KR20020069194A - 스퍼터링 프로세스를 조정하는 방법 - Google Patents

스퍼터링 프로세스를 조정하는 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 MF 또는 HF 스퍼터링 프로세스를 조정하는 방법에 관한 것으로서, 방전 파라미터의 조파 분석이 구현되고 MF 또는 HF 출력 및/또는 반응성 가스 흐름이 상기 분석 결과에 기초하여 조정된다.

Description

스퍼터링 프로세스를 조정하는 방법{METHOD FOR REGULATING SPUTTERING PROCESSES}
플라즈마 스퍼터링은 기판, 특히 세라믹 또는 다른 멀티 구성요소 기능층을 갖는 기판을 코팅하기 위해 달성된 기술이다. 특히 반응성 마그네트론 스퍼터링에서의 스퍼터링은 상 조성 및 바람직한 미세 구조의 바람직한 조합이 고속으로 기판상에 성장할 수 있도록 할 목적으로 반응성 분위기에서 금속 타겟을 스퍼터링하는 단계에 기초하고 있다.
그러나, 여기에서, 종래 스퍼터링 프로세스에서의 반응성 가스 부분 압력이 연속적으로 변경될 수 없다는 점에서 실질적인 문제가 발생한다. 따라서, 파라미터 레인지는 고반응성 가스 부분 압력, 및 반응 생성물로 완전히 덮힌 타켓 표면 및 기판상의 화학양론적 층의 한정된 레인지 "화합물 모드" 및 스퍼터링 챔버내의 저반응성 가스 부분 압력, 광범위한 금속 타겟 표면 및 기판상의 금속층의 성장의 "금속 모드"로 분류된다. 이러한 레인지 사이에서, 연속적인 전이는 일반적으로 불가능하고, 불안정한 프로세스 상태가 나타나는데, 이에 대해 아래에 대략 설명하였다. 예를 들어, 반응성 가스 O2에 대해 설명하였지만, 상술된 메커니즘은 또한 N2, CHX등에도 적용된다.
마그네트론 스퍼터링의 시작 단계에서, 반응성 가스가 스퍼터링 챔버에 더해진다. 그다음, 경쟁적인 성장 및 에칭 프로세스가 타겟 표면상에서 이루어진다. O2부분 압력이 낮다면, 산화물 피복의 성장 속도는 낮아지고, 그래서 에칭 프로세스가 산화층의 스퍼터링 제거에 의해 우세하게 된다. 따라서, 타겟 표면은 순수하게 금속으로 남게 된다. 이러한 상태는 유효한 흡입 용량이 자주 실제로 진공을 위해 사용되는 터보 펌프의 흡입 용량의 배가 되는 효율적인 게터 펌프로서 타겟이 작용하기 때문에 안정하다.
반응성 가스 부분 압력이 증가한다면, 산화층은 다소 고속으로 타겟 표면상에서 성장하게 된다. 낮은 이온 흐름 농도 및 그에 따른 낮은 에칭 속도의 경우에, 성장 과정이 우세하게 된다. 이러한 방식으로, "포이즌(poisoned) 타겟 영역"으로 설명되기도 하는 반응생성물로 덮힌 타겟 영역이 생성된다.
이러한 포이즌 타겟 영역은 항상 금속에 비하여 보다 낮은 스퍼터링율을 갖고, 그래서 전체적으로 보다 적은 물질이 스퍼터링된다. 이것은 타겟상에서의 물질 제거의 감소, 타겟 흡입 능력의 저하를 가져오고, 그래서 반응성 가스 부분 압력의 추가 증가를 가져오게 된다.
반응성 가스 부분 압력의 증가는 타겟 게터 펌프의 흡입 압력의 감소를 가져오고, 그 결과로서 반응성 가스 부분 압력의 증가가 교대로 나타나기 때문에, 반응성 가스 부분 압력이 임계값을 초과하자마자, 그 결과로서, 자체 증가하는 효과를 가져온다. 이러한 불안정성은 금속 모드로부터 화합 모드로의 전이의 특성을 나타낸다.
낮은 스퍼터링율 조건의 화합물 모드에서 성장 속도는 낮지만, 반응성 가스가 과도해짐에 따라 화합물 모드에서의 층이 성장하게 되고, 그 결과로서 원치 않는 층 특성이 나타나기 때문에, 이러한 2개의 상태 사이의 비연속적 전이의 안정화는 기술적으로 매우 흥미있는 일이다. 반면, 반응성 가스 부분 압력은 일반적으로 금속 모드에서 너무 낮고, 그래서 흡수성 아화학양론적인 화합물이 성장하게 된다.
그러나, 바람직한 화학양론적인 층은 또한 "전이 모드"로 설명되는 불안정한 전이 레인지에서 프로세스가 정확하게 작동될 때 고속으로 증착될 수 있다. 이러한 비연속적인 전이 상태 "전이 모드"의 안정화는 소스의 다이내믹 동작(behaviour)을 고려하여 기술적인 관심사인 불안정한 동작 포인트를 유지할 수 있는 제어 사이클에 의해 가능하다.
다양한 제어 변수가 전이 모드를 안정화시키기 위해 당업분야에서 제안되어 있다.
예를 들어, 플라즈마 임피던스가 타겟 피복에 상당히 의존되어 있고 반응성 가스 흐름의 방전 출력의 채택에 의해 제어 변수로서 일정하게 유지되는(임피던스 제어) ZnO,SnO2, 또는 SiO2와 같은 물질에 대하여 J. Affinito, R.R. Parsons의 "Mechanisms of voltage controlled, reactive, planar magnetron sputtering ofAl in Ar/N2and Ar/O2atmospheres"에 나타나 있다. 대안으로, 플라즈마 임피던스가 타겟 피복에 단지 경미하게 의존하여 예를 들어 TiO2, Nb2O5에 대하여 임피던스 조정이 되지 않는 산화물 시스템에서, 반응성 가스 부분 압력이 람다 프로브를 통하여 측정되는 제어 변수로서 사용되는 것이 EP 0 795 623 A1(1997년 9월 17일자 공개)에 발표되었다.
"Process stabilisation with reactive high rate sputtering by means of optical emission spectroscopy for industrial production of indium-tin oxide layers and titanium dioxide layers", Chemnitz, 1991에서 J.Strumpfel은 제어 변수로서 플라즈마 방전의 광학 방출을 사용하는 것을 더 가능성 있는 것으로 설명하고 있다. 상기 기술분야에서의 상술된 방법의 조합 역시 사용가능하다. 상술된 방법은 모두 원칙적으로 직류 전압 및 MF 동작에 모두 사용가능하다.
상기 기술분야에서 공지된 방법은 모두 절대값을 계산한다. 하지만, 그러한 절대값의 계산은 생산 조건에 있어서 매우 문제가 많다. 왜냐하면, 예를 들어 플라즈마 임피던스는 타겟 부식, 측정 헤드의 오염, 랜덤 층등에 의해 변화되기 때문이다.
따라서, 상이한 동작 모드 사이의 전이를 신뢰성 있게 안정화시킬 수 있는 스퍼터링 프로세스를 제어하는 방법을 제시하는 것이 본 발명의 목적이다.
이러한 목적은 청구항 1 항에 따른 방법 및 청구항 7항에 따른 디바이스에 의해 달성된다. 본 발명에 따른 방법에 대해 종속항에 설명되어 있다.
본 발명은 MF 또는 HF 스퍼터링 프로세스를 조정하는 방법에 관한 것이다.
도 1 및 도 2는 TiOX층의 반응성 마그네트론 스퍼터링 동안의 조파 분석 및 U(qO2) 히스테리시스 커브를 도시하는 도면,
도 3 및 도 4는 Nb2O5스퍼터링의 경우에 스퍼터링 챔버내의 전체 압력에 대한 조정가능한 변수의 의존관계를 도시하는 도면,
도 5는 Nb2O5스퍼터링 동안의 방전 출력에 대한 표준화된 푸리에 계수 u1/U의 의존관계를 도시하는 도면, 및
도 6은 Nb2O5스퍼터링 동안 표준화된 푸리어 계수 u1/U의 굴절율 n, 흡수 계수 k 및 증착 속도(deposition rate) r을 도시하는 도면.
본 발명에는 방전 파라미터의 조파 분석을 통하여 타겟 상태의 플라즈마 진단 및 특성화에 대한 새로운 방법이 나타나 있다. 여기에는 예를 들어 음극 전류 또는 음극 전압과 같은 방전 파라미터의 복소(complex) 푸리에 스펙트럼의 분석이 포함되어 있다. 그래서 프로세스 조정에 대한 새로운 가능성이 생기게 된다. 전류 및 전압의 조파 성분, 기본 주파수 및/또는 고조파에서의 전류 및 전압 사이의 상 변위 또는 캐소드의 전류 및 전압의 푸리에 계수의 비 역시 조정가능한 변수로서 가능하다.
본 발명에 따른 방법의 특별한 장점은 절대값을 정밀하게 측정할 필요없이 타겟 상태를 결정할 수 있다는 데에 있다.
다음에서, 본 발명에 따른 방법의 몇가지 예를 설명하였다.
아래에, TiOX층의 반응성 마그네트론 스퍼터링에 대한 방전의 전기 파라미터의 관찰 결과를 설명하였다. 이에 따라, 도 1은 TiOX층 시스템의 반응성 평균 주파수 마그네트론 스퍼터링 동안 히스테리시스의 조파 분석을 도시한다. 프로세스의 구현은 qAr=60sccm의 일정한 Ar 흐름 및 P/A=7W/cm2의 출력 밀도에 상응하는 P=6kW의 일정 출력에서 이루어진다. 금속 타겟으로부터 시작하여, O2흐름은 qo2의 범위에서 연속적으로 증가되거나 감소되었다. 매트릭스의 라인 A-D는 전류 및 전압의 푸리에 계수(uj및 ii), 전압 및 전류 사이의 상 변위(p(ui)-p(ii)) 및 푸리에 계수의 비(ii/ui)를 나타낸다. 열 0-3은 기본파 및 제1 내지 제3 고조파에 대한 데이터를 나타낸다.
TiOX층 시스템의 반응성 스퍼터링은 방전 전압 및 타겟 상태 사이에 아무런 단조로운 상관관계(monotonic correlation)가 없기 때문에, 고전적으로 임피던스 조정이 가능하지 않다. 이런 점에서 도 2는 조파 분석에 의해 도 1에서 상기 검토된 프로세스에 대한 U(qo2) 특성 라인을 도시한다.
커브는 도 1에 도시된 기본파(u0)에 실질적으로 상응하고, 동작 상태, 즉 금속 모드 및 산화물 모드 사이의 전이는 qo2= 37sccm 또는 qo2= 16sccm에서 이루어지고, 타겟 상태는 방전 전압에 의해 명백하게 식별될 수 없다.
조파 분석은 도 1내의 점으로 표시된 복수의 값에 대한 명백한 표시를 제공한다. 특히, 제2 고조파의 전압 및 전류의 상 변위의 분석은 TiOX층 프로세서의 안정화에 대해 제공된다(도 1의 매트릭스중 도면 C2). 이 값은 프로세스의 안정화에 대한 제어 변수로서의 낮은 노이즈 및 높은 신호 트래블로 인해 특히 적합하다.
조파 분석의 정보 내용은 복수의 물질 및 프로세스 파라미터에 의해 결정되고, 그래서 최적 제어 변수가 기술자에게 익숙한 방식으로 각각의 개별적인 경우에서 별개의 검사에 의해 결정될 수 있다.
또 다른 실시예에서, Nb2O5에 대한 각각의 MF 스퍼터링 프로세스는 타겟 전압의 제1 조파의 측정에 의해 안정화된다. 이것으로 인하여, 기술적 변환은 기준 및 신호 입력부에 타겟 전압이 공급된 단일 위상 로크 인 증폭기로써 이루어졌다. 2F 모드에서의 동작에 의하여, 타겟 전압의 조파 성분은 로크 인 증폭기에 의해 방출되었다. 이러한 조파 성분은 발생기로부터 발생된 타겟 전압에 표준화되었고, 그래서 제1 접근에서 표준화된 푸리에 계수는 제1 조파 동안 측정되었다. 다음으로, 이러한 제어 변수는 일정한 산소 공급(25sccm) 동안 표준화되었고, 캐소드에서의 전기 출력은 조정가능한 변수로서 가변되었다.
도 3은 스퍼터링 챔버내의 전체 압력에 대한 방전 전압의 의존관계를 도시한다. 감지할 수 있는 바와 같이, 특성 라인은 아무런 단조로운 상관관계도 갖고 있지 않다. 방전 파라미터 및 층 특성 또는 반응성 부분 압력 사이에 아무런 단조로운 상관관계가 없기 때문에, 반응성 NbOX스퍼터링 프로세스는 임피던스 조정가능하지 않다.
도 4는 전체 압력 u1/U에 대한 상술된 바와 같은 표준화된 푸리에 계수 u1/U의 의존관계를 대조적으로 도시한다. 여기에서, u1은 타겟에서 측정되는 타겟 전압 U(t)의 코스의 제1 조파의 진폭을 나타내고, U는 발생기에 의해 주어진 전압의 평균값이다. 여기에서 표준화된 푸리에 계수 및 전체 전압이 단조로운 상관관계를 갖는다는 것을 알 수 있다. 결과적으로, 이러한 제어 변수로써, 연속적으로 변경가능한 반응성 가스 부분 압력으로 전이 모드에서 층을 생성하는 것이 가능해진다.
도 5는 방전 출력에 대한 표준화된 푸리에 계수 u1/U의 의존관계의 특성 라인을 도시한다. 특성 라인의 전형적인 S 구조가 검출된다. 비연속적인 전이가 전혀 없고, 그래서 각각의 동작 포인트에서의 방전은 안정화될 수 있다.
더욱이, 도 5에서, 층이 NbOX로부터 생성된 동작 포인트가 기록된다(색칠된 삼각형).
도 6은 도 3의 표시된 동작 포인트에서 생산된 샘플의 광학 상수, 굴절율 n 및 흡수율 k 및 증착율(deposition index) r를 도시한다. 검출할 수 있는 바와 같이, 샘플은 약 0. 047의 u1/U 값 위에서 흡수하기 시작한다. 투명층은 도 5의 S-커브의 중앙 브런치의 불안정한 파라미터 레인지내의 a=1.25mm/s의 고증착율에서 u1/U=0.046에 대하여 생성되었다.
0.044 및 0.048에서의 값은 이상치로 보아야 한다.
여기에서, 이러한 경우에서의 조정은 오직 하나의 캐소드상에서 동작되었다는 것과, 그래서 제2 캐소드는 경미하게 상이한 상태를 가질 수 있지만, 조정의 원리 기능에 대해서는 아무것도 변경되지 않았다는 것을 주목해야 한다.
요컨대, 처음으로, 소위 전이 레인지내에서 반응성 MF 마그네트론 스퍼터링 및 HF 또는 MF 스퍼터링을 안정화시키는 방법의 유용화가 달성될 수 있으며, 상기 방법은 전기 파라미터의 조파 분석에 기초하게 된다.

Claims (7)

  1. MF 또는 HF 스퍼터링 프로세스를 조정하는 방법에 있어서, 방전 파라미터의 조파 분석이 구현되고 MF 또는 HF 출력 및/또는 반응성 가스 흐름이 상기 분석 결과에 기초하여 조정되는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 제어 변수는 상기 분석 결과로부터 계산되고 상기 MF 또는 HF 출력은 조정되어 상기 제어 변수는 그 설정값을 채택하게 되는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 타겟 전류 및/또는 타겟 전압의 복소 푸리에 스펙트럼의 조파 분석이 구현되는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 타겟 전류 및 상기 타겟 전압 사이의 상 변위의 분석은 기본 주파수 및/또는 고조파에서 구현되는 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 타겟 전류 및/또는 타겟 전압의 푸리에 계수의 비의 분석이 구현되는 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 제 1 항 내지 제 5 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 타겟 전압의 제1 조파의 푸리에 계수는 제어 변수로서 결정되고, 상기 푸리에 계수는 상기 타겟 전압으로 표준화되는 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 스퍼터링되는 상기 타겟이 위에 배치된 캐소드 및 스퍼터링 챔버와, 상기 캐소드에서 MF 또는 HF 전압을 생성하는 발생기를 구비하여 MF 또는 HF 스퍼터링 프로세스를 구현하는 디바이스에 있어서,
    제 1 항 내지 제 6 항중 어느 한 항에 따라 상기 방전 파라미터의 조파 분석을 구현하고 상기 분석 결과에 기초하여 상기 MF 또는 HF 출력을 조정하는 것을 특징으로 하는 디바이스.
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