KR20020045673A

KR20020045673A - Contact device of handler

Info

Publication number: KR20020045673A
Application number: KR1020000074944A
Authority: KR
Inventors: 설대환
Original assignee: 백영근; 내일시스템주식회사
Priority date: 2000-12-09
Filing date: 2000-12-09
Publication date: 2002-06-20
Also published as: KR100395747B1

Abstract

PURPOSE: A device contact apparatus of a vertical handler is provided to prevent a lead of a device from being transformed in a test process by pressing a contact pin toward the lead of the device at a uniform pressure while a cam surface formed on a cam plate is used. CONSTITUTION: A pair of contact pins are installed in a test unit, and a test is performed while the contact pin is connected to the lead of the device. A pusher(12) is installed at both sides of the contact pin installed in the test unit, capable of rotating. A driving unit(13) is installed near a side of the pusher. A slider(15) moves forward and backward along a guide rail(14), driven by the driving unit. The cam plate(16) closes the pusher according as the slider moves forward and backward, fixed in the slider.

Description

Contact device of handler

본 발명은 디바이스의 리드가 패키지의 외부로 노출된 디바이스를 자중에 의해 이송시키면서 테스트부에서 테스트시 디바이스의 리드와 콘택핀을 전기적으로 접속시키는 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치에 관한 것이다.The present invention relates to a device contact apparatus of a vertical handler which electrically connects a lead of a device and a contact pin during a test in a test unit while transferring a device whose lead of the device is exposed to the outside of the package by its own weight.

도 1은 일반적인 수직식 핸들러를 나타낸 측면도로서, 수직식 핸들러는 튜브형상의 슬리브(Sleeve)내에 테스트할 디바이스를 채운 다음 이를 일정각도 기울여 슬리브내의 디바이스가 자중에 의해 이송되도록 한 것으로 그 동작을 간략하게 설명하면 다음과 같다.1 is a side view showing a general vertical handler, in which the vertical handler fills a device to be tested in a tubular sleeve and tilts it at an angle so that the device in the sleeve is transported by its own weight. Is as follows.

슬리브(1)내에 테스트할 디바이스를 채운 다음 이를 로딩부(2)의 스택커(Stacker)(3)사이에 차례로 적재하여 놓으면 별도의 이송수단이 스택커(3)의 하부로부터 디바이스가 채워진 슬리브(1)를 1개씩 분리하여 일정각도 회동운동하는 스윙암(Swing Arm)(4)으로 수평 이송시키게 된다.Filling the device to be tested in the sleeve (1) and then loading it in sequence between the stacker (3) of the loading section (2) a separate transport means is a sleeve filled with the device from the bottom of the stacker (3) 1) is separated one by one to move horizontally to the swing arm (4) swinging a certain angle.

상기한 동작으로 디바이스가 채워진 슬리브(1)가 스윙암(4)으로 이송됨을 센서(도시는 생략함)가 감지하여 상기 스윙암(4)을 설정된 각도만큼 회동시키면 슬리브는 삽입편(5)의 후방에 위치된 스프링의 탄발력에 의해 이송트랙(6)측으로 밀려개구부가 이송트랙과 일치된다.When the sensor (not shown) senses that the sleeve 1 filled with the device is transferred to the swing arm 4 by the above-described operation, and rotates the swing arm 4 by a predetermined angle, the sleeve of the insertion piece 5 The opening is coincided with the conveying track by being pushed toward the conveying track 6 by the spring force of the spring located at the rear side.

이에 따라, 슬리브내에 채워져 있던 디바이스가 자중에 의해 슬리브의 개구부를 통해 빠져 나와 이송트랙(6)을 따라 테스트부(7)로 이송되어 디바이스의 리드가 테스트부에 설치된 콘택핀에 전기적으로 접속되므로 설정된 시간동안 테스트가 이루어지게 된다.Accordingly, the device filled in the sleeve escapes through the opening of the sleeve by its own weight and is transferred to the test unit 7 along the transfer track 6 so that the lead of the device is electrically connected to the contact pin installed in the test unit. The test will take place over time.

이와 같이 테스트부(7)에서 설정된 시간동안 테스트가 이루어지고 나면 디바이스는 테스트 결과에 따라 소팅블럭(도시는 생략함)에 의해 여러개로 나뉘어진 어느 하나의 송출트랙(8)으로 송출되므로 빈 슬리브(1a)내에 담겨지게 된다.After the test is performed for the time set by the test unit 7 as described above, the device is sent out to any one of the sending tracks 8 divided by the sorting block (not shown) according to the test result, so that the empty sleeve ( It is contained in 1a).

상기한 바와 같이 슬리브(1)내에 담겨진 디바이스를 자중에 의해 이송시키면서 테스트부(7)에서 설정된 시간동안 테스트를 실시하는 수직식 핸들러에서 디바이스의 리드를 콘택핀에 접속시키는 디바이스 콘택장치의 구조를 도 2에 나타내었다.As described above, a device contact apparatus for connecting a device lead to a contact pin in a vertical handler which performs a test for a predetermined time in the test unit 7 while transferring the device contained in the sleeve 1 by its own weight is shown. 2 is shown.

테스트부(7)에 디바이스(9)의 리드(9a)와 전기적으로 접속하는 한 쌍의 콘택핀(10)이 대향되게 설치되어 있고 상기 각각의 콘택핀의 일측에는 상기 콘택핀(10)을 디바이스(9)의 리드(9a)측으로 밀어주는 실린더(11)가 설치되어 있다.A pair of contact pins 10 electrically connected to the leads 9a of the device 9 are provided in the test unit 7 so that the contact pins 10 are provided on one side of each contact pin. The cylinder 11 which pushes to the lead 9a side of (9) is provided.

따라서 1개의 디바이스(9)가 자중에 의해 이송트랙(6)을 통해 테스트부(7)측으로 이송되어 스토퍼(도시는 생략함)에 의해 이송이 제어되면 디바이스(9)의 리드(9a)가 콘택핀(10)과 일치하게 된다.Therefore, when one device 9 is conveyed to the test part 7 side through the transfer track 6 by its own weight, and the transfer is controlled by a stopper (not shown), the lead 9a of the device 9 contacts. Coincides with pin 10.

이와 같이 1개의 디바이스(9)가 이송됨이 센서(도시는 생략함)에 의해 감지되면 콘택핀(10)의 일측에 설치된 실린더(11)가 구동하여 콘택핀(10)을 상호 내측으로 밀어주게 되므로 콘택핀이 디바이스(9)의 리드(9a)와 전기적으로 접속되고, 이에 따라 설정된 시간동안 테스트가 이루어지게 된다.As such, when one device 9 is transferred by a sensor (not shown), a cylinder 11 installed at one side of the contact pin 10 is driven to push the contact pins 10 inward. Therefore, the contact pin is electrically connected to the lead 9a of the device 9, and thus the test is performed for a set time.

그러나 이러한 종래의 장치는 다음과 같은 문제점이 있었다.However, this conventional device has the following problems.

첫째, 각각의 실린더(11)가 구동하여 콘택핀(10)을 디바이스(9)의 리드(9a)측으로 밀어주게 되므로 실린더의 발란스가 불일치할 경우에는 콘택핀(10)을 디바이스의 리드(9a)와 접속시 디바이스의 리드가 변형되어 양품의 디바이스를 불량으로 오판정하는 경우가 발생되었다.First, since each cylinder 11 is driven to push the contact pin 10 toward the lead 9a side of the device 9, when the balance of the cylinder is inconsistent, the contact pin 10 is moved to the lead 9a of the device. The lead of the device was deformed at the time of connection, and the device of the good product was judged to be wrong.

둘째, 450mil의 디바이스를 테스트하다가 크기가 작은 375mil의 디바이스를 테스트하기 위해서는 실린더(11)의 스트로크를 가변시켜야 되었으므로 콘택핀(10)의 일측으로 설치되어 있던 실린더(11)를 반드시 교체하여야 되었고, 이에 따라 실린더의 교체에 따른 가공오차 및 조립공차 등에 의해 실린더(11)의 발란스가 불일치할 우려가 있었다.Second, in order to test a 450 mil device while testing a small 375 mil device, the stroke of the cylinder 11 had to be varied so that the cylinder 11 installed as one side of the contact pin 10 had to be replaced. Accordingly, there is a fear that the balance of the cylinder 11 may be inconsistent due to machining errors and assembly tolerances caused by the replacement of the cylinder.

본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 그 구조를 개선하여 콘택핀의 이동량을 항상 일정하게 유지시켜 테스트시 디바이스의 리드가 변형되는 현상을 미연에 방지할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve such a problem in the prior art, by improving its structure to always maintain a constant amount of contact pin movement to prevent the phenomenon that the lead of the device is deformed during the test in advance. There is this.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 형태에 따르면, 테스트부에 한 쌍의 콘택핀을 설치하여 상기 콘택핀이 디바이스의 리드에 접속된 상태에서 테스트를 실시하는 수직식 핸들러에 있어서, 테스트부에 설치된 콘택핀의 양측에 회동가능하게 설치된 푸셔와, 상기 일측의 푸셔에 근접되게 설치된 구동수단과, 상기 구동수단의 구동에 의해 가이드레일을 따라 진퇴운동하는 슬라이더와, 상기 슬라이더에 고정되어 구동수단에 의해 슬라이더가 진퇴운동함에 따라 푸셔를 내측으로 오므려주는 캠판으로 구성된 것을 특징으로 하는 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치가 제공된다.According to an aspect of the present invention for achieving the above object, in the vertical handler for installing a pair of contact pins in the test section to perform the test while the contact pins are connected to the lead of the device, A pusher rotatably installed on both sides of the contact pin, a driving means provided close to the pusher on one side, a slider moving forward and backward along the guide rail by the driving means, and fixed to the slider by the driving means. There is provided a device contact device for a vertical handler, characterized in that it consists of a cam plate which retracts the pusher inward as the slider moves back and forth.

도 1은 일반적인 수직식 핸들러를 나타낸 측면도1 is a side view showing a typical vertical handler

도 2는 종래의 장치를 개략적으로 나타낸 평면도2 is a plan view schematically showing a conventional apparatus

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예를 나타낸 정면도로서,3a and 3b is a front view showing an embodiment of the present invention,

도 3a는 콘택핀이 상호 벌어진 상태도3A is a state in which contact pins are mutually opened

도 3b는 캠판에 의해 콘택핀이 내측으로 오므러들어 디바이스의 리드와 콘택된 상태도3B is a state diagram in which the contact pin is retracted inward by the cam plate to contact the lead of the device;

도 4은 도 3a의 평면도4 is a top view of FIG. 3A

도 5는 본 발명의 다른 실시예를 나타낸 정면도5 is a front view showing another embodiment of the present invention

도면중 주요 부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts in the drawings

10 : 콘택핀12 : 푸셔10: contact pin 12: pusher

13 : 구동수단14 : 가이드레일13 driving means 14 guide rail

15 : 슬라이더16 : 캠판15: slider 16: cam plate

이하, 본 발명을 일 실시예로 도시한 도 3 내지 도 5을 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to Figures 3 to 5 showing an embodiment of the present invention in more detail as follows.

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예를 나타낸 정면도이고 도 4은 도 3a의 평면도로서, 본 발명의 구성 중 종래의 구성과 동일한 부분은 그 설명을 생략하고 동일부호를 부여하기로 한다.3A and 3B are front views illustrating an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a plan view of FIG. 3A, and the same parts as those of the conventional structure of the present invention will be omitted with the same reference numerals.

본 발명은 테스트부(7)에 설치된 콘택핀(10)의 양측으로 푸셔(12)가 회동가능하게 설치되어 있고 상기 일측의 푸셔(12)와 근접된 위치에는 공압실린더와 같은 구동수단(13)이 설치되어 있다.According to the present invention, the pusher 12 is rotatably installed on both sides of the contact pin 10 installed in the test unit 7, and the driving means 13 such as a pneumatic cylinder is positioned at a position close to the pusher 12 on one side. Is installed.

그리고 상기 구동수단(13)의 일측에 고정된 가이드레일(14)에 슬라이더(15)가 진퇴운동가능하게 결합되어 있고 상기 슬라이더(15)에는 구동수단(13)에 의해 슬라이더(15)가 진퇴운동함에 따라 푸셔(12)를 내측으로 오므려주는 캠판(16)이 설치되어 있다.In addition, the slider 15 is coupled to the guide rail 14 fixed to one side of the driving means 13 so as to move forward and backward, and the slider 15 moves forward and backward by the driving means 13. As a result, a cam plate 16 is provided to retract the pusher 12 inward.

상기 캠판(16)을 슬라이더(15)와 일체로 형성하여도 무관하지만, 테스트할 디바이스(9)의 규격에 따라 신속한 작업이 이루어지도록 캠판(16)을 다른 실시예로 도시한 도 5와 같이 교체 가능하게 설치하는 것이 보다 바람직하다.Although the cam plate 16 may be formed integrally with the slider 15, the cam plate 16 may be replaced as shown in FIG. 5 in another embodiment so as to perform a quick operation according to the specification of the device 9 to be tested. It is more preferable to install as possible.

이와 같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the present invention configured as described above is as follows.

먼저, 테스트할 디바이스(9)가 이송트랙(6)을 따라 이송되어 도 3a와 같이 테스트부(7)에 도달함이 센서에 의해 감지되면 푸셔(12)의 일측에 설치된 구동수단(13)이 동작하게 되므로 슬라이더(15)가 가이드레일(14)을 따라 전진하게된다.First, when it is detected by the sensor that the device 9 to be tested is transported along the transport track 6 and reaches the test unit 7 as shown in FIG. 3A, the driving means 13 installed at one side of the pusher 12 is In operation, the slider 15 is advanced along the guide rail 14.

이와 같이 슬라이더(15)가 가이드레일(14)을 따라 전진하면 상기 슬라이더(15)에 고정된 캠판(16)의 캠면(16a)에 푸셔(12)가 위치되어 있어 상기 푸셔(12)가 내측으로 회동하면서 도 3b와 같이 콘택핀(10)을 일정한 압력으로 오므려주게 되므로 콘택핀(10)이 동시에 디바이스(9)의 리드(9a)와 전기적으로 접속되고, 이에 따라 설정된 시간동안 디바이스의 테스트가 이루어지게 된다.As the slider 15 moves forward along the guide rail 14, the pusher 12 is positioned on the cam surface 16a of the cam plate 16 fixed to the slider 15, and the pusher 12 moves inward. Since the contact pin 10 is pinched at a constant pressure as shown in FIG. 3B, the contact pin 10 is electrically connected to the lead 9a of the device 9 at the same time. Will be done.

상기한 동작으로 콘택핀(10)이 내측으로 오므려진 상태에서 설정된 시간동안 테스트가 이루어지고 나면 구동수단(13)의 재구동으로 슬라이더(15)가 초기상태로 환원되므로 푸셔(12)는 콘택핀(10)의 자체 탄성력에 의해 외측으로 벌어지게 되고, 이에 따라 콘택핀(10)이 디바이스(9)의 리드(9a)로부터 이탈되므로 디바이스의 이송을 제어하고 있던 스토퍼를 후퇴시키면 테스트 완료된 디바이스가 송출트랙(8)을 따라 송출된다.After the test is performed for a predetermined time in the state in which the contact pin 10 is retracted inward by the above-described operation, the pusher 12 returns the contact pin because the slider 15 is reduced to an initial state by re-drive of the driving means 13. Since the contact pin 10 is separated from the lead 9a of the device 9 by the elastic force of the self, the retracted device stops the stopper which controlled the transfer of the device. It is sent out along the track 8.

상기한 바와 같은 테스트는 이송트랙(6)을 따라 디바이스(9)가 공급되는 동안 동일하게 진행됨은 이해 가능한 것이다.It is understood that the test as described above proceeds the same while the device 9 is fed along the transfer track 6.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 캠판(16)에 형성된 캠면(16a)에 의해 콘택핀(10)을 항상 일정한 압력으로 디바이스(9)의 리드(9a)측으로 밀어주게 되므로 테스트시 디바이스의 리드가 변형되는 현상을 미연에 방지하게 됨은 물론 규격이 다른 디바이스(9)를 테스트하고자 할 경우에는 슬라이더(15)로부터 캠판(16)만을 교체하면 되므로 신속한 테스트작업이 가능해지게 되는 효과를 얻게 된다.As described above, in the present invention, the contact pin 10 is always pushed toward the lead 9a of the device 9 at a constant pressure by the cam surface 16a formed on the cam plate 16, so that the lead of the device is deformed during the test. In order to prevent the phenomenon in advance, as well as to test the device 9 having a different specification, only the cam plate 16 needs to be replaced from the slider 15, so that a quick test operation is obtained.

Claims

A vertical handler in which a pair of contact pins are installed in a test section and a test is performed while the contact pins are connected to a lead of the device, the pusher being rotatably provided on both sides of the contact pins installed in the test section; A drive means installed close to the pusher on one side, a slider moving forward and backward along the guide rail by the drive means, and fixed to the slider to push the pusher inward as the slider moves forward and backward by the drive means. Device contact apparatus of the vertical handler, characterized in that the cam plate.

The method of claim 1,

And said drive means is a pneumatic cylinder with a rod fixed to the slider.

The method of claim 1,

A device contact device for a vertical handler, characterized in that a cam plate is installed to the slider so as to be interchangeable in accordance with a device standard.