KR200276955Y1 - Probe Tip Connection Structure for Coaxial Cable Connectors - Google Patents
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Abstract
본 고안은 테스트를 위한 커넥터에 관한 것으로서, 특히, 접지선과 신호선이 각각 접지단자와 신호단자에 연결되는 커넥터에서, 상기 커넥터의 일측면에 신호단자로 연결되는 끼움공을 갖고 구리재질인 삽입부재를 형성하여 프로브의 프로브팁을 신호단자에 직접 연결하도록 하는 동축케이블커넥터의 프로브팁연결구조인 바, 삽입부재의 끼움공으로 프로브를 삽입하여 끝단부의 프로브팁을 신호단자에 연결시키므로 테스트시 노이즈를 줄이고 임피던스를 매칭시키도록 하는 매우 유용하고 효과적인 고안이다.The present invention relates to a connector for a test, in particular, in a connector where the ground wire and the signal wire are respectively connected to the ground terminal and the signal terminal, the insertion member made of copper material having a fitting hole connected to the signal terminal on one side of the connector It is a probe tip connection structure of a coaxial cable connector that connects the probe tip of the probe directly to the signal terminal.The probe is inserted through the insertion hole of the insertion member to connect the tip of the probe tip to the signal terminal. It is a very useful and effective design to match.
Description
본 고안은 동축케이블 커넥터(Coaxial Cable Connector)에 관한 것으로, 특히, 동축케이블용 커넥터의 일측면에 신호단자와 연결되어지는 삽입부재를 형성하고 이 삽입부재의 끼움공으로 프로브를 삽입하여 끝단부의 프로브팁을 신호단자에연결시키므로 테스트시 노이즈를 줄이고 임피던스를 매칭시키도록 하는 동축케이블커넥터의 프로브팁연결구조에 관한 것이다.The present invention relates to a coaxial cable connector, in particular, to form an insertion member that is connected to the signal terminal on one side of the connector for the coaxial cable and insert the probe into the insertion hole of the insertion member probe tip of the end Is connected to the signal terminal, so that the probe tip connection structure of the coaxial cable connector reduces noise during test and matches impedance.
일반적으로, 웨이퍼는 규소를 얇은 박판으로 형성한 것으로서, 규소(Si)를 고순도로 정제하여 결정시킨 후에 얇게 잘라내어서 반도체소자를 만드는 기본재료로 사용하게 된다. 웨이퍼는 통상적으로 여러 가지의 반도체 공정을 통하여 상부면에 무수한 패턴을 형성하고, 이 패턴이 형성된 웨이퍼의 칩을 척(Chuck)에 안치된 상태에서 제조가 제대로 이루어졌는지 여부를 테스트공정시에 미세하고 정교한 다수의 단자를 갖는 커넥터를 웨이퍼칩의 패턴에 도전시켜 각종의 전기적 특성을 측정하여 웨이퍼의 불량여부를 판정하게 된다.In general, a wafer is formed of a thin thin plate of silicon, and is used as a base material for making a semiconductor device by thinly cutting silicon (Si) after crystallization with high purity. The wafer is typically formed with a myriad of patterns on the upper surface through various semiconductor processes, and it is fine to test whether or not the wafer is manufactured properly with the chip of the wafer on which the pattern is formed on the chuck. A connector having a large number of sophisticated terminals is challenged with a pattern of a wafer chip to measure various electrical characteristics to determine whether a wafer is defective.
이와 같이, 상기한 니이들을 갖는 커넥터(Connector)는 DUT보드(Device Under Testing Board)에 납땜으로 고정된 상태로 커넥터의 접속단자에 도전부위를 연결하게 되고, 이 접속단자를 통하여 원하는 측정이 이루어지게 되는 것이다.In this way, the connector having the needle is connected to the conductive portion of the connector of the connector in the state fixed by soldering to the DUT board (Device Under Testing Board), the desired measurement is made through this connection terminal Will be.
그런데, 상기한 바와 같이, 종래의 DUT보드에 연결되어 사용되는 커넥터에서 커넥터내에 있는 신호선(Signal Line)은 오실로스코프의 프로브팁(Oscilloscope)과 연결될 때 정확하게 연결하는 것이 어려울 뿐만아니라 성능 테스트시에 커넥터가 더트보드를 통하여 연결되고, 이 커넥터와 오실로스크프의 프로브팁이 연결되므로 노이즈가 증가하고, 임피던스를 매치시키는 것이 어렵게 되어 측정값이 정확하지 못한 문제점이 있었다.However, as described above, in the connector used to be connected to the conventional DUT board, the signal line in the connector is difficult to connect correctly when connected to the oscilloscope probe tip. It is connected through a dirt board, and this connector is connected to the probe tip of the oscilloscope, thus increasing noise and making it difficult to match an impedance, thereby causing an inaccurate measurement value.
본 고안은 이러한 점을 감안하여 안출한 것으로서, 동축케이블용 커넥터의일측면에 신호단자와 연결되어지는 삽입부재를 형성하고 이 삽입부재의 끼움공으로 프로브를 삽입하여 끝단부의 프로브팁을 신호단자에 연결시키므로 테스트시 노이즈를 줄이고 임피던스를 매칭시키는 것이 목적이다.The present invention has been devised in view of this point, and forms an insertion member connected to the signal terminal on one side of the coaxial cable connector, and inserts the probe into the insertion hole of the insertion member to connect the probe tip of the end to the signal terminal. The goal is to reduce noise during test and match impedance.
도 1은 종래의 커넥터 단면을 보인 도면.1 is a cross-sectional view of a conventional connector.
도 2는 본 고안에 따른 커넥터의 단면을 보인 도면.Figure 2 is a view showing a cross section of the connector according to the present invention.
도 3는 본 고안에 따른 커넥터의 측면을 보인 도면.Figure 3 is a view showing the side of the connector according to the present invention.
도 4는 본 고안에 따른 커넥터에 프로브팁이 삽입된 상태를 보인 도면.4 is a view showing a state in which a probe tip is inserted into the connector according to the present invention.
-도면의 주요부분에 대한 부호의 설명-Explanation of symbols on the main parts of the drawing
10 : 커넥터 12 : 접지단자10: connector 12: ground terminal
14 : 신호단자 16 : 접지선14: signal terminal 16: ground wire
18 : 신호선 20 : 삽입부재18: signal line 20: insertion member
22 : 끼움공 30 : 프로브22: fitting hole 30: probe
32 : 프로브팁32: probe tip
이러한 목적은 접지선과 신호선이 각각 접지단자와 신호단자에 연결되는 커넥터에서, 상기 커넥터의 일측면에 신호단자로 연결되는 끼움공를 갖는 삽입부재를 형성하여 프로브의 프로브팁을 신호단자에 연결하는 동축케이블커넥터의 프로브팁연결구조를 제공함으로써 달성된다.For this purpose, a coaxial cable connecting the probe tip of the probe to the signal terminal by forming an insertion member having a fitting hole connected to the signal terminal on one side of the connector in a connector where the ground line and the signal line are respectively connected to the ground terminal and the signal terminal. By providing a probe tip connection structure of the connector.
이하, 첨부한 도면에 의거하여 본 고안의 구성에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the configuration of the present invention.
우선, 도 2는 본 고안에 따른 커넥터의 단면을 보인 도면이고, 도 3는 본 고안에 따른 커넥터의 측면을 보인 도면이며, 도 4는 본 고안에 따른 커넥터에 프로브팁이 삽입된 상태를 보인 도면이다.First, Figure 2 is a view showing a cross section of the connector according to the present invention, Figure 3 is a view showing the side of the connector according to the present invention, Figure 4 is a view showing a state in which the probe tip is inserted into the connector according to the present invention. to be.
본 고안인 접지선(16)과 신호선(18)이 각각 접지단자(12)와 신호단자(14)에 연결되는 커넥터(10)에서, 상기 커넥터(10)의 일측면에 신호단자(14)로 연결되는 끼움공(22)를 갖는 삽입부재(20)를 형성하여 프로브(30)의 프로브팁(32)을 신호단자(14)에 직접적으로 연결하여서 구성된다.In the connector 10 of the present invention, the ground line 16 and the signal line 18 are connected to the ground terminal 12 and the signal terminal 14, respectively, connected to one side of the connector 10 by the signal terminal 14. It is formed by connecting the probe tip 32 of the probe 30 directly to the signal terminal 14 by forming an insertion member 20 having a fitting hole 22 to be.
그리고, 상기 삽입부재(20)는 전기적으로 도전성이 좋은 구리(Cu)를 사용하는 것이 바람직하지만 필요에 따라 도전성이 좋은 다른 금속재질을 사용하여도 무방하다.In addition, the insertion member 20 is preferably electrically conductive copper (Cu), but if necessary, other conductive metal materials may be used.
한편, 상기 삽입부재(20)의 끼움공(22)은 프로브(30)가 끼워지면서프로브팁(32)이 신호단자(14)에 접촉되면서 유동이 방지된 상태로 압입되는 상태로 끼워지도록 구성한다.On the other hand, the fitting hole 22 of the insertion member 20 is configured to be inserted in a state that the probe tip 32 is pressed in a state in which the flow is prevented while contacting the signal terminal 14 while the probe 30 is fitted. .
이와 같이 구성된 본 고안의 사용 상태를 살펴 보도록 한다.Let us look at the state of use of the present invention configured as described above.
우선 본 고안에 따른 커넥터를 미도시된 더트보드에 설치시키고서 오실로스크프로 웨이퍼의 특성을 측정하고자 한다면, 오실로스코프에 연결된 프로브를 커넥터의 측면부에 형성된 삽입부재(20)의 끼움공(22)으로 끼우게 되면, 프로브팁(32)이 신호단자(14)에 접속된 상태로 도전되어진다.First, if the connector according to the present invention is to be installed on a dirt board (not shown) to measure the characteristics of the wafer with the oscilloscope, the probe connected to the oscilloscope is inserted into the fitting hole 22 of the insertion member 20 formed at the side of the connector. When it is depressed, the probe tip 32 is electrically connected to the signal terminal 14.
이와 같은 상태에서 신호선(18)을 통하여 신호단자(14)로 전기적인 신호가 이동하면서 신호단자(14)에 접속된 프로브(30)의 프로브팁(32)을 통하여 오실로스코프로 전달되어 측정대상물의 측정치를 읽어낼 수 있게 된다.In this state, the electrical signal is transferred to the signal terminal 14 through the signal line 18 and transmitted to the oscilloscope through the probe tip 32 of the probe 30 connected to the signal terminal 14. Can be read.
이때, 종래와 다르게, 신호선(18)을 통한 신호가 신호단자(14)에서 직접 프로브(30)를 통하여 오실로스코프로 전달되므로 신호의 전달 경로가 단축되어 측정치가 노이즈 없이 정확하게 나타내어지고, 임피던스의 매치가 용이하게 조절되어진다.At this time, unlike the conventional method, since the signal through the signal line 18 is transmitted from the signal terminal 14 directly to the oscilloscope through the probe 30, the signal transmission path is shortened so that the measured value is accurately represented without noise, and the impedance match is It is easily adjusted.
따라서, 상기한 바와 같이 본 고안에 따른 프로브팁연결구조를 갖는 동축케이블커넥터를 사용하게 되면, 동축케이블용 커넥터의 일측면에 신호단자와 연결되어지는 삽입부재를 형성하고 이 삽입부재의 끼움공으로 프로브를 삽입하여 끝단부의 프로브팁을 신호단자에 연결시키므로 테스트시 노이즈를 줄이고 임피던스를 매칭시키도록 하는 매우 유용하고 효과적인 고안이다.Therefore, when the coaxial cable connector having a probe tip connection structure according to the present invention is used as described above, an insertion member connected to a signal terminal is formed on one side of the connector for the coaxial cable, and the probe is inserted into the insertion hole. The probe tip at the end is connected to the signal terminal by inserting a, so it is very useful and effective to reduce noise during test and match impedance.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019980007995U KR200276955Y1 (en) | 1998-05-15 | 1998-05-15 | Probe Tip Connection Structure for Coaxial Cable Connectors |
Applications Claiming Priority (1)
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| KR2019980007995U KR200276955Y1 (en) | 1998-05-15 | 1998-05-15 | Probe Tip Connection Structure for Coaxial Cable Connectors |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| KR19990041218U KR19990041218U (en) | 1999-12-15 |
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Family
ID=69505110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
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| KR (1) | KR200276955Y1 (en) |
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1998
- 1998-05-15 KR KR2019980007995U patent/KR200276955Y1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR19990041218U (en) | 1999-12-15 |
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