
    각 구성요소를 수용하는 케이스(101);
    상기 케이스(101)에 내부에 형성하여, 발사되는 방사선의 누출을 막기 위한 방폭커버(102);
    레이저를 발사 및 검출하는 입구에 설치하여 이물질의 투입을 막기위한 투명창(103);
    상기 케이스(101)에 설치한 손잡이(104);
    상기 케이스(101)를 착탈할 수 있는 지지판(105);
    전원을 온.오프하는 측정전원스위치(106); 및
    상기 마이크로 컴퓨터(800)에 의한 검출 도금량을 지시하는 도금량표시계(107)를 포함함을 특징으로 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 X-레이 측정기(200)는
    상기 마이크로 컴퓨터(800)의 제어에 의해 X-레이를 발생하는 미니X-레이 발생기(201);
    프레온가스를 포함하여 상기 미니X-레이 발생기(201)에 의해 발생된 X-레이를 발사하는 미니X-레이 튜브(202);
    상기 미니X-레이 튜브(202)에 설치하여 상기 X-레이의 발사량을 단속하기 위한 셔터(203);
    상기 셔터(202)를 동작시키는 셔터모터(204);
    상기 X-레이 발생기(201)에 전원을 공급하는 발생기전원카드(205);
    상기 X-레이 튜브(202)에 전원을 공급하는 튜브전원카드(206);
    특정한 에너지대의 형광 X-레이를 통과시키는 필터부(230); 및
    상기 필터부(230)를 통한 형광 X-레이에 대한 에너지 크기를 검출하는 도금량 검출부(250)를 구비함을 특징으로 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 필터부(230)는
    다양한 필터가 장착될 수 있는 필터받침대(234);
    각 도금 성분에 해당하는 에너지대를 통과시키기 위한 복수의 필터를 갖는 로타리 필터(231);
    로타리 필터 받침대(234)를 회전하도록 하는 로타리 필터모터(232);
    로타리 필터 구동모터에 전원을 공급하는 필터모터전원(233)을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치.
  5. 제3항에 있어서, 상기 도금량 검출부(250)는
    상기 필터부(230)를 통한 형광 X-레이에 대한 에너지 크기를 검출하는 도금측정 이온챔버(251);
    상기 도금측정 이온챔버(251)에 의해 검출된 값을 증폭하는 증폭기전원카드(253);
    상기 도금측정이온챔버(251)에 고전압을 공급하는 전원공급기(254)를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 레이저 거리측정부(500)는
    레이저를 발생하는 레이저 발생기(501);
    레이저가 발사되어 반사되어오는 레이저를 검출하는 레이저 수신기(502);
    검출된 레이저 속도를 거리로 환산해주는 거리계산기(503);
    이를 디지털로 표시하는 거리지시계(504)를 포함함을 특징으로 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치,
  7. 제1항에 있어서, 상기 보상값 산출기(600)는
    거리눈금이 표시된 표준도금판(601)을 포함함을 특징으로 하는 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치.
KR1020010072795A 2001-11-21 2001-11-21 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치 KR20030041724A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010072795A KR20030041724A (ko) 2001-11-21 2001-11-21 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010072795A KR20030041724A (ko) 2001-11-21 2001-11-21 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20030041724A true KR20030041724A (ko) 2003-05-27

Family

ID=29570726

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020010072795A KR20030041724A (ko) 2001-11-21 2001-11-21 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20030041724A (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100884549B1 (ko) * 2007-05-04 2009-02-18 (주) 브이에스아이 소형화된 휴대용 엑스선형광 분석 장치
KR100899011B1 (ko) * 2007-05-04 2009-05-21 (주) 브이에스아이 카메라모듈과 반사형 근접센서를 이용한 휴대용 엑스선형광 금속분석장치 및 금속분석방법
EP3276338A3 (en) * 2016-07-29 2018-03-21 Bruker AXS Handheld, Inc. X-ray fluorescence analyzer
KR20200022853A (ko) 2018-08-24 2020-03-04 정준용 스테인레스 전용 금속성분 분석방법 및 스테인레스 전용 금속성분 분석장치

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05196445A (ja) * 1992-01-22 1993-08-06 Nisshin Steel Co Ltd トラフ形をなす鋼板の板厚測定方法
JPH10318740A (ja) * 1997-05-15 1998-12-04 Dainippon Printing Co Ltd リードフレームのめっき膜厚測定方法
KR19990020377U (ko) * 1997-11-25 1999-06-15 이구택 폭방향 연속 도금량측정장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05196445A (ja) * 1992-01-22 1993-08-06 Nisshin Steel Co Ltd トラフ形をなす鋼板の板厚測定方法
JPH10318740A (ja) * 1997-05-15 1998-12-04 Dainippon Printing Co Ltd リードフレームのめっき膜厚測定方法
KR19990020377U (ko) * 1997-11-25 1999-06-15 이구택 폭방향 연속 도금량측정장치

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100884549B1 (ko) * 2007-05-04 2009-02-18 (주) 브이에스아이 소형화된 휴대용 엑스선형광 분석 장치
KR100899011B1 (ko) * 2007-05-04 2009-05-21 (주) 브이에스아이 카메라모듈과 반사형 근접센서를 이용한 휴대용 엑스선형광 금속분석장치 및 금속분석방법
EP3276338A3 (en) * 2016-07-29 2018-03-21 Bruker AXS Handheld, Inc. X-ray fluorescence analyzer
US10641718B2 (en) 2016-07-29 2020-05-05 Bruker Handheld Llc X-ray fluorescence analyzer
KR20200022853A (ko) 2018-08-24 2020-03-04 정준용 스테인레스 전용 금속성분 분석방법 및 스테인레스 전용 금속성분 분석장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2425234B1 (en) Localization of an element of interest by xrf analysis of different inspection volumes
US5598451A (en) Apparatus for measuring the sulfur component contained in oil
US3919548A (en) X-Ray energy spectrometer system
US8064570B2 (en) Hand-held XRF analyzer
US4569592A (en) Plasma monitor
US2642537A (en) Apparatus for determining coating thickness
US3012140A (en) Apparatus for measuring the thickness of a coating on a base material
JPS5949524B2 (ja) 測定システム
KR20030041724A (ko) 레이저와 미니엑스레이를 이용한 휴대용 도금량 측정장치
US4129778A (en) Method and apparatus for measuring the thickness of a non-metallic coating on a plated metal plate
US4277686A (en) Device for determining internal body structures by means of scattered radiation
EP0206735A2 (en) Coating weight and thickness gauges
JPH0228819B2 (ja) Metsukiekibunsekisochi
CN106053354B (zh) 光谱仪校准方法和参考材料
US2846589A (en) Apparatus for determining the thickness of zinc coating on a ferrous metal base
CN109596656B (zh) 一种激光辅助全反射x荧光铀矿痕量元素分析装置
CN114641687A (zh) 荧光x射线分析装置
JP2000065765A (ja) 蛍光x線分析装置
JP2000275197A (ja) X線分析装置およびこれを使用した測定方法
CN220188400U (zh) 一种x射线衍射和x射线荧光光谱同步联用系统及装置
JPH0422283Y2 (ko)
KR200310810Y1 (ko) 폭방향연속도금량측정장치
JPS5932731B2 (ja) 放射線分析装置
JPH0346325Y2 (ko)
JPH0843330A (ja) イオンビーム分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
NORF Unpaid initial registration fee